JPH08260109A - 電子部品用Fe−Ni系合金 - Google Patents
電子部品用Fe−Ni系合金Info
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- JPH08260109A JPH08260109A JP6552395A JP6552395A JPH08260109A JP H08260109 A JPH08260109 A JP H08260109A JP 6552395 A JP6552395 A JP 6552395A JP 6552395 A JP6552395 A JP 6552395A JP H08260109 A JPH08260109 A JP H08260109A
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Landscapes
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 Fe−Ni系合金において、低Ni合金の低
コストおよび低熱膨張特性を害することなく、耐食性、
熱間加工性またはさらにプレス打ち抜き性および強度を
改善した電子部品用合金の提供。 【構成】 重量%にてNi31〜36%、Cu1.0%
を越え4.0%以下、Mn1.0%以下、Si0.5%
以下、B0.0005%〜0.1%を含有し、101%
≦3Ni+2Cu≦110%の関係を満足し、残部は不
純物を除き実質的にFeよりなる電子部品用合金。圧延
方向および厚み方向に平行な断面の結晶粒の平均断面積
が200μm2以下、かつ展伸度が2.5以上である同
合金。
コストおよび低熱膨張特性を害することなく、耐食性、
熱間加工性またはさらにプレス打ち抜き性および強度を
改善した電子部品用合金の提供。 【構成】 重量%にてNi31〜36%、Cu1.0%
を越え4.0%以下、Mn1.0%以下、Si0.5%
以下、B0.0005%〜0.1%を含有し、101%
≦3Ni+2Cu≦110%の関係を満足し、残部は不
純物を除き実質的にFeよりなる電子部品用合金。圧延
方向および厚み方向に平行な断面の結晶粒の平均断面積
が200μm2以下、かつ展伸度が2.5以上である同
合金。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、リードフレーム、シャ
ドウマスク等の電子部品材料として使用するのに適した
低コストのFe−Ni系合金に関するものである。
ドウマスク等の電子部品材料として使用するのに適した
低コストのFe−Ni系合金に関するものである。
【0002】
【従来の技術】低熱膨張特性、強度、加工性、耐食性に
優れているFe−Ni系合金は、電子部品用材料として
広く使用されている。例えばICリードフレームとして
はFe−42Ni、Fe−29Ni−17Co、ブラウ
ン管用シャドウマスクとしてはFe−36Ni、蛍光表
示管の封着材料としてはFe−42Ni−6Cr等が挙
げられる。しかし、これらの合金は原料的に高価なN
i、Co等を多量に含有するため、コストが高くなる欠
点を有している。特に近年これらの価格は高騰を続けて
おり、深刻な問題となっている。その一方で製品のコス
トダウンの要望は強まってきており、従来に比べ安価な
電子部品用材料が要求されている。
優れているFe−Ni系合金は、電子部品用材料として
広く使用されている。例えばICリードフレームとして
はFe−42Ni、Fe−29Ni−17Co、ブラウ
ン管用シャドウマスクとしてはFe−36Ni、蛍光表
示管の封着材料としてはFe−42Ni−6Cr等が挙
げられる。しかし、これらの合金は原料的に高価なN
i、Co等を多量に含有するため、コストが高くなる欠
点を有している。特に近年これらの価格は高騰を続けて
おり、深刻な問題となっている。その一方で製品のコス
トダウンの要望は強まってきており、従来に比べ安価な
電子部品用材料が要求されている。
【0003】Fe−42Niの安価な代替材として、N
i含有量は42%よりも低いがシリコンチップとの熱膨
張整合性はほぼ同等の、例えばFe−34〜35Ni合
