JPH0815163A - 筒状物の外観検査装置 - Google Patents
筒状物の外観検査装置Info
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- JPH0815163A JPH0815163A JP15140194A JP15140194A JPH0815163A JP H0815163 A JPH0815163 A JP H0815163A JP 15140194 A JP15140194 A JP 15140194A JP 15140194 A JP15140194 A JP 15140194A JP H0815163 A JPH0815163 A JP H0815163A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/909—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents in opaque containers or opaque container parts, e.g. cans, tins, caps, labels
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- G01N21/9036—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents using arrays of emitters or receivers
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 筒状物の外観を定性的かつ速やかに検査する
ことにより、検査コストを低減する。 【構成】 搬送路1の途中には、その両側に複数の光源
3が周方向に離間して展開し、各光源3は筒状物2の軸
線に対して傾斜している。また、各光源3の間には複数
のカメラ6が設けられている。そして、筒状物2が所定
の基準点Cに達すると、この筒状物2の周面には複数の
帯状光像5が映り込み、これらの各帯状光像5はカメラ
6によって撮像される。従って、この帯状光像5の両側
近傍の明度変化を計測することにより、欠陥の有無を判
断することができる。
ことにより、検査コストを低減する。 【構成】 搬送路1の途中には、その両側に複数の光源
3が周方向に離間して展開し、各光源3は筒状物2の軸
線に対して傾斜している。また、各光源3の間には複数
のカメラ6が設けられている。そして、筒状物2が所定
の基準点Cに達すると、この筒状物2の周面には複数の
帯状光像5が映り込み、これらの各帯状光像5はカメラ
6によって撮像される。従って、この帯状光像5の両側
近傍の明度変化を計測することにより、欠陥の有無を判
断することができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばビール缶等の筒
状物の表面を検査するのに用いて好適な筒状物の外観検
査装置に関する。
状物の表面を検査するのに用いて好適な筒状物の外観検
査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】筒状物としては、例えばビール、ジュー
ス等の各種飲料を充填するための飲料用缶の他、種々の
缶や容器等が知られている。一般に、これらの筒状物
は、表面の傷や凹み等の有無が目視によって検査された
後に、出荷等されるようになっている。
ス等の各種飲料を充填するための飲料用缶の他、種々の
缶や容器等が知られている。一般に、これらの筒状物
は、表面の傷や凹み等の有無が目視によって検査された
後に、出荷等されるようになっている。
【0003】肉眼は瞬間的な微分反応に対して感度が高
く、頭脳の情報処理能力は極めて高いため、熟練した検
査員によれば、高速搬送途中の筒状物から微小な傷や凹
み等を有する不良品を検出することも可能であり、良品
と不良品との間の限界領域での高度な判断も速やかに行
うことができる。しかし、単調でありながら緊張感が要
求される目視検査作業は、検査員に著しい疲労を与える
ため、時として著しい外観上の欠陥がある不良品が見逃
される可能性がある上に、各自の熟練度によって検査精
度にバラツキが生じる。また、熟練作業員の育成や確保
が難しいばかりか、製造コスト低減の障害にもなり得
る。
く、頭脳の情報処理能力は極めて高いため、熟練した検
査員によれば、高速搬送途中の筒状物から微小な傷や凹
み等を有する不良品を検出することも可能であり、良品
と不良品との間の限界領域での高度な判断も速やかに行
うことができる。しかし、単調でありながら緊張感が要
求される目視検査作業は、検査員に著しい疲労を与える
ため、時として著しい外観上の欠陥がある不良品が見逃
される可能性がある上に、各自の熟練度によって検査精
度にバラツキが生じる。また、熟練作業員の育成や確保
が難しいばかりか、製造コスト低減の障害にもなり得
る。
【0004】そこで、このような目視による外観検査の
自動化を図ったものが、例えば特開平1−206242
号公報等によって知られている。この公報記載の技術で
は、特別な線状光源を用いることにより、筒状物の表面
に軸線に対して傾斜する線状光像を形成し、該筒状物の
回転中における線状光像の変形具合から良否を判断して
いる。即ち、良品の筒状物であれば、線状光像に変形が
生じないが、傷や凹み等の欠陥のある不良品の場合は、
その部分で光像が乱れて変形するため、この変形量を検
出することにより、良否を判断することができる。
自動化を図ったものが、例えば特開平1−206242
号公報等によって知られている。この公報記載の技術で
は、特別な線状光源を用いることにより、筒状物の表面
に軸線に対して傾斜する線状光像を形成し、該筒状物の
回転中における線状光像の変形具合から良否を判断して
いる。即ち、良品の筒状物であれば、線状光像に変形が
生じないが、傷や凹み等の欠陥のある不良品の場合は、
その部分で光像が乱れて変形するため、この変形量を検
出することにより、良否を判断することができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述した前記
公報に記載のものでは、筒状物を回転させて検査するた
め、搬送ラインの途中に外観検査のための回転ステージ
を設ける必要があり、機械的構成が大幅に複雑化する。
また、筒状物を回転させつつ単一のカメラによって撮像
