JPH08201593A - 非球面反射光学素子 - Google Patents
非球面反射光学素子Info
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- JPH08201593A JPH08201593A JP7010457A JP1045795A JPH08201593A JP H08201593 A JPH08201593 A JP H08201593A JP 7010457 A JP7010457 A JP 7010457A JP 1045795 A JP1045795 A JP 1045795A JP H08201593 A JPH08201593 A JP H08201593A
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- aspherical
- optical element
- substrate
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- reflective optical
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 厳密な形状精度及び面精度の両方を満たす非
球面反射光学素子を提供すること。 【構成】 非球面形状の曲面3を有する基板1の該曲面
3に、平行面を有する反射部材2を接合し、非球面形状
の反射面4を形成してなる非球面反射光学素子。
球面反射光学素子を提供すること。 【構成】 非球面形状の曲面3を有する基板1の該曲面
3に、平行面を有する反射部材2を接合し、非球面形状
の反射面4を形成してなる非球面反射光学素子。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、非球面反射光学素子に
関するものである。
関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体集積回路素子の微細化に伴
い、光の回折限界によって制限される光学系の解像力を
向上させるために、従来の紫外線に代わって、これより
波長の短いX線を使用した投影リソグラフィー技術が開
発されている。この技術に使用されるX線縮小投影露光
装置は、主としてX線発生器11、X線照明光学系1
2、マスク13、X線結像光学系14、ウェハー15の
ステージ等により構成される(図5参照)。
い、光の回折限界によって制限される光学系の解像力を
向上させるために、従来の紫外線に代わって、これより
波長の短いX線を使用した投影リソグラフィー技術が開
発されている。この技術に使用されるX線縮小投影露光
装置は、主としてX線発生器11、X線照明光学系1
2、マスク13、X線結像光学系14、ウェハー15の
ステージ等により構成される(図5参照)。
【0003】X線発生器11には、放射光光源やレーザ
ープラズマX線源等が使用される。X線照明光学系12
は反射面に斜め方向から入射したX線を反射させる斜入
射ミラー、反射面が多層膜により形成される多層膜ミラ
ー、および所定波長のX線のみを反射または透過させる
フィルター等により構成され、マスク13上を所望の波
長のX線で照明する。
ープラズマX線源等が使用される。X線照明光学系12
は反射面に斜め方向から入射したX線を反射させる斜入
射ミラー、反射面が多層膜により形成される多層膜ミラ
ー、および所定波長のX線のみを反射または透過させる
フィルター等により構成され、マスク13上を所望の波
長のX線で照明する。
【0004】マスク13には透過型マスクと反射型マス
クとがある。透過型マスクは、X線を良く透過する物質
からなる薄いメンブレン上にX線を吸収する物質を所定
形状に設けることによってパターンを形成したものであ
る。一方、反射型マスクは、例えば、X線を反射する多
層膜上に反射率の低い部分を所定形状に設けることによ
ってパターンを形成したものである。
クとがある。透過型マスクは、X線を良く透過する物質
からなる薄いメンブレン上にX線を吸収する物質を所定
形状に設けることによってパターンを形成したものであ
る。一方、反射型マスクは、例えば、X線を反射する多
層膜上に反射率の低い部分を所定形状に設けることによ
ってパターンを形成したものである。
【0005】このようなマスク上に形成されたパターン
は、複数の多層膜ミラー等で構成されたX線結像光学系
14により、フォトレジストが塗布されたウェハー15
上に結像することで該レジストに転写される。なお、X
線は大気に吸収されて減衰するため、その光路は排気装
置20により所定真空度に維持された真空容器19内に
配置されている。
は、複数の多層膜ミラー等で構成されたX線結像光学系
14により、フォトレジストが塗布されたウェハー15
上に結像することで該レジストに転写される。なお、X
線は大気に吸収されて減衰するため、その光路は排気装
置20により所定真空度に維持された真空容器19内に
配置されている。
【0006】反射光学素子の反射面形状は殆どが平面、
球面、または放物面である。その理由は、前記形状より
も複雑な反射面形状を光学的に要求される高い精度(面
精度及び形状精度)で形成することは、実際上困難であ
るからである。しかし、反射面が前記形状に限定される
と、かかる反射光学素子を用いる光学系の光学性能も制
限されてしまう。
球面、または放物面である。その理由は、前記形状より
も複雑な反射面形状を光学的に要求される高い精度(面
