JPH08201450A - スペクトラムアナライザ - Google Patents
スペクトラムアナライザInfo
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- JPH08201450A JPH08201450A JP3162095A JP3162095A JPH08201450A JP H08201450 A JPH08201450 A JP H08201450A JP 3162095 A JP3162095 A JP 3162095A JP 3162095 A JP3162095 A JP 3162095A JP H08201450 A JPH08201450 A JP H08201450A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
- G01R23/16—Spectrum analysis; Fourier analysis
- G01R23/173—Wobbulating devices similar to swept panoramic receivers
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
- H03B23/00—Generation of oscillations periodically swept over a predetermined frequency range
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
- H03B5/00—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input
- H03B5/18—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising distributed inductance and capacitance
- H03B5/1882—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising distributed inductance and capacitance the frequency-determining element being a magnetic-field sensitive resonator, e.g. a Yttrium Iron Garnet or a magnetostatic surface wave resonator
- H03B5/1888—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising distributed inductance and capacitance the frequency-determining element being a magnetic-field sensitive resonator, e.g. a Yttrium Iron Garnet or a magnetostatic surface wave resonator the active element in the amplifier being a semiconductor device
-
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- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03C—MODULATION
- H03C3/00—Angle modulation
- H03C3/02—Details
- H03C3/08—Modifications of modulator to linearise modulation, e.g. by feedback, and clearly applicable to more than one type of modulator
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- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
- Inductance-Capacitance Distribution Constants And Capacitance-Resistance Oscillators (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、ＹＩＧ共振器の変わりに比較的安
価なＶＣＯ回路を使用し、この直線性を補正して構成す
る局部発振器を構成することで、より安価なスペクトラ
ムアナライザの発振源を実現する。 【構成】 可変容量ダイオード２４の電圧制御発振周波
