JPH08266532A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
- Publication number
- JPH08266532A JPH08266532A JP7076245A JP7624595A JPH08266532A JP H08266532 A JPH08266532 A JP H08266532A JP 7076245 A JP7076245 A JP 7076245A JP 7624595 A JP7624595 A JP 7624595A JP H08266532 A JPH08266532 A JP H08266532A
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- JP
- Japan
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- radiation
- ray
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 蛍光素子と光電変換素子の組を並列したアレ
イ型固体検出器を備えたＸ線ＣＴ装置で、個々の検出器
素子の感度低下によるばらつきをキャリブレーションを
すること無しに補正する。 【構成】 検出器の放射線積算被曝量に対する感度劣化
特性関数を記憶した第１の記憶手段１１と、前記検出器
の各チャンネル毎の放射線の被曝量を積算して記憶する
第２の記憶手段１２とを設け、この第１と第２の記憶手
段に記憶されたデータを利用して前記放射線検出器の出
力を各チャンネル毎に補正演算するようにした。放射線
の被照射履歴によって個々の検出器素子に生じた感度の
ばらつきは正しく補正され、虚像などのない良好なＸ線
ＣＴ画像を得ることができる。
イ型固体検出器を備えたＸ線ＣＴ装置で、個々の検出器
素子の感度低下によるばらつきをキャリブレーションを
すること無しに補正する。 【構成】 検出器の放射線積算被曝量に対する感度劣化
特性関数を記憶した第１の記憶手段１１と、前記検出器
の各チャンネル毎の放射線の被曝量を積算して記憶する
第２の記憶手段１２とを設け、この第１と第２の記憶手
段に記憶されたデータを利用して前記放射線検出器の出
力を各チャンネル毎に補正演算するようにした。放射線
の被照射履歴によって個々の検出器素子に生じた感度の
ばらつきは正しく補正され、虚像などのない良好なＸ線
ＣＴ画像を得ることができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＸ線ＣＴ装置に関し、特
にＸ線ＣＴ装置におけるＸ線の検出に使われるアレイ型
放射線検出器の各検出素子ごとの感度の劣化およびばら
つきを補正する技術に関する。
にＸ線ＣＴ装置におけるＸ線の検出に使われるアレイ型
放射線検出器の各検出素子ごとの感度の劣化およびばら
つきを補正する技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】医療用のＸ線ＣＴ装置の検出器としては
従来から放射線が入射することにより発光する蛍光素子
とその蛍光素子からの光を電気信号に変換する光電変換
素子を多数個並べたアレイ型の固体放射線検出器が用い
られている。固体検出器を利用した場合、当たった放射
線の量に応じて特に蛍光素子の発光強度が低下すること
により検出器の出力が徐々に低下することが知られてお
り、それを補正するために装置使用開始に当たってキャ
リブレーションを行い、場合によっては診断途中におい
てもしばしばキャリブレーションを行って検出器出力の
大きさを補正し、各検出素子ごとのばらつきがなくなる
ようにしていた。
従来から放射線が入射することにより発光する蛍光素子
とその蛍光素子からの光を電気信号に変換する光電変換
素子を多数個並べたアレイ型の固体放射線検出器が用い
られている。固体検出器を利用した場合、当たった放射
線の量に応じて特に蛍光素子の発光強度が低下すること
により検出器の出力が徐々に低下することが知られてお
り、それを補正するために装置使用開始に当たってキャ
リブレーションを行い、場合によっては診断途中におい
てもしばしばキャリブレーションを行って検出器出力の
大きさを補正し、各検出素子ごとのばらつきがなくなる
ようにしていた。
【０００３】また上記した検出器の感度劣化は、検出器
に放射線が当たらないようにして検出器を休止状態にし
ておくとある程度回復することも知られているが、連続
してＸ線ＣＴ装置を診断に利用している場合には感度の
劣化を補償するためには診断を中断するなどしてキャリ
ブレーションを行う他はなかった。
に放射線が当たらないようにして検出器を休止状態にし
