JPH08203080A

JPH08203080A - ライトテスト方法及び光学的情報記録再生装置

Info

Publication number: JPH08203080A
Application number: JP7014099A
Authority: JP
Inventors: Shunpei Kimura; 俊平木村; Tsutomu Shiratori; 力白鳥; Takaaki Ashinuma; 孝昭芦沼; Akira Miyashita; 朗宮下
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1995-01-31
Filing date: 1995-01-31
Publication date: 1996-08-09

Abstract

(57)【要約】【目的】装置内温度変化や対物レンズ、記録媒体の汚
れなどに関係なく、記録ピットを正確に記録できるよう
にする。【構成】光磁気ディスク１のライトテスト領域に記録
パワーを変化させて所定の信号を記録し、その再生信号
振幅に基づいてディスク１の高温レベル状態が始まる直
前のパワーレベルを検出し、検出された高温レベル状態
が始まる直前のパワーレベルに基づいて低温レベル状態
を形成するパワーレベル、及び高温レベル状態を形成す
るパワーレベルを決定する。また、ディスク１のライト
テスト領域に所定の信号を記録する手段と、記録された
信号の再生信号振幅を検出する手段と、再生信号振幅に
基づいて高温レベル状態が始まる直前のパワーレベルを
検出する手段と、このパワーレベルに基づいて低温レベ
ル状態を形成するパワーレベル、高温レベル状態を形成
するパワーレベルを決定する手段とを具備する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光学的情報記録媒体に
情報を記録する記録パワーを最適値に設定するライトテ
スト方法及び光学的情報記録再生装置に関するものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】従来、記録媒体に光ビームを照射して光
学的に情報を記録、あるいは再生する装置としては、予
め情報が記録された再生専用の記録媒体の再生を行う再
生専用の装置、記録膜を熱で開口して情報ピットを記録
する追記型の装置、媒体の結晶状態を変化させその反射
率の違いで情報を記録する装置、垂直磁化膜の磁化の方
向を変えて情報ピットを記録する書き換え型の装置など
がある。

【０００３】図１３はその中で書き換え型の光磁気ディ
スク装置の一例を示した構成図である。図１３に於い
て、１は情報記録媒体であるところの光磁気ディスクで
あり、ガラスやプラスチックなどの透明基板上に磁性膜
２が形成されている。光磁気ディスク１はスピンドルモ
ータ３の回転軸に装填され、スピンドルモータ３の駆動
によって所定の速度で回転する。光磁気ディスク１の下
面には光学ヘッド４が配置され、上面には光学ヘッド４
と対向してバイアスマグネット１３が配置されている。

【０００４】光学ヘッド４内には記録再生光源の半導体
レーザ５が設けられており、情報を記録する場合は、半
導体レーザ５の光ビームは図示しないレーザ駆動回路に
より情報信号に応じて変調される。半導体レーザ５から
出射された光ビームはコリメータレンズ６で平行化され
た後、偏光ビームスプリッタ７を透過して対物レンズ８
に入射する。そして、入射した光ビームは対物レンズ８
で絞られ、微小光スポットとして光磁気ディスク１の磁
性膜２上に集光される。一方、バイアスマグネット１３
から光磁気ディスク１に一定方向の磁界が印加され、こ
の磁界の印加と変調された光ビームの照射によって一連
の情報が記録される。

【０００５】また、光磁気ディスク１に照射された光ビ
ームの一部は媒体面で反射される。この反射光は再び対
物レンズ８を通って偏光ビームスプリッタ７に入射し、
その偏光面でビームスプリッタ９側へ反射され、半導体
レーザ５の入射光と分離される。ビームスプリッタ９で
は入射光束が２つの光束に分離され、一方の光束はセン
サレンズ１０を介して光センサ１１で受光される。光セ
ンサ１１の受光信号はＡＴ・ＡＦ回路（オートトラッキ
ング、オートフォーカス制御回路）１２に入力され、Ａ
Ｔ・ＡＦ回路１２ではその受光信号をもとにトラッキン
グ誤差信号及びフォーカス誤差信号が生成される。そし
て、得られたトラッキング誤差信号、フォーカス誤差信
号をもとに対物レンズアクチュエータ１４を駆動し、対
物レンズ８をトラッキング方向及びフォーカス方向に変
位させることで、トラッキング制御とフォーカス制御が
行われる。

【０００６】一方、光磁気ディスク１の記録情報を再生
する場合は、半導体レーザ５の光ビームは記録できない
程度の再生パワーに設定され、その再生用光ビームを目
的のトラックに走査することで記録情報の再生が行われ
る。即ち、再生用光ビームのディスク面からの反射光は
対物レンズ８、偏光ビームスプリッタ７、ビームスプリ
ッタ９、センサレンズ１５を経由して光センサ１６で受
光される。光センサ１６の受光信号は図示しない再生信
号処理回路へ送られ、ここで所定の信号処理を行うこと
で記録情報が再生される。勿論、再生時においても再生
光ビームの反射光は光センサ１１で受光され、ＡＴ・Ａ
Ｆ回路１２ではその受光信号をもとにトラッキング制御
やフォーカス制御が行われる。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】図１３で説明した光磁
気ディスク装置は、前述のように光変調方式のオーバー
ライトによる装置であり、情報の記録の高速化の要求に
応えるべく、情報の消去と記録が同時に行うことが可能
である。また、最近においては、情報の高密度化のため
に記録ピットの両エッジに情報を持たせるピットエッジ
記録が主流になってきている。

