JPH08247400A - 機器監視システム - Google Patents
機器監視システムInfo
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- JPH08247400A JPH08247400A JP7050083A JP5008395A JPH08247400A JP H08247400 A JPH08247400 A JP H08247400A JP 7050083 A JP7050083 A JP 7050083A JP 5008395 A JP5008395 A JP 5008395A JP H08247400 A JPH08247400 A JP H08247400A
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- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
Abstract
機器の状態を的確に監視することができる機器監視シス
テムを提供する。 【構成】 信号光を発信する光源を設け、この光源に光
ファイバを介して光検出器を接続する。また、前記光検
出器で検出した信号を処理する信号処置装置を設ける。
さらに、前記光ファイバの途中に、監視対象機器の状態
変化に対応して導光状態と遮光状態とが切り替わるよう
にした光スイッチを介装する。
Description
する機器監視システムに係わり、特に複数の監視対象を
同時に監視することのできる機器監視システムに関す
る。
ては、リミットスイッチを利用して電気的な信号によっ
て監視する方式が一般的であった。すなわち、この従来
の方式は、機器の動作に対応してリミットスイッチが機
械的にオン・オフ動作され、このオン・オフ動作によっ
てリミットスイッチの電気的接点が開閉され、電気的な
導通の有無によって機器の状態を判定するものである。
2を用いて説明する。図中符号1は電気ケーブル(信号
ケーブル)を示し、この電気ケーブル1はケーブル2、
ケーブル3及びケーブル4の三本のケーブルからなる3
芯ケーブルである。そして、ケーブル2とケーブル3の
間及びケーブル3とケーブル4との間にはスイッチ5及
びスイッチ6がそれぞれ設けられている。これらのスイ
ッチ5、6は監視対象機器の状態、例えば弁やドアの開
閉状態や各種スイッチのオン・オフ状態に対応してスイ
ッチングされるものである。そして、監視対象機器の状
態が変化してスイッチ5、6のオン・オフが切り替わる
と、区間A及び区間Bの導通状態がこれに対応して切り
替わる。したがって、区間A、Bの導通の有無を計装盤
(図示を省略)で検出することによって監視対象機器の
状態、例えば弁の開閉状態を遠隔監視によって知ること
ができる。
来の機器監視システムは、電気信号を利用するものであ
るため、例えば発電プラントのように高い電磁場が存在
する場所において使用した場合、信号ラインにノイズが
のってスイッチ5、6のオン・オフ状態を誤って検出し
て機器状態を誤認する場合があった。さらに、化学プラ
ントのように可燃性物質を取り扱うプラントにおいて
は、一般的に、電気ケーブルをなるべく使用しないよう
にすべきとの要請があり、この点において、電気ケーブ
ルを使用する前記従来の機器監視システムは好ましくな
かった。
数の機器を監視する場合、それぞれの機器と計装盤との
間を個々独立の電気ケーブル(信号ケーブル)で接続
し、それぞれの電気ケーブルに対して個別に電気信号を
入力する必要があるため、膨大なケーブル量を必要とす
るばかりでなく、ケーブルの敷設作業に多大の労力を必
要とし、加えて信号の処理も複雑であった。
号を用いることなく、光信号によって機器の状態を的確
に監視することができる機器監視システムを提供するこ
とを目的とする。
合においても、それぞれの機器と計装盤との間を個々独
立の信号ケーブルで接続する必要がなく、少量の信号ケ
ーブルで足り、ケーブルの敷設作業の労力を軽減でき、
加えて信号処理も容易な機器監視システムを提供するこ
とにある。
システムは、信号光を発信する光源と、この光源に光フ
ァイバを介して接続された光検出器と、この光検出器で
