JPH0822763B2 - 低融点封着用組成物 - Google Patents
低融点封着用組成物Info
- Publication number
- JPH0822763B2 JPH0822763B2 JP1050924A JP5092489A JPH0822763B2 JP H0822763 B2 JPH0822763 B2 JP H0822763B2 JP 1050924 A JP1050924 A JP 1050924A JP 5092489 A JP5092489 A JP 5092489A JP H0822763 B2 JPH0822763 B2 JP H0822763B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- powder
- low
- pbo
- ceramic powder
- melting point
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000002844 melting Methods 0.000 title claims description 24
- 239000000203 mixture Substances 0.000 title claims description 20
- 238000007789 sealing Methods 0.000 title claims description 20
- 230000008018 melting Effects 0.000 title claims description 18
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims description 66
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 41
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 33
- NKZSPGSOXYXWQA-UHFFFAOYSA-N dioxido(oxo)titanium;lead(2+) Chemical compound [Pb+2].[O-][Ti]([O-])=O NKZSPGSOXYXWQA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 claims description 6
- 229910052845 zircon Inorganic materials 0.000 claims description 5
- GFQYVLUOOAAOGM-UHFFFAOYSA-N zirconium(iv) silicate Chemical compound [Zr+4].[O-][Si]([O-])([O-])[O-] GFQYVLUOOAAOGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910015902 Bi 2 O 3 Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910000174 eucryptite Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052844 willemite Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052878 cordierite Inorganic materials 0.000 claims description 2
- JSKIRARMQDRGJZ-UHFFFAOYSA-N dimagnesium dioxido-bis[(1-oxido-3-oxo-2,4,6,8,9-pentaoxa-1,3-disila-5,7-dialuminabicyclo[3.3.1]nonan-7-yl)oxy]silane Chemical compound [Mg++].[Mg++].[O-][Si]([O-])(O[Al]1O[Al]2O[Si](=O)O[Si]([O-])(O1)O2)O[Al]1O[Al]2O[Si](=O)O[Si]([O-])(O1)O2 JSKIRARMQDRGJZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 101100296545 Caenorhabditis elegans pbo-6 gene Proteins 0.000 claims 1
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 9
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N iron Substances [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 7
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 5
- 235000014692 zinc oxide Nutrition 0.000 description 5
- 230000005260 alpha ray Effects 0.000 description 4
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 4
