JPH08233875A - イメージ周波数除去装置及びこれを用いたスペクトラムアナライザ - Google Patents
イメージ周波数除去装置及びこれを用いたスペクトラムアナライザInfo
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- JPH08233875A JPH08233875A JP31714395A JP31714395A JPH08233875A JP H08233875 A JPH08233875 A JP H08233875A JP 31714395 A JP31714395 A JP 31714395A JP 31714395 A JP31714395 A JP 31714395A JP H08233875 A JPH08233875 A JP H08233875A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は、他の高調波によって発生するイメ
ージスペクトラムを除去して目的とする被測定信号成分
のみのスペクトラム表示を実現することを目的とする。 【解決手段】 掃引用第１局部発振器５６の掃引周波数
ｆosc の掃引周波数を、第１掃引周波数をｆosc1と、第
２掃引周波数ｆosc2＝ｆosc1＋2ｆif2／Ｎとを切り替え
て掃引するように掃引用の第１局部発振器５６を制御す
る掃引オフセット制御部１３を設け、掃引オフセット制
御部１３で両掃引周波数ｆosc1、ｆosc2で得られた両ス
ペクトラムデータの値で小さい方のデータ値を選択して
出力するイメージ除去処理部１２を設ける構成手段。
ージスペクトラムを除去して目的とする被測定信号成分
のみのスペクトラム表示を実現することを目的とする。 【解決手段】 掃引用第１局部発振器５６の掃引周波数
ｆosc の掃引周波数を、第１掃引周波数をｆosc1と、第
２掃引周波数ｆosc2＝ｆosc1＋2ｆif2／Ｎとを切り替え
て掃引するように掃引用の第１局部発振器５６を制御す
る掃引オフセット制御部１３を設け、掃引オフセット制
御部１３で両掃引周波数ｆosc1、ｆosc2で得られた両ス
ペクトラムデータの値で小さい方のデータ値を選択して
出力するイメージ除去処理部１２を設ける構成手段。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、周波数のスペク
トラム測定分野において、Ｎ次高調波で被測定周波数信
号を混合して周波数のスペクトラム測定表示する装置に
関する。
トラム測定分野において、Ｎ次高調波で被測定周波数信
号を混合して周波数のスペクトラム測定表示する装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】従来技術の例としては、掃引する第１局
部発振器５６の掃引周波数ｆosc信号を外部出力端子１
２０に出力し、外部からの中間周波数ｆif2信号を受け
る入力端子１３０を有して、外部のミキサにより、スペ
クトラムアナライザの測定周波数の上限周波数より更に
上のＮ倍の周波数領域の被測定信号ｆhiのスペクトラム
を測定表示を行う。これについて、図３と図４を参照し
て説明する。本装置の構成は、図３に示すように、周波
数変換部５０と、入力切替器７４と、第２ＩＦフィルタ
６６と、検波部６８と、ＡＤ変換器８２と、ＡＤバッフ
ァメモリ８４と、表示処理部８６と、表示部８８とで構
成している。外部には、利用者側が用意する外部ミキサ
７２がある。周波数変換部５０は、減衰器４２と、ＹＴ
Ｆ５２と、第１ミキサ５４と、第１局部発振器５６と、
第１ＩＦフィルタ５８と、第２ミキサ６２と、第２局部
発振器６４とで構成している。
部発振器５６の掃引周波数ｆosc信号を外部出力端子１
２０に出力し、外部からの中間周波数ｆif2信号を受け
る入力端子１３０を有して、外部のミキサにより、スペ
クトラムアナライザの測定周波数の上限周波数より更に
上のＮ倍の周波数領域の被測定信号ｆhiのスペクトラム
を測定表示を行う。これについて、図３と図４を参照し
て説明する。本装置の構成は、図３に示すように、周波
数変換部５０と、入力切替器７４と、第２ＩＦフィルタ
６６と、検波部６８と、ＡＤ変換器８２と、ＡＤバッフ
ァメモリ８４と、表示処理部８６と、表示部８８とで構
成している。外部には、利用者側が用意する外部ミキサ
７２がある。周波数変換部５０は、減衰器４２と、ＹＴ
Ｆ５２と、第１ミキサ５４と、第１局部発振器５６と、
第１ＩＦフィルタ５８と、第２ミキサ６２と、第２局部
発振器６４とで構成している。
【０００３】第１に、内部の周波数変換部５０を用いた
通常のスペクトラム測定の場合について説明する。入力
端子１００に入力した被測定信号ｆinは、減衰器４２で
所望のレベルに減衰した後、ＹＴＦ５２で掃引に対応し
た目的とする周波数成分のみを通過させた後、第１ミキ
サ５４に供給する。ここで、ＹＴＦ（YIG-tuned filte
r）５２は、ＹＩＧを用いた同調フィルタであり、印加
