JPH08288360A - 湿式基体処理装置、カセット及び湿式基体処理方法 - Google Patents
湿式基体処理装置、カセット及び湿式基体処理方法Info
- Publication number
- JPH08288360A JPH08288360A JP7111123A JP11112395A JPH08288360A JP H08288360 A JPH08288360 A JP H08288360A JP 7111123 A JP7111123 A JP 7111123A JP 11112395 A JP11112395 A JP 11112395A JP H08288360 A JPH08288360 A JP H08288360A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cassette
- substrate
- liquid
- wet
- chuck
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
- Manipulator (AREA)
- Load-Engaging Elements For Cranes (AREA)
- Weting (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】液体処理槽からカセットを引き上げたとき、カ
セットに液体が残留し難く、しかも、カセットから基体
が脱落しない湿式基体処理装置を提供する。 【構成】湿式基体処理装置10は、(イ)液体処理槽1
2、(ロ)カセット搬送機14、及び、(ハ)基体40
を収納したカセット30を吊り下げ、カセット搬送機1
4によって搬送され、そして、カセット30を液体処理
槽12中の液体に浸漬するためにカセット30を昇降さ
せ得るチャック20を備えており、チャック20は、液
体表面に対して傾けた状態でカセット30を吊り下げ
る。チャックは、カセットの側板31の2つの突出部
(ボス)32Aに係合するフック部21A,21Bを有
し、この突出部32Aと係合する各フック部21A,2
1Bの部分の水平方向の高さが異なることが好ましい。
セットに液体が残留し難く、しかも、カセットから基体
が脱落しない湿式基体処理装置を提供する。 【構成】湿式基体処理装置10は、(イ)液体処理槽1
2、(ロ)カセット搬送機14、及び、(ハ)基体40
を収納したカセット30を吊り下げ、カセット搬送機1
4によって搬送され、そして、カセット30を液体処理
槽12中の液体に浸漬するためにカセット30を昇降さ
せ得るチャック20を備えており、チャック20は、液
体表面に対して傾けた状態でカセット30を吊り下げ
る。チャックは、カセットの側板31の2つの突出部
(ボス)32Aに係合するフック部21A,21Bを有
し、この突出部32Aと係合する各フック部21A,2
1Bの部分の水平方向の高さが異なることが好ましい。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、基体の湿式処理を行う
ための湿式基体処理装置及び湿式基体処理方法、及びか
かる装置若しくは方法での使用に適した基体を収納する
ためのカセットに関する。
ための湿式基体処理装置及び湿式基体処理方法、及びか
かる装置若しくは方法での使用に適した基体を収納する
ためのカセットに関する。
【0002】
【従来の技術】薄膜トランジスタ(TFT)や半導体装
置を製造する場合、例えばガラス基板や半導体基板から
成る基体、若しくは、配線層や電極層、絶縁層、レジス
ト層、カラーフィルター層といった各種の層がその上に
形成されたガラス基板や半導体基板から成る基体に対し
て、例えばエッチングや洗浄、レジスト現像やレジスト
除去といった種々の液体を用いた湿式処理が施される。
置を製造する場合、例えばガラス基板や半導体基板から
成る基体、若しくは、配線層や電極層、絶縁層、レジス
ト層、カラーフィルター層といった各種の層がその上に
形成されたガラス基板や半導体基板から成る基体に対し
て、例えばエッチングや洗浄、レジスト現像やレジスト
除去といった種々の液体を用いた湿式処理が施される。
【0003】洗浄処理装置から成る従来の湿式基体処理
装置の概念図を図4の(A)に示す。また、従来のチャ
ック120の一部及びカセット130の模式的な正面図
を図4の(B)に示し、図4の(B)の矢印方向からチ
ャック120の一部及びカセット130を眺めた図を図
4の(C)に示す。
装置の概念図を図4の(A)に示す。また、従来のチャ
ック120の一部及びカセット130の模式的な正面図
を図4の(B)に示し、図4の(B)の矢印方向からチ
ャック120の一部及びカセット130を眺めた図を図
4の(C)に示す。
【0004】この湿式基体処理装置10は、ローダー部
