JPH08206098A - 核磁気共鳴を用いた検査方法及び装置 - Google Patents
核磁気共鳴を用いた検査方法及び装置Info
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- JPH08206098A JPH08206098A JP7310317A JP31031795A JPH08206098A JP H08206098 A JPH08206098 A JP H08206098A JP 7310317 A JP7310317 A JP 7310317A JP 31031795 A JP31031795 A JP 31031795A JP H08206098 A JPH08206098 A JP H08206098A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】静磁場不均一による減衰、高周波磁場の連続照
射による悪影響を軽減して核スピン信号の複数のエコー
を連続的に得る。 【構成】静磁場を発生する手段14と、静磁場に傾斜を
かける傾斜磁場を印加する手段8、9、10と、検査対
象に高周波磁場を印加する手段4と、検査対象からの核
磁気共鳴信号を検出する手段4とを有する核磁気共鳴装
置を用いた検査装置において、少なくとも傾斜磁場を印
加する手段と高周波磁場を印加する手段とを制御する制
御手段1を有し、該制御手段1は、検査対象16の核ス
ピンによるエコーを複数回発生させるとともに、順次異
なるフェーズドエンコード量を付与してその複数回のエ
コーを順次測定するシーケンスを複数のブロックに分割
して実施し、各ブロックの開始毎に核スピンの励起を行
うことの制御を実行する。 【効果】減衰の少ない多数のエコーを測定できる。
射による悪影響を軽減して核スピン信号の複数のエコー
を連続的に得る。 【構成】静磁場を発生する手段14と、静磁場に傾斜を
かける傾斜磁場を印加する手段8、9、10と、検査対
象に高周波磁場を印加する手段4と、検査対象からの核
磁気共鳴信号を検出する手段4とを有する核磁気共鳴装
置を用いた検査装置において、少なくとも傾斜磁場を印
加する手段と高周波磁場を印加する手段とを制御する制
御手段1を有し、該制御手段1は、検査対象16の核ス
ピンによるエコーを複数回発生させるとともに、順次異
なるフェーズドエンコード量を付与してその複数回のエ
コーを順次測定するシーケンスを複数のブロックに分割
して実施し、各ブロックの開始毎に核スピンの励起を行
うことの制御を実行する。 【効果】減衰の少ない多数のエコーを測定できる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は核磁気共鳴現象を用い、
対象物体中の核スピンの密度分布あるいは緩和時間分布
などを非破壊的に求める検査方法及び装置に関する。
対象物体中の核スピンの密度分布あるいは緩和時間分布
などを非破壊的に求める検査方法及び装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、人体などの内部構造を非破壊的に
検査する方法として、X線CTや超音波装置が広く利用
されて来ている。しかし最近、核磁気共鳴現象を用い同
様の検査を行なう試みが成功し、X線CTや超音波装置
では得られない情報を取得できることが明らかになっ
た。
検査する方法として、X線CTや超音波装置が広く利用
されて来ている。しかし最近、核磁気共鳴現象を用い同
様の検査を行なう試みが成功し、X線CTや超音波装置
では得られない情報を取得できることが明らかになっ
た。
【0003】核磁気共鳴装置は、対象とする核スピンか
ら発生する高周波磁場をコイルで検出し、それをもとに
核スピンの密度あるいは緩和時間を位置の関数として表
示するものである。従来まで提案されている方法には、
投影再構成法やフーリエ変換法などがあるが、いずれも
投影角度を変えるか、あるいはフェーズエンコード量を
変えて100〜200回位の測定を行ない、得られたデ
ータを計算機で処理し、元の核スピン分布を求めるもの
である。この場合、1回の測定が終了してから次の測定
に移るまでに、対象物体の縦緩和測時間程度待たなけれ
ばならず、測定の大部分がこのために費やされていた。
ら発生する高周波磁場をコイルで検出し、それをもとに
核スピンの密度あるいは緩和時間を位置の関数として表
示するものである。従来まで提案されている方法には、
投影再構成法やフーリエ変換法などがあるが、いずれも
投影角度を変えるか、あるいはフェーズエンコード量を
変えて100〜200回位の測定を行ない、得られたデ
ータを計算機で処理し、元の核スピン分布を求めるもの
である。この場合、1回の測定が終了してから次の測定
に移るまでに、対象物体の縦緩和測時間程度待たなけれ
ばならず、測定の大部分がこのために費やされていた。
【0004】これに対して、G.Johnsonらはエ
コーを次々と形成し、横緩和時間T2よりも十分短い時
間内に全ての測定を完了する方法を提案した(J.Ma
gn.Reson.54,374(1983)を参照の
こと)。即ち、信号読み出し傾斜磁場の反転を繰り返し
てエコーを次々と形成し、かつエコーとエコーとの間で
フェーズエンコードを行なうことにより、1回のシーケ
ンスで全てのフェーズエンコードに対応した信号を測定
するものである。しかし、この方法は重大な欠点があ
る。それは、傾斜磁場の反転により回復するのは印加し
た傾斜磁場によって生じた核スピンの位相分散だけであ
り、静磁場の不均一により生じたの位相分散は累積する
一方であるため、エコーが時間とともに次第に減衰して
行くことである。
コーを次々と形成し、横緩和時間T2よりも十分短い時
間内に全ての測定を完了する方法を提案した(J.Ma
gn.Reson.54,374(1983)を参照の
こと)。即ち、信号読み出し傾斜磁場の反転を繰り返し
てエコーを次々と形成し、かつエコーとエコーとの間で
フェーズエンコードを行なうことにより、1回のシーケ
ンスで全てのフェーズエンコードに対応した信号を測定
するものである。しかし、この方法は重大な欠点があ
る。それは、傾斜磁場の反転により回復するのは印加し
