JPH081907A - Printing amount inspection method for cream solder - Google Patents

Printing amount inspection method for cream solder

Info

Publication number
JPH081907A
JPH081907A JP6144683A JP14468394A JPH081907A JP H081907 A JPH081907 A JP H081907A JP 6144683 A JP6144683 A JP 6144683A JP 14468394 A JP14468394 A JP 14468394A JP H081907 A JPH081907 A JP H081907A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cream solder
substrate
recognition camera
printed
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP6144683A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2982617B2 (en
Inventor
Michinori Tomomatsu
道範 友松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP6144683A priority Critical patent/JP2982617B2/en
Publication of JPH081907A publication Critical patent/JPH081907A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2982617B2 publication Critical patent/JP2982617B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • H05K3/12Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns
    • H05K3/1216Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns by screen printing or stencil printing

Landscapes

  • Screen Printers (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 スクリーン印刷装置によって基板の電極に印
刷されたクリーム半田の印刷量の良否を高速度で的確に
判定できるクリーム半田の印刷量検査方法を提供するこ
とを目的とする。 【構成】 スクリーンマスク11とスキージ15により
基板7の電極にクリーム半田16を印刷した後、マスク
認識カメラ9でパターン孔の平面画像を入手し、また基
板認識カメラ10で電極上に印刷されたクリーム半田1
6の平面画像を入手する。この2つの平面画像に基づい
てクリーム半田16の印刷量の良否を判定する。 【効果】 2つの平面画像を入手するので良否判定のた
めの情報が多く、したがって的確に良否判定を行える。
またマスク認識カメラ9,基板認識カメラ10を用いる
ので高速度での検査が可能になる。
(57) [Summary] [Object] An object of the present invention is to provide a method for inspecting a print amount of cream solder, which can accurately determine the quality of the print amount of cream solder printed on an electrode of a substrate by a screen printing device at high speed. . [Structure] After a cream solder 16 is printed on an electrode of a substrate 7 by a screen mask 11 and a squeegee 15, a plane image of a pattern hole is obtained by a mask recognition camera 9, and a cream printed on the electrode by a substrate recognition camera 10. Solder 1
Acquire 6 plane images. The quality of the printing amount of the cream solder 16 is determined based on these two plane images. [Effect] Since two plane images are obtained, there is much information for the quality judgment, and therefore the quality judgment can be performed accurately.
Further, since the mask recognition camera 9 and the board recognition camera 10 are used, inspection can be performed at high speed.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、スクリーンマスクとス
キージを備えたスクリーン印刷装置により基板の電極に
印刷されたクリーム半田の印刷量の良否を検査するクリ
ーム半田の印刷量検査方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a cream solder print amount inspection method for inspecting the quality of the print amount of cream solder printed on an electrode of a substrate by a screen printing device having a screen mask and a squeegee. .

【0002】[0002]

【従来の技術】電子部品を半田付けするためのクリーム
半田を基板の電極に塗布する手段として、スクリーン印
刷装置が多用されている。スクリーン印刷装置はパター
ン孔が開口されたスクリーンマスクとスキージを備えて
おり、基板の電極とスクリーンマスクのパターン孔を位
置合わせして、基板の上面にスクリーンマスクを重ね合
わせ、その状態でスクリーンマスクの上面をスキージを
摺動させてパターン孔にクリーム半田を充填した後、ス
クリーンマスクと基板を上下方向に分離して、パターン
孔からクリーム半田を版抜けさせることにより、電極に
クリーム半田を印刷するようになっている。
2. Description of the Related Art A screen printing device is often used as a means for applying cream solder for soldering electronic parts to electrodes on a substrate. The screen printing device is equipped with a screen mask with squeegees that have pattern holes.The electrodes of the substrate and the pattern holes of the screen mask are aligned, and the screen mask is superposed on the upper surface of the substrate. After the squeegee is slid on the top surface to fill the pattern holes with the cream solder, the screen mask and the substrate are separated in the vertical direction, and the cream solder is removed from the pattern holes to print the cream solder on the electrodes. It has become.

