JPH08273209A - 光ディスク媒体の欠陥検査方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、光ディスク媒体の欠陥検査処理の
うち、消去動作を省略することによって欠陥検査処理に
要する時間の短縮を図ることを目的とする。 【構成】 光ディスク媒体１の書き換え可能領域におけ
る欠陥検査において、消去動作を省略し、書き込み動作
と照合動作を行うようにする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光ディスク装置の光デ
ィスクである記憶媒体（以下、単に媒体という）の書き
換え可能領域における欠陥検査（サーティファイ）方法
及び装置に関する。

【０００２】近年、光ディスク装置は、フレキシブルデ
ィスク装置（ＦＤＤ）の代替として、大量のデータを扱
う情報処理機器に使用されるようになってきた。このよ
うな光ディスク装置の媒体の全面欠陥検査を行う初期化
処理に、時間を要しているため高速化が望まれている。

【０００３】

【従来の技術】一般に、光磁気ディスク媒体を初期化す
る方法では、サーティファイが行われ、その時に検出さ
れた欠陥は、前記媒体の内周側及び外周側に設けられて
いるＤＭＡ（Defect Management Area）領域に登録する
ようになっている。

【０００４】図９は従来例のサーティファイ処理フロー
チャートであり、図９において、Ｓ８１〜Ｓ８４は処理
番号である。初期化時のサーティファイ処理が開始され
ると、先ず全面イレーズ（消去）による欠陥検出動作が
行われ（Ｓ８１）、次に全面ライト（書き込み）による
欠陥検出動作が行われ（Ｓ８２）、続いて全面ベリファ
イ（照合）による欠陥検出動作が行われる（Ｓ８３）。
そして、これらの動作で検出された欠陥をＤＭＡ領域に
登録し（Ｓ８４）、このサーティファイ処理が終了す
る。

【０００５】しかし、ＩＳＯ（国際標準化機構）標準で
ある９０ｍｍ型の１２０ＭＢ（メガバイト）媒体の場合
では、光磁気ディスク媒体のフォーマットとして内周側
から−１６〜−１トラックに内周制御ゾーンとバッファ
トラック、０〜２トラックにＤＭＡゾーン、３〜９９９
６トラックにユーザゾーン（データゾーン）、９９９７
〜９９９９トラックにＤＭＡゾーン、１００００〜１０
０１５トラックにバッファトラックと外周制御ゾーンが
ある。

【０００６】サーティファイを行う領域は、２種あり
０〜９９９９トラックであるＤＭＡゾーン＋ユーザゾー
ンと３〜９９９６トラックであるユーザゾーンのみと
がある。これら、は光ディスク装置の仕様によって
選択されるものである。

【０００７】このように、サーティファイを行う領域は
１００００トラックほどあり、媒体を３０００ｒｐｍで
回転させると、一つの全面処理に３分２０秒の時間がか
かることから、全面イレーズ、全面ライト、全面ベリフ
ァイを行うサーティファイ方法では、１０分以上の時間
を要していた。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】前記のような従来のも
のにおいては、サーティファイ処理を行うと、光ディス
ク装置が数分から数十分の間、使用不能になるという課
題があった。

【０００９】本発明は、このような従来の課題を解決
し、サーティファイ処理のうち、イレーズ動作を省略も
しくはイレーズ動作とライト動作を省略することによっ
てサーティファイ処理に要する時間の短縮を図ることを
目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理説明
図であり、図１中、１は光ディスク媒体、２はモータ、
４はヘッド、８はドライブコントローラ、８１は選択手
段、８２は判別手段を示す。

【００１１】本発明は上記の課題を解決するため、次の
ように構成した。光ディスク媒体１の書き換え可能領域
における欠陥検査において、消去動作を省略し、書き込
み動作と照合動作を行うようにする。

【００１２】また、光ディスク媒体１の書き換え可能領
域における欠陥検査において、消去動作と書き込み動作
を省略し、照合動作を行うようにする。さらに、光ディ
スク媒体１の書き換え可能領域における欠陥検査におい
て、消去動作を省略し、書き込み動作と照合動作を行う
か、消去動作と書き込み動作を省略し、照合動作を行う
かの処理の選択ができるようにする。

