JPH0815087A - 光学ピックアップ特性測定装置及びその測定方法 - Google Patents
光学ピックアップ特性測定装置及びその測定方法Info
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- JPH0815087A JPH0815087A JP14821294A JP14821294A JPH0815087A JP H0815087 A JPH0815087 A JP H0815087A JP 14821294 A JP14821294 A JP 14821294A JP 14821294 A JP14821294 A JP 14821294A JP H0815087 A JPH0815087 A JP H0815087A
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- Japan
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- optical pickup
- signal
- optical
- output
- measurement
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Moving Of Head For Track Selection And Changing (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 トラッキングコイル固有のばらつきを吸収し
て光学ピックアップを所定の位置に確実に移動させて特
性の測定させることのできる光学ピックアップの特性測
定装置及び光学ピックアップ特性測定方法の提供を目的
とする。 【構成】 トラッキングコイル6の現位置から一方向と
して例えば光ディスクの外周側を+側として視野測定す
る位置まで移動させる際の上記対物レンズの移動量を検
出する移動量検出部2と、移動量検出部2からの出力と
予め設定した値とを比較して制御信号を出力する制御部
3と、供給されるスイープ用の値をアナログ信号に変換
させるD/A変換器4と、制御部3からの出力信号に応
じてD/A変換器4の出力とトラッキングエラー信号と
を切り換える切換スイッチSW1とを有している。
て光学ピックアップを所定の位置に確実に移動させて特
性の測定させることのできる光学ピックアップの特性測
定装置及び光学ピックアップ特性測定方法の提供を目的
とする。 【構成】 トラッキングコイル6の現位置から一方向と
して例えば光ディスクの外周側を+側として視野測定す
る位置まで移動させる際の上記対物レンズの移動量を検
出する移動量検出部2と、移動量検出部2からの出力と
予め設定した値とを比較して制御信号を出力する制御部
3と、供給されるスイープ用の値をアナログ信号に変換
させるD/A変換器4と、制御部3からの出力信号に応
じてD/A変換器4の出力とトラッキングエラー信号と
を切り換える切換スイッチSW1とを有している。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光学ピックアップの光
学特性の測定、例えば視野測定のような光学特性の測定
を行う際の光学ピックアップ特性測定装置及びその測定
方法に関する。
学特性の測定、例えば視野測定のような光学特性の測定
を行う際の光学ピックアップ特性測定装置及びその測定
方法に関する。
【0002】
【従来の技術】現在、記録媒体として大量のデータを保
持することができる光ディスクを用いた記録及び/又は
再生装置が市場に供給されている。光ディスクへのデー
タの書込みや光ディスクからデータの読み出しは、装置
に内蔵している光学ピックアップを記録可能範囲内で移
動させて行っている。この際、記録及び/又は再生装置
は、トラッキングコイルにトラッキング駆動電流を供給
して光ディスクのトラックに光学ピックアップが追従で
きるようにサーボ制御している。
持することができる光ディスクを用いた記録及び/又は
再生装置が市場に供給されている。光ディスクへのデー
タの書込みや光ディスクからデータの読み出しは、装置
に内蔵している光学ピックアップを記録可能範囲内で移
動させて行っている。この際、記録及び/又は再生装置
は、トラッキングコイルにトラッキング駆動電流を供給
して光ディスクのトラックに光学ピックアップが追従で
きるようにサーボ制御している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、製造時にお
いて、トラッキングコイルの動作に伴って微妙な移動が
行われる光学ピックアップの動作特性が記録再生で重要
な要素となってくる。このため、光学ピックアップの特
性の測定中に視野測定と呼ばれる項目が設けられてい
る。この視野測定では、従来、一定電圧を印加して測定
を行っていた。
いて、トラッキングコイルの動作に伴って微妙な移動が
行われる光学ピックアップの動作特性が記録再生で重要
な要素となってくる。このため、光学ピックアップの特
性の測定中に視野測定と呼ばれる項目が設けられてい
る。この視野測定では、従来、一定電圧を印加して測定
を行っていた。
【0004】ところが、この視野測定を行う際に、トラ
ッキングコイルに一定電圧を印加に伴う駆動電流を供給
してもトラッキングコイルの移動距離が規定の範囲内に
送られないことがある。このようにトラッキングコイル
には、動作における固有のばらつきが存在することが知
られている。このばらつきが吸収されないので、光学ピ
ックアップを測定開始位置から所定のトラックまで移動
させることができない場合があった。このような場合、
視野測定を正確に行うことができなかった。
ッキングコイルに一定電圧を印加に伴う駆動電流を供給
してもトラッキングコイルの移動距離が規定の範囲内に
送られないことがある。このようにトラッキングコイル
には、動作における固有のばらつきが存在することが知
られている。このばらつきが吸収されないので、光学ピ
ックアップを測定開始位置から所定のトラックまで移動
させることができない場合があった。このような場合、
視野測定を正確に行うことができなかった。
【0005】そこで、本発明は、上述したような実情に
鑑みてなされたものであり、コイル固有のばらつきを吸
