JPH08172151A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
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- JPH08172151A JPH08172151A JP6313061A JP31306194A JPH08172151A JP H08172151 A JPH08172151 A JP H08172151A JP 6313061 A JP6313061 A JP 6313061A JP 31306194 A JP31306194 A JP 31306194A JP H08172151 A JPH08172151 A JP H08172151A
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- solder
- island portion
- lead terminal
- semiconductor device
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- H10W72/01—Manufacture or treatment
- H10W72/011—Apparatus therefor
- H10W72/0113—Apparatus for manufacturing die-attach connectors
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- H10W72/073—Connecting or disconnecting of die-attach connectors
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- H10W72/531—Shapes of wire connectors
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- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/731—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of die-attach connectors
- H10W90/736—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of die-attach connectors between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
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- Die Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 リード端子間の電気的ショートを防止するこ
とにより、歩留まりの向上し得る複数端子型の半導体装
置を提供することを目的とする。 【構成】 本発明は、上面に複数の電極部を形成した半
導体チップと、該半導体チップの下面に接続した下面側
リード端子と、前記複数の電極部のそれぞれに半田を介
して接続した複数の上面側リード端子と、前記半導体チ
ップを覆うモールド部とを備えた半導体装置であって、
前記複数の上面側リード端子間を、非半田付着性であり
且つ絶縁性の樹脂体で一体的に接続したことを特徴とす
る半導体装置を特徴とする半導体装置である。
とにより、歩留まりの向上し得る複数端子型の半導体装
置を提供することを目的とする。 【構成】 本発明は、上面に複数の電極部を形成した半
導体チップと、該半導体チップの下面に接続した下面側
リード端子と、前記複数の電極部のそれぞれに半田を介
して接続した複数の上面側リード端子と、前記半導体チ
ップを覆うモールド部とを備えた半導体装置であって、
前記複数の上面側リード端子間を、非半田付着性であり
且つ絶縁性の樹脂体で一体的に接続したことを特徴とす
る半導体装置を特徴とする半導体装置である。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、リード端子に形成され
たアイランド部に半導体チップを半田を介して接続する
といった構造を有するトランジスタ、ダイオード等の半
導体装置に関するものである。
たアイランド部に半導体チップを半田を介して接続する
といった構造を有するトランジスタ、ダイオード等の半
導体装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体チップをエポキシ樹脂等
からなるモールド部により覆い、該モールド部より複数
のリード端子が突出するタイプの半導体装置は、例え
