JPH08278163A - センサ信号処理回路及びハ−ネスの断線・ショ−ト検出方法 - Google Patents
センサ信号処理回路及びハ−ネスの断線・ショ−ト検出方法Info
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- JPH08278163A JPH08278163A JP8097695A JP8097695A JPH08278163A JP H08278163 A JPH08278163 A JP H08278163A JP 8097695 A JP8097695 A JP 8097695A JP 8097695 A JP8097695 A JP 8097695A JP H08278163 A JPH08278163 A JP H08278163A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 9
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 claims abstract description 62
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 15
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
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- Regulating Braking Force (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 波形整形回路３から出力される信号電圧のハ
イレベルとロ−レベルとのレベル差を十分大きくとるこ
とができ、電子制御装置２がロ−・ハイ判定に際してノ
イズにより誤動作する確率を低下させることができるセ
ンサ信号処理回路１００を提供すること。 【構成】 波形整形手段４６からハイレベルが出力され
ると、出力制御手段４によりハイレベル制限手段５を構
成する抵抗Ｒ９がショ−トされ、センサ部１の第１の端
子４７が電源供給手段６を構成するツェナ−ダイオ−ド
ＺＤ１を介して接地されるので、電源電圧ＶB が変動し
ても第１の端子４７における電圧値（ロ−レベル）は常
に一定値をとる。これにより、第１の端子４７からハイ
レベルとロ−レベルとのレベル差の大きいノイズに強い
信号電圧を出力することができる。
イレベルとロ−レベルとのレベル差を十分大きくとるこ
とができ、電子制御装置２がロ−・ハイ判定に際してノ
イズにより誤動作する確率を低下させることができるセ
ンサ信号処理回路１００を提供すること。 【構成】 波形整形手段４６からハイレベルが出力され
ると、出力制御手段４によりハイレベル制限手段５を構
成する抵抗Ｒ９がショ−トされ、センサ部１の第１の端
子４７が電源供給手段６を構成するツェナ−ダイオ−ド
ＺＤ１を介して接地されるので、電源電圧ＶB が変動し
ても第１の端子４７における電圧値（ロ−レベル）は常
に一定値をとる。これにより、第１の端子４７からハイ
レベルとロ−レベルとのレベル差の大きいノイズに強い
信号電圧を出力することができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はセンサ信号処理回路及び
ハ−ネスの断線・ショ−ト検出方法に関し、より詳細に
は、例えば、ＡＢＳ（Anti-lock Brake System）制御を
行うための車輪速を検知するセンサによって検知された
信号を処理するためのセンサ信号処理回路及び該センサ
信号処理回路を構成するセンサ部と電子制御装置とを接
続するハ−ネスの断線・ショ−ト検出方法に関する。
ハ−ネスの断線・ショ−ト検出方法に関し、より詳細に
は、例えば、ＡＢＳ（Anti-lock Brake System）制御を
行うための車輪速を検知するセンサによって検知された
信号を処理するためのセンサ信号処理回路及び該センサ
信号処理回路を構成するセンサ部と電子制御装置とを接
続するハ−ネスの断線・ショ−ト検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のこの種のセンサ信号処理回路とし
ては、特開平５−２４５２０号公報に開示されたものが
ある。以下、図５〜図７に基づいて特開平５−２４５２
０号公報に開示された従来のセンサ信号処理回路を簡単
に説明する。
ては、特開平５−２４５２０号公報に開示されたものが
ある。以下、図５〜図７に基づいて特開平５−２４５２
０号公報に開示された従来のセンサ信号処理回路を簡単
に説明する。
【０００３】図５は従来のセンサ信号処理回路４０を概
略的に示したブロック図であり、このセンサ信号処理回
路４０はＡＢＳに使用される車輪速信号を検出するセン
サ部４１及び電子制御装置（以下、ＥＣＵと記す）１２
とから構成されている。センサ部４１は車輪の回転を検
知するセンサ４４、波形整形回路４３及びＥＣＵ１２と
接続するための第１の端子４７及び第２の端子４８を含
んで構成されており、波形整形回路４３にはフィルタ４
５、波形整形手段４６、信号出力手段５２、ロ−レベル
制限手段５３及び電源供給手段５１が配設されている。
センサ４４に接続されたフィルタ４５は波形整形手段４
６に接続され、波形整形手段４６は信号出力手段５２及
びロ−レベル制限手段５３を介して第１の端子４７に接
続されている。さらに波形整形手段４６は接続線５４に
より第２の端子４８にも接続されており、波形整形手段
４６と第２の端子４８との間の接続線５４には信号出力
手段５２が接続されている。また、波形整形手段４６に
は整流回路５０と定電圧回路４９とから構成された電源
供給手段５１が接続されており、電源供給手段５１は第
１の端子４７に接続されている。
略的に示したブロック図であり、このセンサ信号処理回
路４０はＡＢＳに使用される車輪速信号を検出するセン
サ部４１及び電子制御装置（以下、ＥＣＵと記す）１２
とから構成されている。センサ部４１は車輪の回転を検
知するセンサ４４、波形整形回路４３及びＥＣＵ１２と
接続するための第１の端子４７及び第２の端子４８を含
んで構成されており、波形整形回路４３にはフィルタ４
５、波形整形手段４６、信号出力手段５２、ロ−レベル
制限手段５３及び電源供給手段５１が配設されている。
センサ４４に接続されたフィルタ４５は波形整形手段４
６に接続され、波形整形手段４６は信号出力手段５２及
びロ−レベル制限手段５３を介して第１の端子４７に接
続されている。さらに波形整形手段４６は接続線５４に
より第２の端子４８にも接続されており、波形整形手段
４６と第２の端子４８との間の接続線５４には信号出力
手段５２が接続されている。また、波形整形手段４６に
は整流回路５０と定電圧回路４９とから構成された電源
供給手段５１が接続されており、電源供給手段５１は第
１の端子４７に接続されている。
【０００４】第１の端子４７及び第２の端子４８はそれ
ぞれＥＣＵ１２の第１の端子２７及び第２の端子２８と
接続されており、ＥＣＵ１２の第１の端子２７には抵抗
Ｒ６を介して電源電圧ＶB が接続されており、さらに第
１の端子２７にはコンパレ−タ２６の入力側が接続され
ている。また、ロ−・ハイ判定用の基準値電圧を与える
ための電源Ｖ３がコンパレ−タ２６の他方の入力側に接
続されており、第２の端子２８及び基準値電圧電源Ｖ３
の他端は接地されている。
ぞれＥＣＵ１２の第１の端子２７及び第２の端子２８と
接続されており、ＥＣＵ１２の第１の端子２７には抵抗
Ｒ６を介して電源電圧ＶB が接続されており、さらに第