数を、一定傾きの掃引周波数を発生するように直線性補
正する直線性補正部７８手段を設ける。
価なＶＣＯ回路を使用し、この直線性を補正して構成す
る局部発振器を構成することで、より安価なスペクトラ
ムアナライザの発振源を実現する。 【構成】 可変容量ダイオード２４の電圧制御発振周波
数を、一定傾きの掃引周波数を発生するように直線性補
正する直線性補正部７８手段を設ける。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、局部発振器に使用さ
れる発振源を安価に構成するスペクトラムアナライザに
関する。
れる発振源を安価に構成するスペクトラムアナライザに
関する。
【０００２】
【従来の技術】従来において、スペクトラムアナライザ
の局部発振器に使用される発振源として、ＹＩＧ（Yttr
ium Iron Garnet）を用いたスペクトラムアナライザの
例がある。これについて、図４と図５と図６を参照して
説明する。本装置は、図４のブロック図に示すように、
周波数変換部５０と、掃引制御部７０と、検波部６２
と、表示演算部６４と、表示部６８とで構成している。
の局部発振器に使用される発振源として、ＹＩＧ（Yttr
ium Iron Garnet）を用いたスペクトラムアナライザの
例がある。これについて、図４と図５と図６を参照して
説明する。本装置は、図４のブロック図に示すように、
周波数変換部５０と、掃引制御部７０と、検波部６２
と、表示演算部６４と、表示部６８とで構成している。
【０００３】周波数変換部５０は、一般的なスペクトラ
ムアナライザの周波数変換部の原理構成であり、被測定
信号１００を受けて、局部発振器で所望の周波数範囲を
掃引して一定の中間周波数に変換し、ＢＰＦ（バンドパ
ス・フィルタ）で所望の帯域幅特性にフィルタした後、
検波部６２に供給する。検波部６２は、この掃引して得
られた信号を検波した後、デジタル信号に変換し、表示
演算部６４に供給する。この周波数変換部５０の中に、
掃引ランプ信号７６sweepを受けて掃引する局部発振器
３０がある。
ムアナライザの周波数変換部の原理構成であり、被測定
信号１００を受けて、局部発振器で所望の周波数範囲を
掃引して一定の中間周波数に変換し、ＢＰＦ（バンドパ
ス・フィルタ）で所望の帯域幅特性にフィルタした後、
検波部６２に供給する。検波部６２は、この掃引して得
られた信号を検波した後、デジタル信号に変換し、表示
演算部６４に供給する。この周波数変換部５０の中に、
掃引ランプ信号７６sweepを受けて掃引する局部発振器
３０がある。
【０００４】掃引制御部７０は、局部発振器３０へ掃引
用のアナログランプ波形を供給するものであって、掃引
開始信号７０sttを受けて、ランプ発生部７２がスパン
周波数（掃引範囲周波数）区間に対応して一定の傾斜で
ランプ掃引するコードデータを、掃引速度に対応した時
間間隔で順次ＤＡ変換器７４に供給してアナログ階段波
形に変換し、ＬＰＦ（ローパスフィルタ）７６で直線的
傾きにフィルタしたランプ信号７６sweepを局部発振器
３０へ供給する。
用のアナログランプ波形を供給するものであって、掃引
開始信号７０sttを受けて、ランプ発生部７２がスパン
周波数（掃引範囲周波数）区間に対応して一定の傾斜で
ランプ掃引するコードデータを、掃引速度に対応した時
間間隔で順次ＤＡ変換器７４に供給してアナログ階段波
形に変換し、ＬＰＦ（ローパスフィルタ）７６で直線的
傾きにフィルタしたランプ信号７６sweepを局部発振器
３０へ供給する。
【０００５】局部発振器３０は、ランプ信号７６sweep
を受けて、掃引周波数範囲を掃引する発振器であって、
この内部構成は、図５に示すように、分周器３４、３７
と、位相比較器３６と、積分器３５と、加算器３８と、
ＹＴＯ（YIG-tuned Oscillator）４０とで構成してい
る。
を受けて、掃引周波数範囲を掃引する発振器であって、
この内部構成は、図５に示すように、分周器３４、３７
と、位相比較器３６と、積分器３５と、加算器３８と、
ＹＴＯ（YIG-tuned Oscillator）４０とで構成してい
る。
【０００６】ＹＴＯ４０は、掃引する前時点で、ＰＬＬ
（Phase Locked Loop）のロックループを形成させて掃
引周波数の中間値である中心周波数ｆ0を発振して位相
ロックした状態にしておく。このときのランプ信号７６
sweep電圧は０ｖ状態にある。次に掃引開始するとき
に、積分器３５の出力端のアナログ電位３５voscを保持
状態に切り替え制御する。これによりＰＬＬロックルー
プが解除されて中心周波数ｆ0で発振するフリーラン状
態になる。この状態で掃引制御部７０からのランプ信号
７６sweepをアナログ加算器３８の一端に供給してアナ
ログ電位３５voscとを加算した結果の制御電圧３８vosc
をＹＴＯ４０に供給することで、ランプ掃引する発振周
波数を発生する。即ち、掃引時は、フリーラン状態にし