するため、1個あたりに要する検査時間が長くなる。さ
らに、筒状物を回転させることによって、新たな欠陥を
与えかねない。
公報に記載のものでは、筒状物を回転させて検査するた
め、搬送ラインの途中に外観検査のための回転ステージ
を設ける必要があり、機械的構成が大幅に複雑化する。
また、筒状物を回転させつつ単一のカメラによって撮像
するため、1個あたりに要する検査時間が長くなる。さ
らに、筒状物を回転させることによって、新たな欠陥を
与えかねない。
【0006】一方、筒状物の外観に欠陥が生じる原因と
しては種々のものが考えられるが、近年は各工程での自
動化が進んでいるため、人為的要因による突発不良より
も、振動や熱等によって機械的調整等に狂いが生じた結
果、外観品質が低下する可能性の方が高い。この場合、
不良品は連続的に発生するため、発生初期の段階で検出
できれば、そのロットだけを再検査することにより、一
定の外観品質を保持することが可能である。従って、全
自動の無人化ラインであればともかく、筒状物を全周に
わたって厳密に定量的に検査する必要性は必ずしもない
上に、精査する分だけ検査コストが上昇し、筒状物の製
造コストが増大する。
しては種々のものが考えられるが、近年は各工程での自
動化が進んでいるため、人為的要因による突発不良より
も、振動や熱等によって機械的調整等に狂いが生じた結
果、外観品質が低下する可能性の方が高い。この場合、
不良品は連続的に発生するため、発生初期の段階で検出
できれば、そのロットだけを再検査することにより、一
定の外観品質を保持することが可能である。従って、全
自動の無人化ラインであればともかく、筒状物を全周に
わたって厳密に定量的に検査する必要性は必ずしもない
上に、精査する分だけ検査コストが上昇し、筒状物の製
造コストが増大する。
【0007】本発明は、かかる従来技術の問題に鑑みて
なされたもので、筒状物の外観を速やかに検査できるよ
うにした外観検査装置の提供を目的とする。本発明の他
の目的は、高速搬送状態にある筒状物の外観欠陥を定性
的に検査することにより、検査コストを低減することに
ある。
なされたもので、筒状物の外観を速やかに検査できるよ
うにした外観検査装置の提供を目的とする。本発明の他
の目的は、高速搬送状態にある筒状物の外観欠陥を定性
的に検査することにより、検査コストを低減することに
ある。
【0008】
【課題を解決するための手段】そこで、本発明に係る筒
状物の外観検査装置は、筒状物を搬送する搬送路と、こ
の搬送路の周囲に離間して設けられ、前記筒状物の表面
に帯状光像を形成する複数の光源と、前記帯状光像が形
成された前記筒状物の表面を搬送状態で撮像する複数の
撮像手段と、これら各撮像手段が撮像した画像中の明度
を計測する明度計測手段と、この明度計測手段が計測し
た明度変化に基づいて欠陥の有無を判定する判定手段と
を含んで構成している。
状物の外観検査装置は、筒状物を搬送する搬送路と、こ
の搬送路の周囲に離間して設けられ、前記筒状物の表面
に帯状光像を形成する複数の光源と、前記帯状光像が形
成された前記筒状物の表面を搬送状態で撮像する複数の
撮像手段と、これら各撮像手段が撮像した画像中の明度
を計測する明度計測手段と、この明度計測手段が計測し
た明度変化に基づいて欠陥の有無を判定する判定手段と
を含んで構成している。
【0009】また、請求項2に係るものでは、筒状物を
搬送する搬送路と、この搬送路の周囲に離間して設けら
れ、前記筒状物の表面に帯状光像を形成する複数の光源
と、前記帯状光像が形成された前記筒状物の表面を搬送
状態で撮像する複数の撮像手段と、これら各撮像手段が
撮像した各帯状光像の両側近傍の明度を計測する明度計
測手段と、この明度計測手段が計測した明度変化に基づ
いて欠陥の有無を判定する判定手段とを含んで構成して
いる。
搬送する搬送路と、この搬送路の周囲に離間して設けら
れ、前記筒状物の表面に帯状光像を形成する複数の光源
と、前記帯状光像が形成された前記筒状物の表面を搬送
状態で撮像する複数の撮像手段と、これら各撮像手段が
撮像した各帯状光像の両側近傍の明度を計測する明度計
測手段と、この明度計測手段が計測した明度変化に基づ
いて欠陥の有無を判定する判定手段とを含んで構成して
いる。
【0010】さらに、請求項3に係るものでは、筒状物
を搬送する搬送路と、この搬送路の周囲に離間して位置
すると共に前記筒状物の軸線に対し所定角度傾斜して設
けられ、前記筒状物の表面に帯状光像を形成する複数の
帯状光源と、前記帯状光像が形成された前記筒状物の表
面を搬送状態で撮像する複数の撮像手段と、これら各撮
像手段が撮像した各帯状光像の両側近傍の明度を計測す
る明度計測手段と、この明度計測手段が計測した明度変
化に基づいて欠陥の有無を判定する判定手段とを含んで
構成している。
を搬送する搬送路と、この搬送路の周囲に離間して位置
すると共に前記筒状物の軸線に対し所定角度傾斜して設
けられ、前記筒状物の表面に帯状光像を形成する複数の
帯状光源と、前記帯状光像が形成された前記筒状物の表
面を搬送状態で撮像する複数の撮像手段と、これら各撮
像手段が撮像した各帯状光像の両側近傍の明度を計測す
る明度計測手段と、この明度計測手段が計測した明度変
化に基づいて欠陥の有無を判定する判定手段とを含んで
構成している。
【0011】さらにまた、前記撮像手段の走査方向を前
記帯状光像の長手方向に対して平行に配置するのが好ま
しい。
記帯状光像の長手方向に対して平行に配置するのが好ま
しい。
【0012】
【作用】筒状物が搬送路により搬送されて所定位置に達
すると、各光源からの光線が筒状物の表面に入射して反
射し、これにより帯状の光像が映しだされる。そして、
撮像手段が、これら複数の帯状光像が映り込んだ筒状物
を、搬送状態のままで所定のタイミングで撮像すると、
判定手段は、この撮像された画像中の明度変化に基づい
て筒状物の表面欠陥を判定する。
すると、各光源からの光線が筒状物の表面に入射して反
射し、これにより帯状の光像が映しだされる。そして、
撮像手段が、これら複数の帯状光像が映り込んだ筒状物
を、搬送状態のままで所定のタイミングで撮像すると、
判定手段は、この撮像された画像中の明度変化に基づい
て筒状物の表面欠陥を判定する。
【0013】また、請求項2の構成によれば、判定手段
は、明度計測手段により計測された各帯状光像の両側近
傍の明度変化に基づいて、筒状物の表面欠陥の有無を判
