JPH08178551A - 燃焼制御系の温度制御方法 - Google Patents
燃焼制御系の温度制御方法Info
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- JPH08178551A JPH08178551A JP32530894A JP32530894A JPH08178551A JP H08178551 A JPH08178551 A JP H08178551A JP 32530894 A JP32530894 A JP 32530894A JP 32530894 A JP32530894 A JP 32530894A JP H08178551 A JPH08178551 A JP H08178551A
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- Furnace Details (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 焼成室の温度制御に際し、焼成物の形状や数
量や置場所や物性など焼成室内の温度分布に影響を及ぼ
す不確定要素の影響を考慮した温度制御を実現する。 【構成】 メモリ20に格納された経時パターンに基づ
いて指示される焼成室の目標温度M(k)は、第1の演
算手段13において、焼成室1の温度を検出する焼成室
温度検出器10の出力ti(t)を入力とする調整手段
19の出力Δ(k)で補正されて補正目標温度M’(k)
となり、第2の演算手段14は、この補正目標温度M’
(k)と火炎温度検出器10−1が出力する焼成バーナ
であるヒータ16の火炎温度T1(k)の差ε(k)を算
出してPIDコントローラ15に出力し、PIDコント
ローラ15は差ε(k)の絶対値が小さくなるようにヒ
ータ16を制御する制御入力u(k)をヒータ16に出
力し、ヒータ16は入力されたu(k)に基づいて燃焼
して焼成室に熱を加える。
量や置場所や物性など焼成室内の温度分布に影響を及ぼ
す不確定要素の影響を考慮した温度制御を実現する。 【構成】 メモリ20に格納された経時パターンに基づ
いて指示される焼成室の目標温度M(k)は、第1の演
算手段13において、焼成室1の温度を検出する焼成室
温度検出器10の出力ti(t)を入力とする調整手段
19の出力Δ(k)で補正されて補正目標温度M’(k)
となり、第2の演算手段14は、この補正目標温度M’
(k)と火炎温度検出器10−1が出力する焼成バーナ
であるヒータ16の火炎温度T1(k)の差ε(k)を算
出してPIDコントローラ15に出力し、PIDコント
ローラ15は差ε(k)の絶対値が小さくなるようにヒ
ータ16を制御する制御入力u(k)をヒータ16に出
力し、ヒータ16は入力されたu(k)に基づいて燃焼
して焼成室に熱を加える。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、陶磁器等の焼成品を焼
成する炉の燃焼制御系に係り、特に燃焼制御により炉内
温度を制御する場合の制御方法に関する。
成する炉の燃焼制御系に係り、特に燃焼制御により炉内
温度を制御する場合の制御方法に関する。
【0002】
【従来の技術】陶磁器を焼成する場合の焼成室の温度パ
ターンは、図3に示すように、焼成室の温度を、設定さ
れた焼成温度に所定の上昇率で上昇させたのち、その焼
成温度に必要な時間維持し、次いで、適切な降下率で降
下させるようにした経時パターンが一般的である。温度
を下げる場合、冷却が急激過ぎると焼成物に割れが生ず
るおそれがあり、逆にゆっくり過ぎると色が黒くなった
り、つやが悪くなったりする恐れがある。
ターンは、図3に示すように、焼成室の温度を、設定さ
れた焼成温度に所定の上昇率で上昇させたのち、その焼
成温度に必要な時間維持し、次いで、適切な降下率で降
下させるようにした経時パターンが一般的である。温度
を下げる場合、冷却が急激過ぎると焼成物に割れが生ず
るおそれがあり、逆にゆっくり過ぎると色が黒くなった
り、つやが悪くなったりする恐れがある。
【0003】陶磁器を焼成する炉の燃焼制御及び温度制
御については、特開平5−172470号公報に開示さ
れた例がある。この公報開示の技術では、焼成室内の温
度を検出し、検出した温度に基づいて、炉の焼成室内を
所定の温度にするための焼成バーナに燃料を供給する燃
料調節弁を制御するようになっており、制御の流れは、
図10に示すようになっている。この制御の流れにおけ
る温度設定から焼成室内に至るループでは、図9に示す
ように、設定された目標温度であるM(t)と焼成室の
