JPH08208262A - 光ファイバ線引き方法およびその装置 - Google Patents
光ファイバ線引き方法およびその装置Info
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- JPH08208262A JPH08208262A JP1610995A JP1610995A JPH08208262A JP H08208262 A JPH08208262 A JP H08208262A JP 1610995 A JP1610995 A JP 1610995A JP 1610995 A JP1610995 A JP 1610995A JP H08208262 A JPH08208262 A JP H08208262A
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- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B37/00—Manufacture or treatment of flakes, fibres, or filaments from softened glass, minerals, or slags
- C03B37/01—Manufacture of glass fibres or filaments
- C03B37/02—Manufacture of glass fibres or filaments by drawing or extruding, e.g. direct drawing of molten glass from nozzles; Cooling fins therefor
- C03B37/025—Manufacture of glass fibres or filaments by drawing or extruding, e.g. direct drawing of molten glass from nozzles; Cooling fins therefor from reheated softened tubes, rods, fibres or filaments, e.g. drawing fibres from preforms
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- C03B37/0253—Controlling or regulating
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- C03B2205/40—Monitoring or regulating the draw tension or draw rate
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- C03B2205/00—Fibre drawing or extruding details
- C03B2205/60—Optical fibre draw furnaces
- C03B2205/62—Heating means for drawing
- C03B2205/63—Ohmic resistance heaters, e.g. carbon or graphite resistance heaters
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
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- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B2205/00—Fibre drawing or extruding details
- C03B2205/60—Optical fibre draw furnaces
- C03B2205/72—Controlling or measuring the draw furnace temperature
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- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Manufacture, Treatment Of Glass Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 非円率の小さな光ファイバを線引きし得る光
ファイバ線引き方法およびこの光ファイバ線引き方法を
実現し得る光ファイバ線引き装置を提供する。 【構成】 光ファイバ用母材１１の下端部を加熱溶融し
て当該光ファイバ用母材１１の下端から光ファイバ１９
を線引きする手段１３と、線引きされた光ファイバ１９
の非円率を算出する手段３２と、算出された光ファイバ
１９の非円率が小さくなるように光ファイバ用母材１１
の周囲の温度分布を調整する手段とを具える。
ファイバ線引き方法およびこの光ファイバ線引き方法を
実現し得る光ファイバ線引き装置を提供する。 【構成】 光ファイバ用母材１１の下端部を加熱溶融し
て当該光ファイバ用母材１１の下端から光ファイバ１９
を線引きする手段１３と、線引きされた光ファイバ１９
の非円率を算出する手段３２と、算出された光ファイバ
１９の非円率が小さくなるように光ファイバ用母材１１
の周囲の温度分布を調整する手段とを具える。
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、非円率の小さな光ファ
イバを線引きし得る光ファイバ線引き方法およびこの光
ファイバ線引き方法を実現し得る光ファイバ線引き装置
に関する。
イバを線引きし得る光ファイバ線引き方法およびこの光
ファイバ線引き方法を実現し得る光ファイバ線引き装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ファイバは、光ファイバ用母材を光フ
ァイバ線引き装置の線引き炉内にて加熱溶融し、この光
ファイバ用母材の下端を線引きすることによって得られ
る。より具体的には、例えば特開昭６３−８２３３号公
報などに開示されているように、光ファイバ用母材の下
端から引き出された光ファイバは、直ちに樹脂塗布器に
よって外周面に紫外線硬化樹脂などの樹脂保護膜が塗布
され、さらに樹脂硬化装置を通過させてこの樹脂保護膜
を硬化させた後、光ファイバ素線として巻取り機に巻き
取られるようになっている。そして、線引き炉と樹脂塗
布器との間に設けられた外径測定機によって光ファイバ
の外径寸法が計測され、この外径寸法が一定となるよう
に、光ファイバ用母材から引き出される光ファイバの線
引き速度を調整するようにしている。
ァイバ線引き装置の線引き炉内にて加熱溶融し、この光
ファイバ用母材の下端を線引きすることによって得られ
る。より具体的には、例えば特開昭６３−８２３３号公
報などに開示されているように、光ファイバ用母材の下
端から引き出された光ファイバは、直ちに樹脂塗布器に
よって外周面に紫外線硬化樹脂などの樹脂保護膜が塗布
され、さらに樹脂硬化装置を通過させてこの樹脂保護膜
を硬化させた後、光ファイバ素線として巻取り機に巻き
取られるようになっている。そして、線引き炉と樹脂塗
布器との間に設けられた外径測定機によって光ファイバ