【0003】近年、基板は増々小型化・高集積化してお
り、これにともなってスクリーンマスクのパターン孔の
開口面積も小さくなってきている。このため、パターン
孔からのクリーム半田の版抜け性は悪化し、印刷状態が
不良のクリーム半田が生産されやすい傾向にある。
In recent years, substrates are becoming smaller and more highly integrated, and the opening area of the pattern holes of the screen mask is becoming smaller accordingly. For this reason, the ability of the cream solder to escape from the pattern holes is deteriorated, and cream solder having a poor printing state tends to be easily produced.

【0004】基板の電極に印刷されたクリーム半田の形
状が不良であって、殊にクリーム半田量が不足すると、
電子部品の半田付け状態も不良となることから、クリー
ム半田を印刷した後、クリーム半田の印刷量の良否を判
定する検査が行われる。この検査方法としては、第1に
は、基板に印刷されたクリーム半田をカメラにより上方
から観察し、その平面画像を入手して、この平面画像に
基づくクリーム半田の面積からクリーム半田の印刷量の
良否を判定する方法が知られている。また第2には、基
板に印刷されたクリーム半田に対して、レーザ光を小ピ
ッチで繰り返しスキャンニングさせてクリーム半田の精
密な高さ分布を計測し、この高さ分布に基づいてクリー
ム半田の印刷量の良否を判定する方法が知られている。
If the shape of the cream solder printed on the electrodes of the substrate is bad, especially when the amount of cream solder is insufficient,
Since the soldering state of the electronic component also becomes defective, after the cream solder is printed, an inspection is performed to determine whether the printed amount of the cream solder is good or bad. As the inspection method, firstly, the cream solder printed on the substrate is observed from above by a camera, a plane image of the cream solder is obtained, and the area of the cream solder based on the plane image is used to determine the printing amount of the cream solder. A method of determining pass / fail is known. Secondly, the cream solder printed on the substrate is repeatedly scanned with a laser beam at a small pitch to measure a precise height distribution of the cream solder, and based on this height distribution, the cream solder A method for determining whether the print amount is good or bad is known.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながらカメラを
用いた上記第1の方法では、クリーム半田の平面情報を
カメラで一括入手するので検査速度が速いという長所が
あるものの、カメラでは2次元(平面)情報しか入手で
きず、情報量が少ないことから、印刷量の良否を的確に
判定できず、誤判定が多いという問題点があった。また
レーザ光を用いた上記第2の方法は、高さ情報を含む3
次元情報を入手できるので、クリーム半田の正確な印刷
量を推定でき、したがって的確に印刷量の良否を判定で
きるという長所があるものの、レーザ光を小ピッチで繰
り返しスキャンニングさせてクリーム半田の詳しい高さ
分布を計測しなければならないので、長い検査時間を要
し、作業能率があがらないという問題点があった。また
レーザ光を照射するレーザ装置は高価であり、設備コス
トがかかりすぎるという問題点があった。
However, the first method using a camera has an advantage that the inspection speed is high because the plane information of the cream solder is collectively obtained by the camera, but the camera is two-dimensional (flat). Since only information is available and the amount of information is small, there is a problem that the quality of the print amount cannot be accurately determined, and many erroneous determinations are made. In addition, the second method using the laser light includes the height information 3
Since the dimensional information can be obtained, it is possible to accurately estimate the print amount of the cream solder, and thus it is possible to accurately judge the quality of the print amount. Since it is necessary to measure the size distribution, there is a problem that a long inspection time is required and work efficiency is not improved. In addition, there is a problem that the laser device for irradiating the laser beam is expensive and the facility cost is too high.

【0006】そこで本発明は、カメラを用いて、高速度
で的確にクリーム半田の印刷量の良否を判定できるクリ
ーム半田の印刷量検査方法を提供することを目的とす
る。
SUMMARY OF THE INVENTION It is therefore an object of the present invention to provide a method for inspecting a print amount of cream solder, which can accurately determine the quality of the print amount of cream solder at a high speed by using a camera.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】このために本発明は、マ
スク認識カメラによりスクリーンマスクのパターン孔の
平面画像を入手し、また基板認識カメラにより基板に印
刷されたクリーム半田の平面画像を入手し、パターン孔
の平面画像とクリーム半田の平面画像に基づいて、良否
判定手段によりクリーム半田の印刷量の良否を判定する
ようにしている。
To this end, the present invention obtains a planar image of the pattern holes of the screen mask with a mask recognition camera and a planar image of the cream solder printed on the substrate with the substrate recognition camera. Based on the plane image of the pattern hole and the plane image of the cream solder, the quality determination unit determines whether the print amount of the cream solder is good or bad.