検出した信号を処理する信号処置装置と、前記光ファイ
バの途中に介装され、監視対象機器の状態変化に対応し
て導光状態と遮光状態とが切り替わるようにした光スイ
ッチとを備えたことを特徴とする。
光源はパルス状の信号光を発信するようにしたことを特
徴とする。
ス状の信号光を発信するパルス光源と、このパルス光源
に一端が接続された光ファイバよりなる往路基幹と、こ
の往路基幹に対して並列に設けられた光ファイバよりな
る復路基幹と、この復路基幹の一端に接続された光検出
器と、この光検出器が検出した信号を処理する信号処理
装置と、前記往路基幹と前記復路基幹との間であって複
数の監視対象機器のそれぞれに対応する位置に配設され
た複数の機器監視センサ部とを備え、前記機器監視セン
サ部は、前記往路基幹の途中に介装された往路側の光分
岐結合器と、前記復路基幹の途中に介装された復路側の
光分岐結合器と、前記往路側の光分岐結合器と前記復路
側の光分岐結合器との間に光ファイバを介して介装さ
れ、前記監視対象機器の状態変化に対応して導光状態と
遮光状態とが切り替わるようにした光スイッチとを有す
ることを特徴とする。
視対象である弁に固着された光スイッチと、この光スイ
ッチの導光状態と遮光状態とを切り替える光スイッチレ
バーと、この光スイッチレバーに一端が取り付けられ、
他端が前記弁の弁棒に取り付けられて前記弁棒の動きに
連動して前記光スイッチレバーを操作するアーム部とを
備えたことを特徴とする。
光スイッチが請求項4記載の弁連動型光スイッチである
ことを特徴とする。
信号処置装置が、前記光検出器で検出したパルス状の信
号のパルス波高に対して所定のしきい値を設定し、前記
パルス波高が前記しきい値を超えるか否かによって機器
状態を判定するようにしたことを特徴とする。
信号処理装置が、前記光検出器で検出したパルス状の信
号を時間軸上で微分し、この微分データに対して所定の
しきい値を設定し、前記微分データが前記しきい値を超
えるか否かによって機器状態を判定するようにしたこと
を特徴とする。
光スイッチが監視対象機器の状態とは無関係に導光状態
を達成できるようにしたことを特徴とする。
光ファイバの敷設長から光ディレイを算出し、この光デ
ィレイに基づいて前記監視対象機器のそれぞれに対応す
る検出パルス信号を同定するようにしたことを特徴とす
る。
記往路基幹と前記復路基幹との間に光ファイバよりなる
複数のバイパスラインを設けたことを特徴とする。
記パルス光源が複数のパルス状の信号光を発信し、前記
信号処理装置は前記光検出器で検出した複数の測定デー
タを積算又は積算平均して機器状態を判定するようにし
たことを特徴とする。
が発信され、この信号光は光ファイバを介して光スイッ
チの入力側に達する。そして、光スイッチが導光状態で
あれば、信号光は光スイッチの出力側から光ファイバを
介して光検出器に達する。光検出器が検出した信号は信
号処理装置によって処理される。一方、光スイッチが遮
光状態であれば、信号光は光スイッチで遮断されるため
に光検出器では信号が検出されない。ここで、光検出器
は監視対象機器の状態変化に対応して導光状態と遮光状
態とが切り替わるので、光検出器が信号光を検出したか
否かを信号処理装置で判定することによって機器の状態
を監視することができる。
パルス状の信号光を発信する。そして、光検出器はパル
ス信号を検出する。
はパルス状の信号光を発信し、この信号光は光ファイバ
よりなる往路基幹を介して往路側の光分岐結合器に達す
る。往路側の光分岐結合器に送られた信号光は次段の光
分岐結合器に送られる光と、光スイッチに送られる光と
に分岐される。そして、光スイッチに入力された信号光
は、光スイッチが導光状態であれば復路側の光分岐結合
器に送られる。復路側の光分岐結合器に入力された信号
光は、光ファイバよりなる復路基幹を介して光検出器に
達し、この光検出器の検出信号は信号処理装置で処理さ
れる。一方、光スイッチが遮光状態の場合には、光スイ
ッチに入力された信号光は、この光スイッチによって遮
断されるために復路側の光分岐結合器には到達せず、し
たがって光検出器は信号光を検出しない。ここで、光ス
イッチは監視対象機器の状態変化に対応して導光状態と
