JPH08161099A - 操作パネル - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 アナログタッチパネルにおいて，複数点を同
時に押下した場合でも，押下位置情報を精度良く検出し
て，ユーザーの意図する操作を行えるようにする。 【構成】 一対のＸ電極端子間の抵抗値および一対のＹ
電極端子間の抵抗値を検出する抵抗値検出手段（バイア
ス抵抗回路１１１ａおよび１１１ｂ）を備え，入力制御
部１０９は，抵抗値検出手段（バイアス抵抗回路１１１
ａおよび１１１ｂ）を制御して，一対のＸ電極端子間の
抵抗値および一対のＹ電極端子間の抵抗値を検出し，検
出した抵抗値に基づいて，前記一対のＸ電極端子間の抵
抗値および一対のＹ電極端子間の抵抗値の変化を求め
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は，プリンタ，プロッタ，
ファクシミリ装置，複写機などに利用される操作パネル
に関し，より詳細には，アナログタッチパネル方式の操
作パネルに関する。

【０００２】

【従来の技術】近年，入力手段としてタッチパネルを用
いた操作パネルが，複写機，ファクシミリ装置ばかりで
なく，各種の装置に使用されるようになっている。

【０００３】タッチパネルを用いた操作パネルの一つと
して，抵抗膜の両端に直流電圧を印加して抵抗膜上の押
下位置の電位を検出することにより座標位置を算出する
アナログタッチパネル方式の操作パネルがある。このア
ナログタッチパネル方式の操作パネルは，ディジタル方
式の操作パネルに比べて座標検出の分解能が高くできる
利点があることから多用されている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら，従来の
アナログタッチパネルによれば，パネル上で同時に複数
点の押下があった場合にこれらを識別することができな
いため，押下位置情報を誤って収集してしまう可能性が
有り，ユーザーの意図する操作が行えないことがあると
いう問題点があった。

【０００５】また，ユーザーの意図する操作を行えるよ
うにするために，例えば，コピー操作パネルでは，パネ
ル上の操作画面の構成やスイッチ機能の割付など，主に
画面のデザインの構成を変更して誤操作の低減を図って
いるものの，パネル上に複数点の押下があった場合の検
出を行なうことに対して，根本的に改善するものではな
く，また，ユーザーにとって操作性の悪い装置となると
いう問題点もあった。

【０００６】具体的には，アナログタッチパネルを使用
するに際して，パネル上の複数点が同時に押下された場
合，押下位置とは異なった位置情報が検出される。例え
ば，パネル上の２点を押下した場合は，２点間の中点を
とることがある。装置が検出した位置情報は，ユーザー
が意図した操作と異なる位置情報となるため，装置はユ
ーザーの意図に反する操作を認識することになる。

【０００７】また，画面のデザインの構成を変更し，装
置の操作上の制限事項を設けるという，ユーザーにとっ
て操作を行ないにくい装置となる。

【０００８】さらに，従来のアナログタッチパネルによ
れば，温度や電源電圧などの装置全体の周辺条件が変化
すると，押下位置情報を検出する精度が低下するという
問題点もあった。

【０００９】また，アナログタッチパネルの端子間抵抗
値の直線性にばらつきが存在するため，タッチパネルが
大型化すると検出精度が低下するという問題点があっ
た。

【００１０】具体的には，アナログタッチパネルを使用
するに際して，タッチパネル自体の端子間抵抗値の直線
性におけるばらつきは，避けられないものであり，メー
カー仕様書上では３〜５％程度のばらつきが提示されて
いる。一方，座標上の座標位置検出に要求される位置精
度は装置の目的によって異なり，例えば０．３ｍｍドッ
トピッチで６４０ｄｏｔ×４８０ｄｏｔのＬＣＤ画面上
を操作範囲とする操作パネルを想定すると，上記５％は
３２ｄｏｔ＝９．６ｍｍに相当して無視できない値とな
ってしまう。

【００１１】なお，これまでの装置（例えば，複写機の
操作パネル）では，パネルサイズが小型であったため，
装置の初期化時にアナログタッチパネルの端子間抵抗値
のばらつきを補正するための初期化データ収集操作（以
下，キャリブレーションと記載する）のみを実施してい
たが，パネルサイズが大きくなると端子間抵抗値の直線
性におけるばらつきが無視できない値となり，キャリブ
レーションのみを行っただけでは，検出精度の低下を抑
えることができない。

【００１２】本発明は上記に鑑みてなされたものであっ
て，アナログタッチパネルにおいて，複数点を同時に押
下した場合でも，押下位置情報を精度良く検出して，ユ
ーザーの意図する操作を行えるようにすることを目的と
する。

【００１３】また，本発明は上記に鑑みてなされたもの
であって，ユーザーの操作性を向上することを目的をす
る。

【００１４】さらに，本発明は上記に鑑みてなされたも
のであって，温度，電源電圧の変化など周囲の条件の変
化に追従できることを目的とする。

【００１５】また，本発明は上記に鑑みてなされたもの
であって，タッチパネルが大型化しても，検出精度が低
下しない操作パネルを提供することを目的とする。

【００１６】

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに，請求項１に係る操作パネルは，一対のＸ電極端子
を有するＸ側抵抗膜と一対のＹ電極端子を有するＹ側抵
抗膜とを重ね合わせて形成されたタッチパネルと，前記
タッチパネルの端子間への供給信号／監視信号を切り替
える切替手段と，前記タッチパネルの端子から信号を検
出する検出手段と，前記検出手段で検出した信号から座
標を算出する座標算出手段と，前記タッチパネルの下部
に配置された表示手段と，前記切替手段，座標算出手段
および表示手段を制御する制御手段とを備えた操作パネ
ルにおいて，前記一対のＸ電極端子間の抵抗値および一
対のＹ電極端子間の抵抗値を検出する抵抗値検出手段を
備え，前記制御手段が，前記抵抗値検出手段を制御し
て，前記一対のＸ電極端子間の抵抗値および一対のＹ電
極端子間の抵抗値を検出し，検出した抵抗値に基づい
て，前記一対のＸ電極端子間の抵抗値および一対のＹ電
極端子間の抵抗値の変化を求める。

【００１７】また，請求項２に係る操作パネルは，前記
制御手段が，前記一対のＸ電極端子間の抵抗値および一
対のＹ電極端子間の抵抗値を所定の手順にしたがって周
期的に検出し，前記抵抗値の変化を求める。

【００１８】また，請求項３に係る操作パネルは，前記
制御手段が，前記検出した一対のＸ電極端子間の抵抗値
および一対のＹ電極端子間の抵抗値を格納して保持す
る。

【００１９】また，請求項４に係る操作パネルは，前記
抵抗値の変化を求める際に使用する閾値を設定する設定
手段を備え，前記制御手段が，前記検出した抵抗値と前
記設定手段で設定された閾値とを比較して，前記抵抗値
の変化を求める。