磁界により同調周波数が可変となるフィルタ素子であ
り、掃引する第１局部発振器５６に対して周波数＝ｆos
c＋ｆif1の同調周波数に連動させて目的とする周波数成
分のみを通過させて、掃引に同期したフィルタ機能を実
現している。
通常のスペクトラム測定の場合について説明する。入力
端子１００に入力した被測定信号ｆinは、減衰器４２で
所望のレベルに減衰した後、ＹＴＦ５２で掃引に対応し
た目的とする周波数成分のみを通過させた後、第１ミキ
サ５４に供給する。ここで、ＹＴＦ（YIG-tuned filte
r）５２は、ＹＩＧを用いた同調フィルタであり、印加
磁界により同調周波数が可変となるフィルタ素子であ
り、掃引する第１局部発振器５６に対して周波数＝ｆos
c＋ｆif1の同調周波数に連動させて目的とする周波数成
分のみを通過させて、掃引に同期したフィルタ機能を実
現している。
【０００４】第１局部発振器５６は、測定周波数範囲を
掃引する発振器である。第１ミキサ５４は、上記ＹＴＦ
５２からの信号と、掃引する第１局部発振器５６とで混
合した中間周波数ｆif1を出力し、これを、第１フィル
タ５８で中間周波数ｆif1成分のみを通過させた後、第
２ミキサ６２に供給する。第２ミキサ６２は、上記第１
フィルタ５８からの中間周波数ｆif1と、固定発振器６
４とで混合し、ここの例では中間周波数ｆif2＝４２１
ＭＨｚにダウンコンバートした後、入力切替器７４を経
由して第２ＩＦフィルタ６６に供給する。第２ＩＦフィ
ルタ６６は、任意のバンド幅特性に設定できるフィルタ
であり、これにより所望の帯域条件でフィルタした後、
検波部６８で検波し、ＡＤ変換器８２でデジタル信号に
量子化し、ＡＤバッファメモリ８４に格納する。表示処
理部８６は、ＡＤバッファメモリ８４の内容を読みだし
て、各種表示形態に応じた演算処理をした後、表示部８
８で周波数スペクトラム等を表示する。
掃引する発振器である。第１ミキサ５４は、上記ＹＴＦ
５２からの信号と、掃引する第１局部発振器５６とで混
合した中間周波数ｆif1を出力し、これを、第１フィル
タ５８で中間周波数ｆif1成分のみを通過させた後、第
２ミキサ６２に供給する。第２ミキサ６２は、上記第１
フィルタ５８からの中間周波数ｆif1と、固定発振器６
４とで混合し、ここの例では中間周波数ｆif2＝４２１
ＭＨｚにダウンコンバートした後、入力切替器７４を経
由して第２ＩＦフィルタ６６に供給する。第２ＩＦフィ
ルタ６６は、任意のバンド幅特性に設定できるフィルタ
であり、これにより所望の帯域条件でフィルタした後、
検波部６８で検波し、ＡＤ変換器８２でデジタル信号に
量子化し、ＡＤバッファメモリ８４に格納する。表示処
理部８６は、ＡＤバッファメモリ８４の内容を読みだし
て、各種表示形態に応じた演算処理をした後、表示部８
８で周波数スペクトラム等を表示する。
【０００５】第２に、外部の利用者側の周波数変換機能
を用いて、スペクトラムアナライザの測定上限よりＮ倍
高い周波数信号の測定表示の場合について説明する。利
用者は、予め、測定諸元設定を、入力切替器７４を外部
入力側に切り替え、Ｎ＝５次としてスペクトラムアナラ
イザに通知設定しておく。この場合は、掃引周波数ｆos
c信号成分中に含まれているＮ次高調波（ｆosc×Ｎ）を
利用する。このＮ次高調波と被測定信号ｆhiとを混合し
て中間周波数ｆif2＝ｆhi±（ｆosc×Ｎ）の絶対値の２
つの信号を生成する。この中間周波数信号を入力端子１
３０に接続入力してスペクトラムを測定表示する。この
結果得られたスペクトラム波形の例を図４に示す。ここ
の例では、被測定信号ｆhi＝３０ＧＨｚの単一信号と仮
定し、掃引する周波数ｆosc＝４〜８ＧＨｚとし、Ｎ＝
５次の場合におけるスペクトラム波形とする。このスペ
クトラムを見ると、目的の被測定信号ｆhiによるスペク
トラムｆN5a、ｆN5b以外に、Ｎ＝４次高調波によるイメ
ージスペクトラムｆN4a、ｆN4bと、Ｎ＝６次高調波によ
るイメージスペクトラムｆN6a、ｆN6bと、Ｎ＝７次高調
波によるイメージスペクトラムｆN7a、ｆN7bが表示され
ることになる。この図において、例えばイメージスペク
トラムｆN4aは、掃引周波数が（ｆosc×４）＝３０ＧＨ
ｚ−ｆif2で生じるイメージスペクトラムであり、イメ
ージスペクトラムｆN4bは、掃引周波数が（ｆosc×４）
＝３０ＧＨｚ＋ｆif2で生じるイメージスペクトラムで
あり２本対のイメージスペクトラムを生じる。このよう
に目的のＮ＝５次で２本のスペクトラムが表示され、Ｎ
＝５以外の他のイメージスペクトラムも画面に表示され
る。
を用いて、スペクトラムアナライザの測定上限よりＮ倍
高い周波数信号の測定表示の場合について説明する。利
用者は、予め、測定諸元設定を、入力切替器７４を外部
入力側に切り替え、Ｎ＝５次としてスペクトラムアナラ
イザに通知設定しておく。この場合は、掃引周波数ｆos
c信号成分中に含まれているＮ次高調波（ｆosc×Ｎ）を
利用する。このＮ次高調波と被測定信号ｆhiとを混合し
