JPH0817063A

JPH0817063A - 光学式再生装置

Info

Publication number: JPH0817063A
Application number: JP7158962A
Authority: JP
Inventors: Mitsuro Moriya; 充郎守屋; Kazuharu Shiragami; 和治白神; Hiroyuki Yamaguchi; 博之山口
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1995-06-26
Filing date: 1995-06-26
Publication date: 1996-01-19
Anticipated expiration: 2012-12-24
Also published as: JP2695398B2

Abstract

(57)【要約】【目的】異種の記録担体から信号を再生することがで
きるフォーカス制御装置を提供する。【構成】記録担体１を被っているジャケット４は記録
担体１の種類に応じて形状が異なっている。記録担体１
が装置に装填されると、判別器４はジャケット４の形状
に応じた信号を処理回路５に送り、処理回路５は装填さ
れた記録担体１の種類に応じた判別信号をゲイン切換回
路３３及び４３に送り、回路ゲインを切り換える。した
がって、フォーカス制御ループのゲインが所定の値とな
るように回路ゲインが切り換えられるので、フォーカス
制御が極めて安定に動作する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光源より発生した光ビ
ームを記録担体上に収束して照射させ、記録担体上に記
録されている信号を再生するあるいは記録担体上に信号
を記録する光学式記録再生装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】光学式記録再生装置に使用される記録担
体は主として２つに大別することが出来る。その１つは
記録材料層を有する記録担体であり、他の１つは記録材
料層を有しない記録担体である。前者は、凹凸の溝トラ
ックを有する基材表面に記録材料層を蒸着等の手段によ
って形成し、その記録材料層面に保護層を設けたもので
あり、この種の記録担体は信号を新たに記録出来るが、
信号が記録された記録担体を大量に複製することが非常
に困難であり、複製すると記録担体の価格が高いものに
なるという欠点を有している。

【０００３】後者は、凹凸の形態で信号が記録されてい
るものであり、この種の記録担体は新たに信号を記録す
ることは出来ないが、射出成形等の手段によって複製が
非常に簡単に出来、記録担体の価格を安価に出来るとい
う利点を有している。

【０００４】情報には種々のものがあるが、例えばパー
ソナルコンピュータ等に使用される情報を分類すると大
きく２つに分けることが出来る。すなわち、１つは装置
に共通して用いいられる情報であり、他の１つは装置に
共通せず、装置を使用する人が必要に応じて記録する情
報である。前者は同じものを大量に必要とするので、記
録担体としては複製が簡単に出来る記録材料層を有しな
い記録担体が適しており、後者は信号が記録出来る必要
があるので、記録担体としては記録材料層を有する記録
担体でなければならない。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】上述した２種類の記録
担体は、記録担体面の反射率が大きく異なる、あるいは
光ビームが追跡するトラックの形態が異なる等の理由か
ら同一の装置に装填し、信号を記録するあるいは記録さ
れている信号を再生することが出来なかった。また、記
録できる記録担体の場合に、記録時と再生時とで照射光
量が大きく異なるために、フォーカス制御系のループゲ
インが大きく変動し、安定した記録再生が出来なかっ
た。

【０００６】本発明の目的は、上記従来の装置の欠点を
除去し、上述した２種類の記録担体を装填することが出
来る装置、すなわち記録材料層を有する記録担体が装填
された場合には信号を記録するあるいは記録されている
信号を再生することが出来、記録材料層を有しない記録
担体が装填された場合にも信号を再生することが出来る
装置を提供せんとすることである。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明は、光源から発生
した光ビームを記録担体上に収束して照射する収束手段
と、収束手段を記録担体面に対して略垂直な方向に移動
する移動手段と、記録担体により反射された反射ビーム
より記録担体上の光ビームのフォーカスずれを検出し、
このフォーカスずれ信号に基づいて移動手段を駆動して
記録担体上の光ビームの収束状態が常に所定の状態とな
るように制御するフォーカス制御手段と、装置に装填さ
れた記録担体の種類を記録担体を被っている被覆体の形
状より判別する判別手段とを有し、判別手段の信号に応
じてフォーカス制御手段の回路ゲインを切り換えるよう
に構成したものである。

