JPH08194953A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 異なる溝構造の境界近傍でのアクセスを確実
に行うことができ、アクセス中に異常が発生した場合に
は異常処理の時間を短縮できる光ディスク装置を提供す
る。 【構成】 予め、フォーカス引込回路１１によりフォー
カスアクチュエータ１４を駆動しながら、振幅検出回路
３０で溝構造Ａ，Ｂにおけるフォーカス誤差ＦＥの最大
振幅値を検出し、これらを用いて演算回路３４で溝構造
判別値ＶＲＥＦを設定しておき、アクセス時に、トラッ
キングサーボ手段を不動作状態としトラバース１５を移
動し停止させた後、フォーカス引込回路１１によりフォ
ーカスアクチュエータ１４を駆動しながら、振幅検出回
路３０でフォーカス誤差ＦＥの最大振幅値を検出し、比
較回路３５で溝構造判別値ＶＲＥＦと比較して溝構造を
判別し、これに基づいてセレクタ２１の出力を選択する
ため、トラッキングサーボが外れないようにトラッキン
グ誤差ＴＥ２の極性を正確に設定できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、半導体レーザ光を対
物レンズにより絞ったビームスポットを用いて、光ディ
スク上に予め記録されている情報を再生したり、光ディ
スク上に信号を記録したり、あるいは記録した光ディス
ク上の信号を消去、再生、重ね書きする光ディスク装置
に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来の光ディスク装置について図面を参
照しながら説明する。図４は従来の光ディスク装置の構
成を示すブロック図である。図４において、１は光ディ
スク、２は対物レンズ、３は光ビームを電流に変換する
光検出器、８は対物レンズ２をトラッキング方向に駆動
するトラッキングアクチュエータ、１４は対物レンズ２
をフォーカス方向に駆動するフォーカスアクチュエー
タ、１５はピックアップ本体である対物レンズ２とフォ
ーカスアクチュエータ１４とトラッキングアクチュエー
タ８をトラッキング方向に移動するトラバース、１７は
光ディスク１を所定の回転数で回転させるスピンドルモ
ータである。４は光検出器３から出力される電流を検出
しトラッキング誤差ＴＥを出力するトラッキングエラー
アンプ、２０はトラッキング誤差ＴＥの極性を反転する
反転回路、２１は反転回路２０の出力信号とトラッキン
グ誤差ＴＥのうちいずれかを選択して極性を加味したト
ラッキング誤差ＴＥ２として出力する第１のセレクタ、
１８は光ビームがトラック溝を横断する時に発生するト
ラッククロス信号ＴＲＣＲＳをトラッキング誤差ＴＥ２
から検出するトラッククロス検出回路、５はトラッキン
グサーボループの周波数位相特性を補償する第１の位相
補償フィルタ、６はトラッキングサーボループを開閉す
るトラッキングサーボループスイッチ、７は第１の位相
補償フィルタ５の出力信号でトラッキングアクチュエー
タ８を駆動するトラッキングアクチュエータ駆動回路で
ある。

【０００３】９は光検出器３から出力される電流を検出
しフォーカス誤差ＦＥを出力するフォーカスエラーアン
プ、１０はフォーカスサーボループの周波数位相特性を
補償する第２の位相補償フィルタ、１１はフォーカスア
クチュエータ１４を駆動し、光ディスクの記録および再
生媒体面を検出し、フォーカスサーボループを閉じるポ
イントを引き込むための信号を発生するフォーカス引込
回路、１２はフォーカスサーボループを閉じるか、また
はフォーカス引込回路１１のいずれかを選択するフォー
カスサーボループスイッチ、１３はフォーカスアクチュ
エータ１４を駆動するフォーカスアクチュエータ駆動回
路である。１６はトラッキング方向へトラバース１５を
移動するための駆動信号を出力するトラバース駆動回
路、１９はトラッキングサーボループスイッチ６やフォ
ーカスサーボループスイッチ１２の開閉を制御したり、
トラバース駆動信号を発生したりするコントローラであ
る。

【０００４】以上のように構成された従来の光ディスク
装置について、以下にその動作を、さらに図５および図
６を用いて説明する。図５は光ディスクの溝構造を示す
模式図であり、図５（Ａ）は光ディスク１上を光ビーム
が位置から位置へ移動する際の光ビームの軌跡を示
す。図５（Ａ）に示す光ディスク１の斜線部分は予め所
定のデータが記録されており、溝の構造はコンパクトデ
ィスクと同様の構造であり、図５（Ｂ）に示す溝構造Ａ
である。図５（Ａ）に示す光ディスク１の斜線以外の外
周側の部分は記録または再生ができる箇所であり、溝の
構造は連続した蛇行溝であり、図５（Ｂ）に示す溝構造
Ｂである。なお、溝構造Ａと溝構造Ｂではトラッキング
誤差ＴＥの極性が異なる構造となっている。

【０００５】図６は、図４の構成で光ディスク１上を光
ビームが図５の位置から目標アドレスである位置へ
移動した際の各部の信号波形を示し、（Ａ）はトラッキ
ング誤差ＴＥ２、（Ｂ）はトラッククロス信号ＴＲＣＲ
Ｓである。コントローラ１９は予め溝構造Ａと溝構造Ｂ
の境界位置である図５の位置のアドレスを把握してい
る。コントローラ１９はこの境界のアドレスを（数１）
により絶対トラッククロス数に換算する。