の外径寸法が計測され、この外径寸法が一定となるよう
に、光ファイバ用母材から引き出される光ファイバの線
引き速度を調整するようにしている。
【０００３】ところで、光ファイバが真円から外れてい
ると、光コネクタを位置決めするためのフェルールに形
成される光ファイバ装着用の穴径を大きくしなければな
らず、この穴の軸線と光ファイバの軸線との心ずれが大
きくなり、ひいては接続損失が大きくなる虞がある。同
様に、位置決めブロックに形成したＶ溝を利用して一対
の光ファイバを突き当て、これらを相互に接続する場合
でも、Ｖ溝に接触する部分の光ファイバの半径寸法がば
らつくため、光ファイバが真円から外れることは、接続
時の軸ずれや接続損失の原因となる。
ると、光コネクタを位置決めするためのフェルールに形
成される光ファイバ装着用の穴径を大きくしなければな
らず、この穴の軸線と光ファイバの軸線との心ずれが大
きくなり、ひいては接続損失が大きくなる虞がある。同
様に、位置決めブロックに形成したＶ溝を利用して一対
の光ファイバを突き当て、これらを相互に接続する場合
でも、Ｖ溝に接触する部分の光ファイバの半径寸法がば
らつくため、光ファイバが真円から外れることは、接続
時の軸ずれや接続損失の原因となる。
【０００４】光ファイバの断面形状が真円からどの程度
外れているかを表すパラメータとして非円率が知られて
いる。これは、光ファイバの円周方向に沿ってその外径
寸法を複数箇所測定し、これによって得られた最長の外
径を長径, 最短の外径を短径, 全測定値の平均値を平均
径とした場合、（長径−短径）／平均径で定義されるも
のである。
外れているかを表すパラメータとして非円率が知られて
いる。これは、光ファイバの円周方向に沿ってその外径
寸法を複数箇所測定し、これによって得られた最長の外
径を長径, 最短の外径を短径, 全測定値の平均値を平均
径とした場合、（長径−短径）／平均径で定義されるも
のである。
【０００５】従来、この非円率を０にできるだけ近づけ
るため、光ファイバ用母材の下端を線引き炉の中心に合
致させ、光ファイバ用母材をその円周方向に沿って均一
に加熱するようにしている。また、特開平１−９６０４
２号公報に開示されているように、炉心管を回転させる
ことによって温度むらを解消し、非円率を小さくするこ
とが提案されている。
るため、光ファイバ用母材の下端を線引き炉の中心に合
致させ、光ファイバ用母材をその円周方向に沿って均一
に加熱するようにしている。また、特開平１−９６０４
２号公報に開示されているように、炉心管を回転させる
ことによって温度むらを解消し、非円率を小さくするこ
とが提案されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】近年、光ファイバの低
コスト化に伴い、光ファイバ用母材が大径化すると共に
その線引き速度が早くなってきている。また、線引き炉
そのものは、例えば電極や冷却水流炉の存在によって、
円周方向に沿った若干の不均一を避けることができな
い。このような円周方向に沿った温度分布の不均一は、
光ファイバ用母材が小径の場合よりも大径な分だけ、こ
の光ファイバ用母材の内部に温度むらがもたらされる。
しかも、従来よりも高速で光ファイバを線引きした場合
には、光ファイバ用母材が溶融縮径して温度むらが緩和
されるネックダウン部分の通過時間が短くなってしま
い、上述した温度むらがさらに解消されにくいことか
ら、より一層、非円率が大きくなる傾向となる。
コスト化に伴い、光ファイバ用母材が大径化すると共に
その線引き速度が早くなってきている。また、線引き炉
そのものは、例えば電極や冷却水流炉の存在によって、
円周方向に沿った若干の不均一を避けることができな
い。このような円周方向に沿った温度分布の不均一は、
光ファイバ用母材が小径の場合よりも大径な分だけ、こ
の光ファイバ用母材の内部に温度むらがもたらされる。
しかも、従来よりも高速で光ファイバを線引きした場合
には、光ファイバ用母材が溶融縮径して温度むらが緩和
されるネックダウン部分の通過時間が短くなってしま
い、上述した温度むらがさらに解消されにくいことか
ら、より一層、非円率が大きくなる傾向となる。
【０００７】また、特開平１−９６０４２号公報に開示
された炉心管を回転させる方法の場合、円周方向に沿っ
た光ファイバ用母材の温度むらが緩和されるため、光フ
ァイバの非円率を小さくすることはできるものの、逆に
炉心管を回転することによって、炉内のガスの流れが乱
れて外径寸法の変動が大きくなってしまい、光コネクタ
を用いた接続や、接続端部を相互に溶融して接続する場
合における接続損失の増大をもたらす。
された炉心管を回転させる方法の場合、円周方向に沿っ
た光ファイバ用母材の温度むらが緩和されるため、光フ
ァイバの非円率を小さくすることはできるものの、逆に
炉心管を回転することによって、炉内のガスの流れが乱
れて外径寸法の変動が大きくなってしまい、光コネクタ
を用いた接続や、接続端部を相互に溶融して接続する場
合における接続損失の増大をもたらす。
【０００８】
【発明の目的】本発明の目的は、非円率の小さな光ファ
イバを線引きし得る光ファイバ線引き方法およびこの光
ファイバ線引き方法を実現し得る光ファイバ線引き装置
を提供することにある。
イバを線引きし得る光ファイバ線引き方法およびこの光
ファイバ線引き方法を実現し得る光ファイバ線引き装置
を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明による第一の形態
は、光ファイバ用母材の下端部を加熱溶融して当該光フ
ァイバ用母材の下端から光ファイバを線引きするステッ
プと、線引きされた前記光ファイバの非円率を算出する
ステップと、算出された前記光ファイバの非円率が小さ
くなるように前記光ファイバ用母材の周囲の温度分布を
調整するステップとを具えたことを特徴とする光ファイ
バ線引き方法にある。
は、光ファイバ用母材の下端部を加熱溶融して当該光フ
ァイバ用母材の下端から光ファイバを線引きするステッ
プと、線引きされた前記光ファイバの非円率を算出する
ステップと、算出された前記光ファイバの非円率が小さ
くなるように前記光ファイバ用母材の周囲の温度分布を
調整するステップとを具えたことを特徴とする光ファイ
バ線引き方法にある。
【００１０】ここで、前記光ファイバの非円率を算出す
るステップは、前記光ファイバの円周方向に沿った外径
寸法の平均値を算出するステップと、前記光ファイバの
円周方向に沿った外径寸法の最大値および最小値をそれ
ぞれ求めるステップとを有し、前記光ファイバの外径寸
法の平均値と最大値および最小値とに基づいて算出され
るものであることが好ましく、前記光ファイバの外径寸
法の平均値は、前記光ファイバの円周方向に沿った少な
くとも二つの測定箇所の平均値であることが有効であ
る。また、前記光ファイバの外径寸法の平均値が一定と
なるように前記光ファイバの線引き速度を調整するステ
ップをさらに具えても良く、前記光ファイバの外径寸法
の最大値および最小値は、前記光ファイバの円周方向に
少なくとも１８０度に亙って計測したものであっても良
い。さらに、前記光ファイバ用母材の周囲の温度分布を
調整するステップは、前記光ファイバ用母材の下端部を
加熱溶融させるヒータを囲む断熱材の移動によって行う
ことが可能である。また、前記光ファイバの円周方向に