て中間周波数ｆif2＝ｆhi±（ｆosc×Ｎ）の絶対値の２
つの信号を生成する。この中間周波数信号を入力端子１
３０に接続入力してスペクトラムを測定表示する。この
結果得られたスペクトラム波形の例を図４に示す。ここ
の例では、被測定信号ｆhi＝３０ＧＨｚの単一信号と仮
定し、掃引する周波数ｆosc＝４〜８ＧＨｚとし、Ｎ＝
５次の場合におけるスペクトラム波形とする。このスペ
クトラムを見ると、目的の被測定信号ｆhiによるスペク
トラムｆN5a、ｆN5b以外に、Ｎ＝４次高調波によるイメ
ージスペクトラムｆN4a、ｆN4bと、Ｎ＝６次高調波によ
るイメージスペクトラムｆN6a、ｆN6bと、Ｎ＝７次高調
波によるイメージスペクトラムｆN7a、ｆN7bが表示され
ることになる。この図において、例えばイメージスペク
トラムｆN4aは、掃引周波数が（ｆosc×４）＝３０ＧＨ
ｚ−ｆif2で生じるイメージスペクトラムであり、イメ
ージスペクトラムｆN4bは、掃引周波数が（ｆosc×４）
＝３０ＧＨｚ＋ｆif2で生じるイメージスペクトラムで
あり２本対のイメージスペクトラムを生じる。このよう
に目的のＮ＝５次で２本のスペクトラムが表示され、Ｎ
＝５以外の他のイメージスペクトラムも画面に表示され
る。
【０００６】この例では、単一の周波数信号の単純な場
合で説明したが、複数の周波数成分を含む被測定信号ｆ
hiを測定しようとすると、本来の信号スペクトラムと、
イメージスペクトラムとの区別がつきにくくなって利用
上の大きな不便となってしまう。
合で説明したが、複数の周波数成分を含む被測定信号ｆ
hiを測定しようとすると、本来の信号スペクトラムと、
イメージスペクトラムとの区別がつきにくくなって利用
上の大きな不便となってしまう。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】上記説明のように、ス
ペクトラムアナライザ内部においては、上記説明のよう
なイメージ信号を除去する為に、掃引する第１局部発振
器５６と同期したフィルタであるＹＴＦ５２がミキサ５
４の前に挿入されていて、不要なイメージ信号の生成を
除去するように構成されている。しかし、外部ミキサ７
２を使用する構成では、このような掃引に同期したフィ
ルタを設けることは通常困難である。この結果、図４に
示すように、本来の入力信号ｆhi成分以外の複数のイメ
ージスペクトラムが画面に表示されて見ずらく、誤認し
たりする難点があり、実用上の不便があった。
ペクトラムアナライザ内部においては、上記説明のよう
なイメージ信号を除去する為に、掃引する第１局部発振
器５６と同期したフィルタであるＹＴＦ５２がミキサ５
４の前に挿入されていて、不要なイメージ信号の生成を
除去するように構成されている。しかし、外部ミキサ７
２を使用する構成では、このような掃引に同期したフィ
ルタを設けることは通常困難である。この結果、図４に
示すように、本来の入力信号ｆhi成分以外の複数のイメ
ージスペクトラムが画面に表示されて見ずらく、誤認し
たりする難点があり、実用上の不便があった。
【０００８】そこで、本発明が解決しようとする課題
は、他の高調波によって発生するイメージスペクトラム
を除去して目的とする被測定信号ｆhi成分のみのスペク
トラム表示を実現することを目的とする。
は、他の高調波によって発生するイメージスペクトラム
を除去して目的とする被測定信号ｆhi成分のみのスペク
トラム表示を実現することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決する為の手段】第１図は、本発明による第
１の解決手段を示している。上記課題を解決するため
に、本発明の構成では、掃引用第１局部発振器５６の掃
引周波数ｆoscの掃引周波数を、第１掃引周波数をｆosc
1と、第２掃引周波数ｆosc2＝ｆosc1＋2ｆif2／Ｎとを
切り替えて掃引するように掃引用の第１局部発振器５６
を制御する掃引オフセット制御部１３を設け、掃引オフ
セット制御部１３で両掃引周波数ｆosc1、ｆosc2で得ら
れた両スペクトラムデータの値で小さい方のデータ値を
選択して出力するイメージ除去処理部１２を設ける構成
手段にする。これにより、周波数変換部５０内の掃引用
第１局部発振器５６の掃引周波数ｆosc信号を外部に出
力する外部出力端子１２０を有し、外部からの中間周波
数ｆif2信号を受ける入力端子１３０を有し、周波数変
換部５０からの中間周波数ｆif2信号か、あるいは入力
端子１３０からの中間周波数ｆif2信号を切り替える入
力切替器７４を有して、掃引用第１局部発振器５６の掃
引周波数ｆoscのＮ次高調波を使用して被測定信号ｆhi
を周波数変換して中間周波数ｆif2に変換して入力端子
１３０に供給して被測定信号ｆhiのスペクトラム測定を
イメージ信号を除去したスペクトラム信号のみの出力を
実現できる。
１の解決手段を示している。上記課題を解決するため
に、本発明の構成では、掃引用第１局部発振器５６の掃