収して光学ピックアップの動作を制御することのできる
光学ピックアップの特性測定装置及び光学ピックアップ
特性測定方法の提供を目的とする。
鑑みてなされたものであり、コイル固有のばらつきを吸
収して光学ピックアップの動作を制御することのできる
光学ピックアップの特性測定装置及び光学ピックアップ
特性測定方法の提供を目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明に係る光学ピック
アップ特性測定装置は、上述した課題を解決するため
に、光学ピックアップの対物レンズをトラッキングコイ
ルを用いて所定のトラック位置に移動させ、この所定の
トラック位置における光学ピックアップの光学特性を測
定する光学ピックアップ特性測定装置において、トラッ
キングコイルの現位置から一方向として例えば光ディス
クの外周側を+側として視野測定する位置まで移動させ
る際の上記対物レンズの移動量を検出する移動量検出部
と、移動量検出部からの出力と予め設定した値とを比較
して制御信号を出力する制御部と、供給されるスイープ
用の値をアナログ信号に変換させるD/A変換器と、制
御部からの出力信号に応じてD/A変換器の出力とトラ
ッキングエラー信号とを切り換える切換スイッチとを有
することを特徴としている。
アップ特性測定装置は、上述した課題を解決するため
に、光学ピックアップの対物レンズをトラッキングコイ
ルを用いて所定のトラック位置に移動させ、この所定の
トラック位置における光学ピックアップの光学特性を測
定する光学ピックアップ特性測定装置において、トラッ
キングコイルの現位置から一方向として例えば光ディス
クの外周側を+側として視野測定する位置まで移動させ
る際の上記対物レンズの移動量を検出する移動量検出部
と、移動量検出部からの出力と予め設定した値とを比較
して制御信号を出力する制御部と、供給されるスイープ
用の値をアナログ信号に変換させるD/A変換器と、制
御部からの出力信号に応じてD/A変換器の出力とトラ
ッキングエラー信号とを切り換える切換スイッチとを有
することを特徴としている。
【0007】ここで、光学測定は、所定の測定位置での
トラッキングエラー信号のレベル及びそのバランスを測
定する視野測定である。D/A変換器の出力が停止した
とき、制御部からの制御信号に応じて供給される値、す
なわち例えばトラッキングコイル電圧を生成するための
スイープディジタル信号の値を記憶するメモリが設けら
れている。
トラッキングエラー信号のレベル及びそのバランスを測
定する視野測定である。D/A変換器の出力が停止した
とき、制御部からの制御信号に応じて供給される値、す
なわち例えばトラッキングコイル電圧を生成するための
スイープディジタル信号の値を記憶するメモリが設けら
れている。
【0008】また、トラッキングコイルにより上記対物
レンズを現位置から他方向、例えば光ディスクの内周側
を−側とする所定の位置に移動させるときには、供給さ
れるスイープ用の値とメモリから読み出した値とを切り
換える信号選択スイッチと、信号選択スイッチの出力に
対してD/A変換器を介した出力信号の極性を反転させ
る極性反転回路とが設けられている。メモリ、信号選択
スイッチ及び極性反転回路は、例えばCPUから供給さ
れる制御信号に応じて動作が制御される。また、切換ス
イッチも例えばCPUからの切換信号に応じて切り換え
が行われている。
レンズを現位置から他方向、例えば光ディスクの内周側
を−側とする所定の位置に移動させるときには、供給さ
れるスイープ用の値とメモリから読み出した値とを切り
換える信号選択スイッチと、信号選択スイッチの出力に
対してD/A変換器を介した出力信号の極性を反転させ
る極性反転回路とが設けられている。メモリ、信号選択
スイッチ及び極性反転回路は、例えばCPUから供給さ
れる制御信号に応じて動作が制御される。また、切換ス
イッチも例えばCPUからの切換信号に応じて切り換え
が行われている。
【0009】本発明に係る光学ピックアップ特性測定方
法は、上述した課題を解決するために、光学ピックアッ
プの対物レンズをトラッキングコイルを用いて所定のト
ラック位置に移動させ、この所定のトラック位置におけ
る光学ピックアップの光学特性を測定する光学ピックア
ップ特性測定方法において、光ディスクの回転を停止さ
せる、すなわちスピンドルモータの回転を停止させる回
転停止工程と、光学ピックアップのフォーカスサーボを
動作させるフォーカスオン工程と、トラッキングコイル
の駆動に要する電圧を印加させながら、光学ピックアッ
プの移動に伴うトラック数をカウントするカウント工程
と、カウント工程でのカウント値と予め設定したカウン
ト値とを比較する比較工程と、この比較工程の後に所定
の距離を移動させた光学ピックアップで光学測定する光
学測定工程とを有することを特徴としている。
法は、上述した課題を解決するために、光学ピックアッ
プの対物レンズをトラッキングコイルを用いて所定のト
ラック位置に移動させ、この所定のトラック位置におけ
る光学ピックアップの光学特性を測定する光学ピックア
ップ特性測定方法において、光ディスクの回転を停止さ
せる、すなわちスピンドルモータの回転を停止させる回
転停止工程と、光学ピックアップのフォーカスサーボを
動作させるフォーカスオン工程と、トラッキングコイル
の駆動に要する電圧を印加させながら、光学ピックアッ
プの移動に伴うトラック数をカウントするカウント工程
と、カウント工程でのカウント値と予め設定したカウン
ト値とを比較する比較工程と、この比較工程の後に所定
の距離を移動させた光学ピックアップで光学測定する光
学測定工程とを有することを特徴としている。
【0010】光学測定工程では、所定の測定位置でのト
ラッキングエラー信号のレベル及びそのバランスを測定
する視野測定を行う。
ラッキングエラー信号のレベル及びそのバランスを測定
する視野測定を行う。
【0011】
【作用】本発明に係る光学ピックアップ特性測定装置で
は、移動量検出部でコイルの現位置からの一方向への移
動量を検出した出力を制御部に供給している。制御部で
は、検出出力と予め設定した値とを比較した制御信号を
切換スイッチに出力している。また、D/A変換器は、
供給されるスイープ用のディジタル値をアナログ信号に
して切換スイッチに供給する。切換スイッチは、このア