【０００６】

【数１】

【０００７】（数１）のセクタ周期の意味は、光ディス
ク１のデータ処理をするための基本単位データ長の周期
である。また、線速度の意味は、再生時にスピンドルモ
ータ１７の回転により、光ビームが光ディスク１のトラ
ック上を移動する速度である。図６の時刻ｔ１におい
て、光ビームは図５の移動開始アドレスである位置に
位置しており、溝構造Ａ上にある。コントローラ１９
は、光ビームを移動開始アドレスである位置から目標
アドレスである位置に移動するために予め移動開始ア
ドレスと目標アドレスの差分を（数２）より相対トラッ
ククロス数に換算する。

【０００８】

【数２】

【０００９】次に、コントローラ１９は、目標アドレス
に光ビームを移動させるためにトラッキングサーボルー
プスイッチ６を開き、トラッキングサーボをオン状態か
らオフ状態にする。図６の時刻ｔ１から時刻ｔ２まで
は、図５の位置から目標アドレスである位置へ光ビ
ームを移動させている期間である。コントローラ１９
は、目標アドレスである位置へ光ビームを移動するた
めに、トラバース駆動回路１６に所定の電圧値を印加す
る。すると、トラバース駆動回路１６は所定の電圧値を
トラバース１５に出力し、トラバース１５は現在位置で
ある位置から目標アドレスである位置へ移動を開始
する。また、光ビームが溝を横断することにより、トラ
ッキングエラーアンプ４がトラッキング誤差ＴＥを出力
し、直接あるいは反転回路２０を介して第１のセレクタ
２１から図６（Ａ）に示すトラッキング誤差ＴＥ２を出
力する。トラッククロス検出回路１８はこのトラッキン
グ誤差ＴＥ２から図６（Ｂ）に示すトラッククロス信号
ＴＲＣＲＳを検出し出力する。コントローラ１９はこの
トラッククロス信号ＴＲＣＲＳをカウントする。

【００１０】時刻ｔ２において、コントローラ１９は計
数したトラッククロス信号ＴＲＣＲＳのカウント値と目
標アドレスに移動するための相対トラッククロス数とが
一致したと判断する。また、コントローラ１９はトラッ
キングサーボループスイッチ６を閉じる前に溝構造毎に
トラッキング誤差の極性を予め設定する必要がある。コ
ントローラ１９は溝構造毎にトラッキング誤差の極性を
設定する目安として、溝構造Ａと溝構造Ｂの境界アドレ
スを絶対トラッククロス数に換算している。ゆえにコン
トローラ１９は、目標アドレスに光ビームを移動した際
に、境界アドレスの絶対トラッククロス数と目標アドレ
スの絶対トラッククロス数を比較して、トラッキング誤
差の極性を第１のセレクタ２１で適正な極性に設定して
から、トラッキングサーボループスイッチ６を閉じ、ト
ラッキングサーボをオンする。

【００１１】このように溝構造判別は、溝構造Ａと溝構
造Ｂの境界アドレスを絶対トラッククロス数に換算し、
アクセス時の目標アドレスの絶対トラッククロス数と比
較して溝構造の判定を行い、トラッキング誤差ＴＥ２の
極性を設定をする。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記の従
来の構成では、アクセス時に目標アドレス値を絶対トラ
ッククロス数に換算し、溝構造の境界アドレスの絶対ト
ラッククロス数と比較して、目標アドレスの溝構造を判
別する溝構造判別方式は、線速度のばらつきにより目標
アドレスの換算結果に誤差が生じたり、アクセス時にト
ラッッキング誤差ＴＥ２のノイズの影響や光ディスクの
偏芯により、誤ったトラッククロス数をカウントしてし
まい、目標アドレスの前後のアドレスに光ビームが移動
してしまう。また、光ビームを溝構造の境界アドレス近
傍にアクセスする場合やアクセス中などに異常が発生し
た場合にトラッキングサーボがはずれてしまうことがあ
り、このときには溝構造が明確に判る光ディスク１の最
内周まで光ビームを移動させて、再アクセスをする必要
がある。よって、アクセス時間は遅くなり、また異常発
生時の処理時間が長くなるという問題点を有していた。

【００１３】この発明は上記従来の問題点を解決するも
ので、異なる溝構造の境界近傍でのアクセスを確実に行
うことができるとともに、アクセス中に異常が発生した
場合には異常処理の時間を短縮することができる光ディ
スク装置を提供することを目的とする。