１の端子２７にはコンパレ−タ２６の入力側が接続され
ている。また、ロ−・ハイ判定用の基準値電圧を与える
ための電源Ｖ３がコンパレ−タ２６の他方の入力側に接
続されており、第２の端子２８及び基準値電圧電源Ｖ３
の他端は接地されている。
【０００５】図６は上記したセンサ信号処理回路４０の
回路図をより具体的に示している。車輪に添設されたギ
ア２９の回転によって起電力を発生するコイルＬの一端
は抵抗Ｒ１を介してコンパレ−タ３０の＋の入力側に接
続されており、さらにコイルＬの他端は中心基準電圧Ｖ
４、２種のスレッショルド電圧を与えるために並列に接
続された電源Ｖ１、Ｖ２及びスイッチ３１を介してコン
パレ−タ３０の−の入力側に接続されている。また、コ
イルＬとコンパレ−タ３０の入力側との間には、コンデ
ンサＣ１と抵抗Ｒ２とが並列に接続されている。
回路図をより具体的に示している。車輪に添設されたギ
ア２９の回転によって起電力を発生するコイルＬの一端
は抵抗Ｒ１を介してコンパレ−タ３０の＋の入力側に接
続されており、さらにコイルＬの他端は中心基準電圧Ｖ
４、２種のスレッショルド電圧を与えるために並列に接
続された電源Ｖ１、Ｖ２及びスイッチ３１を介してコン
パレ−タ３０の−の入力側に接続されている。また、コ
イルＬとコンパレ−タ３０の入力側との間には、コンデ
ンサＣ１と抵抗Ｒ２とが並列に接続されている。
【０００６】コンパレ−タ３０の出力側は分岐してお
り、一方はスイッチ３１に帰還接続され、他方は抵抗Ｒ
３を介してトランジスタＱ１のベ−スに接続されてい
る。またトランジスタＱ１のコレクタは抵抗Ｒ８を介し
て第１の端子４７に接続され、トランジスタＱ１のエミ
ッタは接続線５４を介して第２の端子４８に接続されて
いる。トランジスタＱ１のエミッタと第２の端子４８と
の間で接続線５４が分岐しており、この接続線５４は電
源Ｖ１、Ｖ２にまで延設されている。また抵抗Ｒ３とト
ランジスタＱ１のベ−スとの間から接続線５５が分岐し
ており、この接続線５５は抵抗Ｒ４を介して接続線５４
に接続されている。
り、一方はスイッチ３１に帰還接続され、他方は抵抗Ｒ
３を介してトランジスタＱ１のベ−スに接続されてい
る。またトランジスタＱ１のコレクタは抵抗Ｒ８を介し
て第１の端子４７に接続され、トランジスタＱ１のエミ
ッタは接続線５４を介して第２の端子４８に接続されて
いる。トランジスタＱ１のエミッタと第２の端子４８と
の間で接続線５４が分岐しており、この接続線５４は電
源Ｖ１、Ｖ２にまで延設されている。また抵抗Ｒ３とト
ランジスタＱ１のベ−スとの間から接続線５５が分岐し
ており、この接続線５５は抵抗Ｒ４を介して接続線５４
に接続されている。
【０００７】また、第１の端子４７と抵抗Ｒ８との間で
接続線５６が分岐しており、この接続線５６は抵抗Ｒ７
及び抵抗Ｒ５を介してコンパレ−タ３０に接続され、さ
らにコンパレ−タ３０から第２の端子４８とコイルＬと
の接続線５４にまで延設されている。また、抵抗Ｒ７と
抵抗Ｒ５との間の接続線５６にはコンデンサＣ２の一端
が接続され、コンデンサＣ２の他端は接地されており、
さらに抵抗Ｒ５とコンパレ−タ３０との間の接続線５６
にはツェナ−ダイオ−ドＤ２の一端が接続され、ツェナ
−ダイオ−ドＤ２の他端は接地されている。
接続線５６が分岐しており、この接続線５６は抵抗Ｒ７
及び抵抗Ｒ５を介してコンパレ−タ３０に接続され、さ
らにコンパレ−タ３０から第２の端子４８とコイルＬと
の接続線５４にまで延設されている。また、抵抗Ｒ７と
抵抗Ｒ５との間の接続線５６にはコンデンサＣ２の一端
が接続され、コンデンサＣ２の他端は接地されており、
さらに抵抗Ｒ５とコンパレ−タ３０との間の接続線５６
にはツェナ−ダイオ−ドＤ２の一端が接続され、ツェナ
−ダイオ−ドＤ２の他端は接地されている。
【０００８】第１の端子４７及び第２の端子４８はそれ
ぞれＥＣＵ１２の第１の端子２７及び第２の端子２８に
接続されており、ＥＣＵ１２の第１の端子２７には抵抗
Ｒ６を介して電源電圧ＶB が接続されており、さらに第
１の端子２７にはコンパレ−タ２６の入力側が接続され
ている。また、コンパレ−タ２６の他方の入力側には基
準電圧を与えるための電源Ｖ３の一端が接続されてお
り、第２の端子２８と基準値電圧電源Ｖ３の他端とは接
地されている。
ぞれＥＣＵ１２の第１の端子２７及び第２の端子２８に
接続されており、ＥＣＵ１２の第１の端子２７には抵抗
Ｒ６を介して電源電圧ＶB が接続されており、さらに第
１の端子２７にはコンパレ−タ２６の入力側が接続され
ている。また、コンパレ−タ２６の他方の入力側には基
準電圧を与えるための電源Ｖ３の一端が接続されてお
り、第２の端子２８と基準値電圧電源Ｖ３の他端とは接
地されている。
【０００９】図７（ａ）〜（ｇ）はセンサ信号処理回路
４０の各装置から出力された信号のタイミングチャ−ト
を示したものであり、（ａ）はＥＣＵ１２から供給され
る電源電圧のレベル、（ｂ）はフィルタ４５を通過した
センサ信号、（ｃ）は波形整形手段４６によって波形整
形された出力信号、（ｄ）は波形整形回路４３からの出
力信号、（ｅ）は整流回路５０から出力された電源電圧
のレベル、（ｆ）は波形整形手段４６に供給される電源
電圧レベル、（ｇ）はＥＣＵ１２でのロ−・ハイ判定を
それぞれ示している。
４０の各装置から出力された信号のタイミングチャ−ト
を示したものであり、（ａ）はＥＣＵ１２から供給され
る電源電圧のレベル、（ｂ）はフィルタ４５を通過した
センサ信号、（ｃ）は波形整形手段４６によって波形整
形された出力信号、（ｄ）は波形整形回路４３からの出
力信号、（ｅ）は整流回路５０から出力された電源電圧
のレベル、（ｆ）は波形整形手段４６に供給される電源
電圧レベル、（ｇ）はＥＣＵ１２でのロ−・ハイ判定を
それぞれ示している。
【００１０】このように構成されたセンサ信号処理回路
４０において、図７（ａ）に示したようにＥＣＵ１２の
電源電圧ＶB がオン状態となっている場合、車輪速の情
報は車輪に添設されたギア２９の回転に伴いコイルＬに
生じる起電力によって検出される。コイルＬに生じた起
電力は車輪速に比例した周波数の信号を出力することと
なり、出力された信号は抵抗Ｒ２及びコンデンサＣ１に
よって形成されたフィルタ４５を通過してある周波数が
取り出され、その信号はコンパレ−タ３０に入って波形
整形及び周波数検出が行われる。例えば、フィルタ４５
から信号電圧として一定電圧がＶ４によって確保され、
コンパレ−タ３０のスレッショルド電圧としてＶ１及び
Ｖ２が設定されている場合、図７（ｂ）及び（ｃ）に示
したように、センサ４４からの信号電圧がＶ１より大き
くなった際コンパレ−タ３０からの出力信号がハイとな
り、センサ４４からの信号電圧がＶ２より小さくなった
際コンパレ−タ３０からの出力信号がロ−となる。
４０において、図７（ａ）に示したようにＥＣＵ１２の
電源電圧ＶB がオン状態となっている場合、車輪速の情
報は車輪に添設されたギア２９の回転に伴いコイルＬに
生じる起電力によって検出される。コイルＬに生じた起
電力は車輪速に比例した周波数の信号を出力することと
なり、出力された信号は抵抗Ｒ２及びコンデンサＣ１に
よって形成されたフィルタ４５を通過してある周波数が
取り出され、その信号はコンパレ−タ３０に入って波形
整形及び周波数検出が行われる。例えば、フィルタ４５
から信号電圧として一定電圧がＶ４によって確保され、
コンパレ−タ３０のスレッショルド電圧としてＶ１及び
Ｖ２が設定されている場合、図７（ｂ）及び（ｃ）に示
したように、センサ４４からの信号電圧がＶ１より大き
くなった際コンパレ−タ３０からの出力信号がハイとな
