JPH0829460A - 基板の絶縁試験装置 - Google Patents
基板の絶縁試験装置Info
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- JPH0829460A JPH0829460A JP16549294A JP16549294A JPH0829460A JP H0829460 A JPH0829460 A JP H0829460A JP 16549294 A JP16549294 A JP 16549294A JP 16549294 A JP16549294 A JP 16549294A JP H0829460 A JPH0829460 A JP H0829460A
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Landscapes
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 基板の絶縁性能を試験する装置において、プ
リント基板等の接近した電極間に長時間電圧を印加した
ときに発生するマイグレーション等による抵抗値の一時
低下を確実に検出できる安価な装置を提供する。 【構成】 被試験物に直列に接続された抵抗に流れる電
流により生ずる電圧を、基準電圧と比較するコンパレー
タよりなる比較手段に入力して、その出力をフリップフ
ロップで構成される保持手段により一時的な抵抗値の低
下を、抵抗値復帰によらず保持する。
リント基板等の接近した電極間に長時間電圧を印加した
ときに発生するマイグレーション等による抵抗値の一時
低下を確実に検出できる安価な装置を提供する。 【構成】 被試験物に直列に接続された抵抗に流れる電
流により生ずる電圧を、基準電圧と比較するコンパレー
タよりなる比較手段に入力して、その出力をフリップフ
ロップで構成される保持手段により一時的な抵抗値の低
下を、抵抗値復帰によらず保持する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電子部品等が搭載され
半田付けされたプリント基板の環境試験（高温多湿の状
態）等で基板の絶縁性能が正常であるか否かを試験する
装置に関する。
半田付けされたプリント基板の環境試験（高温多湿の状
態）等で基板の絶縁性能が正常であるか否かを試験する
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】電気機器内に設けられた基板の絶縁性能
が劣化（絶縁抵抗値が低下）すると基板上のパターン
（電極）間でショートが起き、発火してしまうため非常
に危険である。そのため、事前に基板の絶縁性能を試験
することが重要である。前記抵抗値の低下の要因の中で
代表的となるものがマイグレーションである。このマイ
グレーションとは、プリント基板の近接した電極間に長
時間電圧を印加したとき、電極材料の銅等がイオン化し
て電界によりプリント基板表面に沿って対向電極の方向
に移動する現象をいう。このようなマイグレーションが
発生すると、その電極間の抵抗値が急激に低下して、電
圧の印加された電極間に異常電流が流れ電子回路が損傷
する。マイグレーションの発生はプリント基板自体の特
性の他、電子部品の半田付け時のフラックスの残査、使
用環境（特に、高温多湿の状態）等の影響を受ける。そ
のため、プリント基板の信頼性を高めるために、実際に
電子部品の搭載されたプリント基板、または、前記プリ
ント基板が高価な場合には近接して電極の設けられた試
験用プリント基板を、加速試験の目的で高温多湿の環境
において、通電して電極間抵抗の経時変化を測定してマ
イグレーションの発生の有無を確認する方法が採られて
いる。
が劣化（絶縁抵抗値が低下）すると基板上のパターン
（電極）間でショートが起き、発火してしまうため非常
に危険である。そのため、事前に基板の絶縁性能を試験
することが重要である。前記抵抗値の低下の要因の中で
代表的となるものがマイグレーションである。このマイ
グレーションとは、プリント基板の近接した電極間に長
時間電圧を印加したとき、電極材料の銅等がイオン化し
て電界によりプリント基板表面に沿って対向電極の方向
に移動する現象をいう。このようなマイグレーションが
発生すると、その電極間の抵抗値が急激に低下して、電