11、液体処理槽12、アンローダー部13、カセット
搬送機14及びチャック120から構成されている。チ
ャック120はカセット搬送機14によって搬送され、
基体を収納したカセット130を吊り下げ、そして、カ
セット130を降下させて液体処理槽12中の液体に浸
漬する。これによって、基体40は湿式処理される。カ
セット130は、液体表面に対して水平に昇降させられ
る。
11、液体処理槽12、アンローダー部13、カセット
搬送機14及びチャック120から構成されている。チ
ャック120はカセット搬送機14によって搬送され、
基体を収納したカセット130を吊り下げ、そして、カ
セット130を降下させて液体処理槽12中の液体に浸
漬する。これによって、基体40は湿式処理される。カ
セット130は、液体表面に対して水平に昇降させられ
る。
【0005】カセット130は、ワークを整列収納する
容器であり、マガジンとも呼ばれ、2枚の対向する側板
131、並びに、これらの側板131を所定の間隔を開
けて連結する4本の支柱132から構成されている。4
本の支柱132には基体留め具133が配設されてお
り、基体40は基体留め具133の間に保持される。通
常、カセット130には、基体を垂直に立てて収納す
る。カセットの側板131のそれぞれからは、支柱13
2が水平方向外側に延在し、突出部(ボス)132Aを
形成している。チャック120は、対向する一対のフッ
ク部121、一対のフック部121を連結するバー12
2、一対のバー122を連結するバー123、及びバー
123から垂直に延びる垂直バー124から構成されて
いる。フック部121のそれぞれは突出部(ボス)13
2Aと係合し、これによって、カセット130はチャッ
ク120から水平に吊り下げられる。
容器であり、マガジンとも呼ばれ、2枚の対向する側板
131、並びに、これらの側板131を所定の間隔を開
けて連結する4本の支柱132から構成されている。4
本の支柱132には基体留め具133が配設されてお
り、基体40は基体留め具133の間に保持される。通
常、カセット130には、基体を垂直に立てて収納す
る。カセットの側板131のそれぞれからは、支柱13
2が水平方向外側に延在し、突出部(ボス)132Aを
形成している。チャック120は、対向する一対のフッ
ク部121、一対のフック部121を連結するバー12
2、一対のバー122を連結するバー123、及びバー
123から垂直に延びる垂直バー124から構成されて
いる。フック部121のそれぞれは突出部(ボス)13
2Aと係合し、これによって、カセット130はチャッ
ク120から水平に吊り下げられる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の湿式
基体処理装置においては、カセット130を液体表面に
対して水平に降下させるので、液体処理槽12からカセ
ット130をチャック120によって引き上げたとき、
カセット130に液体が残留し易い。即ち、カセット1
30は所謂水切れが悪い。それ故、液体処理槽12から
の液体の損失を招くばかりでなく、カセット130に残
留した液体が次の液体処理槽内の液体中に混入し、液体
を汚染するという問題もある。また、カセット130を
昇降させる際、あるいはカセット130をカセット搬送
機14によって水平方向に搬送する際、カセット130
から基体40が脱落する虞がある。
基体処理装置においては、カセット130を液体表面に
対して水平に降下させるので、液体処理槽12からカセ
ット130をチャック120によって引き上げたとき、
カセット130に液体が残留し易い。即ち、カセット1
30は所謂水切れが悪い。それ故、液体処理槽12から
の液体の損失を招くばかりでなく、カセット130に残
留した液体が次の液体処理槽内の液体中に混入し、液体
を汚染するという問題もある。また、カセット130を
昇降させる際、あるいはカセット130をカセット搬送
機14によって水平方向に搬送する際、カセット130
から基体40が脱落する虞がある。
【0007】従って、本発明の目的は、湿式基体処理装
置における液体処理槽からカセットを引き上げたとき、
カセットに液体が残留し難く、しかも、カセットから基
体が脱落しない湿式基体処理装置及び湿式基体処理方
法、並びに、かかる装置若しくは方法での使用に適した
カセットを提供することにある。
置における液体処理槽からカセットを引き上げたとき、
カセットに液体が残留し難く、しかも、カセットから基
体が脱落しない湿式基体処理装置及び湿式基体処理方
法、並びに、かかる装置若しくは方法での使用に適した
カセットを提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めの本発明の湿式基体処理装置は、(イ)液体処理槽、
(ロ)カセット搬送機、及び、(ハ)基体を収納したカ
