JPH0815526A - 減衰量調整スプライス方法及びスプライス装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 光ファイバに所望の減衰量を与えて接続する
減衰量調整スプライス方法及びスプライス装置に関し、
減衰量の微調整を可能とする。 【構成】 指定された減衰量より大きい減衰量となるよ
うに光ファイバ１，２の軸芯をずらして対向配置し、電
極３ａ，３ｂと電源部３ｃとを含むアーク放電加熱部等
の加熱手段３によって、光ファイバ１，２の対向配置部
分を加熱融合し、その加熱融合部分を再加熱することに
より減衰量が低下する特性を利用して、制御部４の制御
によって、指定減衰量となるまで加熱有効部分の再加熱
を繰り返して、減衰量の微調整を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、所望の減衰量を与えて
２本の光ファイバを接続する減衰量調整スプライス方法
及びスプライス装置に関する。光ファイバを用いた各種
の光通信システムが開発されており、このようなシステ
ムに於いて光ファイバ間を接続する必要が生じる。その
場合、挿抜を必要とする個所では光コネクタが使用さ
れ、挿抜が不必要な個所では加熱融合等による永久接続
が採用されている。この永久接続技術、即ち、スプライ
ス技術は、接続損失を如何に低減するかに努力が払わ
れ、０．０５ｄＢ前後の低損失で接続することが可能と
なっている。

【０００２】これに対して、近年の光部品のモジュール
化により、システム構成に於いても各種モジュールの組
合せが採用されており、その場合に、モジュールの特性
に対応してモジュール間の接続に於いて所望の損失を付
加する必要が生じ、光減衰器を介して接続する構成が採
用されている。従って、スプライス技術に於いても、所
定の損失を付加できることが要望されている。

【０００３】

【従来の技術】従来例のスプライス方法は、２本の光フ
ァイバの軸芯を完全に一致させるようにして、例えば、
アーク放電によって加熱融合させて低損失化を図るもの
であるが、前述のように、所定の減衰量を与えてスプラ
イスする要望があり、例えば、特開平４−２４３２０１
号公報に示されているように、２本の光ファイバの軸芯
をずらしてスプライスする構成が提案されている。

【０００４】この軸芯をずらしてスプライスする従来例
は、軸芯のずれ量と減衰量との関係を示す近似式に基づ
いて、指定された減衰量に対応する軸芯のずれ量を求
め、そのずれ量となるように軸芯をずらして２本の光フ
ァイバを対向配置し、アーク放電によって加熱融合し、
その加熱融合部分に保護層を設けて光減衰器として使用
するものである。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】前述の従来例の軸芯を
ずらしてスプライスする構成は、軸芯のずれ量と減衰量
との関係が近似式によって得られるとしても、指定され
た減衰量に対応するずれ量を正確に実現することは容易
ではない。即ち、軸芯を一致させてスプライスする通常
のスプライス技術に於いては、２本の光ファイバの対向
配置部分を拡大観測し、軸芯のずれが零となるように調
整すれば良いが、数ミクロン以下の精度で軸芯をずらし
て対向配置することは実際上容易ではなく、従って、ば
らつきが大きいスプライス技術であり、精度が低く、且
つコストアップとなる問題がある。本発明は、簡単に減
衰量の微調整を可能とすることを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明の減衰量調整スプ
ライス方法及びスプライス装置は、図１を参照して説明
すると、（１）２本の光ファイバ１，２の軸芯をずらし
て対向配置し、この対向配置部分を加熱手段３によって
加熱融合する工程と、この加熱融合部分を加熱手段３に
よって、指定された減衰量となるまで再加熱を繰り返し
て減衰量を微調整する工程とを含むものである。

【０００７】又（２）加熱手段３を、電極３ａ，３ｂ間
にアーク放電を発生させるアーク放電加熱部とし、この
アーク放電加熱部の電極３ａ，３ｂ間のアーク放電によ
って２本の光ファイバ１，２の軸芯をずらして対向配置
した対向配置部分を加熱融合し、次に、その加熱融合部
分を繰り返しアーク放電によって再加熱して、指定され
た減衰量となるように微調整する工程を含むことができ
る。