金(以下31〜35Ni合金を低Ni合金という)が提
案されている。しかし、低Ni化に伴って各種特性が劣
化するので、これらを補償することが必要である。低N
i合金の改良合金については、Fe−32〜35%Ni
合金にCuまたはMoを1.0%以下添加したもの(特
開平6−10098号)、同じく1.5%以下添加した
もの(特開平7−18384号)が公知である。また低
Ni合金を含む組成範囲の改良の提案には、Fe−20
〜50%Ni合金にCuを2〜15%、またはさらにC
r、Mo、Nb、V、Zr、Ti、Taの1種以上を添
加したもの(特開昭60−251256号)、Fe−2
5〜50%Ni合金にCuを1〜25%添加したもの
(特開昭56−50550号)、Fe−30〜55%N
i合金にMo、Si、Cr、Cu、V、Nb、Ta、T
i、Zrのうち1種以上を0.01〜2.0%添加した
もの(特開昭56−5948号)等が公知である。
i含有量は42%よりも低いがシリコンチップとの熱膨
張整合性はほぼ同等の、例えばFe−34〜35Ni合
金(以下31〜35Ni合金を低Ni合金という)が提
案されている。しかし、低Ni化に伴って各種特性が劣
化するので、これらを補償することが必要である。低N
i合金の改良合金については、Fe−32〜35%Ni
合金にCuまたはMoを1.0%以下添加したもの(特
開平6−10098号)、同じく1.5%以下添加した
もの(特開平7−18384号)が公知である。また低
Ni合金を含む組成範囲の改良の提案には、Fe−20
〜50%Ni合金にCuを2〜15%、またはさらにC
r、Mo、Nb、V、Zr、Ti、Taの1種以上を添
加したもの(特開昭60−251256号)、Fe−2
5〜50%Ni合金にCuを1〜25%添加したもの
(特開昭56−50550号)、Fe−30〜55%N
i合金にMo、Si、Cr、Cu、V、Nb、Ta、T
i、Zrのうち1種以上を0.01〜2.0%添加した
もの(特開昭56−5948号)等が公知である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】一般に低Ni合金は低
コストであるが、耐食性に劣っている。このため前述の
特開平6−10098号や同7−18384号ではCu
またはMoを0.1〜1.0%等添加して耐食性を向上
させるものである。しかし、本発明者の研究によると、
CuまたはMoの1.0%程度の単独添加では耐食性の
改善は十分ではない。またMoの添加は原料コストがC
uに比較して著しく高いため、低コスト材のメリットが
少なくなる。
コストであるが、耐食性に劣っている。このため前述の
特開平6−10098号や同7−18384号ではCu
またはMoを0.1〜1.0%等添加して耐食性を向上
させるものである。しかし、本発明者の研究によると、
CuまたはMoの1.0%程度の単独添加では耐食性の
改善は十分ではない。またMoの添加は原料コストがC
uに比較して著しく高いため、低コスト材のメリットが
少なくなる。
【0005】また、一般に低Ni合金には、Niの低下
により強度が不足する傾向がある。リードフレームは近
年の半導体装置の高容量、高集積化およびパッケージの
薄肉化に伴い多ピン化、薄板化の傾向にあり、高強度は
必要不可欠となりつつある。さらに、プレス打ち抜き加
工においても、ある程度の硬度が必要とされる。前述の
昭60−251256号、昭56−50550号、昭5
6−5948号はいずれもFe−Ni合金の耐食性を改
善するものであるが、低Ni合金の強度を積極的に改善
しようとするものではない。また、これらはいずれも耐
食性の改善のために添加元素、主にCuを多量に含むも
のであるが、それに伴い熱間加工性は劣化する。しか
し、これらの問題に対する具体的な改善策は示されてい
ない。
により強度が不足する傾向がある。リードフレームは近
年の半導体装置の高容量、高集積化およびパッケージの
薄肉化に伴い多ピン化、薄板化の傾向にあり、高強度は
必要不可欠となりつつある。さらに、プレス打ち抜き加
工においても、ある程度の硬度が必要とされる。前述の
昭60−251256号、昭56−50550号、昭5
6−5948号はいずれもFe−Ni合金の耐食性を改