【０００８】しかしながら、この様に情報の記録を高速
化し、情報を高密度化するためには記録ピットを正確か
つ安定に記録する必要があるが、記録時の装置内温度変
化、対物レンズやディスクの汚れなどによって記録パワ
ーが変動してしまう。そのため、従来においては、記録
パワーの変動によって記録ピットが変化し、記録の高速
化や高密度化に十分に対応できないという問題があっ
た。

【０００９】本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされ
たもので、その目的は、高温レベル状態が始まる直前の
パワーレベルを検出し、それに基づいて低温レベル状態
を形成するためのパワーレベル、高温レベル状態を形成
するためのパワーレベルを決定することにより、装置内
温度変化や対物レンズ、記録媒体の汚れなどに関係な
く、記録ピットを正確に記録できるようにしたライトテ
スト方法及び光学的情報記録再生装置を提供することに
ある。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明の目的は、情報記
録媒体のライトテスト領域に記録パワーを変化させて所
定の信号を記録し、その再生信号振幅に基づいて前記記
録媒体の高温レベル状態が始まる直前のパワーレベルを
検出し、検出された高温レベル状態が始まる直前のパワ
ーレベルに基づいて、低温レベル状態を形成するための
パワーレベル、及び高温レベル状態を形成するためのパ
ワーレベルを決定することを特徴とするライトテスト方
法によって達成される。

【００１１】また、本発明の目的は、光学的情報記録媒
体に多値制御により光ビームの記録パワーを制御して情
報を記録する光学的情報記録再生装置において、前記記
録媒体のライトテスト領域に所定の信号を記録するため
の手段と、記録された信号の再生信号振幅を検出するた
めの手段と、この再生信号振幅に基づいて前記記録媒体
の高温レベル状態が始まる直前のパワーレベルを検出す
るための手段と、検出された高温レベル状態が始まる直
前のパワーレベルに基づいて低温レベル状態を形成する
ためのパワーレベル、及び高温レベル状態を形成するた
めのパワーレベルを決定する手段とを有することを特徴
とする光学的情報記録再生装置によって達成される。

【００１２】

【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て詳細に説明する。図１は本発明の光学的情報記録再生
装置の一実施例を示した構成図である。なお、図１では
図１３の従来装置と同一部分は同一符号を付して説明を
省略する。即ち、図１において、光磁気ディスク１、磁
性膜２、スピンドルモータ３、ＡＴ・ＡＦ回路１２は図
１３のものと同じである。また、光学ヘッド４において
も半導体レーザ５、コリメータレンズ６、対物レンズ
８、偏光ビームスプリッタ７及び９、センサレンズ１０
及び１５、光センサ１１及び１６、対物レンズアクチュ
エータ１４からなっており、図１３の光学ヘッド４と同
じに構成されている。光学ヘッド４は図示しない機構に
より光磁気ディスク１の半径方向に移動して所望の情報
トラックにアクセスできるように構成されている。

【００１３】また、本実施例では、光センサ１６で得ら
れた再生信号の振幅を検出するための振幅検出回路１７
が設けられている。振幅検出回路１７は、詳しく後述す
るようにライトテストを行う場合に、光磁気ディスク１
の高温プロセスが始まる直前のパワー（ＰＨth）を検出
するために再生信号の振幅を検出するものである。再生
信号の振幅値はＣＰＵ１８内のＡ／Ｄ変換器でＣＰＵ１
８に取り込まれる。アシンメトリ検出回路１９は後述す
るようにライトテスト時に長さの異なる２つの記録ピッ
トの再生信号のアシンメトリ（対称性）を検出するため
の回路である。アシンメトリ検出回路１９の内部には、
再生信号のピーク値とボトム値を検出して常にその中間
値をスライスレベルとするためのスライスレベル自動追
尾回路が設けられており、所定のロングマークとショー
トマークの再生信号の中間値（スライスレベル）をそれ
ぞれ検出し、その差をアシンメトリとして出力するもの
である。アシンメトリ検出回路１９の出力もＡ／Ｄ変換
器でＣＰＵ１８に取り込まれる。

【００１４】ＣＰＵ１８は本実施例の光学的情報記録再
生装置の主制御部をなすプロセッサ回路であり、ＡＴ・
ＡＦ回路１２、バイアスマグネット１３の駆動回路（図
示せず）、スピンドルモータ３の駆動回路（図示せ
ず）、半導体レーザ５を駆動するための半導体レーザ駆
動回路２０などを制御して情報の記録動作や再生動作を
制御する。また、ＣＰＵ１８では詳しく後述するように
光磁気ディスク１が交換されたときなどに各部を制御し
てライトテストを行い、半導体レーザ５の記録パワーを
最適パワーに設定する制御を行う。

