JPH0815161A - 化学発光分析計 - Google Patents
化学発光分析計Info
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 フォトダイオード近傍の電位を一定の電位に
安定化させることにより、ウェットガスの影響を低減
し、精度の高い測定を行うことができる化学発光分析計
を提供すること。 【構成】 試料ガスと反応ガスとが供給される反応槽９
の一側に光学窓８を設け、この光学窓８に対向する位置
に、前記両ガスの反応によって生ずる化学発光を検出す
るフォトダイオード１１を配置した化学発光分析計にお
いて、前記光学窓８に導電性を持たせるとともに、この
光学窓８をアース電位に落とすようにした。
安定化させることにより、ウェットガスの影響を低減
し、精度の高い測定を行うことができる化学発光分析計
を提供すること。 【構成】 試料ガスと反応ガスとが供給される反応槽９
の一側に光学窓８を設け、この光学窓８に対向する位置
に、前記両ガスの反応によって生ずる化学発光を検出す
るフォトダイオード１１を配置した化学発光分析計にお
いて、前記光学窓８に導電性を持たせるとともに、この
光学窓８をアース電位に落とすようにした。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、試料ガスを反応ガス
と反応させたときに生じる化学発光の光量を検出し、そ
の検出信号に基づいて試料ガスの濃度を測定する化学発
光分析計に関する。
と反応させたときに生じる化学発光の光量を検出し、そ
の検出信号に基づいて試料ガスの濃度を測定する化学発
光分析計に関する。
【０００２】
【従来の技術】図４は、従来の化学発光分析計の要部を
示すもので、この図において、４１はケーシングで、そ
の内部には、試料ガスと反応ガスとが供給され、その一
側に両ガスの反応によって生ずる化学発光を透過させる
光学窓４２を有する反応槽４３が設けられるとともに、
前記光学窓４２に対向させるようにして、光検出素子と
してのフォトダイオード４４が設けられている。４５は
フォトダイオード４４を冷却するための電子冷却器であ
る。
示すもので、この図において、４１はケーシングで、そ
の内部には、試料ガスと反応ガスとが供給され、その一
側に両ガスの反応によって生ずる化学発光を透過させる
光学窓４２を有する反応槽４３が設けられるとともに、
前記光学窓４２に対向させるようにして、光検出素子と
してのフォトダイオード４４が設けられている。４５は
フォトダイオード４４を冷却するための電子冷却器であ
る。
【０００３】前記化学発光分析計においては、例えば試
料ガスとしてＮＯガスを、反応ガスとしてオゾンをそれ
ぞれ導入すると、これらのガスは反応槽４３内において
反応して化学発光が生じ、これがフォトダイオード４４
によって検出され、前記発光強度に基づいてＮＯガスの
濃度を検出できる。
料ガスとしてＮＯガスを、反応ガスとしてオゾンをそれ
ぞれ導入すると、これらのガスは反応槽４３内において
反応して化学発光が生じ、これがフォトダイオード４４
によって検出され、前記発光強度に基づいてＮＯガスの
濃度を検出できる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前記化学発
光分析計の反応槽４３に導入される試料ガスは、必ずし
も乾燥したガスばかりではなく、例えばウェットゼロガ
スのように湿ったガスも導入されることがある。このよ
うにウェットなガスが反応槽４３に導入されると、光学
窓４２の反応槽内部側の表面にウェットガス中に含まれ
る水分により電荷（ＯＨ基）が発生し、これによって、
光学窓４２の電位が変動し、この電位変動に伴って、フ
ォトダイオード４４が設けられている室内４６の電位が
変動し、半導体を使用しているフォトダイオード４４に
悪影響が及ぼされることになる。結果として、化学発光
分析計の出力にウェットガスによる水分干渉影響に相当
する信号が発生していた。
光分析計の反応槽４３に導入される試料ガスは、必ずし
も乾燥したガスばかりではなく、例えばウェットゼロガ
スのように湿ったガスも導入されることがある。このよ
うにウェットなガスが反応槽４３に導入されると、光学
窓４２の反応槽内部側の表面にウェットガス中に含まれ
る水分により電荷（ＯＨ基）が発生し、これによって、
光学窓４２の電位が変動し、この電位変動に伴って、フ
ォトダイオード４４が設けられている室内４６の電位が
変動し、半導体を使用しているフォトダイオード４４に