沿った外径寸法の最大値および最小値の各位相を求める
ステップをさらに具え、前記光ファイバ用母材の周囲の
温度分布を調整するステップは、前記光ファイバの円周
方向に沿った外径寸法の最大値および最小値の各位相に
基づき、前記光ファイバ用母材の周囲の温度分布を調整
するようにしても良い。
るステップは、前記光ファイバの円周方向に沿った外径
寸法の平均値を算出するステップと、前記光ファイバの
円周方向に沿った外径寸法の最大値および最小値をそれ
ぞれ求めるステップとを有し、前記光ファイバの外径寸
法の平均値と最大値および最小値とに基づいて算出され
るものであることが好ましく、前記光ファイバの外径寸
法の平均値は、前記光ファイバの円周方向に沿った少な
くとも二つの測定箇所の平均値であることが有効であ
る。また、前記光ファイバの外径寸法の平均値が一定と
なるように前記光ファイバの線引き速度を調整するステ
ップをさらに具えても良く、前記光ファイバの外径寸法
の最大値および最小値は、前記光ファイバの円周方向に
少なくとも１８０度に亙って計測したものであっても良
い。さらに、前記光ファイバ用母材の周囲の温度分布を
調整するステップは、前記光ファイバ用母材の下端部を
加熱溶融させるヒータを囲む断熱材の移動によって行う
ことが可能である。また、前記光ファイバの円周方向に
沿った外径寸法の最大値および最小値の各位相を求める
ステップをさらに具え、前記光ファイバ用母材の周囲の
温度分布を調整するステップは、前記光ファイバの円周
方向に沿った外径寸法の最大値および最小値の各位相に
基づき、前記光ファイバ用母材の周囲の温度分布を調整
するようにしても良い。
【００１１】一方、本発明による第二の形態は、光ファ
イバ用母材の下端部を加熱溶融して当該光ファイバ用母
材の下端から光ファイバを線引きする手段と、線引きさ
れた前記光ファイバの非円率を算出する手段と、算出さ
れた前記光ファイバの非円率が小さくなるように前記光
ファイバ用母材の周囲の温度分布を調整する手段とを具
えたことを特徴とする光ファイバ線引き装置にある。
イバ用母材の下端部を加熱溶融して当該光ファイバ用母
材の下端から光ファイバを線引きする手段と、線引きさ
れた前記光ファイバの非円率を算出する手段と、算出さ
れた前記光ファイバの非円率が小さくなるように前記光
ファイバ用母材の周囲の温度分布を調整する手段とを具
えたことを特徴とする光ファイバ線引き装置にある。
【００１２】ここで、前記光ファイバの非円率を算出す
る手段は、前記光ファイバの円周方向に沿った外径寸法
の平均値を算出する手段と、前記光ファイバの円周方向
に沿った外径寸法の最大値および最小値をそれぞれ求め
る手段とを有し、前記光ファイバの外径寸法の平均値と
最大値および最小値とに基づいて算出されるものであっ
ても良く、前記光ファイバの外径寸法の平均値を算出す
る手段は、前記光ファイバの円周方向に沿った少なくと
も二つの外径測定器を有し、これら外径測定機からの出
力の平均値とすることができる。また、前記光ファイバ
の外径寸法の平均値が一定となるように前記光ファイバ
の線引き速度を調整する手段をさらに具えても良く、前
記光ファイバの外径寸法の最大値および最小値をそれぞ
れ求める手段は、前記光ファイバを中心としてその円周
方向に少なくとも１８０度に亙って旋回する回転テーブ
ルと、この回転テーブル上に設けられた一つの外径測定
器とを有するものであることが有効である。さらに、前
記光ファイバ用母材の周囲の温度分布を調整する手段
は、前記光ファイバ用母材の下端部を加熱溶融させるヒ
ータを囲む断熱材の一部を前記光ファイバ用母材の径方
向に移動させるものであることが好ましく、前記光ファ
イバ用母材の径方向に移動する断熱材は、前記光ファイ
バ用母材の加熱溶融部分と対向する位置に配置されてい
ることが有効である。また、前記光ファイバの円周方向
に沿った外径寸法の最大値および最小値の各位相を検出
する手段をさらに具え、前記光ファイバ用母材の周囲の
温度分布を調整する手段は、前記光ファイバの円周方向
に沿った外径寸法の最大値および最小値の各位相に基づ
き、前記光ファイバ用母材の周囲の温度分布を調整する
ようにしても良い。
る手段は、前記光ファイバの円周方向に沿った外径寸法
の平均値を算出する手段と、前記光ファイバの円周方向
に沿った外径寸法の最大値および最小値をそれぞれ求め
る手段とを有し、前記光ファイバの外径寸法の平均値と
最大値および最小値とに基づいて算出されるものであっ
ても良く、前記光ファイバの外径寸法の平均値を算出す
る手段は、前記光ファイバの円周方向に沿った少なくと
も二つの外径測定器を有し、これら外径測定機からの出
力の平均値とすることができる。また、前記光ファイバ
の外径寸法の平均値が一定となるように前記光ファイバ
の線引き速度を調整する手段をさらに具えても良く、前
記光ファイバの外径寸法の最大値および最小値をそれぞ
れ求める手段は、前記光ファイバを中心としてその円周
方向に少なくとも１８０度に亙って旋回する回転テーブ
ルと、この回転テーブル上に設けられた一つの外径測定
器とを有するものであることが有効である。さらに、前
記光ファイバ用母材の周囲の温度分布を調整する手段
は、前記光ファイバ用母材の下端部を加熱溶融させるヒ
ータを囲む断熱材の一部を前記光ファイバ用母材の径方
向に移動させるものであることが好ましく、前記光ファ
イバ用母材の径方向に移動する断熱材は、前記光ファイ
バ用母材の加熱溶融部分と対向する位置に配置されてい
ることが有効である。また、前記光ファイバの円周方向
に沿った外径寸法の最大値および最小値の各位相を検出
する手段をさらに具え、前記光ファイバ用母材の周囲の
温度分布を調整する手段は、前記光ファイバの円周方向
に沿った外径寸法の最大値および最小値の各位相に基づ
き、前記光ファイバ用母材の周囲の温度分布を調整する
ようにしても良い。
【００１３】
【作用】本発明によると、光ファイバ用母材の下端部を
加熱溶融して当該光ファイバ用母材の下端から光ファイ
バを線引きし、線引きされた光ファイバの非円率を算出
し、算出された光ファイバの非円率が小さくなるよう
に、光ファイバ用母材の周囲の温度分布を調整する。
加熱溶融して当該光ファイバ用母材の下端から光ファイ
バを線引きし、線引きされた光ファイバの非円率を算出
し、算出された光ファイバの非円率が小さくなるよう
に、光ファイバ用母材の周囲の温度分布を調整する。
【００１４】ここで、光ファイバの円周方向に沿った外
径寸法の平均値を算出する一方、光ファイバの円周方向
に沿った外径寸法の最大値および最小値をそれぞれ求
め、これら光ファイバの外径寸法の平均値と最大値およ
び最小値とに基づいて光ファイバの非円率を算出する。
また、光ファイバの円周方向に沿った少なくとも二つの
外径測定器からの出力の平均値を光ファイバの外径寸法
の平均値として採用し、光ファイバを中心としてその円
周方向に少なくとも１８０度に亙って旋回する回転テー
ブル上に設けられた一つの外径測定器によって、光ファ
イバの外径寸法の最大値および最小値を求める。さら
に、光ファイバ用母材の下端部を加熱溶融させるヒータ
を囲む断熱材の一部を光ファイバ用母材の径方向に移動
させることによって、光ファイバ用母材の周囲の温度分
布を調整する。光ファイバ用母材の径方向に移動する断
熱材は、光ファイバ用母材の加熱溶融部分と対向する位
置に配置され、光ファイバ用母材の加熱溶融部分の近傍