【００１３】また、光ディスク媒体１の書き換え可能領
域における欠陥検査において、光ディスク媒体の状態を
判別し、消去動作と書き込み動作と照合動作を行うか、
消去動作を省略し、書き込み動作と照合動作を行うか、
消去動作と書き込み動作を省略し、照合動作を行うかの
処理の選択を行うようにする。

【００１４】さらに、光ディスク媒体１の状態を判別す
る判別手段８２と、光ディスク媒体１の書き換え可能領
域における欠陥検査動作の選択を行う選択手段８１とを
備え、前記選択手段８１は前記判別手段８２の判別によ
り、消去動作と書き込み動作と照合動作を行うか、消去
動作を省略し書き込み動作と照合動作を行うか、消去動
作と書き込み動作を省略し照合動作を行うかのいずれか
を選択する。

【００１５】また、前記判別手段８２は、前記光ディス
ク媒体１が消去済か、オーバライト可能か、書き込み済
かの判別を行うようにする。さらに、前記選択手段８１
は、前記判別手段８２が、前記光ディスク媒体１を消去
済でなくオーバライト可能でなく書き込み済でないと判
別した場合、消去動作と書き込み動作と照合動作を行
い、前記判別手段８２が、前記光ディスク媒体１を消去
済又はオーバライト可能と判別した場合、消去動作を省
略し、書き込み動作と照合動作を行い、前記判別手段８
２が、前記光ディスク媒体１を書き込み済と判別した場
合、消去動作と書き込み動作を省略し、照合動作を行
う。

【００１６】

【作用】前記構成に基づく本発明の作用を説明する。光
ディスク媒体１の書き換え可能領域における欠陥検査に
おいて、消去動作を省略し、書き込み動作と照合動作を
行うようにしているため、光ディスク媒体１の欠陥検査
処理に要する時間の短縮を図ることができる。

【００１７】また、光ディスク媒体１の書き換え可能領
域における欠陥検査において、消去動作と書き込み動作
を省略し、照合動作を行うようにしているため、光ディ
スク媒体１の欠陥検査処理に要する時間をさらに短縮す
ることができる。

【００１８】さらに、光ディスク媒体１の書き換え可能
領域における欠陥検査において、消去動作を省略し書き
込み動作と照合動作を行うか、消去動作と書き込み動作
を省略し照合動作を行うかの処理の選択をユーザができ
るようにしているため、前記媒体１がオーバライト可能
なものか、すでに消去又は書き込みされているかに応じ
て前記動作をユーザが選択して欠陥検査処理に要する時
間を短縮することができる。

【００１９】また、光ディスク媒体１の書き換え可能領
域における欠陥検査において、光ディスク媒体の状態を
判別し、消去動作と書き込み動作と照合動作を行うか、
消去動作を省略し書き込み動作と照合動作を行うか、消
去動作と書き込み動作を省略し照合動作を行うかの処理
の選択を行うようにしているため、自動的に前記媒体１
がオーバライト可能なものか、すでに消去又は書き込み
されているか若しくはユーザの指定があるかに応じて前
記処理を選択して欠陥検査処理に要する時間を短縮する
ことができる。

【００２０】さらに、選択手段８１は、判別手段８２の
判別により、消去動作と書き込み動作と照合動作を行う
か、消去動作を省略し書き込み動作と照合動作を行う
か、消去動作と書き込み動作を省略し照合動作を行うか
のいずれかを選択するようにしているため、前記選択手
段８１により自動的に、前記媒体１がオーバライト可能
なものか、すでに消去又は書き込みされているか若しく
はユーザの指定があるか等の判別に応じて前記処理を選
択して欠陥検査処理に要する時間を短縮することができ
る。

【００２１】

【実施例】以下、図面に基づいて本発明の実施例を説明
する。図２〜図８は、本発明の実施例を示した図であ
り、以下、図２〜図８に基づいて説明する。

【００２２】§１：光ディスク装置の説明 図２は光ディスク装置の説明図である。図２において、
光ディスク装置には、ディスク１、モータ２、回転制御
系３、ヘッド４、ヘッド駆動制御系５、バイアス磁石
６、信号検出部７、ドライブコントローラ８、メモリ９
が設けてある。