遮光状態とが切り替わるので、光検出器での信号光の検
出の有無を信号処理装置で判断することによって機器状
態を監視することができる。さらに、パルス光源から発
信された信号光が光検出器に達するまでの全光路の距離
は、それぞれの監視対象機器に応じて異なるため、光検
出器で検出される信号の時間軸上の位置によって、いず
れの機器に対応した信号であるかを知ることができる。
弁棒の動きに連動し、このアーム部の動作によって光ス
イッチの光スイッチレバーがスライドする。光スイッチ
レバーがスライドすることによって光スイッチの導光状
態と遮光状態とが切り替わる。したがって、弁の開閉状
態に対応して光スイッチが切り替わる。
載の弁連動型光スイッチを利用して機器の状態を監視す
る。
置は光検出器で検出したパルス状の信号のパルス波高に
対して所定のしきい値を設定し、パルス波高がしきい値
を超えるか否かによって機器状態を判定する。
置は光検出器で検出したパルス状の信号を時間軸上で微
分し、この微分データに対して所定のしきい値を設定
し、微分データがしきい値を超えるか否かによって機器
状態を判定する。
は監視機器の状態とは無関係に導光状態を達成できる。
の敷設長から光ディレイを算出し、この光ディレイに基
づいて監視対象機器のそれぞれに対応する検出パルス信
号を同定する。
と復路基幹との間に設けられた複数のバイパスラインを
介して信号光が光検出器に達する。したがって、これら
バイパスラインに対応するパルスを目印とすることによ
って、測定データの時間軸上に表示された他のパルスが
いずれの機器に対応するかを知ることができる。
源は複数のパルス状の信号光を発信し、信号処理装置は
光検出器で検出した測定データを積算又は積算平均して
機器状態を判定する。
例について図面を参照して説明する。実施例1を図1に
基づいて説明する。なお、この実施例1は、単一機器を
監視するための機器監視システムの一例である。図1に
おいて符号10は監視対象である機器を示し、例えばグ
ローブ弁、玉型弁等の弁類や、ドア、レベルメータ等が
監視対象となり得る。この監視対象機器10には連動装
置11が付設されておりこの連動装置11は監視対象機
器10の状態の変化、例えば監視対象が弁やドアであれ
ばこれらの開閉動作に対応して動作するように構成され
ている。そして、この連動装置11には光スイッチ12
が付設されており、この光スイッチ12は連動装置11
の動作に対応してオン・オフ動作するように構成されて
いる。光スイッチ12の入力側には入力側の光ファイバ
13の一端が接続されており、この入力側の光ファイバ
13の他端は連続光を発信する光源14に接続されてい
る。また、光スイッチ12の出力側には出力側の光ファ
イバ15の一端が接続されており、この出力側の光ファ
イバ15の他端は光検出器16及び信号処理装置17に
接続されている。
には、光源14から連続光である信号光Sを発信し、入
力側の光ファイバ13を介して光スイッチ12の入力側
に信号光Sを入力する。光スイッチ12に入力された信
号光Sは、光スイッチ12がオン状態(導光状態)であ
れば光スイッチ12の出力側から出力側の光ファイバ1
5を介して光検出器16に到達する。一方、光スイッチ
12がオフ状態(遮光状態)であれば、光スイッチ12
において信号光Sが遮断されるため、信号光Sは光検出
器16に到達しない。ここで、監視対象機器10の状態
が変化すると連動装置11を介して光スイッチ12のオ
ン状態及びオフ状態が切り替わるため、光検出器16及
び信号処理装置17で信号光Sの到達の有無を検出する
ことによって監視対象機器10の状態を知ることができ
る。
用いることなく、光信号によって機器の状態を監視する
ことができるので、発電プラントのように高い電磁場が
存在する場所で使用した場合でも信号ラインにノイズが
のるようなことがなく、機器の状態を確実に監視するこ
とができる。
明する。この実施例2は、光源としてパルス光を発信す
るものを使用する点で上記実施例1と異なる。すなわ
ち、光源にはパルス光源20が使用され、このパルス光
源20にはパルス駆動装置21が接続されている。
用し、パルス状の信号光Sによって機器状態を監視すれ
ば、検出信号に対するグランドレベルの変動による影響