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 4
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 3
- VTYYLEPIZMXCLO-UHFFFAOYSA-L Calcium carbonate Chemical compound [Ca+2].[O-]C([O-])=O VTYYLEPIZMXCLO-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 2
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- GNTDGMZSJNCJKK-UHFFFAOYSA-N divanadium pentaoxide Chemical compound O=[V](=O)O[V](=O)=O GNTDGMZSJNCJKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NUJOXMJBOLGQSY-UHFFFAOYSA-N manganese dioxide Chemical compound O=[Mn]=O NUJOXMJBOLGQSY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 2
- 239000004575 stone Substances 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910018068 Li 2 O Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910020617 PbO—B2O3—SiO2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L Sodium Carbonate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]C([O-])=O CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- -1 V 2 O 5 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- WNROFYMDJYEPJX-UHFFFAOYSA-K aluminium hydroxide Chemical compound [OH-].[OH-].[OH-].[Al+3] WNROFYMDJYEPJX-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 229910000416 bismuth oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- KGBXLFKZBHKPEV-UHFFFAOYSA-N boric acid Chemical compound OB(O)O KGBXLFKZBHKPEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004327 boric acid Substances 0.000 description 1
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 1
- 229910000019 calcium carbonate Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- TYIXMATWDRGMPF-UHFFFAOYSA-N dibismuth;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Bi+3].[Bi+3] TYIXMATWDRGMPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KZHJGOXRZJKJNY-UHFFFAOYSA-N dioxosilane;oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Si]=O.O=[Si]=O.O=[Al]O[Al]=O.O=[Al]O[Al]=O.O=[Al]O[Al]=O KZHJGOXRZJKJNY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- YAFKGUAJYKXPDI-UHFFFAOYSA-J lead tetrafluoride Chemical compound F[Pb](F)(F)F YAFKGUAJYKXPDI-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XGZVUEUWXADBQD-UHFFFAOYSA-L lithium carbonate Chemical compound [Li+].[Li+].