JPH08201323A - Induction heating flaw detection method and apparatus for electrically conductive continuous cast pieces - Google Patents

Induction heating flaw detection method and apparatus for electrically conductive continuous cast pieces

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JPH08201323A
JPH08201323A JP1324195A JP1324195A JPH08201323A JP H08201323 A JPH08201323 A JP H08201323A JP 1324195 A JP1324195 A JP 1324195A JP 1324195 A JP1324195 A JP 1324195A JP H08201323 A JPH08201323 A JP H08201323A
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induction
temperature change
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 圧延前の連続鋳造片に存在する表面疵の検出
が可能な誘導加熱探傷方法および装置を提供する。 【構成】 加熱工程において、高周波電源装置24が誘
導コイル18を所定の周波数の高周波電流で駆動するこ
とにより、表面疵の深さよりも小さい浸透深さの誘導電
流を導電性被検査材10の表面に発生させてその表面を
加熱すると、温度測定工程において、放射温度測定装置
78a、78b、78c、78dにより導電性被検査材
10の表面温度が測定される。そして、算出判定工程に
おいて、算出判定手段84によりその表面温度に基づい
て局部的な温度変化量信号S△Tが算出されると共に、
その温度変化量信号SΔTが負の第1判断基準値Th1
と比較されてピンホール68の有無が判定される。した
がって、圧延前の導電性被検査材10のピンホール68
の有無が容易に判断できる。
(57) [Summary] [Object] To provide an induction heating flaw detection method and apparatus capable of detecting a surface flaw existing in a continuously cast piece before rolling. In the heating step, the high-frequency power supply device 24 drives the induction coil 18 with a high-frequency current having a predetermined frequency, so that an induction current having a penetration depth smaller than the depth of the surface flaw is applied to the surface of the conductive inspection material 10. Then, the surface temperature of the conductive inspection material 10 is measured by the radiation temperature measuring devices 78a, 78b, 78c, 78d in the temperature measuring step. Then, in the calculation determining step, the calculation determining means 84 calculates the local temperature change amount signal SΔT based on the surface temperature, and
The temperature change amount signal SΔT has a negative first determination reference value Th 1
The presence or absence of the pinhole 68 is determined by comparison with the above. Therefore, the pinhole 68 of the conductive inspection material 10 before rolling
The presence or absence of can be easily determined.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、導電性を有する鋳造片
の表面を誘導加熱したときの表面温度の不均一性に基づ
いて表面疵を探傷する誘導加熱探傷装置に関するもので
ある。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an induction heating flaw detection apparatus for flaw detection on a surface flaw based on the non-uniformity of the surface temperature when the surface of a conductive cast piece is induction heated.

【0002】[0002]

【従来の技術】導電性被検査材に電磁誘導により誘導電
流を発生させることによって導電性被検査材の表面を加
熱するとともにその導電性被検査材の表面温度を測定
し、その表面温度の不均一性に基づいて導電性被検査材
の表面疵を探傷する導電性被検査材の誘導加熱探傷装置
が提案されている。このような探傷装置では、電磁誘導
によって発生する渦電流が表皮効果によって表面に集中
させられると、導電性被検査材の表面が渦電流損失など
によって加熱されるが、表面疵が存在する部分は他の部
分よりも渦電流の流れが変化させられてその部分の発熱
量も変化するので、表面温度が他の部分よりも局部的に
変化した部分が表面疵として判定されるようになってい
る。
2. Description of the Related Art The surface of a conductive test material is heated by generating an induction current in the conductive test material by electromagnetic induction, and the surface temperature of the conductive test material is measured. An induction heating flaw detection device for a conductive inspection material has been proposed which detects a surface flaw in the conductive inspection material based on the uniformity. In such a flaw detector, when the eddy current generated by electromagnetic induction is concentrated on the surface by the skin effect, the surface of the conductive inspection material is heated by eddy current loss and the like, but the portion where the surface flaw exists is Since the flow of eddy current is changed more than other parts and the amount of heat generation of that part also changes, the part where the surface temperature changes locally compared to other parts is judged as a surface flaw. .

【0003】ところで、上記の誘導加熱探傷装置は、例
えば、連続的に鋳造される鋼材などの鋳造片の探傷にも
用いられる。連続鋳造法においては、金型に接触してい
た鋳造片の表層部にピンホール(円柱状の微小穴)など
の表面疵が生じ得るが、一般に、鋳造片は多段階の圧延
工程により種々変形させられることから、上記表面疵は
その圧延工程において広い面積に亘るように広げられ
て、欠陥面積が拡大すると共に工程上の無駄が生じるこ
ととなる。そのため、鋳造時から存在する表面疵は、可
及的に早い段階で発見・除去されることが望ましい。
By the way, the above-mentioned induction heating flaw detector is also used, for example, for flaw detection of a cast piece such as a continuously cast steel material. In the continuous casting method, surface flaws such as pinholes (cylindrical minute holes) may occur in the surface layer of the cast piece that was in contact with the mold, but in general, the cast piece is variously deformed by the multi-step rolling process. Therefore, the surface flaw is spread over a wide area in the rolling process, the defect area is increased, and the process is wasted. Therefore, it is desirable that the surface defects existing from the time of casting be found and removed at the earliest possible stage.

【0004】[0004]

【発明が解決すべき課題】しかしながら、従来の誘導加
熱探傷装置は、導電性被検査材の表面において渦電流が
その表面疵により阻害されることによりその表面疵に隣
接する部分に迂回させられ、その表面疵の近傍に電流集
中領域が形成されることによりその表面疵の部分の表面
温度が局部的に高くなるという前提で構成されている
(米国特許第4109508号など)。そのため、圧延
後のビレットなどに形成されて鋼材の長手方向に伸びる
線状疵に対して、その長手方向に直交する方向に高周波
誘導電流を流す場合には、上記原理に従ってその線状疵
(表面疵)が検出されるが、前記ピンホールのような鋼
材の長手方向の長さが比較的短い疵の場合には、表面疵
の近傍の電流集中領域が明確に形成されない。したがっ
て、圧延前の鋳造片の探傷をしてもこの表面疵を発見で
きないという問題があった。
However, in the conventional induction heating flaw detector, the eddy current on the surface of the conductive material to be inspected is obstructed by the surface flaw so that it is diverted to the portion adjacent to the surface flaw. It is formed on the premise that the surface temperature of the surface flaw portion locally rises due to the formation of a current concentration region near the surface flaw (US Pat. No. 4,109,508). Therefore, when a high-frequency induction current is applied in the direction orthogonal to the longitudinal direction of the linear flaw formed in the billet after rolling and extending in the longitudinal direction of the steel material, the linear flaw (surface A flaw is detected, but in the case of a flaw such as the pinhole in which the length of the steel material in the longitudinal direction is relatively short, the current concentration region in the vicinity of the surface flaw is not clearly formed. Therefore, there is a problem that the surface flaw cannot be found even if the cast piece before rolling is flaw-detected.

【0005】本発明は、以上の事情を背景として為され
たものであり、その目的とするところは、圧延前の連続
鋳造片に存在する表面疵の検出が可能な誘導加熱探傷方
法および装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide an induction heating flaw detection method and apparatus capable of detecting a surface flaw existing in a continuously cast piece before rolling. To provide.

【0006】[0006]

【課題を解決するための第1の手段】斯かる目的を達成
するため、本発明の誘導加熱探傷方法の要旨とするとこ
ろは、導電性を有する連続鋳造片に電磁誘導により誘導
電流を発生させ、その電磁誘導によってその鋳造片の表
面を加熱し、その鋳造片の表面温度を測定し、その表面
温度の不均一性に基づいてその鋳造片の表面疵を探傷す
る導電性を有する連続鋳造片の誘導加熱探傷方法であっ
て、(a) 前記表面疵の深さよりも小さい浸透深さの誘導
電流により前記鋳造片の表面を加熱する加熱工程と、
(b) 前記鋳造片の表面温度を放射温度計にて測定する温
度測定工程と、(c) その表面温度に基づいて前記鋳造片
の表面の局部的な温度変化量を算出すると共に、その局
部的な温度変化量が予め定められた負の判断基準値を越
えたこと以てピンホールを判定する算出判定工程とを、
含むことにある。
In order to achieve such an object, the gist of the induction heating flaw detection method of the present invention is that an induction current is generated in a continuous cast piece having conductivity by electromagnetic induction. , The surface of the cast piece is heated by the electromagnetic induction, the surface temperature of the cast piece is measured, and the continuous cast piece having conductivity for flaw detection of the surface flaw of the cast piece based on the non-uniformity of the surface temperature Induction heating flaw detection method of, (a) a heating step of heating the surface of the casting piece by an induction current having a penetration depth smaller than the depth of the surface flaw,
(b) a temperature measuring step of measuring the surface temperature of the cast piece with a radiation thermometer, and (c) calculating a local temperature change amount of the surface of the cast piece based on the surface temperature, and locally And a calculation determination step of determining a pinhole when the temperature change amount exceeds a predetermined negative determination reference value,
To include.