善するものであるが、低Ni合金の強度を積極的に改善
しようとするものではない。また、これらはいずれも耐
食性の改善のために添加元素、主にCuを多量に含むも
のであるが、それに伴い熱間加工性は劣化する。しか
し、これらの問題に対する具体的な改善策は示されてい
ない。
【0006】そこで本発明は、低Ni合金の低コスト、
低熱膨張特性および熱間加工性を害することなく耐食性
を、さらにはプレス打ち抜き性および強度をも改善した
電子部品用低Ni合金を提供することを目的とする。
低熱膨張特性および熱間加工性を害することなく耐食性
を、さらにはプレス打ち抜き性および強度をも改善した
電子部品用低Ni合金を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の重要な点は、低
Ni合金にCuとBを複合添加することで低Ni合金の
低熱膨張特性を害することなく、耐食性、強度を、また
Cu単独添加低Ni合金の熱間加工性や耐食性を改善し
たものである。すなわち、Bを添加することでCu添加
による熱間加工性の劣化を防止し、またさらに耐食性、
強度を向上させることができる。また、結晶粒の大きさ
と形状を制御することで、強度、プレス打ち抜き面の平
滑性のいずれをも向上させることができる。特開平6−
10098号では、Cuの添加は熱膨張係数を大きくす
るため、少量に限定するというものであった。本発明者
はインバー合金の磁気体積効果に着目し、Fe−30〜
38Ni−0〜5Cuの範囲の合金について種々実験を
行った結果、低Ni合金にCuを添加すると、3Ni+
2Cu≦108%の範囲内ではα30-200(30〜200
℃の間での平均熱膨張係数)が低下することを見出し
た。すなわち、コスト低減のため低Ni合金からさらに
Niを減らし、安価なCuを添加すれば、熱膨張係数を
大きくすることなくより安価な材料を提供することがで
きる。
Ni合金にCuとBを複合添加することで低Ni合金の
低熱膨張特性を害することなく、耐食性、強度を、また
Cu単独添加低Ni合金の熱間加工性や耐食性を改善し
たものである。すなわち、Bを添加することでCu添加
による熱間加工性の劣化を防止し、またさらに耐食性、
強度を向上させることができる。また、結晶粒の大きさ
と形状を制御することで、強度、プレス打ち抜き面の平
滑性のいずれをも向上させることができる。特開平6−
10098号では、Cuの添加は熱膨張係数を大きくす
るため、少量に限定するというものであった。本発明者
はインバー合金の磁気体積効果に着目し、Fe−30〜
38Ni−0〜5Cuの範囲の合金について種々実験を
行った結果、低Ni合金にCuを添加すると、3Ni+
2Cu≦108%の範囲内ではα30-200(30〜200
℃の間での平均熱膨張係数)が低下することを見出し
た。すなわち、コスト低減のため低Ni合金からさらに
Niを減らし、安価なCuを添加すれば、熱膨張係数を
大きくすることなくより安価な材料を提供することがで
きる。
【0008】すなわち本発明は、重量%にてNi31〜
36%、Cu1.0%を越え4.0%以下、Mn1.0
%以下、Si0.5%以下、B0.0005〜0.1%
を含有し、NiとCuの含有量は101%≦3Ni+2
Cu≦110%の関係を満足し、残部は不純物を除き実
質的にFeよりなることを特徴とする電子部品用Fe−
Ni系合金である。本発明において、圧延方向および厚
み方向に平行な面の結晶粒の平均断面積を200μm2
以下、展伸度を2.5以上とすると機械的強度、プレス
打抜き性が向上できるので望ましい。ここで展伸度は、
上記断面での結晶粒の圧延方向に直角な一定長さの線分
によって切断された結晶粒の数をn1、結晶粒の圧延方
向に平行な前記と同一長さの線分によって切断された結
晶粒の数をn2とすると、n1/n2で表される値であ
る。
36%、Cu1.0%を越え4.0%以下、Mn1.0
%以下、Si0.5%以下、B0.0005〜0.1%
を含有し、NiとCuの含有量は101%≦3Ni+2
Cu≦110%の関係を満足し、残部は不純物を除き実
質的にFeよりなることを特徴とする電子部品用Fe−