り、センサ４４からの信号電圧がＶ２より小さくなった
際コンパレ−タ３０からの出力信号がロ−となる。
【００１１】コンパレ−タ３０からの出力信号がハイと
なった場合、トランジスタＱ１はオンとなって接地さ
れ、コレクタ側の電圧が下がるが、ロ−レベル制限手段
５３である抵抗Ｒ８によって電圧レベルは一定値以下に
ならないように確保される。したがって、第１の端子４
７からの出力信号は、図７（ｄ）に示したように、コン
パレ−タ３０からの波形整形出力がハイとなり、トラン
ジスタＱ１のコレクタが接地されても一定レベルが確保
されたロ−状態となり、コンパレ−タ３０から波形整形
信号の出力がロ−となった場合にはハイとなる。コンデ
ンサＣ２の接続部における電圧は図７（ｅ）に示したよ
うに、コンパレ−タ３０からの出力信号がロ−となって
いる場合にはＥＣＵ１２から供給される電源電圧ＶB が
接続線５６に引き込まれ、抵抗Ｒ７によって一定の電圧
レベルが確保される一方、コンパレ−タ３０からの出力
信号がハイとなっている場合にも、ＥＣＵ１２から供給
される電源電圧ＶB は抵抗Ｒ８によってある値が確保さ
れながら、抵抗Ｒ５とコンデンサＣ２からの放電とによ
って一定の電圧レベルよりも低下しないようになる。そ
の後図７（ｆ）に示したように、抵抗Ｒ５及びツェナ−
ダイオ−ドＤ２によって一定電圧に調整されてコンパレ
−タ３０に供給されることとなる。そしてセンサ４４か
らの出力信号によりＥＣＵ１２では図７（ｇ）に示した
ようなロ−・ハイ判定が行われ、車輪速が検知される。
なった場合、トランジスタＱ１はオンとなって接地さ
れ、コレクタ側の電圧が下がるが、ロ−レベル制限手段
５３である抵抗Ｒ８によって電圧レベルは一定値以下に
ならないように確保される。したがって、第１の端子４
７からの出力信号は、図７（ｄ）に示したように、コン
パレ−タ３０からの波形整形出力がハイとなり、トラン
ジスタＱ１のコレクタが接地されても一定レベルが確保
されたロ−状態となり、コンパレ−タ３０から波形整形
信号の出力がロ−となった場合にはハイとなる。コンデ
ンサＣ２の接続部における電圧は図７（ｅ）に示したよ
うに、コンパレ−タ３０からの出力信号がロ−となって
いる場合にはＥＣＵ１２から供給される電源電圧ＶB が
接続線５６に引き込まれ、抵抗Ｒ７によって一定の電圧
レベルが確保される一方、コンパレ−タ３０からの出力
信号がハイとなっている場合にも、ＥＣＵ１２から供給
される電源電圧ＶB は抵抗Ｒ８によってある値が確保さ
れながら、抵抗Ｒ５とコンデンサＣ２からの放電とによ
って一定の電圧レベルよりも低下しないようになる。そ
の後図７（ｆ）に示したように、抵抗Ｒ５及びツェナ−
ダイオ−ドＤ２によって一定電圧に調整されてコンパレ
−タ３０に供給されることとなる。そしてセンサ４４か
らの出力信号によりＥＣＵ１２では図７（ｇ）に示した
ようなロ−・ハイ判定が行われ、車輪速が検知される。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】上記したように従来の
センサ信号処理回路４０にあっては、ロ−レベル制限手
段５３としてトランジスタＱ１とＥＣＵ１２への信号出
力端子である第１の端子４７との間に抵抗Ｒ８が介装さ
れている。その場合、ＥＣＵ１２における電源電圧ＶB
が変動すると、抵抗Ｒ８によって設定されるロ−レベル
電圧ＶL1（図７（ｄ）参照）も電源電圧ＶB の変動と同
方向に変動する。通常、電源電圧ＶB は１６Ｖ〜８Ｖの
間を変動する。
センサ信号処理回路４０にあっては、ロ−レベル制限手
段５３としてトランジスタＱ１とＥＣＵ１２への信号出
力端子である第１の端子４７との間に抵抗Ｒ８が介装さ
れている。その場合、ＥＣＵ１２における電源電圧ＶB
が変動すると、抵抗Ｒ８によって設定されるロ−レベル
電圧ＶL1（図７（ｄ）参照）も電源電圧ＶB の変動と同
方向に変動する。通常、電源電圧ＶB は１６Ｖ〜８Ｖの
間を変動する。
【００１３】もし、ロ−レベル制限手段５３によって設
定されるロ−レベル電圧ＶL1を電源電圧ＶB の変動にか
かわりなく常に一定値にすることができるならば、図８
（ａ）に示したように出力信号ＶOUT におけるハイレベ
ルＶH とロ−レベルＶL とのレベル差ＶHLを十分にとる
ことができるので、ＥＣＵ１２におけるロ−・ハイ判定
用の基準値電圧Ｖ３を容易に設定することができると共
に、ロ−・ハイ判定に際してノイズの影響を受けにくく
することができる。しかし、従来のセンサ信号処理回路
４０の場合、抵抗Ｒ８によって設定されるロ−レベル電
圧ＶL1が電源電圧ＶB の変動と同方向に変動するので、
図８（ｂ）に示したように、ハイレベルＶH とロ−レベ
ルＶL1とのレベル差ＶHL1 を前記レベル差ＶHL程大きく
とることはできない。このため、ＥＣＵ１２におけるロ
−・ハイ判定用の基準値電圧Ｖ３の設定が困難になると
共に、ロ−・ハイ判定に際してノイズの影響を受け易く
なるという課題がある。
定されるロ−レベル電圧ＶL1を電源電圧ＶB の変動にか
かわりなく常に一定値にすることができるならば、図８
（ａ）に示したように出力信号ＶOUT におけるハイレベ
ルＶH とロ−レベルＶL とのレベル差ＶHLを十分にとる
ことができるので、ＥＣＵ１２におけるロ−・ハイ判定
用の基準値電圧Ｖ３を容易に設定することができると共
に、ロ−・ハイ判定に際してノイズの影響を受けにくく
することができる。しかし、従来のセンサ信号処理回路
４０の場合、抵抗Ｒ８によって設定されるロ−レベル電
圧ＶL1が電源電圧ＶB の変動と同方向に変動するので、
図８（ｂ）に示したように、ハイレベルＶH とロ−レベ
ルＶL1とのレベル差ＶHL1 を前記レベル差ＶHL程大きく
とることはできない。このため、ＥＣＵ１２におけるロ
−・ハイ判定用の基準値電圧Ｖ３の設定が困難になると
共に、ロ−・ハイ判定に際してノイズの影響を受け易く
なるという課題がある。
【００１４】本発明は上記課題に鑑みなされたものであ
り、波形整形回路から出力される出力信号におけるハイ
レベルとロ−レベルとのレベル差を十分大きくとること
ができ、電子制御装置におけるロ−・ハイの判定に際し
て誤動作する確率を低下させることができるセンサ信号
処理回路を提供することを目的としている。また、前記
波形整形回路と前記電子制御装置とを接続するハ−ネス
の断線・ショ−トを検出する断線・ショ−ト検出方法を
提供することを目的としている。
り、波形整形回路から出力される出力信号におけるハイ
レベルとロ−レベルとのレベル差を十分大きくとること
ができ、電子制御装置におけるロ−・ハイの判定に際し
て誤動作する確率を低下させることができるセンサ信号
処理回路を提供することを目的としている。また、前記
波形整形回路と前記電子制御装置とを接続するハ−ネス
の断線・ショ−トを検出する断線・ショ−ト検出方法を
提供することを目的としている。
【００１５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明に係るセンサ信号処理回路（１）は、電子制御
装置（ＥＣＵ）を備え、該電子制御装置に波形整形回路
を介してセンサが接続されたセンサ信号処理回路におい
て、センサ部に前記波形整形回路を構成する波形整形手
段が配設され、該波形整形手段にロ−レベル制限手段と
してのシャントレギュレ−タ等を含んで構成された電源
供給手段が接続され、該電源供給手段と前記センサ部の
第１の端子との間にはハイレベル制限手段が介装され、
前記波形整形手段が、該波形整形手段からの出力信号に
基づいて前記第１の端子を前記ハイレベル制限手段を介
して前記電源供給手段に接続させるか、あるいは前記第