ておくとある程度回復することも知られているが、連続
してＸ線ＣＴ装置を診断に利用している場合には感度の
劣化を補償するためには診断を中断するなどしてキャリ
ブレーションを行う他はなかった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】検出器感度の劣化は各
検出素子に対する放射線の被曝量に応じて起こるので、
また各チャンネルの放射線の被曝量は被写体による吸収
量によって変わるので、検出器の感度は検出器素子の各
チャンネルによってばらつきが生じ、それがひどくなる
と得られたＸ線ＣＴ画像に虚像が現れるという問題があ
った。一般的には従来技術のようにキャリブレーション
によって各チャンネルの感度のばらつきを補正できる
が、キャリブレーションを行うためには診断を中断する
ことになり、非常に非効率的であった。
検出素子に対する放射線の被曝量に応じて起こるので、
また各チャンネルの放射線の被曝量は被写体による吸収
量によって変わるので、検出器の感度は検出器素子の各
チャンネルによってばらつきが生じ、それがひどくなる
と得られたＸ線ＣＴ画像に虚像が現れるという問題があ
った。一般的には従来技術のようにキャリブレーション
によって各チャンネルの感度のばらつきを補正できる
が、キャリブレーションを行うためには診断を中断する
ことになり、非常に非効率的であった。
【０００５】本発明は上記した従来技術の問題点に鑑み
て発明されたもので、本発明が解決しようとする課題
は、各検出器素子の放射線の被曝量に応じた劣化を克服
し、診察途中での余分なキャリブレーションを行わなく
ても常に良好な画像が得られるＸ線ＣＴ装置を提供する
ことにある。
て発明されたもので、本発明が解決しようとする課題
は、各検出器素子の放射線の被曝量に応じた劣化を克服
し、診察途中での余分なキャリブレーションを行わなく
ても常に良好な画像が得られるＸ線ＣＴ装置を提供する
ことにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明では、放射線が入射することにより発光する
蛍光素子とその蛍光素子からの光を電気信号に変換する
光電変換素子を多数チャンネル並べたアレイ型放射線検
出器を備えたＸ線ＣＴ装置において、前記検出器の放射
線積算被曝量に対する感度劣化特性関数を記憶した第１
の記憶手段と、前記検出器の各チャンネル毎の放射線の
被曝量を積算して記憶する第２の記憶手段とを設け、こ
の第１と第２の記憶手段に記憶されたデータを利用して
前記放射線検出器の出力を各チャンネル毎に補正演算す
るようにした。
に、本発明では、放射線が入射することにより発光する
蛍光素子とその蛍光素子からの光を電気信号に変換する
光電変換素子を多数チャンネル並べたアレイ型放射線検
出器を備えたＸ線ＣＴ装置において、前記検出器の放射
線積算被曝量に対する感度劣化特性関数を記憶した第１
の記憶手段と、前記検出器の各チャンネル毎の放射線の
被曝量を積算して記憶する第２の記憶手段とを設け、こ
の第１と第２の記憶手段に記憶されたデータを利用して
前記放射線検出器の出力を各チャンネル毎に補正演算す
るようにした。
【０００７】ここで検出器の被曝量とは、検出器出力は
照射された放射線の強度に比例するものなので、例えば
検出器出力で置き換えることができ、第２の記憶手段に
は検出器出力の大きさを積算した値を記憶する。第１の
記憶手段に記憶するデータも検出器出力の積算量に対す
る同じ強さの放射線を受けたときの検出器出力という形
で記憶することができる。
照射された放射線の強度に比例するものなので、例えば
検出器出力で置き換えることができ、第２の記憶手段に
は検出器出力の大きさを積算した値を記憶する。第１の
記憶手段に記憶するデータも検出器出力の積算量に対す
る同じ強さの放射線を受けたときの検出器出力という形
で記憶することができる。
【０００８】
【作用】蛍光素子の発光量低下を主な原因とする検出器
の感度低下の様子は、あらかじめ放射線の積算被曝量と
検出器の出力低下の関係を測定して感度劣化を表す特性
関数として第１の記憶手段に記憶しておく。アレイ型検
出器の中の個々の検出素子の被曝量は毎日の使用始めに
行われるキャリブレーションの実行直後から第２の記憶
手段に積算して記憶しておく。その２つの記憶手段に記
憶されたデータから、現在測定している検出器出力を補
正計算するので、その計算された値は測定している放射
線量を正しく表している。したがって放射線の被照射履
歴によって個々の検出器素子の生じた感度のばらつきは
正しく補正され、虚像などのない良好なＣＴ画像を得る
ことができる。
の感度低下の様子は、あらかじめ放射線の積算被曝量と