【００１４】

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
にこの発明の光ディスク装置は、トラッキング誤差の極
性の異なる第１および第２の溝構造を有する光ディスク
に対して集光手段を介して光ビームを照射し光ディスク
からの反射光を電気信号に変換して出力する光ヘッド
と、光ヘッドを光ディスクの径方向に移動させる光ヘッ
ド移動手段と、光ヘッドの出力信号から光ビームの光デ
ィスクに対する径方向のずれ量を示すトラッキング誤差
を検出するトラッキング誤差検出回路と、トラッキング
誤差の極性を反転し反転トラッキング誤差を出力する反
転回路と、トラッキング誤差および反転トラッキング誤
差を入力し一方を選択出力するセレクタと、セレクタの
出力信号に基づき集光手段を光ディスクの径方向に移動
し光ビームを光ディスクの溝に位置させるトラッキング
サーボ手段と、集光手段を光軸方向に移動させるフォー
カスアクチュエータと、フォーカスアクチュエータを駆
動するフォーカスアクチュエータ駆動回路と、光ヘッド
の出力信号から光ビームの光ディスクに対する光軸方向
のずれ量を示すフォーカス誤差を検出するフォーカス誤
差検出回路と、フォーカス誤差にフィルタリングを行う
位相補償フィルタと、フォーカスアクチュエータを駆動
させる信号を発生するフォーカス駆動信号発生回路と、
位相補償フィルタおよびフォーカス駆動信号発生回路の
出力のうち一方を選択しフォーカスアクチュエータ駆動
回路へ接続するフォーカスサーボループスイッチと、セ
レクタおよびフォーカスサーボループスイッチの選択を
制御するとともに光ヘッド移動手段およびトラッキング
サーボ手段を駆動制御する制御手段とを備えた光ディス
ク装置であって、フォーカス誤差の最大振幅値を検出す
る振幅検出回路と、振幅検出回路で検出した第１の溝構
造におけるフォーカス誤差の最大振幅値を記憶する第１
のメモリと、振幅検出回路で検出した第２の溝構造にお
けるフォーカス誤差の最大振幅値を記憶する第２のメモ
リと、第１のメモリで記憶した第１の溝構造におけるフ
ォーカス誤差の最大振幅値と第２のメモリで記憶した第
２の溝構造におけるフォーカス誤差の最大振幅値との間
に溝構造判別値を設定する判別値設定回路と、振幅検出
回路で検出するフォーカス誤差の最大振幅値と判別値設
定回路で設定した溝構造判別値とを比較し光ビームの照
射している領域が第１と第２のどちらの溝構造かを判別
する判別回路とを設けている。そして、制御手段は、予
め、フォーカスサーボループスイッチによりフォーカス
駆動信号発生回路の出力をフォーカスアクチュエータ駆
動回路へ接続し振幅検出回路の出力を第１のメモリへ入
力して第１の溝構造におけるフォーカス誤差の最大振幅
値を第１のメモリに記憶させるとともに、フォーカスサ
ーボループスイッチによりフォーカス駆動信号発生回路
の出力をフォーカスアクチュエータ駆動回路へ接続し振
幅検出回路の出力を第２のメモリへ入力して第２の溝構
造におけるフォーカス誤差の最大振幅値を第２のメモリ
に記憶させて、判別値設定回路で溝構造判別値を設定し
ておき、アクセス時に光ヘッドを移動する際に、トラッ
キングサーボ手段を不動作状態とし光ヘッド移動手段を
駆動して光ヘッドを移動し停止させた後、フォーカスサ
ーボループスイッチによりフォーカス駆動信号発生回路
の出力をフォーカスアクチュエータ駆動回路へ接続し振
幅検出回路の出力を判別回路へ入力し、判別回路の判別
結果に基づいてセレクタの出力を選択しトラッキングサ
ーボ手段を動作状態にするようにしたことを特徴とす
る。

【００１５】

【作用】この発明の構成によれば、予め、フォーカスサ
ーボループスイッチによりフォーカス駆動信号発生回路
の出力をフォーカスアクチュエータ駆動回路へ接続しフ
ォーカスアクチュエータを駆動しながら、振幅検出回路
で第１，第２の溝構造におけるフォーカス誤差の最大振
幅値を検出しそれぞれ第１，第２のメモリに記憶させ、
判別値設定回路で、第１のメモリに記憶した第１の溝構
造におけるフォーカス誤差の最大振幅値と第２のメモリ
に記憶した第２の溝構造におけるフォーカス誤差の最大
振幅値との間に溝構造判別値を設定しておく。そして、
アクセス時に光ヘッドを移動する際に、トラッキングサ
ーボ手段を不動作状態で光ヘッド移動手段を駆動して光
ヘッドを移動し停止させた後、フォーカスサーボループ
スイッチによりフォーカス駆動信号発生回路の出力をフ
ォーカスアクチュエータ駆動回路へ接続しフォーカスア
クチュエータを駆動しながら、振幅検出回路でフォーカ
ス誤差の最大振幅値を検出して判別回路へ入力し、判別
回路において溝構造判別値と比較して溝構造を判別し、
この判別結果に基づいてセレクタの出力を選択しトラッ
キングサーボ手段を動作状態とするようにしている。こ
のように、フォーカス誤差の最大振幅値で溝構造を判別
することにより、光ディスク上の任意位置での溝構造を
高速かつ正確に判別でき、トラッキングサーボ手段へ入
力するセレクタの出力信号となるトラッキング誤差の極
性を正確に設定できるため、異なる溝構造の境界近傍で
のアクセスを確実に行うことができる。また、アクセス
中に異常が発生した場合でも、異常処理を終了した位置
で溝構造を判別し、トラッキングサーボが外れないよう
にトラッキング誤差の極性を設定してトラッキングサー
ボをかけられるため、従来のように溝構造が明確な最内
周に移動する必要がなく、異常処理の時間を短縮するこ
とができる。