【０００８】また、本発明は、記録担体上の光ビームの
収束状態が常に所定の状態となるように制御するフォー
カス制御手段と、フォーカス制御手段の回路ゲインを切
り換える第１のゲイン切り換え手段と、記録担体上の光
ビームが常にトラック上に位置するように制御するトラ
ッキング制御手段と、トラッキング制御手段の回路ゲイ
ンを切り換える第２のゲイン切り換え手段と、装置に装
填された記録担体の種類を判別する判別手段とを備え装
置において、判別手段の信号に応じて第１のゲイン切り
換え手段と第２のゲイン切り換え手段により回路ゲイン
を切り換える際に、フォーカス制御手段の切り換えゲイ
ンとトラッキング制御手段の切り換えゲインとを異なら
せたものである。

【０００９】

【作用】本発明は上記構成により、装置に装填された記
録担体の種類を記録担体を被っている被覆体の形状より
判別し、判別した結果に基づいてフォーカス制御手段の
回路ゲインを切り換えるので、簡単な構成で高速かつ信
頼性良く記録担体の種類を判別することができ、また、
フォーカス制御ループのゲインがほぼ一定となるのでフ
ォーカス制御が極めて安定となる。

【００１０】また、本発明は、判別手段の信号に応じて
第１のゲイン切り換え手段と第２のゲイン切り換え手段
により回路ゲインを切り換える際に、フォーカス制御手
段の切り換えゲインとトラッキング制御手段の切り換え
ゲインとを異ならせるので、フォーカス制御ループとト
ラッキング制御ループの双方のゲインがほぼ一定とな
り、フォーカス制御及びトラッキング制御を共に安定に
することができる。

【００１１】

【実施例】以下図面を参照して本発明を詳細に説明す
る。尚、図面の説明に用いる番号において、同じものに
ついては同一番号を用いる。

【００１２】図１は本発明の１実施例である。同心円状
のトラックを有する円盤状の記録担体１はディスクモー
タ２の回転軸に取り付けられて所定の回転数で回転して
いる。記録担体１はジャケット３により被われており、
ゴミ・ホコリ等が付着しないように保護されている。

【００１３】記録担体１を判別するための判別器４は発
光ダイオードと受光素子より構成されている。ジャケッ
ト３は記録担体１の種類に応じて異なった形状をしてお
り、記録担体１が入ったジャケット３を装填すると、判
別器４の発光ダイオードより発生した光ビームがジャケ
ット３により遮蔽されて受光素子に光ビームが照射され
なくなったり、あるいは発光ダイオードより発生した光
ビームが遮蔽されず受光素子に照射されたりする。処理
回路５には判別器４の受光素子の信号が入力されてお
り、処理回路５は記録担体１の種類に応じた信号を出力
する。

【００１４】光学系について説明すると、半導体レーザ
等の光源６より発生した光ビーム７はカップリングレン
ズ８により略々平行光にされ、偏向ビームスプリッター
９、λ／４板１０（λは光ビーム７の波長）を通過し、
反射鏡１１により反射され、収束レンズ１２により記録
担体１上に収束して照射されている。記録担体１により
反射された光ビーム７の反射光１３は、再び収束レンズ
１２を通過し、反射鏡１１により反射され、λ／４板１
０を通過し、偏光ビームスプリッター９により反射さ
れ、凸レンズ１４及びシリンドリカルレンズ１５を通過
し、後に詳述するが４分割構造の光検出器１６上に照射
されている。

【００１５】収束レンズ１２はゴム等によって支えられ
ており、フォーカス素子１７に電流を流すと、電磁力に
よって収束レンズ１２は記録担体１の面と略々垂直な方
向に移動し、トラッキング素子１８に電流を流すと収束
レンズ１２は電磁力によって記録担体１上のトラック方
向と略々垂直な方向すなわち記録担体１の半径方向に移
動するように構成されている。