引周波数ｆoscの掃引周波数を、第１掃引周波数をｆosc
1と、第２掃引周波数ｆosc2＝ｆosc1＋2ｆif2／Ｎとを
切り替えて掃引するように掃引用の第１局部発振器５６
を制御する掃引オフセット制御部１３を設け、掃引オフ
セット制御部１３で両掃引周波数ｆosc1、ｆosc2で得ら
れた両スペクトラムデータの値で小さい方のデータ値を
選択して出力するイメージ除去処理部１２を設ける構成
手段にする。これにより、周波数変換部５０内の掃引用
第１局部発振器５６の掃引周波数ｆosc信号を外部に出
力する外部出力端子１２０を有し、外部からの中間周波
数ｆif2信号を受ける入力端子１３０を有し、周波数変
換部５０からの中間周波数ｆif2信号か、あるいは入力
端子１３０からの中間周波数ｆif2信号を切り替える入
力切替器７４を有して、掃引用第１局部発振器５６の掃
引周波数ｆoscのＮ次高調波を使用して被測定信号ｆhi
を周波数変換して中間周波数ｆif2に変換して入力端子
１３０に供給して被測定信号ｆhiのスペクトラム測定を
イメージ信号を除去したスペクトラム信号のみの出力を
実現できる。
【００１０】第５図は、本発明による第２の解決手段を
示している。上記課題を解決するために、本発明の構成
では、掃引用第１局部発振器５６の掃引周波数ｆoscの
掃引周波数を、第１掃引周波数をｆosc1と、第２掃引周
波数ｆosc2＝ｆosc1＋2ｆif2／Ｎとを切り替えて掃引す
るように掃引用の第１局部発振器５６を制御する掃引オ
フセット制御部１３を設け、掃引オフセット制御部１３
で両掃引周波数ｆosc1、ｆosc2で得られた両スペクトラ
ムデータの値で小さい方のデータ値を選択して出力する
イメージ除去処理部１２を設ける構成手段にする。これ
により、掃引用第１局部発振器５６の掃引周波数ｆosc
のＮ次高調波を使用して被測定信号ｆhiを周波数変換し
て中間周波数ｆif2に変換して被測定信号ｆhiのスペク
トラム測定をイメージ信号を除去したスペクトラム信号
のみの出力を実現できる。
示している。上記課題を解決するために、本発明の構成
では、掃引用第１局部発振器５６の掃引周波数ｆoscの
掃引周波数を、第１掃引周波数をｆosc1と、第２掃引周
波数ｆosc2＝ｆosc1＋2ｆif2／Ｎとを切り替えて掃引す
るように掃引用の第１局部発振器５６を制御する掃引オ
フセット制御部１３を設け、掃引オフセット制御部１３
で両掃引周波数ｆosc1、ｆosc2で得られた両スペクトラ
ムデータの値で小さい方のデータ値を選択して出力する
イメージ除去処理部１２を設ける構成手段にする。これ
により、掃引用第１局部発振器５６の掃引周波数ｆosc
のＮ次高調波を使用して被測定信号ｆhiを周波数変換し
て中間周波数ｆif2に変換して被測定信号ｆhiのスペク
トラム測定をイメージ信号を除去したスペクトラム信号
のみの出力を実現できる。
【００１１】上述の構成により、掃引オフセット制御部
１３は、第１掃引周波数をｆosc1と、第２掃引周波数ｆ
osc2＝ｆosc1＋（2ｆif2／Ｎ）とを交互に掃引するよう
に掃引用の第１局部発振器５６を制御することにより、
丁度中間周波数ｆif2だけシフトした周波数変換信号を
出力することで、両掃引により目的とする信号ｆhiのみ
が重なった位置にスペクトラム信号を生成出力する作用
がある。イメージ除去処理部１２は、掃引オフセット制
御部１３で交互に掃引して得られた両スペクトラムデー
タの値で小さい方のデータ値を選択して出力することで
不必要なイメージ信号を除去するフィルタ作用がある。
全体としては、他のＮ次高調波によって発生するイメー
ジスペクトラムを除去して目的とする被測定信号ｆhi成
分のみのスペクトラム表示する機能を実現できる。
１３は、第１掃引周波数をｆosc1と、第２掃引周波数ｆ
osc2＝ｆosc1＋（2ｆif2／Ｎ）とを交互に掃引するよう
に掃引用の第１局部発振器５６を制御することにより、
丁度中間周波数ｆif2だけシフトした周波数変換信号を
出力することで、両掃引により目的とする信号ｆhiのみ
が重なった位置にスペクトラム信号を生成出力する作用
がある。イメージ除去処理部１２は、掃引オフセット制
御部１３で交互に掃引して得られた両スペクトラムデー
タの値で小さい方のデータ値を選択して出力することで
不必要なイメージ信号を除去するフィルタ作用がある。
全体としては、他のＮ次高調波によって発生するイメー
ジスペクトラムを除去して目的とする被測定信号ｆhi成
分のみのスペクトラム表示する機能を実現できる。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下に本発明の実施の形態を実施
例と共に詳細に説明する。
例と共に詳細に説明する。
【００１３】
【実施例】本発明の実施例は、掃引用の第１局部発振器
５６のＮ倍の掃引信号を使用して外部のミキサにより混
合された中間周波数ｆif2を受けて、被測定信号ｆhi以
外のイメージ信号を除去して測定表示を実現する場合で
