JPH08297883A - 光磁気ディスク装置 - Google Patents
光磁気ディスク装置Info
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- JPH08297883A JPH08297883A JP10254595A JP10254595A JPH08297883A JP H08297883 A JPH08297883 A JP H08297883A JP 10254595 A JP10254595 A JP 10254595A JP 10254595 A JP10254595 A JP 10254595A JP H08297883 A JPH08297883 A JP H08297883A
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- optical
- phase difference
- optical system
- optical disk
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Abstract
(57)【要約】
【目的】光ディスク装置光学ヘッドの光学系を構成する
反射ミラー，ビームスプリッタ等光学部品で発生する位
相差が環境変化に伴い変化したり、また、光磁気ディス
ク基盤にて発生する位相差が媒体により異なり且つ環境
変化によって媒体基盤での発生位相差量に変化が生じて
も、その時々に応じ最適の位相差補償を行い、リードラ
イト特性に優れた光ディスク装置を提供する。 【構成】光磁気記録媒体に直線偏光を微少スポットで照
射するための集光光学系と、光磁気記録媒体にて反射し
た反射光から情報を再生する再生光学系とを有する光磁
気ディスク用光学系において、再生光学系の光磁気記録
媒体から再生検出器までの光路中に、直交する二つの直
線偏光間に生じる位相差を補償するソレイユ・バビネ位
相板３０を設け、そのソレイユ・バビネ位相板３０の位
相差をマイコン４０からの命令により任意に設定し、位
相差補償を行う。
反射ミラー，ビームスプリッタ等光学部品で発生する位
相差が環境変化に伴い変化したり、また、光磁気ディス
ク基盤にて発生する位相差が媒体により異なり且つ環境
変化によって媒体基盤での発生位相差量に変化が生じて
も、その時々に応じ最適の位相差補償を行い、リードラ
イト特性に優れた光ディスク装置を提供する。 【構成】光磁気記録媒体に直線偏光を微少スポットで照
射するための集光光学系と、光磁気記録媒体にて反射し
た反射光から情報を再生する再生光学系とを有する光磁
気ディスク用光学系において、再生光学系の光磁気記録
媒体から再生検出器までの光路中に、直交する二つの直
線偏光間に生じる位相差を補償するソレイユ・バビネ位
相板３０を設け、そのソレイユ・バビネ位相板３０の位
相差をマイコン４０からの命令により任意に設定し、位
相差補償を行う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光磁気ディスク装置に
関し、特に、再生信号品質を改善することを可能にする
光磁気ディスク装置に関する。
関し、特に、再生信号品質を改善することを可能にする
光磁気ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の光磁気ディスク用光学ヘッドとし
ては、特公平１−２２９４４５号公報が知られている。
ては、特公平１−２２９４４５号公報が知られている。
【０００３】この従来の光磁気ディスク用光学ヘッドに
ついて図面を参照して説明する。
ついて図面を参照して説明する。
【０００４】図４は信号検出用反射光（位相差無し）を
説明するための図、図５は信号検出用反射光（位相差有
り）を説明するための図、図６は従来の光磁気ディスク
用光学ヘッドの一実施例を示す図である。
説明するための図、図５は信号検出用反射光（位相差有
り）を説明するための図、図６は従来の光磁気ディスク
用光学ヘッドの一実施例を示す図である。
【０００５】図６において、レーザダイオード１１を出