【００１６】光源６、カップリングレンズ８、偏光ビー
ムスプリッター９、λ／４板１０、反射鏡１１、フォー
カス素子１７、トラッキング素子１８、凸レンズ１４、
シリンドリカルレンズ１５及び光検出器１６は移送台１
９に取り付けられており、リニアモータ２０を駆動すれ
ば一体となって記録担体１の半径方向に移動するように
構成されている。

【００１７】制御信号検出について説明する。光検出器
１６のそれぞれの信号は、ライン２１、２２、２３及び
２４を通じて出力されている。合成回路２５、２６、２
７、２８及び２９は入力されている信号を加算する回路
であり、合成回路２５の入力端にはライン２１と２２
が、合成回路２６の入力端にはライン２３と２４が、合
成回路２７の入力端にはライン２１と２３が、合成回路
２８の入力端にはライン２２と２４が、合成回路２９の
入力端にはライン２１、２２、２３及び２４がそれぞれ
接続されている。差動増幅器３０には合成回路２７及び
２８の信号が入力されており、差動増幅器３０は合成回
路２７の信号と合成回路２８の信号の差信号を出力す
る。後に詳述するが、差動増幅器３０は記録担体１上の
光ビーム７の収束状態を表わす信号、すなわちフォーカ
ス制御信号を出力する。差動増幅器３１には合成回路２
５及び２６の信号が入力されており、差動増幅器３１は
合成回路２５の信号と合成回路２６の信号の差信号を出
力する。差動増幅器３１は後に詳述するが記録担体１上
に収束されている光ビーム７とトラックの位置ずれを表
わす信号、すなわちトラッキング制御信号を出力する。

【００１８】フォーカス制御について説明すると、差動
増幅器３０の信号は割算器３２、ゲイン切換回路３３、
フォーカス制御系の位相を補償するための位相補償回路
３４、フォーカス制御を不動作にするためのスイッチ３
５、電力増幅するための駆動回路３６を介してフォーカ
ス素子１７に加えられており、フォーカス素子１７は差
動増幅器３０の信号に応じて収束レンズ１２を記録担体
１の面と略々垂直な方向に移動させ、記録担体１上の光
ビーム７が常に一定の収束状態となるように制御する。

【００１９】トラッキング制御について説明すると、差
動増幅器３１の信号は割算器３７、ゲイン切換回路３
８、トラッキング制御系の位相を補償するための位相補
償回路３９、トラッキング制御を不動作にするためのス
イッチ４０、電力増幅するための駆動回路４１を介して
トラッキング素子１８に加えられており、トラッキング
素子１８は差動増幅器３１の信号に応じて収束レンズ１
２を記録担体１の半径方向に移動させ、記録担体１上の
光ビーム７が常にトラック上にあるように制御する。ま
た、駆動回路４１の信号はリニアモータ２０を駆動する
ための駆動回路４２に入力されており、リニアモータ２
０は駆動回路４１の出力が平均的に零となるように、言
い換えればトラッキング素子１８によって移動される収
束レンズ１２が自然の状態を中心に移動するように移送
台１９を移動させる。

【００２０】フォーカス制御及びトラッキング制御が安
定に動作しなければ、品質のよい記録及び再生を行うこ
とは出来ない。フォーカス制御及びトラッキング制御を
安定に動作させるためには、制御系のループゲインが変
化しないようにすることが極めて重要である。割算器３
２、３７及びゲイン切換回路３３、３８はこのためのも
のであり、以下これらの動作について説明をする。

【００２１】合成回路２９は前述したように、光検出器
１６の４つの出力を加算した信号を出力し、この信号は
ゲイン切換回路４３を介して割算器３２、３７に入力さ
れている。割算器３２は、差動増幅器３０の出力をＸ
１、ゲイン切換回路４３の出力をＹとするとＸ１／Ｙの
値に相当する信号を出力し、割算器３７も同様に、差増
幅器３１の出力をＸ２とするとＸ２／Ｙの値に相当する
信号を出力する。