の雰囲気温度が調整される。
径寸法の平均値を算出する一方、光ファイバの円周方向
に沿った外径寸法の最大値および最小値をそれぞれ求
め、これら光ファイバの外径寸法の平均値と最大値およ
び最小値とに基づいて光ファイバの非円率を算出する。
また、光ファイバの円周方向に沿った少なくとも二つの
外径測定器からの出力の平均値を光ファイバの外径寸法
の平均値として採用し、光ファイバを中心としてその円
周方向に少なくとも１８０度に亙って旋回する回転テー
ブル上に設けられた一つの外径測定器によって、光ファ
イバの外径寸法の最大値および最小値を求める。さら
に、光ファイバ用母材の下端部を加熱溶融させるヒータ
を囲む断熱材の一部を光ファイバ用母材の径方向に移動
させることによって、光ファイバ用母材の周囲の温度分
布を調整する。光ファイバ用母材の径方向に移動する断
熱材は、光ファイバ用母材の加熱溶融部分と対向する位
置に配置され、光ファイバ用母材の加熱溶融部分の近傍
の雰囲気温度が調整される。
【００１５】一方、光ファイバの外径寸法の平均値が一
定となるように、光ファイバの線引き速度を同時に調整
する。また、光ファイバの円周方向に沿った外径寸法の
最大値および最小値の各位相を検出し、この光ファイバ
の円周方向に沿った外径寸法の最大値および最小値の各
位相に基づき、光ファイバ用母材の周囲の温度分布が調
整される。
定となるように、光ファイバの線引き速度を同時に調整
する。また、光ファイバの円周方向に沿った外径寸法の
最大値および最小値の各位相を検出し、この光ファイバ
の円周方向に沿った外径寸法の最大値および最小値の各
位相に基づき、光ファイバ用母材の周囲の温度分布が調
整される。
【００１６】
【実施例】本発明による光ファイバ線引き装置の一実施
例について、図１〜図４を参照しながら詳細に説明す
る。
例について、図１〜図４を参照しながら詳細に説明す
る。
【００１７】本実施例の概略構造を表す図１に示すよう
に、図示しない支持棒を介して光ファイバ用母材１１を
垂直下向きに把持する昇降自在のチャック装置１２の下
方には、この光ファイバ用母材１１の下端部を加熱溶融
させる線引き炉１３が設けられている。
に、図示しない支持棒を介して光ファイバ用母材１１を
垂直下向きに把持する昇降自在のチャック装置１２の下
方には、この光ファイバ用母材１１の下端部を加熱溶融
させる線引き炉１３が設けられている。
【００１８】この線引き炉１３の拡大断面構造を表す図
２およびその III−III 矢視断面構造を表す図３に示す
ように、固定断熱材１４を内張りした炉体１５を貫通す
るように設けられた炉心管１６内には、光ファイバ用母
材１１の下端部が送り込まれるようになっている。ま
た、炉体１５の上端部には、当該炉心管１６などを構成
する材料の酸化を防止するため、炉体１５の内周面に開
口する供給口１７を介して炉心管１６の内側に連通する
ヘリウムや窒素などの不活性ガス供給ダクト１８が形成
され、この不活性ガス供給ダクト１８には図示しない不
活性ガス供給源からの不活性ガスが供給されるようにな
っている。さらに、炉体１５の中央部と炉心管１６との
間には、光ファイバ用母材１１の下端部を加熱溶融して
光ファイバ１９を線引するための円筒状をなすヒータ２
０が設けられており、このヒータ２０には１８０度隔て
て一直線状に対向する一対の接続端子２１が径方向外側
に突設され、これら接続端子２１には炉体１５を貫通し
て図示しない電源に接続する一対の電極２２が連結され
ている。そして、ヒータ２０で発せられる熱ができるだ
け外部に逃げないように、前記固定断熱材１４は当該ヒ
ータ２０の上下および外周側を取り囲むように配置され
ている。
２およびその III−III 矢視断面構造を表す図３に示す
ように、固定断熱材１４を内張りした炉体１５を貫通す
るように設けられた炉心管１６内には、光ファイバ用母
材１１の下端部が送り込まれるようになっている。ま
た、炉体１５の上端部には、当該炉心管１６などを構成
する材料の酸化を防止するため、炉体１５の内周面に開
口する供給口１７を介して炉心管１６の内側に連通する
ヘリウムや窒素などの不活性ガス供給ダクト１８が形成
され、この不活性ガス供給ダクト１８には図示しない不
活性ガス供給源からの不活性ガスが供給されるようにな
っている。さらに、炉体１５の中央部と炉心管１６との
間には、光ファイバ用母材１１の下端部を加熱溶融して
光ファイバ１９を線引するための円筒状をなすヒータ２
０が設けられており、このヒータ２０には１８０度隔て
て一直線状に対向する一対の接続端子２１が径方向外側
に突設され、これら接続端子２１には炉体１５を貫通し
て図示しない電源に接続する一対の電極２２が連結され
ている。そして、ヒータ２０で発せられる熱ができるだ
け外部に逃げないように、前記固定断熱材１４は当該ヒ
ータ２０の上下および外周側を取り囲むように配置され
ている。
【００１９】前記電極２２の対向方向に対して直交する
方向（図３中、左右方向）に摺動自在に周囲の固定断熱
材１４に囲まれ、かつヒータ２０と対向する部分に位置
する可動断熱材２３は、炉体１５に取り付けられたラッ
クピニオンなどを用いた断熱材駆動機構２４を介し、正
逆転可能な断熱材駆動モータ２５によってヒータ２０と
の対向方向に往復動し得るようになっている。そして、
ヒータ２０から可動断熱材２３が遠ざかるように断熱材
駆動モータ２５を駆動することにより、ヒータ２０に対
する保温性が低下し、ヒータ２０および炉心管１３を挟
んで可動断熱材２３と対向する光ファイバ用母材１１の
ネックダウン部分２６の近傍の温度が低下する。逆に、
可動断熱材２３がヒータ２０に近づくように断熱材駆動
モータ２５を駆動することにより、ヒータ２０に対する
保温性が確保され、可動断熱材２３と対向する光ファイ
バ用母材１１のネックダウン部分２６の近傍の温度が上
昇するようになっている。
方向（図３中、左右方向）に摺動自在に周囲の固定断熱
材１４に囲まれ、かつヒータ２０と対向する部分に位置
する可動断熱材２３は、炉体１５に取り付けられたラッ
クピニオンなどを用いた断熱材駆動機構２４を介し、正
逆転可能な断熱材駆動モータ２５によってヒータ２０と
の対向方向に往復動し得るようになっている。そして、
ヒータ２０から可動断熱材２３が遠ざかるように断熱材
駆動モータ２５を駆動することにより、ヒータ２０に対
する保温性が低下し、ヒータ２０および炉心管１３を挟
んで可動断熱材２３と対向する光ファイバ用母材１１の
ネックダウン部分２６の近傍の温度が低下する。逆に、
可動断熱材２３がヒータ２０に近づくように断熱材駆動
モータ２５を駆動することにより、ヒータ２０に対する
保温性が確保され、可動断熱材２３と対向する光ファイ
バ用母材１１のネックダウン部分２６の近傍の温度が上
昇するようになっている。
【００２０】ところで、光ファイバ用母材１１のネック
ダウン部分２６の円周方向の温度分布を変化させること
により、非円率εを変更させることが可能である。例え
ば、円周方向に沿った温度分布が相対的に高い箇所で
は、これと対応する円周方向の光ファイバ用母材１１の
部分も高温となり、ネックダウン部分２６での粘度が円
周方向に沿った他の部分より低くなるため、縮径率が大
きくなって小径、すなわち楕円の短軸となる傾向を持
つ。
ダウン部分２６の円周方向の温度分布を変化させること
により、非円率εを変更させることが可能である。例え
ば、円周方向に沿った温度分布が相対的に高い箇所で