【００１６】

【実施例】以下この発明の一実施例について、図面を参
照しながら説明する。図１はこの発明の一実施例の光デ
ィスク装置の構成を示すブロック図である。図１におい
て、３０はフォーカス誤差ＦＥの最大振幅値を検出する
振幅検出回路、３２，３３はフォーカス誤差ＦＥの最大
振幅値を記憶する第１のメモリ，第２のメモリ、３１は
振幅検出回路３０の出力を第１のメモリ３２または第２
のメモリ３３または比較回路３５の入力に選択する第２
のセレクタ、３４は第１のメモリ３２および第２のメモ
リ３３にそれぞれ記憶された溝構造のフォーカス誤差の
最大振幅値から溝構造判別値を演算する演算回路、３５
は光ディスク１の任意位置でのフォーカス誤差の最大振
幅値と演算回路３４で演算された溝構造判別値ＶＲＥＦ
とを比較する比較回路であり、その他の部分は図４と同
様であり説明を省略する。なお、光ビームを発する光源
（図示せず）および光検出器３が光ヘッドに対応する。
また、トラバース１５およびトラバース駆動回路１６が
光ヘッド移動手段に、トラッキングエラーアンプ４がト
ラッキング誤差検出回路に、第１の位相補償フィルタ
５，トラッキングアクチュエータ駆動回路７およびトラ
ッキングアクチュエータ８がトラッキングサーボ手段
に、フォーカスエラーアンプ９がフォーカス誤差検出回
路に、フォーカス引込回路１１がフォーカス駆動信号発
生回路に、演算回路３４が判別値設定回路に、比較回路
３５が判別回路に、コントローラ１９が制御手段に対応
する。Ｓ１〜Ｓ５はコントローラ１９が出力する制御信
号である。また、図５に示す光ディスク１の溝構造Ａと
溝構造Ｂは第１および第２の溝構造であり、それぞれト
ラッキング誤差ＴＥの極性が異なる。

【００１７】以上のように構成されるこの実施例の光デ
ィスク装置について、以下にその動作を、さらに図２、
図３および図５を用いて説明する。図３は図１の構成の
各部における信号波形である。図３において、（Ａ）は
トラッキング誤差ＴＥ２、（Ｂ）はトラッククロス信号
ＴＲＣＲＳ、（Ｃ）は制御信号Ｓ２によりフォーカスサ
ーボループを開閉するフォーカスサーボループスイッチ
１２の開閉状態、（Ｄ）はフォーカスアクチュエータを
駆動する駆動信号ＦＯＤ、（Ｅ）はフォーカス誤差Ｆ
Ｅ、（Ｆ）は第２のセレクタ３１の出力Ａであるフォー
カス誤差ＦＥの最大振幅値ＦＰ、（Ｇ）は溝構造判別値
ＶＲＥＦとフォーカス誤差ＦＥの最大振幅値ＦＰとを比
較した結果である溝構造判別信号ＭＣ、（Ｈ）はトラッ
キング誤差ＴＥの極性を選択する第１のセレクタ２１の
制御信号Ｓ５、（Ｉ）はトラッキングサーボループスイ
ッチ６の開閉を制御する制御信号Ｓ１である。

【００１８】図２は図１の構成の各部における信号波形
であり、図１の振幅検出回路３０が溝構造毎のフォーカ
ス誤差ＦＥの最大振幅を検出し、所定のタイミングで第
１のメモリ３２、第２のメモリ３３に記憶して、溝構造
判別値を演算回路３４で演算する様子を図示している。
図２において、（Ａ）は制御信号Ｓ２によるフォーカス
サーボループスイッチ１２の開閉状態、（Ｂ）は光ビー
ムをフォーカス方向に上下に移動させてフォーカスサー
ボループを閉じるポイントを探すためのフォーカス引込
信号ＦＳ、（Ｃ）はフォーカスアクチュエータ１４を駆
動する駆動信号ＦＯＤ、（Ｄ）はフォーカス誤差ＦＥ、
（Ｅ）は第２のセレクタ３１の出力状況、（Ｆ）は第１
のメモリ３２の出力Ｍ１であり、図５の溝構造Ａのフォ
ーカス誤差ＦＥの最大振幅値、（Ｇ）は第２のメモリ３
３の出力Ｍ２であり、図５の溝構造Ｂのフォーカス誤差
ＦＥの最大振幅値、（Ｈ）は第１のメモリ３２と第２の
メモリ３３の出力Ｍ１，Ｍ２を用いて演算回路３４によ
って所定の演算をした溝構造判別値ＶＲＥＦである。

【００１９】はじめに、溝構造を判別する溝構造判別値
ＶＲＥＦを設定する動作について、図２と図５を用いて
説明する。その後で、設定された溝構造判別値ＶＲＥＦ
をもとに溝構造を判別したアクセスの様子を図３と図５
を用いて説明する。溝構造判別値ＶＲＥＦを設定する動
作を図２と図５を用いて説明する。なお、溝構造判別値
ＶＲＥＦの設定は、光ディスク１を光ディスク装置に新
たにセッティングした時点で自動的に行われる。

【００２０】図２において、時刻ｔ４までは、図５の溝
構造Ａに光ビームが位置している期間である。時刻ｔ５
以降は、図５の溝構造Ｂに光ビームが位置している期間
である。溝構造Ａのフォーカス誤差ＦＥの最大振幅値Ｆ
Ｅｐｐ１を第１のメモリ３２に記憶する動作を説明す
る。

