JPH08236557A - 半導体集積回路装置およびその製造方法 - Google Patents

半導体集積回路装置およびその製造方法

Info

Publication number
JPH08236557A
JPH08236557A JP7039857A JP3985795A JPH08236557A JP H08236557 A JPH08236557 A JP H08236557A JP 7039857 A JP7039857 A JP 7039857A JP 3985795 A JP3985795 A JP 3985795A JP H08236557 A JPH08236557 A JP H08236557A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor element
heat diffusion
diffusion member
integrated circuit
circuit device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7039857A
Other languages
English (en)
Inventor
Taku Kikuchi
卓 菊池
Hiroyuki Hozoji
裕之 宝蔵寺
Tetsuya Hayashida
哲哉 林田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP7039857A priority Critical patent/JPH08236557A/ja
Publication of JPH08236557A publication Critical patent/JPH08236557A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/50Bond wires
    • H10W72/551Materials of bond wires
    • H10W72/552Materials of bond wires comprising metals or metalloids, e.g. silver
    • H10W72/5522Materials of bond wires comprising metals or metalloids, e.g. silver comprising gold [Au]
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/851Dispositions of multiple connectors or interconnections
    • H10W72/874On different surfaces
    • H10W72/884Die-attach connectors and bond wires
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W90/00Package configurations
    • H10W90/701Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
    • H10W90/751Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
    • H10W90/756Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink

Landscapes

  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 放熱性の向上を図る樹脂封止形の半導体集積
回路装置およびその製造方法を提供する。 【構成】 半導体素子1を直接搭載しかつ半導体素子1
が発生する熱を外部に放つ熱拡散部材2と、熱拡散部材
2の外部へ延在しかつ半導体素子1の電極1aと電気的
に接続されたリードフレーム3と、熱拡散部材2とリー
ドフレーム3とを絶縁しかつ樹脂封止時に樹脂成形を行
う金型に接触する絶縁部材4とからなり、絶縁部材4が
粘着性を有しかつ細巾の絶縁性テープによって形成され
たダムバーであり、リードフレーム3のインナリード部
3aが絶縁部材4を介して熱拡散部材2に取り付けら
れ、熱拡散部材2の半導体素子搭載面2aだけが樹脂8
によって封止されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体集積回路装置お
よびその製造技術に関し、特に、樹脂によって封止を行
う半導体集積回路装置およびその製造方法に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】以下に説明する技術は、本発明を研究、
完成するに際し、本発明者によって検討されたものであ
り、その概要は次のとおりである。
【0003】電子機器やコンピュータの小形化、軽量
化、高性能化あるいは低コスト化などに伴い、実装する
半導体集積回路装置の高速化や高集積化が図られてい
る。
【0004】その結果、半導体集積回路装置におけるリ
ードフレームの微細ピッチ化、多ピン化、または外形形
状の多用化が急進展し、機能当たりの大きさも大幅に縮
小されつつある。
【0005】そこで、前記要求に対応する半導体集積回
路装置の一例として、QFP(QuadFlat Package) と称
される樹脂封止型の半導体集積回路装置が知られてい
る。このQFPに用いられるリードフレームは、半導体
素子を搭載するタブと、半導体素子の電極と電気的に接
続するインナリードと、半導体集積回路装置が実装され
るプリント基板と電気的接続を行うアウタリードとによ
って構成されている。
【0006】また、前記アウタリードは、外枠のフレー
ム上で前記インナリードと接続されている。
【0007】さらに、樹脂封止は、タブに半導体素子を
搭載し、半導体素子の電極とインナリードとをワイヤボ
ンディングによって接続した後、半導体素子とワイヤ部
とを保護するために行う。
【0008】なお、QFPについては、例えば、日経B
P社発行「実践講座VLSIパッケージング技術
(上)」1993年5月31日発行、香山晋、成瀬邦彦
(監)、85頁に記載されている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】ところが、前記した技
術において、QFPなどの樹脂封止形の半導体集積回路
装置に用いられる樹脂は、その熱伝導率が低い場合が多
い。
【0010】その結果、信号の高速化や配線の高集積化
が進むと、半導体素子の消費電力が増加した際に、放熱
性が問題とされる。
【0011】そこで、本発明の目的は、放熱性の向上を
図る樹脂封止形の半導体集積回路装置およびその製造方
法を提供することにある。
【0012】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【0013】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
【0014】すなわち、本発明による半導体集積回路装
置は、半導体素子を直接搭載しかつ前記半導体素子が発
生する熱を外部に放つ熱拡散部材と、前記熱拡散部材の
外部へ延在しかつ前記半導体素子の電極と電気的に接続
されたリードフレームと、前記熱拡散部材と前記リード
フレームとを絶縁しかつ樹脂封止時に樹脂成形を行う金
型に接触する絶縁部材とを有し、前記リードフレームの
インナリード部が前記絶縁部材を介して前記熱拡散部材
に取り付けられているものである。
【0015】また、本発明の半導体集積回路装置におけ
る絶縁部材は、粘着性を有しかつ細巾の絶縁性テープに
よって形成されたダムバーである。
【0016】さらに、本発明による半導体集積回路装置
は、前記熱拡散部材の半導体素子搭載面だけが樹脂によ
って封止されているものである。
【0017】また、本発明による半導体集積回路装置
は、前記熱拡散部材が放熱フィンを有しているものであ
る。
【0018】なお、本発明による半導体集積回路装置の
製造方法は、樹脂封止を行う際に、前記熱拡散部材と前
記金型と前記リードフレームと前記絶縁部材とによって
形成された密閉領域に樹脂を流し込み、硬化することに
よって前記半導体素子およびその周辺部を封止するもの
である。
【0019】
【作用】上記した手段によれば、半導体素子を直接搭載
しかつ半導体素子が発生する熱を外部に放つ熱拡散部材
と、熱拡散部材の外部へ延在しかつ半導体素子の電極と
電気的に接続されたリードフレームと、熱拡散部材とリ
ードフレームとを絶縁しかつ樹脂封止時に樹脂成形を行
う金型に接触する絶縁部材とを有することにより、半導
体素子が直接熱拡散部材に接触するため、半導体素子の
放熱性の向上を図ることができる。
【0020】さらに、前記絶縁部材が粘着性を有しかつ
細巾の絶縁性テープによって形成されたダムバーである
ことにより、樹脂封止の際、絶縁部材が樹脂の漏れを防
止することができる。
【0021】また、半導体素子を熱拡散部材に直接搭載
し、さらに、リードフレームのインナリード部が絶縁部
材を介して熱拡散部材に固定されていることにより、半
導体素子とインナリード部との変位を低減することがで
き、両者の位置関係を常に安定に保つことができる。
【0022】なお、熱拡散部材の半導体素子搭載面だけ
が樹脂によって封止されていることにより、半導体集積
回路装置の大きさを小形化することが可能になる。
【0023】また、熱拡散部材が放熱フィンを有するこ
とにより、半導体素子の放熱性をさらに向上させること
ができる。
【0024】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。