【００２０】また，請求項５に係る操作パネルは，一対
のＸ電極端子を有するＸ側抵抗膜と一対のＹ電極端子を
有するＹ側抵抗膜とを重ね合わせて形成されたタッチパ
ネルと，前記タッチパネルの端子間への供給信号／監視
信号を切り替える切替手段と，前記タッチパネルの端子
から信号を検出する検出手段と，前記検出手段で検出し
た信号から座標を算出する座標算出手段と，前記タッチ
パネルの下部に配置された表示手段と，前記切替手段，
座標算出手段および表示手段を制御する制御手段とを備
えた操作パネルにおいて，前記一対のＸ電極端子間の電
圧値および一対のＹ電極端子間の電圧値を検出する電圧
値検出手段を備え，前記制御手段が，前記電圧値検出手
段を制御して，前記一対のＸ電極端子間の電圧値および
一対のＹ電極端子間の電圧値を検出し，検出した電圧値
に基づいて，前記一対のＸ電極端子間の電圧値および一
対のＹ電極端子間の電圧値の変化を求める。

【００２１】また，請求項６に係る操作パネルは，前記
電圧値の変化を求める際に使用する閾値を設定する設定
手段を備え，前記制御手段が，前記検出した電圧値と前
記設定手段で設定された閾値とを比較して，前記電圧値
の変化を求める。

【００２２】また，請求項７に係る操作パネルは，前記
制御手段が，前記求めた抵抗値の変化あるいは電圧値の
変化に基づいて，前記表示手段を介して検出結果を通知
する。

【００２３】また，請求項８に係る操作パネルは，一対
のＸ電極端子を有するＸ側抵抗膜と一対のＹ電極端子を
有するＹ側抵抗膜とを重ね合わせて形成されたタッチパ
ネルと，前記タッチパネルの端子間への供給信号／監視
信号を切り替える切替手段と，前記タッチパネルの端子
から信号を検出する検出手段と，前記検出手段で検出し
た信号から座標を算出する座標算出手段と，前記タッチ
パネルの下部に配置された表示手段と，前記切替手段，
座標算出手段および表示手段を制御する制御手段とを備
えた操作パネルにおいて，前記制御手段は，前記タッチ
パネルの全操作範囲を複数の領域に分割し，前記検出手
段により検出した前記複数の領域毎の検出結果に基づい
て，前記複数の領域毎に直線性補正を行う。

【００２４】また，請求項９に係る操作パネルは，前記
制御手段が，前記表示手段を制御して所定の座標位置を
押下位置として表示し，前記押下位置をオペレータが押
下した際に前記座標算出手段の算出した座標と，前記押
下位置を表示した座標との差異を数値化して前記表示手
段に表示させる。

【００２５】また，請求項１０に係る操作パネルは，前
記制御手段が，所定の基準値を設け，前記差異の値が前
記所定の基準値より大きい場合には，前記基準値を変更
する。

【００２６】また，請求項１１に係る操作パネルは，前
記制御手段が，前記複数の領域毎の検出結果を個別に保
持し，統計的手法による修正を個別に施す。

【００２７】

【作用】本発明の操作パネル（請求項１）は，一対のＸ
電極端子間の抵抗値および一対のＹ電極端子間の抵抗値
を検出する抵抗値検出手段を備え，制御手段が，前記抵
抗値検出手段を制御して，前記一対のＸ電極端子間の抵
抗値および一対のＹ電極端子間の抵抗値を検出し，検出
した抵抗値に基づいて，前記一対のＸ電極端子間の抵抗
値および一対のＹ電極端子間の抵抗値の変化を求めるた
め，パネル上の複数点が押下された状態を検出すること
ができる。

【００２８】また，本発明の操作パネル（請求項２）
は，前記制御手段が，前記一対のＸ電極端子間の抵抗値
および一対のＹ電極端子間の抵抗値を所定の手順にした
がって周期的に検出し，前記抵抗値の変化を求めるた
め，温度，電源電圧の変化など周囲条件の変化に追従で
きる。

【００２９】また，本発明の操作パネル（請求項３）
は，前記制御手段が，前記検出した一対のＸ電極端子間
の抵抗値および一対のＹ電極端子間の抵抗値を格納して
保持するため，周期的に収集した初期データの評価を行
なうことができる。

【００３０】また，本発明の操作パネル（請求項４）
は，前記抵抗値の変化を求める際に使用する閾値を設定
する設定手段を備え，前記制御手段が，前記検出した抵
抗値と前記設定手段で設定された閾値とを比較して，前
記抵抗値の変化を求めるため，操作パネルの目的に応じ
た分解能を得ることができる。

【００３１】また，本発明の操作パネル（請求項５）
は，一対のＸ電極端子間の電圧値および一対のＹ電極端
子間の電圧値を検出する電圧値検出手段を備え，制御手
段が，前記電圧値検出手段を制御して，前記一対のＸ電
極端子間の電圧値および一対のＹ電極端子間の電圧値を
検出し，検出した電圧値に基づいて，前記一対のＸ電極
端子間の電圧値および一対のＹ電極端子間の電圧値の変
化を求めるため，微小な時間差をおいてパネル上の複数
点が押下された状態を検出することができる。

【００３２】また，本発明の操作パネル（請求項６）
は，前記電圧値の変化を求める際に使用する閾値を設定
する設定手段を備え，前記制御手段が，前記検出した電
圧値と前記設定手段で設定された閾値とを比較して，前
記電圧値の変化を求めるため，操作パネルの目的に応じ
た分解能を得ることができる。

【００３３】また，本発明の操作パネル（請求項７）
は，前記制御手段が，前記求めた抵抗値の変化あるいは
電圧値の変化に基づいて，前記表示手段を介して検出結
果を通知するため，ユーザーに次の操作を容易に理解さ
せることができる。

【００３４】また，本発明の操作パネル（請求項８）
は，制御手段が，タッチパネルの全操作範囲を複数の領
域に分割し，検出手段により検出した複数の領域毎の検
出結果に基づいて，複数の領域毎に直線性補正を行うた
め，タッチパネル個体による直線性のばらつきを補正す
ることができる。

【００３５】また，本発明の操作パネル（請求項９）
は，制御手段が，表示手段を制御して所定の座標位置を
押下位置として表示し，押下位置をオペレータが押下し
た際に座標算出手段の算出した座標と，押下位置を表示
した座標との差異を数値化して表示手段に表示させるた
め，直線性補正を行う際の補正データの妥当性を容易に
評価することができる。

【００３６】また，本発明の操作パネル（請求項１０）
は，制御手段が，所定の基準値を設け，差異の値が所定
の基準値より大きい場合には，基準値を変更するため，
不用意な操作やチャタリング等によって誤った直線性補
正が行われることを容易に防止することができる。

【００３７】また，本発明の操作パネル（請求項１１）
は，制御手段が，複数の領域毎の検出結果を個別に保持
し，統計的手法による修正を個別に施すため，必要な箇
所，必要なデータのみを採用して迅速に直線性補正を完
了することができる。