【００２１】まず、時刻ｔ１において、第２のセレクタ
３１はＢ出力を選択し、フォーカスサーボループスイッ
チ１２はＢ側に閉じている。光ビームはフォーカス引込
回路１１の出力信号であるフォーカス引込信号ＦＳによ
り、光ディスク１から光ビームの焦点が遠ざかる方向
（フォーカス方向（−）と呼ぶ）に移動を開始する。時
刻ｔ１ａにおいて、フォーカス引込回路１１はフォーカ
ス方向（−）から光ディスク１に光ビームの焦点が近ず
く方向（フォーカス方向（＋）と呼ぶ）にフォーカス引
込信号ＦＳを出力する。すると、時刻ｔ１ｂにおいて、
フォーカスエラーアンプ９はフォーカス誤差ＦＥの最大
値を出力し、振幅検出回路３０はフォーカス誤差ＦＥの
最大値を検波する。時刻ｔ１ｃにおいて、光ビームのス
ポットは光ディスク１の再生媒体面に焦点が一致する。
よって、フォーカス誤差ＦＥの値はゼロを出力する。

【００２２】時刻ｔ２において、フォーカスエラーアン
プ９はフォーカス誤差ＦＥの最小値を出力し、振幅検出
回路３０はフォーカス誤差ＦＥの最小値を検波し、この
最小値と時刻ｔ１ｂで検波したフォーカス誤差ＦＥの最
大値とから溝構造Ａのフォーカス誤差ＦＥの最大振幅値
ＦＥｐｐ１を検出し、第２のセレクタ３１へ出力する。
さらに、溝構造Ａのフォーカス誤差ＦＥの最大振幅値Ｆ
Ｅｐｐ１は、第２のセレクタ３１のＢ出力を介し、第１
のメモリ３２に記憶され、第１のメモリ３２の出力Ｍ１
に出力される。

【００２３】時刻ｔ３において、コントローラ１９はフ
ォーカスサーボループスイッチ１２をＢ側からＡ側に閉
じ、光ビームのスポットを光ディスク１の記録および再
生媒体面に焦点を一致させるフォーカスサーボをおこな
う。時刻ｔ３以降、コントローラ１９は図５の所定の溝
構造Ｂに光ビームを移動する。また、コントローラ１９
は第２のセレクタ３１をＢ出力からＡ出力に切り替え
る。

【００２４】次に溝構造Ｂのフォーカス誤差ＦＥの最大
振幅値ＦＥｐｐ２を第２のメモリ３３に記録し、溝構造
判別値ＶＲＥＦを設定する動作を説明する。まず、時刻
ｔ６において、第２のセレクタ３１はＡ出力からＣ出力
を選択し、フォーカスサーボループスイッチ１２はＡ側
からＢ側とする。光ビームはフォーカス引込回路１１の
出力信号であるフォーカス引込信号ＦＳにより、光ディ
スク１から光ビームの焦点が遠ざかる方向（フォーカス
方向（−）と呼ぶ）に移動を開始する。

【００２５】時刻ｔ６ａにおいて、フォーカス引込回路
１１はフォーカス方向（−）から光ディスク１に光ビー
ムの焦点が近ずく方向（フォーカス方向（＋）と呼ぶ）
にフォーカス引込信号ＦＳを出力する。すると、時刻ｔ
６ｂにおいて、フォーカスエラーアンプ９はフォーカス
誤差ＦＥの最大値を出力し、振幅検出回路３０はフォー
カス誤差ＦＥの最大値を検波する。時刻ｔ６ｃにおい
て、光ビームのスポットは光ディスク１の記録および再
生媒体面に焦点が一致する。よって、フォーカス誤差Ｆ
Ｅの値はゼロを出力する。

【００２６】時刻ｔ７において、フォーカスエラーアン
プ９はフォーカス誤差ＦＥの最小値を出力し、振幅検出
回路３０はフォーカス誤差ＦＥの最小値を検波し、この
最小値と時刻ｔ６ｂで検波したフォーカス誤差ＦＥの最
大値とから溝構造Ｂのフォーカス誤差ＦＥの最大振幅値
ＦＥｐｐ２を検出し、第２のセレクタ３１へ出力する。
さらに、溝構造Ｂのフォーカス誤差ＦＥの最大振幅値Ｆ
Ｅｐｐ２は、第２のセレクタ３１のＣ出力を介し、第２
のメモリ３３に記憶され、第２のメモリ３３の出力Ｍ２
に出力される。

【００２７】時刻８において、演算回路３４は、第１の
メモリ３２の出力Ｍ１と第２のメモリ３３の出力Ｍ２か
ら、（数３）によって、溝構造判別値ＶＲＥＦを演算し
出力する。

