JPH08201016A - 回転角度検出装置 - Google Patents
回転角度検出装置Info
- Publication number
- JPH08201016A JPH08201016A JP1350495A JP1350495A JPH08201016A JP H08201016 A JPH08201016 A JP H08201016A JP 1350495 A JP1350495 A JP 1350495A JP 1350495 A JP1350495 A JP 1350495A JP H08201016 A JPH08201016 A JP H08201016A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- rotation angle
- magnetoresistive element
- detecting device
- angle detecting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】磁気抵抗素子は一つの抵抗部を一つのチップ部
品として製作し、別に作成した目的のパターン配置の基
板上に搭載することにより、素子アッセンブリの自由度
を拡大させると共に素子の標準化を図る。 【効果】磁気抵抗素子は一つの抵抗部を一つのチップ部
品として製作しておくことにより、磁束密度変化手段の
形状が変更された場合には、このチップ部品を搭載する
基板のパターン配置を変更することにより磁気抵抗素子
チップは変更することなく、最適な磁気抵抗素子配置を
得ることができ、また素子の標準化を図ることができ
る。
品として製作し、別に作成した目的のパターン配置の基
板上に搭載することにより、素子アッセンブリの自由度
を拡大させると共に素子の標準化を図る。 【効果】磁気抵抗素子は一つの抵抗部を一つのチップ部
品として製作しておくことにより、磁束密度変化手段の
形状が変更された場合には、このチップ部品を搭載する
基板のパターン配置を変更することにより磁気抵抗素子
チップは変更することなく、最適な磁気抵抗素子配置を
得ることができ、また素子の標準化を図ることができ
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、回転角度，回転数を検
出する回転角度検出装置に係り、特に、磁気抵抗素子を
使用した回転検出装置の構造に関する。
出する回転角度検出装置に係り、特に、磁気抵抗素子を
使用した回転検出装置の構造に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の装置は、特開平1−136018 号公報
に記載のように磁気抵抗素子は一つの基板上に複数個パ
ターンニングにより形成している。このため組み合わせ
る磁束密度変化手段の形状により最適な素子パターン配
置を素子パターンニングのマスク等を変更することで対
応している。
に記載のように磁気抵抗素子は一つの基板上に複数個パ
ターンニングにより形成している。このため組み合わせ
る磁束密度変化手段の形状により最適な素子パターン配
置を素子パターンニングのマスク等を変更することで対
応している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】前記従来技術では、組
み合わせる磁束密度変化手段の形状に合わせ磁気抵抗素
子アッセンブリを作成しなければいけないため、磁束密
度変化手段の形状が変更された場合に素子パターンニン
グのマスク等から変更しなければならないため、素子製
作の期間がかかると共に、素子の標準化が図れずコスト
アップとなる。
み合わせる磁束密度変化手段の形状に合わせ磁気抵抗素
子アッセンブリを作成しなければいけないため、磁束密
度変化手段の形状が変更された場合に素子パターンニン
グのマスク等から変更しなければならないため、素子製
作の期間がかかると共に、素子の標準化が図れずコスト
アップとなる。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、磁気抵抗素子は一つの抵抗部を一つのチップ部品と
して製作し、別に作成した目的のパターン配置の基板上
に搭載することにより、素子アッセンブリの自由度を拡
大させると共に素子の標準化を図る。
に、磁気抵抗素子は一つの抵抗部を一つのチップ部品と
して製作し、別に作成した目的のパターン配置の基板上
に搭載することにより、素子アッセンブリの自由度を拡
大させると共に素子の標準化を図る。
【０００５】
【作用】磁気抵抗素子は一つの抵抗部を一つのチップ部
品として製作しておくことにより、磁束密度変化手段の
形状が変更された場合には、このチップ部品を搭載する
基板のパターン配置を変更することにより、最適な磁気
抵抗素子配置を得ることができる。
品として製作しておくことにより、磁束密度変化手段の
形状が変更された場合には、このチップ部品を搭載する
基板のパターン配置を変更することにより、最適な磁気
抵抗素子配置を得ることができる。
【０００６】
【実施例】本発明の一実施例を図１ないし図６で説明す
る。
る。
【０００７】図１は本発明の一実施例である磁気抵抗素
子アッセンブリを示した斜視図である。
子アッセンブリを示した斜視図である。
【０００８】磁気抵抗素子チップ１は、組み合わせる磁
束密度変化部形状に合わせて決定した素子ピッチのパタ
ーンを形成した基板２に搭載する。これにより、組み合
わせる磁束密度変化部形状が変更された場合は、基板２
のパターン（ピッチ）を変更するのみで最適な磁気抵抗
素子配置に変更することが可能となる。
束密度変化部形状に合わせて決定した素子ピッチのパタ
ーンを形成した基板２に搭載する。これにより、組み合
わせる磁束密度変化部形状が変更された場合は、基板２
のパターン（ピッチ）を変更するのみで最適な磁気抵抗
素子配置に変更することが可能となる。
