JPH08240614A - 差込式試験端子用プラグコンタクト - Google Patents
差込式試験端子用プラグコンタクトInfo
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- JPH08240614A JPH08240614A JP4279195A JP4279195A JPH08240614A JP H08240614 A JPH08240614 A JP H08240614A JP 4279195 A JP4279195 A JP 4279195A JP 4279195 A JP4279195 A JP 4279195A JP H08240614 A JPH08240614 A JP H08240614A
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- Japan
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- plug
- terminal
- contact
- lead wire
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 断線防止機能に優れ、内部の接続状態を簡単
に確認できるようにした差込式試験端子用プラグコンタ
クトの提供を目的とする。 【構成】 プラグ端子接触部２にリード線Ｌを接続する
接続手段３に、リード線Ｌの端末がかしめにより結合さ
れるかしめ接続部５ａと、このかしめ接続部５ａと一連
に形成され、プラグ端子接触部２にネジ止めされる羽子
板接続部５ａとを有する端子５と、プラグ端子接触部２
に羽子板接続部５ａをネジ止めする小ネジ６とを設け、
プラグ端子接触部２の基端部と前記接続手段３とを覆う
絶縁ケース４が透明であることを特徴とする。
に確認できるようにした差込式試験端子用プラグコンタ
クトの提供を目的とする。 【構成】 プラグ端子接触部２にリード線Ｌを接続する
接続手段３に、リード線Ｌの端末がかしめにより結合さ
れるかしめ接続部５ａと、このかしめ接続部５ａと一連
に形成され、プラグ端子接触部２にネジ止めされる羽子
板接続部５ａとを有する端子５と、プラグ端子接触部２
に羽子板接続部５ａをネジ止めする小ネジ６とを設け、
プラグ端子接触部２の基端部と前記接続手段３とを覆う
絶縁ケース４が透明であることを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、試験回路を差込式試験
端子に抜き差しして接続する差込式試験端子用プラグに
試験回路のリード線を接合することに用いられる差込式
試験端子用プラグコンタクトに関し、特に断線防止機能
に優れ、内部の接続状態を簡単に確認できるようにした
差込式試験端子用プラグコンタクトに関するものであ
る。
端子に抜き差しして接続する差込式試験端子用プラグに
試験回路のリード線を接合することに用いられる差込式
試験端子用プラグコンタクトに関し、特に断線防止機能
に優れ、内部の接続状態を簡単に確認できるようにした
差込式試験端子用プラグコンタクトに関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】一般に、導電線の電流を測定する場合に
は、図４に示すように、その導電線に巻き付けたコイル
に誘起された電流を電流計101 で検出する電流測定回路
（以下、ＣＴ回路という）が設けられ、複数の導電線の
間の電圧を測定する場合には、図５に示すように、導電
線間に接続されたトランスの二次電圧を電圧計102 で測
定する電圧測定回路（以下、ＰＴ回路という）が設けら
れる。
は、図４に示すように、その導電線に巻き付けたコイル
に誘起された電流を電流計101 で検出する電流測定回路
（以下、ＣＴ回路という）が設けられ、複数の導電線の
間の電圧を測定する場合には、図５に示すように、導電
線間に接続されたトランスの二次電圧を電圧計102 で測
定する電圧測定回路（以下、ＰＴ回路という）が設けら
れる。
【０００３】そして、これらの電流計101 や電圧計102
に異常があるかないかを試験したり、これらの電流計10
1 や電圧計102の補正をするために差込式試験用ソケッ