精度及び形状精度)で形成することは、実際上困難であ
るからである。しかし、反射面が前記形状に限定される
と、かかる反射光学素子を用いる光学系の光学性能も制
限されてしまう。
【0007】一方、高い光学性能が要求される光学系で
は、反射面の形成が困難な非球面形状の反射面を有する
反射光学素子が求められている。X線光学系において
も、非球面形状の反射面を有するX線反射光学素子が求
められているが、短波長のX線を反射するX線反射光学
素子には、特に高い(厳密な)形状精度及び面精度が要
求されるので、非球面形状の反射面の形成は特に困難で
ある。
は、反射面の形成が困難な非球面形状の反射面を有する
反射光学素子が求められている。X線光学系において
も、非球面形状の反射面を有するX線反射光学素子が求
められているが、短波長のX線を反射するX線反射光学
素子には、特に高い(厳密な)形状精度及び面精度が要
求されるので、非球面形状の反射面の形成は特に困難で
ある。
【0008】しかしながら、かかる非球面形状の反射面
が、その形状精度及び面精度の両方の要求精度を満たす
ことができるならば、前述のX線投影露光装置のように
レンズ光学系を適用できないX線光学系や、その他の光
学系にも用いることができるので、その適用範囲は様々
な装置に広がる。例えば、近年急速に進歩している医学
や生物工学の分野では、通常の可視光(λ=約400n
m〜800nm)を用いる顕微鏡よりも分解能が高く、
しかも生きた試料(以下生物試料という、例えば、細
胞、バクテリア、精子、染色体、ミトコンドリア、べん
毛など)も鮮明に観察することができる高解像度顕微鏡
として、可視光に代えて波長λ=2〜5nmの軟X線を
用いるX線顕微鏡が検討され開発されつつある。
が、その形状精度及び面精度の両方の要求精度を満たす
ことができるならば、前述のX線投影露光装置のように
レンズ光学系を適用できないX線光学系や、その他の光
学系にも用いることができるので、その適用範囲は様々
な装置に広がる。例えば、近年急速に進歩している医学
や生物工学の分野では、通常の可視光(λ=約400n
m〜800nm)を用いる顕微鏡よりも分解能が高く、
しかも生きた試料(以下生物試料という、例えば、細
胞、バクテリア、精子、染色体、ミトコンドリア、べん
毛など)も鮮明に観察することができる高解像度顕微鏡
として、可視光に代えて波長λ=2〜5nmの軟X線を
用いるX線顕微鏡が検討され開発されつつある。
【0009】例えば図6は、このようなX線顕微鏡の簡
単な構造と光学系を示したものである。図6において、
X線発生器11から出射したX線は、X線照明光学系1
2により集光されて試料カプセル16中の試料に照射さ
れる。そして、試料を透過したX線は、X線拡大光学系
17により、試料の像をX線撮像装置18上に結像させ
る。X線発生器11からX線撮像装置18までの光路長
は、例えば2m程度である。
単な構造と光学系を示したものである。図6において、
X線発生器11から出射したX線は、X線照明光学系1
2により集光されて試料カプセル16中の試料に照射さ
れる。そして、試料を透過したX線は、X線拡大光学系
17により、試料の像をX線撮像装置18上に結像させ
る。X線発生器11からX線撮像装置18までの光路長
は、例えば2m程度である。
【0010】19は真空容器で、20はこの容器内を真
空にするための排気装置である。X線照明光学系12及
びX線拡大光学系17に前記非球面反射光学素子を用い
ることができれば、高性能なX線反射光学系を構成する
ことができる。
空にするための排気装置である。X線照明光学系12及
びX線拡大光学系17に前記非球面反射光学素子を用い
ることができれば、高性能なX線反射光学系を構成する
ことができる。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】従来、反射光学素子の
反射面は、軸対称であろうと自由曲面であろうと、主と
してNC工作機により加工製作されてきた。しかし、こ
のような従来の加工方法では、厳密な形状精度及び面精
度の両方が要求される非球面形状の反射面を有する前記
非球面反射光学素子を作製することはできないため、非
球面反射光学素子を提供できないという問題点があっ
た。
反射面は、軸対称であろうと自由曲面であろうと、主と
してNC工作機により加工製作されてきた。しかし、こ
のような従来の加工方法では、厳密な形状精度及び面精
度の両方が要求される非球面形状の反射面を有する前記
非球面反射光学素子を作製することはできないため、非
球面反射光学素子を提供できないという問題点があっ
た。
【0012】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであり、厳密な形状精度及び面精度の両方を満たす非
球面反射光学素子を提供することを目的とする。
のであり、厳密な形状精度及び面精度の両方を満たす非
球面反射光学素子を提供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】そのため、本発明は第一
に「非球面形状の曲面を有する基板の該曲面に、平行面
を有する反射部材を接合し、非球面形状の反射面を形成
してなる非球面反射光学素子(請求項1)」を提供す
る。また、本発明は第二に「前記基板と前記反射部材と
が陽極接合法により接合されてなることを特徴とする請
求項1記載の非球面反射光学素子(請求項2)」を提供
する。
に「非球面形状の曲面を有する基板の該曲面に、平行面
