JPH08211073A - システムコントローラーを用いたオートサンプラー - Google Patents

システムコントローラーを用いたオートサンプラー

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JPH08211073A
JPH08211073A JP3619995A JP3619995A JPH08211073A JP H08211073 A JPH08211073 A JP H08211073A JP 3619995 A JP3619995 A JP 3619995A JP 3619995 A JP3619995 A JP 3619995A JP H08211073 A JPH08211073 A JP H08211073A
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autosampler
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勝治 若林
Susumu Tanaka
進 田中
Toshinobu Hondo
敏信 本堂
Miki Kuwajima
幹 桑嶋
Yuzuru Sato
譲 佐藤
Koji Yoshida
浩二 吉田
Hitomi Abe
仁美 阿部
Taira Shiyou
平 邵
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Abstract

(57)【要約】 【構成】 機種判別部34により判別した機種に対応す
る設定画面を表示部28に表示し、該表示画面上におい
て入力部26よりオートサンプラー14の作動環境を入
力設定すると共に、該設定された作動環境データをシス
テムコントローラー10の作動環境設定部36からオー
トサンプラー14の作動環境メモリ部20に転送するこ
とを特徴とするシステムコントローラーを用いたオート
サンプラー。 【効果】 その作動環境設定をシステムコントローラー
の大型の表示部及び入力部を用いて行えるため、設定の
際の操作性が向上する。また、システムコントローラー
で設定した注入手順データをオートサンプラーで管理制
御するため、システムコントローラーにかかる処理能力
の負担が極めて軽減される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はシステムコントローラー
を用いたオートサンプラー、特にオートサンプラーの作
動環境設定機構及び作動制御機構の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】高速液体クロマトグラフ(HPLC)な
どの分析装置は、ポンプ、カラム、カラムオーブン、検
出器など多くの機器によりシステム構成されている。そ
して、最近ではこれら各機器の作動設定値(分析条件)
を装置制御プログラム(システムプログラム)により統
轄的にコンピュータ制御するシステムコントローラーを
取り付けた分析装置が汎用されている。また、多数のサ
ンプルを測定する場合には、前記分析装置のサンプル注
入器としてオートサンプラーが用いられ、該オートサン
プラーが予め設定された作動に従い順次サンプルを自動
的にカラムに注入することにより連続測定が行なわれ
る。
【0003】ここで、前記オートサンプラーの作動を決
定するものとして、まずニードルの停止位置、サンプル
吸引速度、洗浄溶媒の吸引・吐出速度等の作動環境パラ
メータとして設定されるものがあり、オートサンプラー
は該作動環境パラメータの設定値によって個々の基本的
作動が制御される。また、前記作動環境パラメータの他
に、測定の流れにおける注入手順としてオートサンプラ
ーの作動を制御するものがある。即ち、注入量、注入回
数、サンプル番号、アナリシスシタイム、ディレイタイ
ム等の注入手順プログラム(アナリシスシーケンス)と
して設定されるものである。なお、前記ディレイタイム
とは、オートサンプラーが吸引作動を開始してから、注
入するまでの時間であり、測定効率を上げるために前の
サンプル分析中(アナリシスタイム)に該ディレイタイ
ムの取込みを行なうのが一般的である。
【0004】そして、オートサンプラーは、前記注入手
順プログラムに基づき、吸引開始予定時刻(アナリシス
タイム終了時間−ディレイタイム)となると吸引作動を
開始し、次のサンプルを設定値(注入量、サンプル番号
等)に従い吸引する。このように、オートサンプラーの
作動制御は、大別すると作動環境パラメータと注入手順
プログラムの2つによって行なわれており、従来の分析
装置においてはその入力設定機構ないし制御内容の管理
機構がそれぞれ以下のようになっていた。まず、作動環
境パラメータは、予め決められた設定値となっている
か、或いはオートサンプラー本体に設けられた入力キー
によって入力設定する。そして、その管理は現に入力さ
れた単一の設定値のみをオートサンプラー本体において
行なうだけであり、該設定値の変更は再度入力キーによ
って新たな設定値を入力しなおさなければならない。
【0005】一方、注入手順プログラムは、その設定を
システムコントローラーにおいて行ない、該設定値に基
づく管理制御もシステムコントローラー側で全て行な
う。即ち、注入手順プログラムとは、オートサンプラー
を含めたシステムの全自動連続運転をシステムコントロ
ーラーで制御する上で必要なものであり、システムコン
トローラーの分析手順設定プログラム(アナリシスシー
ケンス)上で設定、管理される。このため、注入手順プ
ログラムの内容は、必然的にシステムコントローラー側
で全て管理しており、前述した吸引開始や注入等の指令