ト103が設けられ、このソケット103 に適正な電流計104
を介在させたＣＴ試験回路106や適正な電圧計105 を介
在させたＰＴ試験回路107 が例えば図10に示す差込式試
験端子用プラグ108 を介して接続される。
に異常があるかないかを試験したり、これらの電流計10
1 や電圧計102の補正をするために差込式試験用ソケッ
ト103が設けられ、このソケット103 に適正な電流計104
を介在させたＣＴ試験回路106や適正な電圧計105 を介
在させたＰＴ試験回路107 が例えば図10に示す差込式試
験端子用プラグ108 を介して接続される。
【０００４】例えば図４ないし図６に示すように、前記
ソケット103 は、プラグ108 を抜き取った状態では互い
に接続され、プラグ108 を差し込んだ状態では互いに絶
縁される複数対のソケット端子109 ａ・109 ｂを有す
る。また、前記プラグ108 は、各単体ソケット103 Ａ・
103 Ｂのソケット端子109ａ・109 ｂに対応するプラグ
端子110 ａ・110 ｂと、それぞれ対をなすプラグ端子11
0 ａ・110 ｂの間に配置され、プラグ108 をソケット10
3 に差し込んだ時に前記ソケット端子109 ａ・109 ｂの
間に突入して両ソケット端子109 ａ・109 ｂ間を絶縁す
る絶縁ラグ110 ｃとを有する。
ソケット103 は、プラグ108 を抜き取った状態では互い
に接続され、プラグ108 を差し込んだ状態では互いに絶
縁される複数対のソケット端子109 ａ・109 ｂを有す
る。また、前記プラグ108 は、各単体ソケット103 Ａ・
103 Ｂのソケット端子109ａ・109 ｂに対応するプラグ
端子110 ａ・110 ｂと、それぞれ対をなすプラグ端子11
0 ａ・110 ｂの間に配置され、プラグ108 をソケット10
3 に差し込んだ時に前記ソケット端子109 ａ・109 ｂの
間に突入して両ソケット端子109 ａ・109 ｂ間を絶縁す
る絶縁ラグ110 ｃとを有する。
【０００５】また、前記プラグ108 の各プラグ端子110
ａ・110 ｂへのＣＴ試験回路106 の各リード線106 ａ〜
106 ｄ、あるいは、ＰＴ試験回路107 の各リード線107
ａ〜107 ｄは、図６に示すように、単体プラグ108 Ａ・
108 Ｂの絶縁ケース111 外に突出させた接続端子112
に、これに螺合される押さえナット113 で締め付けるこ
とにより各プラグ端子108 ａ・108 ｂに接続されてい
る。
ａ・110 ｂへのＣＴ試験回路106 の各リード線106 ａ〜
106 ｄ、あるいは、ＰＴ試験回路107 の各リード線107
ａ〜107 ｄは、図６に示すように、単体プラグ108 Ａ・
108 Ｂの絶縁ケース111 外に突出させた接続端子112
に、これに螺合される押さえナット113 で締め付けるこ
とにより各プラグ端子108 ａ・108 ｂに接続されてい
る。
【０００６】この押さえナット113 は、指でつまんでね
じ回すことができるように、接続端子112 に螺合される
通常の六角ナットの外径よりも大径に形成され、また、
締め込んだ時に接続端子112 が露出しないように接続端
子112 の突出量よりも長く形成されている。このよう
に、従来の差込式試験端子用プラグ107 では、押さえナ
ット113 が接続端子112 に螺合される通常の六角ナット
の外径よりも大径に形成され、また、接続端子112 の突
出量よりも長く形成されているので、各単体プラグ108
Ａ・108Ｂの厚さ方向の厚さが分厚くなり、また、プラ
グ108 を抜き差しする方向（以下、挿抜方向という）に
も長くなり、輸送や保管に必要なスペースが大きくなる
という問題がある。
じ回すことができるように、接続端子112 に螺合される
通常の六角ナットの外径よりも大径に形成され、また、
締め込んだ時に接続端子112 が露出しないように接続端
子112 の突出量よりも長く形成されている。このよう
に、従来の差込式試験端子用プラグ107 では、押さえナ
ット113 が接続端子112 に螺合される通常の六角ナット
の外径よりも大径に形成され、また、接続端子112 の突
出量よりも長く形成されているので、各単体プラグ108