射した光は、コリメータレンズ１２で平行光に変換さ
れ、真円補正プリズム１３で強度分布が真円となる。第
１ビームスプリッタ１４の接合面に対して、レーザ光は
Ｐ偏光で入射する（以後、Ｐ偏光成分、Ｓ偏光成分の区
別は第１ビームスプリッタの接合面を基準とする）。第
１ビームスプリッタ通過後レーザ光は反射ミラー１５で
反射され、対物レンズ１６で絞り込まれ、光磁気ディス
ク面（図示せず）に達する（ここまでの光路は、図６に
て実線で示した）。
射した光は、コリメータレンズ１２で平行光に変換さ
れ、真円補正プリズム１３で強度分布が真円となる。第
１ビームスプリッタ１４の接合面に対して、レーザ光は
Ｐ偏光で入射する（以後、Ｐ偏光成分、Ｓ偏光成分の区
別は第１ビームスプリッタの接合面を基準とする）。第
１ビームスプリッタ通過後レーザ光は反射ミラー１５で
反射され、対物レンズ１６で絞り込まれ、光磁気ディス
ク面（図示せず）に達する（ここまでの光路は、図６に
て実線で示した）。
【０００６】次に、図４を参照すると、Ｐ偏光成分のみ
からなる直線偏光であるレーザ光Ｌ1 はディスク面で反
射するときに、Ｋｅｅｒ効果により偏光面がＫｅｅｒ回
転角θk だけ回転して反射光Ｌ2 もしくはＬ3 になる。
回転する方向は媒体の磁化の向きにより異なる。
からなる直線偏光であるレーザ光Ｌ1 はディスク面で反
射するときに、Ｋｅｅｒ効果により偏光面がＫｅｅｒ回
転角θk だけ回転して反射光Ｌ2 もしくはＬ3 になる。
回転する方向は媒体の磁化の向きにより異なる。
【０００７】ディスク面で反射後、レーザ光は対物レン
ズ１６，反射ミラー１５，第１ビームスプリッタ１４，
第２ビームスプリッタ１７を通過し、第２ビームスプリ
ッタ１７で分割された一方の光はレンズ１８を通過して
サーボ信号用のディテクタ１９へ、またもう一方の光は
１／２波長板２０、偏光ビームスプリッタ２１を介して
再生信号用のディテクタ２２へと向かう（図６にて破線
で示した光路）。１／２波長板２０は、主方向（光学
軸）がＰ偏光成分の方向に対して２２．５゜傾いてい
る。従って、１／２波長板２０通過後、Ｐ偏光成分（Ｓ
偏光成分）は４５゜傾く。偏光ビームスプリッタ２１
は、垂直方向の偏光成分を反射し、水平方向の偏光成分
を透過する。従って、ディスクからの反射光がＰ偏光成
分のみ、即ち図４上でθK ＝０であるとすると、２つの
ディテクタ２２の出力は等しくなり、θK ≠０であれば
片方の出力が大きくなる。出力が大きくなるディテクタ
はＫｅｅｒ回転の方向により変わる。再生信号は２つの
ディテクタ２２の出力の差をとって得られる。
ズ１６，反射ミラー１５，第１ビームスプリッタ１４，
第２ビームスプリッタ１７を通過し、第２ビームスプリ
ッタ１７で分割された一方の光はレンズ１８を通過して
サーボ信号用のディテクタ１９へ、またもう一方の光は
１／２波長板２０、偏光ビームスプリッタ２１を介して
再生信号用のディテクタ２２へと向かう（図６にて破線
で示した光路）。１／２波長板２０は、主方向（光学
軸）がＰ偏光成分の方向に対して２２．５゜傾いてい
る。従って、１／２波長板２０通過後、Ｐ偏光成分（Ｓ
偏光成分）は４５゜傾く。偏光ビームスプリッタ２１
は、垂直方向の偏光成分を反射し、水平方向の偏光成分
を透過する。従って、ディスクからの反射光がＰ偏光成
分のみ、即ち図４上でθK ＝０であるとすると、２つの
ディテクタ２２の出力は等しくなり、θK ≠０であれば
片方の出力が大きくなる。出力が大きくなるディテクタ
はＫｅｅｒ回転の方向により変わる。再生信号は２つの
ディテクタ２２の出力の差をとって得られる。
【０００８】理想的には、光磁気ディスクからの反射光
は直線偏光のまま１／２波長板２０に入射すべきである
が、途中の光学系（反射ミラー、ビームスプリッタ等）
でＰ偏光成分とＳ偏光成分に位相差が発生してしまうた
め、実際には図５にみられる如く楕円偏光となってしま
う。楕円偏光になると、Ｐ偏光成分に対して４５゜の方
向への射影の振幅ｌ2 が小さくなってしまい再生信号の
レベルも低下してしまう。