が各サンプルの測定毎にその都度システムコントローラ
ーからオートサンプラーに送られることによってその作
動を制御する。
【0006】即ち、システムコントローラーは各測定毎
に吸引開始予定時刻(アナリシスタイム終了時間−ディ
レイタイム)になると、オートサンプラーに次に注入す
るサンプルの吸引(サンプル番号、注入量等)を指令す
る。そして、オートサンプラーは該指令に基づきサンプ
ルを吸引し注入可能状態で待機する。さらに、システム
コントローラーはアナリシスタイムが終了するとオート
サンプラーに注入の指令を送り、オートサンプラーは吸
引したサンプルを注入する。このように、オートサンプ
ラーは常に単一のサンプル注入情報しか持たずに完全に
システムコントローラーに従属した作動を行なってい
た。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来のような作動環境パラメータ及び注入手順プログラム
の入力設定機構ないし管理制御機構では、それぞれ以下
のような問題点があった。 作動環境パラメータに関する問題点 HPLCなどの場合、一つのシステムで種々多様なサン
プルを測定するが、各測定の信頼性を上げる為には、オ
ートサンプラーの作動環境も各サンプルに応じて最適な
値にしなければならず、該作動環境パラメータの変更を
頻繁に行なうことを要する。
【0008】しかし、従来は前記作動環境パラメータの
変更をオートサンプラー本体で行なっており、該オート
サンプラーを安価及び小型化するためには、その操作キ
ー及び表示画面を極めて単純で小さなものとしなければ
ならない。このため、前記作動環境の設定に際し、操作
性が極めて悪いという問題があった。しかも、この設定
の変更はサンプルが替るたびにその都度、手入力によっ
て行なわなければならないため、非常に時間と手間がか
かってしまう。 注入手順プログラムに関する問題点 まず第1の問題として、従来のように注入手順プログラ
ムに関する管理制御をシステムコントローラー側で全て
行なうと、該システムコントローラーは測定システムの
制御だけでなく、サンプルの管理(注入量、サンプル番
号等)や、ディレイタイムの時間管理(アナリシスタイ
ム終了時間−ディレイタイムになった時点でサンプル吸
引を開始する)をも行なわなければならない。 このた
め、システムコントローラーには極めて大きな処理能力
が求められ高価なものとなってしまうという課題があっ
た。
【0009】また第2の問題として、このようなシステ
ムコントローラー側に完全に依存する管理制御では、デ
ィレイタイムやアナリシスタイムの設定にもユーザー側
に相当の注意が要求される。つまり、前記ディレイタイ
ムはオートサンプラーの機種や注入モードによって異な
り、また同じ機種、注入モードでも注入量やサンプル番
号によって異なる。さらに、最近では注入手順プログラ
ムをユーザーがプログラムできるものや、前記作動環境
パラメータを自由設定できるものもある。このような複
雑で、しかも各サンプル毎に異なるディレイタイムをシ
ステムコントローラーで計算して設定するのは極めて困
難であり、しかもそのシステムコントローラーに接続で
きる全種類のオートサンプラーのディレイタイムの計算
手順(オートサンプラーによって異なる)を持たせるこ
とは実質的に不可能である。
【0010】そこで、通常はユーザー側で適切なディレ
イタイムを計算してシステムコントローラーに入力設定
することとなる。ここで、該入力設定するディレイタイ
ムは、予想される作動時間を見積もって、それより若干
余裕を持った値とする必要がある。つまり、もし設定値
が小さすぎると、オートサンプラーは注入予定開始時刻
になっても注入可能状態となっていないのでそのサンプ
ルの注入は行なわれなくなってしまう。
【0011】一方、いたずらに設定値を大きくすると、
サンプルを長時間保持ループの中に保持することとな
り、サンプルの変質、拡散等の問題が起きる。しかも、
設定値が余りに大きすぎるとアナリシスタイムの設定値
によってはオートサンプラー注入後すぐに次の分析の注
入作動が指令される。オートサンプラーは注入後に系内
の洗浄や、バルブ、マイクロシリンジ等の位置を初期状
態に戻すための作動(1〜5分)が必要で、もしこの時
間内に次のサンプル注入が指令されても、オートサンプ
ラーは吸引作動を開始できないため、そのサンプルの注
入が行なわれなくなってしまう。従って、このような設
定においてはアナリシスタイムの設定にも注意を必要と
するとともに、全体の分析時間が必要以上に長くなり、
効率が低下する。
【0012】このように、ディレイタイムやアナリシス
タイムの設定を不適当な値に設定してしまうと、正常な
注入作動や良好な測定分析が行なえなくなってしまう。
そして、この最適値を見出して入力設定するにはオート
サンプラー及び分析に対する相当な知識と経験が要求さ
れ、限られた者にしか行なえないという欠点があった。
さらに、第3の問題として、従来のように一個一個のサ
ンプル毎に吸引と注入に関する指令をシステムコントロ
ーラーとオートサンプラー間で行なうと、サンプル注入
時間前後に該シスムコントローラー/オートサンプラー
間での指令通信とシステムコントローラー/測定システ
ム間でのデータ通信とが集中してしまい、各通信に遅れ
が生じたり、システムコントローラーの処理ミスやノイ
ズ等による通信ミスが生じ易くなる。
【0013】しかも、システムコントローラーのみでサ
ンプル注入シーケンスを管理制御しているため、前記処
理ミスや通信ミス等でシステムコントローラーからの指
令がオートサンプラーに届かなかった場合にも、オート