Ａ・108Ｂの厚さ方向の厚さが分厚くなり、また、プラ
グ108 を抜き差しする方向（以下、挿抜方向という）に
も長くなり、輸送や保管に必要なスペースが大きくなる
という問題がある。
【０００７】また、各接続端子112 にＣＴ試験回路106
のリード線106 ａ〜106 ｄ、あるいは、ＰＴ試験回路10
7 のリード線107 ａ〜107 ｄの端部を固定したり、取外
したりするためには、押さえナット113 を緩めたり、締
め込んだりする必要があり、作業性を高める上で不利に
なる。そこで、これらの問題を解決するため、試験回路
のリード線Ｌを図７に示すようなプラグコンタクト115
によりプラグ端子110 ａ・110 ｂに接続することを試み
たのである。
のリード線106 ａ〜106 ｄ、あるいは、ＰＴ試験回路10
7 のリード線107 ａ〜107 ｄの端部を固定したり、取外
したりするためには、押さえナット113 を緩めたり、締
め込んだりする必要があり、作業性を高める上で不利に
なる。そこで、これらの問題を解決するため、試験回路
のリード線Ｌを図７に示すようなプラグコンタクト115
によりプラグ端子110 ａ・110 ｂに接続することを試み
たのである。
【０００８】このプラグコンタクト115 は、プラグ110
ａ・110 ｂ端子に接触させるプラグ端子接触部115 ａの
基端部に筒状のはんだ接続部115 ｂを形成し、このはん
だ接続部115 ａにリード線Ｌの端末を挿入してはんだ付
けしており、また、このプラグ端子接触部115 ａの基端
部よりも先端側でプラグ端子接触部115 ａにネジ込まれ
る絶縁ケース115 ｃによってプラグ端子接触部115 ａと
リード線Ｌとが接続される部分を保護している。
ａ・110 ｂ端子に接触させるプラグ端子接触部115 ａの
基端部に筒状のはんだ接続部115 ｂを形成し、このはん
だ接続部115 ａにリード線Ｌの端末を挿入してはんだ付
けしており、また、このプラグ端子接触部115 ａの基端
部よりも先端側でプラグ端子接触部115 ａにネジ込まれ
る絶縁ケース115 ｃによってプラグ端子接触部115 ａと
リード線Ｌとが接続される部分を保護している。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、リード
線Ｌがはんだ付けされているこのプラグコンタクト115
では、リード線Ｌを引っ張った時に応力がはんだ接続部
115 ｂとリード線Ｌとの接続部に集中し、リード線Ｌが
はんだ接続部115 ｂから抜けたり、付け根から破断する
ことがある。
線Ｌがはんだ付けされているこのプラグコンタクト115
では、リード線Ｌを引っ張った時に応力がはんだ接続部
115 ｂとリード線Ｌとの接続部に集中し、リード線Ｌが
はんだ接続部115 ｂから抜けたり、付け根から破断する
ことがある。
【００１０】また、このような破断の有無を点検するた
めには、プラグコンタクト115 をプラグ108 から抜き取
り、絶縁ケース115 ｃをネジ回してプラグ端子接触部11
5 ａから分離しなければならず、内部の接続状態を簡単
に確認できないという問題がある。本発明は、上記の事
情を鑑み、断線防止機能に優れ、内部の接続状態を簡単
に確認できるようにした差込式試験端子用プラグコンタ
クトを提供することを目的とするものである。
めには、プラグコンタクト115 をプラグ108 から抜き取
り、絶縁ケース115 ｃをネジ回してプラグ端子接触部11
5 ａから分離しなければならず、内部の接続状態を簡単
に確認できないという問題がある。本発明は、上記の事
情を鑑み、断線防止機能に優れ、内部の接続状態を簡単
に確認できるようにした差込式試験端子用プラグコンタ
クトを提供することを目的とするものである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明は、プラグ端子接
触部と、このプラグ端子接触部にリード線Ｌを接続する
接続手段を覆う絶縁ケースとを備える差込式試験端子用
プラグコンタクトにおいて、上記の目的を達成するた
め、次のような手段を講じている。すなわち、前記接続
手段に、リード線Ｌの端末がかしめにより結合されるか
しめ接続部と、この接続部と一連に形成され、プラグ端