【００２２】処理回路５の信号はゲイン切換回路３３、
３８及び４３にそれぞれ入力されており、ゲイン切換回
路３３、３８及び４３は処理回路５の信号に応じて増幅
率を切り換える。例えば、第１の記録担体が装填されて
いる状態のゲイン切換回路３３、３８及び４３の増幅率
をＧ１ａ、Ｇ２ａ、Ｇ３ａとし、第２の記録担体が装填
されている状態のゲイン切換回路３３、３８及び４３の
増幅率をＧ１ｂ、Ｇ２ｂ、Ｇ３ｂとすると、Ｇ１ｂ／Ｇ１ａ＝Ｇ３ｂ／Ｇ３ａ＝Ｋ（Ｋは正の実数）が略々成り立ち、後に詳述するがＧ２ｂ／Ｇ２ａ＜Ｋの
ように構成されている。

【００２３】フォーカス制御のループゲイン変化を防止
する動作に付いてさらに説明する。第１の記録担体の反
射率をＫＲ、第２の記録担体の反射率をＫＷ、ＫＲ／Ｋ
Ｗ＝Ｋとすると、第１の記録担体を装填した場合の合成
回路２９の出力は第２の記録担体を装填した場合のそれ
ぞれのＫ倍になるが、ゲイン切換回路４３の増幅率が１
／Ｋ倍になるので、ゲイン切換回路４３の出力は変化し
ない。一方、第１の記録担体を装填した場合の単位フォ
ーカスずれに対する差動増幅器３０の出力は、第２の記
録担体を装填した場合のそれのＫ倍になる。

【００２４】また第１の記録担体を装填した時のゲイン
切換回路４３の出力と第２の記録担体を装填した時のそ
れは同じである。従って第１の記録担体を装填した場合
の単位フォーカスずれに対する割算器３０の出力は、第
２の記録担体を装填した場合のそれのＫ倍になる。しか
し第１の記録担体を装填した時のゲイン切換回路３３の
増幅率は第２の記録担体を装填した時のそれの１／Ｋに
なるので、単位フォーカスずれに対するゲイン切換回路
３３の出力は変化しない。従って第１の記録担体と第２
の記録担体は反射率が異なるが、フォーカス制御のルー
プゲインは変化しない。

【００２５】以上説明したように、第１の記録担体を装
填しても第２の記録担体を装填してもフォーカス制御の
ループゲインが変化しないのは、ゲイン切換回路３３の
増幅率が第１の記録担体を装填した場合と第２の記録担
体を装填した場合とで切り換えられるからである。

【００２６】割算器３２及びゲイン切換回路４３の動作
について説明する。フォーカス制御ループゲインを変化
させる要因としては種々のものがあり、例えば、同一種
類の記録担体１の反射率のバラツキ、光源６から発生し
ている光ビーム７の光量変化、光検出器１６の温度特性
あるいはゴミ・ホコリ等による光ビーム７の伝達効率の
低下等である。これらの影響は全て合成回路２９の出力
変化として現れる。合成回路２９の出力がＫｉ倍になる
と、単位フォーカスずれに対する差動増幅器３０の出力
もＫｉ倍になる。当然のことながら、ゲイン切換回路４
３の出力もＫｉ倍になるので、単位フォーカスずれに対
する割算器３２の出力は常に一定となり、上述した要因
によってフォーカス制御のループゲインが変化すること
はない。

【００２７】フォーカス制御のループゲインを一定に保
つのに、本発明の実施例のように、第１の記録担体と第
２の記録担体とでゲインを切り換えず、例えばゲイン切
換回路３３を省略し、合成回路２９の信号を割算器３２
に入力するように構成してもよいが、このように構成す
ると割算器３２の割算範囲が広くなり、割算器３２が高
価になる。