サンプラーの正常な注入作動が行なわれず、サンプルの
抜けやサンプル番号違い等の重大なミスが生じてしま
う。本発明は前記従来技術の課題に鑑がみ為されたもの
であり、その目的はオートサンプラーの作動環境パラメ
ータの設定を容易に行ない得る分析装置、及びオートサ
ンプラーの注入手順の管理制御に関し、システムコント
ローラーに無理な負担をかけずに正常な注入作動を行な
い得る分析装置を提供することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に本発明の請求項1記載のシステムコントローラーを用
いたオートサンプラーは、オートサンプラーとシステム
コントローラーとが相互間のデータ通信可能な装置間通
信手段を介して接続され、前記オートサンプラーが、オ
ートサンプラー作動本体部に設けられた機種識別データ
が記憶されたデバイスナンバーメモリ部と、作動環境デ
ータを記憶する作動環境メモリ部と、を備え、前記シス
テムコントローラーが、前記オートサンプラーのデバイ
スナンバーメモリ部に接続された機種判別部と、入力
部、表示部及び機種判別部が接続された作動環境設定部
と、を備え、前記機種判別部により判別した機種に対応
する設定画面を表示部に表示し、該表示画面上において
入力部よりオートサンプラーの作動環境を入力設定する
と共に、該設定された作動環境データをシステムコント
ローラーの作動環境設定部からオートサンプラーの作動
環境メモリ部に転送することを特徴とする。
【0015】なお、前記オートサンプラーにおいて、オ
ートサンプラー側で設定記憶された作動環境データを、
作動環境メモリ部から前記システムコントローラーの作
動環境設定部に転送可能とすることが好適である。ま
た、本発明の請求項3記載のシステムコントローラーを
用いたオートサンプラーは、オートサンプラーとシステ
ムコントローラーとが相互間のデータ通信可能な装置間
通信手段を介して接続され、前記オートサンプラーが、
サンプル注入作動を行なうオートサンプラー作動本体部
と、前記作動本体部に接続され、オートサンプラーの作
動を検知する作動検知部と、前記作動本体部及び作動検
知部に接続され、オートサンプラーのサンプル注入手順
を制御する注入手順制御部と、前記注入手順制御部に設
けられ、該注入手順データを記憶する注入手順データメ
モリ部と、を備え、
【0016】前記システムコントローラーが、サンプル
の注入手順データを入力する入力部と、前記入力部から
の入力に基づき注入手順データを設定し、かつ前記注入
手順データメモリ部に接続された注入手順設定部と、を
備え、前記システムコントローラーの注入手順設定部に
おいて設定された複数の注入手順データを前記注入手順
データメモリ部に転送し、該転送されたオートサンプラ
ーの注入手順データに基づき、かつ前記作動検知部にお
けるオートサンプラーの状態検知に基づき、注入手順制
御部においてオートサンプラーの制御を行うことを特徴
とする。
【0017】なお、前記システムコントローラーに各測
定機器及びオートサンプラーの作動検知部及び注入手順
制御部に接続されたシステム制御を備え、一測定毎の終
了時において、前記作動検知部における注入可能状態検
知に基づき、システム制御部から注入手順制御部及び各
測定機器に次測定開始を指示することが好適である。
【0018】
【作用】本発明の請求項1にかかるシステムコントロー
ラーを用いたオートサンプラーは、前述したようにシス
テムコントローラーに作動環境設定部を設けており、該
システムコントローラーの入力部及び表示部を用いてオ
ートサンプラーの作動環境を入力し、設定を行なう。そ
して、前記作動環境設定部に設定した作動環境データを
オートサンプラーの作動環境メモリ部に転送し、該作動
環境メモリ部に転送記憶されたデータに基づきオートサ
ンプラーの作動環境を制御する。
【0019】ここで、前記システムコントローラーは、
各測定機器の複雑な測定条件を設定或いは表示するた
め、元来その入力部は数多くの操作キーを有し、表示部
は大型の表示画面を有している。そして、本発明におい
ては、オートサンプラーの作動環境をこの大型の表示画
面に表示しながら、多数の操作キーによって入力するた
め、極めて操作性良く容易に作動環境の設定が可能とな
る。しかも、通常の場合、作動環境の設定値は相互に関
連があり、全項目を同時に表示した状態で入力できると
入力ミスも少なくなる。一般にオートサンプラーでは1
又は2項目づつしか表示できないため、入力が面倒でミ
スも生じやすい。
【0020】なお、前記オートサンプラーに設定される
作動環境パラメータは、その機種によって異なる。しか
し、本発明においては、オートサンプラーに自身の機種
識別データを記憶しており、そのデータを作動環境入力
時にシステムコントローラーの機種判別部に送り、使用
するオートサンプラーの機種を判別する。このため、判
別した機種に対応する作動環境パラメータを表示部の設
定画面に表示することができる。また、前記システムコ
ントローラーに作動環境設定部を設け、システムコント
ローラー側でオートサンプラーの作動環境を設定するこ
とにより、システムコントローラーで設定した各機器の
測定条件と合わせて該作動環境をディスク等の記憶媒体
に容易に記憶保存することができる。従って、次回同一
の作動環境を設定したい場合には、記憶保存したディス
クから読み出すだけで効率良く設定が可能となる。
【0021】さらに、本発明においては、オートサンプ
ラーの作動環境メモリ部からシステムコントローラーの
作動環境部へも作動環境データを転送可能としている。
このため、オートサンプラー側に既に最適な作動環境が
設定されている場合には、該作動環境データをシステム
