JPH08240601A - 原子間力顕微鏡 - Google Patents

原子間力顕微鏡

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JPH08240601A
JPH08240601A JP4286295A JP4286295A JPH08240601A JP H08240601 A JPH08240601 A JP H08240601A JP 4286295 A JP4286295 A JP 4286295A JP 4286295 A JP4286295 A JP 4286295A JP H08240601 A JPH08240601 A JP H08240601A
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JP
Japan
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substrate
cantilever
atomic force
cantilevers
force microscope
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Withdrawn
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JP4286295A
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English (en)
Inventor
Takashi Sueyoshi
吉 孝 末
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Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 基板端部に形成された2種類のカンチレバー
の何れを選択しても、探針先端を中心にカンチレバーを
回転させる事を可能にする。 【構成】 端部に大小2種類のカンチレバー1a,1b
が形成された基板受け53の上に基板K´をセットし、
押さえ54により固定する。この状態で、使用すべきカ
ンチレバーの位置合わせを行う。例えば、長い方のカン
チレバー1aを使用する場合、微調捩子52を回して前
記基板受け53を移動させ、前記カンチレバー1aの先
端をレバーホルダー50の中心に持って来る。この時、
若し、短い方のカンチレバー1bを使用する場合には、
同じ様に微調捩子52を回して前記基板受け53を移動
させ、前記カンチレバー1bの先端をレバーホルダー5
0の中心に持って来る

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】 本発明は原子間力顕微鏡に関す
る。
【0002】
【従来の技術】 図1は従来の原子間力顕微鏡の機械的
構成を示すものである。図中1はカンチレバーで、その
先端部には探針2が形成されている。該カンチレバー1
は基板Kを介して矩形枠状のレバーホルダー3に取付け
られており、該レバーホルダー3はヘッド4のガイド4
Gに嵌挿されている。該ヘッド4の上部の中心部にはレ
ーザー光源5が固定されており、同上部の中心から外れ
た所にフォトディテクター体6が取付けられている。該
フォトディテクター体6は、固定台、移動台、及び、光
検出部から構成され、該光検出部は多分割されたセンサ
ーから成り、各センサーに入射する光量のバランスから
受光位置の変化を認識出来る、いわゆるPSDを構成し
ている。該フォトディテクター体6の光検出部は、駆動
機構(図示せず)により移動台を固定台上で移動させる
事により、固定台が取付けられているヘッドの面に平行
な面に沿って二次元方向に移動可能に成されている。図
中7は試料で、試料取付け台50を介して圧電走査素子
8の上面に載置され、該圧電走査素子中に設けた磁石M
の磁気により固定される。該圧電走査素子8は走査電源
からの信号によりX,Y及びZ方向に夫々微動する3つ
の圧電素子からなり、ベース9の底部9Bに固定されて
いる。該ベースの上縁部9Eには空間を介して該上縁部
と底部に螺合された昇降捩子10a,10b,10c
(図示せず)………が設けられており、該昇降捩子の中
間部に設けられている枝10Bを前記空間部において回
すことにより該昇降捩子は上下移動する。該昇降捩子1
0a,10b,10c(図示せず)………の先端部には
鋼球11が嵌め込まれており、該鋼球上にステージ底板
12が載置されている。該ステージ底板上に、X,Yス
テージ13X,13Yが載置され、該Yステージ13Y
の上に前記ヘッド4が載置されている。該各X,Yステ
ージは夫々の駆動機構(図示せず)により、前記ステー
ジ底板12上をX,Y方向に移動するように構成されて
いる。該X,Yステージ13X,13Yと前記昇降捩子
10a,10b,10c(図示せず)………は、粗動機
構であり、その中で、前記昇降捩子は前記カンチレバー
1に形成された探針2を前記試料7表面の原子間力の作