[O-]C([O-])=O XGZVUEUWXADBQD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910052808 lithium carbonate Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052863 mullite Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006386 neutralization reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000005304 optical glass Substances 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CMOAHYOGLLEOGO-UHFFFAOYSA-N oxozirconium;dihydrochloride Chemical compound Cl.Cl.[Zr]=O CMOAHYOGLLEOGO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004576 sand Substances 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- LLZRNZOLAXHGLL-UHFFFAOYSA-J titanic acid Chemical compound O[Ti](O)(O)O LLZRNZOLAXHGLL-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
Landscapes
- Glass Compositions (AREA)
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、低融点封着用組成物に関し、より具体的に
は窒化アルミニウム、窒化珪素、炭化珪素、ムライト等
の低膨張のセラミックからなるICパッケージを機密封着
するのに好適な低融点封着用組成物に関するものであ
る。
は窒化アルミニウム、窒化珪素、炭化珪素、ムライト等
の低膨張のセラミックからなるICパッケージを機密封着
するのに好適な低融点封着用組成物に関するものであ
る。
[従来技術とその問題点] 窒化アルミニウム等の低膨張セラミックからなるICパ
ッケージを気密封着するのに用いられる封着材に要求さ
れる主な特性としては、低膨張のセラミックの熱膨張係
数(30〜50×10-7/℃)に近似した熱膨張係数を有する
こと、封着後に衝撃を受けた際にクラック等が生じない
ように機械的強度が高いこと、パッケージ内に搭載する
IC素子を保護するためにできるだけ低温で封着できるこ
と等が掲げられる。
ッケージを気密封着するのに用いられる封着材に要求さ
れる主な特性としては、低膨張のセラミックの熱膨張係
数(30〜50×10-7/℃)に近似した熱膨張係数を有する
こと、封着後に衝撃を受けた際にクラック等が生じない
ように機械的強度が高いこと、パッケージ内に搭載する
IC素子を保護するためにできるだけ低温で封着できるこ
と等が掲げられる。
従来よりICパッケージの封着用として、PbO−B2O3系
あるいはPbO−B2O3−SiO2系ガラス粉末が用いられてい
るが、機械的強度、熱膨張係数において不十分な点があ
るため、近年これらのガラスに各種の低膨張フィラー粉
末を加えた封着材が数多く提案されている。
あるいはPbO−B2O3−SiO2系ガラス粉末が用いられてい
るが、機械的強度、熱膨張係数において不十分な点があ
るため、近年これらのガラスに各種の低膨張フィラー粉
末を加えた封着材が数多く提案されている。
先記したように低膨張セラミックパッケージの封着材
には、熱膨張係数が低膨張セラミックのそれに近似して
いることが要求され、一般に低膨張フィラーの粒径を大
きくしたり、添加量を多くすることによって封着材の熱
膨張係数を低くすることが可能であるが、一方低膨張フ
ィラーの粒径を大きくしたり、添加量を多くすると封着
材の流動性が悪くなり、低温で封着できなくなるという
問題が生じる。
には、熱膨張係数が低膨張セラミックのそれに近似して
いることが要求され、一般に低膨張フィラーの粒径を大
きくしたり、添加量を多くすることによって封着材の熱
膨張係数を低くすることが可能であるが、一方低膨張フ
ィラーの粒径を大きくしたり、添加量を多くすると封着
材の流動性が悪くなり、低温で封着できなくなるという
問題が生じる。
[発明の目的] 本発明は上記事情に鑑みなされたもので、熱膨張係数
が低膨張セラミックのそれに近似しており、機械的強度
が高く、また低温、具体的には450℃以下で封着可能で
あり、さらにICパッケージ封着材に要求されるその他の
特性、すなわちICパッケージの封着材には、信号電流が
リークしないように絶縁抵抗が高いこと、IC素子にα線
が照射されるとソフトエラーが発生するのでα線を放出
する物質を極力含まないこと、封着後のリード線錫メッ
キ工程でガラスに錫が付着するとリード線同士が電気的
につながるため、錫付着のないこと、すなわちメッキブ
リッジを起こさないこと等の特性も満足する低融点封着
用組成物を提供することを目的とするものである。
が低膨張セラミックのそれに近似しており、機械的強度
が高く、また低温、具体的には450℃以下で封着可能で
あり、さらにICパッケージ封着材に要求されるその他の
特性、すなわちICパッケージの封着材には、信号電流が
リークしないように絶縁抵抗が高いこと、IC素子にα線
が照射されるとソフトエラーが発生するのでα線を放出
する物質を極力含まないこと、封着後のリード線錫メッ
キ工程でガラスに錫が付着するとリード線同士が電気的