圧の印加された電極間に異常電流が流れ電子回路が損傷
する。マイグレーションの発生はプリント基板自体の特
性の他、電子部品の半田付け時のフラックスの残査、使
用環境（特に、高温多湿の状態）等の影響を受ける。そ
のため、プリント基板の信頼性を高めるために、実際に
電子部品の搭載されたプリント基板、または、前記プリ
ント基板が高価な場合には近接して電極の設けられた試
験用プリント基板を、加速試験の目的で高温多湿の環境
において、通電して電極間抵抗の経時変化を測定してマ
イグレーションの発生の有無を確認する方法が採られて
いる。
【０００３】従来の基板の絶縁性能の試験、特に、マイ
グレーションの調査方法は、環境試験を開始してから一
定時間経過する毎に、通電を中止してこの環境から取り
外して、拡大鏡等を使用してサンプルを一つ一つ目視に
よりチェックする必要があった。
グレーションの調査方法は、環境試験を開始してから一
定時間経過する毎に、通電を中止してこの環境から取り
外して、拡大鏡等を使用してサンプルを一つ一つ目視に
よりチェックする必要があった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】試料にマイグレーショ
ン等が発生すると、図２のように測定試料の両端の抵抗
値が低下するので、抵抗値の経時変化を連続して測定す
ることによりマイグレーション等の発生による抵抗値の
低下が検出できる。しかし、環境試験中に通電試験を中
断して、測定試料の抵抗値を絶縁抵抗試験器で測定する
従来の方法では、 試料の抵抗値は連続的に変化するのではなく、絶縁抵
抗の異常が発生すると急激に電極間の抵抗値が低下し
（図２のＡ点の状態）、被試験物の電極間で放電を起こ
して電極間の抵抗値が再び正常な値まで上昇する。従っ
て、試料への通電を中断して抵抗を測定する方法では、
抵抗値の経時変化を連続して測定していないために、一
時的な抵抗値の低下、即ち、一時的な絶縁抵抗の異常を
確実に捉えることができないという問題がある。また、
この異常を確実に検出するためには、観察者が高頻度の
割合でサンプルを試験槽より取り出し、外観チェックを
しなければならず工数が大きくなる。 マイグレーション等の発生による抵抗値の低下を検出
するためには、高価な絶縁抵抗測定器を使用して試料の
抵抗値を正確に、かつ、連続して測定する必要があるた
め、コストがかかる。特に、複数の試料に対して試験を
行う場合、この数に対応した複数の絶縁抵抗測定器を用
意しなければならずコストアップが顕著に現れる。
ン等が発生すると、図２のように測定試料の両端の抵抗
値が低下するので、抵抗値の経時変化を連続して測定す
ることによりマイグレーション等の発生による抵抗値の
低下が検出できる。しかし、環境試験中に通電試験を中
断して、測定試料の抵抗値を絶縁抵抗試験器で測定する
従来の方法では、 試料の抵抗値は連続的に変化するのではなく、絶縁抵
抗の異常が発生すると急激に電極間の抵抗値が低下し
（図２のＡ点の状態）、被試験物の電極間で放電を起こ
して電極間の抵抗値が再び正常な値まで上昇する。従っ
て、試料への通電を中断して抵抗を測定する方法では、
抵抗値の経時変化を連続して測定していないために、一
時的な抵抗値の低下、即ち、一時的な絶縁抵抗の異常を
確実に捉えることができないという問題がある。また、
この異常を確実に検出するためには、観察者が高頻度の
割合でサンプルを試験槽より取り出し、外観チェックを
しなければならず工数が大きくなる。 マイグレーション等の発生による抵抗値の低下を検出
するためには、高価な絶縁抵抗測定器を使用して試料の
抵抗値を正確に、かつ、連続して測定する必要があるた
め、コストがかかる。特に、複数の試料に対して試験を
行う場合、この数に対応した複数の絶縁抵抗測定器を用
意しなければならずコストアップが顕著に現れる。
【０００５】本発明は、工数がかさむことなくマイグレ
ーション等の発生による絶縁抵抗の異常を確実に捉える
ことができ、かつ、コストアップすることのない安価な
装置を提供することを目的とする。
ーション等の発生による絶縁抵抗の異常を確実に捉える
ことができ、かつ、コストアップすることのない安価な
装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明は、基板上に設けられたパターン間の絶縁抵抗
