JPH08162762A - ガラスセラミック多層回路基板 - Google Patents

ガラスセラミック多層回路基板

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JPH08162762A
JPH08162762A JP6323995A JP32399594A JPH08162762A JP H08162762 A JPH08162762 A JP H08162762A JP 6323995 A JP6323995 A JP 6323995A JP 32399594 A JP32399594 A JP 32399594A JP H08162762 A JPH08162762 A JP H08162762A
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JP
Japan
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glass
powder
circuit board
multilayer circuit
weight
Prior art date
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Pending
Application number
JP6323995A
Other languages
English (en)
Inventor
Kyoko Gomikawa
恭子 五味川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Metal Mining Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Metal Mining Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Metal Mining Co Ltd filed Critical Sumitomo Metal Mining Co Ltd
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  • Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
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  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 変形、デラミ等の発生がなく、良好な歩留り
で作製することができるガラスセラミック多層回路基板
を提供する。 【構成】 軟化点がTi ℃のガラス粉末を用いたガラス
セラミックグリーンシートと回路配線とを同時焼成して
得られる多層回路基板において、軟化点をTc ℃とし
て、Ti −30≦Tc ≦Ti +30を満足する非晶質ガ
ラス粉末を10〜20重量%含み、残部が銀粉である組
成物から、該回路配線がなることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電子機器に使用される
ガラスセラミック多層回路基板に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、ガラスセラミック多層回路基板
は、絶縁体層としてアルミナを用い、回路配線用導体に
タングステン、モリブデンを用いて1600℃程度の高
温度で焼成して作製されたが、近年、低温で焼成できる
ガラスセラミック系基板の開発が進められた。この低温
焼成基板を作製するには、絶縁体層として、非晶質ガラ
スまたは結晶化ガラスの粉末(以下、これをシートガラ
ス粉末という)と、アルミナ等のセラミック粉末との混
合粉末(以下、これをガラスセラミック粉末という)に
バインダーを加えたものをスラリー状にしてドクターブ
レード法でシート成形したガラスセラミックグリーンシ
ートを用い、回路配線パターンは、銀粉とビヒクルから
なる導体組成物をスクリーン印刷法等で該グリーンシー
ト上に塗布する。そして、これを複数枚積層して800
〜950℃で焼成することによって作製する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記ガラスセ
ラミックグリーンシートと上記回路配線とを同時焼成す
る際に、銀粉とガラスセラミック粉末の焼結挙動の違い
から、基板の変形やシート層がはがれて膨らむデラミ等
の不具合が発生して多層回路基板の歩留りを低下させ
る。そこで本発明は、変形が可及的に少なく、シート層
のデラミ等の発生がなく、従って、良好な歩留りで作製
することができるガラスセラミック多層回路基板を提供
することを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の本発明のガラスセラミック多層回路基板は、軟化点が
i ℃のシートガラス粉末を用いたガラスセラミックグ
リーンシートと回路配線とを同時焼成して得られる多層
回路基板において、軟化点をTc ℃として、Ti −30
≦Tc ≦Ti +30を満足する非晶質ガラス粉末を10
〜20重量%含み、残部が銀粉である組成物から、該回
路配線がなることを特徴とする。
【0005】
【作用】本発明の、軟化点がTi ℃のシートガラス粉末
を用いたガラスセラミックグリーンシートと回路配線と
を同時焼成して得られる多層回路基板において、軟化点
をTc ℃として、Ti −30≦Tc ≦Ti +30を満足
する非晶質ガラス粉末(以下、これを添加ガラス粉末と
いう)を銀粉に添加した組成物から、該回路配線がな
る。添加ガラス粉末を添加することにより、上記基板
は、焼成による変形を極めて起し難くなる。これは、添
加ガラス粉末が、従来の銀粉とガラスセラミック粉末の
焼結挙動の違いに比べて、上記組成物とガラスセラミッ
ク粉末の焼結挙動の違いを著しく少なくするものと推察
される。これを更に述べる。
【0006】すなわち、従来の銀粉とガラスセラミック
粉末の焼結挙動の違いは、夫々の焼結開始温度および焼
成収縮量の違いといえる。これに対して、上記組成物の
焼結は、添加ガラス粉末が銀粉の焼結を抑制すると共
に、焼成温度が上昇すると添加ガラス粉末が軟化流動し
て銀粉同士を近付けさせることにより、収縮が生じる。
つまり、上記組成物の収縮は、銀粉の焼結開始温度とは
ほとんど無関係に、しかも添加ガラス粉末の挙動に依存
して生じる。しかるに、この添加ガラス粉末の軟化点T
c は、シートガラス粉末の軟化点Ti と上記の関係を満
足する。従って、上記組成物の焼結挙動と、シートガラ