【0007】[0007]

【作用および第1発明の効果】このようにすれば、加熱
工程において、連続鋳造片の表面が表面疵の深さよりも
小さい浸透深さの誘導電流により加熱されると、温度測
定工程において、その表面温度が測定され、算出判定工
程において、その表面温度に基づいて鋳造片表面の局部
的な温度変化量が算出されると共に、その温度変化量が
予め定められた負の判断基準値を越えたことを以てピン
ホールが判定される。誘導電流の浸透深さが表面疵の深
さよりも小さい場合には、その表面疵がピンホールのよ
うに鋳造片の長手方向長さが短いものであると、渦電流
がそのピンホールの側方を迂回させられて直下に非通電
領域が形成されることにより、そのピンホールの部分の
温度上昇が局部的に低くなる。したがって、上記温度変
化量が所定の負の判断基準値を越えた場合には、上記算
出判定工程においてその部分にピンホールが存在すると
判定され、圧延が施されていない連続鋳造片のピンホー
ルの有無が容易に判断できることとなる。
According to this structure, when the surface of the continuously cast piece is heated by the induction current having a penetration depth smaller than the depth of the surface flaw in the heating step, the The surface temperature is measured, and in the calculation determination step, the local temperature change amount of the cast piece surface is calculated based on the surface temperature, and the temperature change amount exceeds a predetermined negative judgment reference value. Therefore, the pinhole is determined. If the penetration depth of the induced current is smaller than the depth of the surface flaw, if the surface flaw is such that the length of the casting piece in the longitudinal direction is short, such as a pinhole, then the eddy current will be lateral to the pinhole. By forming a non-conducting region directly under the bypass, the temperature rise in the pinhole portion locally decreases. Therefore, when the amount of temperature change exceeds a predetermined negative determination reference value, it is determined that there is a pinhole in that portion in the calculation determination step, and the pinhole of the continuous cast piece that has not been rolled is The presence / absence can be easily determined.

【0008】ここで、好適には、(d) 前記算出判定工程
は、前記局部的な温度変化量が予め定められた負の第1
判断基準値を越えたことを以てピンホールを判定し、そ
の局部的な温度変化量が予め定められた正の第2判断基
準値を越えたことを以てブリードまたは割れ傷を判定す
るものである。このようにすれば、局部的な温度変化が
負であって第1判断基準値を越えた場合には、上述のよ
うにピンホールが判断される一方、局部的な温度変化が
正であって第2判断基準値を越えた場合には、ブリード
または割れ傷が判断される。したがって、連続鋳造片の
表面疵がピンホールである場合にも、ブリードまたは割
れ傷である場合にもその有無が判断されることとなる。
[0008] Here, preferably, (d) the calculation determination step is a negative first value in which the local temperature change amount is predetermined.
The pinhole is judged by exceeding the judgment reference value, and the bleeding or cracking is judged by the local temperature change amount exceeding the predetermined positive second judgment reference value. In this way, when the local temperature change is negative and exceeds the first determination reference value, the pinhole is determined as described above, while the local temperature change is positive. If the second judgment reference value is exceeded, bleeding or cracking is judged. Therefore, whether or not the surface flaw of the continuously cast piece is a pinhole or bleed or a crack is determined.

【0009】因みに、上記ブリードは、連続鋳造により
製造された鋳造片の表面に凸状に形成され得る表面疵で
あって、その内部に異物や気泡を有するものである。こ
のようなブリードが存在する部分では、誘導電流の浸透
深さが表面疵の深さよりも小さい場合には、その不均一
な組織により複雑な電流経路が形成されて、渦電流がラ
ンダムに流されて電気抵抗が大きくなることから、その
部分の温度上昇が局部的に高くなる。更に、割れ傷やコ
ーナ割れも、それらの深さよりも浸透深さの浅い誘導電
流が流れると、疵に倣って電流が密に迂回させられるた
め、これらの疵や割れ部分でも温度が上昇する。すなわ
ち、上記温度測定工程において測定される連続鋳造片の
表面温度は、表面疵の形状に拘らずその存在により変化
させられると共に、その表面疵の形状によりその温度変
化量の正負が決定される。したがって、その温度変化量
をその正負に応じて第1判断基準値或いは第2判断基準
値と比較することにより、連続鋳造片の表面疵の有無お
よび形状が判断できるのである。
Incidentally, the bleed is a surface flaw that can be formed in a convex shape on the surface of a cast piece manufactured by continuous casting, and has foreign matter and bubbles inside. When the penetration depth of the induced current is smaller than the depth of the surface flaw in the area where such a bleed is present, a complicated current path is formed due to the uneven texture, and eddy currents are flowed randomly. As a result, the electrical resistance increases, and the temperature rise locally increases. Further, even in cracks and corner cracks, when an induced current having a penetration depth shallower than those depths flows, the current is closely diverted in accordance with the flaws, so that the temperature of these flaws and cracks also rises. That is, the surface temperature of the continuous cast piece measured in the temperature measuring step is changed by the existence of the surface flaw regardless of the shape of the surface flaw, and the positive or negative of the temperature change amount is determined by the shape of the surface flaw. Therefore, by comparing the amount of temperature change with the first judgment reference value or the second judgment reference value depending on whether the temperature change is positive or negative, the presence or absence and the shape of the surface flaw of the continuous cast piece can be judged.

【0010】[0010]

【課題を解決するための第2の手段】また、前記目的を
達成するため、本発明の誘導加熱探傷装置の要旨とする
ところは、導電性を有する連続鋳片に電磁誘導により誘
導電流を発生させ、その電磁誘導によってその鋳造片の
表面を加熱し、その鋳造片の表面温度を測定し、その表
面温度の不均一性に基づいてその鋳造片の表面疵を探傷
する導電性を有する連続鋳造片の誘導加熱探傷装置であ
って、(e) 前記鋳造片の表面に前記表面疵の深さよりも
小さい浸透深さの誘導電流を発生させることによりその
鋳造片の表面を加熱する高周波加熱装置と、(f) 前記鋳
造片の表面温度を測定する放射温度計と、(g) その放射
温度計により測定された表面温度に基づいて前記鋳造片
の表面の局部的な温度変化量を算出すると共に、その局
部的な温度変化量が予め定められた負の判断基準値を越
えたことを以てピンホールを判定する算出判定手段と
を、含むことにある。
In order to achieve the above object, the gist of the induction heating flaw detector of the present invention is that an induction current is generated in a continuous slab having conductivity by electromagnetic induction. Then, the surface of the cast piece is heated by the electromagnetic induction, the surface temperature of the cast piece is measured, and continuous casting with conductivity is performed to detect the surface flaw of the cast piece based on the non-uniformity of the surface temperature. An induction heating flaw detection device for a piece, (e) a high-frequency heating device for heating the surface of the casting piece by generating an induction current having a penetration depth smaller than the depth of the surface flaw on the surface of the casting piece. , (F) a radiation thermometer for measuring the surface temperature of the cast piece, and (g) calculating a local temperature change amount of the surface of the cast piece based on the surface temperature measured by the radiation thermometer. , The local temperature change is And determining calculation determination means pinholes with a possible exceeding the negative determination reference value set is to contain.

【0011】[0011]

【作用および第2発明の効果】このようにすれば、誘導
加熱探傷装置は、表面疵の深さよりも小さい浸透深さの
誘導電流を鋳造片の表面に発生させてその表面を加熱す
る高周波加熱装置と、その表面温度を測定する放射温度
計と、その表面温度に基づいて局部的な温度変化量を算
出すると共に、その温度変化量が負の判断基準値を越え
たことを以てピンホールを判定する算出判定手段とを備
えて構成される。誘導電流の浸透深さが表面疵の深さよ
りも小さい場合には、その表面疵がピンホールのように
鋳造片の長手方向長さが短いものであると、渦電流がそ
のピンホールの側方を迂回させられて直下に非通電領域
が形成されることにより、そのピンホールの部分の温度
上昇が局部的に低くなる。したがって、上記温度変化量
が所定の負の判断基準値を越えた場合には、上記算出判
定手段においてその部分にピンホールが存在すると判定
され、圧延が施されていない連続鋳造片のピンホールの
有無が容易に判断できることとなる。
In this way, the induction heating flaw detection apparatus can generate the induced current of the penetration depth smaller than the depth of the surface flaw on the surface of the cast piece to heat the surface. A device, a radiation thermometer that measures the surface temperature, and a local temperature change amount is calculated based on the surface temperature, and a pinhole is determined when the temperature change amount exceeds a negative determination reference value. And a calculation determining unit for performing the calculation. If the penetration depth of the induced current is smaller than the depth of the surface flaw, if the surface flaw is such that the length of the casting piece in the longitudinal direction is short, such as a pinhole, then the eddy current will be lateral to the pinhole. By forming a non-conducting region directly under the bypass, the temperature rise in the pinhole portion locally decreases. Therefore, when the amount of temperature change exceeds a predetermined negative judgment reference value, it is judged by the calculation judging means that a pinhole exists in that portion, and the pinhole of the continuous cast piece that has not been rolled is determined. The presence / absence can be easily determined.