定することができる。即ち、帯状光像が形成された部位
に欠陥がある場合には、この欠陥に応じて光像が乱れ、
該帯状光像の両側近傍の明度が高くなる。また、帯状光
像が形成された部位に欠陥が無くて、その両側近傍にの
み欠陥が生じた場合には、当該欠陥で光源からの光が反
射するため、欠陥部分の明度が高くなる。従って、帯状
光像の形状や直線性に影響を与えない欠陥をも有効に検
出することができる。
は、明度計測手段により計測された各帯状光像の両側近
傍の明度変化に基づいて、筒状物の表面欠陥の有無を判
定することができる。即ち、帯状光像が形成された部位
に欠陥がある場合には、この欠陥に応じて光像が乱れ、
該帯状光像の両側近傍の明度が高くなる。また、帯状光
像が形成された部位に欠陥が無くて、その両側近傍にの
み欠陥が生じた場合には、当該欠陥で光源からの光が反
射するため、欠陥部分の明度が高くなる。従って、帯状
光像の形状や直線性に影響を与えない欠陥をも有効に検
出することができる。
【0014】さらに、請求項3の構成によれば、帯状光
像を筒状物の軸線に対して所定角度傾斜して配設したた
め、欠陥による反射を増幅することができ、検査精度を
高めることができる。
像を筒状物の軸線に対して所定角度傾斜して配設したた
め、欠陥による反射を増幅することができ、検査精度を
高めることができる。
【0015】一方、撮像手段の走査方向を帯状光像の長
手方向に対して平行に配置し、両者の向きを揃えれば、
帯状光像の直線性を正確かつ速やかに検出することが可
能となる。
手方向に対して平行に配置し、両者の向きを揃えれば、
帯状光像の直線性を正確かつ速やかに検出することが可
能となる。
【0016】
【実施例】以下、図1〜図15に基づいて本発明の実施
例を詳述する。
例を詳述する。
【0017】まず、図1は本発明の第1の実施例に係る
筒状物の外観検査装置の全体構成を示す構成説明図であ
って、例えばテーブルトップチェーンコンベア等からな
る搬送路1には、複数の筒状物2が互いに離間して正立
状態で載置されており、充填工程や梱包工程等の次工程
に向けて矢示A方向に搬送されている。ここで、本明細
書にいう「筒状物」とは、円筒状、角筒状のものに限ら
ず、円錐状をも含む概念であり、中空筒状のものに限ら
ず、中実筒状のものも含まれる。例示列挙すれば、筒状
物2には、ビールやジュース等のアルミニウム缶及びス
チール缶、ビン、コップ、パイプ、リング等の各種筒状
の容器や部材が含まれる。
筒状物の外観検査装置の全体構成を示す構成説明図であ
って、例えばテーブルトップチェーンコンベア等からな
る搬送路1には、複数の筒状物2が互いに離間して正立
状態で載置されており、充填工程や梱包工程等の次工程
に向けて矢示A方向に搬送されている。ここで、本明細
書にいう「筒状物」とは、円筒状、角筒状のものに限ら
ず、円錐状をも含む概念であり、中空筒状のものに限ら
ず、中実筒状のものも含まれる。例示列挙すれば、筒状
物2には、ビールやジュース等のアルミニウム缶及びス
チール缶、ビン、コップ、パイプ、リング等の各種筒状
の容器や部材が含まれる。
【0018】搬送路1の途中には、複数の光源3が所定
の基準点Cを中心に周方向に離間して設けられている。
より具体的には、これら各光源3は例えば直管式蛍光灯
を筒状のケーシングに収容してなり、搬送路1の進行方
向両側で5本ずつ半円状に展開し、互いに相手方の光源
3と直径方向で対向している。
の基準点Cを中心に周方向に離間して設けられている。
より具体的には、これら各光源3は例えば直管式蛍光灯
を筒状のケーシングに収容してなり、搬送路1の進行方
向両側で5本ずつ半円状に展開し、互いに相手方の光源
3と直径方向で対向している。
【0019】また、図2の配置説明図に示す如く、各光
源3は、筒状物2の軸線X−Xと平行な軸線X1−X1か
ら所定角度θ1だけ傾斜している。この傾斜角度θ1は、
検査対象となる欠陥の種類や大きさ等に応じて定められ
るものであるが、例えば30〜60°の範囲で設定され
る。この所定角度θ1を40〜50°の範囲に設定する
と、欠陥での反射を効果的に増幅できる。より好ましく
は42〜46°程度に設定すると良い。ここで、各光源
3は、所謂スリット光源として特別に形成したものでは
ないが、これに限らず、光ファイバの端部を線状に配設
したり、発光ダイオードを線状に配設したり、あるいは
蛍光灯にスリット板を設けたり等して、各光源3をスリ
ット光源として形成してもよい。なお、蛍光灯を用いる
場合、電極付近の輝度が中央部よりも低下するため、筒
状物2の高さ寸法よりも数倍長い蛍光灯を用いて、照明
を行うのが望ましい。
源3は、筒状物2の軸線X−Xと平行な軸線X1−X1か
ら所定角度θ1だけ傾斜している。この傾斜角度θ1は、
検査対象となる欠陥の種類や大きさ等に応じて定められ
るものであるが、例えば30〜60°の範囲で設定され
る。この所定角度θ1を40〜50°の範囲に設定する
と、欠陥での反射を効果的に増幅できる。より好ましく
は42〜46°程度に設定すると良い。ここで、各光源
3は、所謂スリット光源として特別に形成したものでは
ないが、これに限らず、光ファイバの端部を線状に配設
したり、発光ダイオードを線状に配設したり、あるいは
蛍光灯にスリット板を設けたり等して、各光源3をスリ
ット光源として形成してもよい。なお、蛍光灯を用いる
場合、電極付近の輝度が中央部よりも低下するため、筒
状物2の高さ寸法よりも数倍長い蛍光灯を用いて、照明
を行うのが望ましい。
【0020】そして、これら各光源3が、図3の機能ブ
ロック図に示す照明用電源4から給電を受けて発光する
と、この光が筒状物2の周面でそれぞれ反射し、これに
より筒状物2の周面に帯状の反射光像5(帯状光像5)
が周方向に離間して形成されるようになっている。
ロック図に示す照明用電源4から給電を受けて発光する
と、この光が筒状物2の周面でそれぞれ反射し、これに
より筒状物2の周面に帯状の反射光像5(帯状光像5)
が周方向に離間して形成されるようになっている。
【0021】検査ステージの中心である基準点Cの外周
側には、撮像手段としての複数のカメラ6が周方向に離
間して設けられている。これらの各カメラ6は、例えば
CCD素子(電荷結合素子)を用いたランダムシャッタ
式CCDカメラとして構成されており、搬送路1の両側
にそれぞれ2台ずつ配設され、互いに相手方のカメラ6
と直径方向で対向している。また、図2に示す如く、各