ナログ信号とトラッキングエラー信号とを切り換えて出
力する。これにより、例えば光学ピックアップをトラッ
クに追従させるトラッキングコイルは、このトラッキン
グコイル自身のばらつきを吸収して確実に光学ピックア
ップを所定のトラック位置まで移動させている。
は、移動量検出部でコイルの現位置からの一方向への移
動量を検出した出力を制御部に供給している。制御部で
は、検出出力と予め設定した値とを比較した制御信号を
切換スイッチに出力している。また、D/A変換器は、
供給されるスイープ用のディジタル値をアナログ信号に
して切換スイッチに供給する。切換スイッチは、このア
ナログ信号とトラッキングエラー信号とを切り換えて出
力する。これにより、例えば光学ピックアップをトラッ
クに追従させるトラッキングコイルは、このトラッキン
グコイル自身のばらつきを吸収して確実に光学ピックア
ップを所定のトラック位置まで移動させている。
【0012】メモリに例えばトラッキングコイル電圧を
生成するためのスイープディジタル信号の値を記憶する
ことにより、それぞれ固有なトラッキングコイルに対応
した光学測定を繰り返し行える。
生成するためのスイープディジタル信号の値を記憶する
ことにより、それぞれ固有なトラッキングコイルに対応
した光学測定を繰り返し行える。
【0013】また、信号選択スイッチと、信号選択スイ
ッチの出力に対してD/A変換器を介した出力信号の極
性を反転させる極性反転回路とを設けることにより、ト
ラッキングコイルに対する逆極性の制御も正確に行え
る。
ッチの出力に対してD/A変換器を介した出力信号の極
性を反転させる極性反転回路とを設けることにより、ト
ラッキングコイルに対する逆極性の制御も正確に行え
る。
【0014】本発明に係る光学ピックアップ特性測定方
法では、回転停止工程で例えばスピンドルモータの回転
を停止させて光ディスクの偏心の影響を除去し、フォー
カスオン工程で光学ピックアップのフォーカスサーボを
オン状態にし、カウント工程で光学ピックアップのトラ
ックを横切った数をカウントしてこのカウント値と予め
設定したカウント値とを比較工程で比較して一致したと
き例えばD/A変換器の動作を停止させ、光学測定工程
でこの移動終了位置での光学ピックアップによるトラッ
キングエラー信号のレベルやバランスの測定を行うこと
により、所望の位置に光学ピックアップを正確に移動さ
せながら、偏心の影響を回避して例えば視野測定を行
う。
法では、回転停止工程で例えばスピンドルモータの回転
を停止させて光ディスクの偏心の影響を除去し、フォー
カスオン工程で光学ピックアップのフォーカスサーボを
オン状態にし、カウント工程で光学ピックアップのトラ
ックを横切った数をカウントしてこのカウント値と予め
設定したカウント値とを比較工程で比較して一致したと
き例えばD/A変換器の動作を停止させ、光学測定工程
でこの移動終了位置での光学ピックアップによるトラッ
キングエラー信号のレベルやバランスの測定を行うこと
により、所望の位置に光学ピックアップを正確に移動さ
せながら、偏心の影響を回避して例えば視野測定を行
う。
【0015】
【実施例】以下、本発明に係る光学ピックアップ特性測
定装置及び光学ピックアップ特性測定方法の実施例につ
いて、図面を参照しながら説明する。
定装置及び光学ピックアップ特性測定方法の実施例につ
いて、図面を参照しながら説明する。
【0016】本発明の光学ピックアップ特性測定装置
は、例えば図1に示すように、受光部1の「田の字」状
に4分割された受光素子A、B、C、Dからの検出出力
に対して図示しないが電流/電圧変換処理が施された4
つの電気信号a、b、c、dを入力して移動量を検出す
る移動量検出部2と、比較によって移動量に対応した制
御信号を出力する制御部3と、D/A変換器4と、光学
ピックアップを移動させるためにスイープ用の信号と供
給されるトラッキングエラー信号とを切り換える切換ス
イッチSW1とを有している。
は、例えば図1に示すように、受光部1の「田の字」状
に4分割された受光素子A、B、C、Dからの検出出力
に対して図示しないが電流/電圧変換処理が施された4
つの電気信号a、b、c、dを入力して移動量を検出す
る移動量検出部2と、比較によって移動量に対応した制
御信号を出力する制御部3と、D/A変換器4と、光学
ピックアップを移動させるためにスイープ用の信号と供
給されるトラッキングエラー信号とを切り換える切換ス
イッチSW1とを有している。
【0017】各ブロック内の回路について簡単に説明す
る。
る。
【0018】移動量検出部2は、例えば+側への移動量
を検出するため受光部1からの検出出力に基づいてトラ
ックの移動を検出するゼロクロス比較回路2aと、この
ゼロクロス比較回路2aからの出力をカウントするカウ
ント回路2bとを有している。
を検出するため受光部1からの検出出力に基づいてトラ
ックの移動を検出するゼロクロス比較回路2aと、この
ゼロクロス比較回路2aからの出力をカウントするカウ
ント回路2bとを有している。
【0019】ゼロクロス比較回路2aは、光学ピックア
ップの受光部1での検出出力から光ディスクのトラック
を横切っているかどうか波形のゼロクロスで検出してい
る。この検出はカウントパルスとしてカウント回路2b
に供給される。
ップの受光部1での検出出力から光ディスクのトラック
を横切っているかどうか波形のゼロクロスで検出してい
る。この検出はカウントパルスとしてカウント回路2b
に供給される。
【0020】制御部3は、予めディジタル値を設定する
ディジタル値設定回路3aと、上記カウント回路2bか
らの出力とディジタル値設定回路3aからの出力とを比
較する比較回路3bと、この比較回路3bの比較結果等
に基づいて各種の制御信号を出力するCPU3cとで構
成される。
ディジタル値設定回路3aと、上記カウント回路2bか
らの出力とディジタル値設定回路3aからの出力とを比
較する比較回路3bと、この比較回路3bの比較結果等
に基づいて各種の制御信号を出力するCPU3cとで構
成される。
【0021】D/A変換器4は、入力端子10を介して
供給されるトラッキングコイル駆動のスイープディジタ
ル信号をアナログ信号に変換している。D/A変換器4
は、トラックを切るカウント値に対するトラックコイル