用する領域に近付けるためのものである。尚、Sは、例
えば、バネの如き弾性体で、その一端はベースの上縁部
9Eに、他端は前記ステージ底板11間に取付けられて
いる。この様な構成の原子間力顕微鏡は次の様に動作す
る。
【0003】図1に示す状態から、昇降捩子10を回す
ことによりステージ底板12、X,Yステージ13X,
13Y及びヘッド4を一体的に試料側に降下させ、カン
チレバー1の先端に形成された探針2を試料7に対して
1ナノメータ以下の距離まで近付ける。すると、前記探
針先端の原子と試料の表面原子との間に原子間力が作用
し、カンチレバー1が撓む。この時、レーザー光源5か
ら該カンチレバー1の背面(探針2が形成されている面
に対し反対の面)にレーザー光が照射されており、レー
ザー反射光の入射位置の変化がフォトディテクター6に
より検出される。原子間力顕微鏡においては、この検出
された反射光の入射位置の変化が前記カンチレバー1が
撓みに相当し、この撓みが一定、即ち、前記探針2と試
料7の間の距離の一定に保たれる様に前記圧電走査素子
8をZ方向に伸縮させながら、前記試料7に対し前記カ
ンチレバー1の探針2をX,Y方向に走査させることに
より、試料表面の凹凸を画像として得ている。
【0004】さて、前記した様に、レバー1の撓みの検
出は光てこの原理に基づきレーザー反射光の入射位置の
変化をフォトディテクタ6により検出することにより行
っていることから、レーザー光源5,カンチレバー1及
びフォトディテクタ6から成る光学系は、通常、ヘッド
内部に固定されている。この光学系の構成要素であるカ
ンチレバーは、図2に示す様に、ガラス基板とか半導体
基板の如き基板Kの端部に形成されており、この基板K
は、矩形枠状のレバーホルダー3に取り付けられ、光路
内に挿入されるわけであるが、この際、光てこ方式を利
用するので、カンチレバー1は試料表面に対し或る角度
を持つように取り付けられる。そして、前記探針2と試
料7のアプローチはヘッド4を試料側に降下させること
により行うが、図2に示す様に、試料7の観察位置(カ
ンチレバー1先端の探針2が試料7にアプローチする位
置)の周辺部に大きな凸部D(障害物)があると、前記
基板Kの方が先に該凸部Dに接触し、探針2を試料表面
にアプローチすることが出来ない。この際、前記基板K
のレバーホルダー3に対する固定角度を大きくすると、
探針先端が試料に対向しなくなり、得られる原子間力像
の分解能が著しく低下してしまう。又、前記ヘッド4を
外し、試料7をアプローチに支障のない向きに取付け直
すことも考えられるが、前記凸部Dは観察位置の周囲1
00μm程度の所にある、高さ凡そ50μm〜100μ
m程度の肉眼では確認しにくいものであることから、た
とえ、光学顕微鏡を使用しながらであっても該取付け修
正操作は極めて厄介なものとならざるを得ない。
【0005】そこで、図3に示す如き構成の原子間力顕
微鏡が考えられている。該図3中、前記図1と同じ番
号,記号の付されたもの同一構成要素である。図中14
はYステージ13Y上に載置された回転ステージで、該
回転ステージの上にヘッド4が載置されている。該回転
ステージは回転駆動機構(図示せず)により、前記Yス
テージ13Y上を回転するように構成されている。
【0006】この様な構成の原子間力顕微鏡において、
カンチレバー1を組み込んだヘッド4を回転ステージ1
4上に載置した後、昇降捩子10a,10b,10c
(図示せず)……を回すことによりステージ底板12、
X,Yステージ13X,13Y、回転テージ14及びヘ
ッド4を一体的に試料側に降下させる。この際、例え
ば、光学顕微鏡により試料表面に凸部D(障害物)を発
見し、このまま前記ヘッド4を降下させると、カンチレ
バー1の基板Kが該凸部に接触する恐れがある場合、予
め、回転駆動機構(図示せず)により、前記回転ステー
ジ14をYステージ13Yの上で回転させ、一体化して
ヘッド4もレーザー光軸Oを中心に回転させる。該回転
により、前記基板Kが前記凸部Dに接触しない位置へ持
って行く。例えば、図3(B)に示す様に、回転ステー
ジ14を回転させ、ヘッド4を破線から実線に示す様に
回転移動させる。この様な動作により、光学系(レーザ
ー光源5,カンチレバー1及びフォトディテクタ6から
成る)の位置関係を維持したまま、探針2の先端を中心
にしてヘッド4が回転するので、観察位置を変えずに障
害物 (凸部D)への接触を回避することが出来る。
尚、原子間力顕微鏡の走査範囲は極めて狭いので、その
走査範囲において、基板が一度避けた障害物に当たる事
はない。この状態で、前記昇降捩子10a,10b,1
0c(図示せず)……を回し、カンチレバー1の先端に
形成された探針2を試料7に対して1ナノメータ以下の
距離まで近付け、前記図1にて説明した様に試料表面の
凹凸を画像として得る。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】さて、前記図3に示す
如き構成の原子間力顕微鏡で使用されるカンチレバー1
は、前記した様に、ガラス基板とか半導体基板の如き基