カメラ6は、光源3の間に設けられ、その先端のレンズ
7が光源3と略同一面上に位置している。換言すれば、
カメラ6と光源3とは、検査に係る筒状物2(基準点C
に位置する筒状物2)からの距離が共に略等しくなるよ
うに設置されている。なお、カメラ6としては、CCD
素子に限らず撮像管等を用いてもよい。
側には、撮像手段としての複数のカメラ6が周方向に離
間して設けられている。これらの各カメラ6は、例えば
CCD素子(電荷結合素子)を用いたランダムシャッタ
式CCDカメラとして構成されており、搬送路1の両側
にそれぞれ2台ずつ配設され、互いに相手方のカメラ6
と直径方向で対向している。また、図2に示す如く、各
カメラ6は、光源3の間に設けられ、その先端のレンズ
7が光源3と略同一面上に位置している。換言すれば、
カメラ6と光源3とは、検査に係る筒状物2(基準点C
に位置する筒状物2)からの距離が共に略等しくなるよ
うに設置されている。なお、カメラ6としては、CCD
素子に限らず撮像管等を用いてもよい。
【0022】さらに、各カメラ6は、図5と共に後述す
る如く、その走査方向が帯状光像5の長手方向と平行に
なるように、即ち、帯状光像5が筒状物2の軸線と略平
行に形成される場合には、この筒状物2の軸線と直交す
るように、約90°傾けて配置されており、視野内に例
えば4本の帯状光像5を収めるように、光学系(レンズ
7)が設定されている。そして、これらの各カメラ6が
所定のトリガ信号でそれぞれ電子的にシャッタを切るこ
とにより、1つの筒状物2の周面が4方向から撮像され
るようになっている。
る如く、その走査方向が帯状光像5の長手方向と平行に
なるように、即ち、帯状光像5が筒状物2の軸線と略平
行に形成される場合には、この筒状物2の軸線と直交す
るように、約90°傾けて配置されており、視野内に例
えば4本の帯状光像5を収めるように、光学系(レンズ
7)が設定されている。そして、これらの各カメラ6が
所定のトリガ信号でそれぞれ電子的にシャッタを切るこ
とにより、1つの筒状物2の周面が4方向から撮像され
るようになっている。
【0023】画像処理用のコントロールユニット8は、
例えばCPU等の演算回路、ROM,RAM等の記憶回
路、入出力回路等を含んだマイクロコンピュータシステ
ムとして構成されており、モニタ9やキーボード(いず
れも図示せず)等が接続されている。図3を参照して説
明すると、このコントロールユニット8は、A/D変換
された各カメラ6からのビデオ信号を記憶する多値の画
像メモリ(フレームメモリ)10と、各画像メモリ10
を切換えるための切換部11と、この切換部11によっ
て選択された各画像メモリ10に対して後述のウインド
ウ17(検査領域)を設定するウインドウ設定部12
と、このウインドウ17内に設定される後述の明度計測
線S1,S2上の明度を計測する計測線設定部13と、こ
の計測線設定部13が計測した明度変化に基づいて外観
の良否を判定する判定部14とから大略構成されてい
る。また、搬送路1の途中には、基準点Cに対応して光
電スイッチ、近接スイッチ等からなるトリガセンサ15
が設けられ、このトリガセンサ15はカメラ6に外部同
期信号を供給する同期回路16に接続されている。そし
て、トリガセンサ15が基準点Cに到達した筒状物2を
検出することにより、各カメラ6は撮像を行うようにな
っている。
例えばCPU等の演算回路、ROM,RAM等の記憶回
路、入出力回路等を含んだマイクロコンピュータシステ
ムとして構成されており、モニタ9やキーボード(いず
れも図示せず)等が接続されている。図3を参照して説
明すると、このコントロールユニット8は、A/D変換
された各カメラ6からのビデオ信号を記憶する多値の画
像メモリ(フレームメモリ)10と、各画像メモリ10
を切換えるための切換部11と、この切換部11によっ
て選択された各画像メモリ10に対して後述のウインド
ウ17(検査領域)を設定するウインドウ設定部12
と、このウインドウ17内に設定される後述の明度計測
線S1,S2上の明度を計測する計測線設定部13と、こ
の計測線設定部13が計測した明度変化に基づいて外観
の良否を判定する判定部14とから大略構成されてい
る。また、搬送路1の途中には、基準点Cに対応して光
電スイッチ、近接スイッチ等からなるトリガセンサ15
が設けられ、このトリガセンサ15はカメラ6に外部同
期信号を供給する同期回路16に接続されている。そし
て、トリガセンサ15が基準点Cに到達した筒状物2を
検出することにより、各カメラ6は撮像を行うようにな
っている。
【0024】次に、本実施例による装置の作動につい
て、図4〜図13を参照しつつ詳細に説明する。
て、図4〜図13を参照しつつ詳細に説明する。
【0025】筒状物2が搬送路1により搬送されて、各
光源3が展開した検査ステージ中の基準点Cに到達する
と、トリガセンサ15はこれを検出し、コントロールユ
ニット8にトリガ信号を出力する。そして、この筒状物
2の周面に各光源3からの光線が入射して反射し、これ
により図4に示す如く、筒状物2の周面には合計10本
の帯状光像5が周方向に離間して形成される(図中では
4本のみ図示)。
光源3が展開した検査ステージ中の基準点Cに到達する
と、トリガセンサ15はこれを検出し、コントロールユ
ニット8にトリガ信号を出力する。そして、この筒状物
2の周面に各光源3からの光線が入射して反射し、これ
により図4に示す如く、筒状物2の周面には合計10本
の帯状光像5が周方向に離間して形成される(図中では
4本のみ図示)。
【0026】ここで、各光源3は、上述した通り筒状物
2の軸線に対して所定角度θ1だけ傾斜しているが、周
面に映り込んだ帯状光像5の前記軸線に対する傾斜角θ
2は例えば5°以下程度と小さい。従って、光源3が角
度θ1だけ傾くことにより、帯状光像5の幅が広がるも
のの、帯状光像5自体は、実質的に筒状物2の軸線に対
して平行状態にある。
2の軸線に対して所定角度θ1だけ傾斜しているが、周
面に映り込んだ帯状光像5の前記軸線に対する傾斜角θ
2は例えば5°以下程度と小さい。従って、光源3が角
度θ1だけ傾くことにより、帯状光像5の幅が広がるも
のの、帯状光像5自体は、実質的に筒状物2の軸線に対
して平行状態にある。
【0027】さて、この筒状物2が良品で、傷、凹み、
座屈等の欠陥が無い場合には、各光源3の光線が正常に
反射するため、帯状光像5は直管式蛍光灯からなる光源