を有する反射部材を接合し、非球面形状の反射面を形成
してなる非球面反射光学素子(請求項1)」を提供す
る。また、本発明は第二に「前記基板と前記反射部材と
が陽極接合法により接合されてなることを特徴とする請
求項1記載の非球面反射光学素子(請求項2)」を提供
する。
【0014】また、本発明は第三に「非球面形状の反射
面にX線反射用多層膜を設けたことを特徴とする請求項
1または2記載の非球面反射光学素子(請求項3)」を
提供する。
面にX線反射用多層膜を設けたことを特徴とする請求項
1または2記載の非球面反射光学素子(請求項3)」を
提供する。
【0015】
【作用】厳密な形状精度及び面精度の両方を満たす非球
面反射用光学素子は、非球面形状の曲面3を有する基板
1の該曲面3に、平行面を有する反射部材2を接合し、
非球面形状の反射面4を形成してなる非球面反射光学素
子(請求項1)により実現することができる(図1参
照)。
面反射用光学素子は、非球面形状の曲面3を有する基板
1の該曲面3に、平行面を有する反射部材2を接合し、
非球面形状の反射面4を形成してなる非球面反射光学素
子(請求項1)により実現することができる(図1参
照)。
【0016】本発明の非球面反射光学素子を製造する方
法の一例を示すと、先ず、面精度良好な表面(例えば、
最大表面粗さ0.001 μm以下)を有する平行平面の平板
状部材(例えばシリコン単結晶)2aと、形状精度が良
好な非球面形状の曲面3を有する基板1を用意する(図
1A参照)。次に、基板1の曲面3に、平板状部材2a
を陽極接合法により接合して(図1B参照)、非球面形
状の曲面3を有する基板1の該曲面3に、平行面を有す
る反射部材2を接合し、非球面形状の反射面を形成して
なる非球面反射光学素子が完成する(図1C参照)。陽
極接合法については、後で詳述する。
法の一例を示すと、先ず、面精度良好な表面(例えば、
最大表面粗さ0.001 μm以下)を有する平行平面の平板
状部材(例えばシリコン単結晶)2aと、形状精度が良
好な非球面形状の曲面3を有する基板1を用意する(図
1A参照)。次に、基板1の曲面3に、平板状部材2a
を陽極接合法により接合して(図1B参照)、非球面形
状の曲面3を有する基板1の該曲面3に、平行面を有す
る反射部材2を接合し、非球面形状の反射面を形成して
なる非球面反射光学素子が完成する(図1C参照)。陽
極接合法については、後で詳述する。
【0017】なお、基板1の曲面3と部材2aの接合を
行うとき、特に、接合面である基板1の曲面3が凹面の
場合には、凹面に最近接した部材2aの接合面3’部分
から接合が行われるので、接合部分に空気溜まりができ
やすい。そのため、空気溜まりができないように、空気
抜きのための穴を基板1又は部材2aに、或いは両方に
設けることが好ましい(図1参照、基板1に空気抜き穴
5を設けた例)。
行うとき、特に、接合面である基板1の曲面3が凹面の
場合には、凹面に最近接した部材2aの接合面3’部分
から接合が行われるので、接合部分に空気溜まりができ
やすい。そのため、空気溜まりができないように、空気
抜きのための穴を基板1又は部材2aに、或いは両方に
設けることが好ましい(図1参照、基板1に空気抜き穴
5を設けた例)。
【0018】空気抜きの穴5を基板1に設ける場合、穴
5はその上に位置する反射部材2の反射面部分の変形に
影響を及ぼすので、光学特性が特に要求されない反射面
部分の下側に位置する基板部分に、必要最小限の大きさ
にて設けることが好ましい。また、空気抜きの穴を反射
部材2に設ける場合は、光学特性が特に要求されない反
射面部分に穴を設けることが好ましい。
5はその上に位置する反射部材2の反射面部分の変形に
影響を及ぼすので、光学特性が特に要求されない反射面
部分の下側に位置する基板部分に、必要最小限の大きさ
にて設けることが好ましい。また、空気抜きの穴を反射
部材2に設ける場合は、光学特性が特に要求されない反
射面部分に穴を設けることが好ましい。
【0019】従って、空気抜きの穴は例えば、基板1又
は反射部材2の中心に最小限の大きさにて設けることが
好ましい。以上、本発明の非球面反射光学素子を製造す
る方法の一例を示した。本発明の非球面反射光学素子に
かかる基板1の曲面3と部材2aの接合により基板曲面
3の非球面形状が接合後の反射部材2に転写される。即
ち、良好な面精度を有する部材2aの接合面3’は接合
後、基板曲面3にならって変形することで、形状精度が
良好な基板曲面3の非球面形状が接合後の反射部材2の
反射面4(面精度良好)に転写される(図1C参照)。
即ち、反射面4の形状は、良好な面精度及び形状精度を
有する非球面反射形状となる。
は反射部材2の中心に最小限の大きさにて設けることが
好ましい。以上、本発明の非球面反射光学素子を製造す
る方法の一例を示した。本発明の非球面反射光学素子に
かかる基板1の曲面3と部材2aの接合により基板曲面
3の非球面形状が接合後の反射部材2に転写される。即
ち、良好な面精度を有する部材2aの接合面3’は接合
後、基板曲面3にならって変形することで、形状精度が
良好な基板曲面3の非球面形状が接合後の反射部材2の
反射面4(面精度良好)に転写される(図1C参照)。
即ち、反射面4の形状は、良好な面精度及び形状精度を
有する非球面反射形状となる。
【0020】曲面3を有する基板1の該曲面3に、部材
2aを接合する方法としては、有機系接着剤、ロウ付又
はハンダ付などで用いられる金属系接着剤、ガラス系接
着剤等の接着剤を用いる接合法と、レーザー溶接、シー