【０００８】又（３）２本の光ファイバ１，２の軸芯の
ずれ量計測手段を設け、軸芯のずれ量と減衰量との相関
表を基に軸芯をずらして対向配置し、加熱手段３によっ
て加熱融合し、その加熱融合部分を加熱手段３による再
加熱の繰り返しによって減衰量の微調整を行う工程を含
むことができる。

【０００９】又（４）２本の光ファイバ１，２間の減衰
量を測定する光パワーメータを含む測定手段を設け、２
本の光ファイバ１，２を対向配置する時の軸芯のずれに
よる初期減衰量と加熱融合により接続した時の減衰量と
の相関表を基に、測定手段によって測定した減衰量が初
期減衰量となるように２本の光ファイバ１，２の軸芯を
ずらして対向配置し、加熱手段３によって加熱融合し、
次に測定手段により測定した減衰量が指定減衰量となる
まで、加熱融合部分を加熱手段３により繰り返し再加熱
を行う工程を含むことができる。

【００１０】又（５）２本の光ファイバ１，２の対向配
置部分を加熱融合する加熱手段３と、２本の光ファイバ
１，２の軸芯のずれ量を調整可能に保持して対向配置す
る保持部と、２本の光ファイバ１，２間の減衰量を測定
する減衰量測定部と、各部を制御する制御部４とを備
え、この制御部は、２本の光ファイバ１，２を軸芯をず
らして対向配置した時の初期減衰量と、再加熱回数によ
って変化する減衰量との関係のデータを含むデータベー
スと、初期減衰量が得られるように保持部を制御する軸
芯調整部と、減衰量測定部による測定結果と指定された
減衰量との差に対応して加熱手段３による再加熱の繰り
返し制御を行う加熱制御部とを有するものである。

【００１１】又（６）加熱手段３を、２本の光ファイバ
１，２の対向配置部分を挟んで、この対向配置部分と直
交して対向配置した電極３ａ，３ｂと、この電極３ａ，
３ｂに電圧を印加してアーク放電を発生させる為の電源
部３ｃとを含むアーク放電加熱部により構成することが
できる。

【００１２】

【作用】

（１）２本の光ファイバ１，２の軸芯をずらして対向配
置して加熱手段３によって加熱融合することにより、所
望の減衰量に近似した減衰量が得られる。次に、その加
熱融合部分を再加熱することを繰り返すと、減衰量が変
化する。軸芯のずれによる減衰量は、再加熱を繰り返す
ことにより徐々に低下し、或る程度低下した後は、上昇
する傾向があるから、指定された減衰量より僅かに大き
い減衰量となるように軸芯をずらして加熱融合し、再加
熱の繰り返しによって、指定された減衰量となるように
微調整することができる。

【００１３】（２）加熱手段３をアーク放電加熱部と
し、電極３ａ，３ｂ間に印加する電圧，時間等を調整し
て、２本の光ファイバ１，２の軸芯をずらして対向配置
した部分をアーク放電によって加熱融合する。そして、
その加熱融合部分を再度アーク放電によって加熱し、減
衰量が指定された値となるまで、アーク放電による再加
熱を繰り返して微調整を行う。

【００１４】（３）２本の光ファイバ１，２の軸芯を、
軸芯のずれ量と減衰量との相関表を基に、指定された減
衰量より僅かに大きい減衰量が得られる軸芯のずれ量に
従ってずらして対向配置し、加熱手段３によって加熱融
合し、その加熱融合部分の再加熱を繰り返して、指定さ
れた減衰量となるように微調整を行う。

【００１５】（４）２本の光ファイバ１，２の軸芯をず
らして対向配置し、測定手段によって減衰量を測定し、
相関表を基に指定減衰量より僅かに大きい減衰量に対応
する初期減衰量となるように軸芯のずれを調整して加熱
融合し、次に加熱融合部分の再加熱を行い、測定手段に
よって減衰量を測定し、指定減衰量となるまで再加熱を
繰り返して微調整を行う。

【００１６】（５）データベースを参照して、指定減衰
量に対応する初期減衰量が得られるように、減衰量測定
部により減衰量を測定しながら、保持部に保持された２
本の光ファイバ１，２の軸芯のずれを、軸芯調整部の制
御によって調整し、加熱制御部により制御される加熱手
段３によって２本の光ファイバ１，２の対向配置部分を
加熱融合する。次に、減衰量測定部により減衰量を測定
しながら、加熱手段３による再加熱を行い、指定された
減衰量となるまで再加熱を繰り返す。