セットを吊り下げ、カセット搬送機によって搬送され、
そして、該カセットを液体処理槽中の液体に浸漬するた
めに該カセットを昇降させ得るチャック、を備えた湿式
基体処理装置であって、該チャックは、液体表面に対し
て傾けた状態でカセットを吊り下げることを特徴とす
る。
めの本発明の湿式基体処理装置は、(イ)液体処理槽、
(ロ)カセット搬送機、及び、(ハ)基体を収納したカ
セットを吊り下げ、カセット搬送機によって搬送され、
そして、該カセットを液体処理槽中の液体に浸漬するた
めに該カセットを昇降させ得るチャック、を備えた湿式
基体処理装置であって、該チャックは、液体表面に対し
て傾けた状態でカセットを吊り下げることを特徴とす
る。
【0009】本発明の湿式基体処理装置においては、チ
ャックは、カセットの側板のそれぞれに備えられた少な
くとも2つの突出部に係合するフック部を有し、該突出
部と係合する各フック部の部分の水平方向の高さが異な
ることが好ましい。あるいは又、チャックは、カセット
の側板の垂直方向中心線から外れた位置に設けられた孔
部又は突出部に係合する突出部又はフック部を有するこ
とが好ましい。
ャックは、カセットの側板のそれぞれに備えられた少な
くとも2つの突出部に係合するフック部を有し、該突出
部と係合する各フック部の部分の水平方向の高さが異な
ることが好ましい。あるいは又、チャックは、カセット
の側板の垂直方向中心線から外れた位置に設けられた孔
部又は突出部に係合する突出部又はフック部を有するこ
とが好ましい。
【0010】本発明の湿式基体処理装置においては、例
えば、基体の洗浄、湿式エッチング、レジスト現像若し
くはレジスト除去が行われる。
えば、基体の洗浄、湿式エッチング、レジスト現像若し
くはレジスト除去が行われる。
【0011】上記の目的を達成するための本発明の基体
を収納するカセットは、基体を液体に浸漬して湿式処理
を行うために用いられ、カセットの側板の垂直方向中心
線から外れた位置に、カセットを吊り下げるための孔部
又は突出部が設けられていることを特徴とする。カセッ
トは、ワークである基体を整列収納する容器であり、マ
ガジンとも呼ばれる。
を収納するカセットは、基体を液体に浸漬して湿式処理
を行うために用いられ、カセットの側板の垂直方向中心
線から外れた位置に、カセットを吊り下げるための孔部
又は突出部が設けられていることを特徴とする。カセッ
トは、ワークである基体を整列収納する容器であり、マ
ガジンとも呼ばれる。
【0012】上記の目的を達成するための本発明の湿式
基体処理方法は、基体を収納したカセットを液体表面に
対して傾けた状態で液体に浸漬し、その後、基体を収納
したカセットを液体表面に対して傾けた状態で液体から
引き上げ、基体を湿式処理することを特徴とする。
基体処理方法は、基体を収納したカセットを液体表面に
対して傾けた状態で液体に浸漬し、その後、基体を収納
したカセットを液体表面に対して傾けた状態で液体から
引き上げ、基体を湿式処理することを特徴とする。
【0013】本発明における基体としては、例えば薄膜
トランジスタ(TFT)や半導体装置を製造するため
の、例えばガラス基板や半導体基板、配線層や電極層、
絶縁層、レジスト層、カラーフィルター層といった各種
の層がその上に形成されたガラス基板や半導体基板を例
示することができるが、これらに限定されるものではな
い。
トランジスタ(TFT)や半導体装置を製造するため
の、例えばガラス基板や半導体基板、配線層や電極層、
絶縁層、レジスト層、カラーフィルター層といった各種
の層がその上に形成されたガラス基板や半導体基板を例
示することができるが、これらに限定されるものではな
い。
【0014】
【作用】本発明の湿式基体処理装置においては、カセッ
トを液体表面に対して傾けた状態で、カセットをチャッ
クによって吊り下げる。また、本発明の湿式基体処理方
法においては、基体を収納したカセットを液体表面に対
して傾けた状態で液体に浸漬し、その後、基体を収納し
たカセットを液体表面に対して傾けた状態で液体から引
き上げる。このようにカセットを傾けることによって、
カセットの所謂水切れが良くなり、カセットに液体が残
留し難くなる。また、カセットを傾けた状態にすること
で、カセットに収納された基体はカセットに設けられた
ストッパーと確実に係合し、カセットからの基体の脱落
を効果的に防止することができる。
トを液体表面に対して傾けた状態で、カセットをチャッ
クによって吊り下げる。また、本発明の湿式基体処理方
法においては、基体を収納したカセットを液体表面に対
して傾けた状態で液体に浸漬し、その後、基体を収納し
たカセットを液体表面に対して傾けた状態で液体から引
き上げる。このようにカセットを傾けることによって、
カセットの所謂水切れが良くなり、カセットに液体が残
留し難くなる。また、カセットを傾けた状態にすること