ム溶接、超音波溶接等の溶接による接合法と、さらに陽
極接合法をあげることができる。なお、溶接による接合
法には、接合材を介して二つの部材を接合する方法と接
合材を介さないで直接二つの部材を接合する方法があ
る。
2aを接合する方法としては、有機系接着剤、ロウ付又
はハンダ付などで用いられる金属系接着剤、ガラス系接
着剤等の接着剤を用いる接合法と、レーザー溶接、シー
ム溶接、超音波溶接等の溶接による接合法と、さらに陽
極接合法をあげることができる。なお、溶接による接合
法には、接合材を介して二つの部材を接合する方法と接
合材を介さないで直接二つの部材を接合する方法があ
る。
【0021】かかる接合法のうち、接着剤又は接合材を
用いる接合法により前記基板曲面3及び部材2aを接合
した場合、基板曲面(基板の接合面)3と部材2aの接
合面3’との間に接着剤層又は接合材層が介在すること
になるが、この層の厚さが大きいと、基板曲面3の形状
を接合後の反射部材2に転写することが困難となる。ま
た、基板曲面(基板の接合面)3と部材2aの接合面
3’との間に接着剤層又は接合材層が介在すると、熱膨
張率や塑性の相違による接合強度の低下という問題や、
経年変化による接合強度の劣化という問題が起こりやす
くなる。
用いる接合法により前記基板曲面3及び部材2aを接合
した場合、基板曲面(基板の接合面)3と部材2aの接
合面3’との間に接着剤層又は接合材層が介在すること
になるが、この層の厚さが大きいと、基板曲面3の形状
を接合後の反射部材2に転写することが困難となる。ま
た、基板曲面(基板の接合面)3と部材2aの接合面
3’との間に接着剤層又は接合材層が介在すると、熱膨
張率や塑性の相違による接合強度の低下という問題や、
経年変化による接合強度の劣化という問題が起こりやす
くなる。
【0022】接合材を用いない溶接法により、基板1と
部材2aを接合する場合は、基板1又は部材2aをその
融点又は軟化点以上に加熱する必要があるので、形状精
度を保持したまま接合することが困難である。従って、
接合法としては、比較的低温での接合が可能であり、し
かも接合材を用いる必要がなく、そのため、基板曲面3
の形状を接合後の反射部材2に正確に転写することがで
きる陽極接合法が好ましい(請求項2)。
部材2aを接合する場合は、基板1又は部材2aをその
融点又は軟化点以上に加熱する必要があるので、形状精
度を保持したまま接合することが困難である。従って、
接合法としては、比較的低温での接合が可能であり、し
かも接合材を用いる必要がなく、そのため、基板曲面3
の形状を接合後の反射部材2に正確に転写することがで
きる陽極接合法が好ましい(請求項2)。
【0023】陽極接合法は、接合を行う2部材間に直流
電圧を印加することにより、本来(直流電圧を印加しな
い場合)の接合温度よりも低い温度での接合を可能とす
る接合法であり、誘電体(例えば、ガラスやセラミック
ス)と金属類(単位金属、合金、半導体)の接合に適用
できる。陽極接合を行う場合、先ず、接合される誘電体
及び金属類の各接合面を研磨して平滑化することが好ま
しい。この平滑化により、接合強度増大の効果が得られ
る。例えば、0.05μm以下の最大表面粗さにすることが
好ましい。
電圧を印加することにより、本来(直流電圧を印加しな
い場合)の接合温度よりも低い温度での接合を可能とす
る接合法であり、誘電体(例えば、ガラスやセラミック
ス)と金属類(単位金属、合金、半導体)の接合に適用
できる。陽極接合を行う場合、先ず、接合される誘電体
及び金属類の各接合面を研磨して平滑化することが好ま
しい。この平滑化により、接合強度増大の効果が得られ
る。例えば、0.05μm以下の最大表面粗さにすることが
好ましい。
【0024】陽極接合においては、両材料の接合面を重
ね合わせて、誘電体の軟化点及び金属類の融点よりも低
い温度で加熱し、比較的高い直流電圧を両材料間に印加
することで、両者の接合がなされる。このときの極性
は、金属類側を+、誘電体側を−にする。加熱温度は、
材料の組み合わせや接合面の平滑度に依存するが、30
0〜600°Cの場合が多い。接合面の平滑度が良い
程、また誘電体の硬度が小さい程、より低い加熱温度で
の接合が可能となる。
ね合わせて、誘電体の軟化点及び金属類の融点よりも低
い温度で加熱し、比較的高い直流電圧を両材料間に印加
することで、両者の接合がなされる。このときの極性
は、金属類側を+、誘電体側を−にする。加熱温度は、
材料の組み合わせや接合面の平滑度に依存するが、30
0〜600°Cの場合が多い。接合面の平滑度が良い
程、また誘電体の硬度が小さい程、より低い加熱温度で
の接合が可能となる。
【0025】印加する電圧は直流電圧であり、交流電圧
の場合には接合はなされない。また極性は金属類側を必
ず+にする。印加電圧の大きさは、材料の組み合わせ、
接合面の平滑度、加熱温度に依存するが、200〜20
00Vの場合が多く、一般には1000V前後が適当で
ある。上限値は、スパークによる破壊を起こさない上限
の値となる。
の場合には接合はなされない。また極性は金属類側を必
ず+にする。印加電圧の大きさは、材料の組み合わせ、
接合面の平滑度、加熱温度に依存するが、200〜20
00Vの場合が多く、一般には1000V前後が適当で
ある。上限値は、スパークによる破壊を起こさない上限
の値となる。
【0026】電圧の印加時間(接合が完了する時間)
は、加熱温度及び印加電圧に依存するが、加熱温度が高
