JPH08234708A - オシロスコープの表示精度検査装置 - Google Patents
オシロスコープの表示精度検査装置Info
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- JPH08234708A JPH08234708A JP7063342A JP6334295A JPH08234708A JP H08234708 A JPH08234708 A JP H08234708A JP 7063342 A JP7063342 A JP 7063342A JP 6334295 A JP6334295 A JP 6334295A JP H08234708 A JPH08234708 A JP H08234708A
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- oscilloscope
- signal
- light
- display
- analog
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 校正信号が表示されたオシロスコープ１０の
表示画面の前に、校正信号の表示波形の振幅又は周波数
に応じた位置に光通路を有する光ガイド手段１６を配置
し、これを通過する光をデジタル値に変換し、このデジ
タル値に基づき表示精度を検査する。例えば、垂直軸表
示精度を検査するときは、表示画面上の所定振幅の最大
及び最小振幅の表示位置に対応する位置に光通路を配置
し、校正信号の振幅を変化させ、光通路を通過する光の
強度が最大となるときの校正信号の振幅を求め、これと
所定振幅との比から垂直軸表示精度を得る。 【効果】 デジタル・ビデオ・カメラ等を使用せずに、
安価な構成でオシロスコープの垂直軸又は水平軸の表示
精度を自動的に検査可能である。
表示画面の前に、校正信号の表示波形の振幅又は周波数
に応じた位置に光通路を有する光ガイド手段１６を配置
し、これを通過する光をデジタル値に変換し、このデジ
タル値に基づき表示精度を検査する。例えば、垂直軸表
示精度を検査するときは、表示画面上の所定振幅の最大
及び最小振幅の表示位置に対応する位置に光通路を配置
し、校正信号の振幅を変化させ、光通路を通過する光の
強度が最大となるときの校正信号の振幅を求め、これと
所定振幅との比から垂直軸表示精度を得る。 【効果】 デジタル・ビデオ・カメラ等を使用せずに、
安価な構成でオシロスコープの垂直軸又は水平軸の表示
精度を自動的に検査可能である。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、アナログオシロスコー
プ又はデジタルオシロスコープの表示精度を検査するオ
シロスコープの表示精度検査装置に関する。
プ又はデジタルオシロスコープの表示精度を検査するオ
シロスコープの表示精度検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】オシロ
スコープの垂直表示精度又は水平表示精度を検査する場
合、通常、校正信号発生器からの値が既知である校正用
矩形波信号をオシロスコープに入力する。オシロスコー
プの垂直精度を検査する場合、例えば、振幅値１Ｖの矩
形波信号をオシロスコープに入力し、オシロスコープの
垂直軸を適当なレンジ、例えば２００ｍＶ／ｄｉｖ（目
盛り）に設定して表示する。画面上でカーソル等を使用
して、数値表示部から表示波形の振幅値を読み取り、こ
の読み取り値の１ｄｉｖに対する誤差から垂直軸の誤差
百分率を求める。また、オシロスコープの水平精度を検
査する場合、例えば、周波数１ＭＨｚ即ち周期１μｓの
矩形波信号をオシロスコープに入力し、オシロスコープ
の水平軸を適当なレンジ、例えば１μｓ／ｄｉｖに設定
し表示する。画面上でカーソル等を使用して、数値表示
部から表示波形の周期を読み取り、この読み取り値の１
ｄiｖに対する誤差から水平軸の誤差百分率を求める。
しかし、この方法では操作者がオシロスコープの管面か
ら値を読み取り、計算しなければならないため読み取り
誤差が生じ、また作業が面倒である。
スコープの垂直表示精度又は水平表示精度を検査する場
合、通常、校正信号発生器からの値が既知である校正用
矩形波信号をオシロスコープに入力する。オシロスコー
プの垂直精度を検査する場合、例えば、振幅値１Ｖの矩
形波信号をオシロスコープに入力し、オシロスコープの
垂直軸を適当なレンジ、例えば２００ｍＶ／ｄｉｖ（目