制御電圧の関係が線形な関係が保てる特性のものを使用
する。
供給されるトラッキングコイル駆動のスイープディジタ
ル信号をアナログ信号に変換している。D/A変換器4
は、トラックを切るカウント値に対するトラックコイル
制御電圧の関係が線形な関係が保てる特性のものを使用
する。
【0022】切換スイッチSW1からの出力信号がトラ
ッキングコイル6に供給する駆動電圧として駆動アンプ
5に供給される。駆動アンプ5は、トラッキングコイル
6に駆動電流を供給し、トラッキングコイル6の動作を
駆動制御している。
ッキングコイル6に供給する駆動電圧として駆動アンプ
5に供給される。駆動アンプ5は、トラッキングコイル
6に駆動電流を供給し、トラッキングコイル6の動作を
駆動制御している。
【0023】一般に、通常のトラッキング制御には、ス
ピンドルモータの回転に応じて光ディスクを回転させな
がら、入力端子9を介して供給されるトラッキングエラ
ー信号に基づいてトラッキングコイル6の制御が行われ
ている。このとき、切換スイッチSW1はCPU3cか
らの切換制御信号によって端子b側に倒されている。
ピンドルモータの回転に応じて光ディスクを回転させな
がら、入力端子9を介して供給されるトラッキングエラ
ー信号に基づいてトラッキングコイル6の制御が行われ
ている。このとき、切換スイッチSW1はCPU3cか
らの切換制御信号によって端子b側に倒されている。
【0024】また、前述した構成によって現位置から光
ディスクにおける例えば径の外側方向を+側とした場
合、−方向、すなわち径の内側方向へ移動させるための
構成を示す。
ディスクにおける例えば径の外側方向を+側とした場
合、−方向、すなわち径の内側方向へ移動させるための
構成を示す。
【0025】この場合、光学ピックアップ特性測定装置
は、予め設定したディジタル値に一致した時点でのスイ
ープディジタル値を記憶するメモリ7と、+側への移動
と−側への移動に関する出力信号を選択する信号選択ス
イッチSW2と、D/A変換器4からの出力信号の極性
を反転する極性反転回路8とを有することになる。上記
メモリ7には、CPU3cからの制御信号が書込み信号
Wと読出し信号Rとして供給されている。この内、読出
し信号Rは、極性反転回路8のイネーブル信号としても
利用している。CPU3cは、信号選択スイッチSW2
の切換動作も制御している。
は、予め設定したディジタル値に一致した時点でのスイ
ープディジタル値を記憶するメモリ7と、+側への移動
と−側への移動に関する出力信号を選択する信号選択ス
イッチSW2と、D/A変換器4からの出力信号の極性
を反転する極性反転回路8とを有することになる。上記
メモリ7には、CPU3cからの制御信号が書込み信号
Wと読出し信号Rとして供給されている。この内、読出
し信号Rは、極性反転回路8のイネーブル信号としても
利用している。CPU3cは、信号選択スイッチSW2
の切換動作も制御している。
【0026】次に、光学ピックアップの光学特性測定の
一つである視野測定を行う場合について図2のフローチ
ャートと図3のタイミングチャートを参照しながら説明
する。
一つである視野測定を行う場合について図2のフローチ
ャートと図3のタイミングチャートを参照しながら説明
する。
【0027】ここで、視野測定は、トラッキングコイル
6を0.4mm させた際のトラッキングエラー信号のレベ
ル及びバランスの測定とする。光ディスクのトラックピ
ッチが1.6μmとすると、光学ピックアップを0.4mm
移動させることによって、この際にカウント回路2b
は、250カウントされることが予め計算から判る。制
御部3のディジタル値設定回路3aには、この250の
値がセットされる。カウント回路2bは、カウント値に
余裕を見て例えば12ビットのカウント回路を使用す
る。
6を0.4mm させた際のトラッキングエラー信号のレベ
ル及びバランスの測定とする。光ディスクのトラックピ
ッチが1.6μmとすると、光学ピックアップを0.4mm
移動させることによって、この際にカウント回路2b
は、250カウントされることが予め計算から判る。制
御部3のディジタル値設定回路3aには、この250の
値がセットされる。カウント回路2bは、カウント値に
余裕を見て例えば12ビットのカウント回路を使用す
る。
【0028】視野測定を開始する。ステップS10で
は、光ディスクを回転させるスピンドルモータの回転を
停止させる(図3(e)のレベル“H”状態でスピンド
ルモータをオフにする)。この処理によって光ディスク
が回転している際に現れる光ディスクの偏心の影響を現
れないようにして次のステップS11に進む。
は、光ディスクを回転させるスピンドルモータの回転を
停止させる(図3(e)のレベル“H”状態でスピンド
ルモータをオフにする)。この処理によって光ディスク
が回転している際に現れる光ディスクの偏心の影響を現
れないようにして次のステップS11に進む。
【0029】ステップS11では、光学ピックアップの
フォーカスサーボをオン状態にする。このようにして光
ディスクからの反射光により受光部1での受光が正常に
行われるようにしている。
フォーカスサーボをオン状態にする。このようにして光
ディスクからの反射光により受光部1での受光が正常に
行われるようにしている。
【0030】次に、ステップS12では、光ディスクの
外側方向への移動を+側方向への移動とみなしてこの+
側方向へ移動させる電圧設定の準備を開始する。CPU
3cは、信号選択スイッチSW2の端子b側に倒すよう
に制御信号を供給する。
外側方向への移動を+側方向への移動とみなしてこの+
側方向へ移動させる電圧設定の準備を開始する。CPU
3cは、信号選択スイッチSW2の端子b側に倒すよう
に制御信号を供給する。
【0031】また、ユーザは、ディジタル値設定回路3
aに例えば250というカウント値をセットし、入力端
子10を介してトラッキングコイル駆動用のスイープデ
ィジタル信号を供給する。トラッキングコイル駆動用の
スイープディジタル信号は、一定の時間内に電圧をある
電圧幅で変化させ、この電圧をA/D変換器を通す方法
で生成してもよい。
aに例えば250というカウント値をセットし、入力端
子10を介してトラッキングコイル駆動用のスイープデ
ィジタル信号を供給する。トラッキングコイル駆動用の
スイープディジタル信号は、一定の時間内に電圧をある