悪影響が及ぼされることになる。結果として、化学発光
分析計の出力にウェットガスによる水分干渉影響に相当
する信号が発生していた。
【０００５】この発明は、上述の事柄に留意してなされ
たもので、フォトダイオード近傍の電位を一定の電位に
安定化させることにより、ウェットガスの影響を低減
し、精度の高い測定を行うことができる化学発光分析計
を提供することを目的としている。
たもので、フォトダイオード近傍の電位を一定の電位に
安定化させることにより、ウェットガスの影響を低減
し、精度の高い測定を行うことができる化学発光分析計
を提供することを目的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明は、試料ガスと反応ガスとが供給される反
応槽の一側に光学窓を設け、この光学窓に対向する位置
に、前記両ガスの反応によって生ずる化学発光を検出す
るフォトダイオードを配置した化学発光分析計におい
て、前記光学窓に導電性を持たせるとともに、この光学
窓をアース電位に落とすようにしている。
め、この発明は、試料ガスと反応ガスとが供給される反
応槽の一側に光学窓を設け、この光学窓に対向する位置
に、前記両ガスの反応によって生ずる化学発光を検出す
るフォトダイオードを配置した化学発光分析計におい
て、前記光学窓に導電性を持たせるとともに、この光学
窓をアース電位に落とすようにしている。
【０００７】
【作用】前記構成の化学発光分析計においては、反応槽
の光学窓の電位をアース電位に落としているので、光学
窓の電位が安定化され、この光学窓に臨むフォトダイオ
ードの周囲の電位が安定化され、ウェットガスによる水
分干渉影響が大幅に低減されるようになった。
の光学窓の電位をアース電位に落としているので、光学
窓の電位が安定化され、この光学窓に臨むフォトダイオ
ードの周囲の電位が安定化され、ウェットガスによる水
分干渉影響が大幅に低減されるようになった。
【０００８】
【実施例】図１および図２は、この発明の化学発光分析
計の一例を示す図で、図１において、１は上方が開口し
たケーシングで、例えばアルミニウムなどからなる。２
はこのケーシング１の上部空間に設けられる例えばフッ
素樹脂からなる例えば平面視円形のブロック状の器体
で、その下部平面側に渦巻き状凹溝３が形成され、その
表面は反射面に形成されている。４は渦巻き状凹溝３の
中心側端部に連通させて、その底面側に有底の孔状に設
けられた合流部である。５，６は合流部４の相対した側
面に連通させて互いに独立した状態で器体２の上部平面
側に延設されたガス導入路、７は渦巻き状凹溝３の外周
側端部に連通させて器体２の上部平面側に延設されたガ
ス導出路である。
計の一例を示す図で、図１において、１は上方が開口し
たケーシングで、例えばアルミニウムなどからなる。２
はこのケーシング１の上部空間に設けられる例えばフッ
素樹脂からなる例えば平面視円形のブロック状の器体
で、その下部平面側に渦巻き状凹溝３が形成され、その
表面は反射面に形成されている。４は渦巻き状凹溝３の
中心側端部に連通させて、その底面側に有底の孔状に設
けられた合流部である。５，６は合流部４の相対した側
面に連通させて互いに独立した状態で器体２の上部平面
側に延設されたガス導入路、７は渦巻き状凹溝３の外周
側端部に連通させて器体２の上部平面側に延設されたガ
ス導出路である。
【０００９】８は器体２の渦巻き状凹溝３を設けた側面
に密接する光学フィルタを兼ねた光学窓で、渦巻き状凹
溝３の開口部を全長に亘って密閉して渦巻き状の反応槽
９を形成する。この光学窓８の器体２への密接は、これ
らを互いに圧接または接着剤で接着するなど任意であ
る。なお、１０は光学窓８をケーシング１の内面に接着
するための接着剤である。
に密接する光学フィルタを兼ねた光学窓で、渦巻き状凹
溝３の開口部を全長に亘って密閉して渦巻き状の反応槽
９を形成する。この光学窓８の器体２への密接は、これ
らを互いに圧接または接着剤で接着するなど任意であ
る。なお、１０は光学窓８をケーシング１の内面に接着
するための接着剤である。
【００１０】１１は光学窓８を透過した光線を受光する
ために、器体２の下方空間１２内に光学窓８に対応する
ようにして配置されるフォトダイオード、１３はこのフ
ォトダイオード１１の温度上昇を防ぐために、その下部
に配置された例えばペルチェ素子よりなる電子冷却器で
ある。そして、この電子冷却器１３はケーシング１の底
部内面に固着されている。