【００２３】ディスク１は、光磁気ディスク媒体であり
モータ２により回転されるものである。モータ２は、回
転制御系３により回転制御されディスク１を回転駆動す
るものである。回転制御系３は、モータ２の回転速度を
制御するものである。

【００２４】ヘッド４は、ディスク１の記録面に半導体
レーザを照射するものである。ヘッド駆動制御系５に
は、フォーカス方向又はトラッキング方向のレンズ（ヘ
ッド４）の位置制御を行うアクチュエータ制御系と、レ
ンズをディスク１の半径方向に移動させる制御を行うキ
ャリッジ（ポジショナ）制御系がある。

【００２５】バイアス磁石６は、ディスク１の記録方向
を決めるものである。信号検出部７は、ヘッド４から読
み取った信号を検出するものである。ドライブコントロ
ーラ８は、ＣＰＵ（処理装置）を内蔵して、この光ディ
スク装置の制御を司ると共に、ディスク１の状態を判別
する判別手段及びサーティファイ動作の選択を行う選択
手段を有しサーティファイ処理等を行うマイクロコンピ
ュータである。メモリ９は、ドライブコントローラ８が
各種の処理を行うときに使用する記録エリアであり、Ｒ
ＯＭ（リードオンリメモリ）、ＲＡＭ（ランダムアクセ
スメモリ）等で構成される。

【００２６】レーザ駆動回路１０は、ドライブコントロ
ーラ８から送られてくる最適記録パワー値によってヘッ
ド４の半導体レーザの照射量を制御するものである。こ
の光ディスク装置の動作において、ディスク１にデータ
を記録する際は、先ず、ドライブコントローラ８の指示
によって回転制御系３がモータ２を回転駆動させてディ
スク１を回転させる。次に、ドライブコントローラ８
は、ヘッド駆動制御系５に指示を送ってヘッド４を移動
させながら、予めコントロールトラックから読み出した
最適記録パワー値でレーザ駆動回路１０がヘッド４にデ
ィスク１の記録面にレーザ光を照射させ、バイアス磁石
６の記録用磁界を印加したのち各種のデータを記録す
る。

【００２７】また、ディスク１に記録されている情報を
再生する際には、ドライブコントローラ８からの再生パ
ワー値でレーザ駆動回路１０がヘッド４からディスク１
にレーザ光を照射させ、その反射光に応じた信号を信号
検出部７が検出してドライブコントローラ８へ送って各
種の情報を再生する。

【００２８】§２：光ディスク媒体の全面欠陥検査（サ
ーティファイ）の説明 １）イレーズ動作の説明 図３はイレーズ処理フローチャートであり、以下、図３
の処理番号Ｓ１〜Ｓ６に従って全面イレーズ処理の説明
をする。なお、イレーズ処理は、イレーズパワー値で、
レーザ駆動回路１０が駆動され、バイアス磁石６の消去
用の磁界が印加される。

【００２９】Ｓ１：全面イレーズ処理が開始されると、
制御装置であるドライブコントローラ８は、まず、ヘッ
ド４を媒体１の内側に位置付け先頭アドレスをセット
し、処理Ｓ２に移る。

【００３０】Ｓ２：ドライブコントローラ８は、例えば
１周毎に２５セクタあるセクタの記録データを消去し、
処理Ｓ３に移る。 Ｓ３：ドライブコントローラ８は、例えば上記処理Ｓ２
で消去するように指定されたセクタのＩＤ（識別子）が
読めなくて、記録データの消去ができなかった等の欠陥
セクタを検出したかどうかを判断する。この判断で欠陥
セクタを検出した場合は処理Ｓ４へ移り、もし、欠陥セ
クタを検出しなかった場合は処理Ｓ５へ移る。

【００３１】Ｓ４：ドライブコントローラ８は、上記処
理Ｓ３の判断で検出した欠陥セクタをメモリ９に登録
し、処理Ｓ５へ移る。 Ｓ５：ドライブコントローラ８は、ヘッド４を次のセク
タに位置付けし、処理Ｓ６に移る。

【００３２】Ｓ６：ドライブコントローラ８は、媒体１
の最終セクタまでイレーズ処理したかどうかを判断す
る。この判断で最終セクタまでイレーズ処理した場合は
このイレーズ処理を終了し、もし、最終セクタまでイレ
ーズ処理していなければ処理Ｓ２に戻る。