測定温度T2(t)の偏差ε(t)がコントローラに入力
され、コントローラはε(t)が減少する方向にヒータ
を制御する信号u(t)を出力し、ヒータはu(t)を入
力としてヒータ火炎温度T1(t)で表される熱を出力
し、ヒータ火炎温度T1(t)で表される熱の入力によ
って形成される焼成室の温度が検出され前記測定温度T
2(t)として偏差ε(t)の算出に用いられる。
御については、特開平5−172470号公報に開示さ
れた例がある。この公報開示の技術では、焼成室内の温
度を検出し、検出した温度に基づいて、炉の焼成室内を
所定の温度にするための焼成バーナに燃料を供給する燃
料調節弁を制御するようになっており、制御の流れは、
図10に示すようになっている。この制御の流れにおけ
る温度設定から焼成室内に至るループでは、図9に示す
ように、設定された目標温度であるM(t)と焼成室の
測定温度T2(t)の偏差ε(t)がコントローラに入力
され、コントローラはε(t)が減少する方向にヒータ
を制御する信号u(t)を出力し、ヒータはu(t)を入
力としてヒータ火炎温度T1(t)で表される熱を出力
し、ヒータ火炎温度T1(t)で表される熱の入力によ
って形成される焼成室の温度が検出され前記測定温度T
2(t)として偏差ε(t)の算出に用いられる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、焼成室内の
温度変化は多くの不確定要素によって影響されている。
例えば、焼成物の形状や数量や置場所や物性などが焼成
室内の温度分布に影響を及ぼし、限られた数の温度検出
器では焼成室内の温度分布を正確に検出できない。それ
らの不確定要素を考慮するには、図9の温度制御ループ
構成では、コントローラ設計及びヒータ自体の非線形要
素を含めたハイブリッド構成が容易に実現できない。さ
らに燃焼系の特徴である遅れ(DELAY)を、ヒータの制
御と前記不確定要素の制御に関し、同一の制御ループ下
に考慮するには、サンプリングとの兼ね合いで調節が困
難である。
温度変化は多くの不確定要素によって影響されている。
例えば、焼成物の形状や数量や置場所や物性などが焼成
室内の温度分布に影響を及ぼし、限られた数の温度検出
器では焼成室内の温度分布を正確に検出できない。それ
らの不確定要素を考慮するには、図9の温度制御ループ
構成では、コントローラ設計及びヒータ自体の非線形要
素を含めたハイブリッド構成が容易に実現できない。さ
らに燃焼系の特徴である遅れ(DELAY)を、ヒータの制
御と前記不確定要素の制御に関し、同一の制御ループ下
に考慮するには、サンプリングとの兼ね合いで調節が困
難である。
【0005】つまり、上記公報には、所定の温度(経時
パターン)を実現するための実用的な温度制御の詳細に
ついては開示されていない。
パターン)を実現するための実用的な温度制御の詳細に
ついては開示されていない。
【0006】本発明の目的は、焼成室の温度制御に際
し、焼成物の形状や数量や置場所や物性など焼成室内の
温度分布に影響を及ぼす不確定要素の影響を考慮した温
度制御を実現するにある。
し、焼成物の形状や数量や置場所や物性など焼成室内の
温度分布に影響を及ぼす不確定要素の影響を考慮した温
度制御を実現するにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の目的を
達成するために、焼成室内に配置され焼成物が載置され
る棚と、焼成室に熱を供給するヒータと、該ヒータに供
給される流体燃料量を調節する燃料調節弁と、焼成室内
の温度を検出する温度検出手段と、該温度検出手段の出
力と予め設定された経時パターンで指示される目標温度
の偏差を入力として前記燃料調節弁を制御するコントロ
ーラと、を含んでなる焼成炉における燃焼制御系の温度
制御方法において、温度制御の制御ループを、前記経時
パターンで指示される目標温度を、前記温度検出手段の
出力と前記経時パターンで指示される目標温度に基づい
て算出された補正値で補正する第1の帰還ループと、前
記ヒータ近傍の温度を検出し、この温度と前記補正され
た目標温度の偏差を算出し、算出された偏差を前記コン
トローラへの入力とする第2の帰還ループと、で構成し
たことを特徴とする。
達成するために、焼成室内に配置され焼成物が載置され
る棚と、焼成室に熱を供給するヒータと、該ヒータに供
給される流体燃料量を調節する燃料調節弁と、焼成室内
の温度を検出する温度検出手段と、該温度検出手段の出
力と予め設定された経時パターンで指示される目標温度
の偏差を入力として前記燃料調節弁を制御するコントロ
ーラと、を含んでなる焼成炉における燃焼制御系の温度
