JPH0820519B2 - 放射線2次元分布測定装置 - Google Patents

放射線2次元分布測定装置

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JPH0820519B2
JPH0820519B2 JP62240186A JP24018687A JPH0820519B2 JP H0820519 B2 JPH0820519 B2 JP H0820519B2 JP 62240186 A JP62240186 A JP 62240186A JP 24018687 A JP24018687 A JP 24018687A JP H0820519 B2 JPH0820519 B2 JP H0820519B2
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晋 足立
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Description

【発明の詳細な説明】 <産業上の利用分野> 本発明は、例えばX線像撮像装置等、放射線の2次元
分布画像を得る装置に関する。
<従来の技術> 上述のX線像撮像装置等においては、従来、第3図に
示すように、基板31表面上に複数の放射線検出素子S3
S3を行列状に配列して2次元検出素子アレイD3を形成
し、一つの検出素子S3を一つの画素として放射線の2次
元分布画像を得る方法や、複数の放射線検出素子を基板
等に1次元方向に配列して1次元検出素子アレイを形成
し、この検出素子アレイを所定の方向に走査して放射線
の2次元分布画像を得る方法が採られている。
<発明が解決しようとする問題点> ところで、上述の方法によれば、いずれでも、多数の
放射線検出素子を基板上に密接して配列する必要があ
り、しかも、各素子に増幅器および配線等を接続しなけ
ればならないので、放射線検出素子の実装がきわめて困
難であるという問題がある。
ここで、例えば第4図に示すように、放射線検出素子
S4…S4を、基板41上に行方向および列方向とも一つ飛び
に配列して平面検出素子アレイD4を形成し、このアレイ
D4を走査する方法が考えられるが、この方法によれば、
放射線検出素子S4…S4の実装が比較的容易に行うことが
できる反面、平面検出素子アレイD4を一定方向に走査す
るだけでは、必要とする画素全てを網羅できない。この
ため、複雑な走査方法が必要となるという問題がある。
本発明の目的は、検出素子アレイを形成する際におけ
る放射線検出素子の基板等への実装が容易で、しかも、
検出素子アレイの走査方法も容易な、放射線2次元分布
測定装置を提供することにある。
<問題点を解決するための手段> 上記目的を達成するための構成を、実施例に対応する
第1図を参照しつつ説明すると、本発明は、基板1表面
上に、所定の方向(x方向)に延びかつ所定の距離lを
隔てて互いに平行な直線群およびその直線群と直交する
方向(y方向)に延びかつ所定の距離lを隔てて互いに
平行な直線群により区切られた四角形の領域群F1,1
16,16を行列状に形成し、その領域群のうち一つのF
1,1を原点(1,1)の領域としてその原点の領域F1,1
ら行方向(x方向)および列方向(y方向)への各領域
の位置をそれぞれ自然数xおよび自然数yとしてFx,y
で表わし、領域群F1,1…F16,16のうち下記の二つの式
に基づく位置の領域Fx,yの基板1の表面状に放射線検
出素子S…Sを実装してなる平面検出素子アレイDと、
この平面検出素子アレイDを、四角形の領域の対角線方
向(x軸と45゜をなす方向)で、かつ、(x,y=x)と
なる領域群〔F1,1,F2,2,……,F15,15,F16,16〕が並ぶ
方向に沿って走査する走査手段2を備えたことを特徴と
している。
(x,y)={2Km+1,2(K+1)n+1} (x,y)={2Km+K+1,2(K+1)n+K+2} ただし、Kは自然数で所定の値を有する定数とし、か
つ、m,nは非負の整数とする。
<作用> 上記した二つの式におけるKの値を例えば2とする、
第1図に示すような平面検出素子アレイDを、一定の方
向つまりx軸と45゜をなす方向に走査することにより、
第2図に示すように、必要とする平面の画素全てを網羅
することができる。
<実施例> 本発明の実施例を、以下、図面に基づいて説明する。
第1図は本発明実施例の構成図である。
基板1表面上に、一辺lを有する正方形の領域F1,1
…F16,16が互いに隣接してx方向に16行、y方向に16
列形成されており、その領域群F1,1…F16,16のうち下
記の(1)式または(2)式に基づく位置の領域Fx,y
の基板1表面上に放射線検出素子S…Sを実装して平面
検出素子アレイDを形成している。
(x,y)=(4m+1,6n+1) ……(1) (x,y)=(4m+3,6n+4) ……(2) ただし m,n=0,1,2,3,… 放射線検出素子Sは放射線入射によりパルス信号を発
生するよう構成されており、そのパルス信号は増幅器お
よび配線等を介して画像処理装置(図示せず)に採り込
まれる。画像処理装置は、入力されたパルス信号および
その信号を発生した放射線検出素子Dの位置の情報に基
づいて放射線の画像を形成するよう構成されている。
また、平面検出素子アレイDには走査手段2が備えら
れており、平面検出素子アレイDを領域Fx,yと対角線
方向つまりx軸と45゜をなす方向に、 のステップで移動させることができる。
以上の構成により、平面検出素子アレイDを、放射線
測定領域において所定の方向(x軸と45゜をなす方向)
に走査することによって、放射線の2次元分布画像を洩
れなく得ることができる。
なお、本発明実施例において、(1)または(2)式
に基づく位置の領域のうち、例えばF13,13も、図示は
してないが、放射線検出素子Sの実装位置となる。この
領域F13,13は、走査過程で領域F1,1と重なる位置関係
にあるので、これらの領域が通る画素では二つの画像デ
ータが得られることになるが、その各画素については、
例えば二つの画像データうち、いずれか一方のデータを
代表値として用いる、等の処理を前記した画像処理装置
で実行するようにすればよい。
ここで、以上の実施例では、基板1表面上に形成され
た領域群F1,1…F16,16のうち上述の(1)式または
(2)式に基づく位置の領域Fx,yに放射線検出素子S
…Sを実装しているが、本発明はこれに限られることな
く、領域群F1,1…F16,16のうち次に示す(3)式また
は(4)式に基づく位置の領域Fx,yに放射線検出素子
S…Sを実装しても、本発明を実施することができる。
(x,y)={2Km+1,2(K+1)n+1} ……(3) (x,y)={2Km+K+1,2(K+1)n+K+2} ……
(4) ただし、Kは自然数で所定の値を有する定数とし、 m,n=0,1,2,3,…とする。
また、本実施例では、一つの領域Fx,yの形状を一辺
lを有する正方形としたが、本発明はこれに限られるこ
となく、一つの領域の形状が長方形の場合でも実施する
ことができる。この場合、走査方向は長方形の縦横の長
さの比から求めればよいし、また、走査における一つの
ステップの距離は長方形の対角線の長さとすればよい。
さらに、本実施例では、領域群F1,1…F16,16を16行
16列としているが、本発明はこれに限られることなく、
例えば32行32列等、任意複数の行および列の領域群とし
ても本発明を実施できることは言うまでもない。
<発明の効果> 以上説明したように、本発明によれば、基板表面上に
複数の放射線検出素子を、所定の距離を隔てて実装して
平面検出素子アレイを形成し、この平面検出素子アレイ
を一定方向に走査することにより、放射線の2次元分布
画像を得るよう構成したから、従来のように放射線検出
素子を基板表面上に密接して配列する必要がなくなり、
放射線検出素子の基板への実装が従来に比してきわめて
容易になる。しかも、平面検出素子アレイを一定方向に
走査すればよいので、容易な走査方法で放射線2次元分
布画像を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明実施例の構成図、 第2図は作用を説明するための図、 第3図は従来の平面検出素子アレイの斜視図、 第4図は問題点を説明するための図である。 1……基板 2……走査手段 D……平面検出素子アレイ F1,1…F16,16……領域 S…S……放射線検出素子