【００３３】２）ライト動作の説明 図４はライト処理フローチャートであり、以下、図４の
処理番号Ｓ１１〜Ｓ１６に従って全面ライト処理の説明
をする。なお、ライト処理は、記録パワー値で、レーザ
駆動回路１０が駆動され、バイアス磁石６の記録用の磁
界が印加される。

【００３４】Ｓ１１：全面ライト処理が開始されると、
ドライブコントローラ８は、まず、ヘッド４を媒体１の
内側に位置付け先頭アドレスをセットし、処理Ｓ１２に
移る。

【００３５】Ｓ１２：ドライブコントローラ８は、テス
トデータパターンをセクタに書き込み、処理Ｓ１３に移
る。 Ｓ１３：ドライブコントローラ８は、例えば上記処理Ｓ
１２でライトするように指定されたセクタのＩＤ（識別
子）が読めなくて、記録データの書き込みができなかっ
た等の欠陥セクタを検出したかどうかを判断する。この
判断で欠陥セクタを検出した場合は処理Ｓ１４へ移り、
もし、欠陥セクタを検出しなかった場合は処理Ｓ１５へ
移る。

【００３６】Ｓ１４：ドライブコントローラ８は、上記
処理Ｓ１３の判断で検出した欠陥セクタをメモリ９に登
録し、処理Ｓ１５へ移る。 Ｓ１５：ドライブコントローラ８は、ヘッド４を次のセ
クタに位置付けし、処理Ｓ１６に移る。

【００３７】Ｓ１６：ドライブコントローラ８は、媒体
１の最終セクタまでライト処理したかどうかを判断す
る。この判断で最終セクタまでライト処理した場合はこ
のライト処理を終了し、もし、最終セクタまでライト処
理していなければ処理Ｓ１２に戻る。

【００３８】３）ベリファイ動作の説明 図５はベリファイ処理フローチャートであり、以下、図
５の処理番号Ｓ２１〜Ｓ２６に従って全面ベリファイ処
理の説明をする。なお、ベリファイ処理は、記録パワー
値より低いパワー値である再生パワー値で、レーザ駆動
回路１０が駆動される。

【００３９】Ｓ２１：全面ベリファイ処理が開始される
と、ドライブコントローラ８は、まず、ヘッド４を媒体
１の内側に位置付け先頭アドレスをセットし、処理Ｓ２
２に移る。

【００４０】Ｓ２２：ドライブコントローラ８は、ベリ
ファイチェック（例えば、媒体１のセクタから読み出し
たデータと、読み出した前記データをＥＣＣ（Error Co
rection Code）で修正したデータとを比較し、誤り数が
セクタあたり８バイト以上を欠陥セクタとする）を行
い、処理Ｓ２３に移る。

【００４１】Ｓ２３：ドライブコントローラ８は、上記
処理Ｓ２２でベリファイチェックで欠陥セクタを検出し
たかどうかを判断する。この判断で欠陥セクタを検出し
た場合は処理Ｓ２４へ移り、もし、欠陥セクタを検出し
なかった場合は処理Ｓ２５へ移る。

【００４２】Ｓ２４：ドライブコントローラ８は、上記
処理Ｓ２３の判断で検出した欠陥セクタをメモリ９に登
録し、処理Ｓ２５へ移る。 Ｓ２５：ドライブコントローラ８は、ヘッド４を次のセ
クタに位置付けし、処理Ｓ２６に移る。

【００４３】Ｓ２６：ドライブコントローラ８は、媒体
１の最終セクタまでベリファイ処理したかどうかを判断
する。この判断で最終セクタまでベリファイ処理した場
合はこのベリファイ処理を終了し、もし、最終セクタま
でベリファイ処理していなければ処理Ｓ２２に戻る。

【００４４】４）イレーズ動作／ライト動作を省略する
場合の説明 図６はサーティファイ処理フローチャート（１）であ
り、図６（ａ）はイレーズ動作を省略する説明、図６
（ｂ）はイレーズ動作とライト動作を省略する説明、図
７はサーティファイ処理フローチャート（２）、図８は
サーティファイ処理フローチャート（３）である。