ために、器体２の下方空間１２内に光学窓８に対応する
ようにして配置されるフォトダイオード、１３はこのフ
ォトダイオード１１の温度上昇を防ぐために、その下部
に配置された例えばペルチェ素子よりなる電子冷却器で
ある。そして、この電子冷却器１３はケーシング１の底
部内面に固着されている。
【００１１】１４は器体２の上部に設けられる流路盤を
兼ねた蓋体で、例えばステンレス鋼よりなり、その下面
側には前記ガス導入路５，６およびガス導出路７にそれ
ぞれ連なる流路１５，１６および１７が開設され、これ
らの流路１５，１６および１７の上端側はそれぞれガス
導入口１８，１９およびガス導出口２０に形成されてい
る。なお、２１，２２，２３，２４は器体２と蓋体１４
との間に介装されるＯリングなどのシール部材である。
兼ねた蓋体で、例えばステンレス鋼よりなり、その下面
側には前記ガス導入路５，６およびガス導出路７にそれ
ぞれ連なる流路１５，１６および１７が開設され、これ
らの流路１５，１６および１７の上端側はそれぞれガス
導入口１８，１９およびガス導出口２０に形成されてい
る。なお、２１，２２，２３，２４は器体２と蓋体１４
との間に介装されるＯリングなどのシール部材である。
【００１２】そして、この実施例においては、図２に拡
大して示すように、光学窓８の下面側には適宜の導電性
塗料〔例えば透明導電性膜（ＩＴＯ）〕がコーティング
２５されて、光学窓８に導電性を持たせてあるととも
に、金属製のばね２６をケーシング１に開設した孔２７
内を挿通させて、皿ビスなどの固定部材２８でばね２６
を光学窓８の前記コーティング層２５に圧接させること
により、光学窓８をケーシング１と同電位になるように
して、光学窓８をアース電位に落としている。なお、２
９はばね２６が曲がらないようにばね２６を外套する例
えばフッ素樹脂からなる円筒状のガイド部材である。
大して示すように、光学窓８の下面側には適宜の導電性
塗料〔例えば透明導電性膜（ＩＴＯ）〕がコーティング
２５されて、光学窓８に導電性を持たせてあるととも
に、金属製のばね２６をケーシング１に開設した孔２７
内を挿通させて、皿ビスなどの固定部材２８でばね２６
を光学窓８の前記コーティング層２５に圧接させること
により、光学窓８をケーシング１と同電位になるように
して、光学窓８をアース電位に落としている。なお、２
９はばね２６が曲がらないようにばね２６を外套する例
えばフッ素樹脂からなる円筒状のガイド部材である。
【００１３】上記構成の化学発光分析計において、ガス
導入口１８を介して試料ガスとして例えばＮＯガスを、
また、ガス導入口１９を介して反応ガスとしてオゾンを
それぞれ器体２内に導入する。器体２内に導入されたＮ
Ｏガスとオゾンは、合流部４に流入混合してから渦巻状
の反応槽９を流通しガス導出口２０から器体２外に流出
する。そして、ＮＯガスとオゾンとが合流部４で互いに
混合し反応しながら反応槽９を流通する間に生ずる化学
発光が光学窓８を透過してフォトダイオード１１に入射
されるから、その光線をフォトダイオード１１が検出し
て信号を出力する。
導入口１８を介して試料ガスとして例えばＮＯガスを、
また、ガス導入口１９を介して反応ガスとしてオゾンを
それぞれ器体２内に導入する。器体２内に導入されたＮ
Ｏガスとオゾンは、合流部４に流入混合してから渦巻状
の反応槽９を流通しガス導出口２０から器体２外に流出
する。そして、ＮＯガスとオゾンとが合流部４で互いに
混合し反応しながら反応槽９を流通する間に生ずる化学
発光が光学窓８を透過してフォトダイオード１１に入射
されるから、その光線をフォトダイオード１１が検出し
て信号を出力する。
【００１４】そして、前記構成の化学発光分析計におい
ては、反応槽９の光学窓８をアース電位に落としている
ので、光学窓８の電位が安定化される。また、フォトダ
イオード１１は、ケーシング１に固定された電子冷却器
１３に保持されているので、ケーシング１と光学窓８と
で囲まれた空間１２の電位が安定化し、したがって、反
応槽９にウェットガスが導入されても、光学窓８やフォ
トダイオード１１の電位がふらつくことなく安定化され
る。つまり、フォトダイオード１１の周囲の電位の揺ら
ぎがなくなるので、ウェットガスによる水分干渉影響が
大幅（約３０％）に低減される。
ては、反応槽９の光学窓８をアース電位に落としている
ので、光学窓８の電位が安定化される。また、フォトダ
イオード１１は、ケーシング１に固定された電子冷却器
１３に保持されているので、ケーシング１と光学窓８と