【００３８】

【実施例】以下，本発明の操作パネルについて，〔実施
例１〕，〔実施例２〕の順で，図面を参照して詳細に説
明する。

【００３９】〔実施例１〕図１は，実施例１のブロック
構成図である。実施例１の操作パネルは，アナログタッ
チパネル方式の操作パネルであり，人間の指などでタッ
チパネルのタッチ感応表面上のどこにタッチしてもその
タッチを検出するものである。

【００４０】まず，構成について説明する。１０１は，
Ｘ方向／Ｙ方向それぞれの抵抗膜であるＸ側抵抗膜１０
１ａとＹ側抵抗膜１０１ｂとを重ね合わせて形成された
アナログタッチパネルであり，１０２のＬＣＤモジュー
ル上に設置される。上記Ｘ側抵抗膜１０１ａには，Ｘ電
極端子（Ｘ２）と対向する端部にＸ側抵抗膜１０１ａの
抵抗値を測定する測定用Ｘ電極端子（Ｘ１）が配置され
ており，Ｙ側抵抗膜１０１ｂには，Ｙ電極端子（Ｙ２）
と対向する端部にＹ側抵抗膜１０１ｂの抵抗値を測定す
る測定用Ｙ電極端子（Ｙ１）が配置されている。

【００４１】１０３は，ＬＣＤモジュール１０２の画面
を制御するＬＣＤコントローラである。１０４ａ〜ｆ
は，タッチパネル１０１の端子間に印加する（または端
子から検出する）信号ラインを切り替えるスイッチ（Ｓ
Ｗａ〜ＳＷｆ）であり，１０５ａ〜ｄは，信号を検出す
るセンスアンプ（ＡＭＰ．ａ〜ＡＭＰ．ｄ）である。

【００４２】また，１０６はセンスアンプ１０５ａ〜ｄ
から信号（電圧値）を入力して後述するＡ／Ｄコンバー
タに選択的に出力するマルチプレクサ（ＭＵＸ），１０
７は検出した電圧値をデジタルデータに変換するＡ／Ｄ
コンバータ，１０８はタッチパネル１０１面が押下され
たことを検出する独立した検出回路（実施例１では，コ
ンパレータ（ＣＯＭＰ）），１０９は押下検出，タッチ
パネル１０１の端子信号切り替え，および座標データの
算出を行う入力制御部，１１０は上記各部を制御するメ
インコントローラ，１１１ａおよび１１１ｂは，Ｘ電
極，Ｙ電極の各電極間の抵抗値測定時のバイアス抵抗回
路である。なお，Ｘ電極の電極間の抵抗値測定時のバイ
アス抵抗回路を１１１ａ，Ｙ電極の電極間の抵抗値測定
時のバイアス抵抗回路を１１１ｂとする。また，本装置
では点線枠で囲まれた部分は１チップのマイコン（マイ
クロ・コンピュータ）１１２によって実現されている。

【００４３】なお，スイッチ１０４ａ〜ｆによって切替
手段が構成され，センスアンプ１０５ａ〜ｄおよび検出
回路１０８によって検出手段が構成され，入力制御部１
０９によって座標算出手段が構成され，ＬＣＤモジュー
ル１０２によって表示手段が構成され，マイコン１１２
によって制御手段が構成され，またバイアス抵抗回路１
１１ａおよび１１１ｂとによって抵抗値検出手段および
電圧値検出手段が構成される。

【００４４】以上の構成において，Ｘ側抵抗膜および
Ｙ側抵抗膜の初期データの収集，基準データ収集のシ
ーケンス，通常の動作シーケンス，位置データ収集
シーケンスの順にその動作を説明する。

【００４５】Ｘ側抵抗膜およびＹ側抵抗膜の初期デー
タの収集 図３の初期データ収集処理のフローチャートを参照し
て，Ｘ側抵抗膜およびＹ側抵抗膜の抵抗値（電圧レベル
データ）の収集について説明する。装置初期化時（リセ
ット直後）において，入力制御部１０９は，スイッチ１
０４ａおよび１０４ｂをオン（ＳＷｃ〜ｆをオフ）にし
てＸ側抵抗膜１０１ａに直流電圧を印加する（Ｓ３０
１）。このときの等価回路は，図２のようになり，Ｘ
１，Ｘ２の端子位置における電位はＸ側抵抗膜１０１ａ
の抵抗値とスイッチ１０４ａおよび１０４ｂの直流抵抗
分によって決まる。

【００４６】この状態において，入力制御部１０９は，
マルチプレクサ１０６の入力を切り替えてセンスアンプ
１０５ａおよび１０５ｂの信号をＡ／Ｄコンバータ１０
７に入力して，Ｘ１，Ｘ２の端子位置における電位を初
期データＶｘ１，Ｖｘ２として収集する（Ｓ３０２）

【００４７】次に，入力制御部１０９は，スイッチ１０
４ｃおよび１０４ｄをオン（スイッチ１０４ａ，ｂ，ｅ
およびｆをオフ）にしてＹ側抵抗膜１０１ｂに直流電圧
を印加して（Ｓ３０３），Ｘ側の場合と同様にマルチプ
レクサ１０６の入力を切り替えてセンスアンプ１０５ｃ
および１０５ｄの信号をＡ／Ｄコンバータ１０７に入力
して，Ｙ１，Ｙ２の端子位置における電位を初期データ
Ｖｙ１，Ｖｙ２として収集する（Ｓ３０４）。

【００４８】上記ステップによって，Ｘ側抵抗膜の初期
データＶｘ１，Ｖｘ２，およびＹ側抵抗膜の初期データ
Ｖｙ１，Ｖｙ２の収集を行なう。

【００４９】基準データ収集のシーケンス 次に，基準データ収集のシーケンスについて図３を参照
して説明する。Ｘ側抵抗膜の初期データＶｘ１，Ｖｘ
２，およびＹ側抵抗膜の初期データＶｙ１，Ｖｙ２の収
集後，入力制御部１０９は，スイッチ１０４ｂおよび１
０４ｅをオン（スイッチ１０４ａ，ｃ，ｄおよびｆをオ
フ）にしてＸ側抵抗膜１０１ａの抵抗値を測定するため
の回路に接続し（Ｓ３０５），抵抗ＲｘとＸ側抵抗膜の
抵抗値によって定まる電圧値ＶＲｘが測定される（Ｓ３
０６）。この値がＸ側抵抗膜の初期値を示すパラメータ
となり，Ｘ側抵抗膜の基準データとなる。

【００５０】次に，入力制御部１０９は，スイッチ１０
４ｆおよび１０４ｄをオン（スイッチ１０４ａ，ｂ，ｃ
およびｅをオフ）にしてＹ側抵抗膜１０１ｂの抵抗値を
測定するための回路に接続し（Ｓ３０７），抵抗Ｒｙと
Ｙ側抵抗膜の抵抗値によって定まる電圧値ＶＲｙが測定
される（Ｓ３０８）。この値がＹ側抵抗膜の初期値を示
すパラメータとなり，Ｙ側抵抗膜の基準データとなる。