制御方法において、温度制御の制御ループを、前記経時
パターンで指示される目標温度を、前記温度検出手段の
出力と前記経時パターンで指示される目標温度に基づい
て算出された補正値で補正する第1の帰還ループと、前
記ヒータ近傍の温度を検出し、この温度と前記補正され
た目標温度の偏差を算出し、算出された偏差を前記コン
トローラへの入力とする第2の帰還ループと、で構成し
たことを特徴とする。
【0008】前記補正値の算出は、ファジィ推論を用い
ることにより、行うことができる。
ることにより、行うことができる。
【0009】
【作用】焼成物の不確定要素に対応して目標温度を補正
する制御がまず第1の帰還ループで行われ、補正された
目標温度にヒータの出力を追従させる制御が第2の帰還
ループで行われる。ヒータの出力の制御がヒータ近傍の
温度を測定する温度検出器の出力をフィードバックして
行われ、焼成室の温度が関係しなくなるので焼成物の不
確定要素の影響を無くした制御となる。焼成物の不確定
要素の影響への対応を含んだ制御、つまり焼成室の温度
を設定された経時パターンの目標温度に近付ける制御
は、ヒータ自体の制御とは別の制御ループで行われるの
で、ヒータの応答遅れや動作特性とは無関係に実現でき
る。
する制御がまず第1の帰還ループで行われ、補正された
目標温度にヒータの出力を追従させる制御が第2の帰還
ループで行われる。ヒータの出力の制御がヒータ近傍の
温度を測定する温度検出器の出力をフィードバックして
行われ、焼成室の温度が関係しなくなるので焼成物の不
確定要素の影響を無くした制御となる。焼成物の不確定
要素の影響への対応を含んだ制御、つまり焼成室の温度
を設定された経時パターンの目標温度に近付ける制御
は、ヒータ自体の制御とは別の制御ループで行われるの
で、ヒータの応答遅れや動作特性とは無関係に実現でき
る。
【0010】
【実施例】以下に、本発明の実施例を図面を参照しなが
ら説明する。図2は陶芸用焼成炉の構成の概略図であ
り、焼成炉には焼成室1が設けられており、この焼成室
1の上部に連接して2次燃焼室2が形成され、2次燃焼
室2は触媒層12を介して排気筒3に連なっている。2
次燃焼室2は還元雰囲気で運転する際に発生する排ガス
中の一酸化炭素および炭素を再燃焼させるために設けら
れている。焼成室1の下部には焼成バーナ4が設置さ
れ、2次燃焼室2には2次バーナ5が設けられている。
焼成バーナ4には燃料調節弁6−1を介して燃料が供給
され、空気調節弁7−1を介して空気が供給されるよう
になっている。
ら説明する。図2は陶芸用焼成炉の構成の概略図であ
り、焼成炉には焼成室1が設けられており、この焼成室
1の上部に連接して2次燃焼室2が形成され、2次燃焼
室2は触媒層12を介して排気筒3に連なっている。2
次燃焼室2は還元雰囲気で運転する際に発生する排ガス
中の一酸化炭素および炭素を再燃焼させるために設けら
れている。焼成室1の下部には焼成バーナ4が設置さ
れ、2次燃焼室2には2次バーナ5が設けられている。
焼成バーナ4には燃料調節弁6−1を介して燃料が供給
され、空気調節弁7−1を介して空気が供給されるよう
になっている。
【0011】また、2次バーナ5には同様に燃料調節弁
6−2を介して燃料が供給され、空気調節弁7−2を介
して空気が供給されるようになっている。還元雰囲気で
運転する際は高温であることと、触媒の作用により2次
バーナ5には燃料を供給しなくて空気を送り込んでやる
だけで再燃焼する場合もある。さらに、焼成室1内には
酸素濃度を検出するための酸素検出器8、一酸化炭素濃
度を検出するための一酸化炭素検出器9および温度を検
出するための焼成室温度検出器10、火炎温度検出器1
0−1が配設されており、焼成用陶芸作品を配置するた
めの棚板11が上下に2段に配列されている。温度検出
器10は複数個配置されていて焼成室内の複数個所の温
度を、火炎温度検出器10−1はヒータ16を構成する
焼成バーナ4の燃焼火炎近傍の温度を、それぞれ検出す
るように配置されている。火炎温度検出器10−1の検
出出力をヒータを構成する焼成バーナ4の出力T1
(t)とする。ここでいうヒータ16は、焼成バーナ
4、燃料調節弁6−1及び空気調節弁7−1を含んで構
成されたものをいう。
6−2を介して燃料が供給され、空気調節弁7−2を介
して空気が供給されるようになっている。還元雰囲気で
運転する際は高温であることと、触媒の作用により2次
バーナ5には燃料を供給しなくて空気を送り込んでやる
だけで再燃焼する場合もある。さらに、焼成室1内には
酸素濃度を検出するための酸素検出器8、一酸化炭素濃
度を検出するための一酸化炭素検出器9および温度を検