電圧幅で変化させ、この電圧をA/D変換器を通す方法
で生成してもよい。
【0032】次に、ステップS13ではカウント回路2
bのカウントを開始させてステップS14に進む。
bのカウントを開始させてステップS14に進む。
【0033】ステップS14では、トラッキングコイル
6の動作が安定するまでのセットアップ時間、すなわち
待ち時間としてウエイト処理を行う。
6の動作が安定するまでのセットアップ時間、すなわち
待ち時間としてウエイト処理を行う。
【0034】次に、ステップS15では、カウント回路
2bには例えばCPU3cからカウント値をクリアする
クリア信号が供給される。この後、CPU3cは、例え
ば図3(b)に示すように、カウントイネーブル信号を
カウント回路2bに供給すると共に、D/A変換器4で
の変換を行わせる。このカウントイネーブル信号がD/
A変換器4に供給された後に、D/A変換器4からの出
力信号がこの場合、極性反転回路8内をスルーし、切換
スイッチSW1を介して駆動アンプ5に供給される。こ
のようにして例えば図3(a)に示すように、トラッキ
ングコイル6への駆動制御電圧が徐々に増加させられて
いく。駆動アンプ5からトラッキングコイル6に供給さ
れる駆動電流に応じてトラッキングコイル6は、光学ピ
ックアップの対物レンズを+側に移動させる。このトラ
ッキングコイル6が光学ピックアップの対物レンズを移
動させることによって移動量検出部2で検出したカウン
トが増加する(図3(c)を参照)。
2bには例えばCPU3cからカウント値をクリアする
クリア信号が供給される。この後、CPU3cは、例え
ば図3(b)に示すように、カウントイネーブル信号を
カウント回路2bに供給すると共に、D/A変換器4で
の変換を行わせる。このカウントイネーブル信号がD/
A変換器4に供給された後に、D/A変換器4からの出
力信号がこの場合、極性反転回路8内をスルーし、切換
スイッチSW1を介して駆動アンプ5に供給される。こ
のようにして例えば図3(a)に示すように、トラッキ
ングコイル6への駆動制御電圧が徐々に増加させられて
いく。駆動アンプ5からトラッキングコイル6に供給さ
れる駆動電流に応じてトラッキングコイル6は、光学ピ
ックアップの対物レンズを+側に移動させる。このトラ
ッキングコイル6が光学ピックアップの対物レンズを移
動させることによって移動量検出部2で検出したカウン
トが増加する(図3(c)を参照)。
【0035】ステップS16では、D/A変換器4から
の出力信号が最大で、かつカウント値が250より小さ
いかどうかの判定を行っている。このステップS16で
は予め決められている電圧以上の電圧を印加させてトラ
ッキングコイル6をかけて壊すことのないようにするた
めに設けている。ステップS16で、まだD/A変換器
4に対して規定した最大値に達しているにもかかわら
ず、カウント値が250より小さいとき(Yes)、ト
ラッキングコイル6の特性が悪いと判断してステップS
18に移行する。また、それ以外の場合として例えばD
/A変換器4が出力最大にまだないとき(No)、ステ
ップS17に進む。
の出力信号が最大で、かつカウント値が250より小さ
いかどうかの判定を行っている。このステップS16で
は予め決められている電圧以上の電圧を印加させてトラ
ッキングコイル6をかけて壊すことのないようにするた
めに設けている。ステップS16で、まだD/A変換器
4に対して規定した最大値に達しているにもかかわら
ず、カウント値が250より小さいとき(Yes)、ト
ラッキングコイル6の特性が悪いと判断してステップS
18に移行する。また、それ以外の場合として例えばD
/A変換器4が出力最大にまだないとき(No)、ステ
ップS17に進む。
【0036】次に、ステップS17では、カウント回路
2bでのカウント値とディジタル値設定回路3aの設定
したカウント値が比較回路3bで比較される。比較回路
3bは、カウント結果が例えば規定値として設定した2
50に等しくないとき(No)、再びステップS16に
戻る。また、カウント値が250に等しくなった場合
(Yes)、ステップS19に進む。
2bでのカウント値とディジタル値設定回路3aの設定
したカウント値が比較回路3bで比較される。比較回路
3bは、カウント結果が例えば規定値として設定した2
50に等しくないとき(No)、再びステップS16に
戻る。また、カウント値が250に等しくなった場合
(Yes)、ステップS19に進む。
【0037】なお、カウント値が250の8〜9トラッ
ク前に達した時点で、例えば図3(d)に示すようにカ
ウントアップフラグCUFを略々40msの区間立てて
このフラグCUFに基づいて動作を制御するようにして
もよい。
ク前に達した時点で、例えば図3(d)に示すようにカ
ウントアップフラグCUFを略々40msの区間立てて
このフラグCUFに基づいて動作を制御するようにして
もよい。
【0038】ステップS18では、カウントイネーブル
信号をレベル“L”にしてカウント回路2bのカウント
を停止させ、ステップS12に戻して前述したルーチン
を繰り返す。また、このルーチンをN回繰り返してもス
テップS17の条件を満足しないときは、トラッキング
コイル不良としてメッセージを表示してこのルーチンを
終了させてもよい。
信号をレベル“L”にしてカウント回路2bのカウント
を停止させ、ステップS12に戻して前述したルーチン
を繰り返す。また、このルーチンをN回繰り返してもス
テップS17の条件を満足しないときは、トラッキング
コイル不良としてメッセージを表示してこのルーチンを
終了させてもよい。
【0039】ステップS19では、比較回路3bからの
出力に応じてCPU3cは、制御信号をD/A変換器4
に供給する。このとき、D/A変換器4は、制御信号に
応じて出力を停止させてステップS20に進む。例えば
図3(b)のカウントイネーブル信号はレベルを“L”
にしてカウント回路2bの動作を停止させる。
出力に応じてCPU3cは、制御信号をD/A変換器4
に供給する。このとき、D/A変換器4は、制御信号に
応じて出力を停止させてステップS20に進む。例えば
図3(b)のカウントイネーブル信号はレベルを“L”
にしてカウント回路2bの動作を停止させる。
【0040】ステップS20では、D/A変換器4の出