ば、3端子型のダイオードを例にとり、図7を参照しつ
つ説明すると、次のような構造を有する。
からなるモールド部により覆い、該モールド部より複数
のリード端子が突出するタイプの半導体装置は、例え
ば、3端子型のダイオードを例にとり、図7を参照しつ
つ説明すると、次のような構造を有する。
【0003】すなわち、このダイオードは、第1リード
端子31の先端に設けられたアイランド部32上に、半
導体チップ33をダイボンディングし、この半導体チッ
プ33上面に設けられた2つの電極部34、35と、こ
れらに対応する第2リード端子36および第3リード端
子37との間を、金線等の細い金属線38によるワイヤ
ボンディングにてそれぞれ電気的に接続したのち、半導
体チップ33の部分をモールド部39にてパッケージす
るといった構造を有する。
端子31の先端に設けられたアイランド部32上に、半
導体チップ33をダイボンディングし、この半導体チッ
プ33上面に設けられた2つの電極部34、35と、こ
れらに対応する第2リード端子36および第3リード端
子37との間を、金線等の細い金属線38によるワイヤ
ボンディングにてそれぞれ電気的に接続したのち、半導
体チップ33の部分をモールド部39にてパッケージす
るといった構造を有する。
【0004】上記アイランド部32と半導体チップ33
との間には、半田40が介在している。この半田40
は、上記半導体チップ33のダイボンディングの後に、
加熱炉に送り込まれる等して半田40の融点以上の温度
下に加熱されることにより溶融されて、アイランド部3
2および半導体チップ33と各々合金化接合される。
との間には、半田40が介在している。この半田40
は、上記半導体チップ33のダイボンディングの後に、
加熱炉に送り込まれる等して半田40の融点以上の温度
下に加熱されることにより溶融されて、アイランド部3
2および半導体チップ33と各々合金化接合される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、半田4
0は、上記合金化時において、一旦溶融されてペースト
状態となった後に、その内部へ収縮する方向に不均一に
流動しつつ固化するので、この流動にともなって半田4
0上の半導体チップ33を移動させてしまう場合があ
る。この場合、半導体チップ33は、アイランド部32
上において、図8(a)に示すような回転方向への位置
ずれを起こしたり、図8(b)に示すような横方向への
位置ずれを起こしたりして、該アイランド部32上にお
ける位置精度が悪くなる。このような位置ずれを起こし
た半導体チップ33の各電極部34、35に対して、ワ
イヤ38を的確にボンディングすることは難しく、場合
によっては図8(c)に示すように、ワイヤ38と各電
極部34、35との接続面積が小さくなって、その接続
部分での電気抵抗値が大きくなってしまい電気的特性を
悪化させてしまうことがある外、ワイヤ38と各電極部
34、35との未接続を引き起こすこともある。
0は、上記合金化時において、一旦溶融されてペースト
状態となった後に、その内部へ収縮する方向に不均一に
流動しつつ固化するので、この流動にともなって半田4
0上の半導体チップ33を移動させてしまう場合があ
る。この場合、半導体チップ33は、アイランド部32
上において、図8(a)に示すような回転方向への位置
ずれを起こしたり、図8(b)に示すような横方向への
位置ずれを起こしたりして、該アイランド部32上にお
ける位置精度が悪くなる。このような位置ずれを起こし
た半導体チップ33の各電極部34、35に対して、ワ
イヤ38を的確にボンディングすることは難しく、場合
によっては図8(c)に示すように、ワイヤ38と各電
極部34、35との接続面積が小さくなって、その接続
部分での電気抵抗値が大きくなってしまい電気的特性を
悪化させてしまうことがある外、ワイヤ38と各電極部
34、35との未接続を引き起こすこともある。
【0006】本発明は、以上のような状況下で考え出さ
れたもので、アイランド部上の半導体チップのボンディ
ング位置をより高精度に維持し、電気的特性の安定した
より信頼性の高い半導体装置を提供することを目的とす
る。
れたもので、アイランド部上の半導体チップのボンディ
ング位置をより高精度に維持し、電気的特性の安定した
より信頼性の高い半導体装置を提供することを目的とす
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に本発明は、上面に複数の電極部を形成した半導体チッ
プと、先端にアイランド部を有し且つ該アイランド部に
前記半導体チップの下面を半田を介して接続した下面側
リード端子と、前記各電極部のそれぞれに接続した複数
の上面側リード端子と、前記半導体チップ、前記下面側
リード端子および前記複数の上面側リード端子を覆うモ
ールド部とを備えた半導体装置において、前記半導体チ