につながるため、錫付着のないこと、すなわちメッキブ
リッジを起こさないこと等の特性も満足する低融点封着
用組成物を提供することを目的とするものである。
[発明の構成] 本発明は低融点ガラス粉末の組成と特定の低膨張フィ
ラー及びそれらの混合割合を限定することによって上記
目的を達成したものであり、すなわち本発明の低融点封
着用組成物は、屈伏点が350℃以下、熱膨張係数が130×
10-7/℃以下の非晶質のPbO−B2O3系低融点ガラス粉末と
とチタン酸鉛系セラミック粉末と低膨張性セラミック粉
末とから成り、これらの割合が重量比で PbO−B2O3系低融点ガラス粉末 45〜80% チタン酸鉛系セラミック粉末 3〜53% 低膨張性セラミック粉末 1〜45% の範囲にあり、上記非晶質のPbO−B2O3系低融点ガラス
粉末は、重量比でPbO 78.0〜87.0%、B2O3 8.0〜15.0
%、ZnO 0.5〜3.0%、Bi2O3 1.0〜4.0%、V2O5 0.1〜1.
5%、SiO2 0〜1.0%、Al2O3 0〜2.0%から成り、上記チ
タン酸鉛系セラミック粉末は、重量比でPbO 60.0〜75.
0%、TiO2 10.0〜35.0%、Fe2O3 0〜10.0%、WO3
0〜12.0%、CaO 0〜10%、Fe2O3+WO3+CaO 1.0〜2
0.0%から成る。
ラー及びそれらの混合割合を限定することによって上記
目的を達成したものであり、すなわち本発明の低融点封
着用組成物は、屈伏点が350℃以下、熱膨張係数が130×
10-7/℃以下の非晶質のPbO−B2O3系低融点ガラス粉末と
とチタン酸鉛系セラミック粉末と低膨張性セラミック粉
末とから成り、これらの割合が重量比で PbO−B2O3系低融点ガラス粉末 45〜80% チタン酸鉛系セラミック粉末 3〜53% 低膨張性セラミック粉末 1〜45% の範囲にあり、上記非晶質のPbO−B2O3系低融点ガラス
粉末は、重量比でPbO 78.0〜87.0%、B2O3 8.0〜15.0
%、ZnO 0.5〜3.0%、Bi2O3 1.0〜4.0%、V2O5 0.1〜1.
5%、SiO2 0〜1.0%、Al2O3 0〜2.0%から成り、上記チ
タン酸鉛系セラミック粉末は、重量比でPbO 60.0〜75.
0%、TiO2 10.0〜35.0%、Fe2O3 0〜10.0%、WO3
0〜12.0%、CaO 0〜10%、Fe2O3+WO3+CaO 1.0〜2
0.0%から成る。
本発明におけるPbO−B2O3系低融点ガラス粉末、チタ
ン酸鉛系セラミック粉末、低膨張性セラミック粉末の混
合比を上記のように限定したのは以下の理由による。
ン酸鉛系セラミック粉末、低膨張性セラミック粉末の混
合比を上記のように限定したのは以下の理由による。
すなわち低融点ガラス粉末が45%より少ない場合は封
着用組成物の流動性が悪くなり、450℃以下で封着でき
なくなる。80%より多い場合は熱膨張係数が大きくなり
すぎて耐熱衝撃強度が小さくなる。
着用組成物の流動性が悪くなり、450℃以下で封着でき
なくなる。80%より多い場合は熱膨張係数が大きくなり
すぎて耐熱衝撃強度が小さくなる。
本発明で用いるチタン酸鉛系セラミック粉末は、PbTi
O3結晶中にFe2O3、WO3またはCaOを固溶したものであ
り、各成分の含有量を上記範囲にすると通常のチタン酸
粉末よりも熱膨張係数を下げる効果が大きくなる。しか
しながらチタン酸鉛系セラミック粉末が3%より少ない
場合はこの効果が得られず、53%より多い場合はガラス
の流動性が悪くなり低温で封着できなくなる。
O3結晶中にFe2O3、WO3またはCaOを固溶したものであ
り、各成分の含有量を上記範囲にすると通常のチタン酸
粉末よりも熱膨張係数を下げる効果が大きくなる。しか
しながらチタン酸鉛系セラミック粉末が3%より少ない
場合はこの効果が得られず、53%より多い場合はガラス
の流動性が悪くなり低温で封着できなくなる。
また本発明で用いる低膨張性セラミック粉末は、ウイ
レマイト系セラミック粉末、β−ユークリプタイト粉
末、コーディエライト粉末、ジルコン系セラミック粉
末、スズ固溶体粉末の1者あるいは2者以上である。し
かしながら低膨張性セラミック粉末が1%より少ない場
合は、高い機械的強度が得られず、45%より多い場合は
チタン酸鉛系セラミック粉末の添加量が制限されるため
熱膨張係数が充分下がらなくなる。
レマイト系セラミック粉末、β−ユークリプタイト粉
末、コーディエライト粉末、ジルコン系セラミック粉
末、スズ固溶体粉末の1者あるいは2者以上である。し
かしながら低膨張性セラミック粉末が1%より少ない場
合は、高い機械的強度が得られず、45%より多い場合は
チタン酸鉛系セラミック粉末の添加量が制限されるため
熱膨張係数が充分下がらなくなる。
次に本発明で用いるPbO−B2O3系低融点ガラス粉末の
各組成を上記のように限定した理由を示す。
各組成を上記のように限定した理由を示す。
PbOが78.0%より少ない場合はガラスの粘性が大きく
なりすぎ、87.0%より多い場合はガラスが失透しやすく
なる。
なりすぎ、87.0%より多い場合はガラスが失透しやすく
なる。
B2O3が8.0%より少ない場合はガラスが失透しやすく
なり、15.0%より多い場合はガラスの粘性が大きくなり
すぎる。
なり、15.0%より多い場合はガラスの粘性が大きくなり
すぎる。
ZnOが0.5%より少ない場合はガラスが失透しやすくな
り、3.0%より多い場合はガラスの粘性が大きくなりす
ぎる。
り、3.0%より多い場合はガラスの粘性が大きくなりす