で、カセットに収納された基体はカセットに設けられた
ストッパーと確実に係合し、カセットからの基体の脱落
を効果的に防止することができる。
【0015】本発明のカセットにおいては、カセットの
側板の垂直方向中心線から外れた位置に孔部が設けられ
ているので、チャックをこの孔部に係合させてカセット
を吊り下げれば、カセットは自然と傾くので、カセット
の所謂水切れが良くなり、カセットに液体が残留し難く
なるし、カセットからの基体の脱落を効果的に防止する
ことができる。
側板の垂直方向中心線から外れた位置に孔部が設けられ
ているので、チャックをこの孔部に係合させてカセット
を吊り下げれば、カセットは自然と傾くので、カセット
の所謂水切れが良くなり、カセットに液体が残留し難く
なるし、カセットからの基体の脱落を効果的に防止する
ことができる。
【0016】
【実施例】以下、図面を参照して、実施例に基づき本発
明を説明する。
明を説明する。
【0017】(実施例1)洗浄処理装置から成る本発明
の湿式基体処理装置の概念図を図1の(A)に示す。こ
の湿式基体処理装置は、薄膜トランジスタ(TFT)や
半導体装置を製造する場合に用いられ、例えばガラス基
板や半導体基板から成る基体が洗浄される。湿式基体処
理装置10は、ローダー部11、液体処理槽12、アン
ローダー部13、カセット搬送機14及びチャック20
から構成されている。チャック20は、カセット搬送機
14によって搬送され、基体40を収納したカセット3
0を把持し、吊り下げ、そして、カセット30を昇降さ
せて液体処理槽12中の液体に浸漬する。これによっ
て、基体40は湿式処理される。
の湿式基体処理装置の概念図を図1の(A)に示す。こ
の湿式基体処理装置は、薄膜トランジスタ(TFT)や
半導体装置を製造する場合に用いられ、例えばガラス基
板や半導体基板から成る基体が洗浄される。湿式基体処
理装置10は、ローダー部11、液体処理槽12、アン
ローダー部13、カセット搬送機14及びチャック20
から構成されている。チャック20は、カセット搬送機
14によって搬送され、基体40を収納したカセット3
0を把持し、吊り下げ、そして、カセット30を昇降さ
せて液体処理槽12中の液体に浸漬する。これによっ
て、基体40は湿式処理される。
【0018】チャック20の一部及びカセット30の模
式的な正面図を図1の(B)に示す。更に、図1の
(B)の矢印方向からチャック20の一部及びカセット
30を眺めた図を図1の(C)に示す。カセット30
は、ワークである基体を整列収納する容器であり、2枚
の対向する金属製の側板31、並びに、これらの側板3
1を所定の間隔を開けて連結する合成樹脂製の4本の支
柱32から構成されている。4本の支柱32には、基体
留め具33が配設されている。基体40は基体留め具3
3の間に保持される。通常、カセット30には、基体4
0を垂直に立てて収納する。カセット30が傾けられた
とき基体40が脱落しないように、支柱32にはストッ
パー(図示せず)が設けられている。カセットの側板3
1のそれぞれからは、支柱132が水平方向外側に延在
し、突出部(ボス)32Aを形成している。尚、カセッ
トを構成する部材は、湿式処理に用いられる液体に対す
る耐性があれば、如何なる材料から作製してもよい。
式的な正面図を図1の(B)に示す。更に、図1の
(B)の矢印方向からチャック20の一部及びカセット
30を眺めた図を図1の(C)に示す。カセット30
は、ワークである基体を整列収納する容器であり、2枚
の対向する金属製の側板31、並びに、これらの側板3
1を所定の間隔を開けて連結する合成樹脂製の4本の支
柱32から構成されている。4本の支柱32には、基体
留め具33が配設されている。基体40は基体留め具3
3の間に保持される。通常、カセット30には、基体4
0を垂直に立てて収納する。カセット30が傾けられた
とき基体40が脱落しないように、支柱32にはストッ
パー(図示せず)が設けられている。カセットの側板3
1のそれぞれからは、支柱132が水平方向外側に延在
し、突出部(ボス)32Aを形成している。尚、カセッ
トを構成する部材は、湿式処理に用いられる液体に対す
る耐性があれば、如何なる材料から作製してもよい。
【0019】チャック20は、カセット30を液体表面
に対して傾けた状態で、カセット30を把持し、吊り下
げる。より具体的には、実施例1においては、チャック
20は、カセットの側板のそれぞれに備えられた少なく
とも2つの突出部(ボス)32Aに係合するフック部2
1A,21Bを有し、各フック部21A,21Bの突出
部32Aと係合する部分の水平方向の高さが異なる。こ
れによって、カセット30は、液体処理槽12内の液体
表面に対して傾いた状態で昇降させられる。尚、フック
部21A,21Bは、バー22によって連結され、更