Ni系合金である。本発明において、圧延方向および厚
み方向に平行な面の結晶粒の平均断面積を200μm2
以下、展伸度を2.5以上とすると機械的強度、プレス
打抜き性が向上できるので望ましい。ここで展伸度は、
上記断面での結晶粒の圧延方向に直角な一定長さの線分
によって切断された結晶粒の数をn1、結晶粒の圧延方
向に平行な前記と同一長さの線分によって切断された結
晶粒の数をn2とすると、n1/n2で表される値であ
る。
【0009】
【作用】次に本発明の数値限定理由を述べる。Ni含有
量は、36%を越えるとコストが高くなり、低Ni合金
のメリットが小さくなる。31%より少ないと熱膨張係
数が大きくなり過ぎ、また耐食性も劣化する。このため
Ni含有量は31〜36%に限定する。望ましいNi量
は32〜35%である。
量は、36%を越えるとコストが高くなり、低Ni合金
のメリットが小さくなる。31%より少ないと熱膨張係
数が大きくなり過ぎ、また耐食性も劣化する。このため
Ni含有量は31〜36%に限定する。望ましいNi量
は32〜35%である。
【0010】Cuは耐食性を向上させる元素であり、
1.0%以下では耐食性の向上が不十分である。また
4.0%を越えると熱間加工性が劣化し、またハンダ剥
離を起こしやすくなる。このためCu含有量は1.0%
を越え4.0%以下に限定する。より望ましいCu量は
1.5%を越え3.0%以下の範囲である。
1.0%以下では耐食性の向上が不十分である。また
4.0%を越えると熱間加工性が劣化し、またハンダ剥
離を起こしやすくなる。このためCu含有量は1.0%
を越え4.0%以下に限定する。より望ましいCu量は
1.5%を越え3.0%以下の範囲である。
【0011】前述のように本発明者は低Ni合金にCu
を添加すると熱膨張係数α30-200が低下することを確認
したが、さらに詳細な調査により、Fe−31〜35N
i−1〜5Cu(3Ni+2Cu≦108%)におい
て、α30-200≒−5.4×(3Ni+2Cu)+605
(×10マイナス7乗/℃)の関係式が成立することを確認
した。このためNiとCuの含有量は、シリコンチップ
(α30-200=25〜55×10マイナス7乗/℃)との熱
膨張整合性およびコストの面から、101%≦3Ni+
2Cu≦110%を満足する範囲に限定する。望ましく
は103%≦3Ni+2Cu≦108%である。
を添加すると熱膨張係数α30-200が低下することを確認
したが、さらに詳細な調査により、Fe−31〜35N
i−1〜5Cu(3Ni+2Cu≦108%)におい
て、α30-200≒−5.4×(3Ni+2Cu)+605
(×10マイナス7乗/℃)の関係式が成立することを確認
した。このためNiとCuの含有量は、シリコンチップ
(α30-200=25〜55×10マイナス7乗/℃)との熱
膨張整合性およびコストの面から、101%≦3Ni+
2Cu≦110%を満足する範囲に限定する。望ましく
は103%≦3Ni+2Cu≦108%である。
【0012】Mnは脱酸剤および加工性向上の目的で添
加されるが、1.0%を越えると熱膨張係数を増大さ
せ、またハンダ性、メッキ性を劣化させる。このためM
n含有量は1.0%以下に限定する。望ましくは0.6
%以下である。Siは脱酸剤として添加されるが、0.
5%を越えるとハンダ性、メッキ性の劣化が生じる。こ
のためSi含有量は0.5%以下の範囲に限定する。望
ましくは0.2%以下である。Bは本発明に不可欠な元
素である。すなわちCuと同時に添加することでさらに
耐食性を著しく向上させ、強度も向上させる。さらには
熱間加工性を著しく向上させるため、Cu添加による熱
間加工性の劣化を防止することができる。Bの含有量は
0.0005%より少ないと耐食性、強度、熱間加工性
のいずれの向上にも効果がなく、0.1%を越えると逆
に加工性を劣化させる。このためB含有量は0.000
5〜0.1%に限定する。望ましくは0.0005〜
0.01%である。
加されるが、1.0%を越えると熱膨張係数を増大さ
せ、またハンダ性、メッキ性を劣化させる。このためM
n含有量は1.0%以下に限定する。望ましくは0.6
%以下である。Siは脱酸剤として添加されるが、0.