板の端部に形成されるが、通常、図4に示す様に、ハン
ドリングを考慮したサイズ(幅2mm、長さ3〜4mm
程度)の基板K´の端部にバネ定数(長さ)の異なる2
種類のカンチレバー1a,1bが形成されたものが市販
されている。この基板K´は、図5に示す様に、矩形枠
状のレバーホルダー30の溝31内に押さえ32で支持
される様に収められる。該押さえは、前記レバーホルダ
ー30の裏面側からバネ33により引っ張られているの
で、前記基板K´は前記溝31内に固定される。そし
て、使用しない方のカンチレバーを取り除く(破壊す
る)。尚、前記溝31は、大略、基板K´が丁度嵌ま
り、該丁度嵌まった時にレーザー光源5の光軸O上に2
つのカンチレバー1a,1bを結ぶラインPと基板K´
の中心線Lの交点が位置する様な形状に作られている。
【0008】所で、前記の如き基板端部に形成された2
種類のカンチレバーの何れかを選択して使用するタイプ
の基板においては、該基板K´の中心線L上にはカンチ
レバー先端の探針が位置しないので、この様なタイプの
基板を、前記図3に示す如き、障害物への接触を回避す
る為に探針の先端を中心にしてヘッド4を回転させる原
子間力顕微鏡に使用するには、カンチレバーホルダーの
基板取付け溝を、選択されるカンチレバーに応じて反長
手方向にずらして形成しなければならない。しかし、前
記カンチレバーホルダーの基板取付け溝は最初に形成し
たらそのままの固定溝なので、前記2種類のカンチレバ
ーの何れかを選択して使用するタイプの基板は使用困難
となる。又、カンチレバーの長さが2種類あるために基
板の長手方向のずれも発生する。
【0009】本発明は、この様な問題に解決する為に成
されたもので、基板端部に形成された2種類のカンチレ
バーの何れを選択しても、探針先端を中心にカンチレバ
ーを回転させることの出来る新規な原子間力顕微鏡を提
供することを目的とするものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】 その為に、本発明は、
その先端に探針が形成された夫々互いに長さの異なる複
数のカンチレバーを設けた基板と、前記カンチレバーに
光を照射するための光源と、前記カンチレバーで反射し
た光の位置ずれを検出する光検出器とを設けたヘッド、
及び、試料を載置し前記探針を前記試料表面の原子間力
の作用する領域内で3次元的に運動させるための微動機
構を設けたベースを具備しており、前記基板をホルダー
に取付け、該ホルダーを前記ヘッドに組込む様に成した
原子間力顕微鏡であって、前記ホルダーに、前記基板が
前記複数のカンチレバーの先端を結ぶラインに平行に滑
動可能な基板保持用の溝を設けた。
【0011】
【作用】 レバーホルダーに、基板が、該基板に形成さ
れた複数のカンチレバーの先端を結ぶラインに平行に滑
動可能な基板保持用の溝を設ける様に成したので、基板
端部に形成された2種類のカンチレバーの何れを選択し
ても、選択されたカンチレバーの先端がレバーホルダー
の中心に来る様に前記溝内において前記基板を滑動させ
る。この結果、探針先端を中心に選択されたカンチレバ
ーを回転させることが出来る
【0012】
【実施例】 図6は本発明の一実施例を示したもので、
主要部(レバーホルダー部分)のみ示している。図中前
記各図で使用された番号,符号と同一の番号,符号の付
されたものは同一構成要素である。図中60はレバーホ
ルダーで、その中心(レーザー光源5の光軸Oと一致す
る)の左部分には孔Hが開けられており、右の部分には
レバーホルダーすべり溝61が設けられている。該すべ
り溝61内には、自分自身及び前記すべり溝を形成して
いる壁内部に螺合された微調捩子62によりスライド可
能な基板受け63が設けられている。該基板受けの反カ
ンチレバー側端面63T及び該基板受けの反カンチレバ
ー側端面が当接する前記すべり溝の端部61Tは、前記
基板受けに取付けられる基板K´に形成された長短2つ
のカンチレバー1a,1bの先端を結ぶラインと平行に
なるようにカットされている。尚、前記微調捩子62の
螺合も該ラインと平行に成されている。図中64は基板
K´を固定するための押さえで、前記レバーホルダー6
0の裏面側からバネ(図示せず)により引っ張られてい
るので、該バネを緩めて前記基板K´を前記基板受け6
3上に置き、再びバネを強くすることにより前記すべり
溝61内に該基板を固定することが出来る。
【0013】さて、先ず、端部に大小2種類のカンチレ
バー1a,1bが形成された基板受け63の上に基板K
´をセットし、押さえ64により固定する。この状態
で、使用すべきカンチレバーの位置合わせを次の様に行
う。例えば、長い方のカンチレバー1aを使用する場
合、微調捩子62を回して前記基板受け63を移動さ
せ、前記カンチレバー1aの先端をレバーホルダー60
の中心に持って来る。この時、若し、短い方のカンチレ
バー1bを使用する場合には、同じ様に微調捩子62を
回して前記基板受け63を移動させ、前記カンチレバー
1bの先端をレバーホルダー60の中心に持って来る。