は、これと対応する円周方向の光ファイバ用母材１１の
部分も高温となり、ネックダウン部分２６での粘度が円
周方向に沿った他の部分より低くなるため、縮径率が大
きくなって小径、すなわち楕円の短軸となる傾向を持
つ。
【００２１】従って、光ファイバ１９の円周方向に沿っ
たある方向が楕円の長軸である場合、これと対応するネ
ックダウン部分２６の温度を上げてやれば、非円率εを
低下させることができる。つまり、可動断熱材２３を径
方向外側に引き戻して行くことにより、この可動断熱材
２３の近傍の放熱が増えてこの部分の温度が相対的に下
がり、この部分と対向する光ファイバ用母材１１のネッ
クダウン部分２６が楕円の短軸側であった場合、非円率
εを改善することができる。逆に、光ファイバ用母材１
１のネックダウン部分２６が楕円の長軸側となっている
場合、可動断熱材２３を径方向内側に押し込むことによ
り、非円率εを改善することができる。
たある方向が楕円の長軸である場合、これと対応するネ
ックダウン部分２６の温度を上げてやれば、非円率εを
低下させることができる。つまり、可動断熱材２３を径
方向外側に引き戻して行くことにより、この可動断熱材
２３の近傍の放熱が増えてこの部分の温度が相対的に下
がり、この部分と対向する光ファイバ用母材１１のネッ
クダウン部分２６が楕円の短軸側であった場合、非円率
εを改善することができる。逆に、光ファイバ用母材１
１のネックダウン部分２６が楕円の長軸側となっている
場合、可動断熱材２３を径方向内側に押し込むことによ
り、非円率εを改善することができる。
【００２２】なお、本実施例では、可動断熱材２３を一
つだけ設けたが、ヒータ２０を挟んで反対側、つまり１
８０度隔てて一対の可動断熱材２３を軸対称に配置し、
これらを同時に径方向に動かすようにしても良い。ま
た、上述した断熱材駆動モータ２５の作動は、後述する
形状制御装置３３からに指令に基づいて制御されるよう
になっている。
つだけ設けたが、ヒータ２０を挟んで反対側、つまり１
８０度隔てて一対の可動断熱材２３を軸対称に配置し、
これらを同時に径方向に動かすようにしても良い。ま
た、上述した断熱材駆動モータ２５の作動は、後述する
形状制御装置３３からに指令に基づいて制御されるよう
になっている。
【００２３】一方、前記光ファイバ１９が引き出される
この線引き炉１３の下方には、相異なる二方向から光フ
ァイバ１９の外径寸法を計測する一対の外径測定器２７
が設けられ、これら外径測定器２７からの検出信号は、
後述する外径制御装置４０に出力されるようになってい
る。さらに、この外径測定器２７と線引き炉１３との間
には、第二の外径測定器２８が配置されている。この第
二の外径測定器２８は、光ファイバ１９を回転中心とす
る環状の回転テーブル２９上に搭載され、この回転テー
ブル２９は歯車などを用いたテーブル駆動機構３０を介
し、テーブル駆動モータ３１によって１８０度の範囲を
所定の速度で正逆回転するようになっている。また、テ
ーブル駆動モータ３１には、第二の外径測定器２８から
の検出信号に対応した回転テーブル２９の回転位相を検
出するエンコーダ３２が付設されている。
この線引き炉１３の下方には、相異なる二方向から光フ
ァイバ１９の外径寸法を計測する一対の外径測定器２７
が設けられ、これら外径測定器２７からの検出信号は、
後述する外径制御装置４０に出力されるようになってい
る。さらに、この外径測定器２７と線引き炉１３との間
には、第二の外径測定器２８が配置されている。この第
二の外径測定器２８は、光ファイバ１９を回転中心とす
る環状の回転テーブル２９上に搭載され、この回転テー
ブル２９は歯車などを用いたテーブル駆動機構３０を介
し、テーブル駆動モータ３１によって１８０度の範囲を
所定の速度で正逆回転するようになっている。また、テ
ーブル駆動モータ３１には、第二の外径測定器２８から
の検出信号に対応した回転テーブル２９の回転位相を検
出するエンコーダ３２が付設されている。
【００２４】第二の外径測定器２８からの検出信号およ
びこの検出信号に対応したエンコーダ３２からの位相信
号は、形状制御装置３３にそれぞれ出力される。この形
状制御装置３３は、回転テーブル２９の回転方向が切り
換わる毎にその回転中における外径寸法の最大値ＤL と
最小値ＤS とをそれぞれ読み出し、これら外径寸法の最
大値ＤL および最小値ＤS と、後述する外径制御装置４
０にて算出された外径寸法の平均値ＤM とに基づき、光
ファイバ１９の非円率εを下式に基づいて算出する。
びこの検出信号に対応したエンコーダ３２からの位相信
号は、形状制御装置３３にそれぞれ出力される。この形
状制御装置３３は、回転テーブル２９の回転方向が切り
換わる毎にその回転中における外径寸法の最大値ＤL と
最小値ＤS とをそれぞれ読み出し、これら外径寸法の最
大値ＤL および最小値ＤS と、後述する外径制御装置４
０にて算出された外径寸法の平均値ＤM とに基づき、光
ファイバ１９の非円率εを下式に基づいて算出する。
【００２５】
【数１】ε＝（ＤL −ＤS ）／ＤM そして、この非円率εと光ファイバ１９の楕円の位相と
に基づき、あらかじめ設定された駆動条件となるよう
に、断熱材駆動モータ２５の作動を制御するようになっ
ている。
に基づき、あらかじめ設定された駆動条件となるよう
に、断熱材駆動モータ２５の作動を制御するようになっ
ている。
【００２６】このように、本実施例では、第二の外径測
定器２８とは別な二つの外径測定器２７により、光ファ
イバ１９の外径寸法の平均値ＤM を求め、これに基づい
て光ファイバ１９の線引き速度を制御するようにしてい
るため、例えば一対の外径測定器２７を設けずに第二の
外径測定器２８のみを使用する場合と比較すると、光フ
ァイバ１９の外径寸法を制御する場合、この第二の外径
測定器２８を回転することによる外乱要因を排除するこ
とができるため、非円率εによって外径寸法が影響を受
けることもなくなり、より正確な外径寸法の制御が可能
となる上、非円率εの測定精度も上がることとなる。
定器２８とは別な二つの外径測定器２７により、光ファ
イバ１９の外径寸法の平均値ＤM を求め、これに基づい
て光ファイバ１９の線引き速度を制御するようにしてい
るため、例えば一対の外径測定器２７を設けずに第二の
外径測定器２８のみを使用する場合と比較すると、光フ
ァイバ１９の外径寸法を制御する場合、この第二の外径
測定器２８を回転することによる外乱要因を排除するこ
とができるため、非円率εによって外径寸法が影響を受
けることもなくなり、より正確な外径寸法の制御が可能
となる上、非円率εの測定精度も上がることとなる。
【００２７】なお、本実施例では回転テーブル１８を１
８０度の範囲で正逆転させるようにしたが、連続的に一
方向回転させることも可能であり、この場合、形状制御
装置３３は回転テーブル１８が１８０度回転する度に光
ファイバ１９の外径寸法の最大値ＤL と最小値ＤS とを
読み出すと共にこれら最大値ＤL と最小値ＤS とに対応
した回転テーブル２９の回転位相を把握するようにすれ
ば良い。また、これら外径測定器２７, ２８の具体的な
構造に関しては、従来から周知のもの、例えば特開昭６
３−８２３３号公報などに開示されたものをそのまま採
用することができる。
８０度の範囲で正逆転させるようにしたが、連続的に一
方向回転させることも可能であり、この場合、形状制御