で囲まれた空間１２の電位が安定化し、したがって、反
応槽９にウェットガスが導入されても、光学窓８やフォ
トダイオード１１の電位がふらつくことなく安定化され
る。つまり、フォトダイオード１１の周囲の電位の揺ら
ぎがなくなるので、ウェットガスによる水分干渉影響が
大幅（約３０％）に低減される。
【００１５】また、上述の実施例においては、光学窓８
をアース電位に落とすために、ばね２６と皿ビス２８と
を用いているだけであるので、化学発光分析計の組立を
容易に行なえるといった利点がある。
をアース電位に落とすために、ばね２６と皿ビス２８と
を用いているだけであるので、化学発光分析計の組立を
容易に行なえるといった利点がある。
【００１６】上述の実施例では、光学窓８をアース電位
に落とすために、ばね２６と皿ビス２８とを用いていた
が、これに代えて、図３に示すように、光学窓８のケー
シング１への固定に際し、導電性接着剤３０を用いるよ
うにしてもよい。
に落とすために、ばね２６と皿ビス２８とを用いていた
が、これに代えて、図３に示すように、光学窓８のケー
シング１への固定に際し、導電性接着剤３０を用いるよ
うにしてもよい。
【００１７】また、上述の実施例においてはいずれも、
光学窓８に導電性を持たせるため、導電性塗料からなる
コーティング層２５を光学窓８の一方の面に形成してい
たが、これに代えて、光学窓８そのものを導電性ガラス
で形成してもよい。
光学窓８に導電性を持たせるため、導電性塗料からなる
コーティング層２５を光学窓８の一方の面に形成してい
たが、これに代えて、光学窓８そのものを導電性ガラス
で形成してもよい。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように、この発明において
は、光学窓に導電性を持たせるとともに、この光学窓を
アース電位に落とすようにして、光学窓の電位を安定化
したので、この光学窓に臨むフォトダイオードの周囲の
電位が安定化され、ウェットガスによる水分干渉影響を
大幅に低減することができ、化学発光分析計の精度を向
上させることができるようになった。
は、光学窓に導電性を持たせるとともに、この光学窓を
アース電位に落とすようにして、光学窓の電位を安定化
したので、この光学窓に臨むフォトダイオードの周囲の
電位が安定化され、ウェットガスによる水分干渉影響を
大幅に低減することができ、化学発光分析計の精度を向
上させることができるようになった。
【図１】この発明の化学発光分析計の一例を示す縦断面
図である。
図である。
【図２】図１の部分拡大断面図である。
【図３】他の実施例の部分拡大断面図である。
【図４】従来例を説明するための図である。
８…光学窓、９…反応槽、１１…フォトダイオード。
Claims (1)
- 【請求項１】 試料ガスと反応ガスとが供給される反応
槽の一側に光学窓を設け、この光学窓に対向する位置
に、前記両ガスの反応によって生ずる化学発光を検出す
るフォトダイオードを配置した化学発光分析計におい
て、前記光学窓に導電性を持たせるとともに、この光学
窓をアース電位に落とすようにしたことを特徴とする化
学発光分析計。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17003294A JP3559998B2 (ja) | 1994-06-28 | 1994-06-28 | 化学発光分析計 |
| DE1995121349 DE19521349C2 (de) | 1994-06-28 | 1995-06-12 | Chemolumineszenz-Analysator |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17003294A JP3559998B2 (ja) | 1994-06-28 | 1994-06-28 | 化学発光分析計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0815161A true JPH0815161A (ja) | 1996-01-19 |
| JP3559998B2 JP3559998B2 (ja) | 2004-09-02 |
Family
ID=15897349
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17003294A Expired - Fee Related JP3559998B2 (ja) | 1994-06-28 | 1994-06-28 | 化学発光分析計 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3559998B2 (ja) |