盛り）に設定して表示する。画面上でカーソル等を使用
して、数値表示部から表示波形の振幅値を読み取り、こ
の読み取り値の１ｄｉｖに対する誤差から垂直軸の誤差
百分率を求める。また、オシロスコープの水平精度を検
査する場合、例えば、周波数１ＭＨｚ即ち周期１μｓの
矩形波信号をオシロスコープに入力し、オシロスコープ
の水平軸を適当なレンジ、例えば１μｓ／ｄｉｖに設定
し表示する。画面上でカーソル等を使用して、数値表示
部から表示波形の周期を読み取り、この読み取り値の１
ｄiｖに対する誤差から水平軸の誤差百分率を求める。
しかし、この方法では操作者がオシロスコープの管面か
ら値を読み取り、計算しなければならないため読み取り
誤差が生じ、また作業が面倒である。
【０００３】特公平６ー５８５９４号明細書には、オシ
ロスコープの表示特性を自動的に確認する方法が記載さ
れている。この方法では、オシロスコープに校正用信号
を入力し、その表示画面の画像をデジタル・ビデオ・カ
メラで捕らえ、この画像を表示画面の画素マトリクスの
各画素の輝度を表すデジタル信号に変換する。このデジ
タル信号から表示画面の表示特性を表す予め定めた物理
パラメータに関してコンピュータで分析し、これらの物
理パラメータを表すグラフを表示する。デジタル・ビデ
オ・カメラで捕らえた表示画像から表示波形の振幅及び
周期を求め、校正用信号の各値と比較して、上述の如き
誤差百分率を自動的に測定することができる。しかし、
この方法ではデジタル・ビデオ・カメラを使用するため
装置が高価になると共に、レンズの歪みにより誤差も発
生する。
ロスコープの表示特性を自動的に確認する方法が記載さ
れている。この方法では、オシロスコープに校正用信号
を入力し、その表示画面の画像をデジタル・ビデオ・カ
メラで捕らえ、この画像を表示画面の画素マトリクスの
各画素の輝度を表すデジタル信号に変換する。このデジ
タル信号から表示画面の表示特性を表す予め定めた物理
パラメータに関してコンピュータで分析し、これらの物
理パラメータを表すグラフを表示する。デジタル・ビデ
オ・カメラで捕らえた表示画像から表示波形の振幅及び
周期を求め、校正用信号の各値と比較して、上述の如き
誤差百分率を自動的に測定することができる。しかし、
この方法ではデジタル・ビデオ・カメラを使用するため
装置が高価になると共に、レンズの歪みにより誤差も発
生する。
【０００４】したがって、本発明の目的は、デジタル・
ビデオ・カメラ等を使用せずに、安価な構成でオシロス
コープの垂直軸又は水平軸の表示精度を自動的に検査可
能なオシロスコープの表示精度検査装置の提供にある。
ビデオ・カメラ等を使用せずに、安価な構成でオシロス
コープの垂直軸又は水平軸の表示精度を自動的に検査可
能なオシロスコープの表示精度検査装置の提供にある。
【０００５】
【課題を解決するための手段及び作用】本発明は、オシ
ロスコープの表示画面に表示された校正信号の波形に基
づき、オシロスコープの表示精度を検査するオシロスコ
ープの表示精度検査装置であって、制御信号に応じて制
御される校正信号を発生する信号発生手段と、上記オシ
ロスコープの表示画面に表示された上記校正信号の複数
の特定位置に夫々対向して配置された入口を有する複数
の光通路が設けられた光ガイド手段と、該光ガイドの上
記光通路の出口からの光を検出する光検出手段と、該光
検出手段の出力アナログ信号をデジタル値に変換するア
ナログ・デジタル変換器と、上記信号発生手段に上記制
御信号を供給すると共に、上記アナログ・デジタル変換
器からの上記デジタル値を記憶し、該デジタル値から上
記オシロスコープの表示精度を求める制御手段とを具え
ることを特徴とする。
ロスコープの表示画面に表示された校正信号の波形に基
づき、オシロスコープの表示精度を検査するオシロスコ
ープの表示精度検査装置であって、制御信号に応じて制
御される校正信号を発生する信号発生手段と、上記オシ
ロスコープの表示画面に表示された上記校正信号の複数
の特定位置に夫々対向して配置された入口を有する複数
の光通路が設けられた光ガイド手段と、該光ガイドの上
記光通路の出口からの光を検出する光検出手段と、該光
検出手段の出力アナログ信号をデジタル値に変換するア
ナログ・デジタル変換器と、上記信号発生手段に上記制
御信号を供給すると共に、上記アナログ・デジタル変換
器からの上記デジタル値を記憶し、該デジタル値から上
記オシロスコープの表示精度を求める制御手段とを具え
ることを特徴とする。
【０００６】本発明は、オシロスコープの表示画面に表