コントローラー側にそのまま転送でき、システムコント
ローラー側で入力することなく前記ディスク等への記憶
保存が可能となる。また、本発明の請求項3にかかるシ
ステムコントローラーを用いたオートサンプラーは、前
述したようにオートサンプラーに作動検知部、注入手順
制御部、及び注入手順データメモリ部を設けている。ま
た、システムコントローラーには、入力部及び注入手順
設定部を設けている。
【0022】そして、オートサンプラーの注入手順は、
システムコントローラーの注入手順設定部において設定
され、作動開始時に該設定した複数の注入手順データを
オートサンプラーの注入手順データメモリ部に転送す
る。さらに、前記転送された注入手順データに従って、
注入手順制御部においてオートサンプラーの注入手順制
御を行なう。即ち、オートサンプラー側に測定に必要な
注入手順を測定時に一括して転送してしまい、測定中は
オートサンプラー自身でその注入手順を管理制御する。
このため、測定中はシステムコントローラーにおいてオ
ートサンプラーの注入手順にかかるディレイタイムやサ
ンプルの管理制御を行なう必要がなく、該システムコン
トローラーにかかる負担が著しく軽減され、処理能力の
低い安価なものでも対応できる。特に、サンプル注入時
点では、システムコントローラーの処理が集中する。こ
のため、従来装置では他の処理のレスポンスがにぶくな
ることがあるが、本発明においてはこれらの点が改善さ
れる。
【0023】また、一測定毎に注入手順に関するデータ
をシステムコントローラーからオートサンプラーに送る
必要がなくなるため、前述したような測定中の通信集中
等の問題も生じず、オートサンプラーの注入手順にかか
る作動が確実に制御される。さらに、前述したようにオ
ートサンプラーは、作動検知部によりその作動状態を検
知しており、該作動状態を前記注入手順制御部が確認し
つつオートサンプラーの吸引注入作動を制御している。
即ち、オートサンプラーの注入手順制御部により、転送
された注入手順データのディレイタイムに従ってサンプ
ル吸引を開始指示する場合、オートサンプラーの作動状
態が吸引可能であることを確認してから行う。この時、
オートサンプラーが未だ吸引不可能な状態である場合に
は、吸引可能な状態を待って吸引開始指示を行う。
【0024】また、転送された注入手順データのアナリ
シスタイムに従って、サンプル注入を開始する場合に
も、オートサンプラーの作動状態が注入可能であること
を確認してから注入開始指示を行う。従って、アナリシ
スタイムやディレイタイムの設定が不適当な場合であっ
ても、前述したようなサンプルの抜け等が生じることな
く、オートサンプラーの正常確実な作動が確保される。
さらに、請求項4記載の装置では、システムコントロー
ラーに設けられたシステム制御部によりオートサンプラ
ーを含めた各測定機器に次測定開始指示を行う。即ち、
一測定毎の終了時(システム制御部におけるアナリシス
タイム終了時)に、前記作動検知部におけるオートサン
プラーの作動状態が注入可能であることをシステム制御
部が確認した上で、注入手順制御部に注入開始指示(ア
ナリシスタイム開始指示)を行うと共に、同時に各測定
機器に次測定開始の指示を行う。従って、システム制御
部と注入手順制御部におけるアナリシスタイムにズレが
生じた場合でも、各測定の開始が同時に行われるため、
オートサンプラーとシステムの作動の整合性を常に維持
することができる。
【0025】
【実施例】以下、図面に基づき本発明の好適な実施例を
説明する。図1には、本発明の第1実施例にかかるシス
テムコントローラーを用いたオートサンプラーの概略構
成図が示されている。同図において、オートサンプラー
14は、オートサンプラー作動本体部18、作動環境メ
モリ20、及びデバイスナンバーメモリ22とを有して
いる。また、システムコントローラー10は、CPU2
4、入力部26、及び表示部28とを有している。さら
に、前記CPU24は、システム制御部30、測定条件
設定部32、機種判別部34、及びオートサンプラー作
動環境設定部36とを含んでいる。
【0026】そして、前記システムコントローラー10
は、その測定条件設定部32と入力部26及び表示部2
8とが接続されており、該測定条件設定部32とシステ
ム制御部30とが接続されている。また、前記システム
制御部30は、装置間通信手段12を介して、測定装置
16を構成する各システム機器に接続されている。そし
て、前記表示部28に測定条件設定画面が表示され、入
力部26の操作キーを用いて測定装置16を構成するシ
ステム機器の測定条件を入力することにより、測定条件
設定部32にその測定条件が設定される。また、前記設
定された測定条件はシステム制御部30に送られ、該シ
ステム制御部30において統轄的に各システム機器の作
動制御が行われる。さらに、前記測定条件設定部32
は、フロッピーディスク等の外部記憶媒体38に接続さ
れており、設定された測定条件を記憶できるようになっ
ている。
【0027】ここで、前記システムコントローラー10
の表示部28及び入力部26には、オートサンプラー1
4に通常取り付けられているものと比較して遥かに大型
で操作キーの数も豊富なものが使用されている。即ち、
HPLC等の測定装置16は、数多くのシステム機器か
ら構成されており、その測定条件の設定項目も複雑かつ
多数に及び、これを統轄的に入力設定するためには、表
示部28及び入力部26を大型にせざるを得ないのであ
る。そして、本実施例の特徴は、オートサンプラー14
の作動環境設定を該オートサンプラー備え付けの数少な
い操作キーや小型の表示画面を用いずに、前記システム