【００１５】図２は本実施例の半導体レーザ５の点灯波
形を示した図である。図２では一例として４Ｔパターン
を記録する場合のレーザ点灯波形を示している。図２に
おいて、ＰＬは光磁気ディスクの記録層に低温レベル状
態（消去）を形成するためのパワーレベル、ＰＨ１とＰ
Ｈ２は高温レベル状態（記録）を形成するためのパワー
レベルである。また、Ｐｒは再生パワーで、一定の値で
ある。本実施例では、図２のようにＰＬ、ＰＨ１、ＰＨ
２、Ｐｒの４値で半導体レーザ５の記録パワーを制御す
るものとし、ライトテストによってこれらのＰＬ、ＰＨ
１、ＰＨ２の値をそれぞれ最適値に設定するものであ
る。

【００１６】次に、本実施例のライトテスト方法を図
３、図４及び図５に基づいて詳細に説明する。まず、本
実施例のライトテストは大きく分けて次の３つのステッ
プからなっている。（１）低温レベル状態を作り出すためのレーザパワーレ
ベルＰＬを決定するために高温状態が始まる直前のレー
ザパワーＰＨthを求める。（２）高温レベル状態を作り出すレーザパワーレベルＰ
Ｈ１とＰＨ２の比を求める。（３）ＰＨ１とＰＨ２の比を一定に保ちながら記録パワ
ーを変化させてＰＨ１とＰＨ２の絶対値を求める。

【００１７】まず、（１）のレーザパワーレベルＰＬを
求める方法について説明する。図３において、ライトテ
ストを行う場合、ＣＰＵ１８は光学ヘッド４を光磁気デ
ィスク１の所定のライトテスト領域へアクセスする（Ｓ
１）。次いで、ＣＰＵ１８ではバイアスマグネット１３
の駆動回路と半導体レーザ駆動回路２０を制御して、ラ
イトテスト領域に消去用のバイアス磁界を印加し、かつ
消去用の光ビームを走査してライトテスト領域の消去を
行う（Ｓ２）。消去が終了すると、ＣＰＵ１８は半導体
レーザ５の記録パワーの初期値Ｐｗを設定する（Ｓ
３）。これは、例えば光磁気ディスク１のコントロール
トラックに記録されているＰＬを用いてこれを初期値と
して設定する。

【００１８】記録パワーの初期値が決まると、ＣＰＵ１
８はその初期値のパワーでライトテスト領域に８Ｔ連続
パターンを記録し（Ｓ４）、続いて記録した８Ｔ連続パ
ターンを再生して再生信号の振幅レベルを検出する（Ｓ
５）。もちろん、この再生信号の振幅レベルは振幅検出
回路１７で検出される。得られた振幅レベルはＣＰＵ１
８内のＡ／Ｄ変換器でＣＰＵ１８に取り込まれ、内部メ
モリに格納される（Ｓ５）。ＣＰＵ１８はこのように初
期値での記録と再生が終わると、記録パワーＰｗにΔＰ
ｗを加えて記録パワーを増加し（Ｓ６）、この記録パワ
ーで再度ライトテスト領域に８Ｔ連続パターンを記録し
（Ｓ４）、それを再生して再生信号の振幅レベルを検
出、記憶する（Ｓ５）。

【００１９】こうしてＳ４〜Ｓ６の処理を繰り返し、予
め決められた所定の記録パワーになるまで記録パワーを
所定量づつ高くしていくと、図６に示すように記録パワ
ーと再生信号振幅の関係のデータを得ることができる。
所定の記録パワーとしては、例えばディスクのコントロ
ールトラックに記録されているＰＨの２倍と決めればよ
い。図６について説明すると、記録パワーが低い場合
は、再生信号振幅はほとんど０であり、ある記録パワー
から急激に立ち上がるという傾向がある。この再生信号
振幅の立ち上がる記録パワーが求めるべき高温レベル状
態が始まる直前のレーザパワーＰＨthである。

【００２０】ここで、図６で説明した高温レベル状態が
始まる直前のＰＨthは媒体特性により温度変化に応じて
変化するという特性を持っている。従って、本発明はこ
の特性に着目し、ＰＨthに基づいてＰＬ、ＰＨ１、ＰＨ
２を決定することにより、温度変化に対応して記録パワ
ーを設定するというものである。ＣＰＵ１８はメモリに
格納された記録パワーと再生信号振幅のデータからＰＨ
thを求めてメモリに格納する（Ｓ７）。以上で（１）の
ＰＨthを求める処理が終了する。なお、本実施例では、
記録情報の変調方式として（１−７）符号を採用してお
り、このときの最長ピットである８Ｔを再生信号振幅の
検出に用いている。