【0008】[0008]

【作用】上記構成によれば、パターン孔の平面画像とク
リーム半田の平面画像の2つの画像データを入手し、こ
の2つの画像データに基づいて、クリーム半田の印刷量
の良否を高速度で的確に判定できる。
According to the above construction, two image data of the pattern hole planar image and the cream solder planar image are obtained, and based on these two image data, the quality of the cream solder printing amount is accurately determined at high speed. Can be determined.

【0009】[0009]

【実施例】次に、図面を参照しながら本発明の一実施例
を説明する。図1は本発明の一実施例のスクリーン印刷
装置の側面図、図2は同スクリーン印刷装置の画像処理
系のブロック図である。図1において、1はYテーブル
部、2はXテーブル部、3はZテーブル部であって、段
積み構成されている。4はYテーブル部駆動用のモー
タ、5はXテーブル部駆動用のモータである。Zテーブ
ル部3上には保持部6が載置されており、保持部6には
基板7が保持されている。Xテーブル部2の側部にはブ
ラケット8が装着されており、ブラケット8にはマスク
認識カメラ9が保持されている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will now be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a side view of a screen printing apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a block diagram of an image processing system of the screen printing apparatus. In FIG. 1, 1 is a Y table section, 2 is an X table section, and 3 is a Z table section, which are stacked. Reference numeral 4 is a motor for driving the Y table portion, and 5 is a motor for driving the X table portion. A holding unit 6 is placed on the Z table unit 3, and a substrate 7 is held on the holding unit 6. A bracket 8 is attached to a side portion of the X table portion 2, and a mask recognition camera 9 is held on the bracket 8.

【0010】基板7の上方には基板認識カメラ10が設
けられている。またその側方にはスクリーンマスク11
が設けられている。スクリーンマスク11のホルダ12
はマスクホルダ13に保持されている。スクリーンマス
ク11上には印刷ヘッド14が設けられている。印刷ヘ
ッド14は2枚のスキージ15を備えており、スキージ
15とスキージ15の間にはクリーム半田16が貯えら
れている。
A board recognition camera 10 is provided above the board 7. Moreover, a screen mask 11 is provided on the side thereof.
Is provided. Holder 12 of screen mask 11
Are held by the mask holder 13. A print head 14 is provided on the screen mask 11. The print head 14 includes two squeegees 15, and cream solder 16 is stored between the squeegees 15.

【0011】上記構成において、Yテーブル部1を駆動
して基板7をスクリーンマスク11の直下に移動させ、
そこでZテーブル部3を駆動することにより基板7を上
昇させ、基板7の上面をスクリーンマスク11の下面に
近接させる。次にスキージ15をスクリーンマスク11
上を摺動させることにより、スクリーンマスク11に開
口されたパターン孔(図示せず)にクリーム半田16を
充填する。次にZテーブル部3を駆動して基板7を下降
させることにより、基板7をスクリーンマスク11から
分離させるが、このときパターン孔内に充填されたクリ
ーム半田16はパターン孔から版抜けして基板7の電極
上に印刷される。
In the above structure, the Y table portion 1 is driven to move the substrate 7 directly below the screen mask 11,
Then, the Z table portion 3 is driven to raise the substrate 7, and the upper surface of the substrate 7 is brought close to the lower surface of the screen mask 11. Next, attach the squeegee 15 to the screen mask 11
The cream solder 16 is filled in the pattern holes (not shown) opened in the screen mask 11 by sliding the cream solder 16 on the top. Next, the Z table portion 3 is driven to lower the substrate 7 to separate the substrate 7 from the screen mask 11. At this time, the cream solder 16 filled in the pattern holes is released from the pattern holes to cause the substrate 7 to escape. Printed on 7 electrodes.