１の端子を前記電源供給手段に直接接続させるかを切り
替える出力制御手段に接続されていることを特徴として
いる。
に本発明に係るセンサ信号処理回路（１）は、電子制御
装置（ＥＣＵ）を備え、該電子制御装置に波形整形回路
を介してセンサが接続されたセンサ信号処理回路におい
て、センサ部に前記波形整形回路を構成する波形整形手
段が配設され、該波形整形手段にロ−レベル制限手段と
してのシャントレギュレ−タ等を含んで構成された電源
供給手段が接続され、該電源供給手段と前記センサ部の
第１の端子との間にはハイレベル制限手段が介装され、
前記波形整形手段が、該波形整形手段からの出力信号に
基づいて前記第１の端子を前記ハイレベル制限手段を介
して前記電源供給手段に接続させるか、あるいは前記第
１の端子を前記電源供給手段に直接接続させるかを切り
替える出力制御手段に接続されていることを特徴として
いる。
【００１６】また本発明に係るセンサ信号処理回路
（２）は、電子制御装置（ＥＣＵ）を備え、該電子制御
装置に波形整形回路を介してセンサが接続されたセンサ
信号処理回路において、センサ部に前記波形整形回路を
構成する波形整形手段及び信号出力手段が配設され、該
信号出力手段がシャントレギュレ−タで構成されたロ−
レベル制限手段を介して前記センサ部の第１の端子に接
続され、該第１の端子と前記波形整形手段との間に、シ
リ−ズレギュレ−タが介装されていることを特徴として
いる。
（２）は、電子制御装置（ＥＣＵ）を備え、該電子制御
装置に波形整形回路を介してセンサが接続されたセンサ
信号処理回路において、センサ部に前記波形整形回路を
構成する波形整形手段及び信号出力手段が配設され、該
信号出力手段がシャントレギュレ−タで構成されたロ−
レベル制限手段を介して前記センサ部の第１の端子に接
続され、該第１の端子と前記波形整形手段との間に、シ
リ−ズレギュレ−タが介装されていることを特徴として
いる。
【００１７】本発明に係るハ−ネスの断線・ショ−ト検
出方法は、上記センサ信号処理回路（１）またはセンサ
信号処理回路（２）において、前記センサ部の第１の端
子から前記電子制御装置に入力される電圧値が予め設定
されたハイレベル側の所定値以上であるかどうかで前記
センサ部と前記電子制御装置とを接続するハ−ネスが断
線しているかどうかを検出し、前記電圧値が予め設定さ
れたロ−レベル側の所定値以下であるかどうかで前記ハ
−ネスがショ−トしているかどうかを検出することを特
徴としている。
出方法は、上記センサ信号処理回路（１）またはセンサ
信号処理回路（２）において、前記センサ部の第１の端
子から前記電子制御装置に入力される電圧値が予め設定
されたハイレベル側の所定値以上であるかどうかで前記
センサ部と前記電子制御装置とを接続するハ−ネスが断
線しているかどうかを検出し、前記電圧値が予め設定さ
れたロ−レベル側の所定値以下であるかどうかで前記ハ
−ネスがショ−トしているかどうかを検出することを特
徴としている。
【００１８】
センサ信号処理回路（１） 前記波形整形手段からロ−レベルが出力されると、前記
出力制御手段により前記センサ部の第１の端子に前記電
源供給手段が直接接続される。これにより、前記センサ
部の第１の端子には、前記電源供給手段を構成するシャ
ントレギュレ−タにより設定されるロ−レベル電圧が出
力される。一方、前記波形整形手段からハイレベルが出
力されると、前記出力制御手段により前記センサ部の第
１の端子に前記ハイレベル制限手段を介して前記電源供
給手段が接続される。これにより、前記センサ部の第１
の端子には、前記ハイレベル制限手段により設定される
ハイレベル電圧が出力される。
出力制御手段により前記センサ部の第１の端子に前記電
源供給手段が直接接続される。これにより、前記センサ
部の第１の端子には、前記電源供給手段を構成するシャ
ントレギュレ−タにより設定されるロ−レベル電圧が出
力される。一方、前記波形整形手段からハイレベルが出
力されると、前記出力制御手段により前記センサ部の第
１の端子に前記ハイレベル制限手段を介して前記電源供
給手段が接続される。これにより、前記センサ部の第１
の端子には、前記ハイレベル制限手段により設定される
ハイレベル電圧が出力される。
【００１９】以上のようにセンサ信号処理回路（１）の
場合、前記センサ部から前記電子制御装置に出力される
電圧のハイレベルは前記ハイレベル制限手段により設定
される。一方、ロ−レベルは、前記電源供給手段を構成
するシャントレギュレ−タによって設定されるので、前
記電子制御装置から前記センサ部に供給される電源電圧
が変動しても、常に一定値に保たれる。したがって、ロ
−レベル制限手段として抵抗を用いた従来のセンサ信号
処理回路（図５及び図６参照）に比べ、前記センサ部の
出力電圧におけるハイレベルとロ−レベルとのレベル差
を大きくとることができるので、ノイズの影響を受けに
くくなり、前記電子制御装置においてロ−・ハイを誤判
定する確率が低下する。
場合、前記センサ部から前記電子制御装置に出力される
電圧のハイレベルは前記ハイレベル制限手段により設定
される。一方、ロ−レベルは、前記電源供給手段を構成
するシャントレギュレ−タによって設定されるので、前
記電子制御装置から前記センサ部に供給される電源電圧
が変動しても、常に一定値に保たれる。したがって、ロ
−レベル制限手段として抵抗を用いた従来のセンサ信号
処理回路（図５及び図６参照）に比べ、前記センサ部の
出力電圧におけるハイレベルとロ−レベルとのレベル差
を大きくとることができるので、ノイズの影響を受けに
くくなり、前記電子制御装置においてロ−・ハイを誤判
定する確率が低下する。
【００２０】センサ信号処理回路（２） 前記波形整形手段からハイレベルが出力されると、前記
信号出力手段がオンされ、前記センサ部の第１の端子が
前記ロ−レベル制限手段を介して接地される。これによ
り、前記センサ部の第１の端子には前記ロ−レベル制限
手段を構成するシャントレギュレ−タにより設定される
ロ−レベルが出力される。一方、前記波形整形手段から
ロ−レベルが出力されると、前記信号出力手段がオフさ
れ、前記センサ部の第１の端子が前記シリ−ズレギュレ
−タに接続される。これにより、前記センサ部の出力端
子には、前記シリ−ズレギュレ−タにより設定されるハ
イレベル電圧が出力される。
信号出力手段がオンされ、前記センサ部の第１の端子が
前記ロ−レベル制限手段を介して接地される。これによ
り、前記センサ部の第１の端子には前記ロ−レベル制限
手段を構成するシャントレギュレ−タにより設定される
ロ−レベルが出力される。一方、前記波形整形手段から
ロ−レベルが出力されると、前記信号出力手段がオフさ
れ、前記センサ部の第１の端子が前記シリ−ズレギュレ
−タに接続される。これにより、前記センサ部の出力端
子には、前記シリ−ズレギュレ−タにより設定されるハ
イレベル電圧が出力される。
【００２１】以上のようにセンサ信号処理回路（２）の
場合、前記センサ部の第１の端子から前記電子制御装置
に出力される電圧のハイレベルは前記シリ−ズレギュレ
−タにより設定される。一方、ロ−レベルは前記シャン
トレギュレ−タにより設定され、常に一定値に保たれ
る。よって、センサ信号処理回路（１）の場合と同様
に、前記センサ部の出力電圧におけるハイレベルとロ−
レベルとのレベル差を大きくとることができ、ノイズの
影響を受けにくくなり、前記電子制御装置におけるロ−
・ハイ判定で誤動作する確率が低下する。
場合、前記センサ部の第１の端子から前記電子制御装置
に出力される電圧のハイレベルは前記シリ−ズレギュレ