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板表面上に、所定の方向に延びかつ所定
    の距離を隔てて互いに平行な直線群およびその直線群と
    直交する方向に延びかつ所定の距離を隔てて互いに平行
    な直線群により区切られた四角形の領域群を行列状に形
    成し、その領域群のうち一つを原点(1,1)の領域とし
    てその原点の領域から行方向および列方向への上記各領
    域の位置をそれぞれ自然数xおよび自然数yとして(x,
    y)で表わし、上記領域群のうち下記の二つの式に基づ
    く位置の領域の上記基板表面上に放射線検出素子を実装
    してなる平面検出素子アレイと、この平面検出素子アレ
    イを、上記四角形の領域の対角線方向で、かつ、領域
    (x,y=x)群が並ぶ方向に沿って走査する走査手段を
    備えた、放射線2次元分布測定装置。 (x,y)={2Km+1,2(K+1)n+1} (x,y)={2Km+K+1,2(K+1)n+K+2} ただし、Kは自然数で所定の値を有する定数とし、か
    つ、m,nは非負の整数とする。
JP62240186A 1987-09-24 1987-09-24 放射線2次元分布測定装置 Expired - Lifetime JPH0820519B2 (ja)

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JP62240186A JPH0820519B2 (ja) 1987-09-24 1987-09-24 放射線2次元分布測定装置

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JPS6480896A JPS6480896A (en) 1989-03-27
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS60218968A (ja) * 1984-04-16 1985-11-01 Canon Inc 光学的読取装置

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JPS6480896A (en) 1989-03-27

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