示された校正信号の波形に基づき、オシロスコープの垂
直軸表示精度を検査するオシロスコープの表示精度検査
装置であって、制御信号に応じて所定振幅に対して振幅
を調整可能な上記校正信号を発生する校正信号発生手段
と、上記オシロスコープの表示画面に表示された上記校
正信号の上記所定振幅の位置に対向して夫々配置された
入口を有する２つの光通路が設けられた光ガイド手段
と、該光ガイドの上記光通路の出口からの光を検出する
光検出手段と、該光検出手段の出力アナログ信号をデジ
タル値に変換するアナログ・デジタル変換器と、上記信
号発生手段に上記制御信号を供給し、上記校正信号の振
幅を変化させたときの上記光通路を通過する表示画面か
らの光の強度の変化に応じた上記アナログ・デジタル変
換器からの上記デジタル値を記憶し、記憶したデジタル
値及上記所定振幅から上記オシロスコープの垂直軸精度
を求める制御手段とを具えることを特徴とする。
示された校正信号の波形に基づき、オシロスコープの垂
直軸表示精度を検査するオシロスコープの表示精度検査
装置であって、制御信号に応じて所定振幅に対して振幅
を調整可能な上記校正信号を発生する校正信号発生手段
と、上記オシロスコープの表示画面に表示された上記校
正信号の上記所定振幅の位置に対向して夫々配置された
入口を有する２つの光通路が設けられた光ガイド手段
と、該光ガイドの上記光通路の出口からの光を検出する
光検出手段と、該光検出手段の出力アナログ信号をデジ
タル値に変換するアナログ・デジタル変換器と、上記信
号発生手段に上記制御信号を供給し、上記校正信号の振
幅を変化させたときの上記光通路を通過する表示画面か
らの光の強度の変化に応じた上記アナログ・デジタル変
換器からの上記デジタル値を記憶し、記憶したデジタル
値及上記所定振幅から上記オシロスコープの垂直軸精度
を求める制御手段とを具えることを特徴とする。
【０００７】本発明は、オシロスコープの表示画面に表
示された校正信号の波形に基づき、オシロスコープの水
平軸表示精度を検査するオシロスコープの表示精度検査
装置であって、所定周波数の上記校正信号を発生する信
号発生手段と、上記オシロスコープの表示画面に表示さ
れた上記校正信号の略中央を通る水平線に沿って等間隔
で配置された入口を有する複数の光通路が設けられた光
ガイド手段と、該光ガイド手段の上記光通路の出口から
の光を検出し、該光の水平位置を表す複数の位置検出信
号を発生する光検出手段と、該光検出手段からの複数の
上記位置検出信号をデジタル値に変換するアナログ・デ
ジタル変換器と、該アナログ・デジタル変換器からの複
数の上記デジタル値を記憶し、記憶した該デジタル値及
び上記表示画面上の上記校正信号の所定周期の距離から
上記オシロスコープの水平軸精度を求める制御器とを具
えることを特徴とする。
示された校正信号の波形に基づき、オシロスコープの水
平軸表示精度を検査するオシロスコープの表示精度検査
装置であって、所定周波数の上記校正信号を発生する信
号発生手段と、上記オシロスコープの表示画面に表示さ
れた上記校正信号の略中央を通る水平線に沿って等間隔
で配置された入口を有する複数の光通路が設けられた光
ガイド手段と、該光ガイド手段の上記光通路の出口から
の光を検出し、該光の水平位置を表す複数の位置検出信
号を発生する光検出手段と、該光検出手段からの複数の
上記位置検出信号をデジタル値に変換するアナログ・デ
ジタル変換器と、該アナログ・デジタル変換器からの複
数の上記デジタル値を記憶し、記憶した該デジタル値及
び上記表示画面上の上記校正信号の所定周期の距離から
上記オシロスコープの水平軸精度を求める制御器とを具
えることを特徴とする。
【０００８】
【実施例】図１は本発明のオシロスコープの精度検査装
置を示す構成図である。オシロスコープ１０は、信号発
生器１２から入力端子に供給される校正信号を表示す
る。オシロスコープ１０の表示画面１４の前には、光ガ
イド板１６が適当な取付手段により取り付けられる。光
ガイド板１６は、図２で点線で示す様に、後述する複数
の特定の位置に直径約０.３mm程度の貫通孔である光通
路１８が形成されている。オシロスコープ１０のトレー
ス即ち輝線の幅は、光通路１８のこの直径の数倍であ
る。光ガイド板１６は、貫通孔を形成し易く安価なアル
ミニウムの様な材料で形成される。光通路１８に対向す
る表示画面１４上の位置に波形の一部が表示されると、
輝線の光は光通路１８を通過する。光通路１８はその入
り口の真正面の表示画面の部分からの光を通過させ、そ