ある。これについて、図１と図２を参照して説明する。
本装置の構成は、図１に示すように、従来構成に、イメ
ージ除去処理部１２と掃引オフセット制御部１３を追加
した構成となっている。
５６のＮ倍の掃引信号を使用して外部のミキサにより混
合された中間周波数ｆif2を受けて、被測定信号ｆhi以
外のイメージ信号を除去して測定表示を実現する場合で
ある。これについて、図１と図２を参照して説明する。
本装置の構成は、図１に示すように、従来構成に、イメ
ージ除去処理部１２と掃引オフセット制御部１３を追加
した構成となっている。
【００１４】イメージ信号を除去する原理は、目的とす
るＮ次高調波との混合成分以外であるイメージ信号を識
別した後、このイメージ信号の除去処理を行う手順で実
現する。ここで、従来例と同様に、中間周波数ｆif2＝
４２１ＭＨｚとし、被測定信号ｆhiを単一の３０ＧＨｚ
信号と仮定し、掃引周波数ｆosc＝４〜８ＧＨｚとし、
Ｎ＝５次の場合における測定として説明する。
るＮ次高調波との混合成分以外であるイメージ信号を識
別した後、このイメージ信号の除去処理を行う手順で実
現する。ここで、従来例と同様に、中間周波数ｆif2＝
４２１ＭＨｚとし、被測定信号ｆhiを単一の３０ＧＨｚ
信号と仮定し、掃引周波数ｆosc＝４〜８ＧＨｚとし、
Ｎ＝５次の場合における測定として説明する。
【００１５】第１に、イメージ信号の識別を説明する。
中間周波数ｆif2の生成は、ｆif2＝４２１ＭＨｚ＝ｆhi
±（ｆosc×Ｎ）の絶対値の２つの成分が生成される。
そこで、通常の掃引周波数ｆoscと、中間周波数ｆif2×
２だけシフトした掃引周波数ｆosc＋2ｆif2で各々掃引
を行うと、得られた信号成分の中で、目的の信号ｆhiの
場合のみ両者の掃引により検出点の位置が一致する。こ
の検出点の一致することを利用して識別する。即ち、掃
引周波数ｆoscを２つの掃引周波数を使用し、掃引を交
互に実行制御すると、図２（ａ）に示すように、４つの
信号ｆN5a、ｆN5b、ｆN5c、ｆN5dが生成される。ここ
で、第１掃引周波数をｆosc1とすると、第２掃引周波数
ｆosc2＝ｆosc1＋（2ｆif2／５）の関係にすると５次高
調波の周波数は、５×ｆosc1と、５×ｆosc2＋2ｆif2と
なり、第２掃引周波数ｆosc2は丁度中間周波数2ｆif2だ
けシフトして掃引することとなる。この結果、第２掃引
周波数ｆosc2によるスペクトラム位置は、図２（ａ）の
ｆN5c、ｆN5dの位置にシフトして現れる。ここで、注目
すべきは、丁度中間周波数2ｆif2だけシフトしている為
に、ｆN5bとｆN5cとが重なった位置に存在する点であ
る。
中間周波数ｆif2の生成は、ｆif2＝４２１ＭＨｚ＝ｆhi
±（ｆosc×Ｎ）の絶対値の２つの成分が生成される。
そこで、通常の掃引周波数ｆoscと、中間周波数ｆif2×
２だけシフトした掃引周波数ｆosc＋2ｆif2で各々掃引
を行うと、得られた信号成分の中で、目的の信号ｆhiの
場合のみ両者の掃引により検出点の位置が一致する。こ
の検出点の一致することを利用して識別する。即ち、掃
引周波数ｆoscを２つの掃引周波数を使用し、掃引を交
互に実行制御すると、図２（ａ）に示すように、４つの
信号ｆN5a、ｆN5b、ｆN5c、ｆN5dが生成される。ここ
で、第１掃引周波数をｆosc1とすると、第２掃引周波数
ｆosc2＝ｆosc1＋（2ｆif2／５）の関係にすると５次高
調波の周波数は、５×ｆosc1と、５×ｆosc2＋2ｆif2と
なり、第２掃引周波数ｆosc2は丁度中間周波数2ｆif2だ
けシフトして掃引することとなる。この結果、第２掃引
周波数ｆosc2によるスペクトラム位置は、図２（ａ）の
ｆN5c、ｆN5dの位置にシフトして現れる。ここで、注目
すべきは、丁度中間周波数2ｆif2だけシフトしている為
に、ｆN5bとｆN5cとが重なった位置に存在する点であ
る。
【００１６】掃引オフセット制御部１３は、上記説明の
第１掃引周波数をｆosc1と、第２掃引周波数ｆosc2＝ｆ
osc1＋（2ｆif2／Ｎ）とを交互に掃引するように掃引用
の第１局部発振器５６制御している。
第１掃引周波数をｆosc1と、第２掃引周波数ｆosc2＝ｆ
osc1＋（2ｆif2／Ｎ）とを交互に掃引するように掃引用
の第１局部発振器５６制御している。
【００１７】イメージ除去処理部１２は、交互に掃引し
て得られた両者のスペクトラムデータ列の並びの各デー
タ点を比較して、値の小さい方のデータを表示処理部８
６に出力することで、イメージ除去をおこなっている。
この結果、前記説明の４つの信号ｆN5a、ｆN5b、ｆN5
c、ｆN5dをこの処理を行うと、重なった位置に存在する
信号ｆN5b、ｆN5cのみが１本のスペクトラムとして出力
され図２（ｂ）に示すように表示されることとなる。同
様に、Ｎ＝４、６、７により生成されたスペクトラム信
号は、シフト周波数は、４×（2ｆif2／５）あるいは、
６×（2ｆif2／５）あるいは、７×（2ｆif2／５）とな