【0025】(実施例1)図1は本発明の半導体集積回
路装置の構造の一実施例を示す断面図、図2は本発明の
半導体集積回路装置の製造方法の一実施例を示す図であ
り、(a)は部分断面図、(b)は部分平面図、(c)
は部分断面図である。
【0026】まず、本実施例1の半導体集積回路装置の
構成について説明すると、半導体素子1を直接搭載しか
つ半導体素子1が発生する熱を外部に放つ熱拡散部材2
と、熱拡散部材2の外部へ延在しかつ半導体素子1の電
極1aと電気的に接続されたリードフレーム3と、熱拡
散部材2とリードフレーム3とを絶縁しかつ樹脂封止時
に樹脂成形を行う金型5に接触する絶縁部材4とを有
し、リードフレーム3のインナリード部3aが絶縁部材
4を介して熱拡散部材2に取り付けられている。
【0027】なお、半導体素子1は熱拡散部材2のほぼ
中央付近にペースト剤6などを介して直接固定され、さ
らに半導体素子1の電極1aは、ボンディングワイヤ7
によってリードフレーム3のインナリード部3aと接続
されている。
【0028】ここで、熱拡散部材2は、例えば、放熱性
や加工性に優れたアルミニウムなどの金属によって形成
されているものであり、本実施例1の熱拡散部材2の形
状は、所定の厚さを有した板状のものである。
【0029】また、絶縁部材4は、例えば、ポリイミド
系の絶縁材によって形成された枠状を成すものであり、
さらに粘着性を有し、かつ細巾の絶縁性テープによって
形成されたダムバーである。
【0030】したがって、枠状の絶縁性テープである絶
縁部材4は、熱拡散部材2上において、樹脂成形時に金
型5に接触する箇所、つまり熱拡散部材2上の金型5と
合わさる箇所に張り付けられている。
【0031】また、本実施例1の半導体集積回路装置
は、熱拡散部材2の半導体素子搭載面2aだけがエポキ
シ系などの樹脂8によって封止されているものであり、
熱拡散部材2の半導体素子搭載面2a以外の面は露出し
ている。
【0032】次に、本実施例1の半導体集積回路装置の
製造方法について説明する。
【0033】まず、絶縁性テープである絶縁部材4を熱
拡散部材2上の金型5と合わさる箇所に張り付ける。
【0034】さらに、リードフレーム3のインナリード
部3aを絶縁部材4に張り付けて、リードフレーム3を
熱拡散部材2に取り付ける。
【0035】その後、熱拡散部材2の半導体素子搭載面
2aの中央付近にペースト剤6を用いて半導体素子1を
固定する。つまり、半導体素子1をペースト剤6を介し
て直接熱拡散部材2に搭載する。
【0036】続いて、半導体素子1の電極1aとリード
フレーム3のインナリード部3aとを金線などのボンデ
ィングワイヤ7によってボンディングする。
【0037】その後、熱拡散部材2の半導体素子搭載面
2aだけを樹脂8によって封止する。この時、図2
(c)に示すように、熱拡散部材2と金型5とリードフ
レーム3と絶縁部材4とによって形成された密閉領域1
1に樹脂8(図1参照)を流し込み、硬化することによ
って半導体素子1およびその周辺部を封止する。
【0038】つまり、金型5をリードフレーム3のイン
ナリード部3aと接触させ、さらに支持部材10によっ
て支持された熱拡散部材2との間で所定の荷重を掛け
る。そこで、密閉領域11に前記樹脂8を流し込み、硬
化させる。
【0039】これにより、樹脂封止を終了し、続いてリ
ードフレーム3のアウタリード部3bの切断および曲げ
成形を行う。
【0040】次に、本実施例1の半導体集積回路装置に
よって得られる効果について説明する。
【0041】まず、半導体素子1を直接搭載しかつ半導
体素子1が発生する熱を外部に放つ熱拡散部材2と、熱
拡散部材2の外部へ延在しかつ半導体素子1の電極1a
と電気的に接続されたリードフレーム3と、熱拡散部材
2とリードフレーム3とを絶縁しかつ樹脂封止時に樹脂
成形を行う金型5に接触する絶縁部材4とを有すること
により、半導体素子1が直接熱拡散部材2に接触するた
め、半導体素子1の放熱性の向上を図ることができる。
【0042】さらに、放熱性の向上を図ることができる
ため、消費電力が大きい半導体素子1を搭載することが
できる。
【0043】また、半導体素子1の消費電力に合わせ
て、熱拡散部材2の大きさ、形状を変えることが容易に
できる。
【0044】なお、絶縁部材4が粘着性を有し、かつ細
巾の絶縁性テープによって形成されたダムバーであるこ
とにより、樹脂封止の際、絶縁部材4が樹脂8の漏れを
防止することができる。
【0045】また、半導体素子1を熱拡散部材2に直接
搭載し、さらに、リードフレーム3のインナリード部3
aが絶縁部材4を介して熱拡散部材2に固定されている
ことにより、半導体素子1とインナリード部3aとの変
位を低減することができ、両者の位置関係を常に安定に
保つことができる。
【0046】その結果、ボンディングワイヤの変形によ
る接続不良を低減することができる。
【0047】さらに、熱拡散部材2の半導体素子搭載面
2aだけが樹脂8によって封止されることにより、半導
体集積回路装置の大きさを小形化することが可能にな
る。
【0048】これによって、熱拡散部材2を大きくする
ことができ、放熱性を向上することができる。その結
果、前記同様に消費電力が大きな半導体素子1を搭載す
ることが可能になる。
【0049】また、樹脂封止を行う際に、熱拡散部材2
と金型5とリードフレーム3と絶縁部材4とによって形
成された密閉領域11に樹脂8を流し込み、半導体素子
1およびその周辺部を封止することによって、金型5の
形状を簡略化し、さらに、金型5の大きさを小形化する
ことができる。その結果、半導体集積回路装置の製造コ
ストを低減することができる。
【0050】(実施例2)図3は本発明の他の実施例で
ある半導体集積回路装置の構造の一例を示す断面図、図
4は本発明の他の実施例である半導体集積回路装置の製
造方法の一例を示す図であり、(a)は部分断面図、
(b)は部分平面図、(c)は部分断面図である。
【0051】本実施例2の半導体集積回路装置の構成に
ついて説明すると、半導体素子1を直接搭載しかつ半導
体素子1が発生する熱を外部に放つ熱拡散部材2と、熱
拡散部材2の外部へ延在しかつ半導体素子1の電極1a
と電気的に接続されたリードフレーム3と、熱拡散部材
2とリードフレーム3とを絶縁しかつ樹脂封止時に樹脂