【０００９】図２は図１の回路構成を示した図である。
【００１０】磁気抵抗素子１′と基板２′によりハーフ
ブリッジを形成する。
ブリッジを形成する。
【００１１】図３は本発明の一実施例である回転角度検
出装置とギアを組み合わせた図である。
出装置とギアを組み合わせた図である。
【００１２】ギア１０に対向するように磁気抵抗素子チ
ップ１と基板２で形成した磁気抵抗素子アッセンブリを
配置し、そのアッセンブリ後ろにバイアスマグネット３
を配置する。ギア１０が回転することにより磁気抵抗素
子１に加わる磁束密度が変化し素子の抵抗値が変化する
ことにより磁束の変化を電気信号に変換し回転角度を検
出する。これらの素子，マグネットは電源，グランド，
出力信号を供受するためのコネクタ５を有するケース４
に固定される。回路基板６は磁気抵抗素子アッセンブリ
の出力信号を波形整形する回路である。
ップ１と基板２で形成した磁気抵抗素子アッセンブリを
配置し、そのアッセンブリ後ろにバイアスマグネット３
を配置する。ギア１０が回転することにより磁気抵抗素
子１に加わる磁束密度が変化し素子の抵抗値が変化する
ことにより磁束の変化を電気信号に変換し回転角度を検
出する。これらの素子，マグネットは電源，グランド，
出力信号を供受するためのコネクタ５を有するケース４
に固定される。回路基板６は磁気抵抗素子アッセンブリ
の出力信号を波形整形する回路である。
【００１３】図４は磁気抵抗素子を搭載する基板と磁気
抵抗素子の出力電圧を波形整形する回路基板を一体化し
た場合の実施例である。
抵抗素子の出力電圧を波形整形する回路基板を一体化し
た場合の実施例である。
【００１４】磁気抵抗素子チップ１を搭載する基板２へ
磁気抵抗素子の出力電圧を波形整形する回路６′を形成
することにより基板間の接続を低減する。
磁気抵抗素子の出力電圧を波形整形する回路６′を形成
することにより基板間の接続を低減する。
【００１５】図５は図４の実施例をアッセンブリしギア
に組み合わせた場合の実施例である。
に組み合わせた場合の実施例である。
【００１６】ギア１０に対向するように磁気抵抗素子チ
ップ１と基板２で形成した磁気抵抗素子アッセンブリを
配置し、そのアッセンブリ後ろにバイアスマグネット３
を配置する。ギア１０が回転することにより磁気抵抗素
子１に加わる磁束密度が変化し素子の抵抗値が変化する
ことにより磁束の変化を電気信号に変換し回転角度を検
出する。これらの素子，マグネットは電源，グランド，
出力信号を供受するためのコネクタ５を有するケース４
に固定される。回路は磁気抵抗素子アッセンブリ基板２
上に形成し磁気抵抗素子の出力信号を波形整形する。
ップ１と基板２で形成した磁気抵抗素子アッセンブリを
配置し、そのアッセンブリ後ろにバイアスマグネット３
を配置する。ギア１０が回転することにより磁気抵抗素
子１に加わる磁束密度が変化し素子の抵抗値が変化する
ことにより磁束の変化を電気信号に変換し回転角度を検
出する。これらの素子，マグネットは電源，グランド，
出力信号を供受するためのコネクタ５を有するケース４
に固定される。回路は磁気抵抗素子アッセンブリ基板２
上に形成し磁気抵抗素子の出力信号を波形整形する。
【００１７】図６は図１の応用例で１相出力と２相出力
の２チャンネル３信号出力の磁気抵抗素子アッセンブリ
である。
の２チャンネル３信号出力の磁気抵抗素子アッセンブリ
である。
【００１８】１相出力と２相出力の目的の素子配置パタ
ーンに設定した基板２に、磁気抵抗素子チップ１を搭載
する。このように２チャンネル出力を取得しようとした
場合に、従来は素子作成時のパターンニングにより行っ
ていたため素子自体の大きさが非常に大きくなる。素子
のコストは素子の大きさで決まるためコストアップとな
っていた。本実施例によれば、素子は変更することなく
素子を搭載する基板を作成することで対応可能なため、
コスト低減を図ることが出来る。
ーンに設定した基板２に、磁気抵抗素子チップ１を搭載
する。このように２チャンネル出力を取得しようとした
場合に、従来は素子作成時のパターンニングにより行っ
ていたため素子自体の大きさが非常に大きくなる。素子
のコストは素子の大きさで決まるためコストアップとな
っていた。本実施例によれば、素子は変更することなく
素子を搭載する基板を作成することで対応可能なため、
コスト低減を図ることが出来る。
【００１９】
【発明の効果】磁気抵抗素子は一つの抵抗部を一つのチ
ップ部品として製作しておくことにより、磁束密度変化
手段の形状が変更された場合には、このチップ部品を搭
載する基板のパターン配置を変更することにより磁気抵
抗素子チップは変更することなく、最適な磁気抵抗素子
配置を得ることができ、また素子の標準化を図ることが
できる。
ップ部品として製作しておくことにより、磁束密度変化
手段の形状が変更された場合には、このチップ部品を搭
載する基板のパターン配置を変更することにより磁気抵
抗素子チップは変更することなく、最適な磁気抵抗素子
配置を得ることができ、また素子の標準化を図ることが
できる。
【図１】本発明の一実施例である磁気抵抗素子アッセン
ブリを示した説明図。
ブリを示した説明図。
【図２】図１の回路構成を示した説明図。
【図３】本発明の一実施例である回転角度検出装置とギ
アを組み合わせた説明図。
アを組み合わせた説明図。
【図４】磁気抵抗素子を搭載する基板と磁気抵抗素子の
出力電圧を波形整形する回路基板を一体化した場合の実
施例の斜視図。
出力電圧を波形整形する回路基板を一体化した場合の実
施例の斜視図。
【図５】図４の実施例をアッセンブリしギアに組み合わ
せた場合の実施例の断面図。
せた場合の実施例の断面図。
【図６】図１の応用例で１相出力と２相出力の２チャン
ネル３信号出力の磁気抵抗素子アッセンブリの斜視図。
ネル３信号出力の磁気抵抗素子アッセンブリの斜視図。
１…磁気抵抗素子チップ、２…磁気抵抗搭載基板、３…