り、中間周波数ｆif2×２だけシフトした位置関係か
ら、何れもずれた位置になる為に、イメージ除去処理部
１２で除去される。結果として、図２（ａ）のスペクト
ラム表示から図２（ｂ）のスペクトラム表示になり、目
的とする信号のみがスペクトラムとして得られることと
なる。
て得られた両者のスペクトラムデータ列の並びの各デー
タ点を比較して、値の小さい方のデータを表示処理部８
６に出力することで、イメージ除去をおこなっている。
この結果、前記説明の４つの信号ｆN5a、ｆN5b、ｆN5
c、ｆN5dをこの処理を行うと、重なった位置に存在する
信号ｆN5b、ｆN5cのみが１本のスペクトラムとして出力
され図２（ｂ）に示すように表示されることとなる。同
様に、Ｎ＝４、６、７により生成されたスペクトラム信
号は、シフト周波数は、４×（2ｆif2／５）あるいは、
６×（2ｆif2／５）あるいは、７×（2ｆif2／５）とな
り、中間周波数ｆif2×２だけシフトした位置関係か
ら、何れもずれた位置になる為に、イメージ除去処理部
１２で除去される。結果として、図２（ａ）のスペクト
ラム表示から図２（ｂ）のスペクトラム表示になり、目
的とする信号のみがスペクトラムとして得られることと
なる。
【００１８】上記実施例の説明では、スペクトラムアナ
ライザの掃引周波数のＮ倍の周波数領域の被測定信号ｆ
hiスペクトラムのイメージ信号を除去する場合で説明し
たが、この他にも、図５に示すように、未知の周波数ｆ
hi信号をミキサの一方に供給し、掃引周波数ｆosc信号
をミキサの他方に供給して混合してスペクトラムデータ
を得る場合においても、掃引周波数ｆoscのＮ次高調波
と未知の周波数ｆhi信号によりイメージ周波数信号を生
成するイメージ周波数除去装置の場合においても適用で
き、同様にして実施できる。
ライザの掃引周波数のＮ倍の周波数領域の被測定信号ｆ
hiスペクトラムのイメージ信号を除去する場合で説明し
たが、この他にも、図５に示すように、未知の周波数ｆ
hi信号をミキサの一方に供給し、掃引周波数ｆosc信号
をミキサの他方に供給して混合してスペクトラムデータ
を得る場合においても、掃引周波数ｆoscのＮ次高調波
と未知の周波数ｆhi信号によりイメージ周波数信号を生
成するイメージ周波数除去装置の場合においても適用で
き、同様にして実施できる。
【００１９】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、下記に記載されるような効果を奏する。掃
引オフセット制御部１３は、第１掃引周波数をｆosc1
と、第２掃引周波数ｆosc2＝ｆosc1＋（2ｆif2／Ｎ）と
を交互に掃引するように掃引用の第１局部発振器５６制
御することにより、丁度中間周波数ｆif2×２だけシフ
トした周波数変換信号を出力することで、両掃引により
重なった位置にスペクトラム信号を生成する効果が得ら
れる。イメージ除去処理部１２は、掃引オフセット制御
部１３で交互に掃引して得られた両スペクトラムデータ
の値で小さい方のデータ値を選択して出力することで不
必要なイメージ信号のみを除去して出力する効果が得ら
れる。これらの結果、掃引用の第１局部発振器５６のＮ
次高調波を利用して、被測定信号ｆhiのスペクトラム測
定において、他の高調波によって発生するイメージスペ
クトラムを除去して目的とする被測定信号ｆhi成分のみ
のスペクトラム表示を実現する効果が得られ、優れた視
認性が得られ、使用者の利便性が大幅に向上する。
ているので、下記に記載されるような効果を奏する。掃
引オフセット制御部１３は、第１掃引周波数をｆosc1
と、第２掃引周波数ｆosc2＝ｆosc1＋（2ｆif2／Ｎ）と
を交互に掃引するように掃引用の第１局部発振器５６制
御することにより、丁度中間周波数ｆif2×２だけシフ
トした周波数変換信号を出力することで、両掃引により
重なった位置にスペクトラム信号を生成する効果が得ら
れる。イメージ除去処理部１２は、掃引オフセット制御
部１３で交互に掃引して得られた両スペクトラムデータ
の値で小さい方のデータ値を選択して出力することで不
必要なイメージ信号のみを除去して出力する効果が得ら
れる。これらの結果、掃引用の第１局部発振器５６のＮ
次高調波を利用して、被測定信号ｆhiのスペクトラム測
定において、他の高調波によって発生するイメージスペ
クトラムを除去して目的とする被測定信号ｆhi成分のみ
のスペクトラム表示を実現する効果が得られ、優れた視
認性が得られ、使用者の利便性が大幅に向上する。
【００２０】
【図１】本発明の、外部ミキサによるイメージ信号を除
去した被測定信号ｆhi測定のスペクトラムアナライザの
構成図である。
去した被測定信号ｆhi測定のスペクトラムアナライザの
構成図である。
【図２】（ａ）本発明の、イメージ信号を除去する前の
スペクトラム表示画面である。 （ｂ）本発明の、イメージ信号を除去した後のスペクト
ラム表示画面である。
スペクトラム表示画面である。 （ｂ）本発明の、イメージ信号を除去した後のスペクト