成形を行う金型5に接触する絶縁部材4とを有し、リー
ドフレーム3のインナリード部3aが絶縁部材4を介し
て熱拡散部材2に取り付けられている。
【0052】ここで、本実施例2による半導体集積回路
装置の熱拡散部材2は、その断面形状が櫛状をなす放熱
フィン9を有しているものである。さらに、熱拡散部材
2は、実施例1で説明したものと同様に、例えば、放熱
性や加工性に優れたアルミニウムなどの金属によって形
成されている。
【0053】なお、本実施例2の半導体集積回路装置の
その他の構成およびその製造方法については、実施例1
で説明したものと同様であるため、その重複説明は省略
する。
【0054】本実施例2の半導体集積回路装置から得ら
れる効果は、熱拡散部材2が放熱フィン9を有している
ことにより、半導体素子1の放熱性をさらに向上できる
ことである。
【0055】なお、本実施例2の半導体集積回路装置か
ら得られるその他の効果については、実施例1で説明し
たものと同様であるため、その重複説明は省略する。
【0056】以上、本発明者によってなされた発明を実
施例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例
に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲
で種々変更可能であることは言うまでもない。
【0057】例えば、前記実施例で説明した半導体集積
回路装置は、熱拡散部材の半導体素子搭載面だけが樹脂
封止されるものであったが、図5の本発明の他の実施例
の半導体集積回路装置の断面図に示すように、熱拡散部
材2の半導体素子搭載面2aおよびそれから続く側面2
bが樹脂8によって封止されていてもよい。
【0058】また、前記実施例で説明した絶縁部材は、
粘着性を有した絶縁性テープであったが、粘着性を持た
ない絶縁性テープに高耐熱性の接着剤などを塗布して用
いてもよい。
【0059】さらに、前記絶縁部材の代わりにエポキシ
系の樹脂などを用いてもよい。つまり、熱拡散部材に前
記エポキシ系の樹脂を塗布し、そこへリードフレームの
インナリード部を取り付けても前記実施例の半導体集積
回路装置と同様のものを製造することができる。
【0060】また、前記実施例で説明した熱拡散部材
は、アルミニウムによって形成されているものであった
が、銅などの他の金属によって形成されていてもよい。
【0061】なお、前記実施例で説明した半導体集積回
路装置は、半導体素子の電極とリードフレームのインナ
リード部とがボンディングワイヤによって接続されるも
のであったが、バンプを用いたボールボンディングによ
って接続されるものであってもよい。
【0062】また、実施例2で説明した熱拡散部材の放
熱フィンの形状は、その断面形状が櫛状をなすものであ
ったが、前記放熱フィンの形状は、前記熱拡散部材の放
熱面積を拡大するものであれば他の形状であってもよ
い。
【0063】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
【0064】(1).半導体素子を直接搭載しかつ半導
体素子が発生する熱を外部に放つ熱拡散部材と、熱拡散
部材の外部へ延在しかつ半導体素子の電極と電気的に接
続されたリードフレームと、熱拡散部材とリードフレー
ムとを絶縁しかつ樹脂封止時に樹脂成形を行う金型に接
触する絶縁部材とを有することにより、半導体素子が直
接熱拡散部材に接触するため、半導体素子の放熱性の向
上を図ることができる。
【0065】(2).前記(1)により、半導体素子の
放熱性の向上を図ることができるため、消費電力が大き
い半導体素子を搭載することができる。
【0066】(3).半導体素子の消費電力に合わせ
て、熱拡散部材の大きさ、形状を変えることが容易にで
きる。
【0067】(4).絶縁部材が粘着性を有しかつ細巾
の絶縁性テープによって形成されたダムバーであること
により、樹脂封止の際、絶縁部材が樹脂の漏れを防止す
ることができる。
【0068】(5).半導体素子を熱拡散部材に直接搭
載し、さらに、リードフレームのインナリード部が絶縁
部材を介して熱拡散部材に固定されていることにより、
半導体素子とインナリード部との変位を低減することが
でき、両者の位置関係を常に安定に保つことができる。
その結果、ボンディングワイヤの変形による接続不良を
低減することができる。
【0069】(6).熱拡散部材の半導体素子搭載面だ
けが樹脂によって封止されていることにより、半導体集
積回路装置の大きさを小形化することが可能になる。
【0070】これにより、熱拡散部材を大きくすること
ができ、放熱性を向上することができる。その結果、消
費電力が大きな半導体素子を搭載することが可能にな
る。
【0071】(7).熱拡散部材が放熱フィンを有する
ことにより、半導体素子の放熱性をさらに向上させるこ
とができる。
【0072】(8).樹脂封止を行う際に、熱拡散部材
と金型とリードフレームと絶縁部材とによって形成され
た密閉領域に樹脂を流し込み、半導体素子およびその周
辺部を封止することによって、金型の形状を簡略化し、
さらに、金型の大きさを小形化することができる。その
結果、半導体集積回路装置の製造コストを低減すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の半導体集積回路装置の構造の一実施例
を示す断面図である。
【図2】本発明の半導体集積回路装置の製造方法の一実
施例を示す図であり、(a)は部分断面図、(b)は部
分平面図、(c)は部分断面図である。
【図3】本発明の他の実施例である半導体集積回路装置
の構造の一例を示す断面図である。
【図4】本発明の他の実施例である半導体集積回路装置
の製造方法の一例を示す図であり、(a)は部分断面
図、(b)は部分平面図、(c)は部分断面図である。
【図5】本発明の他の実施例である半導体集積回路装置
の構造の一例を示す断面図である。
【符号の説明】
1 半導体素子 1a 電極 2 熱拡散部材 2a 半導体素子搭載面 2b 側面 3 リードフレーム 3a インナリード部 3b アウタリード部 4 絶縁部材 5 金型 6 ペースト剤 7 ボンディングワイヤ 8 樹脂 9 放熱フィン 10 支持部材 11 密閉領域