出するための焼成室温度検出器10、火炎温度検出器1
0−1が配設されており、焼成用陶芸作品を配置するた
めの棚板11が上下に2段に配列されている。温度検出
器10は複数個配置されていて焼成室内の複数個所の温
度を、火炎温度検出器10−1はヒータ16を構成する
焼成バーナ4の燃焼火炎近傍の温度を、それぞれ検出す
るように配置されている。火炎温度検出器10−1の検
出出力をヒータを構成する焼成バーナ4の出力T1
(t)とする。ここでいうヒータ16は、焼成バーナ
4、燃料調節弁6−1及び空気調節弁7−1を含んで構
成されたものをいう。
【0012】制御の流れは基本的に前記図10に示すも
のに倣っているが、温度設定から焼成室内温度形成にい
たる制御ループは、図1に示すように、経時パターンの
各サンプリング時点での目標温度M(k)を経時パター
ンの調整値Δ(k)で修正しヒータ出力の目標値M'
(k)として出力する第1の演算手段13と、ヒータ出
力の目標値M'(k)とヒータ出力の測定値T1(t)の
偏差ε(k)を算出出力する第2の演算手段14と、偏
差ε(k)を入力として該偏差ε(k)を低減する方向
にヒータ16を制御する制御信号u(k)を出力するP
IDコントローラ15と、制御信号u(k)を入力とし
て動作し熱を発生するヒータ16と、ヒータ16が出力
する熱を検出しヒータ出力の測定値T1(k)として前
記第2の演算手段14に出力する火炎温度検出器10−
1と、ヒータの出力する熱によって形成された焼成室の
温度を複数個所で検出し焼成室温度T2(t)として出
力する焼成室温度検出器10と、焼成室温度T2(t)
を入力として経時パターンの調整値Δ(k)を算出し前
記第1の演算手段13に出力する調整手段19と、から
構成されている。
のに倣っているが、温度設定から焼成室内温度形成にい
たる制御ループは、図1に示すように、経時パターンの
各サンプリング時点での目標温度M(k)を経時パター
ンの調整値Δ(k)で修正しヒータ出力の目標値M'
(k)として出力する第1の演算手段13と、ヒータ出
力の目標値M'(k)とヒータ出力の測定値T1(t)の
偏差ε(k)を算出出力する第2の演算手段14と、偏
差ε(k)を入力として該偏差ε(k)を低減する方向
にヒータ16を制御する制御信号u(k)を出力するP
IDコントローラ15と、制御信号u(k)を入力とし
て動作し熱を発生するヒータ16と、ヒータ16が出力
する熱を検出しヒータ出力の測定値T1(k)として前
記第2の演算手段14に出力する火炎温度検出器10−
1と、ヒータの出力する熱によって形成された焼成室の
温度を複数個所で検出し焼成室温度T2(t)として出
力する焼成室温度検出器10と、焼成室温度T2(t)
を入力として経時パターンの調整値Δ(k)を算出し前
記第1の演算手段13に出力する調整手段19と、から
構成されている。
【0013】調整手段19は、焼成室温度検出器10
(複数個)の出力を扱い、焼成物の不確定要素を考慮
し、焼成室内の温度変化パターンを柔軟に判断し、それ
に応じて経時パターンの調整値Δ(t)を出力するもの
で、例えばニューラルネット技術、ファジィ技術、及び
両者を融合させた技術を適用して構成される。本実施例
においては、ファジィ技術を適用した調整手段19を用
いた。
(複数個)の出力を扱い、焼成物の不確定要素を考慮
し、焼成室内の温度変化パターンを柔軟に判断し、それ
に応じて経時パターンの調整値Δ(t)を出力するもの
で、例えばニューラルネット技術、ファジィ技術、及び
両者を融合させた技術を適用して構成される。本実施例
においては、ファジィ技術を適用した調整手段19を用
いた。
【0014】調整手段19は、図4に示すように、複数
の焼成室温度検出器10からのデータT2(t)(ここで
はti(t)とする,i=1〜Nは複数の焼成室温度検出
器10のそれぞれの番号を示す)が入力され温度誤差e
r(k)及び温度誤差変化量ec(k)を算出、記憶して
出力するデータ変換部19Aと、データ変換部19Aに
接続され温度誤差er(k)及び温度変化変化量ec
(k)を入力として調整値Δ(k)を算出、出力するファ
ジィルール部19Bとを含んで構成されている。メモリ
20は、図10に示す制御の流れにおいて、経時設定→
温度設定の部分を担当するもので、焼成室温度の経時パ
ターンを格納し、時間の経過につれて変化する目標温度
M(k)及びM(k−1)を出力する。なお、上述の説明
において、変数tは、t=kToで表され、Toは温度検
出器のサンプリング周期を、kは何番目のサンプリング
かを、それぞれ示す数で、k=0,1,2,……であ
る。
の焼成室温度検出器10からのデータT2(t)(ここで