【0012】図2において、マスク認識カメラ9は第1
の認識部21、印刷状態判定部23に接続されている。
また基板認識カメラ10は第2の認識部22、印刷状態
判定部23に接続されている。第1の認識部21、第2
の認識部22、印刷状態判定部23はCPUから成って
いる。図3は本発明の一実施例の画像とクリーム半田の
断面形状の説明図である。(A)〜(F)は画像やクリ
ーム半田16の断面形状の典型例を示している。(a)
はマスク認識カメラ9により入手されたスクリーンマス
ク11のパターン孔18の平面画像、(b)は基板認識
カメラ10で入手されたクリーム半田16の平面画像、
(c)は基板7の電極19上に印刷されたクリーム半田
16の実際の断面形状である。
In FIG. 2, the mask recognition camera 9 has a first
Is connected to the recognition unit 21 and the print state determination unit 23.
The board recognition camera 10 is connected to the second recognition unit 22 and the print state determination unit 23. First recognition unit 21, second
The recognition unit 22 and the print state determination unit 23 are composed of a CPU. FIG. 3 is an explanatory view of an image of one embodiment of the present invention and a cross-sectional shape of cream solder. (A) to (F) show typical examples of the image and the cross-sectional shape of the cream solder 16. (A)
Is a plane image of the pattern hole 18 of the screen mask 11 obtained by the mask recognition camera 9, (b) is a plane image of the cream solder 16 obtained by the board recognition camera 10,
(C) is an actual sectional shape of the cream solder 16 printed on the electrode 19 of the substrate 7.

【0013】次に、図1〜図3を参照しながら、クリー
ム半田16の印刷量の検査方法について説明する。ま
ず、クリーム半田16を基板7に印刷するのに先立っ
て、スクリーンマスク11のパターン孔18の面積Sを
計測する。すなわち図1において、Yテーブル部1を駆
動してマスク認識カメラ9をスクリーンマスク11の下
方へ移動させる。そこでXテーブル部2とYテーブル部
1を駆動して、マスク認識カメラ9をX方向やY方向に
移動させ、各パターン孔18を観察して、その面積Sを
計測する。この面積の演算や、演算結果のデータは第1
の認識部21に格納される。
Next, a method of inspecting the print amount of the cream solder 16 will be described with reference to FIGS. First, before printing the cream solder 16 on the substrate 7, the area S of the pattern hole 18 of the screen mask 11 is measured. That is, in FIG. 1, the Y table portion 1 is driven to move the mask recognition camera 9 below the screen mask 11. Therefore, the X table portion 2 and the Y table portion 1 are driven to move the mask recognition camera 9 in the X direction and the Y direction, and each pattern hole 18 is observed and the area S thereof is measured. This area calculation and calculation result data are
Is stored in the recognition unit 21.

【0014】以上のようにして、各パターン孔18の面
積Sを予め求めたならば、次に基板7をスクリーンマス
ク11の下方へ移動させ、上述したようにスキージ15
を摺動させることにより基板7の電極19にクリーム半
田16を印刷する。
After the area S of each pattern hole 18 is obtained in advance as described above, the substrate 7 is moved below the screen mask 11 and the squeegee 15 is moved as described above.
The cream solder 16 is printed on the electrode 19 of the substrate 7 by sliding.

【0015】以上のようにしてクリーム半田16を印刷
したならば、次に印刷量の良否検査を次のようにして行
う。まずマスク認識カメラ9をスクリーンマスク11の
下方へ移動させ、そこでX方向やY方向へ移動させるこ
とにより、パターン孔18の平面画像を入手する。図3
において(a)は入手されたパターン孔18の平面画像
を示している。図中、18はパターン孔、16はパター
ン孔18の縁部に付着したクリーム半田である。このク
リーム半田16は版抜けが悪いためにパターン孔18の
縁部に付着したものであり、このクリーム半田16のた
めにパターン孔18は目詰まりしている。この実施例の
画像は2値もしくは多値の明暗画像であって、その画像
データは第1の認識部21に記憶される。
After the cream solder 16 is printed as described above, a quality check of the printing amount is performed as follows. First, the mask recognition camera 9 is moved below the screen mask 11 and then moved in the X direction and the Y direction to obtain a plane image of the pattern hole 18. FIG.
In (a), the planar image of the obtained pattern hole 18 is shown. In the figure, 18 is a pattern hole, and 16 is a cream solder attached to the edge of the pattern hole 18. The cream solder 16 adheres to the edge of the pattern hole 18 due to poor printing removal, and the pattern hole 18 is clogged due to the cream solder 16. The image of this embodiment is a binary or multi-valued bright / dark image, and its image data is stored in the first recognition unit 21.