た傾斜磁場によって生じた核スピンの位相分散だけであ
り、静磁場の不均一により生じたの位相分散は累積する
一方であるため、エコーが時間とともに次第に減衰して
行くことである。
【0005】勿論、対象物体自身の横緩和時間T2に応
じた核スピンの横緩和による減衰は、どのような方法で
も回復不可能であるため、この減衰も加わる。例えば、
対象物体が生体である場合、部位にもよるが平均的T2
は100ms程度である。一方、静磁場の不均一による
減衰は次に示す手順で計算できる。
じた核スピンの横緩和による減衰は、どのような方法で
も回復不可能であるため、この減衰も加わる。例えば、
対象物体が生体である場合、部位にもよるが平均的T2
は100ms程度である。一方、静磁場の不均一による
減衰は次に示す手順で計算できる。
【0006】いま対象物体内で静磁場にΔHの不均一が
あり、検査すべき絵素数がN2の時、厚さ方向の不均一
を無視する1絵素あたりの不均一ΔhはΔH/Nで与え
られる。ところが、実際には断面像を得る場合は、厚さ
1cm程度のスライスに限定して信号を得る。このた
め、1絵素あたりの不均一は、このスライスの厚さ方向
での不均一が支配的となり、ΔH/Nより1桁高い値に
なると考えられる。
あり、検査すべき絵素数がN2の時、厚さ方向の不均一
を無視する1絵素あたりの不均一ΔhはΔH/Nで与え
られる。ところが、実際には断面像を得る場合は、厚さ
1cm程度のスライスに限定して信号を得る。このた
め、1絵素あたりの不均一は、このスライスの厚さ方向
での不均一が支配的となり、ΔH/Nより1桁高い値に
なると考えられる。
【0007】そこで、Δh=10・ΔH/Nと置くと、
Δhによる減衰の時定数T2*は、T2*=2/γΔHと
なる。ここでγは核磁気回転比である。従って、静磁場
強度H0が0.5T、不均一が10ppm、N=256
とすると、プロトンに対してはT2*=38msとな
り、生体のT2に対して無視できない値となることが分
かる。
Δhによる減衰の時定数T2*は、T2*=2/γΔHと
なる。ここでγは核磁気回転比である。従って、静磁場
強度H0が0.5T、不均一が10ppm、N=256
とすると、プロトンに対してはT2*=38msとな
り、生体のT2に対して無視できない値となることが分
かる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上記した様に、傾斜磁
場の反転により次々とエコーを形成するG.Johns
onらの提案した方法では、静磁場の不均一による減衰
のために一連のデータを取得できない事態が生じるおそ
れがある。一方、180°rfパルスを連続して照射し
て次々とエコーを形成する方法は、これらのrfパルス
が測定対象に悪影響を及ぼす(高周波磁場による加熱効
果等)、あるいは、180°rfパルスの照射時間を確
保するためにエコー間の時間を長くせざるを得ない等の
欠点を有する。
場の反転により次々とエコーを形成するG.Johns
onらの提案した方法では、静磁場の不均一による減衰
のために一連のデータを取得できない事態が生じるおそ
れがある。一方、180°rfパルスを連続して照射し
て次々とエコーを形成する方法は、これらのrfパルス
が測定対象に悪影響を及ぼす(高周波磁場による加熱効
果等)、あるいは、180°rfパルスの照射時間を確
保するためにエコー間の時間を長くせざるを得ない等の
欠点を有する。
【0009】そこで本発明の目的は、静磁場の不均一に
よる減衰を受けず、かつrfパルスの連続照射で生じる
欠点をも解消して、複数のエコーを次々と形成し得る核
磁気共鳴を用いた検査方法及び装置を提供することにあ
る。
よる減衰を受けず、かつrfパルスの連続照射で生じる
欠点をも解消して、複数のエコーを次々と形成し得る核
磁気共鳴を用いた検査方法及び装置を提供することにあ
る。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では所定の領域の核スピンを励起して、その
後複数のエコーを得るにあたり、180°rfパルスの
印加によるエコー形成と、傾斜磁場の反転によるエコー
形成とを組み合わせて用いる。
に、本発明では所定の領域の核スピンを励起して、その
後複数のエコーを得るにあたり、180°rfパルスの
印加によるエコー形成と、傾斜磁場の反転によるエコー
形成とを組み合わせて用いる。
【0011】
【作用】即ち本発明は、静磁場の不均一による信号の減
衰は、180°rfパルスにより回復させることが可能
であるという事実を利用し、傾斜磁場の反転により累積
した位相分散が無視しえなくなった時点において、18
0°rfパルスを照射することによってそれを回復させ
るものである。このような走査を繰り返せば、静磁場の
不均一による信号減衰を最小限におさえ、しかもrfパ
ルスの連続照射による対象への悪影響や、シーケンスの
長時間化を軽減して多数のエコーを計測することが可能
となる。
衰は、180°rfパルスにより回復させることが可能
であるという事実を利用し、傾斜磁場の反転により累積
した位相分散が無視しえなくなった時点において、18
0°rfパルスを照射することによってそれを回復させ
るものである。このような走査を繰り返せば、静磁場の
不均一による信号減衰を最小限におさえ、しかもrfパ
ルスの連続照射による対象への悪影響や、シーケンスの
長時間化を軽減して多数のエコーを計測することが可能
となる。
【0012】なお、測定対象自身のT2による減衰は依
然として回復しない。これを考慮するなら、T2による
減衰が無視し得なくなった時点において、測定を中断
し、新しい磁化の回復を待って測定を繰り返す。ただ
し、この場合にはフェーズエンコードする量は繰り返し
間で均等ではなく、中断後の最初のエンコードに対して
は、それまでに印加したフェーズエンコード磁場の総和
に匹敵するフェーズエンコード磁場に次のエンコード磁
場を加えた磁場を印加しなければならない。勿論、この
方法によれば測定時間が長くなるが、その犠牲において
画質を向上させることが可能になるわけである。
然として回復しない。これを考慮するなら、T2による
減衰が無視し得なくなった時点において、測定を中断