は直線偏光のまま１／２波長板２０に入射すべきである
が、途中の光学系（反射ミラー、ビームスプリッタ等）
でＰ偏光成分とＳ偏光成分に位相差が発生してしまうた
め、実際には図５にみられる如く楕円偏光となってしま
う。楕円偏光になると、Ｐ偏光成分に対して４５゜の方
向への射影の振幅ｌ2 が小さくなってしまい再生信号の
レベルも低下してしまう。
【０００９】そこで、第２ビームスプリッタ１７と１／
２波長板２０との間に位相補償手段として波長板３１を
挿入する。この位相補償用波長板３１は水晶板からなり
主方向（光学軸）がＰ偏光成分（またはＳ偏光成分）に
平行である（１／２波長板２０の主方向はＰ偏光成分
（Ｓ偏光成分）から２２．５゜傾いている）。この位相
補償波長板は、途中の光学系（反射ミラー，ビームスプ
リッタ，光磁気ディスク等）で発生する位相差と逆の位
相差を発生するものを挿入しており途中の光学系で発生
する位相差を打ち消している。
２波長板２０との間に位相補償手段として波長板３１を
挿入する。この位相補償用波長板３１は水晶板からなり
主方向（光学軸）がＰ偏光成分（またはＳ偏光成分）に
平行である（１／２波長板２０の主方向はＰ偏光成分
（Ｓ偏光成分）から２２．５゜傾いている）。この位相
補償波長板は、途中の光学系（反射ミラー，ビームスプ
リッタ，光磁気ディスク等）で発生する位相差と逆の位
相差を発生するものを挿入しており途中の光学系で発生
する位相差を打ち消している。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】光ディスク装置光学ヘ
ッドの光学系に使用する反射ミラー，ビームスプリッタ
等光学部品で発生する位相差は、理想的には環境（特に
温度）に対して変化の無いものが望ましいが、実際には
多少変化してしまう。また、光磁気ディスク基盤にて発
生する位相差は、各々の媒体によってそれぞれ異なり、
更に同一媒体でも位相差の発生量は面内でバラツキがあ
る。更に温度変化によって発生する光磁気ディスク媒体
基盤での発生位相差量の変化は無視できないほど大き
い。従って、上述した従来の方法にによる位相差補正で
は、ある環境の時の、しかもある特定の媒体の特定の場
所における位相差のみしか補償していないことになる。
ッドの光学系に使用する反射ミラー，ビームスプリッタ
等光学部品で発生する位相差は、理想的には環境（特に
温度）に対して変化の無いものが望ましいが、実際には
多少変化してしまう。また、光磁気ディスク基盤にて発
生する位相差は、各々の媒体によってそれぞれ異なり、
更に同一媒体でも位相差の発生量は面内でバラツキがあ
る。更に温度変化によって発生する光磁気ディスク媒体
基盤での発生位相差量の変化は無視できないほど大き
い。従って、上述した従来の方法にによる位相差補正で
は、ある環境の時の、しかもある特定の媒体の特定の場
所における位相差のみしか補償していないことになる。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明の目的は、この光
磁気ディスクからの反射光に生ずる位相差を、媒体の種
類や環境条件によらず安定に補償することにある。
磁気ディスクからの反射光に生ずる位相差を、媒体の種
類や環境条件によらず安定に補償することにある。
【００１２】そのため、本発明の光磁気ディスク装置
は、光磁気記録媒体に直線偏光を微少スポットで照射す
る集光光学系と、光磁気記録媒体にて反射した反射光か
ら情報を再生する再生光学系と、集光光学系もしくは再
生光学系の光路中にあって再生光学系の光路中で発生す
る直交する２つの直線偏光間の位相差を補償する位相補
償手段とを有する光磁気ディスク装置において、位相補
償手段が、補償位相差をマイクロコピュータからの命令
により任意に設定する機能を有することを特徴としてい
る。
は、光磁気記録媒体に直線偏光を微少スポットで照射す
る集光光学系と、光磁気記録媒体にて反射した反射光か
ら情報を再生する再生光学系と、集光光学系もしくは再
生光学系の光路中にあって再生光学系の光路中で発生す
る直交する２つの直線偏光間の位相差を補償する位相補