ス粉末を含むガラスセラミック粉末の焼結挙動とは、著
しく類似してくるものと考えられる。
【0007】添加ガラス粉末の軟化点Tc ℃がシートガ
ラス粉末の軟化点Ti ℃より30℃を超えて低下したり
上昇すると、焼成による変形が起こり易くなる。また、
添加ガラス粉末が結晶化ガラス材であると、焼成で生成
した液相が焼成後の冷却の際結晶化を起こして変形が生
じ易い。添加ガラス粉末の添加量が10重量%未満で
は、上記添加ガラス粉末の作用が稀薄になり、一方、2
0重量%を超えると、配線抵抗が著しく高くなる。本発
明で用いる銀粉は、平均粒径を2〜5μmとするのが好
ましい。平均粒径が2μm未満になると上記添加ガラス
粉末の作用を十分発揮させるのに要する該添加ガラス粉
末の添加量が多きに過ぎ易くなり、一方、平均粒径が5
μmを超えると焼成収縮量が極めて小さくなり変形が起
こり易いだけでなく、配線抵抗が高いため該添加ガラス
粉末を十分添加することができ難くなる。
【0008】銀粉と添加ガラス粉末はビヒクルと混練し
てペースト状とされ、150〜400メッシュのスクリ
ーンを用いてスクリーン印刷によってグリーンシート上
に塗布される。従って用いる添加ガラス粉末の粒径はこ
のスクリーンを円滑に通過し得るものならばよく、10
μm以下の粒子をほとんど、例えば80重量%以上含む
ものが好ましい。ビヒクルはエチルセルロース、メタク
リレート樹脂等をタピネオール、ブチルカルビトール、
酢酸−2−n−ブトキシエチル、トルエンなどの溶剤に
溶解したものを使用できる。例えばエチルセルロース1
5〜20重量部をタピネオール85〜80重量部中に溶
解したもの等が適当である。スクリーン印刷により回路
配線を形成するための好適な特性をもったペーストを得
るためには、ビヒクルは固形分100重量部に対し15
〜30重量部とするのがよい。
【0009】
【実施例】
[実施例1〜5、比較例1〜9]ZnOを30.7重量
%、Al23を8.4重量%、B23を7.3重量%お
よびCaOを1.9重量%含み、残部がSiO2 である
組成の結晶化シートガラス粉末(平均粒径2.2μm、
軟化点Ti 715℃)とアルミナ粉末(平均粒径1.1
μm、昭和電工社製、製品名AL−45−1)とを重量
比50/50で混合し、得られたガラスセラミック粉末
100重量部にポリビニルブチラール9重量部、フタル
酸ジイソブチル7重量部、オレイン酸1重量部、エタノ
ール60重量部を加えてボールミルで24時間混合しス
ラリーとした。スラリーは脱泡処理した後ドクターブレ
ード法にて厚さ220μmのグリーンシートを作成し
た。導体組成物は、銀粉(平均粒径2.6μm)90重
量部と表1に示す軟化点Tc を有する添加ガラス粉末
(平均粒径5μm、10μm以下の粒子含有量90重量
%)を10重量部の割合で混合した固形分100重量部
をエチルセルロース12重量部、ポリビニルブチラール
2重量部、タピネオール86重量部からなるビヒクル2
0重量部と混練して作成した。
【0010】ガラスセラミック多層回路基板は、上記グ
リーンシート上に上記導体組成物で配線パターンを印刷
しこれを積層して5層とし、100kg/cm2 、90
℃の条件で加圧成形することにより作成した。この成形
体を875℃で焼成した。このようにして作製した基板
の変形量、面積抵抗値、焼結開始温度を測定した。また
基板内部にデラミ等の不具合がないかを観察によって確
認した。変形量は、大きさ2cm角の配線パターン部を
表面粗さ計で測定し、変形量の許容範囲は、表面部品の
実装等から10μm以下とした。また、面積抵抗値は5
mΩ/□以下を合格とした。試験結果を表1にまとめて
示す。なお、デラミ等の観察の結果、比較例8において
デラミが観察された以外は、いずれも良好であった。
【0011】
【表1】
【0012】[実施例6〜9、比較例10、11]使用
する銀粉の平均粒径を表2に示すようにした以外は、実
施例1と同様に試験した。結果を表2に示す。なお、デ
ラミ等の観察の結果、いずれの実施例および比較例にお
いても、良好であった。
【0013】
【表2】
【0014】[実施例10〜11、比較例12〜15]
使用する銀粉と添加ガラス粉末との混合割合を表3に示
すようにした以外は、実施例1と同様に試験した。結果
を表3に示す。なお、デラミ等の観察の結果、いずれの
実施例および比較例においても、良好であった。
【0015】
【表3】
【0016】表1から、添加ガラス粉末の軟化点Tc
689〜743℃にする、すなわちシートガラス粉末の
軟化点Ti である715℃より26℃の範囲以内とする
ことによって同時焼成する際にガラスセラミック粉末と
銀粉の焼結挙動の違いから生じる変形を少なくする効果
が十分得られることが分かる。ただし、結晶化ガラス粉
末を銀粉に添加した場合はこの効果が不十分である。ま
た、表2および表3から、この効果を十分得るために
は、銀粉の平均粒径や添加ガラス粉末の銀粉への添加割
合に適切な範囲が存在することが分かる。
【0017】
【発明の効果】本発明によれば、ガラスセラミックグリ
ーンシートと回路配線とを同時焼成した際に変形やデラ
ミ等の不具合のない高品質のガラスセラミック多層回路
基板を安価に提供することができる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 C04B 35/64 C22C 32/00 A H05K 1/09 C 7726−4E 3/12 B 7511−4E

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 軟化点がTi ℃のガラス粉末を用いたガ
    ラスセラミックグリーンシートと回路配線とを同時焼成
    して得られる多層回路基板において、 軟化点をTc ℃として、Ti −30≦Tc ≦Ti +30
    を満足する非晶質ガラス粉末を10〜20重量%含み、
    残部が銀粉である組成物から、該回路配線がなることを
    特徴とするガラスセラミック多層回路基板。
  2. 【請求項2】 銀粉は、平均粒径が2〜5μmである請
    求項1に記載のガラスセラミック多層回路基板。
  3. 【請求項3】 非晶質ガラス粉末は、粒径が10μm以
    下の粒子を80重量%以上含む請求項1または2に記載
    のガラスセラミック多層回路基板。
JP6323995A 1994-12-02 1994-12-02 ガラスセラミック多層回路基板 Pending JPH08162762A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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