【００２８】このことについてさらに説明すると、例え
ば、同一種類の記録担体１の反射率バラツキ、光源６か
ら発生している光ビーム７の光量変化、光検出器１６の
温度変化あるいはゴミ・ホコリ等による光ビーム７の伝
達効率の低下等によって合成回路２９の出力が変化する
割合、すなわち合成回路２９の出力の最低値をＶｍｉ
ｎ、最大値Ｖｍａｘとした時のＶｍａｘ／Ｖｍｉｎの値
が４倍、前述したＫの値を５倍とすると、割算範囲は２
０倍必要となるが、本発明の実施例によれば割算範囲は
４倍で済み、簡単な割算器で構成することが出来る。

【００２９】トラッキング制御ループゲイン変化を防止
する動作について以下に説明する。第１の記録担体を装
填した場合の単位トラックずれに対する差動増幅器３１
の出力をＫ１Ｔ、第２の記録担体を装填した場合のそれ
をＫ２Ｔとすると、Ｋ１Ｔ／Ｋ２Ｔの値はＫとはならな
い。

【００３０】これについては後に詳述するが、フォーカ
ス制御信号の検出感度は、記録担体の種類に関係なく、
記録担体の反射率に比例するのに対して、第１の記録担
体の反射率が第２の記録担体の反射率のＫ倍であって
も、トラッキング制御信号の検出感度はＫ倍とならな
い。Ｋ１Ｔ／Ｋ２Ｔの値をＫｃ、第１の記録担体が装填
されている状態のゲイン切換回路３８の増幅率をＧ２
ａ、第２の記録担体が装填されている状態のそれをＧ２
ｂとすると、Ｇ２ｂ／Ｇ２ａ＝Ｋｃが略々成り立つよう
に構成されている。

【００３１】第１の記録担体を装填した時の単位トラッ
クずれに対する差動増幅器３１の出力は、第２の記録担
体を装填した時のそれのＫｃ倍になる。前述したように
ゲイン切換回路４３の出力は、第１の記録担体を装填し
た時と第２の記録担体を装填した時とで変化しないか
ら、第１の記録担体を装填した時の単位トラックずれに
対する割算器３７の出力は、第２の記録担体を装填した
時のそれのＫｃ倍になる。しかし、第１の記録担体を装
填した時のゲイン切換回路３８の増幅率は第２の記録担
体を装填した時のそれの１／Ｋｃとなるので、単位トラ
ックずれに対するゲイン切換回路３８の出力は変化しな
い。従って第１の記録担体と第２の記録担体とではトラ
ッキング制御信号の検出感度が異なるが、トラッキング
制御ループゲインは変化しない。

【００３２】トラッキング制御のループゲインを変化さ
せる要因としては、前述したフォーカス制御のループゲ
インを変化させる要因が考えられる。これらの要因によ
って合成回路２９の出力がＫｉ倍になると、単位トラッ
クずれに対する差動増幅器３１の出力もＫｉ倍になる。
ゲイン切換回路４３の出力もＫｉ倍になるから、単位ト
ラックずれに対する割算器３７の出力は常に一定とな
り、トラッキング制御のループゲインは一定に保たれ
る。尚、本発明の実施例においてトラッキング制御に用
している割算器３７は前述したフォーカス制御に使用し
ている割算器３２と同様に割算範囲を狭く出来ることは
言うまでもない。

【００３３】本発明の実施例は、記録材料層を有する第
２の記録担体を装填して信号を記録する場合に、割算器
３２及び３７の割算範囲が狭くなるように構成されてい
る。以下、このことについて説明する。

【００３４】フォーカス制御及びトラッキング制御が動
作している状態で、記録する信号に応じて光源６から発
生している光ビーム７の光量を強弱に変調すると、強い
光ビーム７が照射された記録担体１の部分が光ビーム７
の熱によって物理的に変化し信号が記録される。記録時
の光ビーム７の光量は記録担体１の場所によって異なる
が、再生時の光ビーム７の光量の７から１０倍程度であ
る。