コントローラー10の入力部26及び表示部28を用い
ることにより操作性を向上したことにある。
【0028】即ち、アナリシスシーケンスを設定する場
合には、図2のように設定画面を表示し、直面の指示に
従って、各パラメータの設定を行う。同図におけるメニ
ュー、パラメータはそれぞれ下記の内容を意味する。 <メニュー> 0:編集 :パラメータの編集 1:確定 :パラメータをメモリに書き込み、モニタ画面に戻る 2:クリア :アナリシスシーケンステーブルのパラメータの初期化 3:ツール :プログラムのディスクへの保存/ディスクからの読込み・プログ ラムの印刷 <パラメータの意味及び入力範囲> アナリシスシーケンステーブルのパラメータ # :ステップナンバー 入力可能範囲:最大120 ステップ Sample Name :サンプルの名前(必要に応じて入力) Sample No. :オートサンプラのサンプル番号(分析開始番号−分析終了番号) No.of Inj. :1サンプルあたりの注入回数 Inj.Vol. :サンプル注入量 Anls. Time :1サンプルの分析終了時間(アナリシスタイムの終了時間) System Prg.#:使用するシステムプログラムの番号
【0029】 アナリシスシーケンスパラメータ Prg.Name :アナリシスシーケンスの名前 最大8文字 Comment :アナリシスシーケンスのコメント 最大24文字 End Prg. :分析終了時のシステムの状態の設定 AS. No.of Flush :オートサンプラの洗浄回数 AS. Delay Time :オートサンプラの待ち時間(ディレイタイム) AS. Prg.Use Mode :ASユーザーズプログラムを使用する/しない また、オートサンプラの作動環境を設定する場合には、
図3のように設定画面を表示し、画面の指示に従って各
パラメータの設定を行う。同回におけるメニュー、パラ
メータはそれぞれ下記の内容を意味する。
【0030】 <メニュー> 0:編集 :作動環境のパラメータの編集 1:確定 :パラメータをメモリに記憶し、モニタ画面に戻る 2:初期化 :パラメータを初期値に戻す 3:ツール :パラメータの保存/読み込み、印刷 <パラメータ>
【表1】 ──────────────────────────────────── パラメータ 設定範囲 初期値 意 味 ──────────────────────────────────── Cooling Unit ON,OFF OFF サンフ゜ル冷却器のオン/オフ 1st Air Volume 0〜20μ1 5 ファーストエアーホ゛リューム Washing Sample Volume 0〜20μ1 4 洗浄サンフ゜ル容量 2nd Air Volume 0〜20μ1 2 セカント゛エアーホ゛リューム Sample Loss Volume 10〜100μ1 20 サンフ゜ルロス容量 Flush Speed 1〜100μ1/sec 80 洗浄時のシリンシ゛速度 Sample Suction Speed 1〜50μ1/sec 3 サンフ゜ル吸引速度 Sample Pumping Speed 1〜50μ1sec 3 サンフ゜ル吐出速度 Z-Axis Lowest Position 0〜50mm 38 Z軸最下点位置 Sample Rack Choice STANDARD,MICRO, STANDARD サンフ゜ルラックの種類 MICRO PLATE, LARGE Backlush 0〜40μ1 5 ハ゛ックラッシュ Volume Compensation 0.50〜1.50 1.00 容量補正 Syringe Volume 0.5,2.5ml 0.5 シリンシ゛容量 ────────────────────────────────────
【0031】そして、本実施例は、前述したようにシス
テムコントローラー10に作動環境設定部36を設けて
おり、該作動環境設定部36と入力部26及び表示部2
8とが接続されている。また、前記作動環境設定部36
は、装置間通信手段12を介してオートサンプラー14
の作動環境メモリ20に接続されている。このため、シ
ステムコントローラー10の表示部28にオートサンプ
ラー14の作動環境設定画面を表示させ、入力部26か
ら各作動環境パラメータの値を入力することにより作動
環境設定部36への環境設定が為される。そして、該設
定された作動環境が作動環境メモリ20に転送され、測
定分析が開始されるとオートサンプラー作動本体部18
はこの転送された作動環境に従って作動するのである。
【0032】ここで、前述したようにオートサンプラー
14の作動環境をシステムコントローラー10側で表示
及び入力設定すると、様々な機種のオートサンプラー1
4には対応できないという問題が生じてしまう。即ち、
オートサンプラー14に必要な作動環境パラメータは、
その機種によって異なるため、システムコントローラー
10の表示部28に単一の決まった作動環境設定画面が
表示されてしまうと、設定すべき必要な作動環境パラメ
ータがなかったり、設定すべきでない不必要な作動環境
パラメータが多く存在してしまうのである。そこで、本
実施例においては、オートサンプラー14にデバイスナ
ンバーメモリ22を、システムコントローラー10に機
種判別部34をそれぞれ設け、該デバイスナンバーメモ
リ22と機種判別部34を装置間通信手段で接続し、該
機種判別部34を作動環境設定部36と接続している。
そして、システムコントローラー10の電源投入時に前
記デバイスナンバーメモリ22に記憶されているナンバ
ーを機種判別部34が読みとり判別し、その判別結果に
基づき作動環境設定部36において設定すべき適切な作