に基づき、前記基板の絶縁性能を試験する基板の絶縁試
験装置において、前記基板の絶縁状態を監視する監視手
段と、該監視手段により前記基板の絶縁状態が異常であ
ると判断したとき、その後の絶縁状態の正常復帰によら
ず、前記異常検出を常時保持する保持手段とを備えたこ
とを特徴とするものである。
に本発明は、基板上に設けられたパターン間の絶縁抵抗
に基づき、前記基板の絶縁性能を試験する基板の絶縁試
験装置において、前記基板の絶縁状態を監視する監視手
段と、該監視手段により前記基板の絶縁状態が異常であ
ると判断したとき、その後の絶縁状態の正常復帰によら
ず、前記異常検出を常時保持する保持手段とを備えたこ
とを特徴とするものである。
【０００７】また、基板上に設けられたパターン間の絶
縁抵抗に基づき、前記基板の絶縁性能を試験する基板の
絶縁試験装置において、前記パターン間の前記基板に流
れる電流の値を検出する検出手段と、該検出手段により
検出された電流値と予め定められた基準値とを比較し、
前記電流値が前記基準値より大きいとき、前記基板の絶
縁状態が異常であると判断する判断手段とを備えたこと
を特徴とするものである。
縁抵抗に基づき、前記基板の絶縁性能を試験する基板の
絶縁試験装置において、前記パターン間の前記基板に流
れる電流の値を検出する検出手段と、該検出手段により
検出された電流値と予め定められた基準値とを比較し、
前記電流値が前記基準値より大きいとき、前記基板の絶
縁状態が異常であると判断する判断手段とを備えたこと
を特徴とするものである。
【０００８】また、前記監視手段は前記検出手段及び判
断手段とからなるものであることを特徴とするものであ
る。
断手段とからなるものであることを特徴とするものであ
る。
【０００９】
【作用】基板上に設けられたパターン間の絶縁状態が基
準から大幅に変化すると、監視手段が異常が発生したと
判断して保持手段に例えば異常信号を出力する。保持手
段は受信した異常信号を保持続けるために、絶縁状態が
正常に復帰しても、一旦、判断された絶縁状態の異常を
示す異常信号は保持される。
準から大幅に変化すると、監視手段が異常が発生したと
判断して保持手段に例えば異常信号を出力する。保持手
段は受信した異常信号を保持続けるために、絶縁状態が
正常に復帰しても、一旦、判断された絶縁状態の異常を
示す異常信号は保持される。
【００１０】また、基板上に設けられたパターン間の絶
縁抵抗が低下すると、パターン間に流れる電流が増加す
る。検出手段がその電流を検出する。判断手段が検出し
た電流値と基準値（正常な電流範囲）とを比較して、検
出した電流値の方が大きいと絶縁状態が異常であると判
断する。また、基板上に設けられたパターン間の絶縁状
態を監視する監視手段は、絶縁抵抗値の低下による電流
の増加を検出する検出手段と、その検出した電流値と基
準値（正常な電流範囲）とを比較して、検出した電流値
の方が大きいと絶縁状態が異常である判断する判断手段
によりなる。このようにして、電流値を検出する検出手
段、電流値と基準値とを比較して異常か否かを判断する
判断手段及びその結果を保持する保持手段により、たと
え絶縁状態が正常に復帰しても、一旦、発生した絶縁状
態の異常は保持される。
縁抵抗が低下すると、パターン間に流れる電流が増加す
る。検出手段がその電流を検出する。判断手段が検出し
た電流値と基準値（正常な電流範囲）とを比較して、検
出した電流値の方が大きいと絶縁状態が異常であると判
断する。また、基板上に設けられたパターン間の絶縁状
態を監視する監視手段は、絶縁抵抗値の低下による電流
の増加を検出する検出手段と、その検出した電流値と基
準値（正常な電流範囲）とを比較して、検出した電流値
の方が大きいと絶縁状態が異常である判断する判断手段
によりなる。このようにして、電流値を検出する検出手
段、電流値と基準値とを比較して異常か否かを判断する
判断手段及びその結果を保持する保持手段により、たと
え絶縁状態が正常に復帰しても、一旦、発生した絶縁状
態の異常は保持される。
【００１１】
【実施例】図１は本発明の一実施例の基板の絶縁試験装
置の構成を示す図で、（ａ）はブロック図、（ｂ）は回
路図である。１は被試験物で、プリント基板上に１本お