−タにより設定される。一方、ロ−レベルは前記シャン
トレギュレ−タにより設定され、常に一定値に保たれ
る。よって、センサ信号処理回路（１）の場合と同様
に、前記センサ部の出力電圧におけるハイレベルとロ−
レベルとのレベル差を大きくとることができ、ノイズの
影響を受けにくくなり、前記電子制御装置におけるロ−
・ハイ判定で誤動作する確率が低下する。
【００２２】ハ−ネスの断線・ショ−ト検出方法 上記センサ信号処理回路（１）またはセンサ信号処理回
路（２）において、前記センサ部の第１の端子から出力
される電圧のロ−レベルはいずれもシャントレギュレ−
タにより一定値に保たれるので、ショ−ト検出用スレッ
ショルドレベルも常に一定値に設定することが可能にな
り、ショ−トの検出を確実に行うことが可能になる。ま
た、前記センサ部の出力端子から出力される電圧のハイ
レベルは、上記センサ信号処理回路（１）の場合、前記
ハイレベル制限手段により設定され、上記センサ信号処
理回路（２）の場合、前記シリ−ズレギュレ−タにより
設定されるという違いはあるが、いずれも前記電子制御
装置から供給される電源電圧から所定の電圧値低下した
レベルに設定されるので、ハ−ネスの断線検出用スレッ
ショルドレベルを前記電源電圧と前記所定の電圧値低下
したレベルとの間に設定することが可能となる。
路（２）において、前記センサ部の第１の端子から出力
される電圧のロ−レベルはいずれもシャントレギュレ−
タにより一定値に保たれるので、ショ−ト検出用スレッ
ショルドレベルも常に一定値に設定することが可能にな
り、ショ−トの検出を確実に行うことが可能になる。ま
た、前記センサ部の出力端子から出力される電圧のハイ
レベルは、上記センサ信号処理回路（１）の場合、前記
ハイレベル制限手段により設定され、上記センサ信号処
理回路（２）の場合、前記シリ−ズレギュレ−タにより
設定されるという違いはあるが、いずれも前記電子制御
装置から供給される電源電圧から所定の電圧値低下した
レベルに設定されるので、ハ−ネスの断線検出用スレッ
ショルドレベルを前記電源電圧と前記所定の電圧値低下
したレベルとの間に設定することが可能となる。
【００２３】
【実施例】以下、本発明に係るセンサ信号処理回路の実
施例を図面に基づいて説明する。図１は本発明の実施例
１に係るセンサ信号処理回路１００を概略的に示した回
路構成図である。図１に示したセンサ信号処理回路１０
０の構成が図５及び図６に示した従来のセンサ信号処理
回路４０の構成と異なっているのは、電子制御装置１２
が電子制御装置２となり、センサ部４１がセンサ部１と
なり、波形整形回路４３が波形整形回路３となっている
点である。電子制御装置２の構成が電子制御装置１２の
構成と異なっているのは、電子制御装置２の第１の端子
２７にＡ／Ｄコンバ−タ２９が接続され、センサ部１か
らの出力電圧がＡ／Ｄ変換されてマイクロコンピュ−タ
（図示せず）に入力されるようになっている点である。
施例を図面に基づいて説明する。図１は本発明の実施例
１に係るセンサ信号処理回路１００を概略的に示した回
路構成図である。図１に示したセンサ信号処理回路１０
０の構成が図５及び図６に示した従来のセンサ信号処理
回路４０の構成と異なっているのは、電子制御装置１２
が電子制御装置２となり、センサ部４１がセンサ部１と
なり、波形整形回路４３が波形整形回路３となっている
点である。電子制御装置２の構成が電子制御装置１２の
構成と異なっているのは、電子制御装置２の第１の端子
２７にＡ／Ｄコンバ−タ２９が接続され、センサ部１か
らの出力電圧がＡ／Ｄ変換されてマイクロコンピュ−タ
（図示せず）に入力されるようになっている点である。
【００２４】波形整形回路３はフィルタ回路４５、波形
整形手段４６、出力制御手段４、ハイレベル制限手段５
及び電源供給手段６等を含んで構成されており、フィル
タ回路４５と波形整形手段４６の構成とこれらの接続関
係は従来のセンサ信号処理回路４０を構成する波形整形
回路４３の場合と同様である。出力制御手段４は抵抗Ｒ
７、抵抗Ｒ８及びトランジスタＱ２で構成されており、
抵抗Ｒ７は波形整形手段４６を構成するコンパレ−タ３
０の出力側とトランジスタＱ２のベ−スとの間に介装さ
れ、抵抗Ｒ８はトランジスタＱ２のベ−スとエミッタと
の間に介装され、トランジスタＱ２のコレクタはハイレ
ベル制限手段５を構成する抵抗Ｒ９の他端に接続され、
エミッタは抵抗Ｒ９の一端に接続されている。抵抗Ｒ９
の一端はセンサ部１の第１の端子４７に接続され、他端
は電源供給手段６を介して波形整形手段４６を構成する
コンパレ−タ３０に接続されている。電源供給手段６は
ノイズ除去用のコンデンサＣ２及びシャントレギュレ−
タとしてのツェナ−ダイオ−ドＺＤ１等で構成されてお
り、コンデンサＣ１及びツェナ−ダイオ−ドＺＤ１は共
に、抵抗Ｒ９の他端（＝トランジスタＱ２のコレクタ）
と接地との間に介装されている。
整形手段４６、出力制御手段４、ハイレベル制限手段５
及び電源供給手段６等を含んで構成されており、フィル
タ回路４５と波形整形手段４６の構成とこれらの接続関
係は従来のセンサ信号処理回路４０を構成する波形整形
回路４３の場合と同様である。出力制御手段４は抵抗Ｒ
７、抵抗Ｒ８及びトランジスタＱ２で構成されており、
抵抗Ｒ７は波形整形手段４６を構成するコンパレ−タ３
０の出力側とトランジスタＱ２のベ−スとの間に介装さ
れ、抵抗Ｒ８はトランジスタＱ２のベ−スとエミッタと
の間に介装され、トランジスタＱ２のコレクタはハイレ
ベル制限手段５を構成する抵抗Ｒ９の他端に接続され、
エミッタは抵抗Ｒ９の一端に接続されている。抵抗Ｒ９
の一端はセンサ部１の第１の端子４７に接続され、他端
は電源供給手段６を介して波形整形手段４６を構成する
コンパレ−タ３０に接続されている。電源供給手段６は
ノイズ除去用のコンデンサＣ２及びシャントレギュレ−
タとしてのツェナ−ダイオ−ドＺＤ１等で構成されてお
り、コンデンサＣ１及びツェナ−ダイオ−ドＺＤ１は共
に、抵抗Ｒ９の他端（＝トランジスタＱ２のコレクタ）
と接地との間に介装されている。
【００２５】上記のごとく構成されたセンサ信号処理回
路１００は以下のように動作する。波形整形手段４６を
構成するコンパレ−タ３０からロ−レベルが出力される
とトランジスタＱ２がオンし、ハイレベル制限手段５を
構成する抵抗Ｒ９がショ−トされる。したがってこの場
合、センサ部１の第１の端子４７に電源供給手段６が直
接接続されることになるので、第１の端子４７にはツェ
ナ−ダイオ−ドＺＤ１により設定されるロ−レベル電圧
ＶL が出力される。
路１００は以下のように動作する。波形整形手段４６を
構成するコンパレ−タ３０からロ−レベルが出力される
とトランジスタＱ２がオンし、ハイレベル制限手段５を
構成する抵抗Ｒ９がショ−トされる。したがってこの場
合、センサ部１の第１の端子４７に電源供給手段６が直
接接続されることになるので、第１の端子４７にはツェ
ナ−ダイオ−ドＺＤ１により設定されるロ−レベル電圧
ＶL が出力される。
【００２６】一方、コンパレ−タ３０からハイレベルが
出力されるとトランジスタＱ2 がオフし、第１の端子４
７と電源供給手段６との間にハイレベル制限手段５とし
ての抵抗Ｒ９が介装される。したがってこの場合、第１
の端子４７に出力される電圧は、下記（１）式で示され
るハイレベル電圧ＶH が出力される。
出力されるとトランジスタＱ2 がオフし、第１の端子４
７と電源供給手段６との間にハイレベル制限手段５とし
ての抵抗Ｒ９が介装される。したがってこの場合、第１
の端子４７に出力される電圧は、下記（１）式で示され
るハイレベル電圧ＶH が出力される。
【００２７】
【数１】