【００２８】

【数３】

【００２９】次に、溝構造判別値ＶＲＥＦを用いて、異
なる溝構造の境界にアクセスする際の動作について、図
３と図５を用いて説明する。図５の溝構造Ａである位置
から溝構造Ｂの開始位置へ光ビームを移動する場合
の動作について説明する。図３の時刻ｔ１において、光
ビームは図５の位置に位置している。コントローラ１
９はトラッキングサーボループスイッチ６を開き、第１
のセレクタ２１の選択信号Ｓ５はＡ側を選択し、フォー
カスサーボループスイッチ１２のＡ側を選択する。次に
コントローラ１９は所定のトラバース駆動信号をトラバ
ース駆動回路１６に出力する。トラバース駆動回路１６
を介して、トラバース１５は図５の位置から図５の位
置を目標に移動を開始する。トラバース１５の移動
は、コントローラ１９が換算する図５の位置から位置
の相対アドレス差に対応する相対トラッククロス数
と、トラッククロス検出回路１８からのクラッククロス
信号ＴＲＣＳを計数したトラッククロス数とが一致する
まで続けられる。

【００３０】時刻ｔ２において、コントローラ１９は図
５の位置から位置に移動したと判断し、トラバース
１５の移動を終了する。コントローラ１９はフォーカス
サーボループスイッチ１２をＡ側からＢ側とし、フォー
カス引込信号ＦＳをフォーカスアクチュエータ駆動回路
１３に出力し、光ビームの焦点は光ディスク１の記録お
よび再生媒体面から遠ざかる方向（フォーカス方向
（−）と呼ぶ）に移動を開始する。時刻ｔ２ａにおい
て、フォーカス引込回路１１はフォーカス方向（−）か
ら光ディスク１に光ビームの焦点が近ずく方向（フォー
カス方向（＋）と呼ぶ）にフォーカス引込信号ＦＳを出
力する。すると、時刻ｔ２ｂにおいて、フォーカスエラ
ーアンプ９はフォーカス誤差ＦＥの最大値を出力し、振
幅検出回路３０はフォーカス誤差ＦＥの最大値を検波す
る。時刻ｔ２ｃにおいて、光ビームのスポットは光ディ
スク１の再生媒体面に焦点が一致する。よって、フォー
カス誤差ＦＥの値はゼロを出力する。

【００３１】時刻ｔ３において、フォーカスエラーアン
プ９はフォーカス誤差ＦＥの最小値を出力する。振幅検
出回路３０は、フォーカス誤差ＦＥの最小値を検波し、
この最小値と時刻ｔ２ｂで検波したフォーカス誤差ＦＥ
の最大値とからアクセス終了位置でのフォーカス誤差Ｆ
Ｅの最大振幅値ＦＥｐｐを検出し、この最大振幅値ＦＥ
ｐｐは第２のセレクタ３１のＡ出力を介して比較回路３
５へ出力される。比較回路３５では、振幅検出回路３０
により検出された最大振幅値ＦＥｐｐと溝構造判別値Ｖ
ＲＥＦとを比較し、溝構造判別値ＶＲＥＦに対して振幅
検出回路３０で検出されたフォーカス誤差ＦＥの最大振
幅値ＦＥｐｐが、低ければ溝構造Ａと判別し、高ければ
溝構造Ｂと判別する。そして、ここでは最大振幅値ＦＥ
ｐｐが溝構造判別値ＶＲＥＦより低いため溝構造Ａと判
別される。

【００３２】コントローラ１９は第１のセレクタ２１を
Ａ側のままとし、トラッキング誤差ＴＥ２の極性を変更
しない。図５の位置は溝構造Ａであり、移動が終了し
た位置の溝構造も溝構造Ａであった。したがって、図５
の位置から位置に移動したつもりがトラッッキング
誤差ＴＥのノイズや光ディスクの偏芯による影響でトラ
ッククロス数の計数に誤差が生じて、位置より手前の
位置近傍にアクセスしたと考えられる。

【００３３】そして、時刻ｔ４において、コントローラ
１９はフォーカスサーボループスイッチ１２をＢ側から
Ａ側にし、フォーカスサーボループを閉じる。時刻ｔ５
において、コントローラ１９はトラッキングサーボルー
プスイッチ６を閉じ、光ビームのスポットがトラック中
心を追従するようにトラッキングサーボをかける。な
お、図４に示す従来例では、光ビームの移動を終了した
時点で、予定位置にアクセスしたものとしてトラッッ
キング誤差ＴＥ２の極性を変更するため、位置にアク
セスしたときトラッキングサーボが外れてしまうが、こ
の実施例では、トラッキングサーボが外れない。