5%を越えるとハンダ性、メッキ性の劣化が生じる。こ
のためSi含有量は0.5%以下の範囲に限定する。望
ましくは0.2%以下である。Bは本発明に不可欠な元
素である。すなわちCuと同時に添加することでさらに
耐食性を著しく向上させ、強度も向上させる。さらには
熱間加工性を著しく向上させるため、Cu添加による熱
間加工性の劣化を防止することができる。Bの含有量は
0.0005%より少ないと耐食性、強度、熱間加工性
のいずれの向上にも効果がなく、0.1%を越えると逆
に加工性を劣化させる。このためB含有量は0.000
5〜0.1%に限定する。望ましくは0.0005〜
0.01%である。
【0013】結晶粒の制御はNiの低下およびCuの添
加により劣化した強度を向上させるのに効果があり、ま
た材料のプレス性の向上にも著しい効果がある。本発明
合金において、圧延方向と厚み方向に平行の断面での結
晶粒の平均断面積を200μm2以下、かつ展伸度を
2.5以上とすると、Fe−42%Ni合金に比し、強
度は勝るとも劣らず、プレス打ち抜き面の平滑性は遜色
のないものとなるので望ましい。このうち、結晶粒の平
均断面積 200μm2以下を得るためには、例えば70
〜80%の冷間圧延後、組成によって再結晶温度が変わ
るので注意が必要であるが、例えば33.7Ni−2.
0Cuならば800℃で約3分間の焼鈍を行なえばよ
い。また、展伸度 2.5以上を得るためには、再結晶
組織の材料を約40%の圧下率で圧延すればよい。より
望ましくは平均断面積は100μm2以下、展伸度は3
以上、より望ましい展伸度は3.5以上である。
加により劣化した強度を向上させるのに効果があり、ま
た材料のプレス性の向上にも著しい効果がある。本発明
合金において、圧延方向と厚み方向に平行の断面での結
晶粒の平均断面積を200μm2以下、かつ展伸度を
2.5以上とすると、Fe−42%Ni合金に比し、強
度は勝るとも劣らず、プレス打ち抜き面の平滑性は遜色
のないものとなるので望ましい。このうち、結晶粒の平
均断面積 200μm2以下を得るためには、例えば70
〜80%の冷間圧延後、組成によって再結晶温度が変わ
るので注意が必要であるが、例えば33.7Ni−2.
0Cuならば800℃で約3分間の焼鈍を行なえばよ
い。また、展伸度 2.5以上を得るためには、再結晶
組織の材料を約40%の圧下率で圧延すればよい。より
望ましくは平均断面積は100μm2以下、展伸度は3
以上、より望ましい展伸度は3.5以上である。
【0014】
【実施例】以下、本発明を実施例により説明する。表1
に示す組成の合金を真空高周波誘導炉にて溶解、鋳造し
た後、1150℃で鍛造、熱間圧延を行い、1000℃
×1hの溶体化処理を施した後、冷間圧延と軟化焼鈍を
繰り返し、0.25mmの板材に仕上げた。さらにそれ
ぞれ定められた圧延率で最終冷間圧延を施した後、還元
雰囲気中において再結晶温度以下の一定温度で歪取焼鈍
を施した。
に示す組成の合金を真空高周波誘導炉にて溶解、鋳造し
た後、1150℃で鍛造、熱間圧延を行い、1000℃
×1hの溶体化処理を施した後、冷間圧延と軟化焼鈍を
繰り返し、0.25mmの板材に仕上げた。さらにそれ
ぞれ定められた圧延率で最終冷間圧延を施した後、還元
雰囲気中において再結晶温度以下の一定温度で歪取焼鈍
を施した。
【0015】
【表1】
【0016】表の試料記号のうち、(A)〜(K)は本発明
合金であり、このうち(A)〜(I)はNi、CuとBの含
有量を様々に変えたもの、(J)および(K)は結晶粒の断
面積および展伸度が本発明の請求項2の規定を満足しな
いものである。(P)〜(U)は比較合金であり、このうち
(P)はCuが本発明の規定より低いもの、(Q)、(R)は
3Ni+2Cuが本発明の規定より低いもの、(S)〜
(U)はBが本発明の規定より低いものである。(Y)、