【0012】ここで、前記第1および第2発明におい
て、好適には、前記鋳造片は磁性鋼から成る連続鋳造鋼
片である。この場合には、表面疵の深さよりも小さい浸
透深さの誘導電流を発生させるために、比較的利用し易
い数十乃至100kHz程度の周波数の高周波加熱装置を用い
ることができることとなる。
Here, in the first and second inventions, preferably, the cast piece is a continuously cast steel piece made of magnetic steel. In this case, in order to generate an induced current having a penetration depth smaller than the depth of the surface flaw, it is possible to use a high-frequency heating device having a frequency of several tens to 100 kHz which is relatively easy to use.

【0013】[0013]

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて詳
細に説明する。図1は、本発明の一実施例の誘導加熱探
傷装置を示す平面図である。図において、導電性被検査
材10は、一辺が数十cm程度の正方形断面および 10m程
度の長さを有し、連続鋳造により鋳造されて未だ圧延さ
れていない鋳造片であり、鋼などの磁性金属材、或いは
ステンレス鋼、アルミニウム合金、銅合金などの非磁性
金属材から成るものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a plan view showing an induction heating flaw detector according to an embodiment of the present invention. In the figure, the conductive test material 10 is a cast piece which has a square cross section with a side of about several tens of cm and a length of about 10 m, and is a cast piece that has been cast by continuous casting and has not yet been rolled. It is made of a metal material or a non-magnetic metal material such as stainless steel, aluminum alloy, and copper alloy.

【0014】導電性被検査材10は、図示しない搬送ロ
ーラや2つのピンチローラユニット12および14によ
って支持され且つ図示しない駆動装置によってそれらピ
ンチローラユニット12および14などが回転駆動され
ることにより、その断面の対角線が略垂直および水平と
なる状態でその長手方向に一定の速度で搬送され、その
搬送過程で粉体塗布装置16、誘導コイル18、粉体除
去装置20を順次通過させられるようになっている。
The conductive material 10 to be inspected is supported by a conveying roller (not shown) and two pinch roller units 12 and 14, and the pinch roller units 12 and 14 are rotatably driven by a driving device (not shown). It is conveyed at a constant speed in the longitudinal direction with the diagonals of the cross section being substantially vertical and horizontal, and in the course of the conveyance, it can be successively passed through the powder coating device 16, the induction coil 18, and the powder removing device 20. ing.

【0015】図2は、上記粉体塗布装置16をその出口
側から見た斜視図である。粉体塗布装置16には、導電
性被検査材10を通過させるためにその断面より大きい
貫通穴22が備えられており、高周波電源装置24に
は、その貫通穴22から出た導電性被検査材10を通過
させるためのその断面より僅かに大きな形状の貫通穴2
6を有する誘導コイル18が立設されている。本実施例
においては、上記高周波電源装置24および誘導コイル
18が高周波加熱装置を構成している。また、ピンチロ
ーラユニット14は、図示しない駆動装置によって回転
駆動される駆動ローラ28と、この駆動ローラ28に対
向して導電性被検査材10を押圧する押圧ローラ30と
から構成されている。なお、前記ピンチローラユニット
12もこのピンチローラユニット14と同様に構成され
ている。また、粉体除去装置20にも上記粉体塗布装置
16と同様に貫通穴32が備えられている。
FIG. 2 is a perspective view of the powder coating device 16 as seen from its outlet side. The powder coating device 16 is provided with a through hole 22 having a larger cross section for allowing the conductive inspection material 10 to pass therethrough, and the high-frequency power supply device 24 is provided with the conductive inspection material from the through hole 22. Through hole 2 having a shape slightly larger than its cross section for passing the material 10
An induction coil 18 having 6 is erected. In this embodiment, the high frequency power supply device 24 and the induction coil 18 constitute a high frequency heating device. The pinch roller unit 14 is composed of a drive roller 28 that is rotationally driven by a drive device (not shown), and a pressing roller 30 that faces the drive roller 28 and presses the conductive inspection target material 10. The pinch roller unit 12 has the same structure as the pinch roller unit 14. Further, the powder removing device 20 is also provided with a through hole 32 like the powder applying device 16.

【0016】上記粉体塗布装置16は、たとえば図3に
示すように箱状の本体17と、その本体17内において
所定の距離を隔てた導電性被検査材10の4つの側面に
向かって粉体34をそれぞれ放出する4つの塗布ガン3
6とを備えている。この塗布ガン36は導電性被検査材
10の各側面の幅方向の中心の真上において一定の距離
を隔てて位置させられている。また、この塗布ガン36
は、図4に示すように、図示しないホッパに接続される
粉体供給ポート38と、圧縮空気が供給される圧縮空気
接続ポート40と、粉体34を吐出する吐出ポート42
と、100kV 程度の負の高電圧を出力する高圧電源44と
電気的に接続されて吐出ポート42に設けられた静電電
極46とを備えており、負に帯電した粉体34を噴射す
るように構成されている。導電性被検査材10は、図示
しない搬送ローラや2つのピンチローラユニット12お
よび14などを介して接地されているので、粉体34は
クーロン力によって吸引され、静電塗装の原理にしたが
って導電性被検査材10の表面に均一に吸着・塗布され
る。粉体塗布装置16内で余った粉体34はダクト48
を介して回収されるようになっている。
The powder coating device 16 is, for example, as shown in FIG. 3, a box-shaped main body 17 and powders directed toward the four side surfaces of the conductive inspection material 10 at a predetermined distance in the main body 17. 4 spray guns 3 for ejecting each body 34
6 is provided. The coating gun 36 is located at a fixed distance directly above the widthwise center of each side surface of the conductive inspection material 10. Also, this coating gun 36
4, is a powder supply port 38 connected to a hopper (not shown), a compressed air connection port 40 to which compressed air is supplied, and a discharge port 42 for discharging the powder 34.
And a high-voltage power supply 44 that outputs a negative high voltage of about 100 kV and an electrostatic electrode 46 that is electrically connected to the discharge port 42 and that ejects the negatively charged powder 34. Is configured. Since the material 10 to be inspected is grounded via the transport roller (not shown) and the two pinch roller units 12 and 14, etc., the powder 34 is attracted by the Coulomb force, and the material 34 is electrically conductive according to the principle of electrostatic coating. It is evenly adsorbed and applied to the surface of the material 10 to be inspected. Excess powder 34 in the powder coating device 16 is duct 48
It is designed to be collected via.

【0017】また、上記粉体除去装置20は、たとえば
図5に示すように箱状の本体21と、その本体21にお
いて所定の距離を隔てた導電性被検査材10の4つの側
面に向かって 4kg/cm2程度の圧縮空気をそれぞれ放出す
る4つの空気噴射ガン50とを備えている。この空気噴
射ガン50は、導電性被検査材10の側面に向かって突
き出すようにその側面の幅方向に配列された複数本のノ
ズル52を備えており、そのノズル52から噴射された
圧縮空気によって、導電性被検査材10の表面に静電的
に塗布された粉体34が容易に除去されるようになって
いる。除去された粉体34は、ダクト54を介して回収
されるようになっている。
Further, the powder removing apparatus 20 is, for example, as shown in FIG. 5, a box-shaped main body 21 and four side surfaces of the conductive inspection material 10 which are separated by a predetermined distance in the main body 21. It is provided with four air injection guns 50 which each discharge compressed air of about 4 kg / cm 2 . The air injection gun 50 is provided with a plurality of nozzles 52 arranged in the width direction of the side surface of the conductive inspection material 10 so as to project toward the side surface thereof. The powder 34 electrostatically applied to the surface of the conductive material 10 to be inspected is easily removed. The removed powder 34 is collected via the duct 54.

【0018】上記粉体塗布装置16のダクト48および
粉体除去装置20のダクト54は、図1に示すように、
集塵装置56に接続されており、粉体塗布装置16内に
おいて余った粉体34や粉体除去装置20内において除
去された粉体34が集塵装置56において回収され、再
使用され得るようになっている。
The duct 48 of the powder coating device 16 and the duct 54 of the powder removing device 20 are, as shown in FIG.
It is connected to the dust collector 56 so that the powder 34 remaining in the powder coating device 16 and the powder 34 removed in the powder removing device 20 can be collected in the dust collector 56 and reused. It has become.