ップの対角方向の2つの隅角部と前記アイランド部との
間にそれぞれ前記半田を設けたことを特徴とする半導体
装置を提供するものである。
に本発明は、上面に複数の電極部を形成した半導体チッ
プと、先端にアイランド部を有し且つ該アイランド部に
前記半導体チップの下面を半田を介して接続した下面側
リード端子と、前記各電極部のそれぞれに接続した複数
の上面側リード端子と、前記半導体チップ、前記下面側
リード端子および前記複数の上面側リード端子を覆うモ
ールド部とを備えた半導体装置において、前記半導体チ
ップの対角方向の2つの隅角部と前記アイランド部との
間にそれぞれ前記半田を設けたことを特徴とする半導体
装置を提供するものである。
【0008】
【発明の作用及び効果】本発明の半導体装置によれば、
半導体チップの対角方向の2つの隅角部とアイランド部
との間にそれぞれ半田を設けたので、各隅角部における
半田は、半導体チップおよびアイランド部に接続される
際に、一旦溶融された後にそれぞれの内部へ収縮する方
向に流動して、各半田上に跨った状態の半導体チップを
互いに引き合うような状態で固化する。この半導体チッ
プを互いに引き合う力は、各半田においてそれぞれの内
部に収縮する方向に不均一に流動して半田上の半導体チ
ップを移動させようとする力を抑制することになる。こ
のため、半導体チップは、アイランド部上で非常に移動
しにくい状態になる。
半導体チップの対角方向の2つの隅角部とアイランド部
との間にそれぞれ半田を設けたので、各隅角部における
半田は、半導体チップおよびアイランド部に接続される
際に、一旦溶融された後にそれぞれの内部へ収縮する方
向に流動して、各半田上に跨った状態の半導体チップを
互いに引き合うような状態で固化する。この半導体チッ
プを互いに引き合う力は、各半田においてそれぞれの内
部に収縮する方向に不均一に流動して半田上の半導体チ
ップを移動させようとする力を抑制することになる。こ
のため、半導体チップは、アイランド部上で非常に移動
しにくい状態になる。
【0009】従って、本発明の半導体装置によれば、ア
イランド部上での半導体チップの接続位置をより高精度
に保てることが可能となり、これにともなって半導体チ
ップに形成された電極部に対するワイヤの接続状態はよ
り良好になる。
イランド部上での半導体チップの接続位置をより高精度
に保てることが可能となり、これにともなって半導体チ
ップに形成された電極部に対するワイヤの接続状態はよ
り良好になる。
【0010】
【実施例】以下、本発明の一実施例を、半導体装置とし
て3端子型のダイオードを例にとり、図1乃至図4を参
照しつつ説明するが、本発明がこれに限定されることは
ない。図1は、3端子型のダイオードを示す要部斜視図
である。
て3端子型のダイオードを例にとり、図1乃至図4を参
照しつつ説明するが、本発明がこれに限定されることは
ない。図1は、3端子型のダイオードを示す要部斜視図
である。
【0011】図1を参照しつつ説明すると、このダイオ
ードは、上面に2つの突起状の電極部1、2を形成した
半導体チップ3と、先端にアイランド部4を有し且つこ
のアイランド部4上に半導体チップ3の下面を半田5を
介して接続した第1リード端子6(下面側リード端子)
と、この第1リード端子6に対向し且つ互いに略平行に
配置された第2リード端子7および第3リード端子8
(上面側リード端子)と、第2リード端子7の先端と電
極部1との間および第3リード端子8の先端と電極部2
との間をそれぞれ従来からのワイヤボンディング方法に
より電気的に接続させた金からなるワイヤ9と、半導体
チップ3、第1乃至第3リード端子6、7、8およびワ
イヤ9を覆うエポキシ樹脂からなるモールド部10とを
備えたものである。
ードは、上面に2つの突起状の電極部1、2を形成した
半導体チップ3と、先端にアイランド部4を有し且つこ
のアイランド部4上に半導体チップ3の下面を半田5を
介して接続した第1リード端子6(下面側リード端子)
と、この第1リード端子6に対向し且つ互いに略平行に
配置された第2リード端子7および第3リード端子8
(上面側リード端子)と、第2リード端子7の先端と電
極部1との間および第3リード端子8の先端と電極部2
との間をそれぞれ従来からのワイヤボンディング方法に
より電気的に接続させた金からなるワイヤ9と、半導体
チップ3、第1乃至第3リード端子6、7、8およびワ
イヤ9を覆うエポキシ樹脂からなるモールド部10とを
備えたものである。
【0012】上記半田5は、半導体チップ3の対角方向
の2つの隅角部とアイランド部4との間のそれぞれ2つ
の部位に設けられており、図2に示すように、半導体チ
ップ3の隅角部を中心として直径2mm程度の平面視略
円形状に形成されており、また、その厚み寸法0.1m
m程度となっている。また、この半田5は、Sn、Pb
等を含むものであり、従来から用いられているものであ