【００２１】次に、（２）の高温レベルを作り出すレー
ザパワーレベルＰＨ１とＰＨ２の比を求める方法につい
て説明する。引き続き図３を参照して説明する。図３に
おいて、まずＣＰＵ１８は先に得られたＰＨthを用いて
低温レベル状態を作り出すレーザパワーレベルＰＬの値
を、ＰＬ＝α×ＰＨthと設定する（Ｓ８）。但し、αの
条件は、ＰＬmin ／ＰＨth＜α＜１．０である。以上で
ＰＬの値が決定する。続いて、ＣＰＵ１８は高温レベル
状態を作り出すレーザパワーレベルＰＨ１＝ＰＨthと設
定し（Ｓ９）、かつＰＨ１＝ＰＨ２として光磁気ディス
ク１のライトテスト領域に８Ｔ連続、２Ｔ連続パターン
を記録する（Ｓ１０）。つまり、このときの記録条件
は、ＰＬ＝α×ＰＨth、ＰＨ１＝ＰＨ２＝ＰＨthであ
る。ＰＬは先に得られた値を用いるものとする。

【００２２】８Ｔ連続、２Ｔ連続パターンを記録する
と、ＣＰＵ１８は各部を制御してそれを再生し、８Ｔパ
ターンの再生信号のスライスレベルＳＬ（８Ｔ）、２Ｔ
パターンの再生信号のスライスレベルＳＬ（２Ｔ）を検
出する（Ｓ１１）。つまり、アシンメトリ検出回路１９
によって８Ｔ連続パターンと２Ｔ連続パターンの再生信
号のピーク値とボトム値の中間値をそれぞれ検出する。
次いで、アシンメトリ検出回路１９では、８Ｔ連続パタ
ーンの再生信号のスライスレベルＳＬ（８Ｔ）と２Ｔ連
続パターンの再生信号のスライスレベルＳＬ（２Ｔ）の
差ΔＳＬを検出し（Ｓ１２）、ＣＰＵ１８ではこのΔＳ
Ｌが０であるかどうかを判定する（Ｓ１３）。ΔＳＬが
０でない場合は、ＣＰＵ１８はＰＨ１にΔＰＨ１を加え
て再度ライトテスト領域に８Ｔ連続、２Ｔ連続パターン
を記録し（Ｓ１０）、同様にそれを再生して８Ｔスライ
スレベル、２Ｔスライスレベルの検出（Ｓ１１）、その
２つのスライスレベルの差ΔＳＬの検出（Ｓ１２）、Δ
ＳＬが０であるかどうかの判定を行う（Ｓ１３）。ＣＰ
Ｕ１８はこのようにＳ１０〜Ｓ１４の処理を繰り返して
ＰＨ１の値をΔＰＨ１づつ高くしていって、ΔＳＬが０
になったときのＰＨ１の値をメモリに格納する。

【００２３】ここで、本実施例では、前述のように（１
−７）符号を採用し、その最長ピットである８Ｔの信号
と最短ピットである２Ｔの信号を記録し、最長ピットと
最短ピットの２つの再生信号のスライスレベル（ピーク
値とボトム値の中間値）の差ΔＳＬを検出している。そ
して、このΔＳＬが０であるかどうかを判定し、０にな
ったときのＰＨ１の値をメモリに格納している。これに
ついて説明する。図７に８Ｔ連続、２Ｔ連続パターンの
再生信号を示しており、最長ピットの８Ｔの再生信号は
図７のように飽和し、この状態ではピーク値とボトム値
の中間値（スライスレベル）は０とみなすことができ
る。

【００２４】そこで、８Ｔを基準に２Ｔを正確な長さの
２Ｔに記録できるように、ＰＨ１の値を変化させてΔＳ
Ｌが０になるときのＰＨ１を検出している。つまり、８
Ｔの再生信号のスライスレベルは０とみなすことができ
るので、８Ｔと２Ｔのピットの再生信号のスライスレベ
ルの差ΔＳＬが０であれば、２Ｔの再生信号のスライス
レベルも０とみなすことができる。従って、このことは
２Ｔのピットを正確に２Ｔの長さに記録できたというこ
とであるので、このときのＰＨ１の値が最短ピットの２
Ｔを正確に記録するためのＰＨ１のパワーレベルとな
る。