い程、印加電圧が高い程、短時間となり、一般には数分
程度である。陽極接合は、一般には空気中で行われる
が、酸素、スチーム、窒素、水素、アルゴン、真空、ホ
ーミングガスの雰囲気下でも行うことができる。
は、加熱温度及び印加電圧に依存するが、加熱温度が高
い程、印加電圧が高い程、短時間となり、一般には数分
程度である。陽極接合は、一般には空気中で行われる
が、酸素、スチーム、窒素、水素、アルゴン、真空、ホ
ーミングガスの雰囲気下でも行うことができる。
【0027】陽極接合による接合強度を増大するため
に、被接合材料である誘電体と金属類の熱膨張率の差が
小さい組み合わせを選択することが好ましい。例えば、
熱膨張率の差が50%以下の組み合わせが好ましい。陽
極接合に好適な誘電体としては、例えば、軟質ガラス
(例えば、ホウケイ酸ガラス)、硬質ガラス、光学ガラ
ス、セラミック(例えば、βアルミナセラミックス)、
溶融石英、サファイア、磁器類などがあり、またこれら
の誘電体それぞれとの組み合わせとして好適な金属類と
しては、例えば、コバール、クロム合金、タンタル、シ
リコン、ゲルマニウム、モリブデン、タングステン、G
aAsなどがある。
に、被接合材料である誘電体と金属類の熱膨張率の差が
小さい組み合わせを選択することが好ましい。例えば、
熱膨張率の差が50%以下の組み合わせが好ましい。陽
極接合に好適な誘電体としては、例えば、軟質ガラス
(例えば、ホウケイ酸ガラス)、硬質ガラス、光学ガラ
ス、セラミック(例えば、βアルミナセラミックス)、
溶融石英、サファイア、磁器類などがあり、またこれら
の誘電体それぞれとの組み合わせとして好適な金属類と
しては、例えば、コバール、クロム合金、タンタル、シ
リコン、ゲルマニウム、モリブデン、タングステン、G
aAsなどがある。
【0028】前記好適な誘電体と、該誘電体との熱膨張
率の差が50%よりも大きい金属類との組み合わせの場
合でも、金属類を薄膜状にすれば、接合強度の増大が可
能である。このような金属類としては、例えば、銅、
鉄、ニッケル、鉄−ニッケル合金、クロム、アルミニウ
ム、マグネシウム、チタン、ベリリウムなどがある。以
上の材料の組み合わせのうち、陽極接合に特に好適なも
のは、汎用性と加工精度の点から、ホウケイ酸ガラスと
シリコンの組み合わせである。この組み合わせによる陽
極接合では、比較的低い接合温度で、しかも短時間で接
合を行うことができる。
率の差が50%よりも大きい金属類との組み合わせの場
合でも、金属類を薄膜状にすれば、接合強度の増大が可
能である。このような金属類としては、例えば、銅、
鉄、ニッケル、鉄−ニッケル合金、クロム、アルミニウ
ム、マグネシウム、チタン、ベリリウムなどがある。以
上の材料の組み合わせのうち、陽極接合に特に好適なも
のは、汎用性と加工精度の点から、ホウケイ酸ガラスと
シリコンの組み合わせである。この組み合わせによる陽
極接合では、比較的低い接合温度で、しかも短時間で接
合を行うことができる。
【0029】本発明の非球面反射光学素子の反射面にX
線反射用多層膜を設けると(請求項3)、該素子をX線
反射光学素子として使用することができる。X線反射用
多層膜としては、例えば、Mo/Si、Mo/Si化合
物、Ru/Si、Ru/Si化合物、Rh/Si、Rh
/Si化合物、W/C、W/Si、Ni/C、Cr/
C、Mo/B4 C、Mo/SiC、Ru/B4 C、Ni
/V2O5 、Cr/V2 O5 の組み合わせのうち、いず
れか一つの組み合わせで、交互に複数回積層したものが
使用できる。
線反射用多層膜を設けると(請求項3)、該素子をX線
反射光学素子として使用することができる。X線反射用
多層膜としては、例えば、Mo/Si、Mo/Si化合
物、Ru/Si、Ru/Si化合物、Rh/Si、Rh
/Si化合物、W/C、W/Si、Ni/C、Cr/
C、Mo/B4 C、Mo/SiC、Ru/B4 C、Ni
/V2O5 、Cr/V2 O5 の組み合わせのうち、いず
れか一つの組み合わせで、交互に複数回積層したものが
使用できる。
【0030】反射面にX線反射用多層膜を設けた非球面
反射光学素子(請求項3)を製作する方法としては大き
くわけて、多層膜を形成した後に陽極接合を行う方法
と、陽極接合した後に多層膜を形成する方法がある。基
板と反射部材との接合面の曲面度が小さい場合には、接
合後でも所望の多層膜(構成層の膜厚比及び各構成層の
膜厚が一定の交互多層膜)を形成しやすいが、曲面度が
大きい場合には、接合後に所望の多層膜を形成しようと
すると、成膜条件の設定等、成膜工程が煩雑になる。そ
のため接合面の曲面度が大きい場合には、接合前に多層
膜を形成するとよい。
反射光学素子(請求項3)を製作する方法としては大き
くわけて、多層膜を形成した後に陽極接合を行う方法
と、陽極接合した後に多層膜を形成する方法がある。基
板と反射部材との接合面の曲面度が小さい場合には、接
合後でも所望の多層膜(構成層の膜厚比及び各構成層の
膜厚が一定の交互多層膜)を形成しやすいが、曲面度が
大きい場合には、接合後に所望の多層膜を形成しようと
すると、成膜条件の設定等、成膜工程が煩雑になる。そ
のため接合面の曲面度が大きい場合には、接合前に多層
膜を形成するとよい。
【0031】本発明においては、両方法を提案すること
で、反射面にX線反射用多層膜を設けた非球面反射光学
素子(請求項3)の製法を接合面の形状に関わらずに提
供できる。本発明にかかる非球面反射光学素子は、各種
装置の光学系(例えば、顕微鏡等の照明光学系)に用い