きに交互に接続された櫛状の銅箔等の電極（パターン）
が形成されており、この両電極１１、１２間にある基板
の絶縁状態が監視される。この電極の間隔は0.15〜0.5
mmである。２は被試験物に印加する直流電源である。
置の構成を示す図で、（ａ）はブロック図、（ｂ）は回
路図である。１は被試験物で、プリント基板上に１本お
きに交互に接続された櫛状の銅箔等の電極（パターン）
が形成されており、この両電極１１、１２間にある基板
の絶縁状態が監視される。この電極の間隔は0.15〜0.5
mmである。２は被試験物に印加する直流電源である。
【００１２】３はマイグレーション（絶縁抵抗値低下）
検出部で、被試験物に直列に接続され被試験物の抵抗値
に応じて流れる電流により両端に電位差を生じさせる検
出抵抗３１、検出抵抗３１の両端に生ずる電圧と予め設
定された基準電圧とを比較して、検出電圧が基準電圧よ
り高ければＨを出力するコンパレータ３４、コンパレー
タ３４の基準電圧を電源電圧より分割して得るための分
割抵抗３２、３３で構成される。この検出部３が検出手
段及び判断手段の一例に相当する。
検出部で、被試験物に直列に接続され被試験物の抵抗値
に応じて流れる電流により両端に電位差を生じさせる検
出抵抗３１、検出抵抗３１の両端に生ずる電圧と予め設
定された基準電圧とを比較して、検出電圧が基準電圧よ
り高ければＨを出力するコンパレータ３４、コンパレー
タ３４の基準電圧を電源電圧より分割して得るための分
割抵抗３２、３３で構成される。この検出部３が検出手
段及び判断手段の一例に相当する。
【００１３】４は保持部で、電源に接続されたＤ端子、
コンパレータ３４の出力に接続されたＣＫ端子、ＣＫ端
子にＨが入力されるとＤ端子に接続された電源電圧を、
リセットされるまで連続して出力するＱ端子、リセット
スイッチ４２に接続されたＲ端子よりなるＤ型フリップ
フロップ回路４１及びリセットスイッチ４２で構成され
る。尚、通常の測定時には、リセットスイッチ４２はＢ
側に接続されている。
コンパレータ３４の出力に接続されたＣＫ端子、ＣＫ端
子にＨが入力されるとＤ端子に接続された電源電圧を、
リセットされるまで連続して出力するＱ端子、リセット
スイッチ４２に接続されたＲ端子よりなるＤ型フリップ
フロップ回路４１及びリセットスイッチ４２で構成され
る。尚、通常の測定時には、リセットスイッチ４２はＢ
側に接続されている。
【００１４】５はマイグレーションによる抵抗値の低下
の検出結果を観察者に知らせる表示部で、Ｄ型フリップ
フロップ回路４１のＱ端子に接続された発光ダイオード
５１で構成される。尚、表示部の発光ダイオードの代わ
りにブザー等の警報器を使用してもよい。以上の保持部
４、表示部５が保持手段の一例に相当する。次に、基板
の絶縁試験装置の動作について述べる。
の検出結果を観察者に知らせる表示部で、Ｄ型フリップ
フロップ回路４１のＱ端子に接続された発光ダイオード
５１で構成される。尚、表示部の発光ダイオードの代わ
りにブザー等の警報器を使用してもよい。以上の保持部
４、表示部５が保持手段の一例に相当する。次に、基板
の絶縁試験装置の動作について述べる。
【００１５】絶縁抵抗異常の加速試験のために被試験物
１は高温、高湿の環境（例えば、温度８５℃、湿度８５
％）に置かれ、電源２より１６Ｖの直流電圧が印加され
る。このことにより、被試験物１の櫛型電極１１、１２
間には電界が生じ、電極１１側（＋側）で生じた金属イ
オン（銅イオン等）はプリント基板（図示せず）の表面
に沿って電極１２側（−側）に移動し、電極１２の近傍
に析出する。その結果、電極１１、１２間の抵抗が時間
と共に低下する。
１は高温、高湿の環境（例えば、温度８５℃、湿度８５
％）に置かれ、電源２より１６Ｖの直流電圧が印加され
る。このことにより、被試験物１の櫛型電極１１、１２
間には電界が生じ、電極１１側（＋側）で生じた金属イ
オン（銅イオン等）はプリント基板（図示せず）の表面
に沿って電極１２側（−側）に移動し、電極１２の近傍
に析出する。その結果、電極１１、１２間の抵抗が時間
と共に低下する。
【００１６】被試験物１の電極１１、１２間の抵抗
（Ｒ）及び印加電圧（Ｖ）に対応した電流（Ｉ）が被試
験物１に直列に接続された検出抵抗３１（Ｒ）にも流れ
る。この電流（Ｉ）により検出抵抗３１（Ｒ）の両端に