ラム表示画面である。
【図３】従来の、外部ミキサによる被測定信号ｆhi測定
のスペクトラムアナライザの構成図である。
のスペクトラムアナライザの構成図である。
【図４】従来の、外部ミキサによる被測定信号ｆhi測定
のスペクトラム表示画面である。
のスペクトラム表示画面である。
【図５】本発明の、イメージ信号を除去して被測定信号
ｆhiを測定するイメージ周波数除去装置の構成図であ
る。
ｆhiを測定するイメージ周波数除去装置の構成図であ
る。
１２ イメージ除去処理部 １３ 掃引オフセット制御部 ４２ 減衰器 ５０ 周波数変換部 ５２ ＹＴＦ（YIG-tuned filter） ５４ ミキサ ５６ 第１局部発振器 ５８ フィルタ ６２ 第２ミキサ ６４ 発振器 ６６ 第２ＩＦフィルタ ６８ 検波部 ７２ 外部ミキサ ７４ 入力切替器 ８２ ＡＤ変換器 ８４ ＡＤバッファメモリ ８６ 表示処理部 ８８ 表示部 １００、１３０ 入力端子 １２０ 外部出力端子 ｆin、ｆhi 周波数 ｆosc 掃引周波数 ｆif2 中間周波数
Claims (2)
- 【請求項１】 周波数変換部（５０）内の掃引用第１局
部発振器（５６）の掃引周波数（ｆosc）信号を外部に
出力する外部出力端子（１２０）を有し、外部からの中
間周波数（ｆif2）信号を受ける入力端子（１３０）を
有し、周波数変換部（５０）からの中間周波数（ｆif
2）信号か、あるいは入力端子（１３０）からの中間周
波数（ｆif2）信号を切り替える入力切替器（７４）を
有して、掃引用第１局部発振器（５６）の掃引周波数
（ｆosc）のＮ次高調波を使用して被測定信号（ｆhi）
を周波数変換して中間周波数（ｆif2）に変換して入力
端子（１３０）に供給して行う被測定信号（ｆhi）のス
ペクトラム測定において、 掃引用第１局部発振器（５６）の掃引周波数（ｆosc）
の掃引周波数を、第１掃引周波数を（ｆosc1）と、第２
掃引周波数（ｆosc2）＝（ｆosc1）＋（（2ｆif2）／
Ｎ）とを切り替えて掃引するように掃引用の第１局部発
振器（５６）を制御する掃引オフセット制御部（１３）
を設け、 当該掃引オフセット制御部（１３）で両掃引周波数（ｆ
osc1、ｆosc2）で得られた両スペクトラムデータの値で
小さい方のデータ値を選択して出力するイメージ除去処
理部（１２）を設け、 以上を具備していることを特徴としたスペクトラムアナ
ライザ。 - 【請求項２】 掃引用第１局部発振器（５６）の掃引周
波数（ｆosc）のＮ次高調波を使用して被測定信号（ｆh
i）を周波数変換して中間周波数（ｆif2）に変換して行
う被測定信号（ｆhi）のスペクトラム測定において、 掃引用第１局部発振器（５６）の掃引周波数（ｆosc）
の掃引周波数を、第１掃引周波数を（ｆosc1）と、第２
掃引周波数（ｆosc2）＝（ｆosc1）＋（（2ｆif2）／
Ｎ）とを切り替えて掃引するように掃引用の第１局部発
振器（５６）を制御する掃引オフセット制御部（１３）
を設け、 当該掃引オフセット制御部（１３）で両掃引周波数（ｆ
osc1、ｆosc2）で得られた両スペクトラムデータの値で
小さい方のデータ値を選択して出力するイメージ除去処
理部（１２）を設け、 以上を具備していることを特徴としたイメージ周波数除
去装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31714395A JPH08233875A (ja) | 1994-11-11 | 1995-11-10 | イメージ周波数除去装置及びこれを用いたスペクトラムアナライザ |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30319794 | 1994-11-11 | ||
| JP6-303197 | 1994-11-11 | ||
| JP31714395A JPH08233875A (ja) | 1994-11-11 | 1995-11-10 | イメージ周波数除去装置及びこれを用いたスペクトラムアナライザ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08233875A true JPH08233875A (ja) | 1996-09-13 |
Family
ID=26563436
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31714395A Pending JPH08233875A (ja) | 1994-11-11 | 1995-11-10 | イメージ周波数除去装置及びこれを用いたスペクトラムアナライザ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08233875A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007309708A (ja) * | 2006-05-17 | 2007-11-29 | Advantest Corp | 周波数成分測定装置 |