はti(t)とする,i=1〜Nは複数の焼成室温度検出
器10のそれぞれの番号を示す)が入力され温度誤差e
r(k)及び温度誤差変化量ec(k)を算出、記憶して
出力するデータ変換部19Aと、データ変換部19Aに
接続され温度誤差er(k)及び温度変化変化量ec
(k)を入力として調整値Δ(k)を算出、出力するファ
ジィルール部19Bとを含んで構成されている。メモリ
20は、図10に示す制御の流れにおいて、経時設定→
温度設定の部分を担当するもので、焼成室温度の経時パ
ターンを格納し、時間の経過につれて変化する目標温度
M(k)及びM(k−1)を出力する。なお、上述の説明
において、変数tは、t=kToで表され、Toは温度検
出器のサンプリング周期を、kは何番目のサンプリング
かを、それぞれ示す数で、k=0,1,2,……であ
る。
【0015】以下、上記構成の調整手段19の動作につ
いて説明する。まず、データ変換部19Aは、入力され
たti(t)(i=1〜n)の平均温度T2(k)を次式に
より、算出する。
いて説明する。まず、データ変換部19Aは、入力され
たti(t)(i=1〜n)の平均温度T2(k)を次式に
より、算出する。
【0016】
【数1】
【0017】データ変換部19Aは、メモリ20から入
力される経時パターンの温度M(k−1)と前記算出し
たT2(k)を用いて下記式(2−1)により、温度誤差
er(k)を算出する。また、前回のサンプリング時に
記憶したT2(k−1)と今回算出したT2(k)、メモリ
20から入力される経時パターンの温度M(k−1)と
M(k)を用い、下記式(2−2)により、温度誤差変
化量ec(k)を算出する。次式で表されるer(k),
ec(k)は、それぞれk回目のサンプリングにおける
温度誤差及び温度誤差変化量である。er(k),ec
(k)の演算が終わると、今回算出されたT2(k)が、
T2(k−1)として格納記憶される。
力される経時パターンの温度M(k−1)と前記算出し
たT2(k)を用いて下記式(2−1)により、温度誤差
er(k)を算出する。また、前回のサンプリング時に
記憶したT2(k−1)と今回算出したT2(k)、メモリ
20から入力される経時パターンの温度M(k−1)と
M(k)を用い、下記式(2−2)により、温度誤差変
化量ec(k)を算出する。次式で表されるer(k),
ec(k)は、それぞれk回目のサンプリングにおける
温度誤差及び温度誤差変化量である。er(k),ec
(k)の演算が終わると、今回算出されたT2(k)が、
T2(k−1)として格納記憶される。
【0018】
【数2】
【0019】mは、焼成室目標温度の経時パターンにお
ける1サンプリング間隔での温度変化の最小値より小さ
い正の数で、0<m<┃M(k)−M(k−1)┃(経
時パターンの全領域のkについて成立すること)で表さ
れる係数である。
ける1サンプリング間隔での温度変化の最小値より小さ
い正の数で、0<m<┃M(k)−M(k−1)┃(経
時パターンの全領域のkについて成立すること)で表さ
れる係数である。
【0020】算出されたer(k),ec(k)はファジ
ィルール部19Bに送られる。ファジィルール部19B
は、入力されたer(k),ec(k)を評価し、補正量
Δ(k)を次式により算出する。Fは、ファジィ推論関
係を表す。
ィルール部19Bに送られる。ファジィルール部19B
は、入力されたer(k),ec(k)を評価し、補正量
Δ(k)を次式により算出する。Fは、ファジィ推論関
係を表す。
【0021】 Δ(k)=F(er(k),ec(k)),k=0,1,…… (3) つまり、前回サンプリングの温度変化特徴を前件部と
し、次回の経時パターン値に対する補正量を後件部とし
てファジィ推論が行われる。図5,6,7に、温度誤
差、温度誤差変化量を評価して補正量を出力するための
メンバーシップ関数の例を示す。
し、次回の経時パターン値に対する補正量を後件部とし
てファジィ推論が行われる。図5,6,7に、温度誤
差、温度誤差変化量を評価して補正量を出力するための
メンバーシップ関数の例を示す。
【0022】まず、算出されたer(k)を図5の横軸
に当てはめ、図示されたNL,NS,ZO,PS,PL
の各グラフの値を読み取る。図5の横軸のemin〜emax
は、実際に評価したい温度誤差の幅を表すもので、emi
nには想定される最小のer(k)(負側の最大)が、e
maxには想定される最大のer(k)(正側の最大)が、
それぞれ設定される。また、enは、負の温度誤差に対
してeminと原点(誤差0)との間に置かれる、理想的
な場合(ZO)と負の誤差が非常に大きな場合(NL)