力を停止させた際のスイープディジタル値をCPU3c
からの制御信号、すなわち書込み信号Wに応じてメモリ
7に書き込む。
力を停止させた際のスイープディジタル値をCPU3c
からの制御信号、すなわち書込み信号Wに応じてメモリ
7に書き込む。
【0041】次に、ステップS21では、光学ピックア
ップの対物レンズが目的とする位置に達したものとして
スピンドルモータの動作をオン状態にする。このとき、
CPU3cは、切換スイッチSW1を端子b側に倒して
トラッキングエラー信号をトラッキングコイル6に供給
するようにしている。
ップの対物レンズが目的とする位置に達したものとして
スピンドルモータの動作をオン状態にする。このとき、
CPU3cは、切換スイッチSW1を端子b側に倒して
トラッキングエラー信号をトラッキングコイル6に供給
するようにしている。
【0042】このようにして目的の位置に達した後に光
学ピックアップは、ステップS22で対物レンズを介し
て受光したトラッキングエラー信号のレベル及びバラン
スの測定を行う。従来に比べてトラッキングコイル6の
固有のばらつきを吸収することにより、目的の位置に光
学ピックアップを正確に移動させることができることか
ら、視野測定の信頼性を一層高めることができるように
なる。
学ピックアップは、ステップS22で対物レンズを介し
て受光したトラッキングエラー信号のレベル及びバラン
スの測定を行う。従来に比べてトラッキングコイル6の
固有のばらつきを吸収することにより、目的の位置に光
学ピックアップを正確に移動させることができることか
ら、視野測定の信頼性を一層高めることができるように
なる。
【0043】次に、光ディスクの現位置から径の内側方
向を−方向として扱い、トラッキングコイル6の動作を
確認する。ステップS22では、この−側への電圧設定
の準備を行う。この場合、+側へのスイープディジタル
信号の値がメモリ7に記憶されている。逆方向である−
方向への移動では、このメモリ7が記憶している値を用
いて確実に逆方向に光学ピックアップを移動させるよう
にする。メモリ7にはCPU3cから読出し信号Rが供
給される。この読出し信号Rは、例えば極性反転回路8
にも供給されている。メモリ7は、この読出し信号Rの
供給により、先のデータを格納しているアドレスからデ
ータを読み出す。また、この準備において、CPU3c
は、切換スイッチSW1を端子a側に倒すように制御
し、カウントイネーブル信号をカウント回路2bに供給
している。
向を−方向として扱い、トラッキングコイル6の動作を
確認する。ステップS22では、この−側への電圧設定
の準備を行う。この場合、+側へのスイープディジタル
信号の値がメモリ7に記憶されている。逆方向である−
方向への移動では、このメモリ7が記憶している値を用
いて確実に逆方向に光学ピックアップを移動させるよう
にする。メモリ7にはCPU3cから読出し信号Rが供
給される。この読出し信号Rは、例えば極性反転回路8
にも供給されている。メモリ7は、この読出し信号Rの
供給により、先のデータを格納しているアドレスからデ
ータを読み出す。また、この準備において、CPU3c
は、切換スイッチSW1を端子a側に倒すように制御
し、カウントイネーブル信号をカウント回路2bに供給
している。
【0044】このデータが信号選択スイッチSW2の端
子a側に供給される。このとき、信号選択スイッチSW
2は、CPU3cからの制御信号により端子a側の接点
に切り換える。信号選択スイッチSW2からの出力信号
がD/A変換器4に供給される。
子a側に供給される。このとき、信号選択スイッチSW
2は、CPU3cからの制御信号により端子a側の接点
に切り換える。信号選択スイッチSW2からの出力信号
がD/A変換器4に供給される。
【0045】次に、ステップS25では、このD/A変
換器4によって変換されたアナログ信号が極性反転回路
8に供給される。極性反転回路8は、CPU3cからの
制御信号に応じて例えばスルーさせていた状態からこの
回路本来の動作をアクティブ状態する。すなわち、極性
反転回路8は、供給されたアナログ信号の極性を反転し
て切換スイッチSW1の端子a側に出力する(図3
(a)を参照)。負の信号が切換スイッチSW1、駆動
アンプ5を介してトラッキングコイル6に供給される。
換器4によって変換されたアナログ信号が極性反転回路
8に供給される。極性反転回路8は、CPU3cからの
制御信号に応じて例えばスルーさせていた状態からこの
回路本来の動作をアクティブ状態する。すなわち、極性
反転回路8は、供給されたアナログ信号の極性を反転し
て切換スイッチSW1の端子a側に出力する(図3
(a)を参照)。負の信号が切換スイッチSW1、駆動
アンプ5を介してトラッキングコイル6に供給される。
【0046】次に、ステップS26では、この場合もト
ラッキングコイル6の動作が安定するまでの時間を待ち
時間として扱うウエイト処理を行っている。この−側へ
の移動を行わせる場合も前述したカウントアップフラグ
CUFを出力させるようにしてトラッキングコイル6の
動作を確認してもよい。このようにして目的の位置に光
学ピックアップを移動させた後にステップS27で例え
ば図3(e)に示すように、スピンドルモータをオン状
態にする(図3(e)のレベル“L”状態)。
ラッキングコイル6の動作が安定するまでの時間を待ち
時間として扱うウエイト処理を行っている。この−側へ
の移動を行わせる場合も前述したカウントアップフラグ
CUFを出力させるようにしてトラッキングコイル6の
動作を確認してもよい。このようにして目的の位置に光
学ピックアップを移動させた後にステップS27で例え
ば図3(e)に示すように、スピンドルモータをオン状
態にする(図3(e)のレベル“L”状態)。
【0047】次に、ステップS28では、視野測定を行
う。すなわち、ステップS22のときと同様にトラッキ
ングエラー信号のレベル及びバランスの測定を行う。こ
のように視野測定を行った後にこの視野測定ルーチンを
終了する。
う。すなわち、ステップS22のときと同様にトラッキ
ングエラー信号のレベル及びバランスの測定を行う。こ
のように視野測定を行った後にこの視野測定ルーチンを
終了する。
【0048】ところで、一般的にこれまでの経験上+側
への移動が正確に行われた場合、−側への移動も正確に