(Z)は公知の合金であり、いずれもCu、Bが添加され
ておらず、また結晶粒の断面積が大きく、展伸度も小さ
い。このうち(Y)は従来のリードフレーム用低Ni合
金、(Z)は42合金である。
合金であり、このうち(A)〜(I)はNi、CuとBの含
有量を様々に変えたもの、(J)および(K)は結晶粒の断
面積および展伸度が本発明の請求項2の規定を満足しな
いものである。(P)〜(U)は比較合金であり、このうち
(P)はCuが本発明の規定より低いもの、(Q)、(R)は
3Ni+2Cuが本発明の規定より低いもの、(S)〜
(U)はBが本発明の規定より低いものである。(Y)、
(Z)は公知の合金であり、いずれもCu、Bが添加され
ておらず、また結晶粒の断面積が大きく、展伸度も小さ
い。このうち(Y)は従来のリードフレーム用低Ni合
金、(Z)は42合金である。
【0017】これらの各種特性を表2に示す。耐食性は
塩水噴霧試験により、35℃の5%食塩水を24時間噴
霧後の錆の発生状況で評価した。発錆が表面積の20%
以下の状態を○印(良好)、20〜50%の発錆状態を
△印(やや劣る)、50%を越える発錆状態を×印(劣
る)で示す。プレス性は打ち抜き品の破断部の平滑性を
電子顕微鏡で観察して評価した。熱間加工性は熱間加工
時の割れの有無により○印(割れなし)、×印(割れ発
生)で示した。
塩水噴霧試験により、35℃の5%食塩水を24時間噴
霧後の錆の発生状況で評価した。発錆が表面積の20%
以下の状態を○印(良好)、20〜50%の発錆状態を
△印(やや劣る)、50%を越える発錆状態を×印(劣
る)で示す。プレス性は打ち抜き品の破断部の平滑性を
電子顕微鏡で観察して評価した。熱間加工性は熱間加工
時の割れの有無により○印(割れなし)、×印(割れ発
生)で示した。
【0018】
【表2】
【0019】図1は表2の耐食性の結果を、主な合金に
ついてNi%を横軸、Cu%を縦軸とした平面上に表示
したものであり、黒丸、▲でBが本発明の規定を満たす
もの、△、×でBが本発明の規定から外れたものを示
す。図中のアルファベットは表2のそれに対応する。な
お平行四辺形で本発明合金の領域を、破線で熱膨張係数
α30-200をそれぞれ示した。本図から、低Niかつ低C
uとなるほど耐食性は劣り、また熱膨張係数は大きくな
り、平行四辺形内では良好な耐食性および低熱膨張特性
を示すことがわかる。(B)、(C)、(P)のグループ、
(G)、(H)、(Q)のグループ、(I)、(R)のグループ
で、各グループ内での比較により、Cuの添加による耐
食性の向上が明瞭に確認できる。(B)、(S)のグルー
プ、(G)、(U)のグループで、各グループ内での比較に
よりBの添加による耐食性の向上が確認できる。
ついてNi%を横軸、Cu%を縦軸とした平面上に表示
したものであり、黒丸、▲でBが本発明の規定を満たす
もの、△、×でBが本発明の規定から外れたものを示
す。図中のアルファベットは表2のそれに対応する。な
お平行四辺形で本発明合金の領域を、破線で熱膨張係数
α30-200をそれぞれ示した。本図から、低Niかつ低C
uとなるほど耐食性は劣り、また熱膨張係数は大きくな
り、平行四辺形内では良好な耐食性および低熱膨張特性
を示すことがわかる。(B)、(C)、(P)のグループ、
(G)、(H)、(Q)のグループ、(I)、(R)のグループ
で、各グループ内での比較により、Cuの添加による耐
食性の向上が明瞭に確認できる。(B)、(S)のグルー
プ、(G)、(U)のグループで、各グループ内での比較に
よりBの添加による耐食性の向上が確認できる。
【0020】表2から次のことがわかる。本発明合金の
うち、(A)〜(I)は、Cuの1%を越え4%以下と
B 0.0005〜0.1%とを複合添加し、かつ結晶
粒の平均断面積を200μm2以下および展伸度を2.