を受けないため、連続光によって監視する場合に比して
信号光Sの検出をより確実に行うことができる。
照して説明する。なお、この実施例3は、複数の機器を
監視するための機器監視システムの一例である。監視対
象は配管308に直列的に配設された複数の手動弁3
1、31…31であり、これらの手動弁31には弁連動
装置32がそれぞれ付設されている。これらの弁連動装
置32はその監視対象である個々の手動弁31の開閉動
作に対応して動作するように構成されている。そして、
これらの弁連動装置32に対応して機器監視センサ部3
3がそれぞれ設けられており、この機器監視センサ部3
3は光スイッチ34を有し、この光スイッチ34は弁連
動装置32の動作に対応してオン・オフ動作するように
構成されている。これらの光スイッチ34の入力側は、
入力側の光ファイバ35を介して往路側の光分岐結合器
36にそれぞれ接続されている。一方、光スイッチ34
の出力側は、出力側の光ファイバ37を介して復路側の
光分岐結合器38に接続されている。さらに、往路側の
光分岐結合器36は光ファイバよりなる往路基幹39に
よって直列的に接続されている。一方、復路側の光分岐
結合器38は光ファイバよりなる復路基幹40によって
直列的に接続されている。そして、往路基幹39の入力
側端部はパルス光を発信するパルス光源41に接続され
ており、一方、復路基幹40の出力側端部は光検出器4
2及び信号処理装置43に接続されている。また、パル
ス光源41と光検出器42及び信号処理装置43とは同
期信号ライン44を介して接続されている。
を監視する際には、パルス光源41からパルス光である
信号光Sを発信し、往路基幹39を介して往路側の光分
岐結合器36に信号光Sを送る。光分岐結合器36に送
られた信号光Sは、往路基幹39を介して次段の光分岐
結合器36に送られる光と、入力側の光ファイバ35を
介して光スイッチ34に送られる光とに分岐される。そ
して、光スイッチ34に入力された信号光Sは、光スイ
ッチ34がオン状態(導光状態)であれば出力側の光フ
ァイバ37を介して復路側の光分岐結合器38に送られ
る。そして、復路側の光分岐結合器38に入力された信
号光Sは、復路基幹40を介して光検出器42に送られ
る。一方、光スイッチ34がオフ状態(遮光状態)の場
合には、光スイッチ34に入力された信号光Sは、この
光スイッチ34によって遮断されるために復路側の光分
岐結合器38に到達せず、したがって光検出器42及び
信号処理装置43は信号光Sを検出しない。ここで、光
スイッチ34は弁連動装置32を介して手動弁31の開
閉状態に対応してオン・オフ動作するため、手動弁31
が開放している場合には光検出器42及び信号処理装置
43において信号光Sが検出され、逆に手動弁31が閉
鎖している場合には信号光Sは光スイッチ34で遮断さ
れて光検出器42及び信号処理装置43で検出されな
い。さらに、パルス光源41から発信された信号光Sが
光検出器42に到達するまでの全光路の距離は、それぞ
れの手動弁31によって異なるため、光検出器42及び
信号処理装置43で検出されたパルスの時間軸上の位置
によっていずれの手動弁31が開放(又は閉鎖)状態に
あるかを知ることができる。
装置43で検出された検出信号及びパルス光源41から
発信された入力信号を示している。ここで、図4には1
つの入力パルス信号に対して3つの検出パルス信号が認
められる。これらの検出パルス信号はそれぞれ弁1、弁
2、弁3に対応しており、これら3つの弁の全てが開放
状態にあることを示している。一方、図5では1つの入
力パルス信号に対して2つの検出パルス信号が認めら
れ、かつ、図4において弁2に対応する検出パルス信号
が検出された時間軸上の位置にパルスが認められない。
これは、弁1及び弁3は開放状態にあるが、弁2は閉鎖
状態にあることを示している。なお、信号光Sの検出に
際しては、同期信号ライン44を介してパルス光源41
から光検出器42及び信号処理装置43に送られた同期
信号S1によって同期をとることができる。
弁31を監視する場合においても、それぞれの手動弁3
1と光検出器42及び信号処理装置43との間を個々独