動環境パラメータを設定画面として表示部28に表示さ
せる。このため、様々な機種のオートサンプラー14に
対し、適切な作動環境パラメータの表示及び入力設定が
可能となる。
【0033】また、本実施例においては、前述した測定
条件設定部32が接続された外部記憶媒体38に前記作
動環境設定部36も接続されており、設定された作動環
境データを測定条件データと共に該外部記憶媒体38に
記憶保存できるようにしている。従って、同一のシステ
ムで再度測定を行う場合には、前記外部記憶媒体38か
らの各データをそれぞれの設定部に読み込むだけで、オ
ートサンプラー14の作動環境を含めた最適な測定条件
の設定を容易に行うことができる。さらに、本実施例に
おいては、オートサンプラー14の作動環境メモリ20
から装置間通信手段12を介して作動環境設定部36へ
作動環境データを転送可能としている。このため、オー
トサンプラー14側で既に最適な作動環境が設定されて
いる場合には、作動環境メモリ20に記憶されているそ
のデータを作動環境設定部36に転送することにより、
入力部26で再度入力することなく前記外部記憶媒体3
8に記憶保存することができる。
【0034】即ち、図2ないし図3の設定画面におい
て、メニューより「ツール」を選択すると、図4に示す
ような画面が表示されて、その指示に従って記憶形態を
選択することができる。図5には、本発明の第2実施例
にかかるシステムコントローラーを用いたオートサンプ
ラーの概略構成図が示されている。なお、前記図1と対
応する部分には符号100を加えて示し説明を省略す
る。同図において、オートサンプラー114はオートサ
ンプラー作動本体部118、注入手順制御部140、注
入手順データメモリ142、及び作動検知部144とを
有している。また、システムコントローラー110は、
CPU124、入力部126、及び表示部128とを有
しており、該CPU124はシステム制御部130、測
定条件設定部132、及び注入手順設定部146とを含
んでいる。そして、前記システムコントローラー110
において、システム制御部130に注入手順設定部14
6及び測定条件設定部132が接続されている。また、
前記注入手順設定部146、測定条件設定部132と入
力部126、表示部128が接続されており、該入力部
126により注入手順及び測定条件をそれぞれの設定部
に入力設定する。
【0035】一方、前記オートサンプラー114におい
て、オートサンプラー118に注入手順設定部140が
接続されており、該注入手順設定部140に注入手順デ
ータメモリ142が設けられている。また、該注入手順
データメモリ142は、装置間通信手段112を介し
て、前記システムコントローラー110のシステム制御
部130と接続されている。本実施例において特徴的な
ことは、前記注入手順制御部140をオートサンプラー
114に設け、オートサンプラー作動本体部118の注
入手順にかかる作動制御をオートサンプラー114側で
基本的に行うようにしたことにある。つまり、前記注入
手順設定部146において設定された注入手順のステッ
プデータ(注入するサンプル番号範囲、注入量、分析時
間、ディレイタイム等)を測定開始時にオートサンプラ
ー114の注入手順データメモリ142に一括して転送
してしまい、該データをオートサンプラー114側で管
理し実行するのである。
【0036】このため、前記ステップデータを転送した
システムコントローラー110側では、注入手順にかか
る管理制御を行う必要がなく、該システムコントローラ
ー110にかかる負担を著しく軽減することができる。
また、従来のように一測定毎にシステムコントローラー
110とオートサンプラー114間で注入手順にかかる
データ通信を行う必要がないため、通信ミスの可能性も
極めて低く、確実な注入手順制御を行うことができる。
【0037】しかしながら、本実施例において、前述し
たように注入手順データを単にオートサンプラー114
側に転送して管理制御しただけでは、アナリシスタイム
やディレイタイムが不適切に設定された場合、従来と同
様にサンプルの吸引注入作動が正常に行われなかった
り、オートサンプラー114とシステム制御部で作動制
御しているその他のシステムとの整合性がとれなくなっ
たりしてしまう。そこで、本実施例においては、オート
サンプラー114に作動検知部144を設け、該作動検
知に基づいてオートサンプラー作動本体部118及びそ
の他のシステムの作動を制御している。即ち、前記作動
検知部144は注入手順制御部140、及び装置間通信
手段112を介してシステム制御部130に接続されて
いる。また、前記注入手順制御部140も装置間通信手
段112を介してシステム制御部130に接続されてい
る。そして、注入手順制御部140は、転送された注入
手順データに従って吸引予定時間となると、前記作動検
知部144で検知されたオートサンプラー作動本体部1
18の作動状態が吸引可能状態であることを確認してか
ら吸引の指令を行う。つまり、例えば設定したディレイ
タイムが不適当であり、吸引予定時間となっても未だ系
内洗浄等を行っていて吸引できない場合は、吸引可能な
状態となるのを待って吸引開始指令を行うのである。
【0038】また、システム制御部130においても、
該システム制御部130におけるアナリシスタイムの終
了時に作動検知部144の作動状態が注入可能であるこ
とを確認してから、測定装置116の各システムに次サ
ンプル測定開始の指令を行うと同時に、注入手順制御部
140に注入開始指令を行う。つまり、例えば設定した
アナリシスタイムが不適当であり、次測定開始予定時間
となっても未だオートサンプラーが吸引途中で注入でき