【００１７】（６）アーク放電加熱部は、対向配置した
２本の光ファイバ１，２と直交する位置に、光ファイバ
１，２を挟んで電極３ａ，３ｂを対向配置し、電源部３
ｃから電極３ａ，３ｂに電圧を印加してアーク放電を生
じさせ、そのアーク放電によって光ファイバ１，２の対
向配置部分を加熱融合させる。

【００１８】

【実施例】図２は本発明の実施例の説明図であり、１，
２は光ファイバ、１０はスプライス部、２０は制御部、
１１，１２は保持部、１３ａ，１３ｂは電極、１４は補
助光ファイバ、１５は光源，１６はパワーメータ、２１
は制御処理部、２２はデータベース、２３は入力操作
部、２４は軸芯調整部、２５は加熱制御部、２６はモニ
タ部である。

【００１９】スプライスする光ファイバ１，２を保持部
１１，１２に取り付ける。この保持部１１を、例えば、
Ｘ，Ｙ，Ｚ方向に移動可能に設け、軸芯調整部２４によ
って制御する構成とし、保持部１２は固定の構成とす
る。又光源１５から補助光ファイバ１４と光ファイバ１
とに光を入射し、パワーメータ１６により補助光ファイ
バ１４を介した光を基準として光ファイバ２からの光を
比較する。この場合、補助光ファイバ１４の損失は予め
判っているから、光ファイバ１，２間の減衰量を測定す
ることができる。なお、光ファイバ１，２の対向配置部
分に光を入射し、且つ出射させる構成は、光ファイバ
１，２の他端側を利用する以外に、既に知られている各
種の手段を採用することができる。

【００２０】又加熱手段は、レーザ加熱やガス加熱等も
利用できるものであるが、この実施例に於いてはアーク
放電加熱部を設けた場合を示し、光ファイバ１，２の対
向配置部分を挟み、その対向配置部分に直交するように
電極１３ａ，１３ｂを対向配置し、電極１３ａ，１３ｂ
間にアーク放電を発生させた時に、光ファイバ１，２の
対向配置部分をアーク放電によって加熱するものであ
る。

【００２１】又モニタ部２６は、光ファイバ１，２の対
向配置部分をＸ方向及びＹ方向から撮像して拡大表示で
きる構成を有するもので、図示の状態はＸ方向又はＹ方
向の何れか一方からの撮像画面の一例を示している。又
表示画面上に寸法を表示することにより、軸芯のずれ量
を示すことができる。

【００２２】図３は本発明の実施例のスプライス方法の
フローチャートであり、入力操作部２３等によって指定
減衰量等を含むスプライス条件を入力し（Ａ１）、光フ
ァイバ１，２をスプライス部１０にセットする（Ａ
２）。即ち、保持部１１，１２に光ファイバ１，２を保
持させる。次に制御処理部２１は、データベース２２か
ら指定減衰量に対応する初期減衰量を読出し（Ａ３）、
軸芯調整部２４により保持部１１を制御して軸芯ずれ量
調整を行う（Ａ４）。この軸芯のずれ量はモニタ部２６
によって観測することができる。

【００２３】次に光源１５とパワーメータ１６とを動作
させて減衰量測定を行う（Ａ５）。この測定減衰量と初
期減衰量とを比較し（Ａ６）、等しくない場合はステッ
プ（Ａ４）に戻り、軸芯調整部２４により保持部１１を
制御して軸芯ずれ量調整を行う。又測定減衰量と初期減
衰量とが等しくなった場合は、加熱制御部２５から電極
１３ａ，１３ｂに電圧を印加してアーク放電を発生さ
せ、光ファイバ１，２の対向配置部分を加熱融合する
（Ａ７）。