3の形状を反映して、直線状に映り込む。
座屈等の欠陥が無い場合には、各光源3の光線が正常に
反射するため、帯状光像5は直管式蛍光灯からなる光源
3の形状を反映して、直線状に映り込む。
【0028】そして、各カメラ6は、同期回路16から
のトリガ信号に応じて筒状物2を撮像する。ここで、各
カメラ6は、筒状物2の軸線に対して垂直となるように
略直角に傾けられているため、図5に示す如く、その走
査方向は帯状光像5の長手方向に対して平行になってい
る。また、この結果、画像メモリ10の横の走査方向
(読出し方向)も帯状光像5の長手方向に沿ったものと
なっている。なお、本明細書にいう「平行」とは、完全
なる平行の他、実質的な平行関係をも含む概念である。
のトリガ信号に応じて筒状物2を撮像する。ここで、各
カメラ6は、筒状物2の軸線に対して垂直となるように
略直角に傾けられているため、図5に示す如く、その走
査方向は帯状光像5の長手方向に対して平行になってい
る。また、この結果、画像メモリ10の横の走査方向
(読出し方向)も帯状光像5の長手方向に沿ったものと
なっている。なお、本明細書にいう「平行」とは、完全
なる平行の他、実質的な平行関係をも含む概念である。
【0029】そして、このように各画像メモリ10に取
り込まれた画像データは、切換部11を介して順次後段
の回路に送られ、必要な処理がなされる。即ち、この多
階調の画像データは、まずウインドウ設定部12に送り
込まれ、このウインドウ設定部12によって、図5に示
す如く、各帯状光像5の周囲にスリット状のウインドウ
17がそれぞれ設定される。
り込まれた画像データは、切換部11を介して順次後段
の回路に送られ、必要な処理がなされる。即ち、この多
階調の画像データは、まずウインドウ設定部12に送り
込まれ、このウインドウ設定部12によって、図5に示
す如く、各帯状光像5の周囲にスリット状のウインドウ
17がそれぞれ設定される。
【0030】次に、計測線設定部13では、図6に拡大
して示す如く、このウインドウ17で切り取られた画像
データ中の帯状光像5の両側に、所定画素だけ離間して
直線状の明度計測線S1,S2を設定し、これら各明度計
測線S1,S2に沿った画素の明度を読み出していく。こ
こで、帯状光像5は筒状物2の軸線に対して僅かに角度
θ2だけ傾いているものの、実質的に筒状物2の軸線に
対して平行関係にあるとみなすことができるため、これ
ら各明度計測線S1,S2は、筒状物2の軸線に対して平
行となるように、帯状光像5から離間して設定されてい
る。
して示す如く、このウインドウ17で切り取られた画像
データ中の帯状光像5の両側に、所定画素だけ離間して
直線状の明度計測線S1,S2を設定し、これら各明度計
測線S1,S2に沿った画素の明度を読み出していく。こ
こで、帯状光像5は筒状物2の軸線に対して僅かに角度
θ2だけ傾いているものの、実質的に筒状物2の軸線に
対して平行関係にあるとみなすことができるため、これ
ら各明度計測線S1,S2は、筒状物2の軸線に対して平
行となるように、帯状光像5から離間して設定されてい
る。
【0031】筒状物2が良品の場合、帯状光像5は筒状
物2の軸線に沿って直線状に延びるため、該帯状光像5
に対応した画素の明度は高くなる。しかし、図7,図8
に示す如く、光源3からの光が直接あたらない各明度計
測線S1,S2に沿った画素の明度は低くなり、全範囲に
わたって略一定となる。
物2の軸線に沿って直線状に延びるため、該帯状光像5
に対応した画素の明度は高くなる。しかし、図7,図8
に示す如く、光源3からの光が直接あたらない各明度計
測線S1,S2に沿った画素の明度は低くなり、全範囲に
わたって略一定となる。
【0032】さて一方、筒状物2が周面に傷や凹み等の
欠陥を有する不良品の場合は、図9に示す如く、その欠
陥によって画像メモリ10中の明度に変化が生じる。比
較的大きい凹み等の欠陥18Aと、比較的小さい凹み等
の欠陥18Bと、微小な突き傷等の欠陥18Cとの3種
類の欠陥を例示して考察すると、欠陥18A及び18B
は帯状光像5上にあるため、これらの欠陥18A,18
Bにより帯状光像5が乱れて直線性が失われ、光像の一
部が各明度計測線S1,S2を横切る。しかし、他の欠陥
18Cは、帯状光像5から離れており、その大きさも微
小なため、帯状光像5に対して殆ど影響を与えず、当該
欠陥18Cに対応した部分のみがスポット的に明るくな
るだけである。
欠陥を有する不良品の場合は、図9に示す如く、その欠
陥によって画像メモリ10中の明度に変化が生じる。比
較的大きい凹み等の欠陥18Aと、比較的小さい凹み等
の欠陥18Bと、微小な突き傷等の欠陥18Cとの3種
類の欠陥を例示して考察すると、欠陥18A及び18B
は帯状光像5上にあるため、これらの欠陥18A,18
Bにより帯状光像5が乱れて直線性が失われ、光像の一
部が各明度計測線S1,S2を横切る。しかし、他の欠陥
18Cは、帯状光像5から離れており、その大きさも微
小なため、帯状光像5に対して殆ど影響を与えず、当該
欠陥18Cに対応した部分のみがスポット的に明るくな
るだけである。
【0033】従って、図10に示す如く、これらの欠陥
18A,18B,18Cを有する不良品の筒状物2がカ
メラ6を介して画像メモリ10内に取り込まれ、図11
に示す如く明度計測線S1,S2が設定されると、これら
各明度計測線S1,S2に沿った画素の明度は、図12,
図13に示す如く変化する。
18A,18B,18Cを有する不良品の筒状物2がカ
メラ6を介して画像メモリ10内に取り込まれ、図11
に示す如く明度計測線S1,S2が設定されると、これら
各明度計測線S1,S2に沿った画素の明度は、図12,
図13に示す如く変化する。
【0034】この明度変化を詳述すると、帯状光像5上
に実質的に位置する欠陥18A,18Bによって、帯状
光像5の一部が第1の明度計測線S1を横切るため、こ
の明度計測線S1に沿った画素の明度は、図12に示す
如く、欠陥18A,18Bに対応した部分のみが局所的
に明るくなる。
に実質的に位置する欠陥18A,18Bによって、帯状
光像5の一部が第1の明度計測線S1を横切るため、こ
の明度計測線S1に沿った画素の明度は、図12に示す
如く、欠陥18A,18Bに対応した部分のみが局所的
に明るくなる。
【0035】一方、帯状光像5上に位置する比較的小さ
な欠陥18Bによって、帯状光像5の一部が第2の明度
計測線S2を横切ると共に、微小な欠陥18Cでも光が