に、一対のバー22はバー23によって連結されてい
る。また、バー23から垂直方向に垂直バー24が延
び、垂直バー24はカセット搬送機14に移動可能に取
り付けられている。また、チャック20には、図示しな
い公知の昇降機構が備えられている。
に対して傾けた状態で、カセット30を把持し、吊り下
げる。より具体的には、実施例1においては、チャック
20は、カセットの側板のそれぞれに備えられた少なく
とも2つの突出部(ボス)32Aに係合するフック部2
1A,21Bを有し、各フック部21A,21Bの突出
部32Aと係合する部分の水平方向の高さが異なる。こ
れによって、カセット30は、液体処理槽12内の液体
表面に対して傾いた状態で昇降させられる。尚、フック
部21A,21Bは、バー22によって連結され、更
に、一対のバー22はバー23によって連結されてい
る。また、バー23から垂直方向に垂直バー24が延
び、垂直バー24はカセット搬送機14に移動可能に取
り付けられている。また、チャック20には、図示しな
い公知の昇降機構が備えられている。
【0020】液体処理槽12のそれぞれには、例えば、
NH4OH/H2O2から成る洗浄液、リンス液、希フッ
酸から成る洗浄液、リンス液、HCl/H2O2から成る
洗浄液、リンス液が入れられている。尚、図1の(A)
においては、液体処理槽の一部の図示を省略した。
NH4OH/H2O2から成る洗浄液、リンス液、希フッ
酸から成る洗浄液、リンス液、HCl/H2O2から成る
洗浄液、リンス液が入れられている。尚、図1の(A)
においては、液体処理槽の一部の図示を省略した。
【0021】基体40を収納したカセット30は、湿式
基体処理装置10のローダー部11を介して、チャック
20によって把持され、カセット搬送機14により湿式
基体処理装置10の内部に搬入される。このとき、図1
の(B)に示すように、カセット30は、傾いた状態で
チャック20に把持され吊り下げられている。カセット
30をカセット搬送機14によって水平方向に移動さ
せ、液体処理槽12の上方に位置させる。次いで、図示
しない昇降機構によってチャック20を降下させ、基体
40を収納したカセット30を液体表面に対して傾けた
状態で、液体処理槽12内の液体に浸漬する。そして、
液体処理槽12内で所定の湿式処理を基体40に施した
後、図示しない昇降機構によってチャック20を上昇さ
せ、基体40を収納したカセット30を液体表面に対し
て傾けた状態で液体から引き上げる。このようにカセッ
ト30を傾けることによって、カセットの所謂水切れが
良くなり、液体はカセット30から滑らかに流下し、カ
セット30には液体が殆ど残存しない。また、カセット
30を傾けた状態にすることで、カセット30からの基
体40の脱落を効果的に防止することができる。
基体処理装置10のローダー部11を介して、チャック
20によって把持され、カセット搬送機14により湿式
基体処理装置10の内部に搬入される。このとき、図1
の(B)に示すように、カセット30は、傾いた状態で
チャック20に把持され吊り下げられている。カセット
30をカセット搬送機14によって水平方向に移動さ
せ、液体処理槽12の上方に位置させる。次いで、図示
しない昇降機構によってチャック20を降下させ、基体
40を収納したカセット30を液体表面に対して傾けた
状態で、液体処理槽12内の液体に浸漬する。そして、
液体処理槽12内で所定の湿式処理を基体40に施した
後、図示しない昇降機構によってチャック20を上昇さ
せ、基体40を収納したカセット30を液体表面に対し
て傾けた状態で液体から引き上げる。このようにカセッ
ト30を傾けることによって、カセットの所謂水切れが
良くなり、液体はカセット30から滑らかに流下し、カ
セット30には液体が殆ど残存しない。また、カセット
30を傾けた状態にすることで、カセット30からの基
体40の脱落を効果的に防止することができる。
【0022】このような、カセット搬送機14によるカ
セット30の水平方向の移動、チャック20によっての
カセット30の昇降による基体40の湿式処理を繰り返
す。最後に、湿式基体処理装置に配設された乾燥装置
(図示せず)によって基体40を乾燥し、アンローダー
部13を介してカセット30を搬出する。
セット30の水平方向の移動、チャック20によっての
カセット30の昇降による基体40の湿式処理を繰り返
す。最後に、湿式基体処理装置に配設された乾燥装置
(図示せず)によって基体40を乾燥し、アンローダー
部13を介してカセット30を搬出する。
【0023】(実施例2)実施例2は、実施例1の変形
である。実施例2が実施例1と相違する点は、チャック
の構造及びカセットの構造にある。チャック20Aの一
部及びカセット30Aの模式的な正面図を図2の(A)
に示す。更に、図2の(A)の矢印方向からチャック2