【００４５】：イレーズ動作を省略する説明 媒体１が予めオーバライト可能な媒体もしくはイレーズ
済媒体であることが判れば、全面イレーズ動作を省略し
サーティファイ処理に要する時間を短縮することができ
る。以下、図６（ａ）の処理番号Ｓ３１〜Ｓ３３に従っ
て説明する。

【００４６】Ｓ３１：サーティファイ処理が開始される
と、ドライブコントローラ８は、先ず、図４で説明した
全面ライト動作を行い、処理Ｓ３２に移る。 Ｓ３２：次に、ドライブコントローラ８は、図５で説明
した全面ベリファイ動作を行い、処理Ｓ３３に移る。

【００４７】Ｓ３３：ドライブコントローラ８は、前記
処理Ｓ３１、Ｓ３２で、メモリ９に登録した欠陥セクタ
のアドレスを媒体１のＤＭＡ領域に登録してこのサーテ
ィファイ処理を終了する。

【００４８】：イレーズ動作とライト動作を省略する
説明 媒体１は工場出荷時等において既に全面ライト処理が行
われていることが多い。このため、全面イレーズ動作と
全面ライト動作を省略しサーティファイ処理に要する時
間を短縮することができる。以下、図６（ｂ）の処理番
号Ｓ４１、Ｓ４２により説明する。

【００４９】Ｓ４１：サーティファイ処理が開始される
と、ドライブコントローラ８は、図５で説明した全面ベ
リファイ動作を行い、処理Ｓ４２に移る。 Ｓ４２：ドライブコントローラ８は、前記処理Ｓ４１
で、メモリ９に登録した欠陥セクタのアドレスを媒体１
のＤＭＡ領域に登録してこの処理を終了する。

【００５０】：イレーズ動作の省略と、イレーズ動作
とライト動作の省略とを選択する場合の説明 ユーザが、全面イレーズ動作を省略し全面ライト動作と
全面ベリファイ動作を行うか、全面イレーズ動作と全面
ライト動作を省略し全面ベリファイ動作を行うかの処理
の選択をできるようにし、前記媒体１がすでにイレーズ
又はライトされているかに応じて前記動作を選択してサ
ーティファイ処理に要する時間を短縮することができ
る。以下、図７の処理番号Ｓ５１〜Ｓ５６に従って説明
する。

【００５１】Ｓ５１：サーティファイ処理が開始される
と、ドライブコントローラ８は、全面イレーズ動作を省
略する指示があるかどうかを判断する。この判断で全面
イレーズ動作を省略する指示がある場合処理Ｓ５３に移
り、もし省略する指示がない場合処理Ｓ５２に移る。

【００５２】Ｓ５２：ドライブコントローラ８は、図３
で説明した全面イレーズ動作を行い、処理Ｓ５３に移
る。 Ｓ５３：ドライブコントローラ８は、全面ライト動作を
省略する指示があるかどうかを判断する。この判断で全
面ライト動作を省略する指示がある場合処理Ｓ５５に移
り、もし省略する指示がない場合処理Ｓ５４に移る。

【００５３】Ｓ５４：ドライブコントローラ８は、図４
で説明した全面ライト動作を行い、処理Ｓ５５に移る。 Ｓ５５：ドライブコントローラ８は、図５で説明した全
面ベリファイ動作を行い、処理Ｓ５６に移る。

【００５４】Ｓ５６：ドライブコントローラ８は、前記
処理Ｓ５２、Ｓ５４、Ｓ５５で、メモリ９に登録した欠
陥セクタのアドレスを媒体１のＤＭＡ領域に登録してこ
のサーティファイ処理を終了する。

【００５５】：媒体の自動判別機能を備え、イレーズ
動作／ライト動作の省略を自動選択する場合の説明 媒体１の状態を判別する判別手段と媒体１の全面欠陥検
査動作の選択を行う選択手段とをドライブコントローラ
８に備えるようにする。これにより、ドライブコントロ
ーラ８（選択手段）は、媒体１の判別（判別手段）によ
り、全面イレーズ動作と全面ライト動作の省略をするか
しないかを選択するようにしている。このため、ドライ
ブコントローラ８により前記媒体１がオーバライト可能
なものか或いはすでにイレーズ又はダミーデータ等がラ
イトされているかに応じて前記動作の省略をするかしな
いかを自動的に選択して全面欠陥検査処理に要する時間
を短縮することができる。以下、図８の処理番号Ｓ６１
〜Ｓ７０に従って説明する。