【００２４】この加熱融合した光ファイバ１，２につい
て減衰量を測定し（Ａ８）、この測定減衰量と指定減衰
量とを比較し（Ａ９）、等しくない場合は、再度電極１
３ａ，１３ｂ間にアーク放電を発生させて加熱融合部分
の再加熱を行う（Ａ１０）。そして、減衰量を測定し
（Ａ８）、測定減衰量と指定減衰量とが等しくなるま
で、再加熱（Ａ１０）を繰り返す。又測定減衰量と指定
減衰量とが等しくなると、外観検査（Ａ１１）後、光フ
ァイバ１，２を保持部１１，１２から取り外し（Ａ１
２）、スプライス処理は終了する。

【００２５】光ファイバ１，２の軸芯のずれ量と減衰量
との関係は、例えば、図４に示すものとなる。例えば、
軸芯ずれ量を４μｍとした時に、２ｄＢの減衰量とな
り、８μｍとした時に４ｄＢの減衰量となる。即ち、軸
芯のずれ量が多くなると減衰量も多くなる関係を有す
る。又軸芯のずれ量に対する減衰量は、通常は１ｄＢ程
度のばらつきとなる。このような関係を相関表としてデ
ータベース化することができる。又調芯時の光ファイバ
１，２の軸芯のずれ量に対応した減衰量は、アーク放電
によって接続した後に減少するものであり、その関係
は、例えば、図５に示すものとなる。例えば、軸芯のず
れ量を８μｍとして減衰量を４ｄＢとした時に、アーク
放電によって加熱融合すると、実線曲線の特性の場合は
１ｄＢの減衰量となる。なお、アーク放電のパワー等の
スプライス条件によって実線又は点線の関係となるもの
で、調芯時の減衰量に対する接続後の減衰量のばらつき
は、通常０．５ｄＢ程度となる。このような関係を相関
表としてデータベース化することができる。

【００２６】図６は放電回数（再加熱回数）と減衰量変
化との関係説明図であり、軸芯をずらしてスプライスし
た直後の減衰量が２ｄＢであった場合、アーク放電を繰
り返して再加熱を行うことにより、実線曲線（ａ）に示
すように、減衰量は次第に減少し、約３０回程度で最小
となり、それ以上のアーク放電の繰り返しによって減衰
量は増加する。従って、指定減衰量を１．５ｄＢとする
と、１０回のアーク放電の繰り返しによって、スプライ
ス直後の２ｄＢの減衰量が、指定減衰量に一致すること
になり、実験によれば、０．０５ｄＢ以下の精度で指定
減衰量に調整することができた。又軸芯を一致させる通
常のスプライス直後の減衰量が０．１ｄＢであった場
合、アーク放電を繰り返して再加熱を行うことにより、
点線曲線（ｂ）に示すように、減衰量は次第に増加し
た。

【００２７】本発明は、図６の実線曲線（ａ）の特性を
利用し、指定減衰量より僅かに大きい減衰量となるよう
に光ファイバ１，２の軸芯をずらしてスプライスし、そ
の後にアーク放電を繰り返して、指定減衰量となるよう
に減衰量の微調整を行うものである。前述のような減衰
量に関連した条件等をデータベース化することにより、
自動化が可能となる。

【００２８】図７は本発明の実施例のスプライス動作説
明図であり、アーク放電の放電パワー（相対的なレベ
ル）と、光ファイバ１を光ファイバ２側に押付ける押込
速度とを示し、アーク放電を開始して予備加熱時間後
に、図２に於ける保持部１１を軸芯調整部２４の制御に
よって保持部１２側に一定速度で移動させる。それによ
って、光ファイバ１，２の対向配置部分がアーク放電に
よって加熱されて融合することになる。そして、前述の
ように減衰量が指定減衰量となるまで、追加放電を繰り
返す。

【００２９】放電時間を例えば２０００ｍｓとした時、
予備加熱時間を例えば１５０ｍｓとすることができる。
又光ファイバ１，２間のギャップを２μｍとした時、押
込時間を２３ｍｓとすることができる。このような放電
時間，予備加熱時間，押込時間は、放電パワーに対応し
て設定することができる。又追加放電は、予め放電時間
を設定して、繰り返し回数のみを制御することができる
が、追加放電を開始する毎に、測定減衰量と指定減衰量
との差分に対応して、放電パワー等を設定することも可
能である。