ることができる。さらに、多層膜を成膜した光学素子
は、X線顕微鏡やX線リソグラフィー装置の光学系にも
適用することができる。また、本発明の非球面反射光学
素子を製造する方法は、光学素子だけでなく各種機械系
要素の製造にも適用できる。
で、反射面にX線反射用多層膜を設けた非球面反射光学
素子(請求項3)の製法を接合面の形状に関わらずに提
供できる。本発明にかかる非球面反射光学素子は、各種
装置の光学系(例えば、顕微鏡等の照明光学系)に用い
ることができる。さらに、多層膜を成膜した光学素子
は、X線顕微鏡やX線リソグラフィー装置の光学系にも
適用することができる。また、本発明の非球面反射光学
素子を製造する方法は、光学素子だけでなく各種機械系
要素の製造にも適用できる。
【0032】以下、本発明を実施例により更に具体的に
説明するが、本発明はこれらの例に限定されるものでは
ない。
説明するが、本発明はこれらの例に限定されるものでは
ない。
【0033】
【実施例1】図1は本実施例の非球面反射光学素子を製
造する方法を示す工程図であり、図1Cは完成した非球
面反射光学素子の概略側面図である。以下、本実施例の
非球面反射光学素子を作製する手順を示す。先ず、面精
度の良好な表面(最大表面粗さ0.001 μm以下)を有す
る平行平面の平板状部材(例えば、シリコン単結晶)2
aと、形状精度が良好な非球面形状に近似した曲面3及
び空気抜きの穴5を有する基板(ホウケイ酸ガラス)1
を用意した(図1A参照)。
造する方法を示す工程図であり、図1Cは完成した非球
面反射光学素子の概略側面図である。以下、本実施例の
非球面反射光学素子を作製する手順を示す。先ず、面精
度の良好な表面(最大表面粗さ0.001 μm以下)を有す
る平行平面の平板状部材(例えば、シリコン単結晶)2
aと、形状精度が良好な非球面形状に近似した曲面3及
び空気抜きの穴5を有する基板(ホウケイ酸ガラス)1
を用意した(図1A参照)。
【0034】陽極接合を行う前に、接合される部材2a
及び基板1の各接合面3,3’を研磨して平滑化(0.05
μm以下の最大表面粗さ)した。陽極接合は、部材2a
及び基板1を約400℃に加熱した状態において、部材
2a側電極6の極性を+、基板1側電極6’の極性を−
にして、直流電圧約700Vを印加して行った(図1B
参照)。
及び基板1の各接合面3,3’を研磨して平滑化(0.05
μm以下の最大表面粗さ)した。陽極接合は、部材2a
及び基板1を約400℃に加熱した状態において、部材
2a側電極6の極性を+、基板1側電極6’の極性を−
にして、直流電圧約700Vを印加して行った(図1B
参照)。
【0035】約10分で接合が完了し、非球面形状の曲
面3を有する基板1の該曲面3に、平行面を有する反射
部材2を接合し、非球面形状の反射面4を形成してなる
非球面反射光学素子が完成した(図1C参照)。なお、
基板1の曲面3と部材2aの接合を行うとき、接合面で
ある基板1の曲面3が凹面であるので、凹面に最近接し
た部材2aの接合面3’部分から接合が行われるので、
接合部分に空気溜まりができやすい。
面3を有する基板1の該曲面3に、平行面を有する反射
部材2を接合し、非球面形状の反射面4を形成してなる
非球面反射光学素子が完成した(図1C参照)。なお、
基板1の曲面3と部材2aの接合を行うとき、接合面で
ある基板1の曲面3が凹面であるので、凹面に最近接し
た部材2aの接合面3’部分から接合が行われるので、
接合部分に空気溜まりができやすい。
【0036】そのため、空気溜まりができないように、
空気抜きのための穴5を基板1に設けた。また、空気抜
きの穴5は、その上に位置する反射部材2の反射面部分
の変形に影響を及ぼすので、光学特性が特に要求されな
い反射面部分の下側に位置する基板部分、即ち基板1の
中心に最小限の大きさにて設けた。基板1の曲面3と部
材2aの接合により基板曲面3の形状が接合後の反射部
材2に転写された。即ち、良好な面精度を有する平板状
部材2aの接合面3’は接合後、基板曲面3にならって
変形することで、形状精度が良好な基板曲面3の非球面
形状が接合後の反射部材2の反射面4(面精度良好)に
転写された(図1C参照)。即ち、反射面4の形状は、
良好な面精度及び形状精度を有する非球面の反射面形状
であった。
空気抜きのための穴5を基板1に設けた。また、空気抜
きの穴5は、その上に位置する反射部材2の反射面部分
の変形に影響を及ぼすので、光学特性が特に要求されな
い反射面部分の下側に位置する基板部分、即ち基板1の
中心に最小限の大きさにて設けた。基板1の曲面3と部
材2aの接合により基板曲面3の形状が接合後の反射部
材2に転写された。即ち、良好な面精度を有する平板状
部材2aの接合面3’は接合後、基板曲面3にならって
変形することで、形状精度が良好な基板曲面3の非球面
形状が接合後の反射部材2の反射面4(面精度良好)に
転写された(図1C参照)。即ち、反射面4の形状は、
良好な面精度及び形状精度を有する非球面の反射面形状
であった。
【0037】
【実施例2】図2は本実施例の非球面反射光学素子の概
略側面図である。該光学素子は、形状精度が良好な非球
面形状の曲面3を有する基板(ステンレス)1の該曲面
3に誘電体層(ホウケイ酸ガラス層、厚さ0.4 μm)9
を設け、該誘電体層9を介して、面精度の良好な表面
(最大表面粗さ0.001 μm以下)及び平行面を有する反
射部材2(単結晶シリコン)と、基板1とを陽極接合し
て、非球面形状の反射面4を形成してなる非球面反射光