ぎる。
Bi2O3が1.0%より少ない場合はガラスが失透しやすく
なり、4.0%より多い場合はガラスの粘性が大きくなり
すぎる。
なり、4.0%より多い場合はガラスの粘性が大きくなり
すぎる。
V2O5はガラスを安定化させるのに効果があるが、0.1
%より少ない場合はその効果が得られず、1.5%より多
い場合はガラスが失透しやすくなる。
%より少ない場合はその効果が得られず、1.5%より多
い場合はガラスが失透しやすくなる。
SiO2及びAl2O3はガラスを安定化させるのに効果があ
るが、SiO2が1.0%、Al2O3が2.0%より多い場合は粘性
が大きくなりすぎる。
るが、SiO2が1.0%、Al2O3が2.0%より多い場合は粘性
が大きくなりすぎる。
尚、本発明の低融点ガラス粉末には上記したPbO、B2O
3、ZnO、Bi2O3、V2O5、SiO2、Al2O3以外にもPbF2、Sn
O2、BaO、TeO2等他成分を3.0%まで含有させることが可
能である。
3、ZnO、Bi2O3、V2O5、SiO2、Al2O3以外にもPbF2、Sn
O2、BaO、TeO2等他成分を3.0%まで含有させることが可
能である。
[実施例] 以下本発明を実施例に基づいて説明する。
第1表のガラスA〜Dは本発明に用いる非晶質のPbO
−B2O3系低融点ガラス粉末の実施例である。
−B2O3系低融点ガラス粉末の実施例である。
第1表に示した低融点ガラス粉末は光明丹、硼酸、亜
鉛華、酸化ビスマス、五酸化バナジウム、珪石粉、水酸
化アルミニウム、フッ化鉛を第1表に示す組成になるよ
うに調合、混合し、白金ルツボに入れて電気炉で約900
℃、30分間溶融した後、薄板状に成型し、アルミナボー
ルミルで粉砕し150メッシュのステンレス篩を通過させ
たものを用いた。
鉛華、酸化ビスマス、五酸化バナジウム、珪石粉、水酸
化アルミニウム、フッ化鉛を第1表に示す組成になるよ
うに調合、混合し、白金ルツボに入れて電気炉で約900
℃、30分間溶融した後、薄板状に成型し、アルミナボー
ルミルで粉砕し150メッシュのステンレス篩を通過させ
たものを用いた。
各ガラスとも屈伏点が315℃以下であるため良好な封
着特性を有しており、また熱膨張係数が122×10-7/℃以
下であるため封着材としての熱膨張係数を低下させるこ
とが容易である。
着特性を有しており、また熱膨張係数が122×10-7/℃以
下であるため封着材としての熱膨張係数を低下させるこ
とが容易である。
第2表は上記のようにして得た低融点ガラス粉末にチ
タン酸鉛系セラミック粉末及び低膨張性セラミック粉末
としてウイレマイト系セラミック粉末、β−ユークリプ
タイト粉末、ジルコン系セラミック粉末あるいはスズ固
溶体粉末を混合した実施例を示すものである。
タン酸鉛系セラミック粉末及び低膨張性セラミック粉末
としてウイレマイト系セラミック粉末、β−ユークリプ
タイト粉末、ジルコン系セラミック粉末あるいはスズ固
溶体粉末を混合した実施例を示すものである。
以下に第2表に示したチタン酸鉛系セラミック粉末及
び各低膨張性セラミック粉末について以下に説明する。
び各低膨張性セラミック粉末について以下に説明する。
まず、本発明で用いるチタン酸鉛系セラミック粉末
は、先記したようにPbTiO3結晶中にFe2O3、WO3またはCa
Oを固溶したものであり、本実施例では次のように作製
した。リサージ、酸化チタン、炭酸カルシウムをPbO 70
%、TiO2 20%、CaO 10%の組成になるように調合し、
混合後、1100℃で5時間焼成し、次いでこの焼成物を粉
砕後350メッシュのステンレス篩を通過させて平均粒径
が約5μの粉末状にした。
は、先記したようにPbTiO3結晶中にFe2O3、WO3またはCa
Oを固溶したものであり、本実施例では次のように作製
した。リサージ、酸化チタン、炭酸カルシウムをPbO 70
%、TiO2 20%、CaO 10%の組成になるように調合し、
混合後、1100℃で5時間焼成し、次いでこの焼成物を粉
砕後350メッシュのステンレス篩を通過させて平均粒径
が約5μの粉末状にした。
ウイレマイト系セラミック粉末は、亜鉛華、光学石
粉、酸化アルミニウムを重量比でZrO2 70.0%、SiO2 2
5.0%、Al2O3 5.0%の組成になるように調合し、混合
後、1440℃で15時間焼成し、次いでアルミナボールミル
で粉砕し、250メッシュのステンレス篩を通過させたも
のを用いた。
粉、酸化アルミニウムを重量比でZrO2 70.0%、SiO2 2
5.0%、Al2O3 5.0%の組成になるように調合し、混合
後、1440℃で15時間焼成し、次いでアルミナボールミル
で粉砕し、250メッシュのステンレス篩を通過させたも
のを用いた。
β−ユークリプタイト粉末は、炭酸リチウム、アルミ
ナ、光学ガラス用石粉をLi2O・Al2O3・2SiO2の組成にな
るように調合し、混合後、1250℃で5時間焼成し、次い
でボールミルで粉砕し、250メッシュのステンレス篩を
通過させたものを用いた。
ナ、光学ガラス用石粉をLi2O・Al2O3・2SiO2の組成にな
るように調合し、混合後、1250℃で5時間焼成し、次い
でボールミルで粉砕し、250メッシュのステンレス篩を
通過させたものを用いた。
ジルコン系セラミック粉末は天然のジルコンサンドを
一旦ソーダ分解し、塩酸に溶解した後、濃縮結晶化を繰
り返すことによって、α線放出物質であるU,Thの極めて
少ないオキシ塩化ジルコニウムにし、アルカリ中和後、