れ以外の部分からの光を光通路１８内で良好に減衰させ
るために、内面を黒くすることが望ましい。
置を示す構成図である。オシロスコープ１０は、信号発
生器１２から入力端子に供給される校正信号を表示す
る。オシロスコープ１０の表示画面１４の前には、光ガ
イド板１６が適当な取付手段により取り付けられる。光
ガイド板１６は、図２で点線で示す様に、後述する複数
の特定の位置に直径約０.３mm程度の貫通孔である光通
路１８が形成されている。オシロスコープ１０のトレー
ス即ち輝線の幅は、光通路１８のこの直径の数倍であ
る。光ガイド板１６は、貫通孔を形成し易く安価なアル
ミニウムの様な材料で形成される。光通路１８に対向す
る表示画面１４上の位置に波形の一部が表示されると、
輝線の光は光通路１８を通過する。光通路１８はその入
り口の真正面の表示画面の部分からの光を通過させ、そ
れ以外の部分からの光を光通路１８内で良好に減衰させ
るために、内面を黒くすることが望ましい。
【０００９】光検出器２０は、複数の光検出素子２２、
マルチプレクサ２４及びアナログ・デジタル変換器（Ａ
ＤＣ）２６を有する。各光検出素子２２は光ガイド板１
６の光通路１８の出口に取り付けられ、光通路１８を通
過した光を検出して、そのアナログ出力信号をマルチプ
レクサ２２に供給する。マルチプレクサ２２は、入力選
択信号に応じて光検出素子２２の何れか１つのアナログ
出力信号を選択して、ＡＤＣ２６に供給する。ＡＤＣ２
６は、入力アナログ信号をデジタル信号に変換する。
マルチプレクサ２４及びアナログ・デジタル変換器（Ａ
ＤＣ）２６を有する。各光検出素子２２は光ガイド板１
６の光通路１８の出口に取り付けられ、光通路１８を通
過した光を検出して、そのアナログ出力信号をマルチプ
レクサ２２に供給する。マルチプレクサ２２は、入力選
択信号に応じて光検出素子２２の何れか１つのアナログ
出力信号を選択して、ＡＤＣ２６に供給する。ＡＤＣ２
６は、入力アナログ信号をデジタル信号に変換する。
【００１０】制御器２８は、マイクロプロセッサ、ラン
ダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）及び後述の所望の動
作を行うためのプログラムを蓄積するリード・オンリー
・メモリ（ＲＯＭ）を有する。制御器２８は、ＡＤＣ２
６のデジタル出力信号を受け取ってＲＡＭに蓄積した
り、入力選択信号を光検出器２０に供給したり、信号発
生器１２の出力信号の周波数、振幅を設定するための信
号設定信号を信号発生器１２に供給したり、コンピュー
タ３０との間でデータ通信を行う。コンピュータ３０
は、ＣＲＴ、液晶表示器等の表示器３２に接続される。
ダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）及び後述の所望の動
作を行うためのプログラムを蓄積するリード・オンリー
・メモリ（ＲＯＭ）を有する。制御器２８は、ＡＤＣ２
６のデジタル出力信号を受け取ってＲＡＭに蓄積した
り、入力選択信号を光検出器２０に供給したり、信号発
生器１２の出力信号の周波数、振幅を設定するための信
号設定信号を信号発生器１２に供給したり、コンピュー
タ３０との間でデータ通信を行う。コンピュータ３０
は、ＣＲＴ、液晶表示器等の表示器３２に接続される。
【００１１】図３は、表示画面１４の目盛り線、光ガイ
ド板１６に設けられた複数の光通路１８、及びこれに取
り付けられた光検出素子２２の位置関係を示す平面図で
ある。光通路１８は、１対の垂直軸精度検査用光通路１
８ｖ1、1８ｖ2及び多数の水平軸精度検査用の光通路１
８ｈ１〜１８ｈNから成る。光通路１８ｖ1及び１８ｖ2
は、表示画面１４上で校正信号の最大及び最小振幅部分
を表示する垂直位置、例えば、夫々＋２.５ｄｉｖ及び
−２.５ｄｉｖで、中心垂直目盛り線から約＋１ｄiｖ及
び−１ｄiｖの距離に位置するように形成及び配置され
る。光通路１８ｈ１〜１８ｈＮは、中心水平目盛り線か
ら少し離れた位置でこれに沿って等間隔で形成される。
この間隔は、例えば０.５ｍｍであり、輝線の幅よりも
小さくすることに留意されたい。しかし、図中では図示
の都合上、この間隔は大きく示されている。輝線の光を
遮らないために、目盛り線に光通路が重ならないように
することが望ましい。光通路に光通路１８ｖ1及び１８
ｖ2に対応して、通常のフォトダイオードである光検出
素子２２ｖ１及び２２ｖ２が取り付けられる。また、光
通路１８ｈ１〜１８ｈNに対して既知の位置関係で、１
次元位置検出フォトダイオードである細長い光検出素子