【0016】次に基板7を基板認識カメラ10の下方へ
移動させ、そこで基板7をX方向やY方向に移動させる
ことにより、基板7の電極19に印刷されたクリーム半
田16の平面画像を入手する。図3の(b)はその平面
画像を示している。この平面画像も明暗画像であって、
その画像データは第2の認識部22に記憶される。
Next, the board 7 is moved to the lower side of the board recognition camera 10, and the board 7 is moved there in the X and Y directions to obtain a plane image of the cream solder 16 printed on the electrodes 19 of the board 7. To do. FIG. 3B shows the plane image. This plane image is also a light and dark image,
The image data is stored in the second recognition unit 22.

【0017】次に各画像と良否判定方法について説明す
る。(A)−(a)に示すパターン孔18にはクリーム
半田16は付着しておらず、パターン孔18内に充填さ
れていたクリーム半田16はすべて基板7の電極19上
に転写印刷されている。この場合、クリーム半田16の
断面形状は、(A)−(c)に示すように形崩れのない
四角形であり、このクリーム半田16は良品である。
Next, each image and a method for judging quality will be described. The cream solder 16 is not attached to the pattern holes 18 shown in (A)-(a), and the cream solder 16 filled in the pattern holes 18 is all transferred and printed on the electrodes 19 of the substrate 7. . In this case, the cross-sectional shape of the cream solder 16 is a quadrangle without deformation as shown in (A)-(c), and the cream solder 16 is a good product.

【0018】(B)−(a)のパターン孔18の両側部
にはクリーム半田16が部分的に付着しており、パター
ン孔18の中央部だけが完全に版抜けしている。この場
合、(B)−(c)に示すようにクリーム半田16の断
面形状は中央部だけが正常であり、両側部は形崩れして
薄くなっている。このようなクリーム半田16は量不足
であって不良品である。
The cream solder 16 is partially adhered to both side portions of the pattern holes 18 of (B)-(a), and only the central portion of the pattern hole 18 is completely removed. In this case, as shown in (B)-(c), the cross-sectional shape of the cream solder 16 is normal only in the central portion, and both side portions are deformed and thin. The amount of such cream solder 16 is insufficient and is a defective product.

【0019】ここで、上述した従来のカメラによる第1
の方法では、(B)−(b)に示すクリーム半田16の
平面画像のみを入手していたものである。ところが
(B)−(b)の画像は(A)−(b)の画像と区別で
きないため、従来方法ではこのクリーム半田16を良品
と誤判定していたものである。これに対し本方法では、
(B)−(a)に示すパターン孔18の画像と、(B)
−(b)に示すクリーム半田16の画像を入手している
ため、(B)−(a)のパターン孔18の平面画像か
ら、クリーム半田16の断面形状は(B)−(c)に示
す形状であると推定され、よってこのクリーム半田16
は不良品であると正しく判定できる。すなわち、本方法
は、(a)および(b)に示す平面画像がともに良好で
ある場合にのみ、クリーム半田16の印刷量は良好と判
定する。なお(a)−(b)の平面画像に基づく良否判
定は印刷状態判定部23で行う。
Here, the first by the conventional camera described above.
In the above method, only the plane image of the cream solder 16 shown in (B)-(b) is obtained. However, since the images of (B)-(b) cannot be distinguished from the images of (A)-(b), the cream solder 16 is erroneously determined as a non-defective product in the conventional method. On the other hand, in this method,
(B)-(a) image of the pattern hole 18, and (B)
Since the image of the cream solder 16 shown in-(b) is obtained, the cross-sectional shape of the cream solder 16 is shown in (B)-(c) from the plan image of the pattern hole 18 in (B)-(a). It is presumed to have a shape, so this cream solder 16
Can be correctly determined to be defective. That is, this method determines that the print amount of the cream solder 16 is good only when both the plane images shown in (a) and (b) are good. It should be noted that the print state determination unit 23 performs the quality determination based on the planar images of (a) and (b).