し、新しい磁化の回復を待って測定を繰り返す。ただ
し、この場合にはフェーズエンコードする量は繰り返し
間で均等ではなく、中断後の最初のエンコードに対して
は、それまでに印加したフェーズエンコード磁場の総和
に匹敵するフェーズエンコード磁場に次のエンコード磁
場を加えた磁場を印加しなければならない。勿論、この
方法によれば測定時間が長くなるが、その犠牲において
画質を向上させることが可能になるわけである。
【0013】
【実施例】以下、図面を参照しながら本発明を説明す
る。図1に本発明で用いる装置の構成を示す。制御装置
1は各装置へ種々の命令を一定のタイミングで出力す
る。高周波パルス発生器2の出力は電力増幅器3で増幅
され、コイル4を励振する。コイル4は同時に受信コイ
ルを兼用しており、信号成分は増幅器5を通り、検波器
6で検波後、信号処理装置7にで画像に変換される。高
周波パルス発生器2の他の出力は検波器6で直角位相検
波する時の基準信号として用いられる。z方向及びx、
y方向の傾斜磁場の発生は、それぞれコイル8、9、1
0で行ない、これらのコイルは増幅器11、12、13
で駆動される。測定対象物16はベッド17上に横たわ
っており、ベッド17は台18上を移動する。
る。図1に本発明で用いる装置の構成を示す。制御装置
1は各装置へ種々の命令を一定のタイミングで出力す
る。高周波パルス発生器2の出力は電力増幅器3で増幅
され、コイル4を励振する。コイル4は同時に受信コイ
ルを兼用しており、信号成分は増幅器5を通り、検波器
6で検波後、信号処理装置7にで画像に変換される。高
周波パルス発生器2の他の出力は検波器6で直角位相検
波する時の基準信号として用いられる。z方向及びx、
y方向の傾斜磁場の発生は、それぞれコイル8、9、1
0で行ない、これらのコイルは増幅器11、12、13
で駆動される。測定対象物16はベッド17上に横たわ
っており、ベッド17は台18上を移動する。
【0014】図2に本発明の実施例の前提となる計測シ
ーケンスを示す。まず、90°rfパルスと傾斜磁場G
zとによりスライスを選択した後、区間1でGx、Gy
を印加する。フェーズエンコードはGxにより行なう
が、Gxの過渡応答の悪影響を除去するために、この区
間においてダミー磁場を印加しておく。続いて照射する
180°rfパルスの後で印加するフェーズエンコード
は実質的には両者の差となるため、過渡応答によるエン
コード分は相殺される。従って、図3に示すように両者
の差は、同図斜線で示すように幅Δt、高さGxの矩形
波と見做すことができる。このような形状にエンコード
の増分を整えることは極めて有用である。それは、一連
のシーケンスを複数ブロックに分割し、最初のブロック
終了後、次のブロックを始める時、それまで印加したフ
ェーズエンコード磁場の総和の次のステップに相当する
フェーズエンコードを付与することが著しく容易になる
からである。ここに示したダミー磁場は、次に照射する
180°rfパルスの直前にも印加し、区間3における
磁場と同様にその増分が矩形波となるようにする。以後
のシーケンスは、図2に示すように、区間2(実際には
若干異なるが)を繰り返すことになる。
ーケンスを示す。まず、90°rfパルスと傾斜磁場G
zとによりスライスを選択した後、区間1でGx、Gy
を印加する。フェーズエンコードはGxにより行なう
が、Gxの過渡応答の悪影響を除去するために、この区
間においてダミー磁場を印加しておく。続いて照射する
180°rfパルスの後で印加するフェーズエンコード
は実質的には両者の差となるため、過渡応答によるエン
コード分は相殺される。従って、図3に示すように両者
の差は、同図斜線で示すように幅Δt、高さGxの矩形
波と見做すことができる。このような形状にエンコード
の増分を整えることは極めて有用である。それは、一連
のシーケンスを複数ブロックに分割し、最初のブロック
終了後、次のブロックを始める時、それまで印加したフ
ェーズエンコード磁場の総和の次のステップに相当する
フェーズエンコードを付与することが著しく容易になる
からである。ここに示したダミー磁場は、次に照射する
180°rfパルスの直前にも印加し、区間3における
磁場と同様にその増分が矩形波となるようにする。以後
のシーケンスは、図2に示すように、区間2(実際には
若干異なるが)を繰り返すことになる。
【0015】ただし、ここで重要な点は、ダミー磁場と
フェーズエンコード磁場との関係である。傾斜磁場が核
スピンに及ぼす効果は、180°rfパルスにより逆の
働きをする性質があるため、図2の区間2の最初の部分
においては、傾斜磁場の時間積分は(数1)となり、実
質的にΔS1の磁場が印加されたのに等しい。
フェーズエンコード磁場との関係である。傾斜磁場が核
スピンに及ぼす効果は、180°rfパルスにより逆の
働きをする性質があるため、図2の区間2の最初の部分
においては、傾斜磁場の時間積分は(数1)となり、実
質的にΔS1の磁場が印加されたのに等しい。
【0016】
【数1】 ΔS1=Sb−Sa …(数1) 従って、最初の信号は、ΔS1によるエンコードを受け
たことになる。次に区間3では、(数2)となり、ΔS
1の2倍の磁場が符号反転して印加されたことになる。
たことになる。次に区間3では、(数2)となり、ΔS
1の2倍の磁場が符号反転して印加されたことになる。
【0017】
【数2】 ΔS2=Sa−Sb−ΔS1=2(Sa−Sb)=−2ΔS1 …(数2) 以後は、3ΔS1、−4ΔS1、5ΔS1、……のように
繰り返す。このシーケンスでは、静磁場の不均一による
減衰が180°パルス毎に回復させられるが、測定対象
自身の横緩和T2による減衰は次第に蓄積するだけであ
る。そのため、T2による減衰が無視し得なくなった時
点において、新しいブロックへと移らなければならな
い。この時、前述したように、それまでに印加したフェ
ーズエンコード磁場の総和の次のステップに相当するフ
ェーズエンコードを付与することから新しいブロックを
始める。
繰り返す。このシーケンスでは、静磁場の不均一による
減衰が180°パルス毎に回復させられるが、測定対象
自身の横緩和T2による減衰は次第に蓄積するだけであ
る。そのため、T2による減衰が無視し得なくなった時