２２ｈがこれらの光通路を覆うように取付られる。この
１次元位置検出フォトダイオードは、光が照射された長
さ方向の位置を検出することが可能であり、浜松フォト
ニクス（株）により販売されている型名Ｓ５７３０等が
ある。
ド板１６に設けられた複数の光通路１８、及びこれに取
り付けられた光検出素子２２の位置関係を示す平面図で
ある。光通路１８は、１対の垂直軸精度検査用光通路１
８ｖ1、1８ｖ2及び多数の水平軸精度検査用の光通路１
８ｈ１〜１８ｈNから成る。光通路１８ｖ1及び１８ｖ2
は、表示画面１４上で校正信号の最大及び最小振幅部分
を表示する垂直位置、例えば、夫々＋２.５ｄｉｖ及び
−２.５ｄｉｖで、中心垂直目盛り線から約＋１ｄiｖ及
び−１ｄiｖの距離に位置するように形成及び配置され
る。光通路１８ｈ１〜１８ｈＮは、中心水平目盛り線か
ら少し離れた位置でこれに沿って等間隔で形成される。
この間隔は、例えば０.５ｍｍであり、輝線の幅よりも
小さくすることに留意されたい。しかし、図中では図示
の都合上、この間隔は大きく示されている。輝線の光を
遮らないために、目盛り線に光通路が重ならないように
することが望ましい。光通路に光通路１８ｖ1及び１８
ｖ2に対応して、通常のフォトダイオードである光検出
素子２２ｖ１及び２２ｖ２が取り付けられる。また、光
通路１８ｈ１〜１８ｈNに対して既知の位置関係で、１
次元位置検出フォトダイオードである細長い光検出素子
２２ｈがこれらの光通路を覆うように取付られる。この
１次元位置検出フォトダイオードは、光が照射された長
さ方向の位置を検出することが可能であり、浜松フォト
ニクス（株）により販売されている型名Ｓ５７３０等が
ある。
【００１２】次に本発明の装置によるオシロスコープ１
０の精度検査の動作を説明する。図４は、本発明による
垂直軸精度検査を説明するための図である。操作者がコ
ンピュータ３０のキーボード、表示器３２上のメニュー
等の入力手段をを使用して、垂直軸精度検査を行うため
のコマンドを入力すると、制御器２８はそれに応じた指
示信号をコンピュータ３０から受け取り、垂直精度検査
用の校正信号として、振幅±２.５Ｖ、周波数１ｋＨｚ
の矩形波信号を出力するように信号発生器１２を制御す
る。更に、表示器３２は、オシロスコープ１０を垂直軸
１Ｖ／ｄｉｖ、水平軸０.２ｍｓに設定するように操作
者に対する指示を表示する。オシロスコープ１４がデジ
タル制御可能であれば、コンピュータ３０からの指示に
応じて制御器２８を介してオシロスコープ１０を自動設
定するようにしてもよい。
０の精度検査の動作を説明する。図４は、本発明による
垂直軸精度検査を説明するための図である。操作者がコ
ンピュータ３０のキーボード、表示器３２上のメニュー
等の入力手段をを使用して、垂直軸精度検査を行うため
のコマンドを入力すると、制御器２８はそれに応じた指
示信号をコンピュータ３０から受け取り、垂直精度検査
用の校正信号として、振幅±２.５Ｖ、周波数１ｋＨｚ
の矩形波信号を出力するように信号発生器１２を制御す
る。更に、表示器３２は、オシロスコープ１０を垂直軸
１Ｖ／ｄｉｖ、水平軸０.２ｍｓに設定するように操作
者に対する指示を表示する。オシロスコープ１４がデジ
タル制御可能であれば、コンピュータ３０からの指示に
応じて制御器２８を介してオシロスコープ１０を自動設
定するようにしてもよい。
【００１３】まず、制御器２８は選択信号により、マル
チプレクサ２４が光検出素子２２ｖ1の出力信号を選択
するように制御する。このとき、光検出素子２２ｖ１が
輝線の光を検出している、即ち場合は、制御器２８は校
正信号を調整して光通路１８ｖ1が表示波形の輝線と重
ならないようにしておく。次に、制御器２８は、信号発
生器１２の正の出力電圧を例えば０.０２Ｖずつ連続的
に増加又は減少させ、光検出素子２２ｖ1から出力信号
が得られると、制御器２８はＡＤＣ２６からの対応する
デジタル値をＲＡＭに蓄積する。更に、制御器２８は信
号発生器１２の正の出力振幅を順次同一方向に変化さ
せ、各出力電圧に関するＡＤＣ２６の出力デジタル値を
ＲＡＭに蓄積する。
チプレクサ２４が光検出素子２２ｖ1の出力信号を選択
するように制御する。このとき、光検出素子２２ｖ１が
輝線の光を検出している、即ち場合は、制御器２８は校
正信号を調整して光通路１８ｖ1が表示波形の輝線と重
ならないようにしておく。次に、制御器２８は、信号発
生器１２の正の出力電圧を例えば０.０２Ｖずつ連続的
に増加又は減少させ、光検出素子２２ｖ1から出力信号