を区分する境界点となる温度誤差の値を示し、epは、
正の温度誤差に対してemaxと原点(誤差0)との間に
置かれる、理想的な場合(ZO)と正の誤差が非常に大
きな場合(PL)を区分する境界点となる温度誤差の値
を示す。の値は、制御の定数として予め選択し、設定さ
れる。例えば、−100℃〜100℃の温度誤差er
(k)を評価しようとする場合、 emin=−100℃, en = −50℃, 0 = 0℃ ep = 50℃, emax= 100℃ のように等分割をとって決められる。
に当てはめ、図示されたNL,NS,ZO,PS,PL
の各グラフの値を読み取る。図5の横軸のemin〜emax
は、実際に評価したい温度誤差の幅を表すもので、emi
nには想定される最小のer(k)(負側の最大)が、e
maxには想定される最大のer(k)(正側の最大)が、
それぞれ設定される。また、enは、負の温度誤差に対
してeminと原点(誤差0)との間に置かれる、理想的
な場合(ZO)と負の誤差が非常に大きな場合(NL)
を区分する境界点となる温度誤差の値を示し、epは、
正の温度誤差に対してemaxと原点(誤差0)との間に
置かれる、理想的な場合(ZO)と正の誤差が非常に大
きな場合(PL)を区分する境界点となる温度誤差の値
を示す。の値は、制御の定数として予め選択し、設定さ
れる。例えば、−100℃〜100℃の温度誤差er
(k)を評価しようとする場合、 emin=−100℃, en = −50℃, 0 = 0℃ ep = 50℃, emax= 100℃ のように等分割をとって決められる。
【0023】次に、ec(k)(温度誤差変化量)が図
6のメンバシップ関数の横軸に当てはめられ、SW,O
K,FAの各グラフの値が読み取られる。
6のメンバシップ関数の横軸に当てはめられ、SW,O
K,FAの各グラフの値が読み取られる。
【0024】読み取られた上記各グラフの値を適用する
ファジィ推論ルールは表1により与えられる。
ファジィ推論ルールは表1により与えられる。
【0025】
【表1】
【0026】図7のグラフの表1で与えられたファジィ
推論ルールに、図5及び図6で読み取られた値を当ては
め、横軸の値に示される補正量が得られる。図7の横軸
のΔ6とΔ3は、経時パターン補正量の減少側最大値
と、増加側最大値をそれぞれ示すものである。例えば、
減少側最大値を−30℃、増加側最大値を30℃とした
場合、0,Δ1,Δ2,Δ4,Δ5は、簡単に等分割
で、 0= 0℃ Δ1= 10℃ Δ2= 20℃ Δ3= 30℃ Δ4=−10℃ Δ5=−20℃ Δ6=−30℃ に設定することができる。
推論ルールに、図5及び図6で読み取られた値を当ては
め、横軸の値に示される補正量が得られる。図7の横軸
のΔ6とΔ3は、経時パターン補正量の減少側最大値
と、増加側最大値をそれぞれ示すものである。例えば、
減少側最大値を−30℃、増加側最大値を30℃とした
場合、0,Δ1,Δ2,Δ4,Δ5は、簡単に等分割
で、 0= 0℃ Δ1= 10℃ Δ2= 20℃ Δ3= 30℃ Δ4=−10℃ Δ5=−20℃ Δ6=−30℃ に設定することができる。
【0027】調整手段19は、上述の手順で補正量Δ
(k)を算出し、算出したΔ(k)を第1の演算手段1
3に出力する。図8に調整手段19の動作の手順を示
す。図示の手順がサンプリング周期ごとに繰り返され
る。
(k)を算出し、算出したΔ(k)を第1の演算手段1
3に出力する。図8に調整手段19の動作の手順を示
す。図示の手順がサンプリング周期ごとに繰り返され
る。
【0028】第1の演算手段13には、メモリ20から
M(k)が入力されており、調整手段19から入力され
たΔ(k)を加算して、ヒータ出力の目標値M’(k)
として第2の演算手段14に出力する。第2の演算手段
14は、演算手段13から入力されたM’(k)と火炎
温度検出器10−1から入力された火炎近傍の実測温度
であるヒータ出力T1(k)の偏差ε(k)を算出し、
PIDコントローラ15に出力する。PIDコントロー
ラ15は、入力された偏差ε(k)の絶対値が減少する
方向にヒータ16を制御する制御信号u(k)を出力
し、ヒータ16の出力、つまりは焼成バーナ4の燃焼量
を制御する。ヒータ16の出力は、焼成バーナ4の燃焼
火炎近傍の温度で表され、火炎温度検出器10−1の出
力T1(k)として第2の演算手段14にフィードバッ
クされるのである。すなわち、第2の演算手段14、P
IDコントローラ15、ヒータ16(実際は燃料調節弁
6−1、空気調節弁7−1)及び火炎温度検出器10−
1で構成される第2の帰還ループ(燃焼制御ループ)
は、焼成室の温度に直接にはかかわりなく、ヒータ出力