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 樹脂封止形の半導体集積回路装置であっ
    て、 半導体素子を直接搭載し、かつ前記半導体素子が発生す
    る熱を外部に放つ熱拡散部材と、 前記熱拡散部材の外部へ延在し、かつ前記半導体素子の
    電極と電気的に接続されたリードフレームと、 前記熱拡散部材と前記リードフレームとを絶縁し、かつ
    樹脂封止時に樹脂成形を行う金型に接触する絶縁部材と
    を有し、 前記リードフレームのインナリード部が前記絶縁部材を
    介して前記熱拡散部材に取り付けられていることを特徴
    とする半導体集積回路装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の半導体集積回路装置であ
    って、前記絶縁部材が粘着性を有し、かつ細巾の絶縁性
    テープによって形成されたダムバーであることを特徴と
    する半導体集積回路装置。
  3. 【請求項3】 請求項1または2記載の半導体集積回路
    装置であって、前記熱拡散部材の半導体素子搭載面だけ
    が樹脂によって封止されていることを特徴とする半導体
    集積回路装置。
  4. 【請求項4】 請求項1,2または3記載の半導体集積
    回路装置であって、前記熱拡散部材が放熱フィンを有し
    ていることを特徴とする半導体集積回路装置。
  5. 【請求項5】 請求項1,2,3または4記載の半導体
    集積回路装置の製造方法であって、樹脂封止を行う際
    に、前記熱拡散部材と前記金型と前記リードフレームと
    前記絶縁部材とによって形成された密閉領域に樹脂を流
    し込み、硬化することによって前記半導体素子およびそ
    の周辺部を封止することを特徴とする半導体集積回路装
    置の製造方法。
JP7039857A 1995-02-28 1995-02-28 半導体集積回路装置およびその製造方法 Pending JPH08236557A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7039857A JPH08236557A (ja) 1995-02-28 1995-02-28 半導体集積回路装置およびその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7039857A JPH08236557A (ja) 1995-02-28 1995-02-28 半導体集積回路装置およびその製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH08236557A true JPH08236557A (ja) 1996-09-13