【００５１】基準データ収集のシーケンスである，前述
したステップＳ３０５〜Ｓ３０８を周期的に実施し，常
に最新の基準データを維持しておくことで，周囲環境条
件の変化に対応する。また，周期的に収集した基準デー
タは，初期化時に格納された初期データと比較／評価さ
れ，差異の大きいものは除去される。ここで，初期デー
タとの差異が大きいものは，例えば，アナログタッチパ
ネル１０１が押下されていると判断し，基準データとし
て扱わない。初期データの更新は，必要に応じてスイッ
チなどの操作により入力制御部１０９内の不揮発性のメ
モリー（図示せず）に格納／更新される。

【００５２】通常の動作シーケンス 次に，図４および図５のフローチャートを参照して通常
の動作シーケンスについて説明する。基準データ収集完
了後，入力制御部１０９は，スイッチ１０４ａのみをオ
ンとし，スイッチ１０４ｂ〜ｆをオフとする（Ｓ４０
１）。

【００５３】この状態でタッチパネル１０１上が押下さ
れると，Ｘ側抵抗膜１０１ａとＹ側抵抗膜１０１ｂが接
して，Ｙ側抵抗膜１０１ｂの抵抗値を測定する測定用Ｙ
電極端子（Ｙ１）に接続しているセンスアンプ１０５ｄ
に約５Ｖの電圧が検出され，この結果が検出回路１０８
で検出したか否かを判断し（Ｓ４０２），検出したと
き，入力制御部１０９に通知される。検出回路１０８が
検出しなかったとき，再度ステップＳ４０２の動作を行
なう。

【００５４】次に，入力制御部１０９は，Ｘ側，Ｙ側そ
れぞれについて抵抗膜の抵抗値を測定するための回路に
接続する。このとき，パネル上の１点を押下したときの
測定した抵抗値をＲＴＰＸとし，パネル上の１点を押下
した場合抵抗値ＲＴＰＸは，初期データの値と同一とな
るが，パネル上の２点を押下した場合には，図６に示す
ような等価回路になり，Ｙ側抵抗膜の抵抗値がＸ側抵抗
膜に並列に接続された回路になるため，抵抗値が低下す
る。

【００５５】入力制御部１０９は，スイッチ１０４ｂお
よび１０４ｅをオンとし，スイッチ１０４ａ，ｃ，ｄお
よびｆをオフとして（Ｓ４０３），Ｘ側抵抗膜の抵抗値
を示す電圧値がセンスアンプ１０５ａに検出され，この
結果が検出回路１０８で検出されて入力制御部１０９に
通知される（Ｓ４０４）。

【００５６】ここで，測定されたＸ側抵抗膜の抵抗値を
示す電圧値と，電圧値ＶＲｘとの差異を求め（Ｓ４０
５），求めた差異とあらかじめ設定した所定の閾値（Ｖ
ｒｔ）と比較／評価し（Ｓ４０６），差異の電圧値があ
らかじめ設定した所定の閾値（Ｖｒｔ）よりも大きい場
合には，パネル上の複数点が押下されたものと判断し
て，その状態をユーザーに通知する（Ｓ４１８）。通知
は，例えば，警告メッセージをＬＣＤモジュール１０２
に表示するなどを行なうと良い。

【００５７】ステップＳ４０４にて差異の電圧値があら
かじめ設定した所定の閾値（Ｖｒｔ）と同じであると判
断した場合，Ｙ側抵抗膜に対しても同様の比較／評価を
実行する。

【００５８】入力制御部１０９は，スイッチ１０４ｆ，
ｄをオンとし，スイッチ１０４ａ，ｂ，ｃ，ｅをオフと
する（Ｓ４０７）。この状態でタッチパネル１０１上が
押下されるとセンスアンプ１０５ｃに電圧が検出され，
この結果が検出回路１０８で検出されて入力制御部１０
９に通知される（Ｓ４０８）。

【００５９】ここで，測定されたＹ側抵抗膜の抵抗値を
示す電圧値と，電圧値ＶＲｙとの差異を求め（Ｓ４０
９），求めた差異とあらかじめ設定した所定の閾値（Ｖ
ｒｔ）と比較／評価し（Ｓ４１０），差異の電圧値があ
らかじめ設定した所定の閾値（Ｖｒｔ）よりも大きい場
合には，パネル上の複数点が押下されたものと判断し
て，その状態をユーザーに通知する（Ｓ４１８）。通知
は，例えば，警告メッセージをＬＣＤモジュール１０２
に表示するなどを行なうと良い。

【００６０】ステップＳ４１０にて差異の電圧値があら
かじめ設定した所定の閾値（Ｖｒｔ）と同じであると判
断した場合，Ｘ側，Ｙ側共に基準データの抵抗値と同一
の結果が得られ，すなわち，パネル上の押下点は，１点
であると判断できる。

【００６１】位置データ収集シーケンス 次に，位置データ収集シーケンスを行なう。パネル上の
押下点は，１点であると判断した後，入力制御部１０９
は，スイッチ１０４ａ，ｂをオンとし，スイッチ１０４
ｃ〜ｆをオフとする（Ｓ４１１）。この状態でタッチパ
ネル１０１上が押下されるとセンスアンプ１０５ｂに電
圧が検出され，この結果が検出回路１０８で検出されて
入力制御部１０９に通知される（Ｓ４１２）。

【００６２】次に，入力制御部１０９は，スイッチ１０
４ｃ，ｄをオンとし，スイッチ１０４ａ，ｂ，ｅ，ｆを
オフとする（Ｓ４１３）。この状態でタッチパネル１０
１上が押下されるとセンスアンプ１０５ｄに電圧が検出
され，この結果が検出回路１０８で検出されて入力制御
部１０９に通知される（Ｓ４１４）。

【００６３】ステップＳ４１１〜Ｓ４１４に示す順序で
Ｘ側，Ｙ側それぞれについての押下位置電圧レベルをＶ
ｘｍ，Ｖｙｍとし収集する（Ｓ４１５）。また，ステッ
プＳ４１１〜Ｓ４１４を複数回実施し，Ｖｘｍ，Ｖｙｍ
をそれぞれ比較／評価し（Ｓ４１６），それぞれのＶｘ
ｍ，Ｖｙｍがあらかじめ設定した所定の値であるＶｘ
ｔ，Ｖｙｔ以内の差異である場合，Ｘ，Ｙの各座標軸を
０〜２５５として，Ｘ方向，Ｙ方向の座標位置をステッ
プＳ４１５にて得たＶｘｍ，Ｖｙｍを，次式に基づいて
算出する（Ｓ４１７）。