【００５６】Ｓ６１：サーティファイ処理が開始される
と、ドライブコントローラ８は、媒体１の複数の適当な
セクタ（例えば、適当に分散した１０セクタ程度）にヘ
ッド４を位置付け、ベリファイ動作を行い、処理Ｓ６２
に移る。

【００５７】Ｓ６２：ドライブコントローラ８（判別手
段）は、ベリファイ動作の結果から、正常終了したセク
タ数及び異常終了した原因から媒体１がイレーズされて
いる状態（例えば、シンク（同期）バイトが読めないシ
ンクバイトエラーチェックが発生）、もしくはライトさ
れている状態（例えば、製品出荷時等にライトされたデ
ータが正常に読めた）を判別し、処理Ｓ６３に移る。

【００５８】Ｓ６３：ドライブコントローラ８（判別手
段）は、シンクバイトエラーチェック等でイレーズ済媒
体であるかどうかを判断する。この判断でイレーズ済媒
体である場合は処理Ｓ６７の移り、もしイレーズ済媒体
でない場合は処理Ｓ６４に移る。

【００５９】Ｓ６４：ドライブコントローラ８（判別手
段）は、媒体１のコントロールトラック領域から読み出
した情報等からオーバライト可能な媒体かどうか判断す
る。この判断でオーバライト可能な媒体であれば処理Ｓ
６７に移り、もしオーバライト可能な媒体でなければ処
理Ｓ６５に移る。

【００６０】Ｓ６５：ドライブコントローラ８（選択手
段）は、ライトされたデータが正常に読めるライト済媒
体又はユーザの指示がある媒体等で、イレーズ動作を省
略できるかどうか判断する。この判断でイレーズ動作を
省略できる場合は処理Ｓ６７に移り、もし省略できない
場合は処理Ｓ６６に移る。

【００６１】Ｓ６６：ドライブコントローラ８は、図３
で説明した全面イレーズ動作を行い処理Ｓ６７に移る。 Ｓ６７：ドライブコントローラ８（選択手段）は、ライ
トされたデータが正常に読めるライト済媒体又はユーザ
の指示がある媒体等で、ライト動作を省略できるかどう
か判断する。この判断でライト動作を省略できる場合は
処理Ｓ６９に移り、もし省略できない場合は処理Ｓ６８
に移る。

【００６２】Ｓ６８：ドライブコントローラ８は、図４
で説明した全面ライト動作を行い処理Ｓ６９に移る。 Ｓ６９：ドライブコントローラ８は、図５で説明した全
面ベリファイ動作を行い処理Ｓ７０に移る。

【００６３】Ｓ７０：ドライブコントローラ８は、前記
処理Ｓ６６、Ｓ６８、Ｓ６９で、メモリ９に登録した欠
陥セクタのアドレスを媒体１のＤＭＡ領域に登録してこ
のサーティファイ処理を終了する。

【００６４】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば次
のような効果がある。 ：光ディスク媒体１の書き換え可能領域における欠陥
検査において、消去動作を省略し、書き込み動作と照合
動作を行うようにするため、光ディスク媒体１の欠陥検
査処理に要する時間の短縮を図ることができる。

【００６５】：光ディスク媒体１の書き換え可能領域
における欠陥検査において、消去動作と書き込み動作を
省略し、照合動作を行うようにするため、光ディスク媒
体１の欠陥検査処理に要する時間をさらに短縮すること
ができる。

【００６６】：光ディスク媒体１の書き換え可能領域
における欠陥検査において、消去動作を省略し書き込み
動作と照合動作を行うか、消去動作と書き込み動作を省
略し照合動作を行うかの処理の選択をユーザができるよ
うにするため、前記媒体１がオーバライト可能なもの
か、すでに消去又は書き込みされているかに応じて前記
処理をユーザが選択して欠陥検査処理に要する時間を短
縮することができる。