【００２５】次に、ＣＰＵ１８は得られたＰＨ１をＰＨ
１′とし、それに適合するＰＨ２の値を求める処理を行
う。図３のＳ１３は図４のＳ１４に続いているので、図
４を参照して説明する。まず、前述のようにＰＨ１＝Ｐ
Ｈ１′とし、またＰＨ２の初期値をＰＨ２＝０．８×Ｐ
Ｈ１′と設定する（Ｓ１４）。ＰＬは先に得られた値を
用いる。次いで、ＣＰＵ１８はこの記録条件で各部を制
御してライトテスト領域に８Ｔ連続、２Ｔ連続パターン
を記録し（Ｓ１５）、その後それを再生して８Ｔ連続パ
ターンの再生信号のスライスレベルＳＬ（８Ｔ）′、２
Ｔ連続パターンの再生信号のスライスレベルＳＬ（２
Ｔ）′を検出する（Ｓ１６）。もちろん、これはアシン
メトリ検出回路１９で検出され、ＣＰＵ１８に取り込ま
れる。続いて、アシンメトリ検出回路１９ではスライス
レベルＳＬ（２Ｔ）′とＳＬ（８Ｔ）′の差ΔＳＬ′を
検出し（Ｓ１７）、ＣＰＵ１８では得られたΔＳＬ′が
０であるかどうかの判定を行う（Ｓ１８）。

【００２６】この場合、ΔＳＬ′が０でなければ、ＣＰ
Ｕ１８はＰＨ２にΔＰＨ２を加えて（Ｓ１９）、再度ラ
イトテスト領域に８Ｔ連続、２Ｔ連続パターンを記録す
る。そして、再びそれを再生して８ＴスライスレベルＳ
Ｌ（８Ｔ）′と２ＴスライスレベルＳＬ（２Ｔ）′の検
出（Ｓ１６）、及びその２つのスライスレベルの差ΔＳ
Ｌ′の検出（Ｓ１７）、ΔＳＬ′が０であるかどうか判
定を行う（Ｓ１８）。ＣＰＵ１８はＳ１５〜Ｓ１９の処
理を繰り返し、ＰＨ２の値をΔＰＨ２づつ高くしてΔＳ
Ｌ′が０になったときのＰＨ２の値をＰＨ２′としてメ
モリに格納する（Ｓ２０）。次いで、ＣＰＵ１８は得ら
れたＰＨ２′と先にメモリに格納されているＰＨ１′の
比β（β＝ＰＨ２′／ＰＨ１′）を算出する（Ｓ２
１）。以上で（２）のＰＨ２とＰＨ１の比を求める処理
を終了する。

【００２７】ここで、図４では以上のようにＰＨ２を変
化させて８Ｔと２Ｔの再生信号のスライスレベルの差Δ
ＳＬ′が０のときのＰＨ２の値を検出している。これに
ついて説明する。この場合は、２Ｔを基準に８Ｔの最長
ピットを正確な８Ｔの長さに記録できるＰＨ２のパワー
レベルを検出している。つまり、最短の２Ｔピットにつ
いては先に正確な長さに記録できるＰＨ１の値を求めた
ので、今度はＰＨ２を変化させて８Ｔと２Ｔの再生信号
のスライスレベルの差ΔＳＬ′が０になるときのＰＨ２
を検出しようというものである。即ち、ΔＳＬ″が０で
あれば、８Ｔの再生信号のスライスレベルは０とみなす
ことができ、このことは８Ｔピットを正確な８Ｔの長さ
に記録できるということであるので、そのときのＰＨ２
の値が最長の８Ｔピットを正確に記録できるＰＨ２のパ
ワーレベルとなる。

【００２８】最後に、（３）のＰＨ１とＰＨ２の比を一
定に保ちながら記録パワーを変化させてその絶対値を求
める方法について説明する。図４のＳ２１は図５のＳ２
２に続いているので、以下図５に基づいて説明する。図
５において、まずＣＰＵ１８はＰＨ１、ＰＨ２の初期値
として、ＰＨ１＝ＰＨth、ＰＨ２＝β×ＰＨ１に設定す
る（Ｓ２２）。ＰＨthは図３のＳ７で、βは図４のＳ２
１で得られたものである。ＰＬは先に得られた値を用い
る。次いで、ＣＰＵ１８は各部を制御して先の初期値の
記録条件で光磁気ディスク１のライトテスト領域に８Ｔ
連続、２Ｔ連続パターンを記録し（Ｓ２３）、その後そ
れを再生して、８Ｔ連続パターンの再生信号のスライス
レベルＳＬ（８Ｔ）″、２Ｔ連続パターンの再生信号の
スライスレベルＳＬ（２Ｔ）″を検出する（Ｓ２４）。
もちろん、これはアシンメトリ検出回路１９で検出され
る。続いて、アシンメトリ検出回路１９では得られたス
ライスレベルＳＬ（２Ｔ）″とＳＬ（８Ｔ）″の差ΔＳ
Ｌ″を検出し（Ｓ２５）、ＣＰＵ１８ではこのΔＳＬ″
が０であるかどうかを判定する（Ｓ２６）。ここでΔＳ
Ｌ″が０でなかった場合は、ＣＰＵ１８はＰＨ１＝ＰＨ
１＋ΔＰＨ１、ＰＨ２＝β×ＰＨ１としてＰＨ１とＰＨ
２の比を一定に保ったまま記録パワーを更新する（Ｓ２
７）。