る。
の2つの隅角部とアイランド部4との間のそれぞれ2つ
の部位に設けられており、図2に示すように、半導体チ
ップ3の隅角部を中心として直径2mm程度の平面視略
円形状に形成されており、また、その厚み寸法0.1m
m程度となっている。また、この半田5は、Sn、Pb
等を含むものであり、従来から用いられているものであ
る。
【0013】上記モールド部10には、その両側面の一
方から第1リード端子6が突出し、他方から第2および
第3リード端子7、8が突出している。尚、上記第1乃
至第3リード端子6、7、8は、鉄からなるものであ
り、また、電極部1、2は、銀等からなるものである。
このような構造を有するダイオードは、例えば次のよう
な方法で製造される。
方から第1リード端子6が突出し、他方から第2および
第3リード端子7、8が突出している。尚、上記第1乃
至第3リード端子6、7、8は、鉄からなるものであ
り、また、電極部1、2は、銀等からなるものである。
このような構造を有するダイオードは、例えば次のよう
な方法で製造される。
【0014】本実施例では、図3に示すような、鉄から
なる金属板より打ち抜いた長尺帯状のリードフレーム1
1を用いる。このリードフレーム11には、その長さ方
向に沿う左右両縁部に、サイドフレーム12、13が形
成されている。サイドフレーム12には、先端にアイラ
ンド部4を備えた第1リード端子部14が、また、サイ
ドフレーム13には、互いに略平行な第2リード端子部
15および第3リード端子部16が、それぞれ内向きに
突出し且つ対向するように一体的に形成されている。
なる金属板より打ち抜いた長尺帯状のリードフレーム1
1を用いる。このリードフレーム11には、その長さ方
向に沿う左右両縁部に、サイドフレーム12、13が形
成されている。サイドフレーム12には、先端にアイラ
ンド部4を備えた第1リード端子部14が、また、サイ
ドフレーム13には、互いに略平行な第2リード端子部
15および第3リード端子部16が、それぞれ内向きに
突出し且つ対向するように一体的に形成されている。
【0015】このようなリードフレーム11をその長手
方向に移送する途次において、まず、ペースト状の半田
5を、アイランド部4上面における図4に示す位置に2
カ所塗布する。上記半田5の塗布は、従来から用いられ
ているダイボンディング方法により行われる。具体的に
は、シリンジ17内に真空状態で収納されたペースト状
の半田5を、シリンジ17内に空気圧を送入してシリン
ジ17の先端に接続されたニードル18から吐出するこ
とにより、アイランド部4上の図4に示すような2つの
部位に塗布される。また、シリンジ17は、これを移動
させる制御モータ(図示せず)により、アイランド部4
の角部17を基準位置として予め決められた該アイラン
ド部4上の所望位置へと移動される。
方向に移送する途次において、まず、ペースト状の半田
5を、アイランド部4上面における図4に示す位置に2
カ所塗布する。上記半田5の塗布は、従来から用いられ
ているダイボンディング方法により行われる。具体的に
は、シリンジ17内に真空状態で収納されたペースト状
の半田5を、シリンジ17内に空気圧を送入してシリン
ジ17の先端に接続されたニードル18から吐出するこ
とにより、アイランド部4上の図4に示すような2つの
部位に塗布される。また、シリンジ17は、これを移動
させる制御モータ(図示せず)により、アイランド部4
の角部17を基準位置として予め決められた該アイラン
ド部4上の所望位置へと移動される。
【0016】その後に、半導体チップ3を、その下面に
おける対角方向の2つの隅角部が上記各半田5にそれぞ
れ接続するようにアイランド部4上に載置する。次に、
リードフレーム11を加熱炉(図示せず)に送り込む等
することにより、半田の融点よりも高い温度に加熱す
る。すると、この加熱により、上記半田5は、溶融して
半導体チップ3とアイランド部4との双方に合金化接合
することになる。
おける対角方向の2つの隅角部が上記各半田5にそれぞ
れ接続するようにアイランド部4上に載置する。次に、
リードフレーム11を加熱炉(図示せず)に送り込む等
することにより、半田の融点よりも高い温度に加熱す
る。すると、この加熱により、上記半田5は、溶融して
半導体チップ3とアイランド部4との双方に合金化接合
することになる。
【0017】このとき、半導体チップ3は、溶融状態の
各半田5上で非常にその載置状態が不安定になる。しか
し、このダイオードによれば、半導体チップ3の対角方
向の2つの隅角部とアイランド部4との間の2つの部位
にそれぞれ半田5を設けているので、各隅角部における
半田5は、溶融された後にそれぞれ内部へ収縮する方向
に流動して各半田5上に跨った状態の半導体チップ3を
互いに引き合うような状態で固化される。この半導体チ
ップ3を互いに引き合う力は、各半田5においてそれぞ