0Aの一部及びカセット30Aを眺めた図を図2の
(B)に示す。カセット30Aは、2枚の対向する金属
製の側板31、並びに、これらの側板31を所定の間隔
を開けて連結する合成樹脂製の4本の支柱32から構成
されている。4本の支柱32には、基体留め具33が配
設されている。
である。実施例2が実施例1と相違する点は、チャック
の構造及びカセットの構造にある。チャック20Aの一
部及びカセット30Aの模式的な正面図を図2の(A)
に示す。更に、図2の(A)の矢印方向からチャック2
0Aの一部及びカセット30Aを眺めた図を図2の
(B)に示す。カセット30Aは、2枚の対向する金属
製の側板31、並びに、これらの側板31を所定の間隔
を開けて連結する合成樹脂製の4本の支柱32から構成
されている。4本の支柱32には、基体留め具33が配
設されている。
【0024】チャック20Aは、カセット30Aを液体
表面に対して傾けた状態で、カセット30を把持し、吊
り下げる。より具体的には、実施例2においては、カセ
ット30Aの側板31の垂直方向中心線(図2の(A)
に一点鎖線で示す)から外れた位置に、カセット30A
を吊り下げるための孔部34が設けられている。また、
一対のチャック20Aは、かかる孔部34に係合するピ
ン状の突出部25を有する。突出部25と孔部34を係
合させることによって、カセット30Aは、液体処理槽
12内の液体表面に対して傾いた状態で昇降させられ
る。実施例2における湿式基体処理装置及び湿式基体処
理方法は、実質的に実施例1と同様とすることができる
ので、詳細な説明は省略する。
表面に対して傾けた状態で、カセット30を把持し、吊
り下げる。より具体的には、実施例2においては、カセ
ット30Aの側板31の垂直方向中心線(図2の(A)
に一点鎖線で示す)から外れた位置に、カセット30A
を吊り下げるための孔部34が設けられている。また、
一対のチャック20Aは、かかる孔部34に係合するピ
ン状の突出部25を有する。突出部25と孔部34を係
合させることによって、カセット30Aは、液体処理槽
12内の液体表面に対して傾いた状態で昇降させられ
る。実施例2における湿式基体処理装置及び湿式基体処
理方法は、実質的に実施例1と同様とすることができる
ので、詳細な説明は省略する。
【0025】実施例2の変形を図3に示す。図3に示し
たカセット30Bにおいては、カセット30Bの側板3
1の垂直方向中心線(図3の(A)に一点鎖線で示す)
から外れた位置に、カセット30Bを吊り下げるための
突出部35が設けられている。突出部35は側板31か
ら水平方向外側に延びている。一方、チャック20B
は、かかる突出部35に係合するフック部26を有す
る。フック部26と突出部35を係合させることによっ
て、カセット30Bは、液体処理槽12内の液体表面に
対して傾いた状態でチャック20Bによって昇降させら
れる。尚、図2及び図3に示したカセットの構造におい
ては、カセットに錘等を取り付けることによって、基体
を収納したカセットの重心を通り且つ側板と直交する垂
直面が側板と交わる直線を、側板31の垂直方向中心線
からずらした場合には、かかる垂直面が側板と交わる直
線上から外れた位置に、カセットを吊り下げるための孔
部又は突出部を設ければよい。
たカセット30Bにおいては、カセット30Bの側板3
1の垂直方向中心線(図3の(A)に一点鎖線で示す)
から外れた位置に、カセット30Bを吊り下げるための
突出部35が設けられている。突出部35は側板31か
ら水平方向外側に延びている。一方、チャック20B
は、かかる突出部35に係合するフック部26を有す
る。フック部26と突出部35を係合させることによっ
て、カセット30Bは、液体処理槽12内の液体表面に
対して傾いた状態でチャック20Bによって昇降させら
れる。尚、図2及び図3に示したカセットの構造におい
ては、カセットに錘等を取り付けることによって、基体
を収納したカセットの重心を通り且つ側板と直交する垂
直面が側板と交わる直線を、側板31の垂直方向中心線
からずらした場合には、かかる垂直面が側板と交わる直
線上から外れた位置に、カセットを吊り下げるための孔
部又は突出部を設ければよい。
【0026】以上、本発明を好ましい実施例に基づき説
明したが、本発明はこれらの実施例に限定されるもので
はない。実施例にて説明した湿式基体処理装置の構造は
例示であり、適宜変更することができるし、カセットあ
るいはチャックの構造や形態、カセットを吊り下げるた
めの手段も適宜設計変更することができる。実施例にお
いては、専ら、基体の洗浄処理を例にとり本発明を説明
したが、液体処理槽に入れる液体を代えれば、各種の層
がその上に形成されたガラス基板や半導体基板から成る
基体に対して、かかる層が配線層や電極層あるいはカラ
ーフィルター層の場合、湿式エッチングを行ったり、か