行われることが知られている。このため、+側への移動
が正確に行われた場合、−側への移動を行って視野測定
するルーチン部分を省略して例えばステップS22以後
すぐにルーチンを終了させることが可能になる。これに
より、この視野測定ルーチン作業に要する時間の短縮化
を図るようにしてもよい。
への移動が正確に行われた場合、−側への移動も正確に
行われることが知られている。このため、+側への移動
が正確に行われた場合、−側への移動を行って視野測定
するルーチン部分を省略して例えばステップS22以後
すぐにルーチンを終了させることが可能になる。これに
より、この視野測定ルーチン作業に要する時間の短縮化
を図るようにしてもよい。
【0049】以上のように構成することにより、従来の
光学特性の測定である視野測定では測定した結果に対す
る信頼性が乏しかったが、光学ピックアップの特性評価
の一手法である視野測定が個々のトラッキングコイルが
有する固有のばらつきによる影響を回避させて光学ピッ
クアップを正確に移動させることができるので、従来に
比べて信頼性を十分高くすることができる。
光学特性の測定である視野測定では測定した結果に対す
る信頼性が乏しかったが、光学ピックアップの特性評価
の一手法である視野測定が個々のトラッキングコイルが
有する固有のばらつきによる影響を回避させて光学ピッ
クアップを正確に移動させることができるので、従来に
比べて信頼性を十分高くすることができる。
【0050】光学ピックアップを一方向の移動時に正確
に移動させることのできたデータをメモリから読み出
し、このデータを基に逆方向へ移動させることにより、
繰り返し正確な動作を行わせることができる。
に移動させることのできたデータをメモリから読み出
し、このデータを基に逆方向へ移動させることにより、
繰り返し正確な動作を行わせることができる。
【0051】また、メモリ7、信号選択スイッチSW2
及び極性反転回路8を設けることにより、一方向に対す
る逆方向への移動も正確に行うことができ、光学ピック
アップの視野測定の信頼性を向上させることができる。
及び極性反転回路8を設けることにより、一方向に対す
る逆方向への移動も正確に行うことができ、光学ピック
アップの視野測定の信頼性を向上させることができる。
【0052】光学ピックアップ特性測定方法を上述した
手順で行うことにより、個々のトラッキングコイルが有
する固有のばらつきによる影響を回避させて光学ピック
アップを正確に移動させることができるので、従来に比
べて信頼性を十分高くすることができる。
手順で行うことにより、個々のトラッキングコイルが有
する固有のばらつきによる影響を回避させて光学ピック
アップを正確に移動させることができるので、従来に比
べて信頼性を十分高くすることができる。
【0053】なお、本発明の実施例では、光学ピックア
ップの光学特性の測定の一例として視野測定について説
明したが、この視野特性の測定に限定されるものでな
く、例えば溝が形成されたようないわゆるグルーブの本
数をカウントし、所定の測定一での表面を光学的に測定
するような場合にも適用することができる。
ップの光学特性の測定の一例として視野測定について説
明したが、この視野特性の測定に限定されるものでな
く、例えば溝が形成されたようないわゆるグルーブの本
数をカウントし、所定の測定一での表面を光学的に測定
するような場合にも適用することができる。
【0054】
【発明の効果】本発明に係る光学ピックアップ特性測定
装置では、従来の光学測定では測定した結果に対する信
頼性が乏しかったが、光学ピックアップの特性評価の一
手法である、例えば視野測定が個々のトラッキングコイ
ルが有する固有のばらつきによる影響を回避させて光学
ピックアップを正確に移動させることができるので、従
来に比べて信頼性を十分高くすることができる。
装置では、従来の光学測定では測定した結果に対する信
頼性が乏しかったが、光学ピックアップの特性評価の一
手法である、例えば視野測定が個々のトラッキングコイ
ルが有する固有のばらつきによる影響を回避させて光学
ピックアップを正確に移動させることができるので、従
来に比べて信頼性を十分高くすることができる。
【0055】光学ピックアップを一方向の移動時に正確
に移動させることのできたデータを記憶手段から読み出
し、このデータを基に逆方向へ移動させることにより、
繰り返し正確な動作を行わせることができる。
に移動させることのできたデータを記憶手段から読み出
し、このデータを基に逆方向へ移動させることにより、
繰り返し正確な動作を行わせることができる。
【0056】この記憶手段、信号選択手段及び極性反転
手段を設けることにより、一方向に対する逆方向への移
動も正確に行うことができ、光学ピックアップの視野測
定の信頼性を向上させることができる。
手段を設けることにより、一方向に対する逆方向への移
動も正確に行うことができ、光学ピックアップの視野測
定の信頼性を向上させることができる。
【0057】また、本発明に係る光学ピックアップ特性
測定方法では、光学特性の測定が個々のトラッキングコ
イルが有する固有のばらつきによる影響を回避させて光
学ピックアップを正確に移動させることができるので、
従来に比べて信頼性を十分高くすることができる。
測定方法では、光学特性の測定が個々のトラッキングコ
イルが有する固有のばらつきによる影響を回避させて光
学ピックアップを正確に移動させることができるので、
従来に比べて信頼性を十分高くすることができる。
【図1】本発明に係る光学ピックアップ特性測定装置の
概略的なブロック図である。
概略的なブロック図である。
【図2】上記光学ピックアップ特性測定装置の動作手順
を説明するフローチャートである。
を説明するフローチャートである。
【図3】上記光学ピックアップ特性測定装置の動作タイ
ミングを説明するタイミングチャートである。
ミングを説明するタイミングチャートである。
1 受光部 2 移動量検出部 3 制御部 4 D/A変換器 5 駆動アンプ 6 トラッキングコイル SW1 切換スイッチ SW2 信号選択スイッチ 2a ゼロクロス比較回路 2b カウント回路 3a ディジタル値設定回路 3b 比較回路 3c CPU
Claims (6)
- 【請求項1】 光学ピックアップの対物レンズをトラッ