【0019】すなわち、上記集塵装置56は、上記ダク
ト48および54に接続されたサイクロン式の一次集塵
機58と、この一次集塵機58にダクト60を介して接
続されたフィルタ式の二次集塵機62と、それら一次集
塵機58および二次集塵機62を通して粉体塗布装置1
6や粉体除去装置20内の空気を吸引する吸引ブロア6
4とから構成されている。上記一次集塵機58は、吸入
空気を逆テーパ状の空間内で回転させることにより遠心
力に従って粉体34を連続的に能率よく除去する形式の
ものである。また、上記二次集塵機62は、濾布を通し
て吸入空気を吸引することにより空気中に混在する比較
的微細な粒径の粉体34を除去する形式のものである。
上記一次集塵機58および二次集塵機62により回収さ
れた粉体34は、定期的に取り出され、清浄化処理され
た後に、再使用される。
That is, the dust collector 56 includes a cyclone type primary dust collector 58 connected to the ducts 48 and 54, and a filter type secondary dust collector 62 connected to the primary dust collector 58 via a duct 60. Through the primary dust collector 58 and the secondary dust collector 62, the powder coating apparatus 1
6 and a suction blower 6 for sucking air in the powder removing device 20
And 4. The primary dust collector 58 is of a type that removes the powder 34 continuously and efficiently in accordance with a centrifugal force by rotating the intake air in an inversely tapered space. The secondary dust collector 62 is of a type that removes the powder 34 having a relatively fine particle size mixed in the air by sucking the intake air through the filter cloth.
The powder 34 collected by the primary dust collector 58 and the secondary dust collector 62 is periodically taken out, cleaned, and then reused.

【0020】ここで、上記粉体34は、カーボン粒子、
チタン粒子などの40乃至 100μm 程度の粒径の粒子がエ
ボキシ樹脂或いはアクリル樹脂などの絶縁樹脂により被
覆された放射率均等化粉体である。樹脂被覆されたカー
ボン粒子は黒色であり、樹脂被覆されたチタン粒子は白
色乃至灰色であるが、いずれも表面温度に対応したエネ
ルギ放射をすることにより、導電性被検査材10の表面
状態に起因する赤外線放射率のばらつきを防止して均一
化するとともに放射率を高める。上記絶縁樹脂は、カー
ボン粒子、チタン粒子などを電気的に絶縁するためのも
のであるが、比較的低い温度で軟化或いは溶融開始する
ために、導電性被検査材10の表面加熱温度が最高でも
80℃程度以下に制限される。
Here, the powder 34 is carbon particles,
The emissivity equalizing powder is obtained by coating particles such as titanium particles having a particle size of about 40 to 100 μm with an insulating resin such as an epoxy resin or an acrylic resin. The resin-coated carbon particles are black, and the resin-coated titanium particles are white to gray, but all of them emit energy corresponding to the surface temperature to cause the surface state of the conductive inspection material 10. The variation of infrared emissivity is prevented and uniformized and the emissivity is increased. The insulating resin is for electrically insulating carbon particles, titanium particles, etc., but since it softens or starts melting at a relatively low temperature, the surface heating temperature of the conductive inspection material 10 is at maximum.
Limited to below 80 ℃.

【0021】前記粉体塗布装置16においては、正方形
断面の1辺が 155mmである導電性被検査材10を 40m/m
in程度の速度で搬送しながら、90g/min 程度の粉体34
が導電性被検査材10の表面に塗布されるように、各塗
布ガン36からの粉体34の吐出量が設定されている。
このときの導電性被検査材10の表面における粉体34
の平均塗布厚みは 7μm であるから、粉体34の平均粒
径のおよそ 1/6の厚みとなる。すなわち、粉体34は導
電性被検査材10の表面においてまばらに付着している
状態となるように設定されているのである。
In the powder coating device 16, the conductive test material 10 having a square cross section of 155 mm on one side is 40 m / m.
90g / min powder 34 while conveying at in speed
The amount of the powder 34 discharged from each coating gun 36 is set so that is applied to the surface of the conductive inspection material 10.
The powder 34 on the surface of the conductive inspection material 10 at this time
Since the average coating thickness of 7 is 7 μm, the thickness is about 1/6 of the average particle diameter of the powder 34. That is, the powder 34 is set so as to be sparsely attached on the surface of the conductive inspection material 10.

【0022】上記粉体34の塗布厚みが大きくなり過ぎ
て相互に積み重なる状態となると、導電性被検査材10
の表面から最も外側の粉体34までの熱伝導が低下して
導電性被検査材10の温度に対応したエネルギの赤外線
放射ができなくなる。また、粉体34の塗布厚みが小さ
くなり過ぎると、粉体34の塗布効果すなわち導電性被
検査材10の表面において相互の擦れ跡のように光沢が
あるために放射率が低い部分に起因して温度が低く検出
される場所の放射率を高めて放射率を均一化するととも
に全体の放射率を高めるという効果が得られなくなる。
このような意味から、粉体34の塗布量は、その平均粒
径の1/15乃至1/3 の厚みとされることが望ましい。
When the coating thickness of the powder 34 becomes too large and piles up on each other, the conductive material 10 to be inspected
The heat conduction from the surface to the outermost powder 34 is lowered, and infrared radiation of energy corresponding to the temperature of the conductive inspection material 10 cannot be performed. If the coating thickness of the powder 34 becomes too small, the coating effect of the powder 34, that is, the surface of the conductive inspection material 10 is glossy like rubbing traces against each other, and is caused by a portion having a low emissivity. Therefore, it becomes impossible to obtain the effect of increasing the emissivity at a place where the temperature is low and making the emissivity uniform by increasing the emissivity and increasing the emissivity of the whole.
From this point of view, it is desirable that the coating amount of the powder 34 be 1/15 to 1/3 of the average particle size.

【0023】図6および図7に示すように、前記誘導コ
イル18は、導電性被検査材10の断面形状よりも大き
い貫通穴26を形成するように20乃至40mm程度の幅寸法
の銅などの帯状金属部材が環状に曲成された環状部70
と、その帯状金属部材の両端部がセラミック製或いは樹
脂製の絶縁板72を介して相互に固定された直線部74
とから構成されている。そして、図8に示すように、図
示しないフレームにより支持された2台の放射温度測定
装置78a、78bにより、コイル18の出口における
導電性被検査材10の1対の側面の温度が測定されると
ともに、同様に図示しないフレームにより支持された2
台の放射温度測定装置78c、78dにより、コイル1
8の出口における導電性被検査材10の2つのコーナ部
の表面温度が測定されるようになっている。この場合、
上記導電性被検査材10の上半分の側面が温度測定され
るが、残りの下半分の側面は、更に下流側で同様に処理
して温度測定しても良い。もちろん、同時に導電性被検
査材10の全側面を温度測定したり、上記実施例にて再
度 180°反転して再搬送して測定しても良い。
As shown in FIGS. 6 and 7, the induction coil 18 is made of copper or the like having a width of about 20 to 40 mm so as to form a through hole 26 larger than the sectional shape of the conductive test material 10. An annular part 70 in which a strip-shaped metal member is bent in an annular shape
And a linear portion 74 in which both ends of the strip-shaped metal member are fixed to each other via an insulating plate 72 made of ceramic or resin.
It consists of and. Then, as shown in FIG. 8, the temperature of the pair of side surfaces of the conductive inspection material 10 at the outlet of the coil 18 is measured by the two radiation temperature measuring devices 78a and 78b supported by a frame (not shown). Along with the same, 2 supported by a frame (not shown)
The radiation temperature measuring devices 78c and 78d of the table allow the coil 1
The surface temperatures of the two corners of the conductive material to be inspected 10 at the outlet of 8 are measured. in this case,
The temperature of the upper half side surface of the conductive inspection material 10 is measured, but the remaining lower half side surface may be similarly processed further downstream to measure the temperature. Of course, the temperature may be measured on all side surfaces of the conductive inspection material 10 at the same time, or it may be inverted again by 180 ° in the above embodiment and re-conveyed to measure.

【0024】上記放射温度測定装置78a、78b、7
8c、78dは、導電性被検査材10の表面から放射さ
れる赤外線を図示しない一次元方向に多数の検出素子が
検出面に配列された赤外線検出センサのその検出面に集
光し、導電性被検査材10の長手方向に直角な方向にた
とえば 200Hz程度の周波数で走査される測定点の表面温
度を測定するものである。図9の (a)は、上記放射温度
測定装置78a、78bにより検出された導電性被検査
材10の側面の幅方向の温度分布に対応する温度検出信
号STを示している。なお、図6に示すように、上記誘
導コイル18は、その長手方向に連通する冷却液通路7
9を内部に備えた中空構造となっており、高周波駆動電
流によって発生する熱を冷却するようになっている。
The radiation temperature measuring devices 78a, 78b, 7
Reference numerals 8c and 78d respectively collect infrared rays radiated from the surface of the conductive test material 10 on the detection surface of an infrared detection sensor in which a large number of detection elements are arranged in the detection surface in a one-dimensional direction (not shown) so as to be conductive. The surface temperature of the measurement point is measured by scanning at a frequency of about 200 Hz in the direction perpendicular to the longitudinal direction of the inspected material 10. FIG. 9A shows the temperature detection signal ST corresponding to the temperature distribution in the width direction of the side surface of the conductive inspection material 10 detected by the radiation temperature measuring devices 78a and 78b. As shown in FIG. 6, the induction coil 18 has a cooling liquid passage 7 communicating in the longitudinal direction thereof.
9 has a hollow structure inside, and is designed to cool the heat generated by the high frequency drive current.