マグネット、４…ケース、５…コネクタ、６…波形整形
回路基板、１０…ギア。
マグネット、４…ケース、５…コネクタ、６…波形整形
回路基板、１０…ギア。
Claims (14)
- 【請求項１】複数の磁気抵抗部を有する磁気抵抗素子の
アッセンブリ，前記磁気抵抗素子のアッセンブリに磁束
をバイアスするマグネット、これらを保持するケースよ
り構成される回転角度検出装置において、回転検出する
磁性材料で形成された回転体の磁束変化部形状に応じて
最適な磁気抵抗素子の配置パターンを設定するとき、一
つの磁気抵抗素子部を一つの素子チップ部品として作成
し、目的の配置に作成した基板に搭載し回路を形成する
ことにより、前記一つの素子チップ部品で任意の回転体
の形状に対応可能なことを特徴とする回転角度検出装
置。 - 【請求項２】請求項１において、前記磁気抵抗素子の材
料をＩｎＳｂとした回転角度検出装置。 - 【請求項３】請求項２において、前記ＩｎＳｂ磁気抵抗
素子はバルクタイプである回転角度検出装置。 - 【請求項４】請求項２において、前記ＩｎＳｂ磁気抵抗
素子は蒸着タイプである回転角度検出装置。 - 【請求項５】請求項１において、前記素子チップ部品を
搭載する基板はハイブリッドＩＣ基板とした回転角度検
出装置。 - 【請求項６】請求項１において、前記磁気抵抗素子チッ
プ部品を搭載する基板はガラスエポキシプリント基板と
した回転角度検出装置。 - 【請求項７】請求項１において、前記素子チップ部品を
搭載する基板をポリイミドを使用したフレキシブル基板
とした回転角度検出装置。 - 【請求項８】請求項１において、前記磁気抵抗素子の電
源，グランド，出力はケースに形成したコネクタで供受
する回転角度検出装置。 - 【請求項９】請求項１において、前記磁気抵抗素子の出
力を波形整形する回路をケースに内蔵した回転角度検出
装置。 - 【請求項１０】請求項９において、電源，グランド，出
力はケースに形成したコネクタで供受する回転角度検出
装置。 - 【請求項１１】請求項９において、前記磁気抵抗素子を
搭載する基板と波形整形する基板とを一体化した回転角
度検出装置。 - 【請求項１２】請求項１１において、前記基板はハイブ
リッドＩＣ基板とした回転角度検出装置。 - 【請求項１３】請求項１１において、前記基板はガラス
エポキシプリント基板とした回転角度検出装置。 - 【請求項１４】請求項１１において、前記基板はポリイ
ミドを使用したフレキシブル基板とした回転角度検出装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1350495A JPH08201016A (ja) | 1995-01-31 | 1995-01-31 | 回転角度検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1350495A JPH08201016A (ja) | 1995-01-31 | 1995-01-31 | 回転角度検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08201016A true JPH08201016A (ja) | 1996-08-09 |
Family
ID=11834972
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1350495A Pending JPH08201016A (ja) | 1995-01-31 | 1995-01-31 | 回転角度検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08201016A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6326779B1 (en) | 1998-04-23 | 2001-12-04 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Magnetic detector having separate base and connector units and production process therefor |
| US6781367B2 (en) | 2001-11-05 | 2004-08-24 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Rotation sensor |
| JP2009128301A (ja) * | 2007-11-27 | 2009-06-11 | Ckd Corp | 磁気リニア測定装置 |
-
1995
- 1995-01-31 JP JP1350495A patent/JPH08201016A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6326779B1 (en) | 1998-04-23 | 2001-12-04 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Magnetic detector having separate base and connector units and production process therefor |
| US6781367B2 (en) | 2001-11-05 | 2004-08-24 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Rotation sensor |
| JP2009128301A (ja) * | 2007-11-27 | 2009-06-11 | Ckd Corp | 磁気リニア測定装置 |
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