検出器の出力低下の関係を測定して感度劣化を表す特性
関数として第１の記憶手段に記憶しておく。アレイ型検
出器の中の個々の検出素子の被曝量は毎日の使用始めに
行われるキャリブレーションの実行直後から第２の記憶
手段に積算して記憶しておく。その２つの記憶手段に記
憶されたデータから、現在測定している検出器出力を補
正計算するので、その計算された値は測定している放射
線量を正しく表している。したがって放射線の被照射履
歴によって個々の検出器素子の生じた感度のばらつきは
正しく補正され、虚像などのない良好なＣＴ画像を得る
ことができる。
【０００９】
【実施例】図１に本発明のＸ線ＣＴ装置の一実施例を示
す。Ｘ線管１から扇状に放射されたＸ線ビーム２は被写
体３によって吸収などされたのちコリメータ７を通り、
扇状に放射された範囲全体にわたってアレイ型固体検出
器４によって同時に検出される。アレイ型固体検出器４
はＣｄＷＯ4 やＣｓＩ（Ｔｌ）などでできた蛍光素子５
とシリコンフォトダイオードなどで作られた光電変換素
子５を例えば１ｍｍピッチで１０００個ほど円弧状に並
べた構造になっている。
す。Ｘ線管１から扇状に放射されたＸ線ビーム２は被写
体３によって吸収などされたのちコリメータ７を通り、
扇状に放射された範囲全体にわたってアレイ型固体検出
器４によって同時に検出される。アレイ型固体検出器４
はＣｄＷＯ4 やＣｓＩ（Ｔｌ）などでできた蛍光素子５
とシリコンフォトダイオードなどで作られた光電変換素
子５を例えば１ｍｍピッチで１０００個ほど円弧状に並
べた構造になっている。
【００１０】被写体３がないときには、アレイ型検出器
４の各素子（チャンネル）の出力は各素子間で同じでな
ければならないので、通常Ｘ線ＣＴ装置では毎日装置を
立ち上げたときにキャリブレーションと呼ばれる操作を
行い各素子の出力を同じレベルに合わせるようにしてお
く。これは各素子の放射線に対する感度を合わせる操作
であるといってもよい。このようにして毎朝各素子の感
度は合わせられるが、当たった放射線の量に応じて特に
蛍光素子の発光強度が低下することにより検出器の出力
は徐々に低下する。すなわち測定の進行に応じて各素子
の感度は徐々に劣化し、さらには放射線の被曝量は各素
子によって一定ではないので感度の劣化の程度は各素子
ごとに違ってくる。
４の各素子（チャンネル）の出力は各素子間で同じでな
ければならないので、通常Ｘ線ＣＴ装置では毎日装置を
立ち上げたときにキャリブレーションと呼ばれる操作を
行い各素子の出力を同じレベルに合わせるようにしてお
く。これは各素子の放射線に対する感度を合わせる操作
であるといってもよい。このようにして毎朝各素子の感
度は合わせられるが、当たった放射線の量に応じて特に
蛍光素子の発光強度が低下することにより検出器の出力
は徐々に低下する。すなわち測定の進行に応じて各素子
の感度は徐々に劣化し、さらには放射線の被曝量は各素
子によって一定ではないので感度の劣化の程度は各素子
ごとに違ってくる。
【００１１】図２は放射線の被曝量に応じて検出器素子
の出力の変化の様子を示した感度劣化特性の例である。
検出器各素子の大きさや素材はどの素子も同じなのでひ
とつの感度劣化特性関数ですべての素子の特性を代表さ
せることができる。放射線の被曝量をｘ、検出器出力を
ｙとし、キャリブレーション直後の検出器出力を１とし
てグラフを描くとキャリブレーションの後放射線の照射
された量に応じて検出器出力は単調に低下してくる。そ
の関数を仮にｙ＝ｆ（ｘ）とする。
の出力の変化の様子を示した感度劣化特性の例である。
検出器各素子の大きさや素材はどの素子も同じなのでひ
とつの感度劣化特性関数ですべての素子の特性を代表さ
せることができる。放射線の被曝量をｘ、検出器出力を
ｙとし、キャリブレーション直後の検出器出力を１とし
てグラフを描くとキャリブレーションの後放射線の照射
された量に応じて検出器出力は単調に低下してくる。そ
の関数を仮にｙ＝ｆ（ｘ）とする。
【００１２】図１で、アレイ型検出器４からの信号はＡ
／Ｄ変換器を含んだ信号処理回路１３によって各素子ご
との出力がデジタル信号として得られ、のちに説明する
補正演算器１４を経て断層像データ処理器１５によって
Ｘ線ＣＴ画像に構成され、ＣＲＴなどの表示器１６に表
示される。１１は図２を用いて説明した検出器の感度劣
化特性関数を記憶している第１のメモリであり、１２は
検出器の各チャンネルごとの放射線積算被曝量を記憶し
ている第２のメモリである。あるひとつのチャンネルの
出力を補正するために、第２のメモリ１２に記憶されて
いる積算被曝量データを第１のメモリ１１に記憶されて
いる特性関数に当てはめることによりそのチャンネルの
劣化の程度すなわちｆ（ｘ）を知ることができ、補正演