装置３３は回転テーブル１８が１８０度回転する度に光
ファイバ１９の外径寸法の最大値ＤL と最小値ＤS とを
読み出すと共にこれら最大値ＤL と最小値ＤS とに対応
した回転テーブル２９の回転位相を把握するようにすれ
ば良い。また、これら外径測定器２７, ２８の具体的な
構造に関しては、従来から周知のもの、例えば特開昭６
３−８２３３号公報などに開示されたものをそのまま採
用することができる。
【００２８】前記回転テーブル１８の直下には、線引さ
れた光ファイバ１９の外周面に紫外線硬化樹脂などによ
る樹脂保護層を形成するための樹脂塗布装置３４が設け
られており、この樹脂塗布装置３４の下方には光ファイ
バ１９の外周面に塗布された樹脂保護層を硬化させるた
めの紫外線ランプなどを組み込んだ樹脂硬化装置３５が
設置されている。
れた光ファイバ１９の外周面に紫外線硬化樹脂などによ
る樹脂保護層を形成するための樹脂塗布装置３４が設け
られており、この樹脂塗布装置３４の下方には光ファイ
バ１９の外周面に塗布された樹脂保護層を硬化させるた
めの紫外線ランプなどを組み込んだ樹脂硬化装置３５が
設置されている。
【００２９】この樹脂硬化装置３５の下方には、樹脂保
護層が形成された光ファイバ１９を巻き取り装置３６の
巻き取りボビン３７に導く案内ローラ３８が回転自在に
設けられ、この案内ローラ３８と巻き取りボビン３７と
の間には、樹脂保護層が形成された光ファイバ１９を案
内ローラ３８側から引き込んで巻き取りボビン３７側に
送り込むキャプスタン３９が図示しないキャプスタン駆
動モータによって駆動回転するようになっている。
護層が形成された光ファイバ１９を巻き取り装置３６の
巻き取りボビン３７に導く案内ローラ３８が回転自在に
設けられ、この案内ローラ３８と巻き取りボビン３７と
の間には、樹脂保護層が形成された光ファイバ１９を案
内ローラ３８側から引き込んで巻き取りボビン３７側に
送り込むキャプスタン３９が図示しないキャプスタン駆
動モータによって駆動回転するようになっている。
【００３０】このキャプスタン駆動モータは、上述した
一対の外径測定器２７, ２８からの検出信号を平均化
し、これがあらかじめ設定した基準値と一致するように
キャプスタン３９の回転速度、つまり光ファイバ１９の
線引き速度を制御する外径制御装置４０によって、その
作動が制御される。また、外径制御装置４０にて算出さ
れた光ファイバ１９の外径寸法の平均値ＤM は、形状制
御装置３３に出力されるようになっている。
一対の外径測定器２７, ２８からの検出信号を平均化
し、これがあらかじめ設定した基準値と一致するように
キャプスタン３９の回転速度、つまり光ファイバ１９の
線引き速度を制御する外径制御装置４０によって、その
作動が制御される。また、外径制御装置４０にて算出さ
れた光ファイバ１９の外径寸法の平均値ＤM は、形状制
御装置３３に出力されるようになっている。
【００３１】上述した図１に示す如き光ファイバ線引き
装置を用い、可動断熱材２３を径方向最も内側から最も
外側へ移動させつつ線引きされた光ファイバ１９の非円
率εを算出する一方、この光ファイバ１９をオフライン
にて接触式で算出した結果と比較した。この場合、二つ
の外径測定器２７による光ファイバ１９の外径寸法の平
均値ＤM が１２５μｍとなるように、キャプスタン３９
の回転速度を制御し、回転テーブル１８が第二の外径測
定器２８と共にテーブル駆動モータ３１によって振幅１
８０度の揺動運動を３０秒で１往復するように動かし、
１０往復させた場合の最大径の平均値を最大値ＤL 、最
小径の平均値を最小値ＤS とした。
装置を用い、可動断熱材２３を径方向最も内側から最も
外側へ移動させつつ線引きされた光ファイバ１９の非円
率εを算出する一方、この光ファイバ１９をオフライン
にて接触式で算出した結果と比較した。この場合、二つ
の外径測定器２７による光ファイバ１９の外径寸法の平
均値ＤM が１２５μｍとなるように、キャプスタン３９
の回転速度を制御し、回転テーブル１８が第二の外径測
定器２８と共にテーブル駆動モータ３１によって振幅１
８０度の揺動運動を３０秒で１往復するように動かし、
１０往復させた場合の最大径の平均値を最大値ＤL 、最
小径の平均値を最小値ＤS とした。
【００３２】なお、第二の外径測定器２７を回転して最
大径と最小径とを同時に測定しているわけではなく、外
径寸法のばら付き分は非円率εの算出に誤差を生じさせ
る虞があるため、外径寸法の平均値ＤM を用いてキャプ
スタン３９の回転速度を制御し、この平均値ＤM を安定
させることが非円率εの精度向上のために有効である。
大径と最小径とを同時に測定しているわけではなく、外
径寸法のばら付き分は非円率εの算出に誤差を生じさせ
る虞があるため、外径寸法の平均値ＤM を用いてキャプ
スタン３９の回転速度を制御し、この平均値ＤM を安定
させることが非円率εの精度向上のために有効である。
【００３３】これによると、光ファイバ１９の非円率ε
が本発明方法では０〜２．５％となり、オフラインによ
る方法と比較すると、非円率εの差の平均値が０．１％
以下で、０．１１％の標準偏差となり、本発明によるオ
ンラインでの非円率εの測定方法は、充分信頼性を有す
ることが確認できた。
が本発明方法では０〜２．５％となり、オフラインによ
る方法と比較すると、非円率εの差の平均値が０．１％
以下で、０．１１％の標準偏差となり、本発明によるオ
ンラインでの非円率εの測定方法は、充分信頼性を有す
ることが確認できた。
【００３４】次に、可動断熱材２３を最もヒータ２０側
に近づけた状態（この場合、可動断熱材２３および固定
断熱材１４の内外周が一致するように設定している）
と、この状態から可動断熱材２３を７センチメートル径
方向外側、つまりヒータ２０から離れるように後退させ
た状態で、それぞれ光ファイバ１９を線引きし、その全
長に亙って非円率εを測定したところ、図示しない支持
棒に吊り下げられて線引きされていない光ファイバ用母
材１１の長さ（以下、これを余長と呼称する）と線引き
中の光ファイバ１９の非円率εとの関係を表す図４に示
すように、図中、実線で示す可動断熱材２３を最もヒー
タ２０側に近づけた状態では、光ファイバ用母材１１の
余長が少なくなるに連れて非円率εが増大する反面、図
中、破線で示す可動断熱材２３を７センチメートル径方
向外側に後退させた状態では、光ファイバ用母材１１の
余長が少なくなるに連れて非円率εが減少する傾向を有
することが判った。
に近づけた状態（この場合、可動断熱材２３および固定
断熱材１４の内外周が一致するように設定している）
と、この状態から可動断熱材２３を７センチメートル径
方向外側、つまりヒータ２０から離れるように後退させ
た状態で、それぞれ光ファイバ１９を線引きし、その全
長に亙って非円率εを測定したところ、図示しない支持
棒に吊り下げられて線引きされていない光ファイバ用母
材１１の長さ（以下、これを余長と呼称する）と線引き
中の光ファイバ１９の非円率εとの関係を表す図４に示
すように、図中、実線で示す可動断熱材２３を最もヒー
タ２０側に近づけた状態では、光ファイバ用母材１１の
余長が少なくなるに連れて非円率εが増大する反面、図
中、破線で示す可動断熱材２３を７センチメートル径方
向外側に後退させた状態では、光ファイバ用母材１１の
余長が少なくなるに連れて非円率εが減少する傾向を有
することが判った。
【００３５】なお、上述した可動断熱材２３の二つの状