立の信号ケーブルで接続する必要がなく、少量の信号ケ
ーブルで足り、ケーブルの敷設作業の労力を軽減でき、
加えて信号処理も容易である。
て説明したが、この実施例3を適用し得る監視対象機器
は手動弁には限られず、ドア、レベルメータ、圧力スイ
ッチ等にも適用することができる。
明する。図6は、手動弁60と、この手動弁60に取り
付けられた弁連動型光スイッチ61を示している。手動
弁60のヨーク部62には取付治具63を介して光スイ
ッチ64が取り付けられている。この光スイッチ64は
上下にスライドしてスイッチングを行う光スイッチレバ
ー65を備えており、この光スイッチレバー65を切り
替えることによって光スイッチ64のオン状態(導光状
態)とオフ状態(遮光状態)とが切り替えられる。ま
た、手動弁60の弁棒66にはL字状のアーム部67の
一方の端部が取り付けられており、このアーム部67
は、手動弁60のハンドル車68の回転に伴って弁棒6
6が回転しながら上下動する際に、弁棒66の回転力を
受けることなく上下動にのみ追随して上下に動くように
構成されている。一方、アーム部67の他方の端部は光
スイッチレバー65に取り付けられており、光スイッチ
レバー65はアーム部67の上下動に伴って上下にスラ
イドする。そして、光スイッチ64の入力側及び出力側
にはそれぞれ入力側の光ファイバ69と出力側の光ファ
イバ70が接続されている。
61は、手動弁60のハンドル車68を回して手動弁6
0を閉鎖又は開放すると、弁棒66の上下動がアーム部
67を介して光スイッチレバー65に伝わり、この光ス
イッチレバー65が上下に連動する。したがって、手動
弁60が閉鎖状態にあるときには光スイッチ64がオフ
状態(遮光状態)となり、逆に手動弁60が開放状態に
あるときには光スイッチ64がオン状態(導光状態)と
なる。
によって、手動弁60の開閉状態に対応させて光スイッ
チ64のオン・オフ状態を確実に切り替えることができ
る。
62に光スイッチ64を取り付けているが、光スイッチ
64の取り付け位置はこれに限定されることはなく、例
えばパッキン押さえ部71、弁箱72又は弁蓋73に取
り付けてもよい。
明する。図7はパルス状の信号光の測定データDを時系
列に表示したものであるが、この測定データDに基づい
て機器の状態を監視するために、パルス波高に対して一
定のしきい値Tを設けている。そして、測定データDの
パルス波高がしきい値Tを超えた場合には光スイッチが
オン状態であると判断し、逆にパルス波高がしきい値T
を下回る場合には光スイッチがオフ状態であると判断す
る。
い値Tを設定して光スイッチのオン・オフ状態を判断す
ることによって、機器状態の監視を簡易かつ確実に行う
ことができる。
明する。この実施例6は、前記実施例5における測定デ
ータDを時間軸上で一次微分し、さらに、微分データD
Dに対してプラス側及びマイナス側にそれぞれ一定のし
きい値T1、T2を設けている。そして、微分データD
Dがプラス側及びマイナス側の双方のしきい値T1、T
2を超えた場合に光スイッチがオン状態であると判断
し、逆にしきい値T1、T2を超えない場合にはオフ状
態であると判断する。
データに対してプラス側及びマイナス側の双方にしきい
値T1、T2を設けることによって、機器状態の監視を
より一層確実に行うことができる。
参照して説明する。図9に示した光スイッチ90は、上
下にスライドして光スイッチ90のオン・オフ状態を切
り替える光スイッチレバー91を備え、さらに、光スイ
ッチレバー91のオン・オフ状態とは独立して光スイッ
チ90をバイパス状態(導光状態)とするためのバイパ
スボタン92を有している。すなわち、この光スイッチ
90は、図10に示したようにオン状態93とオフ状態
94の2つのモードに加えて、バイパス状態95という
3つ目のモードを有している。
ば、複数の機器を監視する機器監視システムの光ファイ
バ96の全体の導通検査を行う場合、全ての光スイッチ
90をバイパス状態95にすることによって簡単に検査
することができる。また、同じく全ての光スイッチ90
をバイパス状態95としてパルス状の信号光をパルス光
源から発信すれば、光検出器及び信号処理装置で測定さ