算器１４において信号処理回路１３で得られたそのチャ
ンネルの出力にｆ（ｘ）の逆数をかけることによって補
正された検出器出力を得ることができる。
／Ｄ変換器を含んだ信号処理回路１３によって各素子ご
との出力がデジタル信号として得られ、のちに説明する
補正演算器１４を経て断層像データ処理器１５によって
Ｘ線ＣＴ画像に構成され、ＣＲＴなどの表示器１６に表
示される。１１は図２を用いて説明した検出器の感度劣
化特性関数を記憶している第１のメモリであり、１２は
検出器の各チャンネルごとの放射線積算被曝量を記憶し
ている第２のメモリである。あるひとつのチャンネルの
出力を補正するために、第２のメモリ１２に記憶されて
いる積算被曝量データを第１のメモリ１１に記憶されて
いる特性関数に当てはめることによりそのチャンネルの
劣化の程度すなわちｆ（ｘ）を知ることができ、補正演
算器１４において信号処理回路１３で得られたそのチャ
ンネルの出力にｆ（ｘ）の逆数をかけることによって補
正された検出器出力を得ることができる。
【００１３】各検出器素子の出力は照射されたＸ線の強
さに比例しているから、１２に記憶されている積算被曝
量は信号処理回路１３によって得られた各チャンネルの
出力をそのチャンネルごとに積算することで得ることが
できる。より正しくは補正演算器１４で補正された各チ
ャンネルの出力を積算して積算被曝量としてもよい。こ
のときはＸ線ＣＴ画像をとるときのみならずＸ線を検出
器で受けている間は常に補正演算器１４をはたらかせて
積算被曝量を更新するようにしなければならない。１１
に記憶している感度劣化特性関数はあらかじめ実験によ
って求めておき式や表の形などで記憶しておいたもので
ある。そのときの横軸としては上記で説明した信号処理
回路１３または補正演算回路１４の出力を積算したもの
とし、縦軸はそのときの生の検出器出力とする。
さに比例しているから、１２に記憶されている積算被曝
量は信号処理回路１３によって得られた各チャンネルの
出力をそのチャンネルごとに積算することで得ることが
できる。より正しくは補正演算器１４で補正された各チ
ャンネルの出力を積算して積算被曝量としてもよい。こ
のときはＸ線ＣＴ画像をとるときのみならずＸ線を検出
器で受けている間は常に補正演算器１４をはたらかせて
積算被曝量を更新するようにしなければならない。１１
に記憶している感度劣化特性関数はあらかじめ実験によ
って求めておき式や表の形などで記憶しておいたもので
ある。そのときの横軸としては上記で説明した信号処理
回路１３または補正演算回路１４の出力を積算したもの
とし、縦軸はそのときの生の検出器出力とする。
【００１４】
【発明の効果】検出器素子の感度劣化は積算被曝量のデ
ータと劣化特性関数のデータにより個別に補正されるの
で、放射線の被照射履歴によって個々の検出器素子の生
じた感度のばらつきは正しく補正され、虚像などのない
良好なＸ線ＣＴ画像を得ることができる。したがって、
診断途中のキャリブレーションをしなくても、例えば毎
日の装置の立ち上げ時のキャリブレーションのみで、そ
の日１日のあいだ良好なＸ線ＣＴ像をとり続けることが
できる。
ータと劣化特性関数のデータにより個別に補正されるの
で、放射線の被照射履歴によって個々の検出器素子の生
じた感度のばらつきは正しく補正され、虚像などのない
良好なＸ線ＣＴ画像を得ることができる。したがって、
診断途中のキャリブレーションをしなくても、例えば毎
日の装置の立ち上げ時のキャリブレーションのみで、そ
の日１日のあいだ良好なＸ線ＣＴ像をとり続けることが
できる。
【図１】本発明のＸ線ＣＴ装置の一実施例を示す。
【図２】検出器の感度劣化特性の一例である。
１…Ｘ線管 ２…Ｘ線ビーム ３…被写体 ４…アレイ型検出器 ５…蛍光素子 ６…光電変換素子 １１…第１のメモリ １２…第２のメモリ １３…信号処理回路 １４…補正演算器 １５…断層像データ処理器 １６…表示器
Claims (1)
- 【請求項１】 放射線が入射することにより発光する蛍
光素子とその蛍光素子からの光を電気信号に変換する光
電変換素子を多数チャンネル並べたアレイ型放射線検出
器を備えたＸ線ＣＴ装置において、前記検出器の放射線
積算被曝量に対する感度劣化特性関数を記憶した第１の
記憶手段と、前記検出器の各チャンネル毎の放射線の被
曝量を積算して記憶する第２の記憶手段とを設け、この
第１と第２の記憶手段に記憶されたデータを利用して前
記放射線検出器の出力を各チャンネル毎に補正演算する