反射するため、この明度計測線S2に沿った画素の明度
は、図13に示す如く、欠陥18B,18Cに対応した
部分のみが局所的に明るくなる。
な欠陥18Bによって、帯状光像5の一部が第2の明度
計測線S2を横切ると共に、微小な欠陥18Cでも光が
反射するため、この明度計測線S2に沿った画素の明度
は、図13に示す如く、欠陥18B,18Cに対応した
部分のみが局所的に明るくなる。
【0036】従って、判定部14は、各明度計測線
S1,S2の明度変化に基づいて、欠陥18A,18B,
18Cの有無を検出し、良否の判定信号を出力する。
S1,S2の明度変化に基づいて、欠陥18A,18B,
18Cの有無を検出し、良否の判定信号を出力する。
【0037】この判定処理には、種々のものが考えられ
るが、第1に、例えば各明度計測線S1,S2のうち、複
数ドットにわたって所定レベル以上の明度が検出された
場合には、欠陥ありと判断して不良信号を出力すること
ができる。これは、いわゆる1段オンオフ制御として理
解できる。
るが、第1に、例えば各明度計測線S1,S2のうち、複
数ドットにわたって所定レベル以上の明度が検出された
場合には、欠陥ありと判断して不良信号を出力すること
ができる。これは、いわゆる1段オンオフ制御として理
解できる。
【0038】第2に、帯状光像5の両側に、複数本の明
度計測線を設定し、どの計測線に所定レベル以上の明度
が現れたかを検出して、欠陥の大きさを段階的に判定す
ることができる。即ち、大きな欠陥であれば、帯状光像
5から離れた外側の明度計測線にまで局所的な明部が発
生し、小さな欠陥であれば、帯状光像5に近い内側の明
度計測線にしか明部が生じないため、欠陥のランク分け
を行うことが可能である。これは、多段オンオフ制御と
して把握できる。
度計測線を設定し、どの計測線に所定レベル以上の明度
が現れたかを検出して、欠陥の大きさを段階的に判定す
ることができる。即ち、大きな欠陥であれば、帯状光像
5から離れた外側の明度計測線にまで局所的な明部が発
生し、小さな欠陥であれば、帯状光像5に近い内側の明
度計測線にしか明部が生じないため、欠陥のランク分け
を行うことが可能である。これは、多段オンオフ制御と
して把握できる。
【0039】以上のように、判定部14で、欠陥の判定
がなされると、コントロールユニット8は、この判定出
力に基づいて警告等を点灯したり、不良品の筒状物2を
排除したりする。また、欠陥の検出結果を統計的に分析
し、例えば上部、中央部、下部のうち、どの部位に欠陥
が多く生じたかを解析することも可能である。
がなされると、コントロールユニット8は、この判定出
力に基づいて警告等を点灯したり、不良品の筒状物2を
排除したりする。また、欠陥の検出結果を統計的に分析
し、例えば上部、中央部、下部のうち、どの部位に欠陥
が多く生じたかを解析することも可能である。
【0040】このように構成される本実施例によれば、
以下の効果を奏する。
以下の効果を奏する。
【0041】第1に、搬送路1の途中に複数の光源3を
周方向に展開し、搬送途中の筒状物2を搬送状態のまま
非回転状態で撮像し、この画像データに基づいて検査す
る構成のため、前記公報に記載の技術とは異なり、全体
の機械的構成を大幅に簡素化できる上に、速やかに外観
検査を行うことができる。また、回転による新たな欠陥
が生じるおそれを廃して、オンライン検査を行うことが
できる。
周方向に展開し、搬送途中の筒状物2を搬送状態のまま
非回転状態で撮像し、この画像データに基づいて検査す
る構成のため、前記公報に記載の技術とは異なり、全体
の機械的構成を大幅に簡素化できる上に、速やかに外観
検査を行うことができる。また、回転による新たな欠陥
が生じるおそれを廃して、オンライン検査を行うことが
できる。
【0042】第2に、筒状物2の周面に複数の帯状光像
5を形成し、これら各帯状光像5を複数のカメラ6で撮
像して検査を行う構成のため、筒状物2の外観品質を定
性的に速やかに評価することができる。これにより、欠
陥の発生傾向を早期に検出して、製造機械の調整等を行
うことができる上に、検査コストを低減して筒状物2の
製造コストを下げることが可能となる。
5を形成し、これら各帯状光像5を複数のカメラ6で撮
像して検査を行う構成のため、筒状物2の外観品質を定
性的に速やかに評価することができる。これにより、欠
陥の発生傾向を早期に検出して、製造機械の調整等を行
うことができる上に、検査コストを低減して筒状物2の
製造コストを下げることが可能となる。
【0043】第3に、帯状光像5自体の直線性、即ち当
該光像5の変形を直接的に検出して欠陥の有無を判定す
るのではなく、帯状光像5の両側近傍に設定した明度計
測線S1,S2に沿って明度を計測することにより欠陥検
査を行う構成のため、検査範囲を広げることができ、検
査精度を大幅に向上することができる。
該光像5の変形を直接的に検出して欠陥の有無を判定す
るのではなく、帯状光像5の両側近傍に設定した明度計
測線S1,S2に沿って明度を計測することにより欠陥検
査を行う構成のため、検査範囲を広げることができ、検
査精度を大幅に向上することができる。
【0044】仮に、帯状光像5自身の明度変化に基づい
て検査するとすれば、帯状光像5の形状に影響を与える
欠陥18A,18は検出できるが、帯状光像5の形状に
変化を与えない欠陥18Cを検出することができない。
勿論、光源3の数量を増やして多数の帯状光像5を形成
すれば、このような欠陥18Cを検出する機会を高くで
きるが、その分だけ全体構造が複雑化し、コストも増大
する。これに対し、本実施例では、帯状光像5の両側近
傍の明度変化に基づいて検査するため、少なくとも第1
の明度計測線S1と第2の明度計測線S2との間まで、検
査範囲を広げることができる。従って、本実施例によれ
ば、光源3の数量を増大せずに、検査範囲を大きく設定
することができ、検査精度を大幅に高めて効率的にオン
ライン検査を行うことができる。
て検査するとすれば、帯状光像5の形状に影響を与える
欠陥18A,18は検出できるが、帯状光像5の形状に
変化を与えない欠陥18Cを検出することができない。
勿論、光源3の数量を増やして多数の帯状光像5を形成
すれば、このような欠陥18Cを検出する機会を高くで
きるが、その分だけ全体構造が複雑化し、コストも増大
する。これに対し、本実施例では、帯状光像5の両側近
傍の明度変化に基づいて検査するため、少なくとも第1