【００２９】ＣＰＵ１８はこの更新された記録条件で再
度ライトテスト領域に８Ｔ連続、２Ｔ連続パターンを記
録し（Ｓ２３）、その後それを再生して８Ｔ連続パター
ン、２Ｔ連続パターンのスライスレベルの検出（Ｓ２
４）、その２つのスライスレベルの差ΔＳＬ″の検出
（Ｓ２５）、ΔＳＬ″が０であるかどうかの判定を行う
（Ｓ２６）。ＣＰＵ１８はこのようにＳ２３〜Ｓ２７の
処理を繰り返し、ＰＨ１とＰＨ２の比を一定に保ったま
ま記録パワーを所定量づつ高くしてΔＳＬ″が０になっ
たときのＰＨ１、ＰＨ２の値を求めるべきＰＨ１、ＰＨ
２として決定する。以上でライトテストによるＰＬ、Ｐ
Ｈ１、ＰＨ２の全ての最適パワーレベルの値が求まり、
ライトテストを終了する。

【００３０】なお、以上のようにＰＨ１とＰＨ２の絶対
値を求める場合も、２Ｔと８Ｔのピットを記録し、２Ｔ
と８Ｔの再生信号のスライスレベルの差ΔＳＬ″が０に
なったときのＰＨ１、ＰＨ２の値を最適パワーレベルと
して決定している。これも、先に説明した理由に基づく
ものであり、最長ピットの８Ｔと最小ピットの２Ｔの再
生信号のスライスレベルの差ΔＳＬ″が０であれば、８
Ｔと２Ｔの再生信号のスライスレベルは０で、両方のピ
ットをそれぞれ正確な長さに記録できるというものであ
る。従って、このときのＰＨ１とＰＨ２の値が最短ピッ
トの２Ｔと最長ピットの８Ｔを正確に記録できるＰＨ１
のパワーレベル、ＰＨ２のパワーレベルとなる。

【００３１】ここで、例えばＣＡＶ方式のようにディス
クの記録半径位置によって線速度が異なる場合は、それ
に応じて半導体レーザの記録パワーを変える必要があ
る。図８にこの場合のディスクの記録半径位置（線速）
と記録パワーの関係を示しており、線速度と記録パワー
の間には比例関係がある。従って、このような場合は、
図３〜図５で説明したライトテストは例えばディスクの
内周、中周、外周で行うものとし、各位置で得られたＰ
Ｌ１、ＰＨ１、ＰＨ２の値をメモリに格納しておき、そ
れに基づいて直線近似によりディスクの半径位置に応じ
てＰＬ、ＰＨ１、ＰＨ２の値を変えるものとする。ま
た、以上のようなライトテストは、ディスクが交換され
るごとに行ってもよいし、情報の記録前に必ず行っても
よく、あるいは一定時間ごとに定期的に行ってもよい。

【００３２】次に、本発明の他の実施例について説明す
る。本実施例は、先の実施例のライトテスト方法と
（１）、（３）は同じで、（２）のＰＨ２を求める方法
が異なっている。本実施例では、図３の方法でＰＬ１と
ＰＨ１を求めた後に次のような方法でＰＨ２を求めるも
のである。

【００３３】具体的に説明すると、図３で得られたＰＨ
１をＰＨ１′とし、ＰＨ２の初期値ＰＨ２＝０．８×Ｐ
Ｈ１′と設定し（ＰＬは先に得られた値に設定）、この
記録パワーで光磁気ディスクのライトテスト領域に６Ｔ
及び８Ｔの信号を記録する。記録が終了すると、ＣＰＵ
１８はその記録信号を再生して６Ｔと８Ｔの再生信号の
振幅値をそれぞれ検出し、メモリに格納する。もちろ
ん、再生信号振幅は振幅検出回路１７によって検出し、
検出結果をＣＰＵ１８に取り込む。ＣＰＵ１８はＰＨ１
とＰＨ２の比を一定に保ったまま記録パワーを変化させ
て、６Ｔ、８Ｔ信号の記録とその再生信号の振幅検出を
繰り返し行い、ＰＨ２の変化に対する６Ｔ及び８Ｔの再
生信号振幅のデータをメモリに格納していく。

【００３４】図９にこのときのＰＨ２と６Ｔ、８Ｔの再
生信号振幅のデータを示している。図９から明らかなよ
うに６Ｔと８Ｔの再生信号振幅はＰＨ２が低いときは同
じであるが、あるところから６Ｔと８Ｔの再生信号振幅
に差が生じる。ＣＰＵ１８はこの２つの再生信号振幅に
差が出始めるパワーをＰＨ２′として決定する。ところ
で、このようなピットの違いによって再生信号振幅に差
が生じる現象は、ＰＨ２の値が大きくなるほど記録され
るピットが涙型になり、記録ピットが長くなるほど涙型
が顕著になるために生じるものである。