T1(k)が目標値M’(k)に一致するように制御す
ればよく、制御が単純化されている。
M(k)が入力されており、調整手段19から入力され
たΔ(k)を加算して、ヒータ出力の目標値M’(k)
として第2の演算手段14に出力する。第2の演算手段
14は、演算手段13から入力されたM’(k)と火炎
温度検出器10−1から入力された火炎近傍の実測温度
であるヒータ出力T1(k)の偏差ε(k)を算出し、
PIDコントローラ15に出力する。PIDコントロー
ラ15は、入力された偏差ε(k)の絶対値が減少する
方向にヒータ16を制御する制御信号u(k)を出力
し、ヒータ16の出力、つまりは焼成バーナ4の燃焼量
を制御する。ヒータ16の出力は、焼成バーナ4の燃焼
火炎近傍の温度で表され、火炎温度検出器10−1の出
力T1(k)として第2の演算手段14にフィードバッ
クされるのである。すなわち、第2の演算手段14、P
IDコントローラ15、ヒータ16(実際は燃料調節弁
6−1、空気調節弁7−1)及び火炎温度検出器10−
1で構成される第2の帰還ループ(燃焼制御ループ)
は、焼成室の温度に直接にはかかわりなく、ヒータ出力
T1(k)が目標値M’(k)に一致するように制御す
ればよく、制御が単純化されている。
【0029】一方、焼成室の温度は複数の焼成室温度検
出器10で検出され、前述のように、調整手段19で補
正量Δ(k)に変換されて第1の演算手段13に出力さ
れる。つまり、焼成室の温度は、第1の演算手段13、
焼成室温度検出器10及び調整手段19で構成される第
1の帰還ループ(温度制御ループ)で制御されるのであ
る。この温度制御ループは、焼成バーナ4の燃焼制御は
直接には関係せず、焼成室温度に基づいてヒータ出力を
指示する。そして、前記燃焼制御ループは、ヒータ出力
が指示されたヒータ出力になるようにヒータを制御する
のである。したがって、ヒータ出力が指示されたヒータ
出力になっても焼成室温度が焼成室温度の目標経時パタ
ーンで指示される温度M(k)に達しない場合は、調整
手段は正の補正量Δ(k)を出力し、ヒータ出力の目標
値M’(k)を増大させることになる。
出器10で検出され、前述のように、調整手段19で補
正量Δ(k)に変換されて第1の演算手段13に出力さ
れる。つまり、焼成室の温度は、第1の演算手段13、
焼成室温度検出器10及び調整手段19で構成される第
1の帰還ループ(温度制御ループ)で制御されるのであ
る。この温度制御ループは、焼成バーナ4の燃焼制御は
直接には関係せず、焼成室温度に基づいてヒータ出力を
指示する。そして、前記燃焼制御ループは、ヒータ出力
が指示されたヒータ出力になるようにヒータを制御する
のである。したがって、ヒータ出力が指示されたヒータ
出力になっても焼成室温度が焼成室温度の目標経時パタ
ーンで指示される温度M(k)に達しない場合は、調整
手段は正の補正量Δ(k)を出力し、ヒータ出力の目標
値M’(k)を増大させることになる。
【0030】本実施例によれば、焼成物の不確定要素へ
の対応をヒータの制御と切り離すことが可能となり、焼
成物の不確定要素への対応が容易になり、様々な調整手
段に対応する経時パターンの自動修正が可能になる。さ
らに、焼成温度の遅れ(DELAY)やヒータの制御ループ
の立上り時間や燃焼制御系のサンプリング周期の選択な
どが、明確な関係で調整できる。それによってきめこま
かな温度制御が実現できる。
の対応をヒータの制御と切り離すことが可能となり、焼
成物の不確定要素への対応が容易になり、様々な調整手
段に対応する経時パターンの自動修正が可能になる。さ
らに、焼成温度の遅れ(DELAY)やヒータの制御ループ
の立上り時間や燃焼制御系のサンプリング周期の選択な
どが、明確な関係で調整できる。それによってきめこま
かな温度制御が実現できる。
【0031】
【発明の効果】本発明によれば、温度制御における焼成
物の不確定要素への対応をヒータの制御と切り離すこと
が可能となり、焼成物の不確定要素への対応が容易にな
る。
物の不確定要素への対応をヒータの制御と切り離すこと
が可能となり、焼成物の不確定要素への対応が容易にな
る。
【図1】本発明の実施例を示す制御ブロック図である。
【図2】本発明が適用される焼成炉の例を示す断面図で
ある。
ある。
【図3】焼成炉の温度の経時パターンの例を示す概念図
である。
である。
【図4】図1に示す実施例の部分の詳細を示す制御ブロ
ック図である。
ック図である。
【図5】本発明に適用されるメンバシップ関数の例を示
す図である。
す図である。
【図6】本発明に適用されるメンバシップ関数の例を示
す図である。
す図である。