【００６４】 Ｘ座標＝２５５×（Ｖｘｍ−Ｖｘ２）／（Ｖｘ１−Ｖｘ
２） Ｙ座標＝２５５×（Ｖｙｍ−Ｖｙ２）／（Ｖｙ１−Ｖｙ
２）

【００６５】また，ステップＳ４１６にてあらかじめ設
定した所定の値であるＶｘｔ，Ｖｙｔ以上の差異がある
場合には，パネル上の複数点が押下されたものとし，複
数点押下された状態をユーザーに通知する（Ｓ４１
８）。通知は，例えば，警告メッセージを表示するなど
行なうと良い。

【００６６】また，パネル上の複数点が押下されたこと
を判断するための閾値となるＶｒｔ，Ｖｘｔ，Ｖｙｔの
値は操作パネルに要求される分解能に関わるので，操作
画面のレイアウトなどに応じて異なる値が設定できると
より便利である。

【００６７】また，初期データは周囲温度などの影響を
補正するためにタイマーなどによって，周期的に更新さ
れるとさらに検出精度が向上する。また，タイマーに替
えて人体検出センサーによりユーザーの不在を確認して
行なう方法を用いても良いことは勿論である。

【００６８】前述したように実施例１によれば，Ｘ側，
Ｙ側それぞれについてタッチパネル電極間の抵抗値変化
を検出することにより，パネル上の複数点が押下された
状態を検出することができるため，押下位置の情報を誤
って収集することがない。

【００６９】また，収集したＸ側，Ｙ側それぞれの電極
間抵抗値を格納して保持することにより，周期的に収集
した初期データの評価を行なうことができるため，温
度，電源電圧の変化など周囲条件の変化に追従して検出
精度を向上させることができる。

【００７０】また，Ｘ側，Ｙ側電圧検出を複数回実施し
て電圧の変化を検出することにより，微小な時間差をお
いてパネル上の複数点が押下された状態を検出すること
ができるので，押下位置の情報を誤って収集することが
ない。

【００７１】さらに，抵抗値変化の検出を行なうための
スレッシュホールド・レベルを任意に設定しているの
で，操作パネルの目的に応じた分解能を得ることができ
るため，操作上の制限事項を設けずに対応することがで
きる。

【００７２】また，電圧値変化の検出を行なうためのス
レッシュホールド・レベルを任意に設定しているので，
操作パネルの目的に応じた分解能を得ることができるた
め，操作上の制限事項を設けずに対応することができ
る。

【００７３】また，パネル上に複数点が押下された状態
を検出した結果に基づいて検出結果を通知することによ
り，ユーザーに次の操作を容易に理解させることができ
るので，操作性の向上を行なえる。

【００７４】〔実施例２〕図７は，実施例２のブロック
構成図である。実施例２の操作パネルは，基本的には実
施例１と同様の構成に付き，異なる部分のみ詳細に説明
する。なお，図７において，図１と同符号のものは実施
例１と同様の構成に付き，説明を省略する。

【００７５】以上の構成において，Ｘ側抵抗膜および
Ｙ側抵抗膜の抵抗値（電圧レベルデータ）の収集，通
常の動作シーケンス，直線性補正操作シーケンスの順
にその動作を説明する。

【００７６】Ｘ側抵抗膜およびＹ側抵抗膜の抵抗値
（電圧レベルデータ）の収集 図８の初期化データ収集処理のフローチャートを参照し
て，Ｘ側抵抗膜およびＹ側抵抗膜の抵抗値（電圧レベル
データ）の収集について説明する。装置初期化時（リセ
ット直後）において，入力制御部１０９は，スイッチ１
０４ａおよび１０４ｂをオン（ＳＷｃおよびＳＷｄをオ
フ）にしてＸ側抵抗膜１０１ａに直流電圧を印加する
（Ｓ８０１）。このときの等価回路は，図２のようにな
り，Ｘ１，Ｘ２の端子位置における電位はＸ側抵抗膜１
０１ａの抵抗値とスイッチ１０４ａおよび１０４ｂの直
流抵抗分によって決まる。

【００７７】この状態において，入力制御部１０９は，
マルチプレクサ１０６の入力を切り替えてセンスアンプ
１０５ａおよび１０５ｂの信号をＡ／Ｄコンバータ１０
７に入力して，Ｘ１，Ｘ２の端子位置における電位を初
期データＶｘ１，Ｖｘ２として収集する（Ｓ８０２，Ｓ
８０３）。

【００７８】次に，入力制御部１０９は，スイッチ１０
４ｃおよび１０４ｄをオン（スイッチ１０４ａおよび１
０４ｂをオフ）にしてＹ側抵抗膜１０１ｂに直流電圧を
印加して（Ｓ８０４），Ｘ側の場合と同様にマルチプレ
クサ１０６の入力を切り替えてセンスアンプ１０５ｃお
よび１０５ｄの信号をＡ／Ｄコンバータ１０７に入力し
て，Ｙ１，Ｙ２の端子位置における電位を初期データＶ
ｙ１，Ｖｙ２として収集する（Ｓ８０５，Ｓ８０６）。

【００７９】上記のステップによって，初期データ（補
正データ）である，Ｖｘ１，Ｖｘ２，Ｖｙ１，Ｖｙ２が
それぞれ収集される。

【００８０】通常の動作シーケンス 次に，図９のフローチャートを参照して通常の動作シー
ケンスについて説明する。初期データ収集完了後，入力
制御部１０９，スイッチ１０４ａのみをオンとし，スイ
ッチ１０４ｂ，１０４ｃ，１０４ｄをオフとする（Ｓ９
０１）。

【００８１】この状態でタッチパネル１０１上が押下さ
れるとセンスアンプ１０５ｄに約５Ｖの電圧が検出さ
れ，この結果が検知回路１０８で検出されて入力制御部
１０９に通知される（Ｓ９０２）。

【００８２】入力制御部１０９は，ステップＳ９０２に
おいて，Ｃｏｍｐレベル検出（検知回路１０８での５Ｖ
検出）があると，ステップＳ９０３〜Ｓ９０６に示す順
序でＸ側，Ｙ側それぞれについての押下位置電圧レベル
をＶｘｍ，Ｖｙｍとし収集し（図８のＳ８０１〜Ｓ８０
６の測定方法参照），ステップＳ９０７でＸ，Ｙの各座
標軸を０〜２５５として，Ｘ方向，Ｙ方向の座標位置は
次式に基づいて算出する。

【００８３】 Ｘ座標＝２５５×（Ｖｘｍ−Ｖｘ２）／（Ｖｘ１−Ｖｘ
２） Ｙ座標＝２５５×（Ｖｙｍ−Ｖｙ２）／（Ｖｙ１−Ｖｙ
２）

【００８４】直線性補正操作シーケンス 実施例２では，入力制御部１０９が，メインコントロー
ラ１１０，ＬＣＤコントローラ１０３およびＬＣＤモジ
ュール１０２を介して，所定の座標位置を押下位置とし
て表示し，前記押下位置をオペレータが押下した際に収
集した座標に基づいて，タッチパネル自体の端子間抵抗
値の直線性におけるばらつきを改善するようにしてい
る。