点において、新しいブロックへと移らなければならな
い。この時、前述したように、それまでに印加したフェ
ーズエンコード磁場の総和の次のステップに相当するフ
ェーズエンコードを付与することから新しいブロックを
始める。
【0018】図4は、その最初のステップに対するシー
ケンスを示す。それまでに印加した磁場の時間積分をn
ΔS(ただし、180°rfパルスによる符号反転を考
慮)とすると、(数3)で示される関係を満足するよう
に、t1〜t4を選択すればよい(左辺の積分∫Gxdt
の範囲はt=t1〜t2、積分∫Gxdt’の範囲はt’
=t3〜t4である)。以後のシーケンスは、図2の区間
2に示すものと同じである。
ケンスを示す。それまでに印加した磁場の時間積分をn
ΔS(ただし、180°rfパルスによる符号反転を考
慮)とすると、(数3)で示される関係を満足するよう
に、t1〜t4を選択すればよい(左辺の積分∫Gxdt
の範囲はt=t1〜t2、積分∫Gxdt’の範囲はt’
=t3〜t4である)。以後のシーケンスは、図2の区間
2に示すものと同じである。
【0019】
【数3】 ∫Gxdt−∫Gxdt’=(n+1)ΔS …(数3) 本発明の実施例を図5に示す。このシーケンスは、図2
にて説明したブロック毎に分割され、各ブロックで複数
のエコーを得るシーケンスを基本とし、その複数のエコ
ーを形成するのに、180°パルスと傾斜磁場の反転を
組み合わせたものである。即ち、180°パルスを図2
に示すように連続して照射することには、場合によって
は測定対象に悪影響を及ぼすのみならず、エコー間の時
間が長くなるという欠点がある。また、図2のシーケン
スでは、180°パルス毎にz方向に厚みを持つスライ
スの選択が繰り返されるが、そのスライス選択の特性が
理想的でない限り、実質的なスライス厚さが次第に減少
し、これによっても後のエコーほど信号が減衰する。
にて説明したブロック毎に分割され、各ブロックで複数
のエコーを得るシーケンスを基本とし、その複数のエコ
ーを形成するのに、180°パルスと傾斜磁場の反転を
組み合わせたものである。即ち、180°パルスを図2
に示すように連続して照射することには、場合によって
は測定対象に悪影響を及ぼすのみならず、エコー間の時
間が長くなるという欠点がある。また、図2のシーケン
スでは、180°パルス毎にz方向に厚みを持つスライ
スの選択が繰り返されるが、そのスライス選択の特性が
理想的でない限り、実質的なスライス厚さが次第に減少
し、これによっても後のエコーほど信号が減衰する。
【0020】それに対して、図5に示すように180°
パルスと傾斜磁場Gyの反転の組み合わせを用いれば、
同じ数のエコーを得るのに180°パルスの数が減少
し、上記の欠点を解消できる。しかも図中の2回目の1
80°パルス以後の第4、第5、第6エコー(図では省
略)では、その2回目の180°パルスの印加により次
第に静磁場の不均一による位相分散が回復してくるの
で、この位相分散による信号減衰分は回復する。従っ
て、解消できない対象自身の横緩和による信号減衰が無
視し得なくなるまで、この180°パルスと傾斜磁場の
反転の組み合わせによるパルス形成を繰り返す。
パルスと傾斜磁場Gyの反転の組み合わせを用いれば、
同じ数のエコーを得るのに180°パルスの数が減少
し、上記の欠点を解消できる。しかも図中の2回目の1
80°パルス以後の第4、第5、第6エコー(図では省
略)では、その2回目の180°パルスの印加により次
第に静磁場の不均一による位相分散が回復してくるの
で、この位相分散による信号減衰分は回復する。従っ
て、解消できない対象自身の横緩和による信号減衰が無
視し得なくなるまで、この180°パルスと傾斜磁場の
反転の組み合わせによるパルス形成を繰り返す。
【0021】なお、図5に示す例ではフェーズエンコー
ドするための磁場は、図6に示すように正負両極性を有
する磁場形状とする。これにより、図6の斜線部分の面
積は相殺し、その結果、フェーズエンコードに寄与する
磁場はΔtGxとなり、先に述べたと同様にフェーズエ
ンコードの増分を矩形波とするこができる。180°パ
ルスと磁場反転の組み合わせ方は、被測定体のT2と静
磁場の不均一の大小関係で決まり、一般に静磁場の不均
一が大きい程、180°パルスの数を増やさなければな
らない。なお、図2および図5で照射する180°rf
パルスは、交互に位相を180°ずらすことにより、1
80°rfパルスの振幅の誤差により生じる信号の減衰
を低減させることができる。
ドするための磁場は、図6に示すように正負両極性を有
する磁場形状とする。これにより、図6の斜線部分の面
積は相殺し、その結果、フェーズエンコードに寄与する
磁場はΔtGxとなり、先に述べたと同様にフェーズエ
ンコードの増分を矩形波とするこができる。180°パ
ルスと磁場反転の組み合わせ方は、被測定体のT2と静
磁場の不均一の大小関係で決まり、一般に静磁場の不均
一が大きい程、180°パルスの数を増やさなければな
らない。なお、図2および図5で照射する180°rf
パルスは、交互に位相を180°ずらすことにより、1
80°rfパルスの振幅の誤差により生じる信号の減衰
を低減させることができる。
【0022】本発明の別の実施例を図7と図8に示す。
この実施例は、前述したブロック間の待ち時間を短縮す
る方法である。即ち、ブロックの終了した時点teに続
く区間において、それまでに付与された実効的なフェー
ズエンコード磁場と、信号のピーク以後に付与された傾
斜磁場の各々を相殺することにより、最後の測定で生じ
た核スピン間の位相分散を修復し、それを90°rfパ
ルスにより静磁場と同じ方向に強制的に向けてやるので
ある。この操作により、本来ならばあるブロックの測定
が完了してから測定対象の平均的T1程度の時間待たな
ければならないところを、90°rfパルスにより元に
戻した残留磁化の分だけ回復が早まり、ブロック間の待
ち時間を短縮することができる。
この実施例は、前述したブロック間の待ち時間を短縮す
る方法である。即ち、ブロックの終了した時点teに続
く区間において、それまでに付与された実効的なフェー
ズエンコード磁場と、信号のピーク以後に付与された傾