て電圧制御発振入力端にランプ信号７６sweepを加算し
たアナログ電圧を与えて掃引する。この為、ＹＴＯ４０
としては入力されるアナログ電圧に比例した発振周波数
を発生する直線性の良い発振源が必要とされる。
（Phase Locked Loop）のロックループを形成させて掃
引周波数の中間値である中心周波数ｆ0を発振して位相
ロックした状態にしておく。このときのランプ信号７６
sweep電圧は０ｖ状態にある。次に掃引開始するとき
に、積分器３５の出力端のアナログ電位３５voscを保持
状態に切り替え制御する。これによりＰＬＬロックルー
プが解除されて中心周波数ｆ0で発振するフリーラン状
態になる。この状態で掃引制御部７０からのランプ信号
７６sweepをアナログ加算器３８の一端に供給してアナ
ログ電位３５voscとを加算した結果の制御電圧３８vosc
をＹＴＯ４０に供給することで、ランプ掃引する発振周
波数を発生する。即ち、掃引時は、フリーラン状態にし
て電圧制御発振入力端にランプ信号７６sweepを加算し
たアナログ電圧を与えて掃引する。この為、ＹＴＯ４０
としては入力されるアナログ電圧に比例した発振周波数
を発生する直線性の良い発振源が必要とされる。
【０００７】ここで、ＶＣＯ（電圧制御発振器）である
ＹＴＯ４０について、内部回路構成を図６に示して説明
する。ＹＴＯ４０は、ＹＩＧ共振器４２を用いたＶＣＯ
であって、コイル４２ｂに流す電流値と発振周波数値と
が比例関係にある直線性に優れた発振器である。上記加
算器３８からの制御電圧３８vosc信号を受けて、ＩＶ変
換器４１で電流に変換した後コイル４２ｂに供給してＹ
ＩＧ共振器４２に磁界を与える。これによって、ＹＩＧ
共振器４２は、磁界に比例した同調周波数となる。これ
を共振回路として、トランジスタ４３と直列フィードバ
ック素子４４と出力マッチング・ネットワーク（ＭＮ）
とで構成する負性抵抗回路４９によって発振回路を形成
する。この負性抵抗回路４９は使用する発振周波数範
囲、例えば４〜８ＧＨｚの間で発振条件を満たす負性抵
抗となるように各素子のパラメータを与える。この発振
回路からの発振信号をバッファアンプ４８で緩衝増幅し
た発振周波数信号４０oscを出力している。このＹＩＧ
共振器を使うことにより、掃引時において、直線性精度
の良い掃引周波数を発生でき、スペクトラム測定の高い
周波数確度を維持している。
ＹＴＯ４０について、内部回路構成を図６に示して説明
する。ＹＴＯ４０は、ＹＩＧ共振器４２を用いたＶＣＯ
であって、コイル４２ｂに流す電流値と発振周波数値と
が比例関係にある直線性に優れた発振器である。上記加
算器３８からの制御電圧３８vosc信号を受けて、ＩＶ変
換器４１で電流に変換した後コイル４２ｂに供給してＹ
ＩＧ共振器４２に磁界を与える。これによって、ＹＩＧ
共振器４２は、磁界に比例した同調周波数となる。これ
を共振回路として、トランジスタ４３と直列フィードバ
ック素子４４と出力マッチング・ネットワーク（ＭＮ）
とで構成する負性抵抗回路４９によって発振回路を形成
する。この負性抵抗回路４９は使用する発振周波数範
囲、例えば４〜８ＧＨｚの間で発振条件を満たす負性抵
抗となるように各素子のパラメータを与える。この発振
回路からの発振信号をバッファアンプ４８で緩衝増幅し
た発振周波数信号４０oscを出力している。このＹＩＧ
共振器を使うことにより、掃引時において、直線性精度
の良い掃引周波数を発生でき、スペクトラム測定の高い
周波数確度を維持している。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】上記説明のように、局
部発振器３０としては、掃引時にフリーラン状態にして
電圧制御発振入力端にランプ信号７６sweepを加算した
アナログ電圧で掃引する為、従来のスペクトラムアナラ
イザでは、ＶＣＯとして、入力されるアナログ電圧に比
例した発振周波数を発生する直線性の良いＹＩＧ素子を
用いたＶＣＯで構成していた。しかし、このＹＩＧ素子
は比較的高価であり、製品原価費に占める割合が比較的
大きいという難点がある。
部発振器３０としては、掃引時にフリーラン状態にして
電圧制御発振入力端にランプ信号７６sweepを加算した
アナログ電圧で掃引する為、従来のスペクトラムアナラ
イザでは、ＶＣＯとして、入力されるアナログ電圧に比
例した発振周波数を発生する直線性の良いＹＩＧ素子を
用いたＶＣＯで構成していた。しかし、このＹＩＧ素子
は比較的高価であり、製品原価費に占める割合が比較的
大きいという難点がある。
【０００９】そこで、本発明が解決しようとする課題
は、ＹＩＧ共振器の変わりに比較的安価なＶＣＯ回路を
使用し、この直線性を補正して構成する局部発振器を構
成することで、より安価なスペクトラムアナライザの発
振源を実現することを目的とする。
は、ＹＩＧ共振器の変わりに比較的安価なＶＣＯ回路を