【0025】導電性被検査材10の表面疵を探傷するこ
とを目的として、高周波電源装置24からは、導電性被
検査材10の透磁率の大きさに応じて、その表面に表面
疵の深さよりも小さい浸透深さの誘導電流(渦電流)が
生じるように選択された所定の周波数の高周波駆動電流
が上記誘導コイル18に供給される。例えば、導電性被
検査材10が磁性金属材料の場合(すなわち透磁率が大
きい場合)には、上記所定の周波数として数十乃至100k
Hz程度の比較的低い値が選択されて、渦電流損失などに
よって表面から50乃至百数十μm 程度まで加熱される。
一方、非磁性金属材料の場合(すなわち透磁率が小さい
場合)には、数百kHz 程度の比較的高い値が選択される
ことにより、渦電流損失によって表面から1mm 程度まで
加熱される。すなわち、導電性被検査材10の表面にお
ける渦電流をI0 、周波数をf、透磁率をμ、導電率を
σとすると、導電性被検査材10内に発生する渦電流I
は、数式1に示すように、表面からの距離xに関連して
減衰し、数式1の指数部が-1となるxの値(浸透深さ)
をδmmとすると、数式2により表される。このように、
表皮効果によって渦電流Iが表層に集中することによ
り、導電性被検査材10の表面が加熱されるのである。
For the purpose of detecting flaws on the surface of the conductive material 10 to be inspected, the high-frequency power supply device 24 determines the depth of the surface flaw on the surface of the material 10 according to the magnetic permeability of the material 10 to be inspected. The induction coil 18 is supplied with a high frequency drive current having a predetermined frequency selected so that an induction current (eddy current) having a penetration depth smaller than the above is generated. For example, when the conductive inspection material 10 is a magnetic metal material (that is, when the magnetic permeability is large), the predetermined frequency is several tens to 100 k.
A relatively low value of about Hz is selected, and the surface is heated to about 50 to several hundred tens of μm due to eddy current loss.
On the other hand, in the case of a non-magnetic metal material (that is, when the magnetic permeability is small), a relatively high value of several hundred kHz is selected, so that the surface is heated to approximately 1 mm due to eddy current loss. That is, assuming that the eddy current on the surface of the conductive test material 10 is I 0 , the frequency is f, the magnetic permeability is μ, and the conductivity is σ, the eddy current I generated in the conductive test material 10 is shown.
Is attenuated in relation to the distance x from the surface as shown in Equation 1, and the value of x at which the exponent of Equation 1 becomes -1 (penetration depth)
Is expressed as Mathematical Expression 2. in this way,
The eddy current I is concentrated on the surface layer due to the skin effect, so that the surface of the conductive inspection material 10 is heated.

【0026】[0026]

【数1】 [Equation 1]

【0027】[0027]

【数2】 [Equation 2]

【0028】図1の探傷制御用電子制御装置66は、C
PU、ROM、RAMなどを有するよく知られたマイク
ロコンピュータを備えており、ROMに予め記憶された
プログラムに従って入力信号を処理することにより、放
射温度測定装置78a、78b、78c、78dから出
力される温度検出信号STに基づいて、図10に示され
るような導電性被検査材10の表面疵、すなわち連続鋳
造された鋳造片のピンホール68やブリード69などを
判定し、疵位置を出力するとともに、導電性被検査材1
0の表面の疵位置をインクで表示する図示しない疵マー
カを作動させる。前記高周波駆動電流の周波数は、渦電
流の浸透深さδが、圧延前の鋳造片に存在し得る表面疵
の深さdよりも小さくなるように設定されている。
The electronic control unit 66 for controlling flaw detection shown in FIG.
A well-known microcomputer having a PU, a ROM, a RAM and the like is provided, and by processing an input signal in accordance with a program stored in advance in the ROM, the radiation temperature measuring devices 78a, 78b, 78c and 78d output the signals. Based on the temperature detection signal ST, the surface flaws of the conductive test material 10 as shown in FIG. 10, that is, the pinholes 68 and the bleeds 69 of the continuously cast pieces are determined, and the flaw position is output and , Conductive material 1
A flaw marker (not shown) that displays the flaw position on the surface of 0 with ink is operated. The frequency of the high frequency drive current is set so that the penetration depth δ of the eddy current is smaller than the depth d of the surface flaw that may exist in the cast piece before rolling.

【0029】図11は、上記探傷制御装置66の制御機
能の要部、および上記浸透深さδと表面疵(ピンホール
68)深さdとの関係を示す機能ブロック線図である。
図において、平均処理手段80では、放射温度測定装置
78a〜78dにより測定された導電性被検査材10の
表面温度を表す温度検出信号STが平均化され、平均温
度信号STAVが出力される。表面温度変化量算出手段8
1では、放射温度測定装置78a〜78dにより測定さ
れた導電性被検査材10の表面温度を表す温度検出信号
STから平均温度信号STAVが差し引かれることにより
導電性被検査材10の表面の局部的な温度変化量が算出
され、その温度変化量を表す温度変化量信号SΔTが出
力される。疵判定手段82では、上記表面温度変化量算
出手段81により算出された局部的な表面温度変化に基
づいて、表面温度変化の負の変化量が予め設定された第
1判断基準値を超えたことを以てピンホールの有無を判
定すると共に、その局部的な表面温度変化の正の変化量
が予め設定された第2判断基準値を超えたことを以てブ
リードなどの有無を判定する。すなわち、本実施例にお
いては、上記平均処理手段80、表面温度変化量算出手
段81、および疵判定手段82により算出判定手段84
が構成されている。なお、図においては、ピンホール6
8の大きさや浸透深さδが誇張して描かれている。
FIG. 11 is a functional block diagram showing the essential part of the control function of the flaw detection control device 66 and the relationship between the penetration depth δ and the surface flaw (pinhole 68) depth d.
In the figure, the averaging means 80 averages the temperature detection signal ST representing the surface temperature of the conductive test material 10 measured by the radiation temperature measuring devices 78a to 78d, and outputs the average temperature signal ST AV . Surface temperature change amount calculation means 8
In 1, the average temperature signal ST AV is subtracted from the temperature detection signal ST representing the surface temperature of the conductive test material 10 measured by the radiation temperature measuring devices 78a to 78d, whereby the surface of the conductive test material 10 is locally localized. The temperature change amount is calculated, and the temperature change amount signal SΔT indicating the temperature change amount is output. In the flaw determination means 82, the negative change amount of the surface temperature change exceeds the preset first determination reference value based on the local surface temperature change calculated by the surface temperature change amount calculation means 81. The presence or absence of a pinhole is determined based on the above, and the presence or absence of bleeding is determined based on the fact that the positive change amount of the local surface temperature change exceeds a preset second determination reference value. That is, in the present embodiment, the averaging processing means 80, the surface temperature change amount calculating means 81, and the flaw determining means 82 make the calculation determining means 84.
Is configured. In the figure, the pinhole 6
The size of 8 and the penetration depth δ are exaggeratedly drawn.

【0030】図12は、上記探傷制御装置66の演算制
御作動の要部、すなわち導電性被検査材10の走行中に
おける疵検出作動を説明するフローチャートである。
FIG. 12 is a flow chart for explaining the main part of the arithmetic control operation of the flaw detection control device 66, that is, the flaw detection operation while the conductive inspection material 10 is running.

【0031】先ず、図示しない起動操作が行われること
により、導電性被検査材10が図1の矢印方向へ一定の
速度で搬送されると同時に、粉体塗布装置16が作動さ
せられて粉体34が導電性被検査材10の側面に塗布さ
れ、誘導コイル18に高周波電流が供給され、粉体除去
装置20において粉体34が除去される。このとき、高
周波電源装置24から前記所定の周波数の高周波駆動電
流が流された上記誘導コイル18により、導電性被検査
材10の表面が常温よりも20乃至50℃程度加熱される。
First, by performing a start-up operation (not shown), the conductive material to be inspected 10 is conveyed at a constant speed in the direction of the arrow in FIG. 1, and at the same time, the powder coating device 16 is operated to operate the powder. 34 is applied to the side surface of the conductive inspection material 10, a high-frequency current is supplied to the induction coil 18, and the powder 34 is removed by the powder removing device 20. At this time, the surface of the conductive material 10 to be inspected is heated by about 20 to 50 ° C. from room temperature by the induction coil 18 to which the high frequency drive current of the predetermined frequency is supplied from the high frequency power supply device 24.