斜磁場の各々を相殺することにより、最後の測定で生じ
た核スピン間の位相分散を修復し、それを90°rfパ
ルスにより静磁場と同じ方向に強制的に向けてやるので
ある。この操作により、本来ならばあるブロックの測定
が完了してから測定対象の平均的T1程度の時間待たな
ければならないところを、90°rfパルスにより元に
戻した残留磁化の分だけ回復が早まり、ブロック間の待
ち時間を短縮することができる。
【0023】
【発明の効果】本発明によれば、180°高周波磁場パ
ルスの照射と傾斜磁場の反転とを組み合わせて次々とエ
コー信号を発生させることにより、静磁場不均一に基づ
く画質劣化を防止し、しかも高周波磁場の連続照射の悪
影響も軽減し、かつ測定時間を短縮することが可能にな
る。
ルスの照射と傾斜磁場の反転とを組み合わせて次々とエ
コー信号を発生させることにより、静磁場不均一に基づ
く画質劣化を防止し、しかも高周波磁場の連続照射の悪
影響も軽減し、かつ測定時間を短縮することが可能にな
る。
【図1】本発明を実施する核磁気共鳴検査装置の概略構
成図。
成図。
【図2】本発明の実施例の前提となる方法のパルス系列
を示す図。
を示す図。
【図3】図2の一部を詳細に示す図。
【図4】図2で示したブロックの次のブロックのパルス
系列を示す図。
系列を示す図。
【図5】本発明の実施例の方法のパルス系列を示す図。
【図6】図5の一部を詳細に示す図。
【図7】本発明の別の実施例の方法のパルス系列を示す
図。
図。
【図8】本発明のさらに別の実施例の方法のパルス系列
を示す図。
を示す図。
1…制御装置、2…高周波パルス発生器、4…励振、受
信用コイル、6…検波器、7…信号処理装置、8、9、
10…傾斜磁場発生用コイル、14…静磁場発生用コイ
ル、16…測定対象物体、rf…高周波磁場パルス波
形、Gz…スライス選択用傾斜磁場波形、Gx…フェー
ズエンコード用傾斜磁場波形、Gy…読み出し、及びエ
コー形成用傾斜磁場波形。
信用コイル、6…検波器、7…信号処理装置、8、9、
10…傾斜磁場発生用コイル、14…静磁場発生用コイ
ル、16…測定対象物体、rf…高周波磁場パルス波
形、Gz…スライス選択用傾斜磁場波形、Gx…フェー
ズエンコード用傾斜磁場波形、Gy…読み出し、及びエ
コー形成用傾斜磁場波形。
Claims (38)
- 【請求項1】所定の空間に静磁場を発生する手段と、前
記静磁場に傾斜をかける傾斜磁場を印加する手段と、前
記空間に置かれた検査対象に高周波磁場を印加する手段
と、前記検査対象からの核磁気共鳴信号を検出する信号
検出手段と、前記核磁気共鳴信号から前記検査対象の核
スピン情報を位置の関数として算出する手段とを有する
核磁気共鳴装置を用いた検査装置において、少なくとも
前記傾斜磁場を印加する手段と前記高周波磁場を印加す
る手段とを制御する制御手段を有し、該制御手段は、
(1)前記検査対象の所定の領域の核スピンを励起する
こと、(2)180°高周波磁場パルスを周期的に複数
回印加することにより前記の励起された核スピンにエコ
ーを複数回順次発生させること、(3)前記の順次発生
するエコーの間に少なくとも第1の方向の傾斜磁場をパ
ルス状に印加し、各々のスピンエコーに対してそれまで
の前記第1の方向の傾斜磁場の総和に相当する位相エン
コード量をそれぞれ付与すること、(4)第2の方向の
傾斜磁場を印加した状態で各々のエコーを測定するこ
と、及び(5)前記(1)から(4)の制御を含み、か
つそのうちの前記(1)の制御による励起と次のステッ
プの第1回目のエコーの発生との間に、測定開始からの
位相エンコード量の総和に更に前記次のステップの位相
エンコード量を加えた量に匹敵する前記第1の方向の傾
斜磁場を印加するシーケンスを複数回、相互に待ち時間
をはさんで繰り返すこと、の制御を行なうことを特徴と
する核磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項2】請求項1に記載の装置において、前記
(2)の制御は、前記の周期的に印加させる180°高
周波磁場パルスの印加の間で、前記第2の方向の傾斜磁
場の向きを反転させて、前記(4)の制御を行ないエコ
ーを複数回順次発生させることを特徴とする核磁気共鳴
を用いた検査装置。 - 【請求項3】請求項1に記載の装置において、前記
(2)の制御における前記の複数回の180°高周波磁
場パルスは、交互に位相が反転する高周波磁場パルスで
あることを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項4】請求項1に記載の装置において、前記
(3)の制御における前記第2方向の傾斜磁場のそれぞ
れは、前記(2)の制御における前記180°高周波磁
場パルスの前後に振り分けられたパルスからなることを
特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項5】請求項1に記載の装置において、前記
(5)の制御は、前記検査対象のT2による核スピンの
減衰が著しくなった時点で中断されて複数回繰り返され
ることを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項6】所定の空間に静磁場を発生する手段と、前
記静磁場に傾斜をかける傾斜磁場を印加する手段と、前
記空間に置かれた検査対象に高周波磁場を印加する手段
と、前記検査対象からの核磁気共鳴信号を検出する信号
検出手段と、前記核磁気共鳴信号から前記検査対象の核
スピン情報を位置の関数として算出する手段とを有する
核磁気共鳴装置を用いた検査装置において、少なくとも
前記傾斜磁場を印加する手段と前記高周波磁場を印加す
る手段とを制御する制御手段を有し、該制御手段は、前
記検査対象の核スピンにエコーを複数回発生させるとと
もに、順次異なる位相エンコード量を付与してその複数
回のエコーを順次測定するシーケンスを複数のブロック
に分割して実施し、各ブロックの開始毎に前記核スピン
の励起を行うことの制御を実行することを特徴とする核
磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項7】検査対象を一様な静磁場の中に置き、前記