【００３５】つまり、ＰＨ２の値が最適である場合は、
図１０（ａ）に示すように６Ｔ、８Ｔの記録ピットは理
想的な記録ピットとなり、６Ｔピットと８Ｔピットの再
生信号振幅は等しくなる。ところが、ＰＨ２の値が最適
値よりも大きくなった場合は図１０（ｂ）に示すように
６Ｔと８Ｔの記録ピットは涙型となり、６Ｔと８Ｔの再
生信号振幅に差が生じる。従って、再生信号振幅に差が
生じ始めるＰＨ２の値が最適値となるので、これを見つ
けることによってＰＨ２の最適値を決定するものであ
る。こうしてＰＨ２の最適値が得られ、この後図４のＳ
２０以降の処理を行うことによって先に得られたＰＨ
１′との比（β＝ＰＨ２′／ＰＨ１′）が求まり、更に
図５の処理を行うことによって、ＰＬ、ＰＨ１、ＰＨ２
の値が決定する。

【００３６】なお、本実施例においても、ＣＡＶ方式の
場合は、前述したようにディスクの内周、中周、外周な
どの記録半径位置でライトテストを行い、各位置で得ら
れたＰＬ１、ＰＨ１、ＰＨ２の値をメモリに格納してお
き、それに基づいて半径位置に応じた最適記録パワーを
設定するものとする。

【００３７】また、以上の実施例では、レーザ点灯波形
を図２のような点灯波形としたが、本発明はこれに限定
されるものではなく、例えば図１１（ａ）、図１１
（ｂ）あるいは図１１（ｃ）のような点灯波形であって
もよい。図１１（ａ）〜（ｃ）は図２と同様に４Ｔパタ
ーンを記録するときのレーザ点灯波形を示している。

【００３８】更に、本発明は低温レベル状態をパルス点
灯によって作り出す場合にも適用することが可能であ
る。図１２（ａ）は記録パターン、図１２（ｂ）、
（ｃ）はこれに対応したレーザ点灯波形を示した図であ
る。図１２（ｂ）は低温レベル状態（スペース）をＤＣ
点灯で形成する場合のレーザ点灯波形、図１２（ｃ）は
低温レベル状態をパルス点灯によって形成する場合のレ
ーザ点灯波形を示している。以上の実施例では、図１２
（ｂ）のようにスペースをＤＣ点灯しているが、本発明
は図１２（ｃ）のようにスペースをパルス点灯する場合
にも適用することができる。但し、この場合に注意しな
ければならない点は、高温プロセスの始まるＰＨthの値
からＰＬのレベルを、ＰＬ＝α′×ＰＨthとして決定す
るときに、α′の設定が実施例とは違ってα′＞１．０
となることである。このように低温レベル状態をパルス
点灯で生成する場合は、低温レベルのレーザパワー制御
の精度を高められる利点がある。

【００３９】また、実施例では、高温プロセスの始まる
直前のＰＨthを求める方法として、８Ｔ連続パターンを
記録し、その再生信号振幅が立ち上がる記録パワーをＰ
Ｈthとして求めると説明したが、テストパターンの８Ｔ
連続信号のマーク部分を１／２Ｔの長さのパルス点灯で
行ってもよい。この場合は、ＰＨthの値から得られたＰ
Ｌのレベルは、ＰＬ＝γ×ＰＨthとなるが、このときの
係数γはγ＜１．０となる。

【００４０】更に、実施例では、ＰＬ、ＰＨ１、ＰＨ
２、Ｐｒの４値で制御する４値制御の場合のライトテス
トを例として説明したが、本発明はこれに限ることな
く、例えばＰＬ、ＰＨ、Ｐｒの３値で制御するという３
値制御の場合にも適用することができる。この３値制御
の場合は、ライトテストは次のように行う。まず、図３
のＳ１からＳ８までは４値制御の場合と同じで、ＰＨth
を検出し、それに基づいてＰＬを設定する。次に、３値
制御の場合は、高温レベル状態（記録）を形成するパワ
ーレベルはＰＨのみであるので、図３のＳ９でＰＨ＝Ｐ
Ｈthとし、Ｓ１０でそのＰＨのパワーレベルで８Ｔ連
続、２Ｔ連続パターンを記録する。

【００４１】続いて、Ｓ１１で８Ｔ、２Ｔ連続パターン
を再生して８Ｔと２Ｔの再生信号のスライスレベルを検
出し、Ｓ１２で８Ｔと２Ｔのスライスレベルの差ΔＳＬ
を検出し、Ｓ１３でΔＳＬが０であるかどうかを判定す
る。そして、ΔＳＬが０でない場合は、Ｓ１４でＰＨに
ΔＰＨを加えて記録パワーを更新し、再度８Ｔ、２Ｔ連
続パターンの記録、その再生信号のスライスレベルの検
出、その差ΔＳＬの検出、ΔＳＬが０であるかどうかの
判定を行う。こうしてＳ１０〜Ｓ１４の処理を繰り返
し、ΔＳＬが０になったときのＰＨの値を最適パワーレ
ベルとして決定する。以上でＰＬとＰＨの最適値が求ま
り、３値制御の場合のライトテストを終了する。このよ
うに本発明は、３値制御の場合のライトテストにも適用
が可能である。