使用し、この直線性を補正して構成する局部発振器を構
成することで、より安価なスペクトラムアナライザの発
振源を実現することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決する為の手段】上記課題を解決するため
に、本発明の構成では、上記可変容量ダイオード２４の
電圧制御発振周波数を、一定傾きの掃引周波数を発生す
るように直線性補正する直線性補正部７８手段を設ける
構成手段にする。これにより、マイクロ波用可変容量ダ
イオード２４を使用して電圧制御発振器ＶＣＯを構成す
る局部発振器３０を有して、アナログの掃引ランプ信号
７６sweepを受けて直線性良く掃引する比較的安価なス
ペクトラムアナライザ用の局部発振器３０を実現する。
に、本発明の構成では、上記可変容量ダイオード２４の
電圧制御発振周波数を、一定傾きの掃引周波数を発生す
るように直線性補正する直線性補正部７８手段を設ける
構成手段にする。これにより、マイクロ波用可変容量ダ
イオード２４を使用して電圧制御発振器ＶＣＯを構成す
る局部発振器３０を有して、アナログの掃引ランプ信号
７６sweepを受けて直線性良く掃引する比較的安価なス
ペクトラムアナライザ用の局部発振器３０を実現する。
【００１１】具体的手段としては、掃引制御部７０のラ
ンプ発生部７２からのコードデータ７２codを受けて、
電圧制御発振器の発振周波数を、ランプ掃引と比例した
一定周波数の増加傾きとなる直線性補正処理した変換コ
ードデータ７８codを出力してアナログの掃引ランプ信
号７６sweepによる掃引周波数を直線性補正する直線性
補正部７８手段を設ける構成手段がある。
ンプ発生部７２からのコードデータ７２codを受けて、
電圧制御発振器の発振周波数を、ランプ掃引と比例した
一定周波数の増加傾きとなる直線性補正処理した変換コ
ードデータ７８codを出力してアナログの掃引ランプ信
号７６sweepによる掃引周波数を直線性補正する直線性
補正部７８手段を設ける構成手段がある。
【００１２】
【作用】直線性補正部７８は、ランプ発生部７２からの
コードデータ７２codを受けて、バラクタチューンドＶ
ＣＯ２０での発振周波数が、ランプ掃引と比例した一定
周波数の増加傾きとなるように直線性補正した変換コー
ドデータ７８codを出力する作用がある。マイクロ波用
可変容量ダイオード２４を可変同調素子としてＶＣＯを
構成し、掃引制御部７０の直線性補正部７８で発振周波
数の掃引直線性を補正するコードデータに変換してラン
プ掃引する局部発振器３０は、従来と同等レベルのスペ
クトラム測定の周波数確度を維持できる効果が得られ
る。
コードデータ７２codを受けて、バラクタチューンドＶ
ＣＯ２０での発振周波数が、ランプ掃引と比例した一定
周波数の増加傾きとなるように直線性補正した変換コー
ドデータ７８codを出力する作用がある。マイクロ波用
可変容量ダイオード２４を可変同調素子としてＶＣＯを
構成し、掃引制御部７０の直線性補正部７８で発振周波
数の掃引直線性を補正するコードデータに変換してラン
プ掃引する局部発振器３０は、従来と同等レベルのスペ
クトラム測定の周波数確度を維持できる効果が得られ
る。
【００１３】
【実施例】本発明の実施例は、局部発振器をバラクタチ
ューンドＶＣＯで構成した場合の例である。これについ
て、図１と図２を参照して説明する。本装置全体の構成
は、図４に示す従来構成と同様の構成であるが、この中
で、周波数変換部５０の局部発振器３０と掃引制御部７
０の構成を変えている。局部発振器３０では、図１に示
すように、ＹＴＯ４０の代わりにバラクタチューンドＶ
ＣＯ２０の置き換えた構成としている。また、掃引制御
部７０では、直線性補正部７８をＤＡ変換器７４の前に
追加して設けた構成としている。
ューンドＶＣＯで構成した場合の例である。これについ
て、図１と図２を参照して説明する。本装置全体の構成
は、図４に示す従来構成と同様の構成であるが、この中
で、周波数変換部５０の局部発振器３０と掃引制御部７
０の構成を変えている。局部発振器３０では、図１に示
すように、ＹＴＯ４０の代わりにバラクタチューンドＶ
ＣＯ２０の置き換えた構成としている。また、掃引制御
部７０では、直線性補正部７８をＤＡ変換器７４の前に
追加して設けた構成としている。
【００１４】バラクタチューンドＶＣＯ２０の内部構成
は、図２に示すように、可変同調回路２１と、負性抵抗
回路４９と、バッファアンプ４８とで構成していて、負
性抵抗回路４９と、バッファアンプ４８は従来と同様で
ある。可変同調回路２１は、マイクロ波用可変容量ダイ
オード２４を可変同調素子として使用したタンク回路
（Tank Circuit）であり、集中定数の等価共振用コイル
２９と、等価共振用容量２８としているが、実際にはマ
イクロ波帯である為、マイクロストリップラインの分布
定数でこれらを形成する。可変容量ダイオード２４は、