検査対象に高周波磁場と、スライス用、位相エンコード
用、及び読み出し用の各傾斜磁場を所定のシーケンスに
従ってパルス的に印加することにより核磁気共鳴を生じ
させ、この核磁気共鳴に基づくエコー信号を収集して映
像化する核磁気共鳴を用いた検査装置において、前記高
周波磁場と前記スライス用傾斜磁場の印加により検査対
象の所望のスライス領域を励起した状態で、前記高周波
磁場として前記静磁場の不均一によるエコー信号位相誤
差を補償するための180°高周波磁場パルスを印加す
る第1の操作と、前記読み出し用傾斜磁場を反復して反
転させて印加する第2の操作とを交互に繰返し行なうと
共に、前記位相エンコード用傾斜磁場を前記180°高
周波磁場パルスの印加毎に反転させる手段を備えたこと
を特徴とする磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項8】検査対象を一様な静磁場の中に置き、前記
検査対象に高周波磁場と、スライス用、位相エンコード
用、及び読み出し用の各傾斜磁場を所定のシーケンスに
従ってパルス的に印加することにより核磁気共鳴を生じ
させ、この核磁気共鳴に基づくエコー信号を収集して映
像化する核磁気共鳴を用いた検査装置において、前記高
周波磁場と前記スライス用傾斜磁場の印加により検査対
象の所望のスライス領域を励起した状態で、前記高周波
磁場として前記静磁場の不均一によるエコー信号位相誤
差を補償するための180°高周波磁場パルスを印加す
る第1の操作と、前記読み出し用傾斜磁場を反復して反
転させて印加する第2の操作とを交互に繰返し行なう手
段を備えたことを特徴とする磁気共鳴を用いた検査装
置。 - 【請求項9】検査対象を一様な静磁場の中に置き、前記
検査対象に高周波磁場と、スライス用、位相エンコード
用、及び読み出し用の各傾斜磁場を所定のシーケンスに
従ってパルス的に印加することにより核磁気共鳴を生じ
させ、この核磁気共鳴に基づくエコー信号を収集して映
像化する核磁気共鳴を用いた検査装置において、前記高
周波磁場と前記スライス用傾斜磁場の印加により検査対
象の所望のスライス領域を励起した状態で、前記高周波
磁場として180°高周波磁場パルスを印加する第1の
操作と、前記読み出し用傾斜磁場を反復して反転させて
印加する第2の操作とを交互に繰返し行なうと共に、前
記位相エンコード用傾斜磁場を前記180°高周波磁場
パルスの印加毎に反転させる手段を備えたことを特徴と
する磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項10】検査対象を一様な静磁場の中に置き、前
記検査対象に高周波磁場と、スライス用、位相エンコー
ド用、及び読み出し用の各傾斜磁場を所定のシーケンス
に従ってパルス的に印加することにより核磁気共鳴を生
じさせ、この核磁気共鳴に基づくエコー信号を収集して
映像化する核磁気共鳴を用いた検査装置において、前記
高周波磁場と前記スライス用傾斜磁場の印加により検査
対象の所望のスライス領域を励起した状態で、前記高周
波磁場として180°高周波磁場パルスを印加する第1
の操作と、前記読み出し用傾斜磁場を反復して反転させ
て印加する第2の操作とを交互に繰返し行なう手段を備
えたことを特徴とする磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項11】所定の空間に発生した静磁場に傾斜をか
ける傾斜磁場を印加し、前記空間に置かれた検査対象に
高周波磁場を印加して、前記検査対象からの核磁気共鳴
信号を検出して、前記核磁気共鳴信号から前記検査対象
の核スピン情報を位置の関数として算出する核磁気共鳴
を用いた検査方法において、(1)所定のスライス方向
に傾斜磁場と90°高周波磁場パルスとを印加して前記
検査対象の所定スライス内の核スピンを励起するステッ
プと、(2)前記検査対象に、複数の180°高周波磁
場パルスを所定の間隔で繰返し印加して前記核スピンに
エコー信号を順次生じさせるステップと、(3)前記所
定の間隔で印加される前記180°高周波磁場パルスの
間で、各々異なる位相エンコード量をもつ位相エンコー
ド用傾斜磁場を前記検査対象に印加して、複数のエコー
信号を計測するステップと、を有することを特徴とする
核磁気共鳴を用いた検査方法。 - 【請求項12】請求項11に記載の方法において、前記
ステップ(2)で印加される前記180°高周波磁場パ
ルスの位相が交互に反転することを特徴とする核磁気共
鳴を用いた検査方法。 - 【請求項13】所定の空間に発生した静磁場に傾斜をか
ける傾斜磁場を印加し、前記空間に置かれた検査対象に
高周波磁場を印加して、前記検査対象からの核磁気共鳴
信号を検出して、前記核磁気共鳴信号から前記検査対象
の核スピン情報を位置の関数として算出する核磁気共鳴
を用いた検査方法において、(1)所定のスライス方向
に傾斜磁場と90°高周波磁場パルスとを印加して前記
検査対象の所定スライス内の核スピンを励起するステッ
プと、(2)前記検査対象に、複数の180°高周波磁
場パルスを所定の間隔で繰返し印加して前記核スピンに
エコー信号を順次生じさせるステップと、(3)前記所
定の間隔で印加される前記180°高周波磁場パルスの
間で順次生じる各々のエコー信号の発生順に、該各々の
エコー信号に印加される位相エンコード量が異なり、交
互に極性が変化する位相エンコード量をもつ位相エンコ
ード用傾斜磁場を、前記検査対象に印加して、前記の各
々のエコー信号を計測するステップとを有することを特
徴とする核磁気共鳴を用いた検査方法。 - 【請求項14】請求項13に記載の方法において、前記
ステップ(2)で印加される前記180°高周波磁場パ
ルスの位相が交互に反転することを特徴とする核磁気共
鳴を用いた検査方法。 - 【請求項15】所定の空間に静磁場を発生する手段と、
前記静磁場に傾斜をかける傾斜磁場を印加する手段と、
前記空間に置かれた検査対象に高周波磁場を印加する手
段と、前記検査対象からの核磁気共鳴信号を検出する手
段と、前記核磁気共鳴信号から前記検査対象の核スピン
情報を位置の関数として算出する手段とを有する核磁気
共鳴を用いた検査装置において、前記検査対象の所定ス
ライス内の核スピンを励起する手段と、所定の間隔で前