が得られると、制御器２８はＡＤＣ２６からの対応する
デジタル値をＲＡＭに蓄積する。更に、制御器２８は信
号発生器１２の正の出力振幅を順次同一方向に変化さ
せ、各出力電圧に関するＡＤＣ２６の出力デジタル値を
ＲＡＭに蓄積する。
【００１４】光検出素子２２ｖ1からの出力信号の振幅
が０になくなると、制御器２８はＲＡＭへの蓄積を中止
する。次に、制御器２８は、蓄積された値の最大値を探
し、最大値になったときの信号発生器１２の出力振幅を
得る。同一の最大値が連続して複数存在する場合は、そ
れらの真ん中の最大値に対応する信号発生器１２の正の
出力振幅を得る。これにより、表示波形の最大振幅の輝
線の中心が光通路１８ｖ1に重なったときの信号発生器
１２の第１出力電圧を得る。
が０になくなると、制御器２８はＲＡＭへの蓄積を中止
する。次に、制御器２８は、蓄積された値の最大値を探
し、最大値になったときの信号発生器１２の出力振幅を
得る。同一の最大値が連続して複数存在する場合は、そ
れらの真ん中の最大値に対応する信号発生器１２の正の
出力振幅を得る。これにより、表示波形の最大振幅の輝
線の中心が光通路１８ｖ1に重なったときの信号発生器
１２の第１出力電圧を得る。
【００１５】次に、制御器２８は入力選択信号により、
マルチプレクサ２４が光検出素子２２ｖ2を選択するよ
うに制御する。信号発生器の負の出力電圧を変化させる
以外は、光検出素子２２ｖ2に関してと同様の手順で操
作し、表示波形の最小振幅の輝線の中心が光通路１８ｖ
2に重なったときの信号発生器１２の第２出力電圧を得
る。信号発生器１２の第１及び第２出力電圧が例えば、
夫々＋２.５６Ｖ及び−２.５４であるとすると、校正信
号の振幅は、２.５６Ｖ−（−２.５４Ｖ）＝５.１Ｖと
なる。この振幅が、表示画面１４上でこれより小さい振
幅５Ｖに表示されることから、オシロスコープ１０の垂
直軸誤差百分率Ｅvは、Ｅv＝（５.０Ｖ−５.１０Ｖ）／
５Ｖ×１００％＝−２％となる。
マルチプレクサ２４が光検出素子２２ｖ2を選択するよ
うに制御する。信号発生器の負の出力電圧を変化させる
以外は、光検出素子２２ｖ2に関してと同様の手順で操
作し、表示波形の最小振幅の輝線の中心が光通路１８ｖ
2に重なったときの信号発生器１２の第２出力電圧を得
る。信号発生器１２の第１及び第２出力電圧が例えば、
夫々＋２.５６Ｖ及び−２.５４であるとすると、校正信
号の振幅は、２.５６Ｖ−（−２.５４Ｖ）＝５.１Ｖと
なる。この振幅が、表示画面１４上でこれより小さい振
幅５Ｖに表示されることから、オシロスコープ１０の垂
直軸誤差百分率Ｅvは、Ｅv＝（５.０Ｖ−５.１０Ｖ）／
５Ｖ×１００％＝−２％となる。
【００１６】図５は、本発明による水平精度検査を説明
するための図である。操作者がコンピュータ３０の入力
手段を使用して、水平軸精度検査を行うことを入力する
と、制御器２８はそれに応じた指示信号をコンピュータ
３０から受け取り、水平軸精度検査用の校正信号とし
て、振幅±２.５Ｖ、周波数１０ｋＨｚの矩形波信号を
出力するように信号発生器１２を制御する。更に、表示
器３２は、オシロスコープ１４を垂直軸１Ｖ／ｄｉｖ、
水平軸１００μｓ／ｄｉｖ設定するように操作者に対す
る指示を表示する。この設定によれば、１０ｄｉｖの水
平軸目盛りを有する表示画面１４には、１０周期分の矩
形信号波形が表示される。
するための図である。操作者がコンピュータ３０の入力
手段を使用して、水平軸精度検査を行うことを入力する
と、制御器２８はそれに応じた指示信号をコンピュータ
３０から受け取り、水平軸精度検査用の校正信号とし
て、振幅±２.５Ｖ、周波数１０ｋＨｚの矩形波信号を
出力するように信号発生器１２を制御する。更に、表示
器３２は、オシロスコープ１４を垂直軸１Ｖ／ｄｉｖ、
水平軸１００μｓ／ｄｉｖ設定するように操作者に対す
る指示を表示する。この設定によれば、１０ｄｉｖの水
平軸目盛りを有する表示画面１４には、１０周期分の矩
形信号波形が表示される。
【００１７】制御器２８は選択信号により、マルチプレ
クサ２４が光検出素子２２ｈの出力信号を選択するよう
に制御する。一次元位置検出フォトダイオードである光
検出素子２２ｈは、光通路１８ｈ１〜１８ｈＮのうち表
示波形の垂直輝線と重なりその光を通過させる複数の光
通路からの光を検出し、それに応じた位置検出信号を出
力する。この光検出素子２２ｈは、オシロスコープ１０
の１掃引期間にこれら位置検出信号を順次出力する。図
示する例では、１０周期分の表示波形から２０の位置検
出検出信号が出力信号が生成される。位置検出信号は、