【００８５】ここで，図１０のフローチャートを参照し
て直線性補正シーケンスについて説明する。入力制御部
１０９は，初期化データ収集動作完了後，表示パネル
（ＬＣＤモジュール１０２）上に直線性補正シーケンス
選択メニューを表示させて，オペレータの選択により直
線性補正データ収集モードに入る。

【００８６】直線性補正データ収集モードに入ると，入
力制御部１０９は，図１１に示すように，表示パネル
（ＬＣＤモジュール１０２）上の所定の位置に補正ポイ
ント○を表示させて（Ｓ１００１），図９で示した通常
のシーケンス（位置データ収集のシーケンス）を実行
し，押下位置の座標を検出する（Ｓ１００２）。この場
合，オペレータは表示された補正ポイント○の中央部を
押下するものとする。

【００８７】次に，実際に検出した押下位置の座標と，
表示した位置の座標との差異を検出し（Ｓ１００３），
検出した差異を，図示の如く補正ポイント○に添付する
ように（例えば「○（＋１０，−８）」のように）表示
する（Ｓ１００４）。なお，（＋１０，−８）は，Ｘ＝
６４０ｄｏｔ×Ｙ＝４８０ｄｏｔの座標上においてＸ，
Ｙ座標の差異をそれぞれ数値化したものである。

【００８８】次に，差異があらかじめ設定した許容誤差
以内，すなわちタッチパネルの直線性仕様値以内である
か否かを判定する（Ｓ１００５）。この場合，直線性仕
様値が５％の場合には，Ｘ座標が６４０×０．０５＝３
２，Ｙ座標が４８０×０．０５＝２４となり，例えば，
（＋１０，−８）は許容誤差以内であると判定され，
（＋４０，−５）は許容誤差以内ではないと判定され
る。

【００８９】ステップＳ１００５で許容誤差以内ではな
いと判定された場合，すなわち，（＋４０，−５）の場
合には，図１１の表示において，「○／●」のように点
滅表示（ブリンク表示）を行いオペレータに警告し（Ｓ
１００６），通常のシーケンス（位置データ収集のシー
ケンス）を実行して押下位置の座標を検出する（Ｓ１０
０７）。なお，このステップＳ１００６，Ｓ１００７の
処理（図中の点線で示すステップ）は，タッチパネル１
０１上のブリンク表示中のポイント全てに対して，実行
されるものとする。続いて，入力制御部１０９は，ステ
ップＳ１００７の結果に基づいて，初期化時の補正デー
タを更新する（Ｓ１００８）。

【００９０】一方，許容誤差以内であれば，ステップＳ
１００２で得た補正データを各ポイント毎に格納する
（Ｓ１００９）。なお，補正データの格納は，入力制御
部１０９内にメモリを設けることにより行えば良く，各
補正データ毎に格納できる構成とすれば良い。以上の処
理により，図１２に示すように，タッチパネル１０１の
領域を複数の領域に分けた場合の各補正データが格納さ
れる。なお，実施例２では，８領域に分けた場合につい
て説明するが，特にこれに限定するものではなく，タッ
チパネル１０１の大きさに適した領域数とすれば良い。

【００９１】ステップＳ１００９で格納された補正デー
タを使用して直線性のばらつきを補正する。すなわち，
図１２に示した各領域において，（Ｘ０，Ｙ０），（Ｘ
１，Ｙ１），（Ｘ２，Ｙ２），（Ｘ３，Ｙ３），（Ｘ
４，Ｙ４）における補正データ，すなわち電圧データ
（Ｖｘ０，Ｖｙ０），（Ｖｘ１，Ｖｙ１），（Ｖｘ２，
Ｖｙ２），（Ｖｘ３，Ｖｙ３），（Ｖｘ４，Ｖｙ４）に
基づいて，パネル上の任意の点（Ｘ，Ｙ）が押下された
時の座標を決定する。なお，（Ｖｘ０，Ｖｙ０）および
（Ｖｘ４，Ｖｙ４）は初期収集データとする。

【００９２】ここで，補正データを使用した場合の座標
決定方法を図１３および図１４を参照して説明する。パ
ネル上の任意の点（Ｘ，Ｙ）における検知電圧をＶｘ，
Ｖｙとし，Ｖｘが，Ｖｘ≦Ｖｘ２，Ｖｘ≦Ｖｘ１の関係
を満たす場合（Ｓ１３０１，Ｓ１３０２）には， Ｘ座標＝Ｘ０＋（Ｘ１−Ｘ０）×（Ｖｘ−Ｖｘ０）／
（Ｖｘ１−Ｖｘ０） とし（Ｓ１３０４），Ｖｘが，Ｖｘ≦Ｖｘ２，Ｖｘ＞Ｖ
ｘ１の関係を満たす場合（Ｓ１３０１，Ｓ１３０２）に
は， Ｘ座標＝Ｘ１＋（Ｘ２−Ｘ１）×（Ｖｘ−Ｖｘ１）／
（Ｖｘ２−Ｖｘ１） とし（Ｓ１３０５），Ｖｘが，Ｖｘ＞Ｖｘ２，Ｖｘ≦Ｖ
ｘ３の関係を満たす場合（Ｓ１３０１，Ｓ１３０３）に
は， Ｘ座標＝Ｘ２＋（Ｘ３−Ｘ２）×（Ｖｘ−Ｖｘ２）／
（Ｖｘ３−Ｖｘ２） とし（Ｓ１３０６），Ｖｘが，Ｖｘ＞Ｖｘ２，Ｖｘ＞Ｖ
ｘ３の関係を満たす場合（Ｓ１３０１，Ｓ１３０３）に
は， Ｘ座標＝Ｘ３＋（Ｘ４−Ｘ３）×（Ｖｘ−Ｖｘ３）／
（Ｖｘ４−Ｖｘ３） として（Ｓ１３０７）Ｘ座標を決定する。

【００９３】また，図１４において，Ｖｙが，Ｖｙ≦Ｖ
ｙ２，Ｖｙ≦Ｖｙ１の関係を満たす場合（Ｓ１４０１，
Ｓ１４０２）には， Ｙ座標＝Ｙ０＋（Ｙ１−Ｙ０）×（Ｖｙ−Ｖｙ０）／
（Ｖｙ１−Ｖｙ０） とし（Ｓ１４０４），Ｖｙが，Ｖｙ≦Ｖｙ２，Ｖｙ＞Ｖ
ｙ１の関係を満たす場合（Ｓ１４０１，Ｓ１４０２）に
は， Ｙ座標＝Ｙ１＋（Ｙ２−Ｙ１）×（Ｖｙ−Ｖｙ１）／
（Ｖｙ２−Ｖｙ１） とし（Ｓ１４０５），Ｖｙが，Ｖｙ＞Ｖｙ２，Ｖｙ≦Ｖ
ｙ３の関係を満たす場合（Ｓ１４０１，Ｓ１４０３）に
は， Ｙ座標＝Ｙ２＋（Ｙ３−Ｙ２）×（Ｖｙ−Ｖｙ２）／
（Ｖｙ３−Ｖｙ２） とし（Ｓ１４０６），Ｖｙが，Ｖｙ＞Ｖｙ２，Ｖｙ＞Ｖ
ｙ３の関係を満たす場合（Ｓ１４０１，Ｓ１４０３）に
は， Ｙ座標＝Ｙ３＋（Ｙ４−Ｙ３）×（Ｖｙ−Ｖｙ３）／
（Ｖｙ４−Ｖｙ３） として（Ｓ１４０７）Ｙ座標を決定する。