この様な操作は、例えば、光学顕微鏡が備えられ、前記
レバーホルダー60をセットすることにより該レバーホ
ルダーの中心が明示される操作台を使用し、前記光学顕
微鏡で観察しながら行われる。
【0014】次に、前記の如き位置合わせが済んだカン
チレバー1aをセットしたレバーホルダー60を前記図
3に示す如き原子間力顕微鏡のヘッド4のガイド4Gに
完全に嵌挿する。該嵌挿により、レーザー源5の光軸上
に前記カンチレバー1aの先端部の探針2が一致する。
この状態の元で、前記した様に試料表面の凹凸を画像と
して得る動作が行われる。
【0015】図7は本願発明の主要部の他の実施例を示
したものである。この実施例では、前記図6に示す実施
例と異なり、基板受けや微調捩子を使用せず、カンチレ
バーが形成された基板K´´の反カンチレバー端面KT
が前記基板K´´に形成された長短2つのカンチレバー
1a,1bの先端を結ぶラインと平行になるようにカッ
トしておく。そして、該基板K´´を、該基板の反カン
チレバー端面KTが滑り溝61の滑面61Tに当接する
様に,滑り溝にセットし、押さえ64により固定する。
この状態で、使用すべきカンチレバーの位置合わせを次
の様に行う。例えば、長い方のカンチレバー1aを使用
する場合、基板K´´を直接前記ラインに沿って移動さ
せ、前記カンチレバー1aの先端をレバーホルダー60
の中心に持って来る。
【0016】
【発明の効果】 本発明は、レバーホルダーに、基板
が、該基板に形成された複数のカンチレバーの先端を結
ぶラインに平行に滑動可能な基板保持用の溝を設ける様
に成したので、基板端部に形成された2種類のカンチレ
バーの何れを選択しても、探針先端を中心に選択された
カンチレバーを回転させることが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 従来の原子間力顕微鏡の概略の一例を示した
ものである。
【図2】 従来の原子間力顕微鏡の一部概略の一例を示
したものである。
【図3】 従来の原子間力顕微鏡の問題を解決するため
に提案された原子間力顕微鏡一部概略の一例を示したも
のである。
【図4】 原子間力顕微鏡に使用されるカンチレバーが
形成された基板の一例を示したものである。
【図5】 カンチレバーが形成された基板をレバーホル
ダーにセットした様子を示したものである。
【図6】 本発明の主要部の一実施例を示したものであ
る。
【図7】 本発明の主要部の他の実施例を示したもので
ある。
【符号の説明】
1 カンチレバー 2 探針 3 レバーホルダー 4 ヘッド 4G ガイド 5 レーザー光源 6 フォトディテクター体 7 試料 8 圧電走査素子 9 ベース 9B 底部 9E 上縁部 10a,10b,……… 昇降捩子 10B 枝 11 鋼球 12 ステージ底板 13X Xステージ 13Y Yステージ 14 回転ステージ 50 試料取付け台 M 磁石 S 弾性体 K 基板 D 障害物(凸部) K´ 基板 1a,1b カンチレバー 30 矩形枠状のレバーホルダー 31 溝 32 押さえ 33 バネ O レーザ光源の光軸 60 レバーホルダー H 孔 61 すべり溝 62 微調捩子 63 基板受け 64 押さえ K´´ 基板

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 その先端に探針が形成された夫々互いに
    長さの異なる複数のカンチレバーを設けた基板と、前記
    カンチレバーに光を照射するための光源と、前記カンチ
    レバーで反射した光の位置ずれを検出する光検出器とを
    設けたヘッド、及び、試料を載置し前記探針を前記試料
    表面の原子間力の作用する領域内で3次元的に運動させ
    るための微動機構を設けたベースを具備しており、前記
    基板をホルダーに取付け、該ホルダーを前記ヘッドに組
    込む様に成した原子間力顕微鏡であって、前記ホルダー
    に、前記基板が前記複数のカンチレバーの先端を結ぶラ
    インに平行に滑動可能な基板保持用の溝を設けた原子間
    力顕微鏡。
  2. 【請求項2】 前記基板と前記溝が当接する互いの面
    が、前記複数のカンチレバーの先端を結ぶラインに平行
    に切断されている前記請求項1記載の原子間力顕微鏡。
  3. 【請求項3】 前記複数のカンチレバーの先端を結ぶラ
    インに平行に切断された端面を有する基板受けに前記基
    板を載せる様に成し、該基板受けに当接する前記溝の面
    が前記複数のカンチレバーの先端を結ぶラインに平行に
    切断されており、前記基板受けを前記溝内で滑動させる
    ための調整捩子が設けられている請求項1記載の原子間
    力顕微鏡。
JP4286295A 1995-03-02 1995-03-02 原子間力顕微鏡 Withdrawn JPH08240601A (ja)

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Effective date: 20020507