加熱して精製ZrO2を得、これに高純度珪石粉、酸化第2
鉄を重量比でZrO2 66%、SiO2 32%、Fe2O3 2%の組成
になるように調合し、混合した後1400℃で16時間焼成
し、次いでこの焼成物を粉砕し、250メッシュのステン
レス篩を通過させたものを用いた。
一旦ソーダ分解し、塩酸に溶解した後、濃縮結晶化を繰
り返すことによって、α線放出物質であるU,Thの極めて
少ないオキシ塩化ジルコニウムにし、アルカリ中和後、
加熱して精製ZrO2を得、これに高純度珪石粉、酸化第2
鉄を重量比でZrO2 66%、SiO2 32%、Fe2O3 2%の組成
になるように調合し、混合した後1400℃で16時間焼成
し、次いでこの焼成物を粉砕し、250メッシュのステン
レス篩を通過させたものを用いた。
スズ固溶体は、重量比でSnO2 93%、TiO2 2%、MnO2
5%になるように酸化スズ、酸化チタン、二酸化マンガ
ンを調合、混合し、1400℃で16時間焼成後、粉砕し、25
0メッシュのステンレス篩を通過させたものを用いた。
5%になるように酸化スズ、酸化チタン、二酸化マンガ
ンを調合、混合し、1400℃で16時間焼成後、粉砕し、25
0メッシュのステンレス篩を通過させたものを用いた。
上記の低融点ガラス粉末、チタン酸鉛粉末及び低膨張
性セラミック粉末を第2表に示す割合に混合した後、所
定の形状に焼成し、これを用いて熱膨張係数、抗折強度
を測定したところ、熱膨張係数は40〜55×10-7/℃、抗
折強度は610kg/cm2以上であり、良好な特性を有してい
た。
性セラミック粉末を第2表に示す割合に混合した後、所
定の形状に焼成し、これを用いて熱膨張係数、抗折強度
を測定したところ、熱膨張係数は40〜55×10-7/℃、抗
折強度は610kg/cm2以上であり、良好な特性を有してい
た。
また上記の混合物を通常行われているようにビークル
を添加してペーストを作成し、熱膨張係数が44×10-7/
℃の窒化アルミニウムからなるパッケージに印刷して封
着し、封着温度を測定したところ440℃以下の低い温度
で封着できた。
を添加してペーストを作成し、熱膨張係数が44×10-7/
℃の窒化アルミニウムからなるパッケージに印刷して封
着し、封着温度を測定したところ440℃以下の低い温度
で封着できた。
さらに上記以外にICパッケージに要求される他の特
性、すなわち絶縁抵抗、α線放出量、錫付着の発生率に
ついても各々測定したところ、絶縁抵抗(対数値)は1
3.2以上、α線放出量は0.21count/cm2・hr以下、錫付着
の発生率は0%であり、各特性とも良好であった。
性、すなわち絶縁抵抗、α線放出量、錫付着の発生率に
ついても各々測定したところ、絶縁抵抗(対数値)は1
3.2以上、α線放出量は0.21count/cm2・hr以下、錫付着
の発生率は0%であり、各特性とも良好であった。
尚、熱膨張係数は押棒式熱膨張測定装置を用いて焼成
物について計測し、抗折強度は、焼成物を10×10×50mm
の角柱に成形し、周知の3点荷重測定法によって測定し
た。また絶縁抵抗はメガオームメーターを用いて150℃
における値を測定し、α線放出量はZnSシンチレーショ
ンカウンターを用いて測定し、さらに錫付着の発生率は
28リードパッケージを作成し、このリードに錫メッキし
た後、ガラス表面を28倍の顕微鏡によって観察した結果
である。
物について計測し、抗折強度は、焼成物を10×10×50mm
の角柱に成形し、周知の3点荷重測定法によって測定し
た。また絶縁抵抗はメガオームメーターを用いて150℃
における値を測定し、α線放出量はZnSシンチレーショ
ンカウンターを用いて測定し、さらに錫付着の発生率は
28リードパッケージを作成し、このリードに錫メッキし
た後、ガラス表面を28倍の顕微鏡によって観察した結果
である。
[発明の効果] 以上のように本発明の低融点封着用組成物は、低膨張
セラミックからなるICパッケージを気密封着するのに適
しており、具体的には窒化アルミニウム、炭化珪素、窒
化珪素などの低膨張で高い熱伝導性を有するセラミック
からなるパッケージの封着材として好適である。
セラミックからなるICパッケージを気密封着するのに適
しており、具体的には窒化アルミニウム、炭化珪素、窒
化珪素などの低膨張で高い熱伝導性を有するセラミック
からなるパッケージの封着材として好適である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 23/31
Claims (2)
- 【請求項1】屈伏点が350℃以下、熱膨張係数が130×10
-7/℃以下の非晶質のPbO−B2O3系低融点ガラス粉末とチ
タン酸鉛系セラミック粉末と低膨張セラミック粉末とか
ら成り、これらの割合が重量比で PbO−B2O3系低融点ガラス粉末 45〜80% チタン酸鉛系セラミック粉末 3〜53% 低膨張性セラミック粉末 1〜45% の範囲にあり、上記非晶質のPbO−B2O3系低融点ガラス
粉末は、重量比でPbO 78.0〜87.0%、B2O3 8.0〜15.0
%、ZnO 0.5〜3.0%、Bi2O3 1.0〜4.0%、V2O5 0.1
〜1.5%、SiO2 0〜1.0%、Al2O3 0〜2.0%から成
り、上記チタン酸鉛系セラミック粉末は重量比でPbO 6
0.0〜75.0%、TiO2 10.0〜35.0%、Fe2O3 0〜10.0
%、WO3 0〜12.0%、CaO 0〜10%、Fe2O3+WO3+Ca