ことを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7076245A JPH08266532A (ja) | 1995-03-31 | 1995-03-31 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7076245A JPH08266532A (ja) | 1995-03-31 | 1995-03-31 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08266532A true JPH08266532A (ja) | 1996-10-15 |
Family
ID=13599808
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7076245A Pending JPH08266532A (ja) | 1995-03-31 | 1995-03-31 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08266532A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0855678A3 (en) * | 1997-01-27 | 1999-06-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Method and apparatus for sensing an image |
| JP2005308600A (ja) * | 2004-04-23 | 2005-11-04 | Shimadzu Corp | 放射線異物検査装置 |
| JP2007101256A (ja) * | 2005-09-30 | 2007-04-19 | Fujifilm Corp | Ｘ線撮像装置及びｘ線ｃｔ装置 |
| JP2012045333A (ja) * | 2010-08-30 | 2012-03-08 | Fujifilm Corp | 管理装置、放射線画像撮影システム、管理プログラム、及び放射線検出手段の管理方法 |
| WO2012096266A1 (ja) * | 2011-01-11 | 2012-07-19 | 株式会社東芝 | Ｘ線診断装置 |
| JP2013513814A (ja) * | 2009-12-15 | 2013-04-22 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 放射線量に基づく撮像検出器タイルのパラメタの補償 |
-
1995
- 1995-03-31 JP JP7076245A patent/JPH08266532A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0855678A3 (en) * | 1997-01-27 | 1999-06-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Method and apparatus for sensing an image |
| US6219405B1 (en) | 1997-01-27 | 2001-04-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Method and apparatus for sensing an image |
| JP2005308600A (ja) * | 2004-04-23 | 2005-11-04 | Shimadzu Corp | 放射線異物検査装置 |
| JP2007101256A (ja) * | 2005-09-30 | 2007-04-19 | Fujifilm Corp | Ｘ線撮像装置及びｘ線ｃｔ装置 |
| JP2013513814A (ja) * | 2009-12-15 | 2013-04-22 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 放射線量に基づく撮像検出器タイルのパラメタの補償 |
| JP2012045333A (ja) * | 2010-08-30 | 2012-03-08 | Fujifilm Corp | 管理装置、放射線画像撮影システム、管理プログラム、及び放射線検出手段の管理方法 |
| WO2012096266A1 (ja) * | 2011-01-11 | 2012-07-19 | 株式会社東芝 | Ｘ線診断装置 |
| US8905636B2 (en) | 2011-01-11 | 2014-12-09 | Kabushiki Kaisha Toshiba | X-ray diagnostic apparatus |
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