【００２８】以上説明したことから分かるように、セン
サ部１の第１の端子４７から出力されるロ−レベル電圧
はシャントレギュレ−タであるツェナ−ダイオ−ドＺＤ
１により設定されるので、常に一定の電圧値ＶL とな
る。一方、第１の端子４７から出力されるハイレベル電
圧ＶH は、上記（１）式で示したように電源電圧ＶB か
ら一定値（ＶL ・Ｒ９／（Ｒ６＋Ｒ９））低下した電圧
値となる。これらロ−レベル電圧ＶL 及びハイレベル電
圧ＶH と電源電圧ＶB との関係をグラフに示すと図２の
ようになる。
サ部１の第１の端子４７から出力されるロ−レベル電圧
はシャントレギュレ−タであるツェナ−ダイオ−ドＺＤ
１により設定されるので、常に一定の電圧値ＶL とな
る。一方、第１の端子４７から出力されるハイレベル電
圧ＶH は、上記（１）式で示したように電源電圧ＶB か
ら一定値（ＶL ・Ｒ９／（Ｒ６＋Ｒ９））低下した電圧
値となる。これらロ−レベル電圧ＶL 及びハイレベル電
圧ＶH と電源電圧ＶB との関係をグラフに示すと図２の
ようになる。
【００２９】図２において、ＶOUT はセンサ部１の第１
の端子４７から出力される信号電圧を示しており、Ｖ
GND は接地レベルを示し、Ｖ３は電子制御装置２におい
てロ−・ハイ判定を行うための基準値電圧を示し、Ｖ
Lth はショ−ト検出用スレッショルドレベルを示し、Ｖ
Hth は断線検出用スレッショルドレベルを示している。
の端子４７から出力される信号電圧を示しており、Ｖ
GND は接地レベルを示し、Ｖ３は電子制御装置２におい
てロ−・ハイ判定を行うための基準値電圧を示し、Ｖ
Lth はショ−ト検出用スレッショルドレベルを示し、Ｖ
Hth は断線検出用スレッショルドレベルを示している。
【００３０】図２に示したように、信号電圧ＶOUT にお
けるハイレベル電圧ＶH を常に電源電圧ＶB から上記
（１）式で示した所定値低下した電圧値に設定すること
ができ、ロ−レベル電圧ＶL を常に一定値ＶL に設定す
ることができるので、図８（ｂ）に示した従来のセンサ
信号処理回路４０における場合に比べ、ハイレベル電圧
ＶH とロ−レベル電圧ＶL とのレベル差ＶHLを大きくと
ることができる。これにより、ロ−・ハイ判定を行うた
めの基準値電圧Ｖ３を容易に設定することができ、電子
制御装置２がノイズによりロ−・ハイ判定で誤動作する
確率を低下させることができる。
けるハイレベル電圧ＶH を常に電源電圧ＶB から上記
（１）式で示した所定値低下した電圧値に設定すること
ができ、ロ−レベル電圧ＶL を常に一定値ＶL に設定す
ることができるので、図８（ｂ）に示した従来のセンサ
信号処理回路４０における場合に比べ、ハイレベル電圧
ＶH とロ−レベル電圧ＶL とのレベル差ＶHLを大きくと
ることができる。これにより、ロ−・ハイ判定を行うた
めの基準値電圧Ｖ３を容易に設定することができ、電子
制御装置２がノイズによりロ−・ハイ判定で誤動作する
確率を低下させることができる。
【００３１】また、ロ−レベル電圧を常に一定値ＶL に
保つことができるので、ショ−ト検出用スレッショルド
レベルＶLth を容易に設定することができ、また、電源
電圧ＶB とハイレベル電圧ＶH との間に、断線検出用ス
レッショルドレベルＶHth を設定することができる。し
たがって、電子制御装置２を構成するＡ／Ｄコンバ−タ
２９からマイクロコンピュ−タに入力される電圧が、断
線検出用スレッショルドレベル以上であるか、あるいは
ショ−ト検出用スレッショルドレベル以下であるかを検
出すれば、センサ部１の第１の端子４７と電子制御装置
２の第１の端子２７とを接続するハ−ネスの断線・ショ
−トを検出することができる。
保つことができるので、ショ−ト検出用スレッショルド
レベルＶLth を容易に設定することができ、また、電源
電圧ＶB とハイレベル電圧ＶH との間に、断線検出用ス
レッショルドレベルＶHth を設定することができる。し
たがって、電子制御装置２を構成するＡ／Ｄコンバ−タ
２９からマイクロコンピュ−タに入力される電圧が、断
線検出用スレッショルドレベル以上であるか、あるいは
ショ−ト検出用スレッショルドレベル以下であるかを検
出すれば、センサ部１の第１の端子４７と電子制御装置
２の第１の端子２７とを接続するハ−ネスの断線・ショ
−トを検出することができる。
【００３２】次に、実施例２に係るセンサ信号処理回路
を図面に基づいて説明する。図３は実施例２に係るセン
サ信号処理回路２００を概略的に示した回路構成図であ
る。図３に示した実施例２に係るセンサ信号処理回路２
００の構成が図５及び図６に示した従来のセンサ信号処
理回路４０の構成と異なっているのは、電子制御装置１
２が電子制御装置２となり、センサ部４１がセンサ部３
１となり、波形整形回路４３が波形整形回路３３となっ
ている点である。電子制御装置２の構成が電子制御装置
１２の構成と異なっているのは、電子制御装置２の第１
の端子２７にＡ／Ｄコンバ−タ２９が接続され、センサ
部１からの出力電圧がＡ／Ｄ変換されてマイクロコンピ
ュ−タ（図示せず）に入力されるようになっている点で
ある。
を図面に基づいて説明する。図３は実施例２に係るセン
サ信号処理回路２００を概略的に示した回路構成図であ
る。図３に示した実施例２に係るセンサ信号処理回路２
００の構成が図５及び図６に示した従来のセンサ信号処
理回路４０の構成と異なっているのは、電子制御装置１
２が電子制御装置２となり、センサ部４１がセンサ部３
１となり、波形整形回路４３が波形整形回路３３となっ
ている点である。電子制御装置２の構成が電子制御装置
１２の構成と異なっているのは、電子制御装置２の第１
の端子２７にＡ／Ｄコンバ−タ２９が接続され、センサ
部１からの出力電圧がＡ／Ｄ変換されてマイクロコンピ
ュ−タ（図示せず）に入力されるようになっている点で
ある。
【００３３】波形整形回路３３はフィルタ回路４５、波
形整形手段４６、信号出力手段５２、ロ−レベル制限手
段３４及びシリ−ズレギュレ−タ３５等を含んで構成さ
れており、フィルタ回路４５、波形整形手段４６及び信
号出力手段５２の構成とこれら相互の接続関係は図５及
び図６に示した従来のセンサ信号処理回路４０を構成す
る波形整形回路４３の場合と同様である。ロ−レベル制
限手段３４はシャントレギュレ−タとしてのツェナ−ダ
イオ−ドＺＤ２で構成されており、ツェナ−ダイオ−ド
ＺＤ２はセンサ部３１の第１の端子４７と信号出力手段
５２を構成するトランジスタＱ１のコレクタとの間に介
装されている。シリ−ズレギュレ−タ３５はセンサ部３
１の第１の端子４７と波形整形手段４６を構成するコン
パレ−タ３０に接続されている。
形整形手段４６、信号出力手段５２、ロ−レベル制限手
段３４及びシリ−ズレギュレ−タ３５等を含んで構成さ
れており、フィルタ回路４５、波形整形手段４６及び信
号出力手段５２の構成とこれら相互の接続関係は図５及
び図６に示した従来のセンサ信号処理回路４０を構成す
る波形整形回路４３の場合と同様である。ロ−レベル制
限手段３４はシャントレギュレ−タとしてのツェナ−ダ
イオ−ドＺＤ２で構成されており、ツェナ−ダイオ−ド
ＺＤ２はセンサ部３１の第１の端子４７と信号出力手段
５２を構成するトランジスタＱ１のコレクタとの間に介
装されている。シリ−ズレギュレ−タ３５はセンサ部３
１の第１の端子４７と波形整形手段４６を構成するコン
パレ−タ３０に接続されている。
【００３４】上記の如く構成されたセンサ信号処理回路
２００は以下のように動作する。波形整形手段４６を構
成するコンパレ−タ３０からハイレベルが出力される
と、信号出力手段５２を構成するトランジスタＱ１がオ