【００３５】入力端子４４には記録期間信号すなわち記
録担体１上に信号を記録するために光ビーム７の光量が
強弱に変調されている期間を表す信号が入力される。入
力端子４４の信号はゲイン切換回路３３、３８及び４３
にそれぞれ伝達されており、記録期間信号が入力端子４
４に入力されると、ゲイン切換３３、３８及び４３の増
幅率が１／Ｎに低下するように構成されている。Ｎは正
の実数で、記録時の光ビーム７の平均的な光量をＰＲＥ
Ｃ、再生時の光ビーム７の光量をＰＰＢとすると、Ｎ＝
ＰＲＥＣ／ＰＰＢが略々成り立つように設定されてい
る。

【００３６】ＰＲＥＣ＝Ｎ×ＰＰＢなる場合を例にとっ
て説明すると、記録時の合成回路２９の出力は再生時の
それのＮ倍となるが、記録時にゲイン切換回路４３の増
幅率が１／Ｎになるので、ゲイン切換回路４３の出力は
記録時と再生時で変化しない。記録時の単位フォーカス
ずれに対する差動増幅器３０の出力は再生時のそれのＮ
倍となる。ゲイン切換回路４３の出力が記録時と再生時
で変化しないから、記録時の単位フォーカスずれに対す
る割算器３２の出力もＮ倍となるが、記録時にゲイン切
換回路３３の増幅率が１／Ｎになるので、記録時の単位
フォーカスずれに対するゲイン切換回路３３の出力は記
録時と再生時とで変化せずフォーカス制御のループゲイ
ンは一定に保たれる。

【００３７】記録時の光ビーム７の光量は記録担体１の
場所によって異なり、一般に記録担体１の内周では弱
く、外周では強い。このような記録担体１の場所による
記録光量の変化にょるフォーカス制御系のループゲイン
変化は、前述したように割算器３２で吸収され一定に保
たれる。

【００３８】以上記録時のフォーカス制御回路の動作に
ついて説明したが、トラッキング制御回路の動作につい
ては前述の説明で容易に理解できるので省略する。

【００３９】図２は記録材料層を有しない第１の記録担
体１の説明図である。図２（ａ）において、斜線部５１
は凹凸の形態で信号が記録されている領域を示してい
る。図２（ｂ）は図２（ａ）において破線５２で示した
領域を拡大した図であり、５３は凹凸形態のピット、５
４はピット５３が並んだトラックである。図２（ｃ）は
図２（ｂ）に示した一点鎖線５５で切断した遮断図であ
り、５６は基材、５７はアルミニウム等の金属層、５８
は保護層である。５９はピット５３の深さを示してお
り、ピット５３の深さｄ１とするとｄ１＝λ／（８×ｎ
１）になっている。ただし、λは光ビーム７の波長、ｎ
１は基材５６の屈折率である。

【００４０】図３は記録材料層を有する第２の記録担体
１の説明図である。図３（ａ）において、斜線部は凹凸
の形態で溝トラックが記録されている領域であり、追跡
トラック部６１とアドレス部６２より構成されている。
図３（ｂ）は図３（ａ）において破線６３で示した領域
を拡大した図であり、トラック６４は溝状の追跡トラッ
ク６５と凹凸形態のピット６６より構成されている。ト
ラック６４は同心円状に形成されており、ピット６６は
追跡トラック６５を識別する為のアドレス情報を含んで
いる。当然のことであるがアドレス情報の部分はトラッ
ク６４のごく一部にすぎない。図３（ｃ）は図３（ｂ）
に示した一点鎖線６７で切断した断面図であり、６８は
基材、６９は記録材料層、７０は保護層である。７１は
ピット６６及び追跡トラック６５の深さを示しており、
深さをｄ２とすると、ｄ２＝λ／（８・ｎ２）になって
いる。ただしｎ２は基材６８の屈折率である。言うまで
もないが、信号は追跡トラック６５上に記録される。