はＩ×Ｒの電位差が生ずる。この検出電圧（Ｉ×Ｒ）が
コンパレータ３４に入力される。一方、コンパレータ３
４の片方は電源電圧と分割抵抗３３、３４で決まる基準
電圧（この場合は約１Ｖ）が印加されており、検出電圧
（Ｉ×Ｒ）と基準電圧（約１Ｖ）が比較される。検出電
圧が基準電圧より高ければコンパレータ３４はＨを出力
し、低ければＬを出力する。コンパレータ３４の出力は
フリップフロップ４１のＣＫ端子に入力される。
（Ｒ）及び印加電圧（Ｖ）に対応した電流（Ｉ）が被試
験物１に直列に接続された検出抵抗３１（Ｒ）にも流れ
る。この電流（Ｉ）により検出抵抗３１（Ｒ）の両端に
はＩ×Ｒの電位差が生ずる。この検出電圧（Ｉ×Ｒ）が
コンパレータ３４に入力される。一方、コンパレータ３
４の片方は電源電圧と分割抵抗３３、３４で決まる基準
電圧（この場合は約１Ｖ）が印加されており、検出電圧
（Ｉ×Ｒ）と基準電圧（約１Ｖ）が比較される。検出電
圧が基準電圧より高ければコンパレータ３４はＨを出力
し、低ければＬを出力する。コンパレータ３４の出力は
フリップフロップ４１のＣＫ端子に入力される。
【００１７】被試験物１が正常な場合には、検出抵抗３
１に流れる電流は少なく、コンパレータ３４の入力電圧
は基準電圧より低いので、コンパレータ３４はＬを出力
する。これがフリップフロップ４１のＣＫ端子に入力さ
れると、Ｑ端子にはＬが出力されるので、発光ダイオー
ド５１は点灯しない。もし、被試験物１にマイグレーシ
ョンが発生して、被試験物の抵抗値が低下すると、検出
抵抗３１の電流が増加し、その結果、コンパレータ３４
の入力電圧が基準電圧を超えるため、コンパレータ３４
はＨを出力する。これがフリップフロップ４１のＣＫ端
子に入力されると、Ｑ端子にはＨが出力されるので、発
光ダイオード５１が点灯する。
１に流れる電流は少なく、コンパレータ３４の入力電圧
は基準電圧より低いので、コンパレータ３４はＬを出力
する。これがフリップフロップ４１のＣＫ端子に入力さ
れると、Ｑ端子にはＬが出力されるので、発光ダイオー
ド５１は点灯しない。もし、被試験物１にマイグレーシ
ョンが発生して、被試験物の抵抗値が低下すると、検出
抵抗３１の電流が増加し、その結果、コンパレータ３４
の入力電圧が基準電圧を超えるため、コンパレータ３４
はＨを出力する。これがフリップフロップ４１のＣＫ端
子に入力されると、Ｑ端子にはＨが出力されるので、発
光ダイオード５１が点灯する。
【００１８】この場合、一時的な抵抗の低下で検出抵抗
３１にパルス的な電流が流れ、検出電流（Ｉ）、つまり
検出電圧（Ｉ×Ｒ）が再び基準電圧より低くなりコンパ
レータ３４の出力がＬ→Ｈ→Ｌと変化し、被試験物（絶
縁抵抗）の絶縁状態が直ぐに正常に復帰しても、フリッ
プフロップ４１によりＨからＬには戻らず、Ｈが継続し
て出力される。従って、表示部５の発光ダイオード５１
は点灯したままであり、観察者は連続して被試験物１の
抵抗を監視していなくても、マイグレーションの発生に
よる被試験物（絶縁抵抗）の抵抗値の落ち込み（異常）
があったことが判る。尚、リセットスイッチ４２をＡ側
に切り換えることにより、Ｒ端子にリセット信号が入
り、Ｑ端子にはＬが出力されて発光ダイオード５１が消
灯するので、同一試験物をそのまま継続して試験するこ
とも、また、別の試験物と交換して新たに試験を開始す
ることもできる。
３１にパルス的な電流が流れ、検出電流（Ｉ）、つまり
検出電圧（Ｉ×Ｒ）が再び基準電圧より低くなりコンパ
レータ３４の出力がＬ→Ｈ→Ｌと変化し、被試験物（絶
縁抵抗）の絶縁状態が直ぐに正常に復帰しても、フリッ
プフロップ４１によりＨからＬには戻らず、Ｈが継続し
て出力される。従って、表示部５の発光ダイオード５１
は点灯したままであり、観察者は連続して被試験物１の
抵抗を監視していなくても、マイグレーションの発生に
よる被試験物（絶縁抵抗）の抵抗値の落ち込み（異常）
があったことが判る。尚、リセットスイッチ４２をＡ側
に切り換えることにより、Ｒ端子にリセット信号が入
り、Ｑ端子にはＬが出力されて発光ダイオード５１が消
灯するので、同一試験物をそのまま継続して試験するこ
とも、また、別の試験物と交換して新たに試験を開始す
ることもできる。
【００１９】本実施例によれば、被試験物の通電中に連
続してマイグレーションによる抵抗値の低下のチェック