かる層がレジストの場合、レジスト現像やレジスト除去
を行うことができるし、場合によっては基体へのめっき
を行うこともできる。基体は、ガラス基板や半導体基板
に限定されず、液体に浸漬して湿式処理を施すべき基体
であれば、如何なる基体に対しても、本発明の湿式基体
処理方法を適用することができる。
明したが、本発明はこれらの実施例に限定されるもので
はない。実施例にて説明した湿式基体処理装置の構造は
例示であり、適宜変更することができるし、カセットあ
るいはチャックの構造や形態、カセットを吊り下げるた
めの手段も適宜設計変更することができる。実施例にお
いては、専ら、基体の洗浄処理を例にとり本発明を説明
したが、液体処理槽に入れる液体を代えれば、各種の層
がその上に形成されたガラス基板や半導体基板から成る
基体に対して、かかる層が配線層や電極層あるいはカラ
ーフィルター層の場合、湿式エッチングを行ったり、か
かる層がレジストの場合、レジスト現像やレジスト除去
を行うことができるし、場合によっては基体へのめっき
を行うこともできる。基体は、ガラス基板や半導体基板
に限定されず、液体に浸漬して湿式処理を施すべき基体
であれば、如何なる基体に対しても、本発明の湿式基体
処理方法を適用することができる。
【0027】
【発明の効果】本発明により、極めて簡素な構造でカセ
ットの所謂水切れを向上させることができるので、液体
処理槽からの液体の損失を抑制することができ、更に
は、カセットに残留した液体が次の液体処理槽内の液体
中に混入して液体を汚染するという問題を解決すること
ができる。また、カセットからの基体の脱落を効果的に
防止することもできる。
ットの所謂水切れを向上させることができるので、液体
処理槽からの液体の損失を抑制することができ、更に
は、カセットに残留した液体が次の液体処理槽内の液体
中に混入して液体を汚染するという問題を解決すること
ができる。また、カセットからの基体の脱落を効果的に
防止することもできる。
【図1】実施例1の湿式基体処理装置の概念図、並び
に、チャック及びカセットの模式的な正面図及び側面図
である。
に、チャック及びカセットの模式的な正面図及び側面図
である。
【図2】実施例2のチャック及びカセットの模式的な正
面図及び側面図である。
面図及び側面図である。
【図3】実施例2の変形であるチャック及びカセットの
模式的な正面図及び側面図である。
模式的な正面図及び側面図である。
【図4】従来の湿式基体処理装置の概念図、並びに、チ
ャック及びカセットの模式的な正面図及び側面図であ
る。
ャック及びカセットの模式的な正面図及び側面図であ
る。
10 湿式基体処理装置 11 ローダー部 12 液体処理槽 13 アンローダー部 14 カセット搬送機 20,20A,20B チャック 21A,21B,26 フック部 22,23,24 バー 25 突出部 30,30A,30B カセット 31 側板 32 支柱 32A,35 突出部 33 基体留め具 34 孔部 40 基体
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/304 341 H01L 21/30 569D 21/306 21/306 J
Claims (7)
- 【請求項1】(イ)液体処理槽、 (ロ)カセット搬送機、及び、 (ハ)基体を収納したカセットを吊り下げ、カセット搬
送機によって搬送され、そして、該カセットを液体処理
槽中の液体に浸漬するために該カセットを昇降させ得る
チャック、を備えた湿式基体処理装置であって、 該チャックは、液体表面に対して傾けた状態でカセット
を吊り下げることを特徴とする湿式基体処理装置。 - 【請求項2】前記チャックは、カセットの側板のそれぞ
れに備えられた少なくとも2つの突出部に係合するフッ
ク部を有し、該突出部と係合する各フック部の部分の水
平方向の高さが異なることを特徴とする請求項1に記載
の湿式基体処理装置。 - 【請求項3】前記チャックは、カセットの側板の垂直方
向中心線から外れた位置に設けられた孔部又は突出部に
係合する突出部又はフック部を有することを特徴とする
請求項1に記載の湿式基体処理装置。 - 【請求項4】基体の洗浄、湿式エッチング、レジスト現
像若しくはレジスト除去を行うことを特徴とする請求項
1乃至請求項3のいずれか1項に記載の湿式基体処理装
置。 - 【請求項5】基体を液体に浸漬して湿式処理を行うため
に用いられる、基体を収納するカセットであって、 カセットの側板の垂直方向中心線から外れた位置に、カ
セットを吊り下げるための孔部又は突出部が設けられて
いることを特徴とするカセット。 - 【請求項6】基体を収納したカセットを液体表面に対し
て傾けた状態で液体に浸漬し、その後、基体を収納した
カセットを液体表面に対して傾けた状態で液体から引き
上げ、基体を湿式処理することを特徴とする湿式基体処