【００４１】フォーカス制御信号及びトラッキング制御
信号の検出について、図４と共に説明する。図４は光検
出器１６上の反射光１３のビームスポット形状を示した
図である。光検出器１６は、１６ａ、１６ｂ、１６ｃ及
び１６ｄの４つの受光領域を有し、受光領域１６ａ、１
６ｂ、１６ｃ、及び１６ｄの信号は図１のライン２１、
２２、２３、及び２４を通じて出力される。１３ａ、１
３ｂ及び１３ｃは反射光１３のビームスポット形状を示
したものであり、ビームスポット１３ａは記録担体１と
収束レンズ１２の距離が正規になっていて、光ビーム７
の収束点が記録担体１上にある状態を示している。ビー
ムスポット１３ｂは記録担体１と収束レンズ１２の距離
が離れすぎている状態の反射光１３を示し、ビームスポ
ット１３ｃは記録担体１と収束レンズ１２の距離が近づ
き過ぎている状態の反射光１３を示している。差動増幅
器３０はこの反射光１３の形状変化に対応した信号、す
なわち、受光領域１６ａ、１６ｂ、１６ｃ、１６ｄの出
力をＳ１、Ｓ２、Ｓ３、Ｓ４とすると、｛（Ｓ１＋Ｓ
３）−（Ｓ２＋Ｓ４）｝に対応した信号を出力する。当
然のことであるが、フォーカス制御が動作している状態
においては、反射光１３はビームスポット１３ａのよう
になっている。

【００４２】矢印８１はトラック方向すなわちトラック
の長手方向を示している。差動増幅器３１は、｛（Ｓ１
＋Ｓ２）−（Ｓ３＋Ｓ４）｝に対応した信号を出力す
る。差動増幅器３１が記録担体１上に収束されている光
ビーム７とトラックの位置ずれを表す信号を出力するこ
とは即知であり、詳述するのを避ける。

【００４３】第１の記録担体の反射率が第２の記録担体
の反射率のＫ倍であっても、トラッキング制御信号の検
出感度がＫ倍とならないことを図５と共に説明する。図
５は第１の記録担体を装填し、記録担体１上の光ビーム
７がトラックを１本横切った時のＳｔ＝｛（Ｓ１＋Ｓ
２）−（Ｓ３＋Ｓ４）｝を表したものである。尚、ｘ軸
をトラックずれ量、ｙ軸をＳｔにして表している。図２
に示したピット５３上を光ビーム７が走査している時だ
け、記録担体１上の光ビーム７とトラック５４の位置ず
れに対応した信号（波形９１）が出力され、ピットとピ
ットの間を光ビーム７が走査している時は出力されな
い。

【００４４】しかしピット５３の長さ及びピットとピッ
トの間の長さは非常に短かいので、トラッキング制御を
動作させた時、記録担体１上の光ビーム７がトラック５
４上を走査できる。例えばトラッキング制御の応答性は
１０ＫＨｚ程度で記録担体１上に記録されている信号は
数ＭＨｚである。従って実際は、トラッキング制御信号
は波形９１を低域通過フィルターに介したような波形９
２となり、トラッキング制御信号の検出感度は低下す
る。一方、図３の記録担体はアドレス部を除いて連続し
たトラックになっているので、検出感度は低下しない。
従って、第１の記録担体を装填した場合の単位トラック
ずれに対する差動増幅器３１の出力をＫ１Ｔ、第２の記
録担体を相填した場合のそれをＫ２ＴとするとＫ１Ｔ／
Ｋ２Ｔの値はＫとならず、Ｋ１Ｔ＜Ｋ×Ｋ２Ｔとなる。

【００４５】以上、本発明を詳細に説明したが、本発明
は上述した実施例により何ら限定されることはない。例
えば記録担体の判別は記録担体の反射率の差を検出して
行ってもよい。より具体的には、合成回路２９の出力の
大きさでも判別することが出来る。

【００４６】またフォーカス制御信号及びトラッキング
制御信号を検出するための光学系は種々のものが発表さ
れているが、本発明に関してはどのような光学系であっ
ても問題はない。

【００４７】

【発明の効果】本発明を適応すれば、装置に装填された
記録担体の種類を記録担体を被っている被覆体の形状よ
り判別し、判別した結果に基づいてフォーカス制御手段
の回路ゲインを切り換えるので、簡単な構成で高速かつ
信頼性良く記録担体の種類を判別することができ、ま
た、フォーカス制御ループのゲインがほぼ一定となるの
でフォーカス制御が極めて安定となる。