償手段とを有する光磁気ディスク装置において、位相補
償手段が、補償位相差をマイクロコピュータからの命令
により任意に設定する機能を有することを特徴としてい
る。
【００１３】本発明の光磁気ディスク装置は、上記の位
相補償手段により、再生光学系の光路中で発生するＰ偏
光成分とＳ偏光成分間の位相差を補償することを特徴と
している。
相補償手段により、再生光学系の光路中で発生するＰ偏
光成分とＳ偏光成分間の位相差を補償することを特徴と
している。
【００１４】本発明の光磁気ディスク装置は、上記の位
相補償手段がソレイユ・バビネ位相板で構成されること
を特徴としている。
相補償手段がソレイユ・バビネ位相板で構成されること
を特徴としている。
【００１５】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【００１６】図１は本発明の光磁気ディスク装置の光学
系の一実施例を説明するための図、図２は図１の光磁気
ディスク装置のソレイユ・バビネ位相板を説明するため
の図、図３は図１の光磁気ディスク装置の位相差補正値
設定方法を説明するためのフローチャートである。
系の一実施例を説明するための図、図２は図１の光磁気
ディスク装置のソレイユ・バビネ位相板を説明するため
の図、図３は図１の光磁気ディスク装置の位相差補正値
設定方法を説明するためのフローチャートである。
【００１７】図１において、レーザダイオード１１を出
射した光はコリメートレンズ１２で平行光に変換され、
真円補正プリズム１３で強度分布が真円となる。第１ビ
ームスプリッタ１４の接合面に対して、レーザ光はＰ偏
光で入射する（以後、Ｐ偏光成分、Ｓ偏光成分の区別は
第１ビームスプリッタの接合面を基準とする）。第１ビ
ームスプリッタ通過後レーザ光は反射ミラー１５で反射
され、対物レンズ１６で絞り込まれ、光磁気ディスク面
（図示せず）に達する（ここまでの光路は、第１図にて
実線で示した）。
射した光はコリメートレンズ１２で平行光に変換され、
真円補正プリズム１３で強度分布が真円となる。第１ビ
ームスプリッタ１４の接合面に対して、レーザ光はＰ偏
光で入射する（以後、Ｐ偏光成分、Ｓ偏光成分の区別は
第１ビームスプリッタの接合面を基準とする）。第１ビ
ームスプリッタ通過後レーザ光は反射ミラー１５で反射
され、対物レンズ１６で絞り込まれ、光磁気ディスク面
（図示せず）に達する（ここまでの光路は、第１図にて
実線で示した）。
【００１８】次に、図４を参照すると、Ｐ偏光成分のみ
からなる直線偏光であるレーザ光Ｌ1 はディスク面で反
射するときに、Ｋｅｅｒ効果により偏光面がＫｅｅｒ回
転角θk だけ回転して反射光Ｌ2 もしくはＬ3 になる。
回転する方向は媒体の磁化の向きにより異なる。
からなる直線偏光であるレーザ光Ｌ1 はディスク面で反
射するときに、Ｋｅｅｒ効果により偏光面がＫｅｅｒ回
転角θk だけ回転して反射光Ｌ2 もしくはＬ3 になる。
回転する方向は媒体の磁化の向きにより異なる。
【００１９】ディスク面で反射後、レーザ光は対物レン
ズ１６，反射ミラー１５，第１ビームスプリッタ１４，
第２ビームスプリッタ１７を通過し、第２ビームスプリ
ッタ１７で分割された一方の光はレンズ１８を通過して
サーボ信号用のディテクタ１９へ、またもう一方の光は
１／２波長板２０，偏光ビームスプリッタ２１を介して
再生信号用のディテクタ２２へと向かう（図１にて破線
で示した光路）。１／２波長板２０は、主方向（光学
軸）がＰ偏光成分の方向に対して２２．５゜傾いてい
る。従って、１／２波長板２０通過後、Ｐ偏光成分（Ｓ
偏光成分）は４５゜傾く。偏光ビームスプリッタ２１
は、垂直方向の偏光成分を反射し、水平方向の偏光成分
を透過する。従ってディスクからの反射光がＰ偏光成分
のみ、即ち図４上でθK ＝０であるとすると、２つのデ
ィテクタ２２の出力は等しくなり、θK≠０であれば片
方の出力が大きくなる。出力が大きくなるディテクタは
Ｋｅｅｒ回転の方向により変わる。再生信号は２つのデ
ィテクタ２２の出力の差をとって得られる。
ズ１６，反射ミラー１５，第１ビームスプリッタ１４，