ンし、センサ部３１の第１の端子４７がツェナ−ダイオ
−ドＺＤ２を介して接地される。したがって、第１の端
子４７にはシャントレギュレ−タとしてのツェナ−ダイ
オ−ドＺＤ２によって設定されるロ−レベルの一定電圧
ＶL が出力される。
２００は以下のように動作する。波形整形手段４６を構
成するコンパレ−タ３０からハイレベルが出力される
と、信号出力手段５２を構成するトランジスタＱ１がオ
ンし、センサ部３１の第１の端子４７がツェナ−ダイオ
−ドＺＤ２を介して接地される。したがって、第１の端
子４７にはシャントレギュレ−タとしてのツェナ−ダイ
オ−ドＺＤ２によって設定されるロ−レベルの一定電圧
ＶL が出力される。
【００３５】一方、コンパレ−タ３０からロ−レベルが
出力されると、トランジスタＱ１がオフするので、出力
端子４７にはシリ−ズレギュレ−タ３５によって設定さ
れ、下記（２）式で示される
出力されると、トランジスタＱ１がオフするので、出力
端子４７にはシリ−ズレギュレ−タ３５によって設定さ
れ、下記（２）式で示される
【００３６】
【数２】 ＶH ＝ＶB −ＩS ・Ｒ６ ・・・（２） ハイレベル電圧ＶH が出力される。ここで、ＩS はシリ
−ズレギュレ−タ３５の出力電流を示している。一般
に、シリ−ズレギュレ−タにあっては、入力電圧が変動
しても出力電流をほぼ一定に保つことができ、しかも入
力電流≒出力電流という関係があるので、シリ−ズレギ
ュレ−タ３５の場合にあっても、出力電流ＩS ＝入力電
流ＩS ´という関係か成り立つ。したがって、コンパレ
−タ３０からロ−レベルが出力された場合に第１の端子
４７に出力される電圧として、上記（２）式で示される
ハイレベル電圧ＶH が得られる。
−ズレギュレ−タ３５の出力電流を示している。一般
に、シリ−ズレギュレ−タにあっては、入力電圧が変動
しても出力電流をほぼ一定に保つことができ、しかも入
力電流≒出力電流という関係があるので、シリ−ズレギ
ュレ−タ３５の場合にあっても、出力電流ＩS ＝入力電
流ＩS ´という関係か成り立つ。したがって、コンパレ
−タ３０からロ−レベルが出力された場合に第１の端子
４７に出力される電圧として、上記（２）式で示される
ハイレベル電圧ＶH が得られる。
【００３７】以上説明したことから分かるように、セン
サ部３１の第１の端子４７から出力されるロ−レベル電
圧は、シャントレギュレ−タであるツェナ−ダイオ−ド
ＺＤ２により設定されるので、常に一定の電圧値ＶL と
なる。一方、第１の端子４７から出力されるハイレベル
電圧は、上記（２）式で示したように電源電圧ＶB から
一定値（ＩS ・Ｒ６）低下した電圧値ＶH となる。これ
らロ−レベル電圧値ＶL 及びハイレベル電圧値ＶH と電
源電圧ＶB との関係をグラフに示すと図４のようにな
る。
サ部３１の第１の端子４７から出力されるロ−レベル電
圧は、シャントレギュレ−タであるツェナ−ダイオ−ド
ＺＤ２により設定されるので、常に一定の電圧値ＶL と
なる。一方、第１の端子４７から出力されるハイレベル
電圧は、上記（２）式で示したように電源電圧ＶB から
一定値（ＩS ・Ｒ６）低下した電圧値ＶH となる。これ
らロ−レベル電圧値ＶL 及びハイレベル電圧値ＶH と電
源電圧ＶB との関係をグラフに示すと図４のようにな
る。
【００３８】図４に示したように、信号電圧ＶOUT にお
けるハイレベル電圧ＶH を常に電源電圧ＶB から一定値
（ＩS ・Ｒ６）低下した電圧値に設定することができ、
ロ−レベル電圧を常に一定値ＶL に設定することができ
るので、図８（ｂ）に示した従来のセンサ信号処理回路
４０における場合に比べて、ハイレベル電圧ＶH とロ−
レベル電圧ＶL とのレベル差ＶHLを大きくとることがで
きる。これにより、ロ−・ハイ判定を行うための基準値
電圧Ｖ３を容易に設定することができ、電子制御装置２
がロ−・ハイ判定でノイズにより誤動作する確率を低下
させることができる。
けるハイレベル電圧ＶH を常に電源電圧ＶB から一定値
（ＩS ・Ｒ６）低下した電圧値に設定することができ、
ロ−レベル電圧を常に一定値ＶL に設定することができ
るので、図８（ｂ）に示した従来のセンサ信号処理回路
４０における場合に比べて、ハイレベル電圧ＶH とロ−
レベル電圧ＶL とのレベル差ＶHLを大きくとることがで
きる。これにより、ロ−・ハイ判定を行うための基準値
電圧Ｖ３を容易に設定することができ、電子制御装置２
がロ−・ハイ判定でノイズにより誤動作する確率を低下
させることができる。
【００３９】また、ロ−レベル電圧ＶL を常に一定値に
保つことができるので、センサ部３１の第１の端子４７
と電子制御装置の第１の端子２７とを接続するハ−ネス
のショ−ト検出用スレッショルドレベルＶLth を容易に
設定することができ、また、電源電圧ＶB とハイレベル
電圧ＶH との間に、前記ハ−ネスの断線検出用スレッシ
ョルドレベルＶHth を設定することができる。したがっ
て、電子制御装置２を構成するＡ／Ｄコンバ−タ２９か
らマイクロコンピュ−タに入力される電圧値が、断線検
出用スレッショルドレベルＶHth 以上であるか、あるい
はショ−ト検出用スレッショルドレベルＶLth 以下であ
るのかを検出することで、センサ信号処理回路２００に
おける前記ハ−ネスの断線・ショ−トを検出することが
できる。
保つことができるので、センサ部３１の第１の端子４７
と電子制御装置の第１の端子２７とを接続するハ−ネス
のショ−ト検出用スレッショルドレベルＶLth を容易に
設定することができ、また、電源電圧ＶB とハイレベル
電圧ＶH との間に、前記ハ−ネスの断線検出用スレッシ
ョルドレベルＶHth を設定することができる。したがっ
て、電子制御装置２を構成するＡ／Ｄコンバ−タ２９か
らマイクロコンピュ−タに入力される電圧値が、断線検
出用スレッショルドレベルＶHth 以上であるか、あるい
はショ−ト検出用スレッショルドレベルＶLth 以下であ
るのかを検出することで、センサ信号処理回路２００に
おける前記ハ−ネスの断線・ショ−トを検出することが
できる。
【００４０】
【発明の効果】以上詳述したように本発明に係るセンサ
信号処理回路（１）またはセンサ信号処理回路（２）の
いずれを用いても、従来のセンサ信号処理回路の場合に
比べ、前記センサ部から前記電子制御装置に出力される
信号の振幅を十分大きくとることができるので、ノイズ
の影響を受けにくくすることができ、前記電子制御回路
がロ−・ハイ判定で誤動作する確率を低下させることが
できる。
信号処理回路（１）またはセンサ信号処理回路（２）の
いずれを用いても、従来のセンサ信号処理回路の場合に
比べ、前記センサ部から前記電子制御装置に出力される
信号の振幅を十分大きくとることができるので、ノイズ
の影響を受けにくくすることができ、前記電子制御回路
がロ−・ハイ判定で誤動作する確率を低下させることが
できる。
【００４１】また、本発明に係るハ−ネスの断線・ショ
−ト検出方法にあっては、センサ信号処理回路（１）ま
たはセンサ信号処理回路（２）において、断線検出用ス
レッショルドレベル及びショ−ト検出用スレッショルド
レベルを容易に設定することができ、これらのシュレッ
ショルドレベルに基づいて前記電子制御装置において前
記センサ部と前記電子制御装置とを接続するハ−ネスの
断線あるいはショ−トを検出することができる。
−ト検出方法にあっては、センサ信号処理回路（１）ま
たはセンサ信号処理回路（２）において、断線検出用ス
レッショルドレベル及びショ−ト検出用スレッショルド
レベルを容易に設定することができ、これらのシュレッ
ショルドレベルに基づいて前記電子制御装置において前