の明度計測線S1と第2の明度計測線S2との間まで、検
査範囲を広げることができる。従って、本実施例によれ
ば、光源3の数量を増大せずに、検査範囲を大きく設定
することができ、検査精度を大幅に高めて効率的にオン
ライン検査を行うことができる。
【0045】第4に、光源3を筒状物2の軸線に対し角
度θ1だけ傾斜させて配設する構成のため、欠陥による
反射を大きくでき、検査精度を高めることができる。
度θ1だけ傾斜させて配設する構成のため、欠陥による
反射を大きくでき、検査精度を高めることができる。
【0046】第5に、カメラ6の走査方向を帯状光像5
の長手方向に対して平行となるように設定したため、デ
ータ処理時間を短縮することができ、より一層速やかに
外観検査を行うことができる。また、これに加えて、明
度計測線S1,S2を筒状物2の軸線に対して平行に設定
する構成のため、これら各明度計測線S1,S2の長手方
向と走査方向とを略一致させることができ、効率的にデ
ータ処理を行うことができる。
の長手方向に対して平行となるように設定したため、デ
ータ処理時間を短縮することができ、より一層速やかに
外観検査を行うことができる。また、これに加えて、明
度計測線S1,S2を筒状物2の軸線に対して平行に設定
する構成のため、これら各明度計測線S1,S2の長手方
向と走査方向とを略一致させることができ、効率的にデ
ータ処理を行うことができる。
【0047】第6に、本実施例では、特別なスリット光
源を用いるのではなく、単に直管式蛍光灯からなる光源
3を用いる構成のため、全体構造が比較的簡易であり、
装置の製造コストを低減することができる。
源を用いるのではなく、単に直管式蛍光灯からなる光源
3を用いる構成のため、全体構造が比較的簡易であり、
装置の製造コストを低減することができる。
【0048】次に、図14及び図15に基づいて本発明
の第2の実施例を説明する。なお、本実施例では上述し
た第1の実施例と同一の構成要素に同一の符号を付し、
その説明を省略するものとする。本実施例の特徴は、チ
ューブ状の搬送路によって搬送される筒状物2を検査す
る点にある。
の第2の実施例を説明する。なお、本実施例では上述し
た第1の実施例と同一の構成要素に同一の符号を付し、
その説明を省略するものとする。本実施例の特徴は、チ
ューブ状の搬送路によって搬送される筒状物2を検査す
る点にある。
【0049】即ち、本実施例による搬送路21は、例え
ばアクリル樹脂等の透光性材料等から長尺なチューブ状
に形成されており、筒状物2は搬送路21内を空気圧等
の流体力によって搬送される。そして、光源3は、搬送
路21を取り囲むようにして互いに周方向に離間して1
2本配置されていると共に、筒状物2の軸線に対して前
記角度θ1だけ傾斜している。また、同様に、カメラ6
も搬送路21を取り囲むようにして各光源3の間に設け
られ、そのレンズ7は光源3と略同一面上に位置してい
る。
ばアクリル樹脂等の透光性材料等から長尺なチューブ状
に形成されており、筒状物2は搬送路21内を空気圧等
の流体力によって搬送される。そして、光源3は、搬送
路21を取り囲むようにして互いに周方向に離間して1
2本配置されていると共に、筒状物2の軸線に対して前
記角度θ1だけ傾斜している。また、同様に、カメラ6
も搬送路21を取り囲むようにして各光源3の間に設け
られ、そのレンズ7は光源3と略同一面上に位置してい
る。
【0050】かくして、このように構成される本実施例
でも、上述した第1の実施例と同様の効果を奏する。こ
れに加えて、本実施例では、チューブ状の搬送路21の
外周に複数の光源3及びカメラ6を配置したため、欠陥
の検出精度(検出確率)をさらに向上することができ
る。
でも、上述した第1の実施例と同様の効果を奏する。こ
れに加えて、本実施例では、チューブ状の搬送路21の
外周に複数の光源3及びカメラ6を配置したため、欠陥
の検出精度(検出確率)をさらに向上することができ
る。
【0051】なお、前記各実施例では、光源3及びカメ
ラ6の数量を具体的に例示したが、本発明はこれに限る
ものではなく、筒状物2の外形寸法や要求検査精度等の
諸条件を考慮して、適宜設定することができる。
ラ6の数量を具体的に例示したが、本発明はこれに限る
ものではなく、筒状物2の外形寸法や要求検査精度等の
諸条件を考慮して、適宜設定することができる。
【0052】また、前記各実施例では、光源3を筒状物
2の軸線に対して角度θ1だけ傾斜させる場合を述べた
が、本発明はこれに限らず、光源3を筒状物2の軸線に
対して平行に配置してもよい。
2の軸線に対して角度θ1だけ傾斜させる場合を述べた
が、本発明はこれに限らず、光源3を筒状物2の軸線に
対して平行に配置してもよい。
【0053】さらに、前記各実施例では、帯状光像5の
両側近傍に明度計測線S1,S2を設定し、これら各明度
計測線S1,S2に沿った画素の明度が所定レベル以上に
達したときに「欠陥あり」と判定する場合を例に挙げて
説明したが、本発明はこれに限らず、各明度計測線
S1,S2の明度レベル変化を検出し、波形解析的に判定
することも可能である。即ち、明度計測線S1,S2に現
れた変化(ピーク)を、その高さ、その幅、高さに対す
る幅の割合、傾きの角度等に基づいて解析し、実際の欠
陥の種類及び大きさと対応させることにより、より詳細
に欠陥を判断することもできる。
両側近傍に明度計測線S1,S2を設定し、これら各明度
計測線S1,S2に沿った画素の明度が所定レベル以上に
達したときに「欠陥あり」と判定する場合を例に挙げて
説明したが、本発明はこれに限らず、各明度計測線
S1,S2の明度レベル変化を検出し、波形解析的に判定
することも可能である。即ち、明度計測線S1,S2に現
れた変化(ピーク)を、その高さ、その幅、高さに対す
る幅の割合、傾きの角度等に基づいて解析し、実際の欠
陥の種類及び大きさと対応させることにより、より詳細
に欠陥を判断することもできる。
【0054】
【発明の効果】以上詳述した通り、本発明に係る筒状物
の外観検査装置によれば、筒状物の表面欠陥を速やか
に、かつ定性的に検査することができ、全体の機械的構
造を簡素化して、検査コストを低減することができる。
の外観検査装置によれば、筒状物の表面欠陥を速やか
に、かつ定性的に検査することができ、全体の機械的構
造を簡素化して、検査コストを低減することができる。
【0055】また、帯状光像自体の明度変化に基づいて