【００９４】したがって，ステップＳ１００９で格納さ
れた補正データを使用して，上記に記す式によりタッチ
パネルの個体による直線性のばらつきを折れ線近似し，
位置検出精度を向上させることができる。

【００９５】なお，収集された補正データは，補正位置
毎に個別管理され，かつ，過去に収集されたデータ履歴
と合わせてスムージングのような統計処理を行うものと
する。

【００９６】前述したように実施例２によれば，全操作
範囲を複数の領域に分割し，パネルから検知した信号に
対して領域毎の直線性補正を行う手段を有しているた
め，タッチパネル個体による直線性のばらつきを補正
し，大型のタッチパネルにおいても，座標検出精度を向
上させることができる。

【００９７】また，初期値（既設定値）と補正すべき座
標との差異を数値化して通知するため，新しい補正デー
タを補正値として使用することの妥当性を容易に評価す
ることができる。

【００９８】また，上記差異の妥当性を評価，すなわち
差異が許容誤差以内か否かを評価し，補正に対して適正
な判断基準を提示するため，不用意な操作やチャタリン
グ等によって誤った補正が行われることを容易に防止す
ることができる。

【００９９】また，選択された補正データを補正位置毎
に分離して保持し，個別に統計的手法による修正を加え
ているため，大型のタッチパネルにおいても，必要な箇
所，必要なデータのみを採用して迅速に補正操作を完了
させることができる。

【０１００】また，補正データを設けて補正を行ってい
るため，各装置毎に装置固有の補正を行うことができ，
製造工程／サービス区において容易に実行できる。

【０１０１】

【発明の効果】以上説明したように，本発明の操作パネ
ル（請求項１）によれば，一対のＸ電極端子間の抵抗値
および一対のＹ電極端子間の抵抗値を検出する抵抗値検
出手段を備え，制御手段が，前記抵抗値検出手段を制御
して，前記一対のＸ電極端子間の抵抗値および一対のＹ
電極端子間の抵抗値を検出し，検出した抵抗値に基づい
て，前記一対のＸ電極端子間の抵抗値および一対のＹ電
極端子間の抵抗値の変化を求めるため，パネル上の複数
点が押下された状態を検出することができるので，押下
位置の情報を誤って収集することがない。

【０１０２】また，本発明の操作パネル（請求項２）に
よれば，前記制御手段が，前記一対のＸ電極端子間の抵
抗値および一対のＹ電極端子間の抵抗値を所定の手順に
したがって周期的に検出し，前記抵抗値の変化を求める
ため，温度，電源電圧の変化など周囲条件の変化に追従
できるので，検出精度を向上させることができる。

【０１０３】また，本発明の操作パネル（請求項３）に
よれば，前記制御手段が，前記検出した一対のＸ電極端
子間の抵抗値および一対のＹ電極端子間の抵抗値を格納
して保持するため，周期的に収集した初期データの評価
を行なうことができるので，温度，電源電圧の変化など
周囲条件の変化に追従して検出精度を向上させることが
できる。

【０１０４】また，本発明の操作パネル（請求項４）に
よれば，前記抵抗値の変化を求める際に使用する閾値を
設定する設定手段を備え，前記制御手段が，前記検出し
た抵抗値と前記設定手段で設定された閾値とを比較し
て，前記抵抗値の変化を求めるため，操作パネルの目的
に応じた分解能を得ることができるので，操作上の制限
事項を設けずに対応することができる。

【０１０５】また，本発明の操作パネル（請求項５）に
よれば，一対のＸ電極端子間の電圧値および一対のＹ電
極端子間の電圧値を検出する電圧値検出手段を備え，制
御手段が，前記電圧値検出手段を制御して，前記一対の
Ｘ電極端子間の電圧値および一対のＹ電極端子間の電圧
値を検出し，検出した電圧値に基づいて，前記一対のＸ
電極端子間の電圧値および一対のＹ電極端子間の電圧値
の変化を求めるため，微小な時間差をおいてパネル上の
複数点が押下された状態を検出することができるので，
押下位置の情報を誤って収集することがない。

【０１０６】また，本発明の操作パネル（請求項６）に
よれば，前記電圧値の変化を求める際に使用する閾値を
設定する設定手段を備え，前記制御手段が，前記検出し
た電圧値と前記設定手段で設定された閾値とを比較し
て，前記電圧値の変化を求めるため，操作パネルの目的
に応じた分解能を得ることができるので，操作上の制限
事項を設けずに対応することができる。

【０１０７】また，本発明の操作パネル（請求項７）に
よれば，前記制御手段が，前記求めた抵抗値の変化ある
いは電圧値の変化に基づいて，前記表示手段を介して検
出結果を通知するため，ユーザーに次の操作を容易に理
解させることができるので，操作性の向上を行なえる。

【０１０８】また，本発明の操作パネル（請求項８）に
よれば，制御手段が，タッチパネルの全操作範囲を複数
の領域に分割し，検出手段により検出した複数の領域毎
の検出結果に基づいて，複数の領域毎に直線性補正を行
うため，タッチパネル個体による直線性のばらつきを補
正することができるので，タッチパネルが大型化して
も，検出精度が低下しない操作パネルを提供することが
できる。

【０１０９】また，本発明の操作パネル（請求項９）に
よれば，制御手段が，表示手段を制御して所定の座標位
置を押下位置として表示し，押下位置をオペレータが押
下した際に座標算出手段の算出した座標と，押下位置を
表示した座標との差異を数値化して表示手段に表示させ
るため，直線性補正を行う際の補正データの妥当性を容
易に評価することができるので，タッチパネルが大型化
しても，検出精度が低下しない操作パネルを提供するこ
とができる。

【０１１０】また，本発明の操作パネル（請求項１０）
によれば，制御手段が，所定の基準値を設け，差異の値
が所定の基準値より大きい場合には，基準値を変更する
ため，不用意な操作やチャタリング等によって誤った直
線性補正が行われることを容易に防止することができる
ので，タッチパネルが大型化しても，検出精度が低下し
ない操作パネルを提供することができる。

【０１１１】また，本発明の操作パネル（請求項１１）
によれば，制御手段が，複数の領域毎の検出結果を個別
に保持し，統計的手法による修正を個別に施すため，必
要な箇所，必要なデータのみを採用して迅速に直線性補
正を完了することができるので，タッチパネルが大型化
しても，検出精度が低下しない操作パネルを提供するこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】実施例１のブロック構成図である。