【００４８】また、装置に装填された記録担体に応じて
光量検出回路とフォーカス制御回路の回路ゲインをほぼ
同じ比率で切り換えるので、反射光量の大きさに反比例
して回路ゲインを変化させるためにフォーカス制御回路
内に設けられている割算器の割算範囲を狭くすることが
でき、回路を簡単かつ安価とすることができる。

【００４９】また、フォーカス制御手段の切り換えゲイ
ンとトラッキング制御手段の切り換えゲインとを異なら
せるので、フォーカス制御ループとトラッキング制御ル
ープの双方のゲインがほぼ一定となり、フォーカス制御
及びトラッキング制御を共に安定にすることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の１実施例のブロック図

【図２】第２図は記録材料層を有しない第１の記録担体
の説明図

【図３】記録材料層を有する第２の記録担体の説明図

【図４】光検出器上の反射光のビームスポット形状を示
した図

【図５】第１の記録担体を装填した時のトラッキング制
御信号の波形図

【符号の説明】

１記録担体３ジャケット４判別器５処理回路１６光検出器１７フォーカス素子２７合成回路２８合成回路２９合成回路３０差動増幅器３２割算器３３ゲイン切換回路３４位相補償回路３５スイッチ３６駆動回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】反射率の異なる異種の記録担体を装填する
装置であって、光源から発生した光ビームを記録担体上
に収束して照射する収束手段と、前記収束手段を記録担
体面に対して略垂直な方向に移動する移動手段と、記録
担体により反射された反射ビームより記録担体上の光ビ
ームのフォーカスずれを検出し、このフォーカスずれ信
号に基づいて前記移動手段を駆動して記録担体上の光ビ
ームの収束状態が常に所定の状態となるように制御する
フォーカス制御手段と、装置に装填された記録担体の種
類を記録担体を被っている被覆体の形状より判別する判
別手段とを有し、前記判別手段の信号に応じて前記フォ
ーカス制御手段の回路ゲインを切り換えることを特徴と
する光学式再生装置。
【請求項２】記録担体により反射された反射ビームの光
量を検出する光量検出手段を備え、前記光量検出手段の
信号の大きさに反比例して回路ゲインが変化するように
フォーカス制御手段を構成し、前記判別手段の信号に応
じて前記光量検出手段と前記フォーカス制御手段の回路
ゲインをほぼ同じ比率で切り換えることを特徴とする請
求項１記載の光学式再生装置。
【請求項３】反射率の異なる異種の記録担体を装填する
装置であって、光源から発生した光ビームを記録担体上
に収束して照射する収束手段と、前記収束手段を記録担
体面に対して略垂直な方向に移動する第１の移動手段
と、記録担体により反射された反射ビームより記録担体
上の光ビームのフォーカスずれを検出し、このフォーカ
スずれ信号に基づいて前記第１の移動手段を駆動して記
録担体上の光ビームの収束状態が常に所定の状態となる
ように制御するフォーカス制御手段と、前記フォーカス
制御手段の回路ゲインを切り換える第１のゲイン切り換
え手段と、記録担体上に収束されている光ビームをトラ
ック方向と略垂直な方向に移動する第２の移動手段と、
記録担体上の光ビームとトラックとの位置ずれを検出す
るトラックずれ検出手段と、前記トラックずれ検出手段
の信号に応じて前記第２の移動手段を駆動し、記録担体
上の光ビームが常にトラック上に位置するように制御す
るトラッキング制御手段と、前記トラッキング制御手段
の回路ゲインを切り換える第２のゲイン切り換え手段
と、装置に装填された記録担体の種類を判別する判別手
段とを備え、前記判別手段の信号に応じて前記第１のゲ
イン切り換え手段と前記第２のゲイン切り換え手段によ
り回路ゲインを切り換える際に、前記フォーカス制御手
段の切り換えゲインと前記トラッキング制御手段の切り
換えゲインとを異ならせたことを特徴とする光学式再生
装置。