【００３０】図８は放電回数（再加熱回数）と減衰量変
化との関係を示すデータベースの説明図であり、図２の
データベース２２の一部を示し、例えば、スプライス直
後の減衰量が１．５ｄＢの時に、放電パワー（相対的レ
ベル）が２０で放電回数が１回の場合の減衰量変化は
０．７０ｄＢであり、２回の減衰量変化は０．５ｄＢで
あることを示し、追加放電の最初に於ける減衰量変化が
大きいことを示す。又放電パワーが小さくなると、減衰
量変化は小さくなり、追加放電の回数が多い場合も減衰
量変化はほぼ同一となる。又スプライス直後の減衰量が
２，０ｄＢ，２．５ｄＢ，３．０ｄＢ，・・・の場合に
ついても放電パワーと放電回数とによる減衰量変化のデ
ータを格納しておくものである。

【００３１】又データベースとしては、スプライスする
光ファイバの種類や放電パワー等を基にした追加放電回
数の上限データ、又光ファイバ１，２の端面の角度が所
定値以上の場合に、所定の減衰量が得られない場合が多
いから、その端面角度の制限データ、又追加放電条件と
して、測定減衰量と指定減衰量との差分の範囲と放電パ
ワーとの対応付けデータ等を含むデータにより構成する
ことができる。

【００３２】前述のようなデータベース２２を設けるこ
とにより、制御処理部２１は、光ファイバ１，２の種類
と、指定減衰量とを入力操作部２３から入力することに
より、データベース２２を参照して、軸芯調整部２４と
加熱制御部２５とを制御し、指定減衰量に対応した初期
減衰量を求めて、光源１５とパワーメータ１６とにより
減衰量を測定し、初期減衰量と測定減衰量とが等しくな
るように、保持部１１によって光ファイバ１，２の軸芯
をずらし、加熱制御部２５によって電極１３ａ，１３ｂ
間にアーク放電を発生させ、光ファイバ１，２を加熱融
合させる。

【００３３】そして、加熱融合させた光ファイバ１，２
間の減衰量を測定し、指定減衰量との差分を求めて、追
加放電条件等を選定し、加熱制御部２５の制御により追
加放電を繰り返して、指定減衰量となるように調整する
ことができる。即ち、完全自動化が可能であり、且つ高
精度で指定減衰量を得ることができる。又加熱手段とし
て、レーザ加熱やガス加熱等の手段を用いた場合に於い
ても、光ファイバ１，２の軸芯をずらして加熱融合させ
た後、指定減衰量となるまで再加熱を繰り返すように制
御するものである。

【００３４】図９は本発明の他の実施例のフローチャー
トであり、スプライス条件入力（Ａ０）により、前述の
実施例の減衰量調整スプライス（ａ１）か、コア径等が
異なる光ファイバをスプライスするモード変換スプライ
ス（Ｂ１）か、軸芯を一致させてスプライスする通常ス
プライス（Ｃ１）かを判定する。即ち、図２に示すスプ
ライス装置を用い、入力操作部２３からの入力によっ
て、制御処理部２１は、スプライス条件を判定する。

【００３５】前述の実施例のように、減衰量調整スプラ
イス（ａ１）の場合は、保持部１１，１２に保持された
光ファイバ１，２の対向配置部分を、軸芯調整部２４の
制御によって初期減衰量となるように軸芯ずれ量が設定
され、加熱制御部２５の制御により光ファイバ１，２の
対向配置部分を加熱融合させる軸芯ずれスプライスが行
われ（ａ２）、指定減衰量との差分に対応して、加熱制
御部２５の制御により、再加熱繰り返しによる減衰量の
微調整が行われ（ａ３）、指定減衰量と測定減衰量と差
が零となる（ａ４）と、減衰量調整スプライスの処理は
終了する。

【００３６】又モード変換スプライス（Ｂ１）の場合
は、保持部１１，１２に保持された光ファイバ１，２の
径が異なるが、軸芯が一致するように自動調芯する（Ｂ
２）。これは、軸芯調整部２４の制御によって保持部１
１をＸ，Ｙ，Ｚ方向に移動して、光源１５とパワーメー
タ１６とにより測定した減衰量が最小となるように調整
する。次に加熱制御部２５によって電極１３ａ，１３ｂ
間にアーク放電を発生させて加熱融合させる（Ｂ３）。