【0032】この状態において、図12のステップSS
1では、放射温度測定装置78a、78b、78c、7
8dから出力される温度検出信号STの1単位である1
走査分の信号が入力されたか否かが判断される。図9の
(a)は、導電性被検査材10の所定の側面における1走
査分の温度検出信号STを例示している。このステップ
SS1の判断が否定された場合は1走査分の信号が入力
されるまで待機させられるが、肯定された場合は、ステ
ップSS2の平均処理以下が実行される。上記放射温度
測定装置78a、78b、78c、78dにおいて電気
的に決められる温度測定点の走査周期に同期して、上記
ステップSS2以下の処理が実行されることになる。上
記ステップSS1は温度検出信号読込手段或いは温度検
出信号読込工程に対応している。
In this state, step SS in FIG.
1, the radiation temperature measuring devices 78a, 78b, 78c, 7
1 which is one unit of the temperature detection signal ST output from 8d
It is determined whether or not signals for scanning have been input. Of FIG.
(a) illustrates the temperature detection signal ST for one scan on the predetermined side surface of the conductive inspection material 10. If the determination in step SS1 is negative, the signal for one scan is made to wait until it is input, but if the determination is affirmative, the averaging process of step SS2 and below is executed. In the radiation temperature measuring devices 78a, 78b, 78c, 78d, the processings of step SS2 and thereafter are executed in synchronization with the scanning cycle of the temperature measurement points electrically determined. The step SS1 corresponds to a temperature detection signal reading means or a temperature detection signal reading step.

【0033】ステップSS2では、入力された温度検出
信号STの平均値が、よく知られた適当な区間内におけ
る移動平均演算処理、或いは適当な遮断周波数を有する
ローパスフィルタ演算処理などが実行されることによ
り、平均温度信号STAVに変換される。この平均温度信
号STAVは疵が存在しない場所の表面温度として取り扱
われるものであり、図9の (b)はその平均温度信号ST
AVを例示している。このステップSS2は前記平均処理
手段80或いは平均処理工程に対応している。
In step SS2, the average value of the input temperature detection signals ST is subjected to well-known moving average calculation processing within a suitable section, low-pass filter calculation processing having a suitable cutoff frequency, or the like. Is converted into the average temperature signal ST AV . This average temperature signal ST AV is treated as the surface temperature of a place where no flaw exists, and FIG. 9B shows the average temperature signal ST AV .
AV is illustrated. This step SS2 corresponds to the average processing means 80 or the average processing step.

【0034】続くステップSS3では、前記温度検出信
号STから上記平均温度信号STAVを差し引く差分演算
が実行されることにより、導電性被検査材10の表面に
おける局部的な温度変化量を示す温度変化量信号すなわ
ち疵信号SΔT(ST−ST AV)が算出される。図9の
(c)はこの疵信号SΔTを例示している。このステップ
SS3は前記表面温度変化量算出手段81或いは温度変
化量算出工程に対応している。
At the following step SS3, the temperature detection signal is sent.
No. ST to the above average temperature signal STAVSubtraction subtraction
Is executed, the surface of the conductive inspection material 10 is
A temperature change amount signal indicating the local temperature change amount in
Defect signal SΔT (ST-ST AV) Is calculated. Of FIG.
 (c) illustrates this flaw signal SΔT. This step
SS3 is the surface temperature change amount calculation means 81 or the temperature change amount.
It corresponds to the process of calculating the amount of chemicals.

【0035】次いで、ステップSS4では、上記疵信号
SΔTが予め設定された第1判断基準値Th1 を越える
か否か(SΔT<Th1 であるか否か)が判断される。
この第1判断基準値Th1 は、導電性被検査材10のピ
ンホール68を判定するために予め実験的に求められた
負の値であり、たとえば−5℃程度の値が採用される。
Next, at step SS4, it is judged whether or not the flaw signal SΔT exceeds a preset first judgment reference value Th 1 (whether SΔT <Th 1 or not).
The first determination reference value Th 1 is a negative value experimentally obtained in advance for determining the pinhole 68 of the conductive inspection material 10, and a value of about −5 ° C. is adopted, for example.

【0036】上記ステップSS4の判断が肯定された場
合はステップSS6に進むが、否定された場合は、ステ
ップSS5において、上記疵信号SΔTが予め設定され
た第2判断基準値Th2 を越えるか否か(SΔT>Th
2 であるか否か)が判断される。この第2判断基準値T
2 は、導電性被検査材10のブリード69などを判定
するために予め実験的に求められた正の値であり、例え
ば+5℃程度の値が採用される。
If the determination in step SS4 is affirmative, the process proceeds to step SS6, but if the determination is negative, it is determined in step SS5 whether the flaw signal SΔT exceeds the preset second determination reference value Th 2. Or (SΔT> Th
2 or not) is determined. This second judgment reference value T
h 2 is a positive value experimentally obtained in advance for determining the bleed 69 or the like of the conductive inspection material 10, and for example, a value of about + 5 ° C. is adopted.

【0037】上記ステップSS5の判断が否定された場
合には、本ルーチンが終了させられてステップSS1以
下が再び実行されるが、肯定された場合は、ステップS
S4の判断が肯定された場合と同様にステップSS6に
進み、このステップSS6において疵判定信号が図示し
ない疵マーカなどへ出力されると同時に疵位置が記憶さ
れてから、本ルーチンが終了させられる。なお、図9
は、例えば図10の破線A上の1走査分を示しており、
ピンホール68に対応する幅方向位置に第1判断基準値
Th1 を越える低温部が形成されている。そのため、こ
のような温度検出信号STが入力された場合には、上記
ステップSS4の判断が肯定されてステップSS6に進
み、ピンホール68があると判定されることとなる。本
実施例においては、上記ステップSS4およびSS5が
前記疵判定手段82或いは疵判定工程に対応しており、
上記ステップSS2乃至SS5が算出判定手段に対応す
る。
If the determination in step SS5 is negative, this routine is terminated and steps SS1 and subsequent steps are executed again, but if affirmative, step S5 is executed.
Similar to the case where the determination in S4 is affirmative, the process proceeds to step SS6, in which the flaw determination signal is output to a flaw marker (not shown) and the flaw position is stored at the same time, and then this routine is ended. Note that FIG.
Indicates, for example, one scan on the broken line A in FIG.
A low temperature portion that exceeds the first judgment reference value Th 1 is formed at a position in the width direction corresponding to the pinhole 68. Therefore, when such a temperature detection signal ST is input, the determination at step SS4 is affirmative and the routine proceeds to step SS6 where it is determined that there is a pinhole 68. In this embodiment, the steps SS4 and SS5 correspond to the flaw determining means 82 or the flaw determining step,
The steps SS2 to SS5 correspond to the calculation determining means.

【0038】ここで、本実施例によれば、加熱工程にお
いて、高周波電源装置24が誘導コイル18を所定の周
波数の高周波電流で駆動することにより、表面疵の深さ
dよりも小さい浸透深さδの誘導電流を導電性被検査材
10の表面に発生させてその表面を加熱すると、温度測
定工程において、放射温度測定装置78a、78b、7
8c、78dにより導電性被検査材10の表面温度が測
定される。そして、算出判定工程において、算出判定手
段84によりその表面温度に基づいて局部的な温度変化
量信号S△Tが算出されると共に、その温度変化量信号
SΔTが負の第1判断基準値Th1 と比較されてピンホ
ール68の有無が判定される。
Here, according to the present embodiment, in the heating step, the high frequency power supply device 24 drives the induction coil 18 with a high frequency current of a predetermined frequency, so that the penetration depth smaller than the depth d of the surface flaw. When the induced current of δ is generated on the surface of the conductive inspection material 10 and the surface is heated, the radiation temperature measuring devices 78a, 78b, 7 are generated in the temperature measuring step.
The surface temperature of the conductive inspection material 10 is measured by 8c and 78d. Then, in the calculation determining step, the local temperature change amount signal SΔT is calculated by the calculation determining means 84 based on the surface temperature, and the temperature change amount signal SΔT is the first determination reference value Th 1 having a negative value. The presence or absence of the pinhole 68 is determined by comparison with the above.