| DE (1) | DE19521349C2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10670532B2 (en) | 2017-08-10 | 2020-06-02 | Ricoh Company, Ltd. | Measuring apparatus comprising a line enclosure disposed around an electrical connection line electrically connected to the conductive part of an optical window and a housing |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| AU2006201608B2 (en) * | 1998-05-11 | 2007-06-07 | Bioveris Corporation | Improved Apparatus and Methods for Carrying Out Electrochemiluminescence Test Measurements |
| US6200531B1 (en) * | 1998-05-11 | 2001-03-13 | Igen International, Inc. | Apparatus for carrying out electrochemiluminescence test measurements |
| DE102009040151B4 (de) | 2009-05-26 | 2013-09-12 | Analytik Jena Ag | Anordnung zur Detektion von Chemolumineszenz an Gasen |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3734691A (en) * | 1971-09-15 | 1973-05-22 | Ford Motor Co | Sensing system for a chemiluminescent instrument |
| US3984688A (en) * | 1975-04-21 | 1976-10-05 | Source Gas Analyzers, Inc. | Monitor for detection of chemiluminescent reactions |
| JPS51135694A (en) * | 1975-05-20 | 1976-11-24 | Shimadzu Corp | Chemical emission-type analyzing apparatus |
-
1994
- 1994-06-28 JP JP17003294A patent/JP3559998B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1995
- 1995-06-12 DE DE1995121349 patent/DE19521349C2/de not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10670532B2 (en) | 2017-08-10 | 2020-06-02 | Ricoh Company, Ltd. | Measuring apparatus comprising a line enclosure disposed around an electrical connection line electrically connected to the conductive part of an optical window and a housing |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE19521349A1 (de) | 1996-01-04 |
| DE19521349C2 (de) | 1996-10-02 |
| JP3559998B2 (ja) | 2004-09-02 |
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