第２ビームスプリッタ１７を通過し、第２ビームスプリ
ッタ１７で分割された一方の光はレンズ１８を通過して
サーボ信号用のディテクタ１９へ、またもう一方の光は
１／２波長板２０，偏光ビームスプリッタ２１を介して
再生信号用のディテクタ２２へと向かう（図１にて破線
で示した光路）。１／２波長板２０は、主方向（光学
軸）がＰ偏光成分の方向に対して２２．５゜傾いてい
る。従って、１／２波長板２０通過後、Ｐ偏光成分（Ｓ
偏光成分）は４５゜傾く。偏光ビームスプリッタ２１
は、垂直方向の偏光成分を反射し、水平方向の偏光成分
を透過する。従ってディスクからの反射光がＰ偏光成分
のみ、即ち図４上でθK ＝０であるとすると、２つのデ
ィテクタ２２の出力は等しくなり、θK≠０であれば片
方の出力が大きくなる。出力が大きくなるディテクタは
Ｋｅｅｒ回転の方向により変わる。再生信号は２つのデ
ィテクタ２２の出力の差をとって得られる。
【００２０】理想的には、光磁気ディスクからの反射光
は直線偏光のまま１／２波長板２０に入射すべきである
が、途中の光学系（反射ミラー、ビームスプリッタ等）
でＰ偏光成分とＳ偏光成分に位相差が発生してしまうた
め、実際には図５にみられる如く楕円偏光となってしま
う。楕円偏光になると、Ｐ偏光成分に対して４５゜の方
向への射影の振幅ｌ2 が小さくなってしまい再生信号の
レベルも低下してしまう。
は直線偏光のまま１／２波長板２０に入射すべきである
が、途中の光学系（反射ミラー、ビームスプリッタ等）
でＰ偏光成分とＳ偏光成分に位相差が発生してしまうた
め、実際には図５にみられる如く楕円偏光となってしま
う。楕円偏光になると、Ｐ偏光成分に対して４５゜の方
向への射影の振幅ｌ2 が小さくなってしまい再生信号の
レベルも低下してしまう。
【００２１】そこで、第２ビームスプリッタ１７と１／
２波長板２０との間に位相補償手段としてソレイユ・バ
ビネ位相板３０を挿入する。
２波長板２０との間に位相補償手段としてソレイユ・バ
ビネ位相板３０を挿入する。
【００２２】ここで、本実施例の光磁気ディスク装置に
使用するソレイユ・バビネ位相板３０の動作について図
面を参照して説明する。
使用するソレイユ・バビネ位相板３０の動作について図
面を参照して説明する。
【００２３】図２（ａ），図２（ｂ）に示すように、ソ
レイユ・バビネ位相板は２つのウェッジ状の水晶板から
構成され、一方の水晶板をマイクロメータで移動させる
ことによりその厚さｘが連続的に変えられるようになっ
ており、図２（ａ）は厚さの薄い場合、図２（ｂ）は厚
さの厚い場合を示している。そして、ソレイユ・バビネ
位相板はその厚さｘに比例してそこで発生する位相差ｙ
も連続的に変化するような位相板である。このソレイユ
・バビネ位相板の厚さｘとそこで発生する位相差ｙの関
係を図２（ｃ）に示す。
レイユ・バビネ位相板は２つのウェッジ状の水晶板から
構成され、一方の水晶板をマイクロメータで移動させる
ことによりその厚さｘが連続的に変えられるようになっ
ており、図２（ａ）は厚さの薄い場合、図２（ｂ）は厚
さの厚い場合を示している。そして、ソレイユ・バビネ
位相板はその厚さｘに比例してそこで発生する位相差ｙ
も連続的に変化するような位相板である。このソレイユ
・バビネ位相板の厚さｘとそこで発生する位相差ｙの関
係を図２（ｃ）に示す。
【００２４】本実施例においては、ソレイユ・バビネ位
相板３０をＰ偏光成分の位相を遅らせたり進めたりする
ようにした。そして、途中の光学系（反射ミラー，ビー
ムスプリッタ，光磁気ディスク基板等）で発生するＰ偏
光成分とＳ偏光成分間の位相差を打ち消すようソレイユ
・バビネ位相板３０の厚さｘ（補償位相差）をマイコン
４０からの命令により随時設定し途中の光学系で発生す
る位相差を打ち消すことを目的としている。
相板３０をＰ偏光成分の位相を遅らせたり進めたりする
ようにした。そして、途中の光学系（反射ミラー，ビー
ムスプリッタ，光磁気ディスク基板等）で発生するＰ偏
光成分とＳ偏光成分間の位相差を打ち消すようソレイユ
・バビネ位相板３０の厚さｘ（補償位相差）をマイコン