子接触部にネジ止めされる羽子板接続部とを有する端子
と、プラグ端子接触部に羽子板接続部をネジ止めする小
ネジとを設け、前記絶縁ケースが透明であることを特徴
とする。
触部と、このプラグ端子接触部にリード線Ｌを接続する
接続手段を覆う絶縁ケースとを備える差込式試験端子用
プラグコンタクトにおいて、上記の目的を達成するた
め、次のような手段を講じている。すなわち、前記接続
手段に、リード線Ｌの端末がかしめにより結合されるか
しめ接続部と、この接続部と一連に形成され、プラグ端
子接触部にネジ止めされる羽子板接続部とを有する端子
と、プラグ端子接触部に羽子板接続部をネジ止めする小
ネジとを設け、前記絶縁ケースが透明であることを特徴
とする。
【００１２】
【作用】このようにかしめ接続部と羽子板接続部とを有
する端子としては、例えばＪＩＳＣ2804に規格されてい
る圧縮端子、ＪＩＳＣ2805に規格されている圧着端子な
どがその例として上げることができる。この種の端子で
は、リード線Ｌの端末がかしめ接続部にかしめにより結
合されるので、引っ張り強度が高いので、リード線Ｌの
引抜きや付け根での破断が生じ難くなる。
する端子としては、例えばＪＩＳＣ2804に規格されてい
る圧縮端子、ＪＩＳＣ2805に規格されている圧着端子な
どがその例として上げることができる。この種の端子で
は、リード線Ｌの端末がかしめ接続部にかしめにより結
合されるので、引っ張り強度が高いので、リード線Ｌの
引抜きや付け根での破断が生じ難くなる。
【００１３】また、この種の端子を用いる上で、端子の
組付を容易にするため、プラグ端子接続部の後端面に小
ネジをねじ込むようにすることが好ましく、さらに、こ
の場合には、リード線Ｌの付け根に曲げ応力が作用しな
いようにするため、羽子板接続部の面とかしめ接続部の
軸心とを互いに直交するように羽子板接続部をかしめ接
続部の軸心に対して折り曲げることが好ましい。
組付を容易にするため、プラグ端子接続部の後端面に小
ネジをねじ込むようにすることが好ましく、さらに、こ
の場合には、リード線Ｌの付け根に曲げ応力が作用しな
いようにするため、羽子板接続部の面とかしめ接続部の
軸心とを互いに直交するように羽子板接続部をかしめ接
続部の軸心に対して折り曲げることが好ましい。
【００１４】さらに、本発明においては、絶縁ケースが
透明にしてあるので、プラグコンタクトをプラグに差し
込んだままでプラグ端子接触部とリード線Ｌの接続部分
を観察することにより、簡単に接続状態を確認できる。
透明にしてあるので、プラグコンタクトをプラグに差し
込んだままでプラグ端子接触部とリード線Ｌの接続部分
を観察することにより、簡単に接続状態を確認できる。
【００１５】
【実施例】本発明の一実施例に係る差込式試験端子用プ
ラグコンタクトを図面に基づいて具体的に説明すれば、
以下の通りである。図１ないし図３に示す本発明の一実
施例に係るプラグコンタクト１は、先端部が先鋭なピン
状に形成され、基端部がそれよりも太い角軸状に形成さ
れたプラグ端子接触部２と、このプラグ端子接触部２に
リード線Ｌを接続する接続手段３を覆う絶縁ケース４と
を備える。
ラグコンタクトを図面に基づいて具体的に説明すれば、
以下の通りである。図１ないし図３に示す本発明の一実
施例に係るプラグコンタクト１は、先端部が先鋭なピン
状に形成され、基端部がそれよりも太い角軸状に形成さ
れたプラグ端子接触部２と、このプラグ端子接触部２に
リード線Ｌを接続する接続手段３を覆う絶縁ケース４と
を備える。
【００１６】前記接続手段３は、リード線Ｌの端末がか
しめにより結合される圧着接続部５ａと、この圧着接続
部５ａと一連に形成され、プラグ端子接触部２にネジ止
めされる羽子板接続部５ｂとを有する圧着端子からなる
端子５を備えている。ここで、この端子５の羽子板接続
部５ｂの面とかしめ接続部５ａの軸心とを平行にして用
いてもよいが、羽子板接続部５ｂをかしめ接続部５ａの
軸心に対して折り曲げることにより、羽子板接続部５ｂ
とかしめ接続部５ａとの連結部の弾性変形によりリード
線Ｌを引っ張る力に対する緩衝機能を与え、リード線Ｌ
の引抜きや付け根での破断が一層確実に防止されるよう
にしている。
しめにより結合される圧着接続部５ａと、この圧着接続