ができる。また、抵抗値が一時的に低下して放電を起こ
して抵抗値が復帰しても、一旦発生した現象は保持部に
より保持されており、観察者は連続して監視している必
要はなく、工数がかさむことはない。更に、絶縁抵抗の
値を測定するのではなく、本例では、単にここに発生す
る電流（電圧）に基づいて異常検出するため、回路を構
成する部品が安価でコストダウンを図れる。
続してマイグレーションによる抵抗値の低下のチェック
ができる。また、抵抗値が一時的に低下して放電を起こ
して抵抗値が復帰しても、一旦発生した現象は保持部に
より保持されており、観察者は連続して監視している必
要はなく、工数がかさむことはない。更に、絶縁抵抗の
値を測定するのではなく、本例では、単にここに発生す
る電流（電圧）に基づいて異常検出するため、回路を構
成する部品が安価でコストダウンを図れる。
【００２０】尚、本実施例ではマイグレーションによる
絶縁抵抗の異常検出に限定したが、その他の現象におけ
る絶縁抵抗の異常検出（特に、抵抗値の一時低下）に有
効に適用できる。また、マイクロコンピュータによりソ
フト的に検出してもよい。また、本例では電流を電圧に
変換して抵抗値低下を検出するようにしたが、これに限
らず、直接電流の値から抵抗値の低下を検出するように
してもよい。
絶縁抵抗の異常検出に限定したが、その他の現象におけ
る絶縁抵抗の異常検出（特に、抵抗値の一時低下）に有
効に適用できる。また、マイクロコンピュータによりソ
フト的に検出してもよい。また、本例では電流を電圧に
変換して抵抗値低下を検出するようにしたが、これに限
らず、直接電流の値から抵抗値の低下を検出するように
してもよい。
【００２１】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、被試験物の通電中に連続してマイグレーション等
による絶縁抵抗値の低下のチェックができる。また、抵
抗値が一時的に低下して放電を起こして抵抗値が復帰し
ても、一旦発生した現象は保持部により保持されてお
り、観察者は連続して監視している必要はない。更に、
本発明では高価な絶縁抵抗測定器を必要とせず安価な装
置ができ、基板の絶縁性能を試験する装置に非常に有益
となる。
れば、被試験物の通電中に連続してマイグレーション等
による絶縁抵抗値の低下のチェックができる。また、抵
抗値が一時的に低下して放電を起こして抵抗値が復帰し
ても、一旦発生した現象は保持部により保持されてお
り、観察者は連続して監視している必要はない。更に、
本発明では高価な絶縁抵抗測定器を必要とせず安価な装
置ができ、基板の絶縁性能を試験する装置に非常に有益
となる。
【図１】本発明の一実施例の基板の絶縁試験装置を示す
図で、（ａ）はブロック図、（ｂ）は回路図である。
図で、（ａ）はブロック図、（ｂ）は回路図である。
【図２】電圧印加時間の経過と抵抗値の変化の関係を示
す図である。
す図である。
１・・・被試験物 ４・・・保持部 ３・・・検出部 ４１・・・Ｄ型フリ
ップフロップ ３１・・・検出抵抗 ５・・・表示部 ３４・・・コンパレータ ５１・・・ＬＥＤ
ップフロップ ３１・・・検出抵抗 ５・・・表示部 ３４・・・コンパレータ ５１・・・ＬＥＤ
Claims (3)
- 【請求項１】 基板上に設けられたパターン間の絶縁抵
抗に基づき、前記基板の絶縁性能を試験する基板の絶縁
試験装置において、 前記基板の絶縁状態を監視する監視手段と、 該監視手段により前記基板の絶縁状態が異常であると判
断したとき、その後の絶縁状態の正常復帰によらず、前
記異常検出を常時保持する保持手段とを備えたことを特
徴とする基板の絶縁試験装置。 - 【請求項２】 基板上に設けられたパターン間の絶縁抵
抗に基づき、前記基板の絶縁性能を試験する基板の絶縁
試験装置において、 前記パターン間の前記基板に流れる電流の値を検出する
検出手段と、 該検出手段により検出された電流値と予め定められた基
準値とを比較し、前記電流値が前記基準値より大きいと
き、前記基板の絶縁状態が異常であると判断する判断手
段とを備えたことを特徴とする基板の絶縁試験装置。 - 【請求項３】 前記監視手段は前記検出手段及び判断手
段とからなるものであることを特徴とする請求項１記載