れの内部に収縮する方向に不均一に流動して該半田5上
の半導体チップ3を移動させようとする力を抑制するこ
とになる。このため、半導体チップ3は、アイランド部
4上で非常に移動しにくい状態になる。
各半田5上で非常にその載置状態が不安定になる。しか
し、このダイオードによれば、半導体チップ3の対角方
向の2つの隅角部とアイランド部4との間の2つの部位
にそれぞれ半田5を設けているので、各隅角部における
半田5は、溶融された後にそれぞれ内部へ収縮する方向
に流動して各半田5上に跨った状態の半導体チップ3を
互いに引き合うような状態で固化される。この半導体チ
ップ3を互いに引き合う力は、各半田5においてそれぞ
れの内部に収縮する方向に不均一に流動して該半田5上
の半導体チップ3を移動させようとする力を抑制するこ
とになる。このため、半導体チップ3は、アイランド部
4上で非常に移動しにくい状態になる。
【0018】従って、このダイオードによれば、アイラ
ンド部4上での半導体チップ3の接続位置のずれを低減
することが可能となる。次いで、リードフレーム11を
加熱炉から取り出した後に、半導体チップ3の電極部
1、2と第2および第3リード端子15、16との間と
を従来からのワイヤボンディング方法により、ワイヤ9
にて電気的に接続される。
ンド部4上での半導体チップ3の接続位置のずれを低減
することが可能となる。次いで、リードフレーム11を
加熱炉から取り出した後に、半導体チップ3の電極部
1、2と第2および第3リード端子15、16との間と
を従来からのワイヤボンディング方法により、ワイヤ9
にて電気的に接続される。
【0019】このとき、半導体チップ3は、アイランド
部4上での接続位置が高精度に保たれているので、半導
体チップ3に形成された電極部1、2に対するワイヤ9
の接続状態はより良好になる。さらに、上記工程を経た
後に、リードフレーム11を、従来から用いられるモー
ルド金型(図示せず)間に移送して、半導体チップ3を
覆うように図1に示すような形状のモールド部10を成
形し、さらに、これも従来から用いられる打ち抜き成形
用の成形金型により、モールド部10から突出する第1
乃至第3リード端子部14、15、16を分断して、図
1に示すようなダイオードを得るのである。
部4上での接続位置が高精度に保たれているので、半導
体チップ3に形成された電極部1、2に対するワイヤ9
の接続状態はより良好になる。さらに、上記工程を経た
後に、リードフレーム11を、従来から用いられるモー
ルド金型(図示せず)間に移送して、半導体チップ3を
覆うように図1に示すような形状のモールド部10を成
形し、さらに、これも従来から用いられる打ち抜き成形
用の成形金型により、モールド部10から突出する第1
乃至第3リード端子部14、15、16を分断して、図
1に示すようなダイオードを得るのである。
【0020】本実施例においては、半田5は、半導体チ
ップ3の隅角部を中心とした直径mm程度の平面視略円
形状に塗布形成されているが、平面視形状についてはこ
れを限定するものでなく、また、塗布形成の大きさにつ
いては半導体チップ3の隅角部を中心として直径1mm
乃至3mm程度の範囲内に収まることとが好ましく、直
径2mm乃至2.5mm程度の範囲に収まることがより
好ましい。半田5の厚みは、これを限定するものでな
い。
ップ3の隅角部を中心とした直径mm程度の平面視略円
形状に塗布形成されているが、平面視形状についてはこ
れを限定するものでなく、また、塗布形成の大きさにつ
いては半導体チップ3の隅角部を中心として直径1mm
乃至3mm程度の範囲内に収まることとが好ましく、直
径2mm乃至2.5mm程度の範囲に収まることがより
好ましい。半田5の厚みは、これを限定するものでな
い。
【0021】また、本実施例においては、半導体装置と
して3端子型のダイオードを例にとっているが、これに
限定するものでなく、図5に示すような半導体チップ1
9上に複数(図5においては3つ)の電極部20、2
1、22を形成したものにも適用可能である。この場
合、各電極部20、21、22間の間隔寸法はより幅狭
となるので、ワイヤボンディングする際にアイランド部
23上における半導体チップ19の接続位置はより高精
度なものが望まれるが、本発明の半導体装置であれば、
上記半導体チップ19の接続位置はより高精度なものに
保たれるので、該半導体チップ19の電極部20、2
1、22に対してワイヤボンディングをより高精度に行
うことが可能となる。
して3端子型のダイオードを例にとっているが、これに
限定するものでなく、図5に示すような半導体チップ1
9上に複数(図5においては3つ)の電極部20、2
1、22を形成したものにも適用可能である。この場
合、各電極部20、21、22間の間隔寸法はより幅狭
となるので、ワイヤボンディングする際にアイランド部
23上における半導体チップ19の接続位置はより高精