態において、光ファイバ１９の外径寸法の最大値ＤL の
位相が９０度ずれていることから、上述した可動断熱材
２３の二つの位置の間に光ファイバ１９の非円率εが最
小となる所が存在することが予測される。
態において、光ファイバ１９の外径寸法の最大値ＤL の
位相が９０度ずれていることから、上述した可動断熱材
２３の二つの位置の間に光ファイバ１９の非円率εが最
小となる所が存在することが予測される。
【００３６】従って、線引き炉１３の特性をあらかじめ
把握しておくことにより、線引き炉１３に対する光ファ
イバ用母材１１の下降量に応じて可動断熱材２３を移動
させ、光ファイバ１９の非円率εを小さく保持すること
も可能であり、この場合にはエンコーダ３２を使用する
必要はなくなる。ただし、図４に示した特性は、本実施
例における線引き炉１３に固有なものであり、他の構造
の線引き炉の場合には別な特性を有するものである。
把握しておくことにより、線引き炉１３に対する光ファ
イバ用母材１１の下降量に応じて可動断熱材２３を移動
させ、光ファイバ１９の非円率εを小さく保持すること
も可能であり、この場合にはエンコーダ３２を使用する
必要はなくなる。ただし、図４に示した特性は、本実施
例における線引き炉１３に固有なものであり、他の構造
の線引き炉の場合には別な特性を有するものである。
【００３７】そこで、可動断熱材２３を最もヒータ２０
側に近づけた状態から２cm径方向外側に引き抜き、この
状態から光ファイバ１９の線引きを開始し、１０分間以
上連続して非円率εが０．１５％を越えた場合、可動断
熱材２３をさらに５mmだけ径方向外側に移動させるよう
に制御した。この場合、光ファイバ１９の外径寸法の平
均値ＤM として５分間に亙るデータの移動平均を採用
し、可動断熱材２３の移動によって光ファイバ１９の非
円率εが増大してしまった場合には、逆に１cmだけ可動
断熱材２３を径方向内側に移動させるようにした。この
結果、光ファイバ１９の全長に亙って非円率が０．３％
以下に保持することができた。この方法を５本の光ファ
イバ用母材１１に対して採用し、線引きすることによっ
て得られた光ファイバ１９の非円率は何れにおいても
０．３％以下であり、これらの平均非円率は０．１６％
となった。
側に近づけた状態から２cm径方向外側に引き抜き、この
状態から光ファイバ１９の線引きを開始し、１０分間以
上連続して非円率εが０．１５％を越えた場合、可動断
熱材２３をさらに５mmだけ径方向外側に移動させるよう
に制御した。この場合、光ファイバ１９の外径寸法の平
均値ＤM として５分間に亙るデータの移動平均を採用
し、可動断熱材２３の移動によって光ファイバ１９の非
円率εが増大してしまった場合には、逆に１cmだけ可動
断熱材２３を径方向内側に移動させるようにした。この
結果、光ファイバ１９の全長に亙って非円率が０．３％
以下に保持することができた。この方法を５本の光ファ
イバ用母材１１に対して採用し、線引きすることによっ
て得られた光ファイバ１９の非円率は何れにおいても
０．３％以下であり、これらの平均非円率は０．１６％
となった。
【００３８】さらに、エンコーダによる位相の情報を使
って光ファイバ１９の外径寸法の最大値ＤL が可動断熱
材２３の方向に近い場合には、可動断熱材を５mmだけ径
方向内側に押し出す一方、光ファイバ１９の外径寸法の
最大値ＤL が可動断熱材２３と直角の方向に近い場合に
は、可動断熱材を５mmだけ径方向外側へ引き戻すように
した。この場合も、光ファイバ１９の全長に亙って０．
５％以下の非円率εを達成することができた。
って光ファイバ１９の外径寸法の最大値ＤL が可動断熱
材２３の方向に近い場合には、可動断熱材を５mmだけ径
方向内側に押し出す一方、光ファイバ１９の外径寸法の
最大値ＤL が可動断熱材２３と直角の方向に近い場合に
は、可動断熱材を５mmだけ径方向外側へ引き戻すように
した。この場合も、光ファイバ１９の全長に亙って０．
５％以下の非円率εを達成することができた。
【００３９】比較として、図４から可動断熱材２３を
４．５cm径方向外側に引き抜いた位置で非円率εが最も
良くなると考え、この条件で光ファイバ用母材１１から
光ファイバ１９を線引きした結果、平均非円率は０．２
２％と低かったものの、最大の非円率εが０．６％と大
きく、５本の光ファイバ用母材１１を線引き場合には、
この最大の非円率εが０．５％〜０．７５％とばらつい
た。
４．５cm径方向外側に引き抜いた位置で非円率εが最も
良くなると考え、この条件で光ファイバ用母材１１から
光ファイバ１９を線引きした結果、平均非円率は０．２
２％と低かったものの、最大の非円率εが０．６％と大
きく、５本の光ファイバ用母材１１を線引き場合には、
この最大の非円率εが０．５％〜０．７５％とばらつい
た。
【００４０】
【発明の効果】本発明によると、線引き炉から線引きさ
れた光ファイバの非円率をオンラインにて計測し、この
非円率が小さくなるように光ファイバ用母材の周囲の温
度分布を調整するようにしたので、寸法形状の良好な真
円度の高い光ファイバを線引きすることができる。
れた光ファイバの非円率をオンラインにて計測し、この
非円率が小さくなるように光ファイバ用母材の周囲の温
度分布を調整するようにしたので、寸法形状の良好な真
円度の高い光ファイバを線引きすることができる。
【図１】本発明による光ファイバ線引き装置の一実施例
の概略構造を表す機構概念図である。
の概略構造を表す機構概念図である。
【図２】図１に示した実施例における光ファイバ線引き
炉の部分の構造を表す断面図である。
炉の部分の構造を表す断面図である。
【図３】図２中の III−III 矢視断面図である。
【図４】断熱材の位置に応じた光ファイバ用母材の余長
と非円率との関係を表すグラフである。
と非円率との関係を表すグラフである。
１１ 光ファイバ用母材 １２ チャック装置 １３ 線引き炉 １４ 固定断熱材 １５ 炉体 １６ 炉心管 １７ 供給口 １８ 不活性ガス供給ダクト １９ 光ファイバ ２０ ヒータ ２１ 接続端子 ２２ 電極 ２３ 可動断熱材 ２４ 断熱材駆動機構 ２５ 断熱材駆動モータ ２６ ネックダウン部分 ２７ 外径測定器 ２８ 第二の外径測定器 ２９ 回転テーブル ３０ テーブル駆動機構 ３１ テーブル駆動モータ ３２ エンコーダ ３３ 形状制御装置 ３４ 樹脂塗布装置 ３５ 樹脂硬化装置 ３６ 巻き取り装置 ３７ 巻き取りボビン ３８ 案内ローラ ３９ キャプスタン ４０ 外径制御装置
Claims (15)
- 【請求項１】 光ファイバ用母材の下端部を加熱溶融し
て当該光ファイバ用母材の下端から光ファイバを線引き
するステップと、 線引きされた前記光ファイバの非円率を算出するステッ
プと、 算出された前記光ファイバの非円率が小さくなるように
前記光ファイバ用母材の周囲の温度分布を調整するステ
ップとを具えたことを特徴とする光ファイバ線引き方
法。 - 【請求項２】 前記光ファイバの非円率を算出するステ
ップは、前記光ファイバの円周方向に沿った外径寸法の
平均値を算出するステップと、前記光ファイバの円周方
向に沿った外径寸法の最大値および最小値をそれぞれ求
めるステップとを有し、前記光ファイバの外径寸法の平
均値と最大値および最小値とに基づいて算出されるもの
であることを特徴とする請求項１に記載した光ファイバ
線引き方法。 - 【請求項３】 前記光ファイバの外径寸法の平均値は、