れたデータには複数の監視対象機器のそれぞれに対応し
たパルスの全てが時間軸上に表示されるので、このデー
タからそれぞれの機器に対応するパルスが時間軸上のど
の位置に表示されるかを簡単に同定することができる。
施例8では、機器監視システムを用いて複数の機器を監
視する場合に、それぞれの機器の間に付設された光ファ
イバの敷設長を施工時に予め測定する。そして、測定さ
れた敷設長に基づいて、光ファイバ中を伝わる信号光の
時間遅れ(光ディレイ)を計算する。すなわち、パルス
光源から発信されたパルス状の信号光が光検出器及び信
号処理装置に到達するまでの所用時間は光路長によって
決まるので、この光路長を実測して前記所用時間を各機
器毎に算出するものである。
説明する。往路基幹39と復路基幹40との間に複数の
バイパスライン120を適当な間隔で敷設する。そし
て、パルス光源41からパルス状の信号光Sを発信すれ
ば、光検出器42及び信号処理装置43の測定データに
は、常に、バイパスライン120を通って光検出器42
に到達した信号光Sに対応するパルスが時間軸上の所定
の位置に表示される。したがって、これらバイパスライ
ン120に対応するパルスを目印とすることによって、
測定データの時間軸上に表示された他のパルスがいずれ
の機器に対応するかを簡単に知ることができる。
実施例10では、パルス光源から複数のパルス状信号光
を発信し、それぞれの信号光に対して光検出器及び信号
処理装置で得られたそれぞれの測定データを積算又は積
算平均して機器の状態を判断するものである。このよう
に測定データを積算又は積算平均することによって、外
乱光や光検出系等のノイズによる影響を低減してS/N
比を改善することができるので、機器状態の監視をより
一層確実に行うことができる。
を用いることなく、光信号によって機器の状態を監視す
ることができるので、発電プラントのように高い電磁場
が存在する場所で使用した場合でも信号ラインにノイズ
がのるようなことがなく、機器の状態を的確に監視する
ことができる。
信号光によって機器状態を監視するので、検出信号に対
するグランドレベルの変動による影響を受けないため受
信光の検出をより確実に行うことができる。
を監視する場合においても、それぞれの機器と光検出器
及び信号処理装置との間を個々独立の信号ケーブルで接
続する必要がなく、少量の信号ケーブルで足り、ケーブ
ルの敷設作業の労力を軽減でき、加えて信号処理も容易
である。
弁棒の動きに連動し、このアーム部の動作によって光ス
イッチの光スイッチレバーがスライドするようにしたの
で、簡単な構成によって、機器状態に対応させて光スイ
ッチの導光状態と遮光状態とを確実に切り替えることが
できる。
載の弁連動型光スイッチを利用して機器の状態を正確に
監視する。
置は光検出器で検出したパルス状の信号のパルス波高に
対して所定のしきい値を設定し、パルス波高がしきい値
を超えるか否かによって機器状態を判定するようにした
ので、機器状態の監視を簡易かつ確実に行うことができ
る。
置は光検出器で検出したパルス状の信号を時間軸上で微
分し、この微分データに対して所定のしきい値を設定
し、微分データがしきい値を超えるか否かによって機器
状態を判定するようにしたので、機器状態の監視をより
一層確実に行うことができる。
は監視機器の状態とは無関係に導光状態を達成できるの
で、複数の機器を監視する機器監視システムの光ファイ
バケーブル全体の導通検査を簡単に行うことができる。
また、光検出器及び信号処理装置で測定されたデータに
は複数の監視対象機器のそれぞれに対応したパルスの全
てが時間軸上に表示されるので、このデータからそれぞ
れの機器に対応するパルスが時間軸上のどの位置に表示
されるかを簡単に同定することができる。
の敷設長から光ディレイを算出し、この光ディレイに基
づいて監視対象機器のそれぞれに対応する検出パルス信
号を同定するので、それぞれの機器に対応するパルスが
測定データの時間軸上のどの位置に表示されるかを簡単
に同定することができる。
と復路基幹との間に設けられた複数のバイパスラインを
介して信号光が光検出器に達するので、これらバイパス
ラインに対応するパルスを目印とすることによって、測