【0020】以下、他の例について簡単に説明する。
(C)−(a)のパターン孔18は左半部にクリーム半
田16が付着しており、(C)−(b)に示すようにク
リーム半田16は部分的に電極19に塗布されている。
この場合、クリーム半田16は(C)−(c)に示すよ
うに、電極19の右半部にだけ付着する形状であると推
定される。この電極19上のクリーム半田16の分布は
不均一であり、また量不足であるから不良品である。
Another example will be briefly described below.
The cream solder 16 is attached to the left half of the pattern hole 18 of (C)-(a), and the cream solder 16 is partially applied to the electrode 19 as shown in (C)-(b). .
In this case, the cream solder 16 is presumed to have a shape that adheres only to the right half of the electrode 19, as shown in (C)-(c). The distribution of the cream solder 16 on the electrode 19 is non-uniform and the amount is insufficient, so that the product is defective.

【0021】(D)−(a)および(E)−(a)のパ
ターン孔18は完全に版抜けしているが、(D)−
(c)および(E)−(b)の画像は横長の細い楕円形
となっている。この場合、電極19上のクリーム半田1
6は(D)−(c)に示すように縁部がせり上っている
か、もしくは(E)−(c)に示すように中央部がせり
上っているものと推定される。このクリーム半田16も
量不足であり、不良品と判定される。
Although the pattern holes 18 of (D)-(a) and (E)-(a) are completely removed from the printing plate, (D)-
The images of (c) and (E)-(b) have a horizontally long thin elliptical shape. In this case, the cream solder 1 on the electrode 19
It is presumed that the edge of No. 6 is raised as shown in (D)-(c), or the center is raised as shown in (E)-(c). The amount of this cream solder 16 is also insufficient and is determined to be a defective product.

【0022】また(F)−(a)のパターン孔18はク
リーム半田16で完全に目詰まりしている。この場合、
電極19上にはクリーム半田16は存在せず、不良品で
ある。
The pattern holes 18 of (F)-(a) are completely clogged with the cream solder 16. in this case,
The cream solder 16 does not exist on the electrode 19 and is defective.

【0023】次に、上述した良否判定について、補足説
明を行う。(B)−(a)や(C)−(a)に示すパタ
ーン孔18には部分的にクリーム半田16が付着してい
る。この場合、良否判定のしきい値を設定しておく必要
がある。ここで、上述したように、クリーム半田16の
印刷を行う前に、マスク認識カメラ9で予めパターン孔
18を観察して求められたパターン孔18の面積をSと
する。また(B)−(a)の開口部の面積Siを求め
る。この面積Siは、(B)−(a)の画像より求めら
れる。これらの面積S,Siは第1の認識部21に格納
される。次に面積Siの面積Sに対する比率を求め、こ
の比率がしきい値以下であれば良品とする。(C)−
(a)の場合も、同様にして開口部の面積Siを求め、
その比率がしきい値以下であれば良品と判定する。
(B)−(a)および(C)−(a)の良否判定方法は
本方法に限定されないのであって、例えば開口部の面積
Siの大きさから判定してもよい。
Next, a supplementary explanation will be given on the above-mentioned quality judgment. The cream solder 16 is partially attached to the pattern holes 18 shown in (B)-(a) and (C)-(a). In this case, it is necessary to set the threshold value for the quality judgment. Here, as described above, the area of the pattern hole 18 obtained by observing the pattern hole 18 in advance with the mask recognition camera 9 before printing the cream solder 16 is S. Further, the area Si of the opening of (B)-(a) is obtained. This area Si is obtained from the image of (B)-(a). These areas S and Si are stored in the first recognition unit 21. Next, the ratio of the area Si to the area S is obtained, and if this ratio is less than or equal to the threshold value, it is determined as a good product. (C)-
Also in the case of (a), the area Si of the opening is similarly obtained,
If the ratio is less than or equal to the threshold value, it is determined to be non-defective.
The quality determination methods of (B)-(a) and (C)-(a) are not limited to this method, and may be determined from the size of the area Si of the opening, for example.

【0024】このようなしきい値の導入による良否判定
は、(D)−(b)および(E)−(b)に示す画像の
場合も同様に行われる。すなわち、これらの画像の面積
が予め定めたしきい値以上であれば、良品と判定する。
これらのしきい値の格納や必要な演算は、第1の認識部
21や第2の認識部22で行う。
The quality judgment by introducing such a threshold value is similarly performed in the case of the images shown in (D)-(b) and (E)-(b). That is, if the areas of these images are equal to or larger than a predetermined threshold value, it is determined that the image is good.
The first recognizing unit 21 and the second recognizing unit 22 store these threshold values and perform necessary calculations.