４０からの命令により随時設定し途中の光学系で発生す
る位相差を打ち消すことを目的としている。
【００２５】本実施例においては、上記マイコン４０に
よるトレーニングは記録媒体（光磁気ディスク）ロード
時、また、温度が０℃，１５℃，３０℃，４５℃，６０
℃の時に実施するように設定した。
よるトレーニングは記録媒体（光磁気ディスク）ロード
時、また、温度が０℃，１５℃，３０℃，４５℃，６０
℃の時に実施するように設定した。
【００２６】マイコン４０は、図３のフローチャートに
示すようなトレーニングを実施する。
示すようなトレーニングを実施する。
【００２７】図３（ａ）はフローチャート、図３（ｂ）
は設定するループカウント位相差、図３（ｃ）は結果テ
ーブルを示している。
は設定するループカウント位相差、図３（ｃ）は結果テ
ーブルを示している。
【００２８】まず、ループカウント，結果テーブルを初
期化する（ステップ３０１）。図３（ｂ）に示すよう
に、ループカウントの設定値は、ｋ＝０がソレイユ・バ
ビネ位相板の発生位相差−２０ｄｅｇ、ｋ＝１がソレイ
ユ・バビネ位相板の発生位相差−１５ｄｅｇといった具
合にソレイユ・バビネ位相板の発生位相差と１対１に対
応している。そして、本実施例においては、図１のソレ
イユ・バビネ位相板３０の発生位相差を−２０ｄｅｇ
（ｋ＝０）から２０ｄｅｇ（ｋ＝８）まで５ｄｅｇ刻み
で設定するようにした。
期化する（ステップ３０１）。図３（ｂ）に示すよう
に、ループカウントの設定値は、ｋ＝０がソレイユ・バ
ビネ位相板の発生位相差−２０ｄｅｇ、ｋ＝１がソレイ
ユ・バビネ位相板の発生位相差−１５ｄｅｇといった具
合にソレイユ・バビネ位相板の発生位相差と１対１に対
応している。そして、本実施例においては、図１のソレ
イユ・バビネ位相板３０の発生位相差を−２０ｄｅｇ
（ｋ＝０）から２０ｄｅｇ（ｋ＝８）まで５ｄｅｇ刻み
で設定するようにした。
【００２９】最初にループカウントはｋ＝０（ソレイユ
・バビネ位相板の発生位相差−２０ｄｅｇ）に設定され
る（ステップ３０２）。続いて、１トラック，ライトベ
リファイを行い（ステップ３０３）、その時のエラー数
をチェックし結果テーブルのｌ＝０へ設定する（ステッ
プ３０４）。次に、ｋ＝ｋ＋１，ｌ＝ｌ＋１とし（ステ
ップ３０５）、ｋ＝８（ソレイユ・バビネ位相板の発生
位相差２０ｄｅｇ）になるまでステップ３０３，ステッ
プ３０４，ステップ３０５を繰り返し、ｋ＝８になった
ら次のステップ３０７へ進む（ステップ３０６）。ステ
ップ３０７においては、結果テーブルの中から最もエラ
ー数の少ない結果ｌを選択し、その結果によりそのｌに
対応するｋの値（ソレイユ・バビネ位相板の位相差）が
選択される。
・バビネ位相板の発生位相差−２０ｄｅｇ）に設定され
る（ステップ３０２）。続いて、１トラック，ライトベ
リファイを行い（ステップ３０３）、その時のエラー数
をチェックし結果テーブルのｌ＝０へ設定する（ステッ
プ３０４）。次に、ｋ＝ｋ＋１，ｌ＝ｌ＋１とし（ステ
ップ３０５）、ｋ＝８（ソレイユ・バビネ位相板の発生
位相差２０ｄｅｇ）になるまでステップ３０３，ステッ
プ３０４，ステップ３０５を繰り返し、ｋ＝８になった
ら次のステップ３０７へ進む（ステップ３０６）。ステ
ップ３０７においては、結果テーブルの中から最もエラ
ー数の少ない結果ｌを選択し、その結果によりそのｌに
対応するｋの値（ソレイユ・バビネ位相板の位相差）が
選択される。
【００３０】従って、使用条件が変化してもその時々に
応じて最適の位相補償が行える。
応じて最適の位相補償が行える。
【００３１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光ディス
ク装置は、光学系に使用する反射ミラー，ビームスプリ
ッタ等光学部品で発生する位相差が環境変化に伴い変化
したり、また、光磁気ディスク基盤にて発生する位相差
が媒体により異なり且つ温度変化によって媒体基盤での
発生位相差量が変化しても、その時々に応じ最適の位相
補償を行うことができ、優れたリードライト特性の光デ