定データの時間軸上に表示された他のパルスがいずれの
機器に対応するかを簡単に同定することができる。
源は複数のパルス状の信号光を発信し、信号処理装置は
光検出器で検出した測定データを積算又は積算平均して
機器状態を判定するので、外乱光や光検出系等のノイズ
による影響を低減してS/N比を改善し、機器状態の監
視をより一層確実に行うことができる。
した構成図。
した構成図。
した構成図。
フ。
グラフ。
示した部分断面正面図。
号処理方法に関する説明図。
号処理方法に関する説明図。
スイッチを示した図。
光スイッチの切替状態に関する説明図。
示した構成図。
バ 14 連続光用の光源 16、42 光検出器 17、43 信号処理装置 20、41 パルス光源 31、60 手動弁 32 弁連動装置 33 機器監視センサ 36、38 光分岐結合器 39 往路基幹 40 復路基幹 44 同期信号ライン 61 弁連動型光スイッチ 63 取付治具 65、91 光スイッチレバー 67 アーム部 92 バイパスボタン 120 バイパスボタン S 信号光 D 測定データ T、T1、T2 しきい値 DD 微分データ
Claims (11)
- 【請求項1】信号光を発信する光源と、この光源に光フ
ァイバを介して接続された光検出器と、この光検出器で
検出した信号を処理する信号処置装置と、前記光ファイ
バの途中に介装され、監視対象機器の状態変化に対応し
て導光状態と遮光状態とが切り替わるようにした光スイ
ッチとを備えたことを特徴とする機器監視システム。 - 【請求項2】前記光源はパルス状の信号光を発信するよ
うにしたことを特徴とする請求項1記載の機器監視シス
テム。 - 【請求項3】パルス状の信号光を発信するパルス光源
と、このパルス光源に一端が接続された光ファイバより
なる往路基幹と、この往路基幹に対して並列に設けられ
た光ファイバよりなる復路基幹と、この復路基幹の一端
に接続された光検出器と、この光検出器が検出した信号
を処理する信号処理装置と、前記往路基幹と前記復路基
幹との間であって複数の監視対象機器のそれぞれに対応
する位置に配設された複数の機器監視センサ部とを備
え、前記機器監視センサ部は、前記往路基幹の途中に介
装された往路側の光分岐結合器と、前記復路基幹の途中
に介装された復路側の光分岐結合器と、前記往路側の光
分岐結合器と前記復路側の光分岐結合器との間に光ファ
イバを介して介装され、前記監視対象機器の状態変化に
対応して導光状態と遮光状態とが切り替わるようにした
光スイッチとを有することを特徴とする機器監視システ
ム。 - 【請求項4】監視対象である弁に固着された光スイッチ
と、この光スイッチの導光状態と遮光状態とを切り替え
る光スイッチレバーと、この光スイッチレバーに一端が
取り付けられ、他端が前記弁の弁棒に取り付けられて前
記弁棒の動きに連動して前記光スイッチレバーを操作す
るアーム部とを備えたことを特徴とする弁連動型光スイ
ッチ。 - 【請求項5】前記光スイッチは請求項4記載の弁連動型
光スイッチであることを特徴とする請求項1、2又は3
のいずれかに記載の機器監視システム。 - 【請求項6】前記信号処置装置は、前記光検出器で検出
したパルス状の信号のパルス波高に対して所定のしきい
値を設定し、前記パルス波高が前記しきい値を超えるか
否かによって機器状態を判定するようにしたことを特徴
とする請求項2、3又は5のいずれかに記載の機器監視
システム。 - 【請求項7】前記信号処理装置は、前記光検出器で検出
したパルス状の信号を時間軸上で微分し、この微分デー
タに対して所定のしきい値を設定し、前記微分データが
前記しきい値を超えるか否かによって機器状態を判定す
るようにしたことを特徴とする請求項2、3又は5のい
ずれかに記載の機器監視システム。 - 【請求項8】前記光スイッチは監視対象機器の状態とは
無関係に導光状態を達成できるようにしたことを特徴と
する請求項1、2、3、5、6又は7のいずれかに記載
の機器監視システム。 - 【請求項9】前記光ファイバの敷設長から光ディレイを
算出し、この光ディレイに基づいて前記監視対象機器の
それぞれに対応する検出パルス信号を同定するようにし
たことを特徴とする請求項3、5、6、7又は8のいず