【0039】すなわち、表面疵の深さdよりも誘導電流
の浸透深さδが小さいときには、ピンホール68のよう
に導電性被検査材10の長手方向長さが短い表面疵の場
合には、渦電流がその側方を迂回させられてその直下に
非通電領域が形成される。このため、その部分の温度上
昇が局部的に低くなり、図9のそのピンホール68に対
応する幅方向位置において、上記温度変化量信号S△T
が負の第1判断基準値Th1 を越え、ピンホール68が
存在すると判定される。したがって、本実施例によれ
ば、圧延が施されていない連続鋳造片である導電性被検
査材10のピンホール68の有無が容易に判断できるの
である。
That is, when the penetration depth δ of the induced current is smaller than the depth d of the surface flaw, in the case of the surface flaw such as the pinhole 68 in which the length of the conductive inspection material 10 in the longitudinal direction is short, The eddy current is diverted to the side of the eddy current, and a non-conducting region is formed immediately below it. For this reason, the temperature rise in that portion is locally reduced, and at the widthwise position corresponding to the pinhole 68 in FIG.
Exceeds the negative first judgment reference value Th 1 and it is judged that the pinhole 68 exists. Therefore, according to the present embodiment, it is possible to easily determine the presence or absence of the pinhole 68 in the conductive test material 10 that is a continuously cast piece that has not been rolled.

【0040】図13は導電性被検査材10の図10にお
ける一点鎖線B上の1走査分に相当する温度検出信号S
Tを示すものであり、ブリード69に対応する幅方向位
置において局部的に温度の高い部分が形成されている。
そのため、このような温度検出信号STが前記の図9の
場合と同様に図11の各ステップに従って処理されて温
度変化量信号SΔTに変換されると、ステップSS4の
判断は否定されるが、図9の (c)に示される第2判断基
準値Th2 を越えたか否か(SΔT>Th2 であるか否
か)を判断するステップSS5の判断は肯定され、ブリ
ード69などがあると判定されることとなる。
FIG. 13 shows a temperature detection signal S corresponding to one scan of the conductive inspection material 10 on the one-dot chain line B in FIG.
FIG. 3 shows T, and a locally high temperature portion is formed at a position in the width direction corresponding to the bleed 69.
Therefore, when such a temperature detection signal ST is processed according to each step of FIG. 11 and converted into the temperature change amount signal SΔT as in the case of FIG. 9 described above, the determination in step SS4 is denied. The determination in step SS5 that determines whether the second determination reference value Th 2 shown in (c) of 9 is exceeded (whether SΔT> Th 2 or not) is affirmative, and it is determined that there is a bleed 69 or the like. The Rukoto.

【0041】すなわち、本実施例によれば、放射温度測
定装置78a、78b、78c、78dから出力される
温度検出信号STの1単位である1走査線上にピンホー
ル68が存在する場合には、図9に示されるように局部
的に温度変化量信号SΔTの低い部分が形成されてステ
ップSS4の判断が肯定されることによりピンホール6
8の判定が為される一方、1走査線上にブリード69が
存在する場合には、局部的に温度変化量信号SΔTの高
い部分が形成されてステップSS5の判断が肯定される
ことによりブリード69の判定が為されるのである。し
たがって、連続鋳造で鋳造された導電性被検査材10の
表面疵の存在がその種類に拘らず検出されることとな
る。
That is, according to the present embodiment, when the pinhole 68 exists on one scanning line which is one unit of the temperature detection signal ST output from the radiation temperature measuring devices 78a, 78b, 78c and 78d, As shown in FIG. 9, the portion where the temperature change amount signal SΔT is low is locally formed and the determination in step SS4 is affirmed, so that the pinhole 6
On the other hand, when the bleed 69 exists on one scanning line while the determination of 8 is made, a portion where the temperature change amount signal SΔT is high is locally formed, and the determination of step SS5 is affirmed. The decision is made. Therefore, the presence of the surface flaw of the conductive inspection material 10 cast by the continuous casting is detected regardless of its type.

【0042】次に、本発明の他の実施例を説明する。図
14は、探傷制御用電子制御装置66の制御作動の要部
を説明するフローチャートであって、図12と相違する
部分を示している。本実施例においては、図12のステ
ップSS4およびSS5に代えて、ステップSS7およ
びSS8が設けられている。図のステップSS7におい
ては、温度変化量信号SΔTの絶対値|SΔT|が算出
される。ステップSS8においては、この絶対値|SΔ
T|が予め設定された判断基準値Thを越えたか否かが
判断され、その判断が否定されると、本ルーチンが終了
させられてステップSS1以下が再び実行されるが、肯
定された場合には、ステップSS6において疵判定が出
力される。本実施例では、上記ステップSS8が疵判定
手段或いは疵判定工程に対応し、ステップSS2,SS
3,SS7,SS8が算出判定手段或いは算出判定工程
に対応する。
Next, another embodiment of the present invention will be described. FIG. 14 is a flowchart for explaining a main part of the control operation of the flaw detection control electronic control unit 66, and shows a part different from FIG. In this embodiment, steps SS7 and SS8 are provided instead of steps SS4 and SS5 of FIG. In step SS7 of the figure, the absolute value | SΔT | of the temperature change amount signal SΔT is calculated. In step SS8, this absolute value | SΔ
It is determined whether or not T | exceeds a preset determination reference value Th, and if the determination is negative, this routine is ended and steps SS1 and subsequent steps are executed again. Outputs the flaw determination in step SS6. In this embodiment, the step SS8 corresponds to the flaw determination means or the flaw determination step, and steps SS2 and SS are performed.
3, SS7, SS8 correspond to the calculation determination means or the calculation determination step.

【0043】上記絶対値|SΔT|は、疵判定を容易と
するために算出されるものであり、これにより、温度変
化量信号SΔTの正負に拘らず、同じ判断基準値Thと
比較して疵判定を行うことが可能となる。導電性被検査
材10の表面疵がピンホール68およびブリード69並
びに割れ傷の何れである場合にも同様に絶対値が十分大
きい温度変化量信号SΔTが得られる場合には、絶対値
が同様な判断基準値を用いることが可能であるため、表
面疵の種類の出力が特に必要でない場合には、上記のよ
うに絶対値|SΔT|を判断基準値Thと比較するよう
に構成しても良いのである。このようにすれば、前述の
実施例と同様に疵判定が行われると共に、一回の判定が
行われるだけで良いので、判定アルゴリズムが簡単とな
る利点がある。
The absolute value | SΔT | is calculated in order to facilitate the flaw determination, and therefore, regardless of whether the temperature change amount signal SΔT is positive or negative, the absolute value | SΔT | It becomes possible to make a judgment. In the case where the surface flaw of the conductive inspection material 10 is any of the pinhole 68, the bleed 69 and the crack, if the temperature change amount signal SΔT having a sufficiently large absolute value is obtained, the absolute value is the same. Since the judgment reference value can be used, the absolute value | SΔT | may be configured to be compared with the judgment reference value Th as described above when the output of the type of surface flaw is not particularly required. Of. With this configuration, the defect determination is performed as in the above-described embodiment, and since the determination only needs to be performed once, there is an advantage that the determination algorithm is simple.

【0044】以上、本発明の一実施例を図面に基づいて
説明したが、本発明はその他の態様においても適用され
る。
Although one embodiment of the present invention has been described above with reference to the drawings, the present invention can be applied to other modes.

【0045】たとえば、前述の実施例の導電性被検査材
10は断面矩形であったが、断面円形であってもよい
し、長尺材でなくてもよい。
For example, although the conductive material 10 to be inspected in the above-described embodiment has a rectangular cross section, it may have a circular cross section or may not be a long material.

【0046】また、前述の実施例の粉体34は、カーボ
ン粒子或いはチタン粒子が樹脂により絶縁被覆されたも
のであったが、放射率が比較的高い物質の粒子であれば
他の粒子が用いられてもよいし、粉体34が用いられな
くても一応の本発明の効果が得られる。
Further, although the powder 34 of the above-mentioned embodiment is the one in which carbon particles or titanium particles are insulatingly coated with resin, other particles may be used as long as they are particles of a substance having a relatively high emissivity. The effect of the present invention can be obtained even if the powder 34 is not used.

【0047】また、高周波電源装置24から誘導コイル
18に供給される高周波駆動電流の周波数は、導電性被
検査材10に発生する誘導電流の浸透深さδが表面疵
(ピンホール68或いは割れ傷)の深さdよりも小さく
なるように設定されていれば、本発明の効果が得られ、
その浸透深さδすなわち高周波駆動電流の周波数は、導
電性被検査材10の材質や生じ得る表面疵の深さdによ
り適宜変更される。なお、浸透深さδは小さい程好まし
い。例えば、ピンホール68などの深さdが 1mm程度で
あれば、導電性被検査材10が非磁性金属材料である場
合には、比較的高い周波数の高周波駆動電流が用いられ
ることにより、磁性金属材料の場合のように浸透深さδ
が数十μm 程度とされることが好ましい。
The frequency of the high-frequency drive current supplied from the high-frequency power supply device 24 to the induction coil 18 is such that the penetration depth δ of the induction current generated in the conductive test material 10 is a surface flaw (pinhole 68 or crack). If it is set to be smaller than the depth d of), the effect of the present invention can be obtained.
The penetration depth δ, that is, the frequency of the high frequency drive current is appropriately changed depending on the material of the conductive inspection material 10 and the depth d of the surface flaw that may occur. The smaller the penetration depth δ, the better. For example, if the depth d of the pinhole 68 or the like is about 1 mm, and the conductive material 10 to be inspected is a non-magnetic metal material, a high-frequency driving current of a relatively high frequency is used, so that the magnetic metal Penetration depth δ as for material
Is preferably about several tens of μm.