キングコイルを用いて所定のトラック位置に移動させ、
この所定のトラック位置における光学ピックアップの光
学特性を測定する光学ピックアップ特性測定装置におい
て、 上記トラッキングコイルの現位置から一方向へ上記光学
測定する位置まで移動させる際の上記対物レンズの移動
量を検出する移動量検出手段と、 該移動量検出手段からの出力と予め設定した値とを比較
して制御信号を出力する制御手段と、 供給されるスイープ用の値をアナログ信号に変換させる
信号変換手段と、 上記制御手段からの出力信号に応じて上記信号変換手段
の出力とトラッキングエラー信号とを切り換える切換手
段とを有することを特徴とする光学ピックアップ特性測
定装置。 - 【請求項2】 上記光学測定は、所定の測定位置でのト
ラッキングエラー信号のレベル及びそのバランスを測定
する視野測定とすることを特徴とする光学ピックアップ
特性測定装置。 - 【請求項3】 上記信号変換手段の出力が停止したと
き、上記制御手段からの制御信号に応じて供給されるス
イープ用の値を記憶する記憶手段が設けられていること
を特徴とする請求項1記載の光学ピックアップ特性測定
装置。 - 【請求項4】 上記トラッキングコイルにより上記対物
レンズを現位置から他方向の所定の位置に移動させると
きには、上記供給されるスイープ用の値と上記記憶手段
から読み出した値とを切り換える信号選択手段と、 上記信号選択手段の出力に対して上記信号変換手段を介
した出力信号の極性を反転させる極性反転手段とが設け
られていることを特徴とする請求項3記載の光学ピック
アップ特性測定装置。 - 【請求項5】 光学ピックアップの対物レンズをトラッ
キングコイルを用いて所定のトラック位置に移動させ、
この所定のトラック位置における光学ピックアップの光
学特性を測定する光学ピックアップ特性測定方法におい
て、 光記録媒体の回転を停止させる回転停止工程と、 上記光学ピックアップのフォーカスサーボを動作させる
フォーカスオン工程と、 上記トラッキングコイルの駆動に要する電圧を印加させ
ながら、上記光学ピックアップの対物レンズの移動に伴
うトラック数をカウントするカウント工程と、 該カウント工程でのカウント値と予め設定したカウント
値とを比較する比較工程と、 この比較工程の後に所定の距離を移動させた光学ピック
アップで光学測定する光学測定工程とを有することを特
徴とする光学ピックアップ特性測定方法。 - 【請求項6】 上記光学測定工程では、所定の測定位置
でのトラッキングエラー信号のレベル及びそのバランス
を測定する視野測定が行われることを特徴とする請求項
5記載の光学ピックアップ特性測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14821294A JP3509194B2 (ja) | 1994-06-29 | 1994-06-29 | 光学ピックアップ特性測定装置及びその測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14821294A JP3509194B2 (ja) | 1994-06-29 | 1994-06-29 | 光学ピックアップ特性測定装置及びその測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0815087A true JPH0815087A (ja) | 1996-01-19 |
| JP3509194B2 JP3509194B2 (ja) | 2004-03-22 |
Family
ID=15447782
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14821294A Expired - Fee Related JP3509194B2 (ja) | 1994-06-29 | 1994-06-29 | 光学ピックアップ特性測定装置及びその測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3509194B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SG90024A1 (en) * | 1997-10-31 | 2002-07-23 | Sony Prec Engineering Ct S Pte | Apparatus and method for measuring characteristics of optical pickup and/or optical disc |
| SG93825A1 (en) * | 1999-03-24 | 2003-01-21 | Sony Prec Engineering Ct Singa | Method and apparatus for measuring characteristics of optical pickup |
-
1994
- 1994-06-29 JP JP14821294A patent/JP3509194B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SG90024A1 (en) * | 1997-10-31 | 2002-07-23 | Sony Prec Engineering Ct S Pte | Apparatus and method for measuring characteristics of optical pickup and/or optical disc |
| SG93825A1 (en) * | 1999-03-24 | 2003-01-21 | Sony Prec Engineering Ct Singa | Method and apparatus for measuring characteristics of optical pickup |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3509194B2 (ja) | 2004-03-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20030630 |
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