学素子である。
略側面図である。該光学素子は、形状精度が良好な非球
面形状の曲面3を有する基板(ステンレス)1の該曲面
3に誘電体層(ホウケイ酸ガラス層、厚さ0.4 μm)9
を設け、該誘電体層9を介して、面精度の良好な表面
(最大表面粗さ0.001 μm以下)及び平行面を有する反
射部材2(単結晶シリコン)と、基板1とを陽極接合し
て、非球面形状の反射面4を形成してなる非球面反射光
学素子である。
【0038】
【実施例3】図3は本実施例の非球面反射光学素子の概
略側面図である。該光学素子は、接合前の平行平面の平
板状部材(ホウケイ酸ガラス)2bにシリコン層(厚さ
0.4μm)10を設け、該シリコン層10を介して、面
精度良好な表面(最大表面粗さ0.001 μm以下)及び平
行面を有する反射部材2と、形状精度が良好な非球面形
状の曲面3を有する基板1とを陽極接合して、非球面形
状の反射面4を形成してなる非球面反射光学素子であ
る。
略側面図である。該光学素子は、接合前の平行平面の平
板状部材(ホウケイ酸ガラス)2bにシリコン層(厚さ
0.4μm)10を設け、該シリコン層10を介して、面
精度良好な表面(最大表面粗さ0.001 μm以下)及び平
行面を有する反射部材2と、形状精度が良好な非球面形
状の曲面3を有する基板1とを陽極接合して、非球面形
状の反射面4を形成してなる非球面反射光学素子であ
る。
【0039】
【実施例4】図4は本実施例の非球面反射光学素子の概
略側面図である。該光学素子は、形状精度が良好な非球
面形状の曲面3を有する基板(ホウケイ酸ガラス)1の
該曲面3に、面精度良好な表面(最大表面粗さ0.001 μ
m以下)及び平行面を有する反射部材2(単結晶シリコ
ン)を陽極接合し、非球面形状の反射面4を形成してな
る非球面反射光学素子の表面4に(部材2の表面に)、
X線反射多層膜(Mo/Si交互多層膜、50〜100
ペア)7を成膜した非球面反射光学素子である。X線反
射多層膜の成膜には、イオンビームスパッタ装置やマグ
ネトロンスパッタ装置等の成膜装置を用いた。
略側面図である。該光学素子は、形状精度が良好な非球
面形状の曲面3を有する基板(ホウケイ酸ガラス)1の
該曲面3に、面精度良好な表面(最大表面粗さ0.001 μ
m以下)及び平行面を有する反射部材2(単結晶シリコ
ン)を陽極接合し、非球面形状の反射面4を形成してな
る非球面反射光学素子の表面4に(部材2の表面に)、
X線反射多層膜(Mo/Si交互多層膜、50〜100
ペア)7を成膜した非球面反射光学素子である。X線反
射多層膜の成膜には、イオンビームスパッタ装置やマグ
ネトロンスパッタ装置等の成膜装置を用いた。
【0040】本実施例の光学素子は、X線反射光学素子
として使用することができた。
として使用することができた。
【0041】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の非球面反
射光学素子は、その反射面が厳密な形状精度及び面精度
の両方を満たすことができるので、高い光学性能が要求
される光学系に使用できる。
射光学素子は、その反射面が厳密な形状精度及び面精度
の両方を満たすことができるので、高い光学性能が要求
される光学系に使用できる。
【図1】は、実施例1の非球面反射光学素子を製造する
方法を示す工程図である。
方法を示す工程図である。
【図2】は、実施例2の非球面反射光学素子の概略側面
図である。
図である。
【図3】は、実施例3の非球面反射光学素子の概略側面
図である。
図である。
【図4】は、実施例4の非球面反射光学素子の概略側面
図である。
図である。
【図5】は、X線縮小投影露光装置の構成図である。
【図6】は、X線顕微鏡の構成図である。
1・・・基板 2・・・反射部材(基板1に接合された後のもの) 2a・・平行平面を有する平板状部材(基板1に接合さ
れる前のもの) 3・・・基板の曲面(非球面形状) 3’・・平板状部材2aの接合面 4・・・非球面形状の反射面 5・・・空気抜き穴 6・・・平板状部材2a側電極 6’・・基板1側電極 7・・・X線反射用多層膜 8・・・直流電源 9・・・誘電体(ホウケイ酸ガラス)層 10・・・シリコン層 11・・・X線発生器 12・・・X線照明光学系 13・・・マスク 14・・・X線結像光学系 15・・・ウェハ 16・・・試料カプセル 17・・・X線拡大光学系 18・・・X線撮像装置 19・・・真空容器 20・・・排気装置 以 上
れる前のもの) 3・・・基板の曲面(非球面形状) 3’・・平板状部材2aの接合面 4・・・非球面形状の反射面 5・・・空気抜き穴 6・・・平板状部材2a側電極 6’・・基板1側電極 7・・・X線反射用多層膜 8・・・直流電源 9・・・誘電体(ホウケイ酸ガラス)層 10・・・シリコン層 11・・・X線発生器 12・・・X線照明光学系 13・・・マスク 14・・・X線結像光学系 15・・・ウェハ 16・・・試料カプセル 17・・・X線拡大光学系 18・・・X線撮像装置 19・・・真空容器 20・・・排気装置 以 上
Claims (3)
- 【請求項1】 非球面形状の曲面を有する基板の該曲面
に、平行面を有する反射部材を接合し、非球面形状の反
射面を形成してなる非球面反射光学素子。 - 【請求項2】 前記基板と前記反射部材とが陽極接合法
により接合されてなることを特徴とする請求項1記載の
非球面反射光学素子。 - 【請求項3】 非球面形状の反射面にX線反射用多層膜
を設けたことを特徴とする請求項1または2記載の非球