ィスク装置を提供することができるという効果がある。
ク装置は、光学系に使用する反射ミラー，ビームスプリ
ッタ等光学部品で発生する位相差が環境変化に伴い変化
したり、また、光磁気ディスク基盤にて発生する位相差
が媒体により異なり且つ温度変化によって媒体基盤での
発生位相差量が変化しても、その時々に応じ最適の位相
補償を行うことができ、優れたリードライト特性の光デ
ィスク装置を提供することができるという効果がある。
【図１】本発明の光磁気ディスク装置の光学系の一実施
例を説明するための図である。
例を説明するための図である。
【図２】図１の光磁気ディスク装置のソレイユ・バビネ
位相板を説明するための図である。
位相板を説明するための図である。
【図３】図１の光磁気ディスク装置の位相差補正値設定
方法を説明するためのフローチャートである。
方法を説明するためのフローチャートである。
【図４】信号検出用反射光（位相差無し）を説明するた
めの図である。
めの図である。
【図５】信号検出用反射光（位相差有り）を説明するた
めの図である。
めの図である。
【図６】従来の光磁気ディスク用光学ヘッドの一実施例
を示す図である。
を示す図である。
１１ レーザダイオード １２ コリメータレンズ １３ 真円補正プリズム １４ 第１ビームスプリッタ １５ 反射ミラー １６ 対物レンズ １７ 第２ビームスプリッタ １８ レンズ １９ ４分割ディテクタ ２０ １／２波長板 ２１ 偏光ビームスプリッタ ２２ 再生信号用ディテクタ ３０ ソレイユ・バビネ位相板 ３１ 位相補償用波長板 ４０ マイコン
Claims (3)
- 【請求項１】 光磁気記録媒体に直線偏光を微少スポッ
トで照射する集光光学系と、前記光磁気記録媒体にて反
射した反射光から情報を再生する再生光学系と、前記集
光光学系もしくは前記再生光学系の光路中にあって前記
再生光学系の光路中で発生する直交する２つの直線偏光
間の位相差を補償する位相補償手段とを有する光磁気デ
ィスク装置において、前記位相補償手段が、前記補償位
相差をマイクロコピュータからの命令により任意に設定
する機能を有することを特徴とする光磁気ディスク装
置。 - 【請求項２】 前記位相補償手段により、前記再生光学
系の光路中で発生するＰ偏光成分とＳ偏光成分間の位相
差を補償することを特徴とする請求項１記載の光磁気デ
ィスク装置。 - 【請求項３】 前記位相補償手段がソレイユ・バビネ位
相板で構成されることを特徴とする請求項１または請求
項２記載の光磁気ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10254595A JPH08297883A (ja) | 1995-04-26 | 1995-04-26 | 光磁気ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10254595A JPH08297883A (ja) | 1995-04-26 | 1995-04-26 | 光磁気ディスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08297883A true JPH08297883A (ja) | 1996-11-12 |
Family
ID=14330227
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10254595A Pending JPH08297883A (ja) | 1995-04-26 | 1995-04-26 | 光磁気ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08297883A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998009286A1 (en) * | 1996-08-27 | 1998-03-05 | Quinta Corporation | Optical system and method using optical fibers for storage and retrieval of information |