【００３７】そして、減衰量測定を行い（Ｂ４）、規定
値以下の減衰量であるか否かを比較判定し（Ｂ５）、規
定値以下でない場合（ＮＧ）、再加熱を行って（Ｂ
６）、減衰量測定を行い（Ｂ４）、そして、規定値以下
の減衰量であるか否かを比較判定する（Ｂ５）ことを繰
り返す。即ち、軸芯ずれスプライスの場合に類似して、
再加熱を繰り返すことにより、減衰量が次第に低下した
後、最小減衰量から再び増加する傾向を有するものであ
る。再加熱（Ｂ６）を繰り返すことにより、減衰量が規
定値以下となる（ＯＫ）と、外観検査（Ｃ５）を行って
モード変換スプライスの処理は終了する。

【００３８】又通常スプライス（Ｃ１）の場合は、保持
部１１，１２に保持された光ファイバ１，２は同一種類
の場合が一般的であり、軸芯が一致するように自動調芯
する（Ｃ２）。これは、前述のモード変換スプライスに
於ける自動調芯（Ｂ２）の場合と同様に、減衰量測定を
行いながら軸芯調整部２４の制御により保持部１１を
Ｘ，Ｙ，Ｚ方向に移動して、減衰量が最小となるように
調整するか、或いは、モニタ画像を処理して、軸芯ずれ
が零となるように調整することができる。

【００３９】自動調芯により軸芯が一致すると、加熱制
御部２５の制御により電極１３ａ，１３ｂ間にアーク放
電を発生させて加熱融合し（Ｃ３）、減衰量測定（Ｃ
４）を行った後、外観検査（Ｃ５）を行い、通常スプラ
イスの処理は終了する。この通常スプライスの処理に於
いては、再加熱の繰り返し処理は行わない。

【００４０】

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、（１）
２本の光ファイバ１，２の軸芯をずらして加熱手段３に
よって加熱融合し、指定された減衰量となるまでその加
熱融合部分の再加熱を繰り返すもので、減衰量を微調整
してスプライスすることができる利点がある。

【００４１】又（２）加熱手段３をアーク放電加熱部と
することにより、放電パワー，放電時間等の設定及び制
御が容易であるから、再加熱処理を繰り返して減衰量を
微調整する制御が容易となる利点がある。

【００４２】又（３）軸芯のずれ量と減衰量との相関表
を基に軸芯のずれ量を求め、光ファイバ１，２の軸芯を
そのずれ量に従ってずらして対向配置し、加熱手段３に
よって加熱融合することにより、指定減衰量より僅かに
大きい減衰量を容易に得ることができ、再加熱処理によ
って減衰量の微調整を行うことにより、高精度の減衰量
を容易に得ることができる。

【００４３】又（４）軸芯のずれによる初期減衰量と加
熱融合により接続した時の減衰量との相関表を基に初期
減衰量を求め、測定手段によって減衰量を測定して初期
減衰量となるように光ファイバ１，２の軸芯をずらし、
そして、加熱手段３によって加熱融合し、再び測定手段
によって減衰量を測定し、指定減衰量と差に対応して再
加熱を繰り返すことにより微調整を行うもので、総て自
動化が可能となると共に、高精度の減衰量を得ることが
できる。

【００４４】又（５）光ファイバ１，２を保持して軸芯
のずれ量を調整可能とし、加熱手段３によって光ファイ
バ１，２の対向配置部分を加熱融合し、減衰量を測定
し、且つ光ファイバ１，２の各種条件や指定減衰量等を
基に、軸芯のずれ量を設定して加熱融合の制御を行い、
又指定減衰量となるように再加熱の繰り返し制御を行う
制御部４を備えていることにより、光ファイバ１，２の
各種条件によるスプライスの自動化を図ることが可能と
なる利点がある。

【００４５】又（６）加熱手段３をアーク放電加熱部に
より構成したスプライス装置としたことにより、各種の
スプライス条件に対応して放電パワー，放電時間，放電
間隔等の設定が容易であるから、再加熱処理による減衰
量の微調整の自動化が可能となる利点がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理説明図である。