の基板の絶縁試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16549294A JPH0829460A (ja) | 1994-07-18 | 1994-07-18 | 基板の絶縁試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16549294A JPH0829460A (ja) | 1994-07-18 | 1994-07-18 | 基板の絶縁試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0829460A true JPH0829460A (ja) | 1996-02-02 |
Family
ID=15813433
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16549294A Pending JPH0829460A (ja) | 1994-07-18 | 1994-07-18 | 基板の絶縁試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0829460A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1162470A1 (fr) * | 2000-06-09 | 2001-12-12 | Florent Mengin | Appareil de test des contrôleurs d'isolement de réseaux électriques |
| FR2885223A1 (fr) * | 2005-05-02 | 2006-11-03 | Peugeot Citroen Automobiles Sa | Systeme de controle de la resistance d'isolement d'un circuit imprime notamment a bord d'un vehicule automobile |
| JP2009033098A (ja) * | 2007-06-26 | 2009-02-12 | Panasonic Electric Works Co Ltd | Ｌｅｄ点灯装置およびそれを備えた照明器具 |
| JP2009264989A (ja) * | 2008-04-28 | 2009-11-12 | Hitachi Ltd | 制御装置 |
| CN109164278A (zh) * | 2018-10-25 | 2019-01-08 | 江苏七维测试技术有限公司 | 一种dts1000测试转接盒及其测试方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04204063A (ja) * | 1990-11-30 | 1992-07-24 | Hitachi Ltd | プリント板絶縁劣化検出手段を備えた電子装置 |
| JPH05129738A (ja) * | 1991-10-31 | 1993-05-25 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 金属マイグレーシヨンを検知可能なプリント配線板 |
-
1994
- 1994-07-18 JP JP16549294A patent/JPH0829460A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04204063A (ja) * | 1990-11-30 | 1992-07-24 | Hitachi Ltd | プリント板絶縁劣化検出手段を備えた電子装置 |
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| CN109164278A (zh) * | 2018-10-25 | 2019-01-08 | 江苏七维测试技术有限公司 | 一种dts1000测试转接盒及其测试方法 |
| CN109164278B (zh) * | 2018-10-25 | 2023-07-11 | 江苏七维测试技术有限公司 | 一种dts1000测试转接盒及其测试方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19971111 |