| JP2009139382A (ja) * | 2007-12-04 | 2009-06-25 | Headway Technologies Inc | 電子部品テスタ、スペクトラム分析装置、電子部品テスト方法および磁気ヘッド部品／磁気媒体部品用テスタ |
| JP2010073290A (ja) * | 2008-09-22 | 2010-04-02 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | オーバーライト特性の測定におけるイメージ妨害信号を回避する制御方法、および、その制御装置 |
| DE112008003254T5 (de) | 2007-12-20 | 2010-10-07 | Advantest Corp. | Frequenzcharakteristik-Messvorrichtung |
| DE112009002185T5 (de) | 2008-09-26 | 2011-11-17 | Advantest Corp. | Frequenzcharakteristik-Messvorrichtung |
| JP2014190963A (ja) * | 2013-03-28 | 2014-10-06 | Anritsu Corp | ミリ波帯スペクトラム解析装置および解析方法 |
| JP2014190964A (ja) * | 2013-03-28 | 2014-10-06 | Anritsu Corp | ミリ波帯スペクトラム解析装置および解析方法 |
| JP5947943B1 (ja) * | 2015-03-27 | 2016-07-06 | アンリツ株式会社 | 信号解析装置及び方法 |
| EP4549960A1 (en) * | 2023-10-31 | 2025-05-07 | Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG | Measurement system and method for eliminating image portions |
-
1995
- 1995-11-10 JP JP31714395A patent/JPH08233875A/ja active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007309708A (ja) * | 2006-05-17 | 2007-11-29 | Advantest Corp | 周波数成分測定装置 |
| JP2009139382A (ja) * | 2007-12-04 | 2009-06-25 | Headway Technologies Inc | 電子部品テスタ、スペクトラム分析装置、電子部品テスト方法および磁気ヘッド部品／磁気媒体部品用テスタ |
| DE112008003254T5 (de) | 2007-12-20 | 2010-10-07 | Advantest Corp. | Frequenzcharakteristik-Messvorrichtung |
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| DE112009002185T5 (de) | 2008-09-26 | 2011-11-17 | Advantest Corp. | Frequenzcharakteristik-Messvorrichtung |
| JP2014190963A (ja) * | 2013-03-28 | 2014-10-06 | Anritsu Corp | ミリ波帯スペクトラム解析装置および解析方法 |
| JP2014190964A (ja) * | 2013-03-28 | 2014-10-06 | Anritsu Corp | ミリ波帯スペクトラム解析装置および解析方法 |
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| EP4549960A1 (en) * | 2023-10-31 | 2025-05-07 | Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG | Measurement system and method for eliminating image portions |
| US12560634B2 (en) | 2023-10-31 | 2026-02-24 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Signal processing circuit and measurement system |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20030812 |