面反射光学素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7010457A JPH08201593A (ja) | 1995-01-26 | 1995-01-26 | 非球面反射光学素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7010457A JPH08201593A (ja) | 1995-01-26 | 1995-01-26 | 非球面反射光学素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08201593A true JPH08201593A (ja) | 1996-08-09 |
Family
ID=11750677
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7010457A Pending JPH08201593A (ja) | 1995-01-26 | 1995-01-26 | 非球面反射光学素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08201593A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7145739B1 (en) | 2002-03-07 | 2006-12-05 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Lightweight optical mirrors formed in single crystal substrate |
| JP2007171514A (ja) * | 2005-12-21 | 2007-07-05 | Konica Minolta Photo Imaging Inc | プリズムユニット及びプリズムユニットの製造方法。 |
| US10175185B2 (en) | 2015-03-26 | 2019-01-08 | Rigaku Corporation | Methods for manufacturing doubly bent X-ray focusing device, doubly bent X-ray focusing device assembly, doubly bent X-ray spectroscopic device and doubly bent X-ray spectroscopic device assembly |
| WO2021101712A1 (en) * | 2019-11-22 | 2021-05-27 | Zygo Corporation | Method of reducing roughness and/or defects on an optical surface and mirror formed by same |
-
1995
- 1995-01-26 JP JP7010457A patent/JPH08201593A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7145739B1 (en) | 2002-03-07 | 2006-12-05 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Lightweight optical mirrors formed in single crystal substrate |
| JP2007171514A (ja) * | 2005-12-21 | 2007-07-05 | Konica Minolta Photo Imaging Inc | プリズムユニット及びプリズムユニットの製造方法。 |
| US10175185B2 (en) | 2015-03-26 | 2019-01-08 | Rigaku Corporation | Methods for manufacturing doubly bent X-ray focusing device, doubly bent X-ray focusing device assembly, doubly bent X-ray spectroscopic device and doubly bent X-ray spectroscopic device assembly |
| WO2021101712A1 (en) * | 2019-11-22 | 2021-05-27 | Zygo Corporation | Method of reducing roughness and/or defects on an optical surface and mirror formed by same |
| US11605478B2 (en) | 2019-11-22 | 2023-03-14 | Zygo Corporation | Method of reducing roughness and/or defects on an optical surface and mirror formed by same |
| TWI864161B (zh) * | 2019-11-22 | 2024-12-01 | 美商賽格股份有限公司 | 與極紫外光或x光輻射聯同使用之鏡面及其製造方法 |
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