記センサ部と前記電子制御装置とを接続するハ−ネスの
断線あるいはショ−トを検出することができる。
【図１】本発明の実施例１に係るセンサ信号処理回路を
概略的に示した回路構成図である。
概略的に示した回路構成図である。
【図２】実施例１に係るセンサ信号処理回路を構成する
センサ部から電子制御装置に対して出力される信号電圧
におけるハイレベル及びロ−レベルと電源電圧との関係
を示したグラフである。
センサ部から電子制御装置に対して出力される信号電圧
におけるハイレベル及びロ−レベルと電源電圧との関係
を示したグラフである。
【図３】本発明の実施例２に係るセンサ信号処理回路を
概略的に示した回路構成図である。
概略的に示した回路構成図である。
【図４】実施例２に係るセンサ信号処理回路を構成する
センサ部から電子制御装置に対して出力される信号電圧
におけるハイレベル及びロ−レベルと電源電圧との関係
を示したグラフである。
センサ部から電子制御装置に対して出力される信号電圧
におけるハイレベル及びロ−レベルと電源電圧との関係
を示したグラフである。
【図５】従来のセンサ信号処理回路を概略的に示したブ
ロック図である。
ロック図である。
【図６】従来のセンサ信号処理回路を具体的に示した回
路構成図である。
路構成図である。
【図７】従来のセンサ信号処理回路における各装置の動
作を示したタイミングチャ−トである。
作を示したタイミングチャ−トである。
【図８】（ａ）は従来のセンサ信号処理回路においてセ
ンサ部から出力されるロ−レベルが一定値をとると想定
した場合に得られる信号電圧と電源電圧との関係と示し
たグラフであり、（ｂ）は従来のセンサ信号処理回路に
おいてセンサ部から出力されるロ−レベルが電源電圧の
変動とともに変動する場合に得られる信号電圧と電源電
圧との関係を示したグラフである。
ンサ部から出力されるロ−レベルが一定値をとると想定
した場合に得られる信号電圧と電源電圧との関係と示し
たグラフであり、（ｂ）は従来のセンサ信号処理回路に
おいてセンサ部から出力されるロ−レベルが電源電圧の
変動とともに変動する場合に得られる信号電圧と電源電
圧との関係を示したグラフである。
１、３１ センサ部 ２ 電子制御装置 ３、３３ 波形整形回路 ４ 出力制御手段 ５ ハイレベル制限手段 ６ 電源供給手段 ３４ ロ−レベル制限手段 ３５ シリ−ズレギュレ−タ ４６ 波形整形手段 ４７ センサ部の第１の端子 １００、２００ センサ信号処理回路 ＺＤ１、ＺＤ２ ツェナ−ダイオ−ド（シャントレギュ
レ−タ） Ｖ３ ロ−・ハイ判定用基準値電圧電源 ＶHth 断線検出用スレショルドレベル ＶLth ショ−ト検出用スレッショルドレベル
レ−タ） Ｖ３ ロ−・ハイ判定用基準値電圧電源 ＶHth 断線検出用スレショルドレベル ＶLth ショ−ト検出用スレッショルドレベル
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成７年９月１３日
【手続補正１】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図８
【補正方法】変更
【補正内容】
【図８】
Claims (3)
- 【請求項１】 電子制御装置（ＥＣＵ）を備え、該電子
制御装置に波形整形回路を介してセンサが接続されたセ
ンサ信号処理回路において、センサ部に前記波形整形回
路を構成する波形整形手段が配設され、該波形整形手段
にロ−レベル制限手段としてのシャントレギュレ−タ等
を含んで構成された電源供給手段が接続され、該電源供
給手段と前記センサ部の第１の端子との間にはハイレベ
ル制限手段が介装され、前記波形整形手段が、該波形整
形手段からの出力信号に基づいて前記第１の端子を前記
ハイレベル制限手段を介して前記電源供給手段に接続さ
せるか、あるいは前記第１の端子を前記電源供給手段に
直接接続させるかを切り替える出力制御手段に接続され
ていることを特徴とするセンサ信号処理回路。 - 【請求項２】 電子制御装置（ＥＣＵ）を備え、該電子
制御装置に波形整形回路を介してセンサが接続されたセ
ンサ信号処理回路において、センサ部に前記波形整形回
路を構成する波形整形手段及び信号出力手段が配設さ
れ、該信号出力手段がシャントレギュレ−タで構成され
たロ−レベル制限手段を介して前記センサ部の第１の端
子に接続され、該第１の端子と前記波形整形手段との間
に、シリ−ズレギュレ−タが介装されていることを特徴
とするセンサ信号処理回路。 - 【請求項３】 請求項１または請求項２記載のセンサ信
号処理回路において、前記センサ部の第１の端子から前
記電子制御装置に入力される電圧値が予め設定されたハ
イレベル側の所定値以上であるかどうかで前記センサ部
と前記電子制御装置とを接続するハ−ネスが断線してい
るかどうかを検出し、前記電圧値が予め設定されたロ−
レベル側の所定値以下であるかどうかで前記ハ−ネスが
ショ−トしているかどうかを検出することを特徴とする
ハ−ネスの断線・ショ−ト検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8097695A JPH08278163A (ja) | 1995-04-06 | 1995-04-06 | センサ信号処理回路及びハ−ネスの断線・ショ−ト検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8097695A JPH08278163A (ja) | 1995-04-06 | 1995-04-06 | センサ信号処理回路及びハ−ネスの断線・ショ−ト検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08278163A true JPH08278163A (ja) | 1996-10-22 |
Family
ID=13733548
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8097695A Withdrawn JPH08278163A (ja) | 1995-04-06 | 1995-04-06 | センサ信号処理回路及びハ−ネスの断線・ショ−ト検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08278163A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010185756A (ja) * | 2009-02-12 | 2010-08-26 | Aisin Aw Co Ltd | 故障検出装置及び故障検出方法 |
| CN105774782A (zh) * | 2014-12-24 | 2016-07-20 | 深圳艾科创新微电子有限公司 | 一种轮速传感信号处理电路及汽车abs系统 |
-
1995
- 1995-04-06 JP JP8097695A patent/JPH08278163A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010185756A (ja) * | 2009-02-12 | 2010-08-26 | Aisin Aw Co Ltd | 故障検出装置及び故障検出方法 |
| CN105774782A (zh) * | 2014-12-24 | 2016-07-20 | 深圳艾科创新微电子有限公司 | 一种轮速传感信号处理电路及汽车abs系统 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20020702 |