例えばガリひ素（ＧaＡs）を使用したチューニング用ダ
イオード素子（GaAs Tuning Diode chip）であり数ＧＨ
ｚ帯まで適用可能な素子を使用する。可変容量ダイオー
ド２４は、このタンク回路とコンデンサ２６とで直列に
接続して、全体で共振回路を形成している。そして、直
流電圧である制御電圧３８voscは、高抵抗２２を通して
可変容量ダイオード２４に印加している。
は、図２に示すように、可変同調回路２１と、負性抵抗
回路４９と、バッファアンプ４８とで構成していて、負
性抵抗回路４９と、バッファアンプ４８は従来と同様で
ある。可変同調回路２１は、マイクロ波用可変容量ダイ
オード２４を可変同調素子として使用したタンク回路
（Tank Circuit）であり、集中定数の等価共振用コイル
２９と、等価共振用容量２８としているが、実際にはマ
イクロ波帯である為、マイクロストリップラインの分布
定数でこれらを形成する。可変容量ダイオード２４は、
例えばガリひ素（ＧaＡs）を使用したチューニング用ダ
イオード素子（GaAs Tuning Diode chip）であり数ＧＨ
ｚ帯まで適用可能な素子を使用する。可変容量ダイオー
ド２４は、このタンク回路とコンデンサ２６とで直列に
接続して、全体で共振回路を形成している。そして、直
流電圧である制御電圧３８voscは、高抵抗２２を通して
可変容量ダイオード２４に印加している。
【００１５】ここで、可変容量ダイオード２４に与える
制御電圧３８voscに対する発振周波数の特性を、図３の
発振周波数の電圧感度特性曲線例に示す。可変容量ダイ
オードは、個々のサンプルＡ、サンプルＢ毎に異なった
非直線性曲線を有している。この為、掃引制御部７０か
らの制御電圧３８voscは、非直線性曲線を直線性補正の
補正変換された制御電圧３８voscが供給される。
制御電圧３８voscに対する発振周波数の特性を、図３の
発振周波数の電圧感度特性曲線例に示す。可変容量ダイ
オードは、個々のサンプルＡ、サンプルＢ毎に異なった
非直線性曲線を有している。この為、掃引制御部７０か
らの制御電圧３８voscは、非直線性曲線を直線性補正の
補正変換された制御電圧３８voscが供給される。
【００１６】掃引制御部７０の内部構成は、図１に示す
ように、ランプ発生部７２と、直線性補正部７８と、Ｄ
Ａ変換器７４と、ＬＰＦ７６とで構成していて、直線性
補正部７８を追加して、バラクタチューンドＶＣＯ２０
の直線性を補正するコードデータ変換処理を追加してい
る。内部の直線性補正テーブル７９には、制御電圧３８
voscに対する発振周波数特性曲線を求めておいた補正値
７９datを、予め格納しておく。ランプ発生部７２から
のコードデータ７２codを受けて、これをアドレスとす
る直線性補正テーブル７９の補正値７９datを読みだし
て、コードデータ７２codと乗算して直線性補正した変
換コードデータ７８codをＤＡ変換器７４に供給する。
この結果、バラクタチューンドＶＣＯ２０は一定周波数
の増加傾きとなる直線性のある掃引周波数を発振出力で
きる。ところで、ランプ発生部７２からのコードデータ
全部に対する補正値を直線性補正テーブル７９に設ける
のは大きなメモリ容量が必要となる。そこで、直線性補
正は±０．１％以下に収まれば十分なので、所望間隔毎
のコードデータ７２codに対する補正値を格納してお
き、この区間のコードデータは直線補間手法により算出
して補正演算する。
ように、ランプ発生部７２と、直線性補正部７８と、Ｄ
Ａ変換器７４と、ＬＰＦ７６とで構成していて、直線性
補正部７８を追加して、バラクタチューンドＶＣＯ２０
の直線性を補正するコードデータ変換処理を追加してい
る。内部の直線性補正テーブル７９には、制御電圧３８
voscに対する発振周波数特性曲線を求めておいた補正値
７９datを、予め格納しておく。ランプ発生部７２から
のコードデータ７２codを受けて、これをアドレスとす
る直線性補正テーブル７９の補正値７９datを読みだし
て、コードデータ７２codと乗算して直線性補正した変
換コードデータ７８codをＤＡ変換器７４に供給する。
この結果、バラクタチューンドＶＣＯ２０は一定周波数
の増加傾きとなる直線性のある掃引周波数を発振出力で
きる。ところで、ランプ発生部７２からのコードデータ
全部に対する補正値を直線性補正テーブル７９に設ける
のは大きなメモリ容量が必要となる。そこで、直線性補
正は±０．１％以下に収まれば十分なので、所望間隔毎
のコードデータ７２codに対する補正値を格納してお
き、この区間のコードデータは直線補間手法により算出
して補正演算する。
【００１７】上記実施例の説明では、直線性補正テーブ
ル７９への補正値７９datの格納を、予め求めておくと
して説明したが、局部発振器３０の発振周波数を測定す
る周波数カウンタを内蔵するものにおいては、現在環境
で各コードデータ７２codで発振させ、この発振周波数