【００３４】以上のようにこの実施例によれば、フォー
カス誤差ＦＥの最大振幅値を検出する振幅検出回路３０
と、振幅検出回路３０で検出した溝構造Ａにおけるフォ
ーカス誤差ＦＥの最大振幅値ＦＥｐｐ１を記憶し出力す
る第１のメモリ３２と、振幅検出回路３０で検出した溝
構造Ｂにおけるフォーカス誤差ＦＥの最大振幅値ＦＥｐ
ｐ２を記憶し出力する第２のメモリ３３と、第１および
第２のメモリ３２，３３の出力Ｍ１，Ｍ２を演算して溝
構造判別値ＶＲＥＦを設定する演算回路３４と、振幅検
出回路３０で検出するフォーカス誤差ＦＥの最大振幅値
と演算回路３４で設定した溝構造判別値ＶＲＥＦとを比
較し光ビームの照射している領域がＡとＢのどちらの溝
構造かを判別する比較回路３５とを設けてあり、コント
ローラ１９の制御により、予め、フォーカスサーボルー
プスイッチ１２でフォーカス引込回路１１の出力ＦＳを
フォーカスアクチュエータ駆動回路１３へ接続しフォー
カスアクチュエータ１４を駆動しながら、振幅検出回路
３０で溝構造Ａ，Ｂのそれぞれにおけるフォーカス誤差
ＦＥの最大振幅値ＦＥｐｐ１，ＦＥｐｐ２を検出し、演
算回路３４でフォーカス誤差ＦＥの最大振幅値ＦＥｐｐ
１，ＦＥｐｐ２を演算して溝構造判別値ＶＲＥＦを設定
しておき、アクセス時に光ヘッドを移動する際に、トラ
ッキングサーボ手段を不動作状態（トラッキングサーボ
ループスイッチ６を開状態）でトラバース１５を移動し
停止させた後、フォーカスサーボループスイッチ１２で
フォーカス引込回路１１の出力ＦＳをフォーカスアクチ
ュエータ駆動回路１３へ接続しフォーカスアクチュエー
タ１４を駆動しながら、振幅検出回路３０でフォーカス
誤差ＦＥの最大振幅値を検出して比較回路３５へ入力
し、比較回路３５において溝構造判別値ＶＲＥＦと比較
して溝構造を判別し、この判別結果に基づいて第１のセ
レクタ２１の出力を選択しトラッキングサーボ手段を動
作状態とする（トラッキングサーボループスイッチ６を
閉じる）ようにしている。このように、フォーカス誤差
ＦＥの最大振幅値で溝構造を判別することにより、光デ
ィスク１上の任意位置での溝構造を高速かつ正確に判別
でき、トラッキングサーボ手段へ入力する第１のセレク
タ２１の出力信号となるトラッキング誤差ＴＥ２の極性
を正確に設定できるため、異なる溝構造の境界近傍での
アクセスを確実に行うことができる。また、アクセス中
に異常が発生した場合でも、異常処理を終了した位置で
溝構造を判別し、トラッキングサーボが外れないように
トラッキング誤差ＴＥ２の極性を設定してトラッキング
サーボをかけられるため、従来のように溝構造が明確な
最内周に移動する必要がなく、異常処理の時間を短縮す
ることができる。

【００３５】なお、上記実施例では、溝構造判別値ＶＲ
ＥＦを（数３）により求めたが、溝構造判別値ＶＲＥＦ
はフォーカス誤差ＦＥの最大振幅値ＦＥｐｐ１とＦＥｐ
ｐ２との間に設定しておけばよい。

【００３６】

【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、予め、
フォーカスサーボループスイッチによりフォーカス駆動
信号発生回路の出力をフォーカスアクチュエータ駆動回
路へ接続しフォーカスアクチュエータを駆動しながら、
振幅検出回路で第１，第２の溝構造におけるフォーカス
誤差の最大振幅値を検出しそれぞれ第１，第２のメモリ
に記憶させ、判別値設定回路で、第１のメモリに記憶し
た第１の溝構造におけるフォーカス誤差の最大振幅値と
第２のメモリに記憶した第２の溝構造におけるフォーカ
ス誤差の最大振幅値との間に溝構造判別値を設定してお
く。そして、アクセス時に光ヘッドを移動する際に、ト
ラッキングサーボ手段を不動作状態で光ヘッド移動手段
を駆動して光ヘッドを移動し停止させた後、フォーカス
サーボループスイッチによりフォーカス駆動信号発生回
路の出力をフォーカスアクチュエータ駆動回路へ接続し
フォーカスアクチュエータを駆動しながら、振幅検出回
路でフォーカス誤差の最大振幅値を検出して判別回路へ
入力し、判別回路において溝構造判別値と比較して溝構
造を判別し、この判別結果に基づいてセレクタの出力を
選択しトラッキングサーボ手段を動作状態とするように
している。このように、フォーカス誤差の最大振幅値で
溝構造を判別することにより、光ディスク上の任意位置
での溝構造を高速かつ正確に判別でき、トラッキングサ
ーボ手段へ入力するセレクタの出力信号となるトラッキ
ング誤差の極性を正確に設定できるため、トラッキング
サーボの引き込みを失敗することがなく、異なる溝構造
の境界近傍でのアクセスを確実に行うことができる。ま
た、アクセス中に異常が発生した場合でも、異常処理を
終了した位置で溝構造を判別し、トラッキングサーボが
外れないようにトラッキング誤差の極性を設定してトラ
ッキングサーボをかけられるため、従来のように溝構造
が明確な最内周に移動する必要がなく、異常処理の時間
を短縮することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例の光ディスク装置の構成を
示すブロック図である。