【0025】またクリーム半田16は印刷量の良否判定
基準は、基板7や、基板7に半田付けする電子部品の品
種などによって異るものである。したがって上述したし
きい値は、基板7や電子部品の品種などに応じて任意に
設定される。また上記実施例では、例えば(D)−
(E)の場合は不良品と判定しているが、良否判定基準
も基板7や電子部品の品種に応じて異るものであり、し
たがって(D)−(E)の場合には良品と判定してもよ
い。以上のように良否判定基準は任意に決定される。ま
た上記検査は、すべてのパターン孔18および電極19
について行うことが望ましいが、すべてを検査すると長
時間を要する。したがって任意数のパターン孔18と電
極19を選択し、これについてのみ上記検査を行っても
よい。この場合、スクリーン印刷の困難度の高いもの
(具体的にはパターン孔18の開口面積が小さいもの)
を選択することが望ましい。
In addition, the quality judgment criterion of the print amount of the cream solder 16 differs depending on the substrate 7, the type of electronic component to be soldered on the substrate 7, and the like. Therefore, the above-mentioned threshold value is arbitrarily set according to the type of the board 7 and electronic components. In the above embodiment, for example, (D)-
In the case of (E), it is judged as a defective product, but the quality judgment standard also differs depending on the type of the substrate 7 and the electronic parts. Therefore, in the case of (D)-(E), it is judged as a non-defective product. You may. As described above, the quality determination standard is arbitrarily determined. Also, the above inspection is performed for all pattern holes 18 and electrodes 19.
However, it takes a long time to inspect everything. Therefore, an arbitrary number of pattern holes 18 and electrodes 19 may be selected and the above inspection may be performed only for these. In this case, those having a high degree of difficulty in screen printing (specifically, those having a small opening area of the pattern hole 18)
It is desirable to select.

【0026】[0026]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、パターン
孔の平面画像と、クリーム半田の平面画像の2つの画像
データを入手し、これらの2つの画像データに基づいて
クリーム半田の印刷量の良否判定を行うので、良否判定
を的確に行える。また2つのカメラを用いて2つの平面
画像を一括入手するので、高速度での検査が可能であ
る。
As described above, according to the present invention, two image data, that is, a plane image of a pattern hole and a plane image of cream solder, are obtained, and the printing amount of cream solder is determined based on these two image data. Since the quality determination is performed, the quality determination can be accurately performed. In addition, since two planar images are collectively obtained by using two cameras, inspection at high speed is possible.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例のスクリーン印刷装置の側面
FIG. 1 is a side view of a screen printing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施例のスクリーン印刷装置の画像
処理系のブロック図
FIG. 2 is a block diagram of an image processing system of a screen printing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施例の画像とクリーム半田の断面
形状の説明図
FIG. 3 is an illustration of an image of one embodiment of the present invention and a sectional shape of cream solder.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

7 基板 9 マスク認識カメラ 10 基板認識カメラ 11 スクリーンマスク 15 スキージ 16 クリーム半田 18 パターン孔 19 電極 23 印刷状態判定部 7 Substrate 9 Mask Recognition Camera 10 Substrate Recognition Camera 11 Screen Mask 15 Squeegee 16 Cream Solder 18 Pattern Hole 19 Electrode 23 Printing State Judgment Section

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】スクリーンマスクとスキージを備えたスク
リーン印刷装置により基板の電極に印刷されたクリーム
半田の印刷量の良否を検査するクリーム半田の印刷量検
査方法であって、 マスク認識カメラによりスクリーンマスクのパターン孔
の平面画像を入手する工程と、 基板認識カメラにより基板に印刷されたクリーム半田の
平面画像を入手する工程と、 前記パターン孔の平面画像と前記クリーム半田の平面画
像に基づいて、良否判定手段によりクリーム半田の印刷
量の良否を判定する工程と、 を含むことを特徴とするクリーム半田の印刷量検査方
法。
1. A method of inspecting the amount of cream solder printed on an electrode of a substrate by a screen printing device equipped with a screen mask and a squeegee, the method comprising: The step of obtaining the plane image of the pattern hole, the step of obtaining the plane image of the cream solder printed on the board by the board recognition camera, and the pass / fail based on the plane image of the pattern hole and the plane image of the cream solder. A method of inspecting a print amount of cream solder, comprising the step of determining whether the print amount of cream solder is good or bad by a determination means.
JP6144683A 1994-06-27 1994-06-27 Inspection method of print amount of cream solder Expired - Lifetime JP2982617B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6144683A JP2982617B2 (en) 1994-06-27 1994-06-27 Inspection method of print amount of cream solder