【００４２】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、高
温レベル状態が始まる直前のパワーレベルを検出し、検
出されたパワーレベルに基づいて低温レベル状態を形成
するためのパワーレベル、及び高温レベル状態を形成す
るためのパワーレベルを決定することにより、装置内温
度変化に応じて記録パワーを最適パワーレベルに設定す
ることが可能となり、温度変化や対物レンズ、媒体など
の汚れなどによらず、安定して記録ピットを記録するこ
とができ、情報記録の高速化や高密度にも対応できると
いう効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】図１は本発明の光学的情報記録再生装置の一実
施例を示した構成図である。

【図２】図１の実施例の４Ｔパターンを記録するときの
レーザ点灯波形を示した図である。

【図３】本発明のライトテスト方法の一実施例を示した
フローチャートである。

【図４】本発明のライトテスト方法の一実施例を示した
フローチャートである。

【図５】本発明のライトテスト方法の一実施例を示した
フローチャートである。

【図６】高温レベル状態が始まる直前のレーザパワーＰ
Ｈthを求める方法を説明するための図である。

【図７】本発明のライトテストに用いられる８Ｔ連続、
２Ｔ連続パターンの再生信号を示した図である。

【図８】ディスクの半径位置（線速）と記録パワーの関
係を示した図である。

【図９】高温レベル状態を形成するためのＰＨ２を求め
る他の方法を説明するための図である。

【図１０】図９のＰＨを求める原理を説明するための図
である。

【図１１】４Ｔパターンのレーザ点灯波形の他の例を示
した図である。

【図１２】記録パターンとこれに対応したレーザ制御信
号をスペースをＤＣ点灯する場合とパルス点灯する場合
で比較して示した図である。

【図１３】従来例の光磁気ディスク装置を示した図であ
る。

【符号の説明】

１光磁気ディスク３スピンドルモータ４光学ヘッド５半導体レーザ８対物レンズ１１、１６光センサ１２ＡＴ・ＡＦ回路１３バイアスマグネット１４対物レンズアクチュエータ１７振幅検出回路１８ＣＰＵ１９アシメントリ検出回路２０半導体レーザ駆動回路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者宮下朗東京都大田区下丸子３丁目30番２号キヤノン株式会社内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】情報記録媒体のライトテスト領域に記録
パワーを変化させて所定の信号を記録し、その再生信号
振幅に基づいて前記記録媒体の高温レベル状態が始まる
直前のパワーレベルを検出し、検出された高温レベル状
態が始まる直前のパワーレベルに基づいて、低温レベル
状態を形成するためのパワーレベル、及び高温レベル状
態を形成するためのパワーレベルを決定することを特徴
とするライトテスト方法。
【請求項２】請求項１に記載のライトテスト方法にお
いて、前記低温レベル状態を形成するためのパワーレベ
ルは、前記高温レベル状態が始まる直前のパワーレベル
に所定の係数を乗算することによって決定することを特
徴とするライトテスト方法。
【請求項３】請求項１に記載のライトテスト方法にお
いて、前記高温レベル状態を形成するためのパワーレベ
ルは、前記高温レベル状態が始まる直前のパワーレベル
を基準に記録パワーを変化させて記録媒体のライトテス
ト領域に長さの異なる信号を記録し、信号を記録するご
とに長さの異なる信号を再生して長さの異なる２つの再
生信号のピーク値とボトム値の中間値の差を検出し、検
出された中間値の差に基づいて決定することを特徴とす
るライトテスト方法。
【請求項４】請求項１に記載のライトテスト方法にお
いて、記録パワーを変化させて長さの異なる信号を記録
媒体のライトテスト領域に記録し、長さの異なる２つの
信号の再生信号のピーク値とボトム値の中間値の差に基
づいて高温レベル状態を形成するための２つのパワーレ
ベルを検出して高温レベル状態を形成するための２つの
パワーレベルの比を算出し、この比を一定に保ったまま
記録パワーを変化させて長さの異なる信号をライトテス
ト領域に記録し、長さの異なる２つの信号の再生信号の
ピーク値とボトム値の中間値の差に基づいて前記高温レ
ベル状態を形成するための２つのパワーレベルの絶対値
を決定することを特徴とするライトテスト方法。
【請求項５】光学的情報記録媒体に多値制御により光
ビームの記録パワーを制御して情報を記録する光学的情
報記録再生装置において、前記記録媒体のライトテスト
領域に所定の信号を記録するための手段と、記録された
信号の再生信号振幅を検出するための手段と、この再生
信号振幅に基づいて前記記録媒体の高温レベル状態が始
まる直前のパワーレベルを検出するための手段と、検出
された高温レベル状態が始まる直前のパワーレベルに基
づいて低温レベル状態を形成するためのパワーレベル、
及び高温レベル状態を形成するためのパワーレベルを決
定する手段とを有することを特徴とする光学的情報記録
再生装置。