Family

ID=12564651

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7039857A Pending JPH08236557A (ja) 1995-02-28 1995-02-28 半導体集積回路装置およびその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH08236557A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110137142A (zh) * 2018-02-08 2019-08-16 浙江清华柔性电子技术研究院 导热封装结构、制作方法及具有其的可穿戴设备

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110137142A (zh) * 2018-02-08 2019-08-16 浙江清华柔性电子技术研究院 导热封装结构、制作方法及具有其的可穿戴设备
CN110137087A (zh) * 2018-02-08 2019-08-16 浙江清华柔性电子技术研究院 导热封装结构的制作方法及可穿戴设备

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3420057B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
US20090174049A1 (en) Ultra thin image sensor package structure and method for fabrication
US20020061607A1 (en) Methods of attaching a semiconductor chip to a leadframe with a footprint of about the same size as the chip and packages formed thereby
EP0582705A1 (en) Molded ring integrated circuit package
JPH08124957A (ja) 半導体集積回路
EP1396886A2 (en) Semiconductor device having the inner end of connector leads placed onto the surface of semiconductor chip
US7372129B2 (en) Two die semiconductor assembly and system including same
JPH07161876A (ja) 半導体集積回路装置およびその製造方法ならびにその製造に用いるモールド金型
JPH08139218A (ja) 混成集積回路装置およびその製造方法
CN107305879B (zh) 半导体器件及相应的方法
JP2905609B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
JP3529507B2 (ja) 半導体装置
JPH08236557A (ja) 半導体集積回路装置およびその製造方法
JPH0661408A (ja) 表面実装型半導体装置
JP3454192B2 (ja) リードフレームとそれを用いた樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JP3082507U (ja) ダブルサイドチップパッケージ
JP3528711B2 (ja) リードフレームとそれを用いた樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JPH09172126A (ja) 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JP3506341B2 (ja) 半導体装置
JPH06120403A (ja) 電子回路素子搭載用リードフレーム
JP3003653B2 (ja) ボールグリッドアレイ型半導体装置
CN2465328Y (zh) 双面晶片封装体
JPH08181266A (ja) リードフレームおよびそれを用いて構成された半導体装置
JP2795245B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
JPH1056122A (ja) 表面実装型半導体装置の製造方法および表面実装型半導体装置、およびそれに用いられるリードフレーム部材