を所望により随時測定し、これから補正値７９datを算
出して直線性補正テーブル７９に格納した後、掃引実施
するようにしても良く、同様にして実施できる。
ル７９への補正値７９datの格納を、予め求めておくと
して説明したが、局部発振器３０の発振周波数を測定す
る周波数カウンタを内蔵するものにおいては、現在環境
で各コードデータ７２codで発振させ、この発振周波数
を所望により随時測定し、これから補正値７９datを算
出して直線性補正テーブル７９に格納した後、掃引実施
するようにしても良く、同様にして実施できる。
【００１８】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、下記に記載されるような効果を奏する。掃
引制御部７０の直線性補正部７８は、バラクタチューン
ドＶＣＯ２０の発振周波数の非直線性を補正して、掃引
周波数が一定周波数の増加傾きとなるように直線性補正
した掃引を可能にする効果が得られる。マイクロ波用可
変容量ダイオード２４を可変同調素子としてＶＣＯを構
成し、掃引制御部７０の直線性補正部７８で発振周波数
の掃引直線性を補正するコードデータに変換してランプ
掃引する局部発振器３０は、従来と同等レベルのスペク
トラム測定の周波数確度を維持できる効果が得られる。
これらから、従来よりも安価なスペクトラムアナライザ
の発振源を実現できる効果が得られる。
ているので、下記に記載されるような効果を奏する。掃
引制御部７０の直線性補正部７８は、バラクタチューン
ドＶＣＯ２０の発振周波数の非直線性を補正して、掃引
周波数が一定周波数の増加傾きとなるように直線性補正
した掃引を可能にする効果が得られる。マイクロ波用可
変容量ダイオード２４を可変同調素子としてＶＣＯを構
成し、掃引制御部７０の直線性補正部７８で発振周波数
の掃引直線性を補正するコードデータに変換してランプ
掃引する局部発振器３０は、従来と同等レベルのスペク
トラム測定の周波数確度を維持できる効果が得られる。
これらから、従来よりも安価なスペクトラムアナライザ
の発振源を実現できる効果が得られる。
【００１９】
【図１】本発明の、局部発振器３０と掃引制御部７０の
構成図である。
構成図である。
【図２】本発明の、バラクタチューンドＶＣＯ２０の構
成図である。
成図である。
【図３】可変容量ダイオード２４の発振周波数の電圧感
度特性曲線の例である。
度特性曲線の例である。
【図４】従来の、局部発振器３０の全体構成図である。
【図５】従来の、ＹＴＯ４０の構成図である。
【図６】
２０ バラクタチューンドＶＣＯ ２１ 可変同調回路 ２４ 可変容量ダイオード ２６ コンデンサ ２８ 等価共振用容量 ２９ 等価共振用コイル ３０ 局部発振器 ３４、３７ 分周器 ３５ 積分器 ３５vosc アナログ電位 ３６ 位相比較器 ３８ 加算器 ３８vosc 制御電圧 ４０ ＹＴＯ（YIG-tuned Oscillator） ４０osc 発振周波数信号 ４１ ＩＶ変換器 ４２ ＹＩＧ共振器 ４２ｂ コイル ４３ トランジスタ ４４ 直列フィードバック素子 ４８ バッファアンプ ４９ 負性抵抗回路 ５０ 周波数変換部 ６２ 検波部 ６４ 表示演算部 ６８ 表示部 ７０ 掃引制御部 ７０stt 掃引開始信号 ７２ ランプ発生部 ７２cod コードデータ ７４ ＤＡ変換器 ７６sweep ランプ信号 ７６ ＬＰＦ（ローパスフィルタ） ７８ 直線性補正部 ７８cod 変換コードデータ ７９ 直線性補正テーブル １００ 被測定信号
Claims (2)
- 【請求項１】 マイクロ波用可変容量ダイオード（２
４）を使用して電圧制御発振器（ＶＣＯ）を構成する局
部発振器（３０）を有して、アナログの掃引ランプ信号
（７６sweep）を受けて掃引する局部発振器（３０）に
おいて、 上記可変容量ダイオード（２４）の電圧制御発振周波数
を、一定傾きの掃引周波数を発生するように直線性補正
する直線性補正部（７８）手段を設け、 以上を具備していることを特徴としたスペクトラムアナ
ライザ。 - 【請求項２】 マイクロ波用可変容量ダイオード（２
４）を使用して電圧制御発振器（ＶＣＯ）を構成する局
部発振器（３０）を有して、アナログの掃引ランプ信号
（７６sweep）を受けて掃引する局部発振器（３０）に
おいて、 掃引制御部（７０）のランプ発生部（７２）からのコー
ドデータ（７２cod）を受けて、電圧制御発振器の発振
周波数を、ランプ掃引と比例した一定周波数の増加傾き
となる直線性補正処理した変換コードデータ（７８co
d）を出力してアナログの掃引ランプ信号（７６sweep）
による掃引周波数を直線性補正する直線性補正部（７
８）手段を設け、 以上を具備していることを特徴としたスペクトラムアナ
ライザ。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3162095A JPH08201450A (ja) | 1995-01-27 | 1995-01-27 | スペクトラムアナライザ |