前記光ファイバの円周方向に沿った少なくとも二つの測
定箇所の平均値であることを特徴とする請求項２に記載
した光ファイバ線引き方法。 - 【請求項４】 前記光ファイバの外径寸法の平均値が一
定となるように前記光ファイバの線引き速度を調整する
ステップをさらに具えたことを特徴とする請求項２また
は請求項３に記載した光ファイバ線引き方法。 - 【請求項５】 前記光ファイバの外径寸法の最大値およ
び最小値は、前記光ファイバの円周方向に少なくとも１
８０度に亙って計測したものであることを特徴とする請
求項２または請求項３または請求項４に記載した光ファ
イバ線引き方法。 - 【請求項６】 前記光ファイバ用母材の周囲の温度分布
を調整するステップは、前記光ファイバ用母材の下端部
を加熱溶融させるヒータを囲む断熱材の移動によって行
うものであることを特徴とする請求項１または請求項２
または請求項３または請求項４または請求項５に記載し
た光ファイバ線引き方法。 - 【請求項７】 前記光ファイバの円周方向に沿った外径
寸法の最大値および最小値の各位相を求めるステップを
さらに具え、 前記光ファイバ用母材の周囲の温度分布を調整するステ
ップは、前記光ファイバの円周方向に沿った外径寸法の
最大値および最小値の各位相に基づき、前記光ファイバ
用母材の周囲の温度分布を調整するものであることを特
徴とする請求項２または請求項３または請求項４または
請求項５または請求項６に記載した光ファイバ線引き方
法。 - 【請求項８】 光ファイバ用母材の下端部を加熱溶融し
て当該光ファイバ用母材の下端から光ファイバを線引き
する手段と、 線引きされた前記光ファイバの非円率を算出する手段
と、 算出された前記光ファイバの非円率が小さくなるように
前記光ファイバ用母材の周囲の温度分布を調整する手段
とを具えたことを特徴とする光ファイバ線引き装置。 - 【請求項９】 前記光ファイバの非円率を算出する手段
は、前記光ファイバの円周方向に沿った外径寸法の平均
値を算出する手段と、前記光ファイバの円周方向に沿っ
た外径寸法の最大値および最小値をそれぞれ求める手段
とを有し、前記光ファイバの外径寸法の平均値と最大値
および最小値とに基づいて算出されるものであることを
特徴とする請求項８に記載した光ファイバ線引き装置。 - 【請求項１０】 前記光ファイバの外径寸法の平均値を
算出する手段は、前記光ファイバの円周方向に沿った少
なくとも二つの外径測定器を有し、これら外径測定機か
らの出力の平均値であることを特徴とする請求項９に記
載した光ファイバ線引き装置。 - 【請求項１１】 前記光ファイバの外径寸法の平均値が
一定となるように前記光ファイバの線引き速度を調整す
る手段をさらに具えたことを特徴とする請求項９または
請求項１０に記載した光ファイバ線引き装置。 - 【請求項１２】 前記光ファイバの外径寸法の最大値お
よび最小値をそれぞれ求める手段は、前記光ファイバを
中心としてその円周方向に少なくとも１８０度に亙って
旋回する回転テーブルと、この回転テーブル上に設けら
れた一つの外径測定器とを有するものであることを特徴
とする請求項９または請求項１０または請求項１１に記
載した光ファイバ線引き装置。 - 【請求項１３】 前記光ファイバ用母材の周囲の温度分
布を調整する手段は、前記光ファイバ用母材の下端部を
加熱溶融させるヒータを囲む断熱材の一部を前記光ファ
イバ用母材の径方向に移動させるものであることを特徴
とする請求項８または請求項９または請求項１０または
請求項１１または請求項１２に記載した光ファイバ線引
き装置。 - 【請求項１４】 前記光ファイバ用母材の径方向に移動
する断熱材は、前記光ファイバ用母材の加熱溶融部分と
対向する位置に配置されていることを特徴とする請求項
１３に記載した光ファイバ線引き装置。 - 【請求項１５】 前記光ファイバの円周方向に沿った外
径寸法の最大値および最小値の各位相を検出する手段を
さらに具え、 前記光ファイバ用母材の周囲の温度分布を調整する手段
は、前記光ファイバの円周方向に沿った外径寸法の最大
値および最小値の各位相に基づき、前記光ファイバ用母
材の周囲の温度分布を調整するものであることを特徴と
する請求項９または請求項１０または請求項１１または
請求項１２または請求項１３または請求項１４に記載し
た光ファイバ線引き装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1610995A JPH08208262A (ja) | 1995-02-02 | 1995-02-02 | 光ファイバ線引き方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1610995A JPH08208262A (ja) | 1995-02-02 | 1995-02-02 | 光ファイバ線引き方法およびその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08208262A true JPH08208262A (ja) | 1996-08-13 |
Family
ID=11907358
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1610995A Pending JPH08208262A (ja) | 1995-02-02 | 1995-02-02 | 光ファイバ線引き方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08208262A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1022259A1 (en) * | 1999-01-20 | 2000-07-26 | Alcatel | Furnace for drawing an optical fibre from a preform having a controller for independently controlling the furnace temperature and the draw tension |
| KR100396264B1 (ko) * | 2001-06-13 | 2003-09-02 | 삼성전자주식회사 | 광섬유 인출 설비의 베어 파이버 진원도 측정 방법 |
-
1995
- 1995-02-02 JP JP1610995A patent/JPH08208262A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1022259A1 (en) * | 1999-01-20 | 2000-07-26 | Alcatel | Furnace for drawing an optical fibre from a preform having a controller for independently controlling the furnace temperature and the draw tension |
| KR100396264B1 (ko) * | 2001-06-13 | 2003-09-02 | 삼성전자주식회사 | 광섬유 인출 설비의 베어 파이버 진원도 측정 방법 |
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