【図7】本発明に適用されるメンバシップ関数の例を示
す図である。
す図である。
【図8】図4に示す調整手段の動作手順を示す手順図で
ある。
ある。
【図9】従来技術の例を示す制御ブロック図である。
【図10】従来技術の例を示す制御ループ図である。
1 焼成室 2 2次燃焼室 3 排気筒 4 焼成バーナ
(ヒータ) 5 2次バーナ 6−1 燃焼調節
弁 7−1 空気調節弁 8 酸素検出器 9 一酸化炭素検出器 10 焼成室温度
検出器 10−1 火炎温度検出器 11 棚板 12 触媒層 13 第1の演算
手段 14 第2の演算手段 15 PIDコン
トローラ 16 ヒータ 18 焼成窯 19 調整手段
(ヒータ) 5 2次バーナ 6−1 燃焼調節
弁 7−1 空気調節弁 8 酸素検出器 9 一酸化炭素検出器 10 焼成室温度
検出器 10−1 火炎温度検出器 11 棚板 12 触媒層 13 第1の演算
手段 14 第2の演算手段 15 PIDコン
トローラ 16 ヒータ 18 焼成窯 19 調整手段
Claims (2)
- 【請求項1】 焼成室内に配置され焼成物が載置される
棚と、焼成室に熱を供給するヒータと、該ヒータに供給
される流体燃料量を調節する燃料調節弁と、焼成室内の
温度を検出する温度検出手段と、該温度検出手段の出力
と予め設定された経時パターンで指示される目標温度の
偏差を入力として前記燃料調節弁を制御するコントロー
ラと、を含んでなる焼成炉における燃焼制御系の温度制
御方法において、 前記経時パターンで指示される目標温度を、前記温度検
出手段の出力と前記経時パターンで指示される目標温度
に基づいて算出された補正値で補正する第1の帰還ルー
プと、前記ヒータ近傍の温度を検出し、この温度と前記
補正された目標温度の偏差を算出し、算出された偏差を
前記コントローラへの入力とする第2の帰還ループと、
を設けたことを特徴とする燃焼制御系の温度制御方法。 - 【請求項2】 補正値の算出をファジィ推論により行う
ことを特徴とする請求項1に記載の燃焼制御系の温度制
御方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32530894A JPH08178551A (ja) | 1994-12-27 | 1994-12-27 | 燃焼制御系の温度制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32530894A JPH08178551A (ja) | 1994-12-27 | 1994-12-27 | 燃焼制御系の温度制御方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08178551A true JPH08178551A (ja) | 1996-07-12 |
Family
ID=18175373
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32530894A Pending JPH08178551A (ja) | 1994-12-27 | 1994-12-27 | 燃焼制御系の温度制御方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08178551A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009014229A (ja) * | 2007-07-03 | 2009-01-22 | Takasago Ind Co Ltd | 低酸素雰囲気用温度制御方法および低酸素雰囲気用温度制御システム |
| WO2023039949A1 (zh) * | 2021-09-17 | 2023-03-23 | 株洲瑞德尔冶金设备制造有限公司 | 一种烧结温度的控制方法及装置 |
-
1994
- 1994-12-27 JP JP32530894A patent/JPH08178551A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009014229A (ja) * | 2007-07-03 | 2009-01-22 | Takasago Ind Co Ltd | 低酸素雰囲気用温度制御方法および低酸素雰囲気用温度制御システム |
| WO2023039949A1 (zh) * | 2021-09-17 | 2023-03-23 | 株洲瑞德尔冶金设备制造有限公司 | 一种烧结温度的控制方法及装置 |
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