部５ａと一連に形成され、プラグ端子接触部２にネジ止
めされる羽子板接続部５ｂとを有する圧着端子からなる
端子５を備えている。ここで、この端子５の羽子板接続
部５ｂの面とかしめ接続部５ａの軸心とを平行にして用
いてもよいが、羽子板接続部５ｂをかしめ接続部５ａの
軸心に対して折り曲げることにより、羽子板接続部５ｂ
とかしめ接続部５ａとの連結部の弾性変形によりリード
線Ｌを引っ張る力に対する緩衝機能を与え、リード線Ｌ
の引抜きや付け根での破断が一層確実に防止されるよう
にしている。
【００１７】また、この接続手段３は、端子５の羽子板
接続部５ｂをプラグ端子接触部２に止める小ネジ６を備
えている。前記絶縁ケース４は透明の合成樹脂で作ら
れ、その先端部４ａはプラグ端子接触部２の基端部を覆
い、差込式試験用プラグ７のプラグコンタクト挿抜孔７
ａに挿通できる円筒形状に形成され、この先端部４ａの
上面には差込式試験用プラグ内に設けた係止具が係脱さ
れる係止溝４ｂが形成される。
接続部５ｂをプラグ端子接触部２に止める小ネジ６を備
えている。前記絶縁ケース４は透明の合成樹脂で作ら
れ、その先端部４ａはプラグ端子接触部２の基端部を覆
い、差込式試験用プラグ７のプラグコンタクト挿抜孔７
ａに挿通できる円筒形状に形成され、この先端部４ａの
上面には差込式試験用プラグ内に設けた係止具が係脱さ
れる係止溝４ｂが形成される。
【００１８】また、この絶縁ケース４の基端部４ｃは前
記接続手段３を収納するために先端部４ａよりもプラグ
端子接触部２の径方向に拡大してあり、基端面にはリー
ド線挿通孔４ｄを形成した蓋４ｅが設けられる。基端部
４ｃの拡径方向は特に限定されないが、この実施例で
は、図３に示すように、プラグコンタクト１の上下に隣
接して差込式試験用プラグ７に挿抜される短絡クリップ
８の挿抜空間内に張り出すように一方向に拡大し、選択
的に差し込まれるプラグコンタクト１と短絡クリップ８
との一方が差し込まれている時には他方が差し込めない
ようにし、両方が同時に差し込まれる誤配線を防止する
ようにしている。
記接続手段３を収納するために先端部４ａよりもプラグ
端子接触部２の径方向に拡大してあり、基端面にはリー
ド線挿通孔４ｄを形成した蓋４ｅが設けられる。基端部
４ｃの拡径方向は特に限定されないが、この実施例で
は、図３に示すように、プラグコンタクト１の上下に隣
接して差込式試験用プラグ７に挿抜される短絡クリップ
８の挿抜空間内に張り出すように一方向に拡大し、選択
的に差し込まれるプラグコンタクト１と短絡クリップ８
との一方が差し込まれている時には他方が差し込めない
ようにし、両方が同時に差し込まれる誤配線を防止する
ようにしている。
【００１９】このプラグコンタクト１によれば、リード
線Ｌの端末がかしめ接続部にかしめにより結合されるの
で、引っ張り強度が高く、リード線Ｌの引抜きや付け根
での破断が生じ難くなる。また、プラグ端子接続部の後
端面に小ネジをねじ込むようにしているので、端子の組
付が容易である。
線Ｌの端末がかしめ接続部にかしめにより結合されるの
で、引っ張り強度が高く、リード線Ｌの引抜きや付け根
での破断が生じ難くなる。また、プラグ端子接続部の後
端面に小ネジをねじ込むようにしているので、端子の組
付が容易である。
【００２０】さらに、端子５の羽子板接続部５ｂの面と
かしめ接続部５ａの軸心とを互いに直交するように羽子
板接続部５ｂをかしめ接続部５ａの軸心に対して折り曲
げているので、リード線Ｌの付け根に曲げ応力が作用す
るおそれがなくなり、リード線Ｌの付け根での破断が一
層生じ難くなるようにしている。またさらに、リード線
Ｌが蓋４ｅのリード線挿通孔４ｄに挿通されることによ
り、羽子板接続部５ｂの取付孔を中心に回転することが
防止され、リード線Ｌの振れによるリード線Ｌの付け根
での破断が防止される。
かしめ接続部５ａの軸心とを互いに直交するように羽子
板接続部５ｂをかしめ接続部５ａの軸心に対して折り曲
げているので、リード線Ｌの付け根に曲げ応力が作用す
るおそれがなくなり、リード線Ｌの付け根での破断が一
層生じ難くなるようにしている。またさらに、リード線
Ｌが蓋４ｅのリード線挿通孔４ｄに挿通されることによ
り、羽子板接続部５ｂの取付孔を中心に回転することが
防止され、リード線Ｌの振れによるリード線Ｌの付け根