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6144683A JP2982617B2 (en) 1994-06-27 1994-06-27 Inspection method of print amount of cream solder

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH081907A true JPH081907A (en) 1996-01-09
JP2982617B2 JP2982617B2 (en) 1999-11-29

Family

ID=15367834

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6144683A Expired - Lifetime JP2982617B2 (en) 1994-06-27 1994-06-27 Inspection method of print amount of cream solder

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2982617B2 (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004502539A (en) * 2000-07-11 2004-01-29 マイデータ オートメーション アクチボラグ Method, apparatus and use for applying a viscous medium to a substrate
JP2007218925A (en) * 2007-04-12 2007-08-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd Printing inspection apparatus and printing inspection method
JP2007527506A (en) * 2003-06-19 2007-09-27 ディーイーケー インターナショナル ジーエムビーエイチ Inspection system and method for inspecting deposits printed on a workpiece
JP2009300429A (en) * 2008-05-15 2009-12-24 Panasonic Corp Method and device for inspecting printed solder paste

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004502539A (en) * 2000-07-11 2004-01-29 マイデータ オートメーション アクチボラグ Method, apparatus and use for applying a viscous medium to a substrate
JP2007527506A (en) * 2003-06-19 2007-09-27 ディーイーケー インターナショナル ジーエムビーエイチ Inspection system and method for inspecting deposits printed on a workpiece
JP2011081006A (en) * 2003-06-19 2011-04-21 Dtg Internatl Gmbh Inspection system for and method of inspecting deposit printed on workpiece
US9791383B2 (en) 2003-06-19 2017-10-17 Asm Assembly Systems Switzerland Gmbh Inspection system for and method of inspecting deposits printed on workpieces
JP2007218925A (en) * 2007-04-12 2007-08-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd Printing inspection apparatus and printing inspection method
JP2009300429A (en) * 2008-05-15 2009-12-24 Panasonic Corp Method and device for inspecting printed solder paste

Also Published As

Publication number Publication date
JP2982617B2 (en) 1999-11-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4946668B2 (en) Substrate position detection device and substrate position detection method
KR20060114614A (en) Defect Detection System and Method of Printed Solder Paste
JP4493421B2 (en) Printed circuit board inspection apparatus, printed circuit board assembly inspection line system, and program
US8860456B2 (en) Non-destructive tilt data measurement to detect defective bumps
JP3758463B2 (en) Screen printing inspection method
JP2982617B2 (en) Inspection method of print amount of cream solder
JP2000326495A (en) Inspection method for cream solder printing
US6567542B1 (en) Automatic training of inspection sites for paste inspection by using sample pads
JP2003068813A (en) Probe mark measuring method and probe mark measuring device
JPH09201953A (en) Method of cleaning metal mask in cream solder printer
JP2005003473A (en) Appearance inspection method for weld marks
JPH1086322A (en) Method and apparatus for inspecting cream solder print
JPH05200991A (en) Screen printing inspection method
JP4187332B2 (en) Screen printing inspection method and screen printing apparatus
JPH07142545A (en) Flip chip component mounting device
JP2769199B2 (en) Method for manufacturing semiconductor device
JPH05296731A (en) Measurement method for cream solder height
JP4180127B2 (en) Cream solder printing inspection apparatus and cream solder printing inspection method
US6574358B1 (en) Automatic training of inspection sites for paste inspection
JP2001315299A (en) Screen mask alignment method for screen printing
JP3680675B2 (en) Method for creating inspection data for printing inspection apparatus
JP2847351B2 (en) Automatic printed wiring board inspection system
JPH11186711A (en) Apparatus and method for visual inspection of cream solder
JP3385916B2 (en) Wire detection method in wire bonding
JPH0658893A (en) Method and apparatus for inspecting bonded part of electronic component

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080924

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080924

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090924

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090924

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100924

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110924

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120924

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130924

Year of fee payment: 14

EXPY Cancellation because of completion of term