記検査対象に繰返し印加する複数の180°高周波磁場
パルスを発生して前記検査対象の所定スライス内の核ス
ピンを励起する手段と、前記所定の間隔で印加される前
記180°高周波磁場パルスの間で、前記検査対象に印
加する各々異なる位相エンコード量をもつ位相エンコー
ド用傾斜磁場を発生する手段と、を有し複数のエコー信
号を計測することを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査
装置。 - 【請求項16】請求項15に記載の装置において、前記
180°高周波磁場パルスの位相が交互に反転すること
を特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項17】所定の空間に静磁場を発生する手段と、
前記静磁場に傾斜をかける傾斜磁場を印加する手段と、
前記空間に置かれた検査対象に高周波磁場を印加する手
段と、前記検査対象からの核磁気共鳴信号を検出する手
段と、前記核磁気共鳴信号から前記検査対象の核スピン
情報を位置の関数として算出する手段とを有する核磁気
共鳴を用いた検査装置において、前記検査対象の所定ス
ライス内の核スピンを励起する手段と、所定の間隔で前
記検査対象に繰返し印加する複数の180°高周波磁場
パルスを発生し前記核スピンにエコー信号を順次生じさ
せるする手段と、前記所定の間隔で印加される180°
高周波磁場パルスの間で順次生じる各々のエコー信号の
発生順に前記検査対象に印加され、前記各々のエコー信
号に位相エンコード量が異なり、交互に極性が変化する
位相エンコード量をもつ位相エンコード用傾斜磁場を発
生する手段と、を有することを特徴とする核磁気共鳴を
用いた検査装置。 - 【請求項18】請求項17に記載の装置において、前記
180°高周波磁場パルスの位相が交互に反転すること
を特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項19】所定の空間に発生した静磁場に傾斜をか
ける傾斜磁場を印加し、前記空間に置かれた検査対象に
高周波磁場を印加して、前記検査対象からの核磁気共鳴
信号を検出して、前記核磁気共鳴信号から前記検査対象
の核スピン情報を位置の関数として算出する核磁気共鳴
を用いた検査方法において、(1)所定のスライス方向
に傾斜磁場と90°高周波磁場パルスとを印加して前記
検査対象の所定スライス内の核スピンを励起するステッ
プと、(2)前記検査対象に180°高周波磁場パルス
を繰返し印加して、前記核スピンにエコー信号を順次生
じさせる際に、読み出し用傾斜磁場の極性を反転して複
数のエコー信号を発生させるステップと、を有すること
を特徴とする核磁気共鳴を用いた検査方法。 - 【請求項20】請求項19に記載の方法において、前記
ステップ(2)では、前記複数のエコー信号のそれぞれ
に異なった位相エンコード量が付与されることを特徴と
する核磁気共鳴を用いた検査方法。 - 【請求項21】請求項19に記載の方法において、前記
ステップ(2)では、前記180°高周波磁場パルスの
印加毎に極性の反転する位相エンコード量が前記エコー
信号に付与されることを特徴とする核磁気共鳴を用いた
検査方法。 - 【請求項22】請求項19に記載の方法において、前記
ステップ(2)では、前記180°高周波磁場パルスを
所定の間隔で繰返し印加して、前記所定の間隔で印加さ
れる180°高周波磁場パルスの間で、前記検査対象に
前記読み出し用傾斜磁場を印加することを特徴とする核
磁気共鳴を用いた検査方法。 - 【請求項23】所定の空間に静磁場を発生する手段と、
前記静磁場に傾斜をかける傾斜磁場を印加する手段と、
前記空間に置かれた検査対象に高周波磁場を印加する手
段と、前記検査対象からの核磁気共鳴信号を検出する手
段と、前記核磁気共鳴信号から前記検査対象の核スピン
情報を位置の関数として算出する手段とを有する核磁気
共鳴を用いた検査装置において、前記検査対象の所定ス
ライス内の核スピンを励起する手段と、所定の間隔で前
記検査対象に繰返し印加する複数の180°高周波磁場
パルスを発生する手段と、前記所定の間隔で印加される
180°高周波磁場パルスの間で印加され、複数のエコ
ー信号を発生させるための極性が反転する読み出し用傾
斜磁場を発生する手段と、を有することを特徴とする核
磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項24】請求項23に記載の装置において、前記
複数のエコー信号の各々に異なった位相エンコード量を
付与する位相エンコード用傾斜磁場を発生する手段を有
することを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項25】請求項23に記載の装置において、各々
の前記180°高周波磁場パルスの印加に先立って印加
される位相エンコード用傾斜磁場を発生する手段を有す
ることを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項26】請求項23に記載の装置において、前記
エコー信号に極性の反転する位相エンコード量を付与す
る位相エンコード用傾斜磁場を発生する手段を有するこ
とを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項27】請求項23に記載の装置において、前記
核スピンを励起する手段が、所定のスライス方向に傾斜
磁場を発生するスライス選択用の傾斜磁場発生手段と、
90°高周波磁場パルス発生手段とからなることを特徴
とする核磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項28】所定の空間に静磁場を発生する手段と、
前記静磁場に傾斜をかける傾斜磁場を印加する手段と、
前記空間に置かれた検査対象に高周波磁場を印加する手
段と、前記検査対象からの核磁気共鳴信号を検出する手
段と、前記核磁気共鳴信号から前記検査対象の核スピン
情報を位置の関数として算出する手段とを有し、90°
高周波磁場パルスの印加に続き、180°高周波磁場パ
ルスの印加を繰り返す励起パルスシーケンスを有する核