での破断が防止される。
【００２１】加えて、プラグコンコクト１を差込式試験
用プラグ７に差し込んだ時には、接続手段３が収納され
ている絶縁ケース４の基端部４ｃが差込式試験用プラグ
７の外側に位置しているので、プラグコンコクト１を差
込式試験用プラグ７から抜き取らずに透明の絶縁ケース
４の基端部４ｃを透して接続手段３の接続状態を目で見
て確認することができ、絶縁ケース４内の接続手段３の
接続状態を簡単に確認できる。
用プラグ７に差し込んだ時には、接続手段３が収納され
ている絶縁ケース４の基端部４ｃが差込式試験用プラグ
７の外側に位置しているので、プラグコンコクト１を差
込式試験用プラグ７から抜き取らずに透明の絶縁ケース
４の基端部４ｃを透して接続手段３の接続状態を目で見
て確認することができ、絶縁ケース４内の接続手段３の
接続状態を簡単に確認できる。
【００２２】上記の実施例では、ピン型のプラグ端子接
触部２を用いているが、このプラグ端子接触部２として
他の型のもの、例えば特殊型のプラグ端子接触部を用い
ることは妨げない。
触部２を用いているが、このプラグ端子接触部２として
他の型のもの、例えば特殊型のプラグ端子接触部を用い
ることは妨げない。
【００２３】
【発明の効果】以上に説明したように、本発明のプラグ
コンタクトは、接続手段に、リード線の端末がかしめに
より結合されるかしめ接続部と、この接続部と一連に形
成され、プラグ端子接触部にネジ止めされる羽子板接続
部とを有する端子と、プラグ端子接触部に羽子板接続部
をネジ止めする小ネジとを設けているので、リード線が
強固にプラグ端子接触部に接合され、リード線の付け根
での破断やリード線の抜け出しが生じ難くなる。
コンタクトは、接続手段に、リード線の端末がかしめに
より結合されるかしめ接続部と、この接続部と一連に形
成され、プラグ端子接触部にネジ止めされる羽子板接続
部とを有する端子と、プラグ端子接触部に羽子板接続部
をネジ止めする小ネジとを設けているので、リード線が
強固にプラグ端子接触部に接合され、リード線の付け根
での破断やリード線の抜け出しが生じ難くなる。
【００２４】また、本発明のプラグコンタクトは、前記
絶縁ケースが透明であるので、プクコンタクトを差込式
試験用プラグから抜き取らずに前記接続手段の接続状態
を目で見て確認することができ、絶縁ケース内の接続手
段の接続状態を簡単に確認できる。
絶縁ケースが透明であるので、プクコンタクトを差込式
試験用プラグから抜き取らずに前記接続手段の接続状態
を目で見て確認することができ、絶縁ケース内の接続手
段の接続状態を簡単に確認できる。
【図１】本発明の一実施例の縦断側面図である。
【図２】本発明の一実施例の平面図である。
【図３】本発明の一実施例の側面図である。
【図４】ＣＴ試験の回路図である。
【図５】ＰＴ試験の回路図である。
【図６】従来例の側面図である。
【図７】本発明に先立つ試行において用いたプラグコン
タクトの縦断側面図である。
タクトの縦断側面図である。
１…プラグコンタクト ２…プラグ端子接触部 ３…接続手段 ４…絶縁ケース ４ａ…先端部 ４ｃ…基端部 ５…端子 ５ａ…かしめ接続部 ５ｂ…羽子板接続部 ６…小ネジ ７…差込式試験端子用プラグ ８…短絡クリップ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中島 茂 滋賀県草津市野村三丁目４番１号 不二電 機工業株式会社草津製作所内 (72)発明者 志萱 章宏 滋賀県草津市野村三丁目４番１号 不二電 機工業株式会社草津製作所内
Claims (2)
- 【請求項１】 プラグ端子接触部の基端部と、このプラ
グ端子接触部にリード線を接続する接続手段とを覆う絶
縁ケースとを備える差込式試験端子用プラグコンタクト
において、前記接続手段に、リード線の端末がかしめに
より結合されるかしめ接続部と、このかしめ接続部と一
連に形成され、プラグ端子接触部にネジ止めされる羽子
板接続部とを有する端子と、プラグ端子接触部に羽子板
接続部をネジ止めする小ネジとを設け、前記絶縁ケース
が透明であることを特徴とする差込式試験端子用プラグ
コンタクト。 - 【請求項２】 前記絶縁ケースの先端部がプラグ端子接