れかに記載の機器監視システム。 - 【請求項10】前記往路基幹と前記復路基幹との間に光
ファイバよりなる複数のバイパスラインを設けたことを
特徴とする請求項3、5、6、7、8又は9のいずれか
に記載の機器監視システム。 - 【請求項11】前記パルス光源は複数のパルス状の信号
光を発信し、前記信号処理装置は前記光検出器で検出し
た複数の測定データを積算又は積算平均して機器状態を
判定するようにしたことを特徴とする請求項3、5、
6、7、8、9又は10のいずれかに記載の機器監視シ
ステム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07050083A JP3085874B2 (ja) | 1995-03-09 | 1995-03-09 | 機器監視システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07050083A JP3085874B2 (ja) | 1995-03-09 | 1995-03-09 | 機器監視システム |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08247400A true JPH08247400A (ja) | 1996-09-27 |
| JP3085874B2 JP3085874B2 (ja) | 2000-09-11 |
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ID=12849136
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP07050083A Expired - Fee Related JP3085874B2 (ja) | 1995-03-09 | 1995-03-09 | 機器監視システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3085874B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001215150A (ja) * | 1999-12-02 | 2001-08-10 | Luk Lamellen & Kupplungsbau Gmbh | 可変的なパラメータの振動を識別するための方法 |
| JP2005308540A (ja) * | 2004-04-21 | 2005-11-04 | Nippon Gear Co Ltd | 弁の開閉検査方法とその装置 |
| CN106402661A (zh) * | 2016-10-27 | 2017-02-15 | 上海润京能源科技有限公司 | 一种在线监测装置及监测方法 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS60260240A (ja) * | 1984-06-06 | 1985-12-23 | Fujitsu Ltd | 光伝送装置 |
| JPS6258734A (ja) * | 1985-06-19 | 1987-03-14 | フラマト−ム | 光学手段によつて情報及び指令を伝送することにより工業用設備を制御及び監視する方法及び装置 |
| JPH03215711A (ja) * | 1990-01-19 | 1991-09-20 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光ファイバセンサ |
| JPH05240734A (ja) * | 1992-02-28 | 1993-09-17 | Asahi Glass Co Ltd | 光スイッチモジュールの検査装置および検査方法 |
-
1995
- 1995-03-09 JP JP07050083A patent/JP3085874B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3085874B2 (ja) | 2000-09-11 |
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