【００６７】：光ディスク媒体１の書き換え可能領域
における欠陥検査において、光ディスク媒体の状態を判
別し、消去動作と書き込み動作と照合動作を行うか、消
去動作を省略し書き込み動作と照合動作を行うか、消去
動作と書き込み動作を省略し照合動作を行うかの処理の
選択を行うようにするため、自動的に前記媒体１がオー
バライト可能なものか、すでに消去又は書き込みされて
いるか或いはユーザの指定があるか等の状態に応じて前
記処理を選択して欠陥検査処理に要する時間を短縮する
ことができる。

【００６８】：選択手段８１は判別手段８２の判別に
より、消去動作と書き込み動作と照合動作を行うか、消
去動作を省略し書き込み動作と照合動作を行うか、消去
動作と書き込み動作を省略し照合動作を行うかのいずれ
かの動作を選択するようにしているため、前記選択手段
８１により自動的に、媒体１がオーバライト可能なもの
か、すでに消去又は書き込みされているか或いはユーザ
の指定があるか等の状態の判別に応じて前記処理を選択
して欠陥検査処理に要する時間を短縮することができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理説明図である。

【図２】実施例における光ディスク装置の説明図であ
る。

【図３】実施例におけるイレーズ処理フローチャートで
ある。

【図４】実施例におけるライト処理フローチャートであ
る。

【図５】実施例におけるベリファイ処理フローチャート
である。

【図６】実施例におけるサーティファイ処理フローチャ
ート（１）である。

【図７】実施例におけるサーティファイ処理フローチャ
ート（２）である。

【図８】実施例におけるサーティファイ処理フローチャ
ート（３）である。

【図９】従来例のサーティファイ処理フローチャートで
ある。

【符号の説明】

１ 光ディスク媒体 ２ モータ ４ ヘッド ８ ドライブコントローラ ８１ 選択手段 ８２ 判別手段

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ディスク媒体の書き換え可能領域にお
   ける欠陥検査において、 消去動作を省略し、書き込み動作と照合動作を行うこと
   を特徴とした光ディスク媒体の欠陥検査方法。
2. 【請求項２】 光ディスク媒体の書き換え可能領域にお
   ける欠陥検査において、 消去動作と書き込み動作を省略し、照合動作を行うこと
   を特徴とした光ディスク媒体の欠陥検査方法。
3. 【請求項３】 光ディスク媒体の書き換え可能領域にお
   ける欠陥検査において、 消去動作を省略し、書き込み動作と照合動作を行うか、 消去動作と書き込み動作を省略し、照合動作を行うかの
   処理の選択ができるようにすることを特徴とした光ディ
   スク媒体の欠陥検査方法。
4. 【請求項４】 光ディスク媒体の書き換え可能領域にお
   ける欠陥検査において、 光ディスク媒体の状態を判別し、 消去動作と書き込み動作と照合動作を行うか、 消去動作を省略し、書き込み動作と照合動作を行うか、 消去動作と書き込み動作を省略し、照合動作を行うかの
   処理の選択を行うことを特徴とした光ディスク媒体の欠
   陥検査方法。
5. 【請求項５】 光ディスク媒体の状態を判別する判別手
   段と、 光ディスク媒体の書き換え可能領域における欠陥検査動
   作の選択を行う選択手段とを備え、 前記選択手段は、前記判別手段の判別により、 消去動作と書き込み動作と照合動作を行うか、 消去動作を省略し、書き込み動作と照合動作を行うか、 消去動作と書き込み動作を省略し、照合動作を行うかの
   いずれかを選択することを特徴とした光ディスク媒体の
   欠陥検査装置。
6. 【請求項６】 前記判別手段は、前記光ディスク媒体が
   消去済か、オーバライト可能か、書き込み済かの判別を
   行うことを特徴とした請求項５記載の光ディスク媒体の
   欠陥検査装置。
7. 【請求項７】 前記選択手段は、 前記判別手段が、前記光ディスク媒体を消去済でなくオ
   ーバライト可能でなく書き込み済でないと判別した場
   合、消去動作と書き込み動作と照合動作を行い、 前記判別手段が、前記光ディスク媒体を消去済又はオー
   バライト可能と判別した場合、消去動作を省略し、書き
   込み動作と照合動作を行い、 前記判別手段が、前記光ディスク媒体を書き込み済と判
   別した場合、消去動作と書き込み動作を省略し、照合動
   作を行うことを特徴とした請求項６記載の光ディスク媒
   体の欠陥検査装置。