| US6472651B1 (en) | 1999-06-18 | 2002-10-29 | Fujitsu Limited | Optical information storage device having phase compensating mechanism and polarization plane rotating mechanism |
| US7397752B2 (en) | 2003-05-14 | 2008-07-08 | Sharp Kabushiki Kaisha | Pickup for magneto-optical recording medium |
| JP2020160422A (ja) * | 2019-03-22 | 2020-10-01 | 住友化学株式会社 | 検査方法及び検査装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02260255A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-23 | Sony Corp | 光磁気再生装置 |
| JPH0340252A (ja) * | 1989-04-19 | 1991-02-21 | Olympus Optical Co Ltd | 光磁気記録媒体の位相差測定装置 |
| JPH06230222A (ja) * | 1993-02-05 | 1994-08-19 | Digital Stream:Kk | 位相補償板及び該位相補償板を用いた光磁気ディスクシステム用光ピックアップ |
-
1995
- 1995-04-26 JP JP10254595A patent/JPH08297883A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02260255A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-23 | Sony Corp | 光磁気再生装置 |
| JPH0340252A (ja) * | 1989-04-19 | 1991-02-21 | Olympus Optical Co Ltd | 光磁気記録媒体の位相差測定装置 |
| JPH06230222A (ja) * | 1993-02-05 | 1994-08-19 | Digital Stream:Kk | 位相補償板及び該位相補償板を用いた光磁気ディスクシステム用光ピックアップ |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998009286A1 (en) * | 1996-08-27 | 1998-03-05 | Quinta Corporation | Optical system and method using optical fibers for storage and retrieval of information |
| US6472651B1 (en) | 1999-06-18 | 2002-10-29 | Fujitsu Limited | Optical information storage device having phase compensating mechanism and polarization plane rotating mechanism |
| US7397752B2 (en) | 2003-05-14 | 2008-07-08 | Sharp Kabushiki Kaisha | Pickup for magneto-optical recording medium |
| JP2020160422A (ja) * | 2019-03-22 | 2020-10-01 | 住友化学株式会社 | 検査方法及び検査装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19980106 |