ない場合には、その時点のシステム作動状態を保持しな
がら待機し、注入可能な状態となるのを待って吸引開始
指令及び次測定開始指令を行うのである。なお、前記吸
引開始指令は、前述したようにシステム制御部を介して
その他のシステムへの次測定開始指令と同時に行うこと
により、注入手順制御手段140におけるアナリシスタ
イムとシステム制御部130におけるアナリシスタイム
とにズレが生じた場合にも、オートサンプラーとその他
のシステム機器の作動の整合性を常に維持することがで
きる。
【0039】このように、本実施例は作動検知部144
によりオートサンプラー作動本体部118の作動状態を
検知し、常に吸引及び注入可能な状態で注入手順制御部
140から吸引注入指令を行うため、サンプルの抜け等
が生じることなくオートサンプラーを正常確実に作動さ
せることができる。以下、本実施例にかかるオートサン
プラーと、従来のシステムコントローラー側のみで注入
手順を管理制御したオートサンプラーとの作動を具体例
を挙げて説明する。
【0040】まず、オートサンプラーが吸引作動開始か
ら注入可能となるまでの時間を3分、注入後の洗浄等の
作動時間を2分とした場合、例1 アナリシスタイムを10分、ディレイタイムを2
分と設定 (従来) 1)8分にシステムコントローラーはサンプル吸引を指
令し、オートサンプラーは吸引作動を開始。 2)10分(0分に戻る)にシステムコントローラーは
サンプル注入を指令するが、オートサンプラーはまだサ
ンプルを吸引中なのでサンプルは注入されない。 3)1分にオートサンプラーはサンプル吸引作動を完了
してサンプル注入可能となる。しかし、システムコント
ローラーの注入命令がこないので、サンプルを保持した
まま待機する。 4)8分にシステムコントローラーが次のサンプル吸引
を指令するが、オートサンプラーは前のサンプルを保持
したままなので、サンプル吸引作動は開始されない。 5)10分(0分に戻る)にシステムコントローラーは
サンプル注入を指令し、オートサンプラーは保持してい
たサンプル(一つ前のサンプル)を注入する。以下、同
様にサンプルは1個おきに注入される。 (本実施例) 1)8分にオートサンプラーは吸引作動を開始。 2)10分(0分に戻る)にシステムコントローラーは
オートサンプラーに注入可能であるか確認する。オート
サンプラーはまだサンプルを吸引中なので、システムコ
ントローラーはアナリシスタイムの進行を停止し、現在
のシステム作動状態を保持する。 3)オートサンプラーはサンプル吸引作動を完了してサ
ンプル注入可能となる(1分後)。この時点で、システ
ムコントローラーはオートサンプラーに注入を指令し、
サンプルを注入すると共にアナリシスタイムに進行が再
開する。 以下、同様にサンプルは正常に注入される。
【0041】例2 アナリシスタイムを7分、ディレイ
タイムを6分と設定 (従来) 1)1分にシステムコントローラーはサンプル吸引を指
令するが、オートサンプラーはまだ注入後の洗浄作動中
なのでサンプル吸引は行われない。 2)7分(0分に戻る)にシステムコントローラーはサ
ンプル注入を指令するが、オートサンプラーはサンプル
を吸引していないのでサンプルは注入されない。 3)1分にシステムコントローラーは次のサンプルを指
令し、オートサンプラーはサンプル吸引作動を開始す
る。 4)4分にオートサンプラーはサンプル吸引を終了し、
注入可能状態で待機する。 5)7分(0分に戻る)にシステムコントローラーはサ
ンプル注入を指令し、オートサンプラーはサンプルを注
入する。 6)1分にシステムコントローラーはサンプル吸引を指
令するが、オートサンプラーはまだ注入後の洗浄作動中
なのでサンプル吸引は行われない。 以下、同様にサンプルは1個おきに注入される。 (本実施例) 1)1分にシステムコントローラーはサンプル吸引を指
令するが、オートサンプラーはまだ注入後の洗浄作動中
なのでサンプル吸引は行われない。 2)2分にオートサンプラーは洗浄作動を終了し、直ち
にサンプル吸引作動を開始する。 3)5分にオートサンプラーはサンプル吸引を完了し、
注入可能状態で待機する。 4)7分(0分に戻る)にシステムコントローラーはサ
ンプル注入可能か確認する。注入可能なのでオートサン
プラーに注入を指令し、オートサンプラーはサンプルを
注入する。 以下、同様にサンプルは正常に注入される。このよう
に、本実施例においては、アナリシスタイム及びディレ
イタイムの設定が不適当であってもオートサンプラーは
正常な注入作動を維持するため、これらのタイムを誰で
もが気をつかわずに設定することが可能となる。
【0042】
【発明の効果】以上説明したように、本発明にかかるシ
ステムコントローラーを用いたオートサンプラーは、そ
の作動環境設定をシステムコントローラーの大型の表示
部及び入力部を用いて行えるため、設定の際の操作性が
向上する。また、システムコントローラーで設定した注
入手順データをオートサンプラーで管理制御するため、
システムコントローラーにかかる処理能力の負担が極め
て軽減される。さらに、オートサンプラーの作動状態を
検知しながら、サンプルの吸引及び注入指令を行うた
め、サンプルの正常な注入を確実に行うことが可能とな
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例にかかるシステムコントロ
ーラーを用いたオートサンプラーの概略構成説明図であ
る。
【図2】本発明の第1実施例において、アナリシスシー
ケンスの設定画面の説明図である。
【図3】本発明の第1実施例において、オートサンプラ
ー作動環境設定画面の説明図である。
【図4】本発明の第1実施例において、パラメータ保持