理方法。 - 【請求項7】基体はガラス基板若しくは半導体基板であ
ることを特徴とする請求項6に記載の湿式基体処理方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7111123A JPH08288360A (ja) | 1995-04-12 | 1995-04-12 | 湿式基体処理装置、カセット及び湿式基体処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7111123A JPH08288360A (ja) | 1995-04-12 | 1995-04-12 | 湿式基体処理装置、カセット及び湿式基体処理方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08288360A true JPH08288360A (ja) | 1996-11-01 |
Family
ID=14553026
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7111123A Pending JPH08288360A (ja) | 1995-04-12 | 1995-04-12 | 湿式基体処理装置、カセット及び湿式基体処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08288360A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2023079882A1 (ja) * | 2021-11-05 | 2023-05-11 | 村田機械株式会社 | 天井搬送車 |
-
1995
- 1995-04-12 JP JP7111123A patent/JPH08288360A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2023079882A1 (ja) * | 2021-11-05 | 2023-05-11 | 村田機械株式会社 | 天井搬送車 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0658923B1 (en) | Wafer cleaning tank | |
| US6354794B2 (en) | Method for automatically transferring wafers between wafer holders in a liquid environment | |
| US9972510B2 (en) | Substrate cleaning apparatus and substrate cleaning method | |
| JP2004096101A (ja) | 集積回路製造装置 | |
| US6576065B1 (en) | Installation and method for chemical treatment of microelectronics wafers | |
| JPH08288360A (ja) | 湿式基体処理装置、カセット及び湿式基体処理方法 | |
| JPS63208223A (ja) | ウエハ処理装置 | |
| JPH06314677A (ja) | 洗浄装置 | |
| US20240087917A1 (en) | Space filling device for wet bench | |
| JP2977153B2 (ja) | ウェハ移し替え装置 | |
| JP3219284B2 (ja) | 洗浄処理装置 | |
| JP3248789B2 (ja) | 基板ウェット処理方法および処理システム | |
| JPH08335623A (ja) | ウェーハ搬送装置及び半導体処理装置 | |
| JP3346823B2 (ja) | 基板ウェット処理装置 | |
| JPH0636584Y2 (ja) | 基板収納容器 | |
| JP3048735B2 (ja) | ウェーハ処理装置用搬送機構 | |
| JPH0562955A (ja) | 半導体洗浄装置及び半導体ウエハ保持装置 | |
| JPS6311730Y2 (ja) | ||
| JPH1129881A (ja) | ウェハのエッチング処理装置 | |
| JPH0234823Y2 (ja) | ||
| JP3333664B2 (ja) | 洗浄方法及び洗浄装置 | |
| JP2872895B2 (ja) | 基板保持カセット | |
| JP2544056Y2 (ja) | ウエハの表面処理装置 | |
| JP2541887Y2 (ja) | ウエハの表面処理装置 | |
| JPH0444323A (ja) | 基板の水切り乾燥装置 |