ＡＤＣ２６でデジタル値に変換され、制御器２８に供給
されてＲＡＭに蓄積される。制御器２８は、蓄積したデ
ジタル値から２０個の光検出位置を表す値を求める。次
に、これらの値から、例えば、校正信号の８周期分に対
応する任意の１６個の連続する値を選択し、これらの最
大値及び最小値の差を求める。例えば、この値が７.９
ｄｉｖに相当すると、このオシロスコープ１０の水平軸
誤差百分率Ｅhは、Ｅh＝（７.９ｄiｖ−８.０ｄiｖ）／
８ｄｉｖ×１００％＝−１.２５％となる。
クサ２４が光検出素子２２ｈの出力信号を選択するよう
に制御する。一次元位置検出フォトダイオードである光
検出素子２２ｈは、光通路１８ｈ１〜１８ｈＮのうち表
示波形の垂直輝線と重なりその光を通過させる複数の光
通路からの光を検出し、それに応じた位置検出信号を出
力する。この光検出素子２２ｈは、オシロスコープ１０
の１掃引期間にこれら位置検出信号を順次出力する。図
示する例では、１０周期分の表示波形から２０の位置検
出検出信号が出力信号が生成される。位置検出信号は、
ＡＤＣ２６でデジタル値に変換され、制御器２８に供給
されてＲＡＭに蓄積される。制御器２８は、蓄積したデ
ジタル値から２０個の光検出位置を表す値を求める。次
に、これらの値から、例えば、校正信号の８周期分に対
応する任意の１６個の連続する値を選択し、これらの最
大値及び最小値の差を求める。例えば、この値が７.９
ｄｉｖに相当すると、このオシロスコープ１０の水平軸
誤差百分率Ｅhは、Ｅh＝（７.９ｄiｖ−８.０ｄiｖ）／
８ｄｉｖ×１００％＝−１.２５％となる。
【００１８】以上、本発明の一実施例について述べたが
種々の変更が可能であることは当業者には明らかであ
る。水平方向の光検出手段は、光検出器２２ｈの様な１
つの細長いものではなく、もっと短い複数の光検出器を
校正信号の表示波形の垂直輝線と対応する位置に夫々配
置してもよい。このオシロスコープの１又は複数掃引期
間に対して１つの光検出器の出力信号を処理すればよい
ので、高い周波数の水平校正信号を使用することあでき
る。
種々の変更が可能であることは当業者には明らかであ
る。水平方向の光検出手段は、光検出器２２ｈの様な１
つの細長いものではなく、もっと短い複数の光検出器を
校正信号の表示波形の垂直輝線と対応する位置に夫々配
置してもよい。このオシロスコープの１又は複数掃引期
間に対して１つの光検出器の出力信号を処理すればよい
ので、高い周波数の水平校正信号を使用することあでき
る。
【００１９】
【発明の効果】本発明のオシロスコープの表示精度検査
装置によれば、校正信号が表示されたオシロスコープの
表示画面の前に、校正信号の表示波形の振幅又は周波数
に応じた位置に光通路を有する光ガイド手段を配置し、
これを通過する光に基づき表示精度を検査できるので、
デジタル・ビデオ・カメラ等を使用せずに、安価な構成
でオシロスコープの垂直軸又は水平軸の表示精度を自動
的に検査可能である。
装置によれば、校正信号が表示されたオシロスコープの
表示画面の前に、校正信号の表示波形の振幅又は周波数
に応じた位置に光通路を有する光ガイド手段を配置し、
これを通過する光に基づき表示精度を検査できるので、
デジタル・ビデオ・カメラ等を使用せずに、安価な構成
でオシロスコープの垂直軸又は水平軸の表示精度を自動
的に検査可能である。
【図１】本発明のオシロスコープの表示精度検査装置の
構成を示すブロック図。
構成を示すブロック図。
【図２】図１の光検出器内の構成を示すブロック図。
【図３】オシロスコープの表示画面の目盛り線、光通路
及び光検出素子の位置関係を示す図。
及び光検出素子の位置関係を示す図。
【図４】本発明の装置による垂直軸表示精度検査を説明
するための図。
するための図。
【図５】本発明の装置による水平軸表示精度検査を説明
するための図。
するための図。
１０ オシロスコープ １２ 信号発生器 １４ 表示画面 １６ 光ガイド手段 １８ 光通路 ２２ 光検出手段 ２６ ＡＤＣ ２８ 制御器
Claims (3)
- 【請求項１】 オシロスコープの表示画面に表示された
校正信号の波形に基づき、オシロスコープの表示精度を
検査するオシロスコープの表示精度検査装置であって、 制御信号により制御され、上記校正信号を発生する信号
発生手段と、 上記オシロスコープの表示画面に表示された上記校正信
号の複数の特定位置に夫々対向して配置された入口を有
する複数の光通路が設けられた光ガイド手段と、 該光ガイドの上記光通路の出口からの光を検出する光検