画面の説明図である。
【図5】本発明の第2実施例にかかるシステムコントロ
ーラーを用いたオートサンプラーの概略構成説明図であ
る。
【符号の説明】
10、110 … システムコントローラー 12、112 … 装置間通信手段 14、114 … オートサンプラー 18、118 … オートサンプラー作動本体部 20 … 作動環境メモリ 22 … デバイスナンバーメモリ 26、126 … 入力部 28、128 … 表示部 30、130 … システム制御部 34 … 機種判別部 36 … オートサンプラー作動環境設定部 140 … 注入手順制御部 142 … 注入手順データメモリ 144 … 作動検知部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 桑嶋 幹 東京都八王子市石川町2967番地の5 日本 分光株式会社内 (72)発明者 佐藤 譲 東京都八王子市石川町2967番地の5 日本 分光株式会社内 (72)発明者 吉田 浩二 東京都八王子市石川町2967番地の5 日本 分光株式会社内 (72)発明者 阿部 仁美 東京都八王子市石川町2967番地の5 日本 分光株式会社内 (72)発明者 邵 平 東京都八王子市石川町2967番地の5 日本 分光株式会社内

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のサンプルを順次自動的にカラムに
    注入するオートサンプラーと、各測定機器の測定条件を
    統轄的に入力設定する入力部及び入力設定画面を表示す
    る表示部を有するシステムコントローラーと、 前記オートサンプラーとシステムコントローラーとを接
    続し、相互間のデータ通信可能な装置間通信手段と、を
    含み前記オートサンプラーが、 サンプル注入作動を行なうオートサンプラー作動本体部
    と、 前記作動本体部に設けられ、オートサンプラーの機種識
    別データが記憶されたデバイスナンバーメモリ部と、 前記作動本体部に設けられ、オートサンプラーの作動環
    境データを記憶する作動環境メモリ部と、を備え、 前記システムコントローラーが、 前記オートサンプラーのデバイスナンバーメモリ部に接
    続された機種判別部と、 前記入力部、表示部及び機種判別部が接続された作動環
    境設定部と、を備え、 前記機種判別部により判別した機種に対応する設定画面
    を表示部に表示し、該表示画面上において入力部よりオ
    ートサンプラーの作動環境を入力設定すると共に、該設
    定された作動環境データをシステムコントローラーの作
    動環境設定部からオートサンプラーの作動環境メモリ部
    に転送することを特徴とするシステムコントローラーを
    用いたオートサンプラー。
  2. 【請求項2】 オートサンプラー側において設定記憶さ
    れた作動環境データを、作動環境メモリ部から前記シス
    テムコントローラーの作動環境設定部に転送することを
    特徴とする請求項1記載のシステムコントローラーを用
    いたオートサンプラー。
  3. 【請求項3】 複数のサンプルを順次自動的にカラムに
    注入するオートサンプラーと、各測定機器の測定条件を
    統轄的に制御するシステムコントローラーと、 前記オートサンプラーとシステムコントローラーとを接
    続し、相互間のデータ通信可能な装置間通信手段と、を
    含み、 前記オートサンプラーが、 サンプル注入作動を行なうオートサンプラー作動本体部
    と、 前記作動本体部に接続され、オートサンプラーの作動状
    態を検知する作動検知部と、 前記作動本体部、及び作動検知部に接続され、オートサ
    ンプラーのサンプル注入手順を制御する注入手順制御部
    と、 前記注入手順制御部に設けられ、該注入手順データを記
    憶する注入手順データメモリ部と、を備え、 前記システムコントローラーが、 サンプルの注入手順データを入力する入力部と、 前記入力部からの入力に基づき注入手順データを設定
    し、かつ前記注入手順データメモリ部に接続された注入
    手順設定部と、を備え、 前記システムコントローラーの注入手順設定部において
    設定された複数の注入手順データを前記注入手順データ
    メモリ部に転送し、該転送されたオートサンプラーの注
    入手順データに基づき、かつ前記作動検知部におけるオ
    ートサンプラーの状態検知に基づきシステムコントロー
    ラーの注入手順制御部においてオートサンプラーの制御
    を行うことを特徴とするシステムコントローラーを用い
    たオートサンプラー。
  4. 【請求項4】 請求項3記載のオートサンプラーにおい
    て、 前記システムコントローラーが、各測定機器及び前記オ
    ートサンプラーの作動検知部及び注入手順制御部に接続
    されたシステム制御部を備え、 一測定毎の終了時において、前記作動検知部における注
    入可能状態検知に基づき、システム制御部から注入手順
    制御部及び各測定機器に次測定開始を指示することを特
    徴とするシステムコントローラーを用いたオートサンプ
    ラー。
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WO2021038778A1 (ja) * 2019-08-29 2021-03-04 株式会社島津製作所 クロマトグラフ用オートサンプラ
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