| DE19680092T DE19680092C2 (de) | 1995-01-27 | 1996-01-25 | Spektrumanalysator |
| PCT/JP1996/000131 WO1996023232A1 (en) | 1995-01-27 | 1996-01-25 | Spectrum analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3162095A JPH08201450A (ja) | 1995-01-27 | 1995-01-27 | スペクトラムアナライザ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08201450A true JPH08201450A (ja) | 1996-08-09 |
Family
ID=12336267
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3162095A Pending JPH08201450A (ja) | 1995-01-27 | 1995-01-27 | スペクトラムアナライザ |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08201450A (ja) |
| DE (1) | DE19680092C2 (ja) |
| WO (1) | WO1996023232A1 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008193389A (ja) * | 2007-02-05 | 2008-08-21 | Nippon Dempa Kogyo Co Ltd | 同期掃引シンセサイザ |
| JP2014197764A (ja) * | 2013-03-29 | 2014-10-16 | アンリツ株式会社 | 磁気同調デバイス駆動装置及びそれを用いた信号分析装置並びに磁気同調デバイス駆動方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102004054261A1 (de) * | 2004-11-09 | 2006-05-11 | Hameg Gmbh | Spektrumanalysator und Verfahren zum Messen von Frequenzpegeln |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2704626B2 (ja) * | 1988-04-01 | 1998-01-26 | 株式会社アドバンテスト | 周波数変換器 |
| JPH0373021U (ja) * | 1989-11-17 | 1991-07-23 | ||
| US5347176A (en) * | 1993-02-17 | 1994-09-13 | Hewlett-Packard Company | Analog ramp generator with digital correction |
-
1995
- 1995-01-27 JP JP3162095A patent/JPH08201450A/ja active Pending
-
1996
- 1996-01-25 WO PCT/JP1996/000131 patent/WO1996023232A1/ja not_active Ceased
- 1996-01-25 DE DE19680092T patent/DE19680092C2/de not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008193389A (ja) * | 2007-02-05 | 2008-08-21 | Nippon Dempa Kogyo Co Ltd | 同期掃引シンセサイザ |
| JP2014197764A (ja) * | 2013-03-29 | 2014-10-16 | アンリツ株式会社 | 磁気同調デバイス駆動装置及びそれを用いた信号分析装置並びに磁気同調デバイス駆動方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE19680092C2 (de) | 2000-10-26 |
| DE19680092T1 (de) | 1997-04-24 |
| WO1996023232A1 (en) | 1996-08-01 |
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|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20030318 |