出手段と、 該光検出手段の出力アナログ信号をデジタル値に変換す
るアナログ・デジタル変換器と、 上記信号発生手段に上記制御信号を供給すると共に、上
記アナログ・デジタル変換器からの上記デジタル値を記
憶し、該デジタル値から上記オシロスコープの表示精度
を求める制御手段とを具えることを特徴とするオシロス
コープの表示精度検査装置。 - 【請求項２】オシロスコープの表示画面に表示された校
正信号の波形に基づき、オシロスコープの垂直軸表示精
度を検査するオシロスコープの表示精度検査装置であっ
て、 制御信号に応じて所定振幅に対して振幅を調整可能な上
記校正信号を発生する信号発生手段と、 上記オシロスコープの表示画面に表示された上記校正信
号の上記所定振幅の位置に対向して夫々配置された入口
を有する２つの光通路が設けられた光ガイド手段と、 該光ガイドの上記光通路の出口からの光を検出する光検
出手段と、 該光検出手段の出力アナログ信号をデジタル値に変換す
るアナログ・デジタル変換器と、 上記信号発生手段に上記制御信号を供給し、上記校正信
号の振幅を変化させたときの上記光通路を通過する表示
画面からの光の強度の変化に応じた上記アナログ・デジ
タル変換器からの上記デジタル値を記憶し、記憶したデ
ジタル値及上記所定振幅から上記オシロスコープの垂直
軸精度を求める制御手段とを具えることを特徴とするオ
シロスコープの表示精度検査装置。 - 【請求項３】オシロスコープの表示画面に表示された校
正信号の波形に基づき、オシロスコープの水平軸表示精
度を検査するオシロスコープの表示精度検査装置であっ
て、 所定周波数の上記校正信号を発生する信号発生手段と、 上記オシロスコープの表示画面に表示された上記校正信
号の略中央を通る水平線に沿って等間隔で配置された入
口を有する複数の光通路が設けられた光ガイド手段と、 該光ガイド手段の上記光通路の出口からの光を検出し、
該光の水平位置を表す複数の位置検出信号を発生する光
検出手段と、 該光検出手段からの複数の上記位置検出信号をデジタル
値に変換するアナログ・デジタル変換器と、 該アナログ・デジタル変換器からの複数の上記デジタル
値を記憶し、記憶した該デジタル値及び上記表示画面上
の上記校正信号の所定周期の距離から上記オシロスコー
プの水平軸精度を求める制御器と、を具えることを特徴
とするオシロスコープの表示制度検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7063342A JPH08234708A (ja) | 1995-02-27 | 1995-02-27 | オシロスコープの表示精度検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7063342A JPH08234708A (ja) | 1995-02-27 | 1995-02-27 | オシロスコープの表示精度検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08234708A true JPH08234708A (ja) | 1996-09-13 |
Family
ID=13226479
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7063342A Pending JPH08234708A (ja) | 1995-02-27 | 1995-02-27 | オシロスコープの表示精度検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08234708A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106324312A (zh) * | 2016-08-03 | 2017-01-11 | 深圳市鼎阳科技有限公司 | 一种示波器垂直方向上快速精准读取数据的方法及示波器 |
-
1995
- 1995-02-27 JP JP7063342A patent/JPH08234708A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106324312A (zh) * | 2016-08-03 | 2017-01-11 | 深圳市鼎阳科技有限公司 | 一种示波器垂直方向上快速精准读取数据的方法及示波器 |
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