【図２】図１において，スイッチＳＷａおよびＳＷｂを
オン（ＳＷｃおよびＳＷｄをオフ）にした状態で直流電
圧を印加した場合の等価回路図である。

【図３】初期データおよび基準データ収集処理のフロー
チャートである。

【図４】通常の動作シーケンスを示すフローチャートで
ある。

【図５】通常の動作シーケンスを示すフローチャートで
ある。

【図６】図１において，Ｙ側抵抗膜の抵抗値がＸ側抵抗
膜に並列に接続された等価回路図である。

【図７】実施例２のブロック構成図である。

【図８】初期データおよび基準データ収集処理のフロー
チャートである。

【図９】通常の動作シーケンスを示すフローチャートで
ある。

【図１０】直線性補正操作シーケンスを示すフローチャ
ートである。

【図１１】表示パネル（ＬＣＤモジュール）上の所定の
位置に補正ポイントを表示させた状態を示す説明図であ
る。

【図１２】タッチパネルを複数の領域に分けた状態を示
す説明図である。

【図１３】Ｘ座標位置の決定シーケンスを示すフローチ
ャートである。

【図１４】Ｙ座標位置の決定シーケンスを示すフローチ
ャートである。

【符号の説明】

１０１ アナログタッチパネル １０１ａ Ｘ側抵抗膜 １０１ｂ Ｙ側抵抗膜 １０２ ＬＣＤモジュール １０３ ＬＣＤコントローラ １０４ａ〜ｆ スイッチ １０５ａ〜ｄ センスアンプ １０６ マルチプレクサ １０７ Ａ／Ｄコンバータ １０８ 検出回路 １０９ 入力制御部 １１０ メインコントローラ １１１ａ，ｂ バイアス抵抗回路 １１２ マイコン（マイクロ・コンピュータ）

Claims (11)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 一対のＸ電極端子を有するＸ側抵抗膜と
   一対のＹ電極端子を有するＹ側抵抗膜とを重ね合わせて
   形成されたタッチパネルと，前記タッチパネルの端子間
   への供給信号／監視信号を切り替える切替手段と，前記
   タッチパネルの端子から信号を検出する検出手段と，前
   記検出手段で検出した信号から座標を算出する座標算出
   手段と，前記タッチパネルの下部に配置された表示手段
   と，前記切替手段，座標算出手段および表示手段を制御
   する制御手段とを備えた操作パネルにおいて，前記一対
   のＸ電極端子間の抵抗値および一対のＹ電極端子間の抵
   抗値を検出する抵抗値検出手段を備え，前記制御手段
   は，前記抵抗値検出手段を制御して，前記一対のＸ電極
   端子間の抵抗値および一対のＹ電極端子間の抵抗値を検
   出し，検出した抵抗値に基づいて，前記一対のＸ電極端
   子間の抵抗値および一対のＹ電極端子間の抵抗値の変化
   を求めることを特徴とする操作パネル。
2. 【請求項２】 前記制御手段は，前記一対のＸ電極端子
   間の抵抗値および一対のＹ電極端子間の抵抗値を所定の
   手順にしたがって周期的に検出し，前記抵抗値の変化を
   求めることを特徴とする請求項１記載の操作パネル。
3. 【請求項３】 前記制御手段は，前記検出した一対のＸ
   電極端子間の抵抗値および一対のＹ電極端子間の抵抗値
   を格納して保持することを特徴とする請求項１記載の操
   作パネル。
4. 【請求項４】 前記抵抗値の変化を求める際に使用する
   閾値を設定する設定手段を備え，前記制御手段は，前記
   検出した抵抗値と前記設定手段で設定された閾値とを比
   較して，前記抵抗値の変化を求めることを特徴とする請
   求項１記載の操作パネル。
5. 【請求項５】 一対のＸ電極端子を有するＸ側抵抗膜と
   一対のＹ電極端子を有するＹ側抵抗膜とを重ね合わせて
   形成されたタッチパネルと，前記タッチパネルの端子間
   への供給信号／監視信号を切り替える切替手段と，前記
   タッチパネルの端子から信号を検出する検出手段と，前
   記検出手段で検出した信号から座標を算出する座標算出
   手段と，前記タッチパネルの下部に配置された表示手段
   と，前記切替手段，座標算出手段および表示手段を制御
   する制御手段とを備えた操作パネルにおいて，前記一対
   のＸ電極端子間の電圧値および一対のＹ電極端子間の電
   圧値を検出する電圧値検出手段を備え，前記制御手段
   は，前記電圧値検出手段を制御して，前記一対のＸ電極
   端子間の電圧値および一対のＹ電極端子間の電圧値を検
   出し，検出した電圧値に基づいて，前記一対のＸ電極端
   子間の電圧値および一対のＹ電極端子間の電圧値の変化
   を求めることを特徴とする操作パネル。
6. 【請求項６】 前記電圧値の変化を求める際に使用する
   閾値を設定する設定手段を備え，前記制御手段は，前記
   検出した電圧値と前記設定手段で設定された閾値とを比
   較して，前記電圧値の変化を求めることを特徴とする請
   求項５記載の操作パネル。
7. 【請求項７】 前記制御手段は，前記求めた抵抗値の変
   化あるいは電圧値の変化に基づいて，前記表示手段を介
   して検出結果を通知することを特徴とする請求項１また
   は５記載の操作パネル。
8. 【請求項８】 一対のＸ電極端子を有するＸ側抵抗膜と
   一対のＹ電極端子を有するＹ側抵抗膜とを重ね合わせて
   形成されたタッチパネルと，前記タッチパネルの端子間
   への供給信号／監視信号を切り替える切替手段と，前記
   タッチパネルの端子から信号を検出する検出手段と，前
   記検出手段で検出した信号から座標を算出する座標算出
   手段と，前記タッチパネルの下部に配置された表示手段
   と，前記切替手段，座標算出手段および表示手段を制御
   する制御手段とを備えた操作パネルにおいて，前記制御
   手段は，前記タッチパネルの全操作範囲を複数の領域に
   分割し，前記検出手段により検出した前記複数の領域毎
   の検出結果に基づいて，前記複数の領域毎に直線性補正
   を行うことを特徴とする操作パネル。
9. 【請求項９】 前記制御手段は，前記表示手段を制御し
   て所定の座標位置を押下位置として表示し，前記押下位
   置をオペレータが押下した際に前記座標算出手段の算出
   した座標と，前記押下位置を表示した座標との差異を数
   値化して前記表示手段に表示させることを特徴とする請
   求項８記載の操作パネル。
10. 【請求項１０】 前記制御手段は，所定の基準値を設
    け，前記差異の値が前記所定の基準値より大きい場合に
    は，前記基準値を変更することを特徴とする請求項９記
    載の操作パネル。
11. 【請求項１１】 前記制御手段は，前記複数の領域毎の
    検出結果を個別に保持し，統計的手法による修正を個別
    に施すことを特徴とする請求項８，９または１０記載の
    操作パネル。