触部の基端部を覆い、絶縁ケースの基端部が該プラグコ
ンタクトに隣接して挿入される短絡クリップの挿抜空間
に拡大されたものであることを特徴とする請求項１に記
載の差込式試験端子用プラグコンタクト。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7042791A JP2724289B2 (ja) | 1995-03-02 | 1995-03-02 | 差込式試験端子用プラグコンタクト |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08240614A true JPH08240614A (ja) | 1996-09-17 |
| JP2724289B2 JP2724289B2 (ja) | 1998-03-09 |
Family
ID=12645793
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7042791A Expired - Lifetime JP2724289B2 (ja) | 1995-03-02 | 1995-03-02 | 差込式試験端子用プラグコンタクト |
Country Status (1)
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|---|---|
| JP (1) | JP2724289B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005216548A (ja) * | 2004-01-27 | 2005-08-11 | Matsushita Electric Works Ltd | 配線器具 |
| KR102141043B1 (ko) * | 2019-03-22 | 2020-08-06 | 한국전력공사 | 프로브 유닛 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5517954A (en) * | 1978-07-27 | 1980-02-07 | Furukawa Electric Co Ltd | Battledore type terminal |
| JPH05347118A (ja) * | 1992-06-16 | 1993-12-27 | Fuji Electric Co Ltd | 電磁接触器の充電部保護カバー |
| JPH06243908A (ja) * | 1993-02-12 | 1994-09-02 | Asahi Denki Kk | 電気接続装置 |
-
1995
- 1995-03-02 JP JP7042791A patent/JP2724289B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5517954A (en) * | 1978-07-27 | 1980-02-07 | Furukawa Electric Co Ltd | Battledore type terminal |
| JPH05347118A (ja) * | 1992-06-16 | 1993-12-27 | Fuji Electric Co Ltd | 電磁接触器の充電部保護カバー |
| JPH06243908A (ja) * | 1993-02-12 | 1994-09-02 | Asahi Denki Kk | 電気接続装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005216548A (ja) * | 2004-01-27 | 2005-08-11 | Matsushita Electric Works Ltd | 配線器具 |
| KR102141043B1 (ko) * | 2019-03-22 | 2020-08-06 | 한국전력공사 | 프로브 유닛 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2724289B2 (ja) | 1998-03-09 |
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