5以上とすることにより、Fe−42%Ni合金(Z)
に対して、耐食性、プレス性、熱間加工性において、何
ら遜色なく、引張強さにおいては、勝るとも劣らないこ
とがわかる。また、本発明合金(J)および(K)は、
成分的には(E)と同一であるが、それぞれ結晶粒の平
均粒度および展伸度をFe−42%Ni合金と同程度と
したものであり、プレス性にやや劣り、また引張強度が
(E)に対し、4〜6%劣ることがわかる。しかし、低
Ni合金である(Y)に対して引張強さで4〜6%勝
る。(P)はCuが低いので耐食性が劣り、(Q)、(R)
は3Ni+2Cuが小さいため熱膨張係数が大きく、リ
ードフレームとして使用する場合のシリコンチップとの
熱膨張整合性が劣化し、さらに耐食性も劣化している。
(T)、(U)はB含有量が低いため、熱間加工性が悪い。
さらに(F)、(T)のグループ内での比較も合わせると、
Bの添加による熱間加工性、強度の向上も確認できる。
なお(E)、(J)、(K)の比較により、結晶粒の制御によ
るプレス性および強度の向上が確認できる。
うち、(A)〜(I)は、Cuの1%を越え4%以下と
B 0.0005〜0.1%とを複合添加し、かつ結晶
粒の平均断面積を200μm2以下および展伸度を2.
5以上とすることにより、Fe−42%Ni合金(Z)
に対して、耐食性、プレス性、熱間加工性において、何
ら遜色なく、引張強さにおいては、勝るとも劣らないこ
とがわかる。また、本発明合金(J)および(K)は、
成分的には(E)と同一であるが、それぞれ結晶粒の平
均粒度および展伸度をFe−42%Ni合金と同程度と
したものであり、プレス性にやや劣り、また引張強度が
(E)に対し、4〜6%劣ることがわかる。しかし、低
Ni合金である(Y)に対して引張強さで4〜6%勝
る。(P)はCuが低いので耐食性が劣り、(Q)、(R)
は3Ni+2Cuが小さいため熱膨張係数が大きく、リ
ードフレームとして使用する場合のシリコンチップとの
熱膨張整合性が劣化し、さらに耐食性も劣化している。
(T)、(U)はB含有量が低いため、熱間加工性が悪い。
さらに(F)、(T)のグループ内での比較も合わせると、
Bの添加による熱間加工性、強度の向上も確認できる。
なお(E)、(J)、(K)の比較により、結晶粒の制御によ
るプレス性および強度の向上が確認できる。
【0021】
【発明の効果】以上に述べたように、本発明によれば、
低Ni合金にCu、Bを複合添加することで、低熱膨張
特性、熱間加工性、耐食性、および強度のいずれも良好
な電子部品用材料を製造することができ、この材料はF
e−42Niに比較して低コストであり、工業上の効果
は極めて大きい。
低Ni合金にCu、Bを複合添加することで、低熱膨張
特性、熱間加工性、耐食性、および強度のいずれも良好
な電子部品用材料を製造することができ、この材料はF
e−42Niに比較して低コストであり、工業上の効果
は極めて大きい。
【図1】実施例の主な試料のNiおよびCu平面図上で
の分布と耐食性の関係を示す図である。平行四辺形内は
本発明合金の組成範囲、破線は等α30-200線、点は実施
例の組成およびその耐食性を示す。
の分布と耐食性の関係を示す図である。平行四辺形内は
本発明合金の組成範囲、破線は等α30-200線、点は実施
例の組成およびその耐食性を示す。
Claims (2)
- 【請求項1】 重量%にて、Ni31〜36%、Cu
1.0%を越え4.0%以下、Mn1.0%以下、Si
0.5%以下、B0.0005〜0.1%を含有し、N
iとCuの含有量は101%≦3Ni+2Cu≦110
%の関係を満足し、残部は不純物を除き実質的にFeよ
りなることを特徴とする電子部品用Fe−Ni系合金。 - 【請求項2】 圧延方向および厚み方向に平行な面の結
晶粒の平均断面積が200μm2以下かつ平均展伸度が
2.5以上であることを特徴とする電子部品用Fe−N
i系合金。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6552395A JPH08260109A (ja) | 1995-03-24 | 1995-03-24 | 電子部品用Fe−Ni系合金 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6552395A JPH08260109A (ja) | 1995-03-24 | 1995-03-24 | 電子部品用Fe−Ni系合金 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08260109A true JPH08260109A (ja) | 1996-10-08 |
Family
ID=13289475
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6552395A Pending JPH08260109A (ja) | 1995-03-24 | 1995-03-24 | 電子部品用Fe−Ni系合金 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08260109A (ja) |
-
1995
- 1995-03-24 JP JP6552395A patent/JPH08260109A/ja active Pending
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