【0048】なお、上述したのはあくまでも本発明の一
実施例であり、本発明はその主旨を逸脱しない範囲にお
いて種々変更が加えられ得るものである。
The above description is merely one embodiment of the present invention, and the present invention can be variously modified without departing from the gist thereof.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例の誘導加熱探傷装置を示す平
面図である。
FIG. 1 is a plan view showing an induction heating flaw detector according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の粉体塗布装置および誘導コイルを示す斜
視図である。
FIG. 2 is a perspective view showing a powder coating device and an induction coil shown in FIG.

【図3】図1の粉体塗布装置の内部構造を説明する図で
ある。
FIG. 3 is a diagram illustrating an internal structure of the powder coating apparatus of FIG.

【図4】図1の粉体塗布装置内の塗布ガンおよびその粉
体塗布作動を説明する図である。
FIG. 4 is a diagram illustrating a coating gun in the powder coating apparatus of FIG. 1 and a powder coating operation thereof.

【図5】図1の粉体除去装置の内部構造を説明する図で
ある。
5 is a diagram illustrating an internal structure of the powder removing apparatus of FIG.

【図6】図1の誘導コイルの要部の一部を切り欠いて示
す拡大正面図である。
FIG. 6 is an enlarged front view showing a part of a main part of the induction coil shown in FIG.

【図7】図6の側面図である。FIG. 7 is a side view of FIG. 6;

【図8】図1の誘導加熱探傷装置に備えられた放射温度
測定装置を示す図である。
FIG. 8 is a view showing a radiation temperature measuring device provided in the induction heating flaw detection device of FIG. 1.

【図9】図8の放射温度測定装置から得られた温度検出
信号波形、および図11の作動により信号処理された波
形をそれぞれ示す図である。
9 is a diagram showing a temperature detection signal waveform obtained from the radiation temperature measuring device of FIG. 8 and a waveform signal-processed by the operation of FIG. 11, respectively.

【図10】導電性被検査材に発生する表面疵の一例を示
す斜視図である。
FIG. 10 is a perspective view showing an example of a surface flaw generated in a conductive inspection material.

【図11】図1の誘導加熱探傷装置に備えられた探傷制
御装置の制御機能を説明する機能ブロック線図である。
FIG. 11 is a functional block diagram illustrating a control function of a flaw detection control device provided in the induction heating flaw detection device of FIG. 1.

【図12】図1の誘導加熱探傷装置に備えられた探傷制
御装置の作動の要部を説明するフローチャートである。
FIG. 12 is a flowchart illustrating an essential part of the operation of a flaw detection control device provided in the induction heating flaw detection device of FIG. 1.

【図13】図8の放射温度測定装置から得られた温度検
出信号の他の例を示す図である。
13 is a diagram showing another example of a temperature detection signal obtained from the radiation temperature measuring device of FIG.

【図14】本発明の他の実施例の探傷制御装置の作動を
説明するフローチャートの要部である。
FIG. 14 is a main part of a flowchart for explaining the operation of the flaw detection control device according to another embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10:導電性被検査材 {18:誘導コイル,24高周波電源装置}(高周波加
熱装置) 68:ピンホール(表面疵) 78:放射温度測定装置(放射温度計) 84:算出判定手段
10: Conductive material to be inspected {18: Induction coil, 24 high frequency power supply device} (high frequency heating device) 68: Pinhole (surface flaw) 78: Radiation temperature measuring device (radiation thermometer) 84: Calculation determining means

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 導電性を有する連続鋳造片に電磁誘導に
より誘導電流を発生させ、該電磁誘導によって該鋳造片
の表面を加熱し、該鋳造片の表面温度を測定し、該表面
温度の不均一性に基づいて該鋳造片の表面疵を探傷する
導電性を有する連続鋳造片の誘導加熱探傷方法であっ
て、 前記表面疵の深さよりも小さい浸透深さの誘導電流によ
り前記鋳造片の表面を加熱する加熱工程と、 前記鋳造片の表面温度を放射温度計にて測定する温度測
定工程と、 該表面温度に基づいて前記鋳造片の表面の局部的な温度
変化量を算出すると共に、該局部的な温度変化量が予め
定められた負の判断基準値を越えたことを以てピンホー
ルを判定する算出判定工程とを、含むことを特徴とする
導電性を有する連続鋳造片の誘導加熱探傷方法。
1. A continuous cast piece having electrical conductivity is caused to generate an induction current by electromagnetic induction, the surface of the cast piece is heated by the electromagnetic induction, the surface temperature of the cast piece is measured, and the surface temperature of the cast piece is measured. A method for inductive heating flaw detection of a continuous cast piece having conductivity for flaw detection on the surface flaw of the cast piece based on uniformity, the surface of the cast piece by an induction current having a penetration depth smaller than the depth of the surface flaw. A heating step of heating the cast piece, a temperature measuring step of measuring the surface temperature of the cast piece with a radiation thermometer, and calculating a local temperature change amount of the surface of the cast piece based on the surface temperature, A method for induction heating flaw detection of a continuous cast piece having conductivity, which comprises a calculation determination step of determining a pinhole when the amount of local temperature change exceeds a predetermined negative determination reference value. .
【請求項2】 前記算出判定工程は、前記局部的な温度
変化量が予め定められた負の第1判断基準値を越えたこ
とを以てピンホールを判定し、該局部的な温度変化量が
予め定められた正の第2判断基準値を越えたことを以て
ブリードまたは割れ傷を判定するものである、請求項1
の導電性を有する連続鋳造片の誘導加熱探傷方法。
2. The calculation determination step determines a pinhole when the local temperature change amount exceeds a predetermined negative first determination reference value, and the local temperature change amount is determined in advance. The bleeding or cracking is judged by exceeding the defined positive second judgment reference value.
Induction heating flaw detection method for continuous cast pieces having electrical conductivity.
【請求項3】 導電性を有する連続鋳造片に電磁誘導に
より誘導電流を発生させ、該電磁誘導によって該鋳造片
の表面を加熱し、該鋳造片の表面温度を測定し、該表面
温度の不均一性に基づいて該鋳造片の表面疵を探傷する
導電性を有する連続鋳造片の誘導加熱探傷装置であっ
て、 前記鋳造片の表面に前記表面疵の深さよりも小さい浸透
深さの誘導電流を発生させることにより該鋳造片の表面
を加熱する高周波加熱装置と、 前記鋳造片の表面温度を測定する放射温度計と、 該放射温度計により測定された表面温度に基づいて前記
鋳造片の表面の局部的な温度変化量を算出すると共に、
該局部的な温度変化量が予め定められた負の判断基準値
を越えたことを以てピンホールを判定する算出判定手段
とを、含むことを特徴とする導電性を有する連続鋳造片
の誘導加熱探傷装置。
3. A continuous cast piece having electrical conductivity is caused to generate an induction current by electromagnetic induction, the surface of the cast piece is heated by the electromagnetic induction, the surface temperature of the cast piece is measured, and the surface temperature is not measured. An induction heating flaw detector for a continuous cast piece having conductivity for flaw detection on the surface flaw of the cast piece based on uniformity, and an induction current having a penetration depth smaller than the depth of the surface flaw on the surface of the cast piece. A high-frequency heating device that heats the surface of the cast piece by generating, a radiation thermometer that measures the surface temperature of the cast piece, and the surface of the cast piece based on the surface temperature measured by the radiation thermometer While calculating the local temperature change of
Induction heating flaw detection of a continuous cast piece having conductivity, which comprises a calculation determination means for determining a pinhole when the local temperature change amount exceeds a predetermined negative determination reference value. apparatus.
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CN112461891A (en) * 2019-09-09 2021-03-09 丰田自动车株式会社 Inspection system and inspection method for fuel cell separator member

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007145677A1 (en) * 2006-06-15 2007-12-21 Siemens Energy, Inc. Hand held magnetic induction thermography system
US7485882B2 (en) 2006-06-15 2009-02-03 Siemens Energy, Inc. Hand held magnetic induction thermography system
CN112461891A (en) * 2019-09-09 2021-03-09 丰田自动车株式会社 Inspection system and inspection method for fuel cell separator member

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