度なものが望まれるが、本発明の半導体装置であれば、
上記半導体チップ19の接続位置はより高精度なものに
保たれるので、該半導体チップ19の電極部20、2
1、22に対してワイヤボンディングをより高精度に行
うことが可能となる。
【0022】さらに、本実施例においては、半導体チッ
プ上の電極部と上面側リード端子とをワイヤにて電気的
に接続させているが、これに限定するものでなく、図6
に示すように、電極部24、25と上面側リード端子2
6、27とを半田28を介して直接接続するタイプの半
導体装置に対しても適用可能である。
プ上の電極部と上面側リード端子とをワイヤにて電気的
に接続させているが、これに限定するものでなく、図6
に示すように、電極部24、25と上面側リード端子2
6、27とを半田28を介して直接接続するタイプの半
導体装置に対しても適用可能である。
【図1】本発明の半導体装置を示す要部斜視図である。
【図2】本発明の半導体装置を示す要部平面図である。
【図3】本発明の半導体装置を製造する際に用いるリー
ドフレームを示す要部平面図である。
ドフレームを示す要部平面図である。
【図4】本発明の半導体装置を製造する途次においてア
イランド部上に半田を塗布する様子を説明する説明図で
ある。
イランド部上に半田を塗布する様子を説明する説明図で
ある。
【図5】本発明の半導体装置の変形例を示す要部斜視図
である。
である。
【図6】本発明の半導体装置の変形例を示す要部斜視図
である。
である。
【図7】従来の半導体装置を示す要部斜視図である。
【図8】従来の半導体装置においてアイランド部上で半
導体チップが位置ずれを起こす様子を説明する説明図で
ある。
導体チップが位置ずれを起こす様子を説明する説明図で
ある。
1 電極部 2 電極部 3 半導体チップ 4 アイランド部 5 半田 6 第1リード端子 7 第2リード端子 8 第3リード端子 9 ワイヤ 10 モールド部 11 リードフレーム 12 サイドフレーム 13 サイドフレーム 14 第1リード端子 15 第2リード端子 16 第3リード端子 17 シリンジ 18 ニードル 19 半導体チップ 20 電極部 21 電極部 22 電極部 23 アイランド部 24 電極部 25 電極部 26 上面側リード端子 27 上面側リード端子 28 半田
Claims (1)
- 【請求項1】 上面に複数の電極部を形成した半導体チ
ップと、先端にアイランド部を有し且つ該アイランド部
に前記半導体チップの下面を半田を介して接続した下面
側リード端子と、前記各電極部のそれぞれに接続した複
数の上面側リード端子と、前記半導体チップ、前記下面
側リード端子および前記複数の上面側リード端子を覆う
モールド部とを備えた半導体装置において、 前記半導体チップの対角方向の2つの隅角部と前記アイ
ランド部との間にそれぞれ前記半田を設けたことを特徴
とする半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6313061A JPH08172151A (ja) | 1994-12-16 | 1994-12-16 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6313061A JPH08172151A (ja) | 1994-12-16 | 1994-12-16 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08172151A true JPH08172151A (ja) | 1996-07-02 |
Family
ID=18036748
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6313061A Pending JPH08172151A (ja) | 1994-12-16 | 1994-12-16 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08172151A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105261604A (zh) * | 2015-11-11 | 2016-01-20 | 扬州扬杰电子科技股份有限公司 | 一种新型二极管模块的跳线 |
-
1994
- 1994-12-16 JP JP6313061A patent/JPH08172151A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105261604A (zh) * | 2015-11-11 | 2016-01-20 | 扬州扬杰电子科技股份有限公司 | 一种新型二极管模块的跳线 |
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