磁気共鳴を用いた検査装置において、前記180°高周
波磁場パルスのなす間隔において、極性が交互に反転す
る読み出し用傾斜磁場を発生する手段を有し、複数のエ
コー信号を計測することを特徴とする核磁気共鳴を用い
た検査装置。 - 【請求項29】請求項28に記載の装置において、前記
180°高周波磁場パルスのなす前記間隔の各々におい
て前記複数のエコー信号を計測することを特徴とする核
磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項30】請求項28に記載の装置において、前記
複数のエコー信号の各々に異なる位相エンコード量が付
与されることを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装
置。 - 【請求項31】請求項28に記載の装置において、前記
複数のエコー信号が発生する間隔は、前記180°高周
波磁場パルスのなす前記間隔より小であることを特徴と
する核磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項32】請求項28に記載の装置において、前記
180°高周波磁場パルスのなす前記間隔の間で、前記
複数のエコー信号が発生することを特徴とする核磁気共
鳴を用いた検査装置。 - 【請求項33】請求項28に記載の装置において、前記
180°高周波磁場パルスのなす前記間隔では、前記エ
コー信号に位相エンコード量を付与する位相エンコード
用傾斜磁場は同一極性を有することを特徴とする核磁気
共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項34】請求項28に記載の装置において、前記
180°高周波磁場パルスのなす隣接する前記間隔で
は、前記エコー信号に位相エンコード量を付与する位相
エンコード用傾斜磁場の極性が反転することを特徴とす
る核磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項35】請求項28に記載の装置において、前記
180°高周波磁場パルスのなす前記間隔は、各々等し
い時間間隔を有することを特徴とする核磁気共鳴を用い
た検査装置。 - 【請求項36】請求項28に記載の装置において、前記
静磁場の不均一に応じて印加する前記180°高周波磁
場パルスの数を変化させることを特徴とする核磁気共鳴
を用いた検査装置。 - 【請求項37】請求項28に記載の装置において、前記
検査対象のT2による核スピン信号の減衰が著しくなっ
た時点で、再び前記90°高周波磁場パルスを印加し
て、前記エコー信号に位相エンコード量を付与する位相
エンコード用傾斜磁場を変化させることを特徴とする核
磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項38】請求項28に記載の装置において、前記
180°高周波磁場パルスのなす前記間隔において、最
後の前記エコー信号が計測された後に、更に位相エンコ
ード量を付与する位相エンコード用傾斜磁場を印加する
ことを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7310317A JP2760330B2 (ja) | 1995-11-29 | 1995-11-29 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7310317A JP2760330B2 (ja) | 1995-11-29 | 1995-11-29 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3223977A Division JP2590641B2 (ja) | 1991-09-04 | 1991-09-04 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Related Child Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8323795A Division JP2872642B2 (ja) | 1996-12-04 | 1996-12-04 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
| JP9123751A Division JP2908380B2 (ja) | 1997-05-14 | 1997-05-14 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08206098A true JPH08206098A (ja) | 1996-08-13 |
| JP2760330B2 JP2760330B2 (ja) | 1998-05-28 |
Family
ID=18003780
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7310317A Expired - Lifetime JP2760330B2 (ja) | 1995-11-29 | 1995-11-29 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2760330B2 (ja) |
Citations (6)
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| JPS58116344A (ja) * | 1981-12-28 | 1983-07-11 | 株式会社東芝 | 診断用核磁気共鳴装置 |
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- 1995-11-29 JP JP7310317A patent/JP2760330B2/ja not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2760330B2 (ja) | 1998-05-28 |
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