【図２】同実施例の光ディスク装置の動作を説明するた
めの各部における信号波形図である。

【図３】同実施例の光ディスク装置の動作を説明するた
めの各部における信号波形図である。

【図４】従来の光ディスク装置の構成を示すブロック図
である。

【図５】光ディスクの溝構造を示す模式図である。

【図６】従来の光ディスク装置の動作を説明するための
各部における信号波形図である。

【符号の説明】

１ 光ディスク ２ 対物レンズ（集光手段） ３ 光検出器（光ヘッド） ４ トラッキングエラーアンプ（トラッキング誤差検出
回路） ５ 第１の位相補償フィルタ（トラッキングサーボ手
段） ６ トラッキングサーボループスイッチ ７ トラッキングアクチュエータ駆動回路（トラッキン
グサーボ手段） ８ トラッキングアクチュエータ（トラッキングサーボ
手段） ９ フォーカスエラーアンプ（フォーカス誤差検出回
路） １０ 第２の位相補償フィルタ（位相補償フィルタ） １１ フォーカス引込回路（フォーカス駆動信号発生回
路） １２ フォーカスサーボループスイッチ １３ フォーカスアクチュエータ駆動回路 １４ フォーカスアクチュエータ １５ トラバース（光ヘッド移動手段） １６ トラバース駆動回路（光ヘッド移動手段） １７ スピンドルモータ １８ トラッククロス検出回路 １９ コントローラ（制御手段） ２０ 反転回路 ２１ 第１のセレクタ（セレクタ） ３０ 振幅検出回路 ３１ 第２のセレクタ ３２ 第１のメモリ ３３ 第２のメモリ ３４ 演算回路（判別値設定回路） ３５ 比較回路（判別回路）

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 トラッキング誤差の極性の異なる第１お
   よび第２の溝構造を有する光ディスクに対して集光手段
   を介して光ビームを照射し前記光ディスクからの反射光
   を電気信号に変換して出力する光ヘッドと、前記光ヘッ
   ドを前記光ディスクの径方向に移動させる光ヘッド移動
   手段と、前記光ヘッドの出力信号から前記光ビームの前
   記光ディスクに対する径方向のずれ量を示す前記トラッ
   キング誤差を検出するトラッキング誤差検出回路と、前
   記トラッキング誤差の極性を反転し反転トラッキング誤
   差を出力する反転回路と、前記トラッキング誤差および
   前記反転トラッキング誤差を入力し一方を選択出力する
   セレクタと、前記セレクタの出力信号に基づき前記集光
   手段を光ディスクの径方向に移動し前記光ビームを前記
   光ディスクの溝に位置させるトラッキングサーボ手段
   と、前記集光手段を光軸方向に移動させるフォーカスア
   クチュエータと、前記フォーカスアクチュエータを駆動
   するフォーカスアクチュエータ駆動回路と、前記光ヘッ
   ドの出力信号から前記光ビームの前記光ディスクに対す
   る光軸方向のずれ量を示すフォーカス誤差を検出するフ
   ォーカス誤差検出回路と、前記フォーカス誤差にフィル
   タリングを行う位相補償フィルタと、前記フォーカスア
   クチュエータを駆動させる信号を発生するフォーカス駆
   動信号発生回路と、前記位相補償フィルタおよび前記フ
   ォーカス駆動信号発生回路の出力のうち一方を選択し前
   記フォーカスアクチュエータ駆動回路へ接続するフォー
   カスサーボループスイッチと、前記セレクタおよび前記
   フォーカスサーボループスイッチの選択を制御するとと
   もに前記光ヘッド移動手段および前記トラッキングサー
   ボ手段を駆動制御する制御手段とを備えた光ディスク装
   置であって、 前記フォーカス誤差の最大振幅値を検出する振幅検出回
   路と、 前記振幅検出回路で検出した前記第１の溝構造における
   前記フォーカス誤差の最大振幅値を記憶する第１のメモ
   リと、 前記振幅検出回路で検出した前記第２の溝構造における
   前記フォーカス誤差の最大振幅値を記憶する第２のメモ
   リと、 前記第１のメモリで記憶した前記第１の溝構造における
   前記フォーカス誤差の最大振幅値と前記第２のメモリで
   記憶した前記第２の溝構造における前記フォーカス誤差
   の最大振幅値との間に溝構造判別値を設定する判別値設
   定回路と、 前記振幅検出回路で検出する前記フォーカス誤差の最大
   振幅値と前記判別値設定回路で設定した溝構造判別値と
   を比較し前記光ビームの照射している領域が第１と第２
   のどちらの溝構造かを判別する判別回路とを設け、 前記制御手段は、予め、前記フォーカスサーボループス
   イッチにより前記フォーカス駆動信号発生回路の出力を
   前記フォーカスアクチュエータ駆動回路へ接続し前記振
   幅検出回路の出力を前記第１のメモリへ入力して前記第
   １の溝構造における前記フォーカス誤差の最大振幅値を
   前記第１のメモリに記憶させるとともに、前記フォーカ
   スサーボループスイッチにより前記フォーカス駆動信号
   発生回路の出力を前記フォーカスアクチュエータ駆動回
   路へ接続し前記振幅検出回路の出力を前記第２のメモリ
   へ入力して前記第２の溝構造における前記フォーカス誤
   差の最大振幅値を前記第２のメモリに記憶させて、前記
   判別値設定回路で前記溝構造判別値を設定しておき、 アクセス時に前記光ヘッドを移動する際に、前記トラッ
   キングサーボ手段を不動作状態とし前記光ヘッド移動手
   段を駆動して前記光ヘッドを移動し停止させた後、前記
   フォーカスサーボループスイッチにより前記フォーカス
   駆動信号発生回路の出力を前記フォーカスアクチュエー
   タ駆動回路へ接続し前記振幅検出回路の出力を前記判別
   回路へ入力し、前記判別回路の判別結果に基づいて前記
   セレクタの出力を選択し前記トラッキングサーボ手段を
   動作状態にするようにしたことを特徴とする光ディスク
   装置。