【図２】本発明の実施例の説明図である。

【図３】本発明の実施例のスプライス方法のフローチャ
ートである。

【図４】軸芯のずれ量と減衰量との相関説明図である。

【図５】調芯時と接続後との減衰量の相関説明図であ
る。

【図６】放電回数（再加熱回数）と減衰量変化との関係
説明図である。

【図７】本発明の実施例のスプライス動作説明図であ
る。

【図８】放電回数（再加熱回数）と減衰量の変化との関
係を示すデータベースの説明図である。

【図９】本発明の他の実施例のフローチャートである。

【符号の説明】

１，２ 光ファイバ ３ 加熱手段 ３ａ，３ｂ 電極 ３ｃ 電源部 ４ 制御部

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ファイバに所望の減衰量を与えて接続
   するスプライス方法に於いて、 ２本の光ファイバ（１），（２）の軸芯をずらして対向
   配置し、該対向配置部分を加熱手段（３）によって加熱
   融合する工程と、 該加熱融合部分を指定減衰量となるまで前記加熱手段
   （３）により再加熱を繰り返して減衰量を微調整する工
   程とを含むことを特徴とする減衰量調整スプライス方
   法。
2. 【請求項２】 前記加熱手段（３）を、電極間にアーク
   放電を発生させるアーク放電加熱部とし、該アーク放電
   加熱部の電極間のアーク放電によって前記２本の光ファ
   イバ（１），（２）の軸芯をずらして対向配置した対向
   配置部分を加熱融合し、次に、該加熱融合部分を繰り返
   し前記アーク放電によって再加熱して、指定減衰量とな
   るように微調整する工程を含むことを特徴とする請求項
   １記載の減衰量調整スプライス方法。
3. 【請求項３】 前記２本の光ファイバ（１），（２）の
   軸芯のずれ量計測手段を設け、該軸芯のずれ量と減衰量
   との相関表を基に軸芯をずらして対向配置し、前記加熱
   手段（３）によって加熱融合し、次に該加熱融合部分を
   前記加熱手段（３）による再加熱の繰り返しによって減
   衰量の微調整を行う工程を含むことを特徴とする請求項
   １記載の減衰量調整スプライス方法。
4. 【請求項４】 前記２本の光ファイバ（１），（２）間
   の減衰量を測定する光パワーメータを含む測定手段を設
   け、該２本の光ファイバ（１），（２）を対向配置する
   時の軸芯のずれによる初期減衰量と加熱融合により接続
   した時の減衰量との相関表を基に、前記測定手段によっ
   て測定した減衰量が前記初期減衰量となるように前記２
   本の光ファイバ（１），（２）の軸芯をずらして対向配
   置し、前記加熱手段（３）によって加熱融合し、次に前
   記測定手段により測定した減衰量が指定減衰量となるま
   で、前記加熱融合部分を前記加熱手段（３）によって繰
   り返し再加熱を行う工程を含むことを特徴とする請求項
   １記載の減衰量調整スプライス方法。
5. 【請求項５】 ２本の光ファイバ（１），（２）の対向
   配置部分を加熱融合させる加熱手段（３）と、 前記２本の光ファイバ（１），（２）の軸芯のずれ量を
   調整可能に保持して対向配置する保持部と、 前記２本の光ファイバ（１），（２）間の減衰量を測定
   する減衰量測定部と、 前記各部を制御する制御部とを備え、 該制御部は、前記２本の光ファイバ（１），（２）を軸
   芯をずらして対向配置した時の初期減衰量と再加熱回数
   によって変化する減衰量との関係を示すデータを含むデ
   ータベースと、前記初期減衰量が得られるように前記保
   持部を制御する軸芯調整部と、前記減衰量測定部による
   測定結果と指定減衰量との差に対応して前記加熱手段
   （３）による再加熱の繰り返し制御を行う加熱制御部と
   を有することを特徴とするスプライス装置。
6. 【請求項６】 前記加熱手段（３）を、前記２本の光フ
   ァイバ（１），（２）の対向配置部分を挟んで該対向配
   置部分に直交して対向配置した電極と、該電極に電圧を
   印加する電源部とを含むアーク放電加熱部により構成し
   たことを特徴とする請求項５記載のスプライス装置。