欠陥を判断するのではなく、帯状光像の両側近傍の明度
変化に基づいて判断する構成のため、検査範囲を広くす
ることができ、検査精度を向上することができる。
欠陥を判断するのではなく、帯状光像の両側近傍の明度
変化に基づいて判断する構成のため、検査範囲を広くす
ることができ、検査精度を向上することができる。
【0056】さらに、撮像手段の走査方向を帯状光像の
長手方向に対して平行に配置し、両者の向きを揃える構
成のため、データ処理時間を短縮して一層速やかに検査
を行うことができる。
長手方向に対して平行に配置し、両者の向きを揃える構
成のため、データ処理時間を短縮して一層速やかに検査
を行うことができる。
【図1】本発明の第1の実施例に係る筒状物の外観検査
装置の全体構成を示す構成説明図である。
装置の全体構成を示す構成説明図である。
【図2】図1中の光源およびカメラ等の配置を示す配置
説明図である。
説明図である。
【図3】図1中に示すコントロールユニット等の機能ブ
ロック図である。
ロック図である。
【図4】筒状物の周面に帯状光像が形成された生画像を
示す説明図である。
示す説明図である。
【図5】画像メモリに格納された多値化画像を示す説明
図である。
図である。
【図6】明度計測線等を拡大して示す説明図である。
【図7】第1の明度計測線に沿った画素の明度変化を示
す特性図である。
す特性図である。
【図8】第2の明度計測線に沿った画素の明度変化を示
す特性図である。
す特性図である。
【図9】不良品の筒状物に帯状光像が形成された場合の
生画像を示す図4と同様の説明図である。
生画像を示す図4と同様の説明図である。
【図10】画像メモリ内に格納された不良品の筒状物の
多値化画像を示す図5と同様の説明図である。
多値化画像を示す図5と同様の説明図である。
【図11】不良品の筒状物における帯状光像と明度計測
線との関係を示す図6と同様の説明図である。
線との関係を示す図6と同様の説明図である。
【図12】第1の明度計測線に沿った画素の明度変化を
示す特性図である。
示す特性図である。
【図13】第2の明度計測線に沿った画素の明度変化を
示す特性図である。
示す特性図である。
【図14】本発明の第2の実施例に係る筒状物の外観検
査装置の全体構成を示す構成説明図である。
査装置の全体構成を示す構成説明図である。
【図15】図12中のXV−XV方向断面図である。
1,21…搬送路 2…筒状物 3…光源 5…カメラ(撮像手段) 13…計測線設定部(明度計測手段) 14…判定部(判定手段) S1,S2…明度計測線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐藤 辰彦 愛知県名古屋市守山区西川原町318 アサ ヒビール株式会社名古屋工場内 (72)発明者 加藤 勝美 愛知県名古屋市守山区西川原町318 アサ ヒビール株式会社名古屋工場内 (72)発明者 難波 竜太 愛知県名古屋市守山区西川原町318 アサ ヒビール株式会社名古屋工場内 (72)発明者 本山 靖朗 東京都大田区大森北2−13−1 アサヒビ ール株式会社酒類開発研究所内
Claims (4)
- 【請求項1】 筒状物を搬送する搬送路と、この搬送路
の周囲に離間して設けられ、前記筒状物の表面に帯状光
像を形成する複数の光源と、前記帯状光像が形成された
前記筒状物の表面を搬送状態で撮像する複数の撮像手段
と、これら各撮像手段が撮像した画像中の明度を計測す
る明度計測手段と、この明度計測手段が計測した明度変
化に基づいて欠陥の有無を判定する判定手段とを含んで
構成された筒状物の外観検査装置。 - 【請求項2】 筒状物を搬送する搬送路と、この搬送路
の周囲に離間して設けられ、前記筒状物の表面に帯状光
像を形成する複数の光源と、前記帯状光像が形成された
前記筒状物の表面を搬送状態で撮像する複数の撮像手段
と、これら各撮像手段が撮像した各帯状光像の両側近傍
の明度を計測する明度計測手段と、この明度計測手段が
計測した明度変化に基づいて欠陥の有無を判定する判定
手段とを含んで構成された筒状物の外観検査装置。 - 【請求項3】 筒状物を搬送する搬送路と、この搬送路
の周囲に離間して位置すると共に前記筒状物の軸線に対
し所定角度傾斜して設けられ、前記筒状物の表面に帯状
光像を形成する複数の帯状光源と、前記帯状光像が形成
された前記筒状物の表面を搬送状態で撮像する複数の撮
像手段と、これら各撮像手段が撮像した各帯状光像の両
側近傍の明度を計測する明度計測手段と、この明度計測
手段が計測した明度変化に基づいて欠陥の有無を判定す
る判定手段とを含んで構成された筒状物の外観検査装
置。 - 【請求項4】 前記撮像手段の走査方向を前記帯状光像
の長手方向に対して平行に配置したことを特徴とする請
求項1〜請求項3のいずれかに記載の筒状物の外観検査
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15140194A JPH0815163A (ja) | 1994-07-04 | 1994-07-04 | 筒状物の外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15140194A JPH0815163A (ja) | 1994-07-04 | 1994-07-04 | 筒状物の外観検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0815163A true JPH0815163A (ja) | 1996-01-19 |
Family
ID=15517791
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15140194A Pending JPH0815163A (ja) | 1994-07-04 | 1994-07-04 | 筒状物の外観検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0815163A (ja) |
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1994
- 1994-07-04 JP JP15140194A patent/JPH0815163A/ja active Pending
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