O 1.0〜20.0%から成る低融点封着用組成物。 - 【請求項2】低膨張性セラミック粉末が、ウイレマイト
系セラミック粉末、β−ユークリプタイト粉末、コーデ
ィエライト粉末、ジルコン系セラミック粉末、スズ固溶
体粉末の1者あるいは2者以上である特許請求の範囲第
1項記載の低融点封着用組成物。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1050924A JPH0822763B2 (ja) | 1989-03-01 | 1989-03-01 | 低融点封着用組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1050924A JPH0822763B2 (ja) | 1989-03-01 | 1989-03-01 | 低融点封着用組成物 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02229738A JPH02229738A (ja) | 1990-09-12 |
| JPH0822763B2 true JPH0822763B2 (ja) | 1996-03-06 |
Family
ID=12872353
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1050924A Expired - Lifetime JPH0822763B2 (ja) | 1989-03-01 | 1989-03-01 | 低融点封着用組成物 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0822763B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112170997A (zh) * | 2020-09-25 | 2021-01-05 | 西华大学 | Mct微波介质陶瓷与金属钎焊用玻璃钎料及其钎焊方法 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5945620B2 (ja) * | 1978-10-13 | 1984-11-07 | 日本電気硝子株式会社 | 低融点封着用組成物 |
| JPS5918132A (ja) * | 1982-07-23 | 1984-01-30 | Iwaki Glass Kk | 封着用硝子組成物 |
| JPH07102982B2 (ja) * | 1987-06-16 | 1995-11-08 | 日本電気硝子株式会社 | 低温封着用フリット |
-
1989
- 1989-03-01 JP JP1050924A patent/JPH0822763B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02229738A (ja) | 1990-09-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3424219B2 (ja) | 低融点封着用組成物 | |
| KR910001103B1 (ko) | 저융점 밀봉용 조성물 | |
| US4710479A (en) | Sealing glass composition with lead calcium titanate filler | |
| JPH07102982B2 (ja) | 低温封着用フリット | |
| JPH10251042A (ja) | シリカフィラー粉末及びガラス−セラミック組成物 | |
| JP2002037644A (ja) | 封着用ガラス及びそれを用いた封着材料 | |
| JPH0222023B2 (ja) | ||
| JPH0822763B2 (ja) | 低融点封着用組成物 | |
| JP3149929B2 (ja) | 低融点封着用組成物 | |
| JP3180299B2 (ja) | 低融点封着用組成物 | |
| JP3402314B2 (ja) | 低融点封着用組成物の製造方法及びその使用方法 | |
| JP4573204B2 (ja) | 封着用ガラス及びそれを用いた封着材料 | |
| JPH05170481A (ja) | 低融点封着組成物 | |
| JP3151794B2 (ja) | 低融点封着用組成物 | |
| JP3760455B2 (ja) | 接着用組成物 | |
| JPH0597470A (ja) | 低融点封着用組成物 | |
| JPH08231242A (ja) | 低融点封着組成物 | |
| JP2968985B2 (ja) | 低融点封着用組成物 | |
| JP3496687B2 (ja) | 低融点封着用組成物 | |
| JP3425749B2 (ja) | 封着材料 | |
| JPH02229737A (ja) | 低融点封着用組成物 | |
| JPH06171975A (ja) | 低融点封着組成物 | |
| JPH08157234A (ja) | 封着用組成物 | |
| JPH028978B2 (ja) | ||
| JPS5945620B2 (ja) | 低融点封着用組成物 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090306 Year of fee payment: 13 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |