JPH0829992A - 光導電性混合顔料及びかかる顔料を用いた電子写真感光体 - Google Patents
光導電性混合顔料及びかかる顔料を用いた電子写真感光体Info
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- JPH0829992A JPH0829992A JP18551494A JP18551494A JPH0829992A JP H0829992 A JPH0829992 A JP H0829992A JP 18551494 A JP18551494 A JP 18551494A JP 18551494 A JP18551494 A JP 18551494A JP H0829992 A JPH0829992 A JP H0829992A
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- pigment
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- photoconductive
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 可視光のみならず近赤外光に対して高い感度
を有する光導電性混合顔料を提供すること並びに、その
ようにして得られた混合顔料を含有させた、可視光に対
する感度を低下させることなく、個々の顔料を用いて設
計した感光体に比し可視光および近赤外光に対して高い
感度を有する感光体を提供すること。 【構成】 2種類以上の混合顔料であって、ソルトミリ
ング法により形成されていることを特徴とする光導電性
混合顔料およびこの顔料を光導電性層の少なくとも1層
に含有させた電子写真感光体。
を有する光導電性混合顔料を提供すること並びに、その
ようにして得られた混合顔料を含有させた、可視光に対
する感度を低下させることなく、個々の顔料を用いて設
計した感光体に比し可視光および近赤外光に対して高い
感度を有する感光体を提供すること。 【構成】 2種類以上の混合顔料であって、ソルトミリ
ング法により形成されていることを特徴とする光導電性
混合顔料およびこの顔料を光導電性層の少なくとも1層
に含有させた電子写真感光体。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は可視光域から近赤外線域
にいたる巾広い波長域に高い感度を与える光導電性混合
顔料及びこれを用いた電子写真感光体に関する。
にいたる巾広い波長域に高い感度を与える光導電性混合
顔料及びこれを用いた電子写真感光体に関する。
【0002】
【従来の技術】近年電子写真方式を用いた情報処理シス
テム機の発展は目覚ましいものである。特に情報をデジ
タル信号に変換して光によって情報記録を行う電子写真
式光プリンターはそのプリント品質、信頼性においてす
ばらしいものがある。このデジタル記録技術はプリンタ
ーのみならず通常の複写機にも応用され所謂デジタル複
写機が開発されている。又、従来からあるアナログ複写
にこのデジタル記録技術を搭載した複写機は種々様々な
情報処理機能が付加されるため今後その需要性が益々高
まっていくであろう。
テム機の発展は目覚ましいものである。特に情報をデジ
タル信号に変換して光によって情報記録を行う電子写真
式光プリンターはそのプリント品質、信頼性においてす
ばらしいものがある。このデジタル記録技術はプリンタ
ーのみならず通常の複写機にも応用され所謂デジタル複
写機が開発されている。又、従来からあるアナログ複写
にこのデジタル記録技術を搭載した複写機は種々様々な
情報処理機能が付加されるため今後その需要性が益々高
まっていくであろう。
【0003】光プリンターの光源としては現在のところ
小型で安価で信頼性の高い半導体レーザー(LD)や発
光ダイオード(LED)が多く使われている。現在よく
使われているLEDの発光波長は660nmであり、L
Dの発光波長域は近赤外領域にある。このため可視光領
域から近赤外領域に高い感度を有する電子写真感光体の
開発が望まれている。電子写真感光体の感光波長域は感
光体に使用される電荷発生物質(CGM)の感光波長域
によってほぼ決まってしまう。そのため従来から各種ア
ゾ顔料、多環キノン系顔料、三方晶形セレン、各種フタ
ロシアニン顔料、スクウェアリック染料等多くのCGM
が開発されている。
小型で安価で信頼性の高い半導体レーザー(LD)や発
光ダイオード(LED)が多く使われている。現在よく
使われているLEDの発光波長は660nmであり、L
Dの発光波長域は近赤外領域にある。このため可視光領
域から近赤外領域に高い感度を有する電子写真感光体の
開発が望まれている。電子写真感光体の感光波長域は感
光体に使用される電荷発生物質(CGM)の感光波長域
によってほぼ決まってしまう。そのため従来から各種ア
ゾ顔料、多環キノン系顔料、三方晶形セレン、各種フタ
ロシアニン顔料、スクウェアリック染料等多くのCGM
が開発されている。
【0004】それらの内、アゾ顔料はその顔料合成反応
の容易性、化学構造の多様性から数多くの顔料が開発さ
れてきた。特開昭56−167759に記載のフルオレ
ノン骨格を持つビスアゾ顔料は可視光域に高い感度を有
し、帯電電位の保持性の高いCGMであるが、700n
m以長の近赤外光にはほとんど感度を有さない。特開昭
57−195767記載のトリスアゾ顔料は可視光域か
ら近赤外光域にまで感度を有している帯電電位の保持性
の高いCGMであるが、将来の情報処理機の小型化、高
速化に対応するためには感度が未だ充分でない。
の容易性、化学構造の多様性から数多くの顔料が開発さ
れてきた。特開昭56−167759に記載のフルオレ
ノン骨格を持つビスアゾ顔料は可視光域に高い感度を有
し、帯電電位の保持性の高いCGMであるが、700n
m以長の近赤外光にはほとんど感度を有さない。特開昭
57−195767記載のトリスアゾ顔料は可視光域か
ら近赤外光域にまで感度を有している帯電電位の保持性
の高いCGMであるが、将来の情報処理機の小型化、高
速化に対応するためには感度が未だ充分でない。
【0005】USP5055368には乾式ソルトミリ
ングを施したチタニルフタロシアニン顔料を含有した電
子写真感光体が提案されているが、フタロシアニン顔料
は幅広い感光波長域で十分に高い感度を有しているもの
の、感光体製造時の有機溶媒などで結晶型が変質しやす
く品質安定性にかける。又アゾ顔料に較べて帯電電位の
保持安定性に欠ける。また可視光に対して高い感度を有
するCGM(短波長CGM)と近赤外光に感度を有する
CGM(長波長CGM)を混合して感光波長域のひろい
感光体を設計することが試みられている。
ングを施したチタニルフタロシアニン顔料を含有した電
子写真感光体が提案されているが、フタロシアニン顔料
は幅広い感光波長域で十分に高い感度を有しているもの
の、感光体製造時の有機溶媒などで結晶型が変質しやす
く品質安定性にかける。又アゾ顔料に較べて帯電電位の
保持安定性に欠ける。また可視光に対して高い感度を有
するCGM(短波長CGM)と近赤外光に感度を有する
CGM(長波長CGM)を混合して感光波長域のひろい
感光体を設計することが試みられている。
【0006】しかしながら、長波長CGMは一般に可視
光域にのみ感度を有する短波長CGMより光感度が低
く、そのため2種のCGMを単純に混合したものを用い
て感光体を設計した場合、長波長CGMの光吸収によっ
て可視光域の感度が短波長のCGM単一で設計した場合
より低下してしまう。以上の様に従来からの提案のCG
Mの混合では感光波長域は広げることは可能であるが各
波長光に対する感度は個々のCGMを単独に使用して設
計した感光体より低くなってしまい、十分な特性が得ら
れない。以上のように未だ可視光域から近赤外光域にま
で高い感度を有したCGMは開発されていない。
光域にのみ感度を有する短波長CGMより光感度が低
く、そのため2種のCGMを単純に混合したものを用い
て感光体を設計した場合、長波長CGMの光吸収によっ
て可視光域の感度が短波長のCGM単一で設計した場合
より低下してしまう。以上の様に従来からの提案のCG
Mの混合では感光波長域は広げることは可能であるが各
波長光に対する感度は個々のCGMを単独に使用して設
計した感光体より低くなってしまい、十分な特性が得ら
れない。以上のように未だ可視光域から近赤外光域にま
で高い感度を有したCGMは開発されていない。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明の第1目的は可
視光のみならず近赤外光に対して高い感度を有する光導
電性混合顔料を提供することにあり、第2の目的はその
ようにして得られた混合顔料を含有させた、可視光に対
する感度を低下させることなく、個々の顔料を用いて設
計した感光体に比し可視光および近赤外光に対して高い
感度を有する感光体を提供することにある。
視光のみならず近赤外光に対して高い感度を有する光導
電性混合顔料を提供することにあり、第2の目的はその
ようにして得られた混合顔料を含有させた、可視光に対
する感度を低下させることなく、個々の顔料を用いて設
計した感光体に比し可視光および近赤外光に対して高い
感度を有する感光体を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明者らは鋭意研究を
行なった結果、2種以上の顔料を同一容器内で高い機械
的力を加えて無機塩と同時に粉砕混合する所謂ソルトミ
リングを行なうことにより得られる混合顔料を含有した
感光体は可視光域から近赤外光域まで高い感度を有して
いることをみいだし、本発明に到った。すなわち、本発
明によれば、第1に、2種類以上の顔料からなり、ソル
トミリング法により形成されたものであることを特徴と
する光導電性混合顔料が提供され、第2に、ソルトミリ
ングが乾式ソルトミリングであることを特徴とする上記
記載の光導電性顔料が提供され、第3に、ソルトミリン
グが有機溶媒の存在下で行なわれることを特徴とする上
記記載の光導電性顔料が提供され、第4に、混合顔料の
1種が少なくとも下記一般式(I)で表されるトリスア
ゾ顔料であることを特徴とする上記記載の光導電性混合
顔料が提供され、
行なった結果、2種以上の顔料を同一容器内で高い機械
的力を加えて無機塩と同時に粉砕混合する所謂ソルトミ
リングを行なうことにより得られる混合顔料を含有した
感光体は可視光域から近赤外光域まで高い感度を有して
いることをみいだし、本発明に到った。すなわち、本発
明によれば、第1に、2種類以上の顔料からなり、ソル
トミリング法により形成されたものであることを特徴と
する光導電性混合顔料が提供され、第2に、ソルトミリ
ングが乾式ソルトミリングであることを特徴とする上記
記載の光導電性顔料が提供され、第3に、ソルトミリン
グが有機溶媒の存在下で行なわれることを特徴とする上
記記載の光導電性顔料が提供され、第4に、混合顔料の
1種が少なくとも下記一般式(I)で表されるトリスア
ゾ顔料であることを特徴とする上記記載の光導電性混合
顔料が提供され、
【化1】 (式中、R1、R2、R3は水素、ハロゲン原子、アルキ
ル基、アルコキシ基又はシアノ基を表し、Ar1、A
r2、Ar3は各々カプラー残基を表す。R1、R2、R3
及びAr1、Ar2、Ar3は同一でも異ってもよい。) 第5に、混合顔料の1種が少なくとも下記一般式(II)
で表されるジスアゾ顔料であることを特徴とする上記記
載の光導電性混合顔料が提供され、
ル基、アルコキシ基又はシアノ基を表し、Ar1、A
r2、Ar3は各々カプラー残基を表す。R1、R2、R3
及びAr1、Ar2、Ar3は同一でも異ってもよい。) 第5に、混合顔料の1種が少なくとも下記一般式(II)
で表されるジスアゾ顔料であることを特徴とする上記記
載の光導電性混合顔料が提供され、
【化2】 (式中、R4、R5は水素、ハロゲン原子、アルキル基、
アルコキシ基又はシアノ基を表し、Ar4、Ar5は各々
カプラー残基を表す。R4、R5及びAr4、Ar5は同一
でも異ってもよい。) 第6に、該混合顔料が少なくとも上記一般式(I)で表
されるトリスアゾ顔料と上記一般式(II)で表されるビ
スアゾ顔料を含有することを特徴とする上記記載の光導
電性混合顔料が提供され、第7に、ソルトミリングに用
いられる塩がNa塩又は/及びK塩であることを特徴と
する上記記載の光導電性混合顔料が提供され、第8に、
導電性支持体上に光導電性層を形成してなる電子写真感
光体において、該光導電性層を形成する少なくとも一層
中に前記いずれか記載の光導電性混合顔料が含有されて
いることを特徴とする電子写真感光体が提供され、第9
に、光導電性層が少なくとも電荷発生層と電荷輸送層よ
りなっている積層感光層であることを特徴とする前記の
電子写真感光体が提供され、第10に、光導電層が少な
くとも1種以上の電荷輸送物質と該混合顔料と樹脂とか
らなる層で構成されていることを特徴とする前記の電子
写真感光体が提供される。
アルコキシ基又はシアノ基を表し、Ar4、Ar5は各々
カプラー残基を表す。R4、R5及びAr4、Ar5は同一
でも異ってもよい。) 第6に、該混合顔料が少なくとも上記一般式(I)で表
されるトリスアゾ顔料と上記一般式(II)で表されるビ
スアゾ顔料を含有することを特徴とする上記記載の光導
電性混合顔料が提供され、第7に、ソルトミリングに用
いられる塩がNa塩又は/及びK塩であることを特徴と
する上記記載の光導電性混合顔料が提供され、第8に、
導電性支持体上に光導電性層を形成してなる電子写真感
光体において、該光導電性層を形成する少なくとも一層
中に前記いずれか記載の光導電性混合顔料が含有されて
いることを特徴とする電子写真感光体が提供され、第9
に、光導電性層が少なくとも電荷発生層と電荷輸送層よ
りなっている積層感光層であることを特徴とする前記の
電子写真感光体が提供され、第10に、光導電層が少な
くとも1種以上の電荷輸送物質と該混合顔料と樹脂とか
らなる層で構成されていることを特徴とする前記の電子
写真感光体が提供される。
【0009】本発明でいう、ソルトミリングとは、2種
以上の顔料の粗結晶をNaCl、KCl、KBr、等の
無機塩とともに同一容器に入れミリングを行ない顔料と
塩に同じ圧縮、剪断、摩砕、摩擦、延伸、衝撃、振動等
の機械的エナルギーを与える方法を言う。
以上の顔料の粗結晶をNaCl、KCl、KBr、等の
無機塩とともに同一容器に入れミリングを行ない顔料と
塩に同じ圧縮、剪断、摩砕、摩擦、延伸、衝撃、振動等
の機械的エナルギーを与える方法を言う。
【0010】ソルトミリングを行なう具体的手段として
はボールミル、振動ミル、円板振動ミル、アトライタ
ー、サンドミル、ペイントシェーカー、ジェットミル
等、顔料と無機塩に圧縮、剪断、摩砕、摩擦、延伸、衝
撃、振動等の機械的エネルギーを与える粉砕混合手段で
あればなんでも使用可能である。
はボールミル、振動ミル、円板振動ミル、アトライタ
ー、サンドミル、ペイントシェーカー、ジェットミル
等、顔料と無機塩に圧縮、剪断、摩砕、摩擦、延伸、衝
撃、振動等の機械的エネルギーを与える粉砕混合手段で
あればなんでも使用可能である。
【0011】ミリング部材としてはスチール、ステンレ
ス、YTZ、部分安定化ジルコニア(PSZ)、メノ
ウ、ガラス製ボールや砂等一般に使用されているミリン
グ材が使用可能である。本発明で使用可能な無機塩とし
てはNaCl、KCl、KBr、Na2SO4、K2S
O4、CaCO3等のアルカリ金属のハロゲン炭酸化物、
炭酸化物、硫酸化物、リン酸化物などである。
ス、YTZ、部分安定化ジルコニア(PSZ)、メノ
ウ、ガラス製ボールや砂等一般に使用されているミリン
グ材が使用可能である。本発明で使用可能な無機塩とし
てはNaCl、KCl、KBr、Na2SO4、K2S
O4、CaCO3等のアルカリ金属のハロゲン炭酸化物、
炭酸化物、硫酸化物、リン酸化物などである。
【0012】次にソルトミリングの具体的実施方法につ
いて述べる。ミリング容器内にミリング部材とともに顔
料と無機塩を入れミリングを所定時間行なう。無機塩の
投入適正量は顔料の処理量、使用装置の大きさ、処理時
間、顔料の種類によって異なるが、投入する顔料に対し
て等量以上から1000倍量入れるのがよい。ミリング
終了後は無機塩を溶媒で溶解し濾過、遠心分離等の手段
でアゾ顔料を無機塩とミリング部材から分離する。無機
塩の溶媒としては水やメタノール、エタノール等のアル
コール、アセトン、メチルエチルケトンなどのケトン
類、酢酸エチル、エチレングリコールなどが使用可能で
ある。
いて述べる。ミリング容器内にミリング部材とともに顔
料と無機塩を入れミリングを所定時間行なう。無機塩の
投入適正量は顔料の処理量、使用装置の大きさ、処理時
間、顔料の種類によって異なるが、投入する顔料に対し
て等量以上から1000倍量入れるのがよい。ミリング
終了後は無機塩を溶媒で溶解し濾過、遠心分離等の手段
でアゾ顔料を無機塩とミリング部材から分離する。無機
塩の溶媒としては水やメタノール、エタノール等のアル
コール、アセトン、メチルエチルケトンなどのケトン
類、酢酸エチル、エチレングリコールなどが使用可能で
ある。
【0013】無機塩やミリング部材と分離された顔料は
加熱乾燥、減圧乾燥等の手段で溶媒を乾燥する。またソ
ルトミリングの方法には上記の乾式ソルトミリング法の
ほかに無機塩が難溶な有機溶媒の存在下でミリングする
ソルベントソルトミリング法がある。本発明においては
この有機溶媒存在下でソルトミリングすることによって
顔料の増感効果が促進される。有機溶媒としては、使用
する無機塩が難溶なものなら何でも使用可能であるが、
たとえばメタノール、エタノール、プロパノール、ブタ
ノール、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブ
チルケトン、シクロヘキサノン、THF、シクロヘキサ
ン、トルエン、キシレン、メチルセロソルブ、エチルセ
ロソルブ、ジクロロメタン、1,2−ジクロロエチレ
ン、1,1,2−トリクロロエチレン、がある。使用す
る塩の溶解性を考慮して溶媒を選択しなければならな
い。ソルベントソルトミリングはミリング容器にミリン
グ部材、顔料と無機塩とともに有機溶媒を入れ所定時間
ミリングを行なった後、有機溶媒と無機塩を除去したの
ち顔料を乾燥すればよい。
加熱乾燥、減圧乾燥等の手段で溶媒を乾燥する。またソ
ルトミリングの方法には上記の乾式ソルトミリング法の
ほかに無機塩が難溶な有機溶媒の存在下でミリングする
ソルベントソルトミリング法がある。本発明においては
この有機溶媒存在下でソルトミリングすることによって
顔料の増感効果が促進される。有機溶媒としては、使用
する無機塩が難溶なものなら何でも使用可能であるが、
たとえばメタノール、エタノール、プロパノール、ブタ
ノール、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブ
チルケトン、シクロヘキサノン、THF、シクロヘキサ
ン、トルエン、キシレン、メチルセロソルブ、エチルセ
ロソルブ、ジクロロメタン、1,2−ジクロロエチレ
ン、1,1,2−トリクロロエチレン、がある。使用す
る塩の溶解性を考慮して溶媒を選択しなければならな
い。ソルベントソルトミリングはミリング容器にミリン
グ部材、顔料と無機塩とともに有機溶媒を入れ所定時間
ミリングを行なった後、有機溶媒と無機塩を除去したの
ち顔料を乾燥すればよい。
【0014】本発明に好ましく使用される一般式(II)
で示されるビスアゾ顔料と一般式(I)で示されるトリ
スアゾ顔料の混合比は一般的には重量比で 0.01≦ビスアゾ顔料/(ビスアゾ顔料+トリスアゾ
顔料)≦0.99 が良い。0.01より低いと感度の増感効果が少なくか
つ耐ガス性の向上が少ない又は、0.99より大きいと
増感効果が少なくなる。更に可視光波長域から近赤外光
波長域までの分光感度の均一性を考慮すると 0.1≦ビスアゾ顔料/(ビスアゾ顔料+トリスアゾ顔
料)≦0.9 が望ましい。一般式(I)及び一般式(II)におけるカ
ップラー残基としては次のものが例示される。
で示されるビスアゾ顔料と一般式(I)で示されるトリ
スアゾ顔料の混合比は一般的には重量比で 0.01≦ビスアゾ顔料/(ビスアゾ顔料+トリスアゾ
顔料)≦0.99 が良い。0.01より低いと感度の増感効果が少なくか
つ耐ガス性の向上が少ない又は、0.99より大きいと
増感効果が少なくなる。更に可視光波長域から近赤外光
波長域までの分光感度の均一性を考慮すると 0.1≦ビスアゾ顔料/(ビスアゾ顔料+トリスアゾ顔
料)≦0.9 が望ましい。一般式(I)及び一般式(II)におけるカ
ップラー残基としては次のものが例示される。
【0015】
【表1−(1)】
【0016】
【表1−(2)】
【0017】
【表1−(3)】
【0018】
【表2−(1)】
【0019】
【表2−(2)】
【0020】
【表3−(1)】
【0021】
【表3−(2)】
【0022】
【表4】
【0023】
【表5】
【0024】
【表6】
【0025】
【表7】
【0026】
【表8】
【0027】
【表9】
【0028】
【表10】
【0029】
【表11】
【0030】
【表12−(1)】
【0031】
【表12−(2)】
【0032】
【表12−(3)】
【0033】
【表13−(1)】
【0034】
【表13−(2)】
【0035】
【表13−(3)】
【0036】
【表14−(1)】
【0037】
【表14−(2)】
【0038】
【表15】
【0039】
【表16】
【0040】次に、前記の様にソルトミリング処理され
た混合顔料を電荷発生物質として用いた電子写真感光体
の作り方を述べる。
た混合顔料を電荷発生物質として用いた電子写真感光体
の作り方を述べる。
【0041】本発明の電子写真感光体の感光層(光導電
層)は電荷発生物質と電荷輸送物質とを組み合わせて、
分散型もしくは機能分離型をとることができる。
層)は電荷発生物質と電荷輸送物質とを組み合わせて、
分散型もしくは機能分離型をとることができる。
【0042】層構成としては分散型の場合、導電性基体
の上に、結着剤中に電荷発生物質、電荷輸送物質を分散
させた感光層を設ける。機能分離型の場合は、基体上に
電荷発生物質及び結着剤を含む電荷発生層、その上に電
荷輸送物質及び結着剤を含む電荷輸送層を形成するもの
であるが、正帯電型とする場合には、電荷発生層、電荷
輸送層を逆に積層してもよい。なお、機能分離型の場
合、電荷発生層中に電荷輸送物質を含有させてもよい。
特に正帯電構成の場合感度が良好となる。
の上に、結着剤中に電荷発生物質、電荷輸送物質を分散
させた感光層を設ける。機能分離型の場合は、基体上に
電荷発生物質及び結着剤を含む電荷発生層、その上に電
荷輸送物質及び結着剤を含む電荷輸送層を形成するもの
であるが、正帯電型とする場合には、電荷発生層、電荷
輸送層を逆に積層してもよい。なお、機能分離型の場
合、電荷発生層中に電荷輸送物質を含有させてもよい。
特に正帯電構成の場合感度が良好となる。
【0043】また、接着性、電荷ブロッキング性を向上
させるために、感光層と基体との間に中間層を設けても
よい。更に耐摩耗性等、機械的耐久性を向上させるため
に、感光層上に保護層を設けてもよい。電荷発生層、電
荷輸送層及び分散型感光層形成時に用いる結着剤として
は、絶縁性がよい従来から知られている電子写真感光体
用結着剤であれば何でも使用でき、特に限定はない。1
例をあげるばポリカーボネート(ビスフェノールAタイ
プ、ビスフェノールZタイプ)、ポリエステル、メタク
リル樹脂、アクリル樹脂、ポリエチレン、ポリ塩化ビニ
ル、ポリ酢酸ビニル、ポリスチレン、フェノール樹脂、
エポキシ樹脂、ポリウレタン、ポリ塩化ビニリデン、ア
ルキッド樹脂、シリコン樹脂、ポリビニルカルバゾー
ル、ポリビニルブチラール、ポリビニルカルバゾール、
ポリビニルブチラール、ポリビニルホルマール、ポリア
リレート、ポリアクリルアミド、ポリアミド、フェノキ
シ樹脂などが用いられる。これらのバインダーは単独又
は2種以上の混合物として用いることができる。
させるために、感光層と基体との間に中間層を設けても
よい。更に耐摩耗性等、機械的耐久性を向上させるため
に、感光層上に保護層を設けてもよい。電荷発生層、電
荷輸送層及び分散型感光層形成時に用いる結着剤として
は、絶縁性がよい従来から知られている電子写真感光体
用結着剤であれば何でも使用でき、特に限定はない。1
例をあげるばポリカーボネート(ビスフェノールAタイ
プ、ビスフェノールZタイプ)、ポリエステル、メタク
リル樹脂、アクリル樹脂、ポリエチレン、ポリ塩化ビニ
ル、ポリ酢酸ビニル、ポリスチレン、フェノール樹脂、
エポキシ樹脂、ポリウレタン、ポリ塩化ビニリデン、ア
ルキッド樹脂、シリコン樹脂、ポリビニルカルバゾー
ル、ポリビニルブチラール、ポリビニルカルバゾール、
ポリビニルブチラール、ポリビニルホルマール、ポリア
リレート、ポリアクリルアミド、ポリアミド、フェノキ
シ樹脂などが用いられる。これらのバインダーは単独又
は2種以上の混合物として用いることができる。
【0044】以上のような層構成、物質を用いて感光体
を作成する場合には、膜厚、物質の割合に好ましい範囲
がある。
を作成する場合には、膜厚、物質の割合に好ましい範囲
がある。
【0045】負帯電型(基体/電荷発生層/電荷輸送層
の積層)の場合、電荷発生層において、結着剤に対する
電荷発生物質の割合は20重量%以上、膜厚は0.01
〜5μmが好ましい。電荷輸送層においては、結着剤に
対する電荷輸送物質の割合は、20〜200重量%、膜
厚は5〜100μmとするのが好ましい。正帯電型(基
体/電荷輸送層/電荷発生層の積層)の場合、電荷輸送
層においては、結着剤に対する電荷輸送物質の割合は、
20〜200重量%、膜厚は5〜100μmとするのが
好ましい。電荷発生層においては電荷発生物質を結着剤
に対し20重量%以上含有することが好ましい。更に、
電荷発生層中には電荷輸送物質を含有させることが好ま
しく、含有させることにより残留電位の抑制、感度の向
上に対し効果をもつ。この場合の電荷輸送物質は、結着
剤に対し20〜200重量%含有させることが好まし
い。
の積層)の場合、電荷発生層において、結着剤に対する
電荷発生物質の割合は20重量%以上、膜厚は0.01
〜5μmが好ましい。電荷輸送層においては、結着剤に
対する電荷輸送物質の割合は、20〜200重量%、膜
厚は5〜100μmとするのが好ましい。正帯電型(基
体/電荷輸送層/電荷発生層の積層)の場合、電荷輸送
層においては、結着剤に対する電荷輸送物質の割合は、
20〜200重量%、膜厚は5〜100μmとするのが
好ましい。電荷発生層においては電荷発生物質を結着剤
に対し20重量%以上含有することが好ましい。更に、
電荷発生層中には電荷輸送物質を含有させることが好ま
しく、含有させることにより残留電位の抑制、感度の向
上に対し効果をもつ。この場合の電荷輸送物質は、結着
剤に対し20〜200重量%含有させることが好まし
い。
【0046】また、電荷発生物質と電荷輸送物質を結着
剤樹脂中に分散してなる所謂、分散型の感光体の場合
は、その感光層中に結着剤樹脂に対する電荷発生物質と
しての混合顔料の割合は5〜95重量%、膜厚は10〜
100μmが好ましい。またその場合の結着剤樹脂に対
する電荷輸送物質の割合は30〜200重量%が好まし
い。
剤樹脂中に分散してなる所謂、分散型の感光体の場合
は、その感光層中に結着剤樹脂に対する電荷発生物質と
しての混合顔料の割合は5〜95重量%、膜厚は10〜
100μmが好ましい。またその場合の結着剤樹脂に対
する電荷輸送物質の割合は30〜200重量%が好まし
い。
【0047】更に、これら感光層中には、分散型、機能
分離型共に、帯電性の向上、耐ガス性の向上を目的に、
フェノール化合物、ハイドロキノン化合物、ヒンダード
フェノール化合物、ヒンダードアミン化合物、ヒンダー
ドアミンとヒンダードフェノールが同一分子中に存在す
る化合物など、所謂酸化防止剤を添加することができ
る。
分離型共に、帯電性の向上、耐ガス性の向上を目的に、
フェノール化合物、ハイドロキノン化合物、ヒンダード
フェノール化合物、ヒンダードアミン化合物、ヒンダー
ドアミンとヒンダードフェノールが同一分子中に存在す
る化合物など、所謂酸化防止剤を添加することができ
る。
【0048】本発明において、導電性基体としては、体
積抵抗1010Ω・cm以下の導電性を示すもの、例え
ば、アルミニウム、ニッケル、クロム、ニクロム、銅、
銀、金、白金等の金属又はそれら金属や酸化インジウ
ム、酸化錫等の金属酸化物、沃化銅等を蒸着又はスパッ
タリング法によって、フィルム状若しくは円筒ドラム
状、ベルト状フィルム、紙等に被覆したもの、あるいは
アルミニウム、アルミニウム合金、ニッケル、ステンレ
ス等の板、ベルト及びそれらをD.I.、I.I.、押
出し、引抜き等の工法で素管化後、切削超仕上げ、研摩
等で表面処理した素管を使用することができる。また、
カーボンブラック、酸化インジウム、酸化錫等の導電性
粉末を適当な樹脂に分散し、プラスチック等の上に被覆
したものを使用してもよい。
積抵抗1010Ω・cm以下の導電性を示すもの、例え
ば、アルミニウム、ニッケル、クロム、ニクロム、銅、
銀、金、白金等の金属又はそれら金属や酸化インジウ
ム、酸化錫等の金属酸化物、沃化銅等を蒸着又はスパッ
タリング法によって、フィルム状若しくは円筒ドラム
状、ベルト状フィルム、紙等に被覆したもの、あるいは
アルミニウム、アルミニウム合金、ニッケル、ステンレ
ス等の板、ベルト及びそれらをD.I.、I.I.、押
出し、引抜き等の工法で素管化後、切削超仕上げ、研摩
等で表面処理した素管を使用することができる。また、
カーボンブラック、酸化インジウム、酸化錫等の導電性
粉末を適当な樹脂に分散し、プラスチック等の上に被覆
したものを使用してもよい。
【0049】電荷輸送物質には正孔輸送物質と電子輸送
物質がある。正孔輸送物質としては、例えばポリ−N−
カルバゾール及びその誘導体、ポリ−γ−カルバゾリル
エチルグルタメート及びその誘導体、ピレン−ホルムア
ルデヒド縮合物及びその誘導体、ポリビニルピレン、ポ
リビニルフェナントレン、オキサゾール誘導体、イミダ
ゾール誘導体、トリフェニルアミン誘導体、及び以下の
一般式で示される化合物がある。
物質がある。正孔輸送物質としては、例えばポリ−N−
カルバゾール及びその誘導体、ポリ−γ−カルバゾリル
エチルグルタメート及びその誘導体、ピレン−ホルムア
ルデヒド縮合物及びその誘導体、ポリビニルピレン、ポ
リビニルフェナントレン、オキサゾール誘導体、イミダ
ゾール誘導体、トリフェニルアミン誘導体、及び以下の
一般式で示される化合物がある。
【0050】(1)(特開昭55−154955号、特
開昭55−156954号公報に記載)
開昭55−156954号公報に記載)
【化3】 〔式中、R1はメチル基、エチル基、2−ヒドロキシエ
チル基又は2−クロルエチル基を表わし、R2はメチル
基、エチル基、ベンジル基又はフェニル基を表わし、R
3は水素原子、塩素原子、臭素原子、炭素数1〜4のア
ルキル基、炭素数1〜4のアルコキシ基、ジアルキルア
ミノ基又はニトロ基を表わす。〕
チル基又は2−クロルエチル基を表わし、R2はメチル
基、エチル基、ベンジル基又はフェニル基を表わし、R
3は水素原子、塩素原子、臭素原子、炭素数1〜4のア
ルキル基、炭素数1〜4のアルコキシ基、ジアルキルア
ミノ基又はニトロ基を表わす。〕
【0051】(2)(特開昭55−52063号公報に
記載)
記載)
【化4】 〔式中、Arはナフタレン環、アントラセン環、スチリ
ル環及びそれらの置換体あるいはピリジン環、フラン
環、チオフェン環を表わし、Rはアルキル基又はベンジ
ル基を表わす。〕
ル環及びそれらの置換体あるいはピリジン環、フラン
環、チオフェン環を表わし、Rはアルキル基又はベンジ
ル基を表わす。〕
【0052】(3)(特開昭56−81850号公報に
記載)
記載)
【化5】 〔式中、R1はアルキル基、ベンジル基、フェニル基又
はナフチル基を表わし、R2は水素原子、炭素数1〜3
のアルキル基、炭素数1〜3のアルコキシ基、ジアルキ
ルアミノ基、ジアラルキルアミノ基又はジアリールアミ
ノ基を表わし、nは1〜4の整数を表わし、nが2以上
のときはR2は同じでも異なっていてもよい。R3は水素
原子又はメトキシ基を表わす。〕
はナフチル基を表わし、R2は水素原子、炭素数1〜3
のアルキル基、炭素数1〜3のアルコキシ基、ジアルキ
ルアミノ基、ジアラルキルアミノ基又はジアリールアミ
ノ基を表わし、nは1〜4の整数を表わし、nが2以上
のときはR2は同じでも異なっていてもよい。R3は水素
原子又はメトキシ基を表わす。〕
【0053】(4)(特公昭51−10983号公報に
記載)
記載)
【化6】 〔式中、R1は炭素数1〜11のアルキル基、置換若し
くは無置換のフェニル基又は複素環基を表わし、R2、
R3はそれぞれ同一でも異なっていてもよく、水素原
子、炭素数1ー4のアルキル基、ヒドロキシアルキル
基、クロルアルキル基又は置換若しくは無置換のアラル
キル基を表わし、また、R2とR3は互いに結合し窒素を
含む複素環を形成していてもよい。R4は同一でも異な
っていてもよく、水素原子、炭素数1〜4のアルキル
基、アルコキシ基又はハロゲン原子を表わす。〕
くは無置換のフェニル基又は複素環基を表わし、R2、
R3はそれぞれ同一でも異なっていてもよく、水素原
子、炭素数1ー4のアルキル基、ヒドロキシアルキル
基、クロルアルキル基又は置換若しくは無置換のアラル
キル基を表わし、また、R2とR3は互いに結合し窒素を
含む複素環を形成していてもよい。R4は同一でも異な
っていてもよく、水素原子、炭素数1〜4のアルキル
基、アルコキシ基又はハロゲン原子を表わす。〕
【0054】(5)(特開昭51−94829号公報に
記載)
記載)
【化7】 〔式中、Rは水素原子又はハロゲン原子を表わし、Ar
は置換若しくは無置換のフェニル基、ナフチル基、アン
トリル基又はカルバゾリル基を表わす。〕
は置換若しくは無置換のフェニル基、ナフチル基、アン
トリル基又はカルバゾリル基を表わす。〕
【0055】(6)(特開昭52−128373号公報
に記載)
に記載)
【化8】 〔式中、R1は水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、炭
素数1〜4のアルコキシ基又は炭素数1〜4のアルキル
基を表わし、Arは
素数1〜4のアルコキシ基又は炭素数1〜4のアルキル
基を表わし、Arは
【化9】 を表わし、R2は炭素数1〜4のアルキル基を表わし、
R3は水素原子、ハロゲン原子、炭素数1〜4のアルキ
ル基、炭素数1〜4のアルコキシ基又はジアルキルアミ
ノ基を表わし、nは1又は2であって、nが2のときは
R3は同一でも異なってもよく、R4及びR5は水素原
子、炭素数1〜4の置換若しくは無置換のアルキル基又
は置換若しくは無置換のベンジル基を表わす。〕
R3は水素原子、ハロゲン原子、炭素数1〜4のアルキ
ル基、炭素数1〜4のアルコキシ基又はジアルキルアミ
ノ基を表わし、nは1又は2であって、nが2のときは
R3は同一でも異なってもよく、R4及びR5は水素原
子、炭素数1〜4の置換若しくは無置換のアルキル基又
は置換若しくは無置換のベンジル基を表わす。〕
【0056】(7)(特開昭56−29245号公報に
記載)
記載)
【化10】 〔式中、Rはカルバゾリル基、ピリジル基、チエニル
基、インドリル基、フリル基あるいはそれぞれ置換若し
くは非置換のフェニル基、スチリル基、ナフチル基又は
アントリル基であって、これらの置換基がジアルキルア
ミノ基、アルキル基、アルコキシ基、カルボキシ基又は
そのエステル、ハロゲン原子、シアノ基、アラルキルア
ミノ基、N−アルキル−N−アラルキルアミノ基、アミ
ノ基、ニトロ基及びアセチルアミノ基からなる群から選
ばれた基を表わす。〕
基、インドリル基、フリル基あるいはそれぞれ置換若し
くは非置換のフェニル基、スチリル基、ナフチル基又は
アントリル基であって、これらの置換基がジアルキルア
ミノ基、アルキル基、アルコキシ基、カルボキシ基又は
そのエステル、ハロゲン原子、シアノ基、アラルキルア
ミノ基、N−アルキル−N−アラルキルアミノ基、アミ
ノ基、ニトロ基及びアセチルアミノ基からなる群から選
ばれた基を表わす。〕
【0057】(8)(特開昭58−58552号公報に
記載)
記載)
【化11】 〔式中、R1は低級アルキル基、置換若しくは無置換の
フェニル基、又はベンジル基を表わし、R2は水素原
子、低級アルキル基、低級アルコキシ基、ハロゲン原
子、ニトロ基、アミノ基あるいは低級アルキル基又はベ
ンジル基で置換されたアミノ基を表わし、nは1又は2
の整数を表わす。〕
フェニル基、又はベンジル基を表わし、R2は水素原
子、低級アルキル基、低級アルコキシ基、ハロゲン原
子、ニトロ基、アミノ基あるいは低級アルキル基又はベ
ンジル基で置換されたアミノ基を表わし、nは1又は2
の整数を表わす。〕
【0058】(9)(特開昭57−73075号公報に
記載)
記載)
【化12】 〔式中、R1は水素原子、アルキル基、アルコキシ基又
はハロゲン原子を表わし、R2及びR3はアルキル基、置
換もしくは無置換のアラルキル基あるいは置換もしくは
無置換アリール基を表わし、R4は水素原子、低級アル
キル基又は置換もしくは無置換のフェニル基を表わし、
また、Arは置換もしくは無置換のフェニル基又はナフ
チル基を表わす。〕
はハロゲン原子を表わし、R2及びR3はアルキル基、置
換もしくは無置換のアラルキル基あるいは置換もしくは
無置換アリール基を表わし、R4は水素原子、低級アル
キル基又は置換もしくは無置換のフェニル基を表わし、
また、Arは置換もしくは無置換のフェニル基又はナフ
チル基を表わす。〕
【0059】(10)(特開昭58−198043号公
報に記載)
報に記載)
【化13】 〔式中、nは0又は1の整数、R1は水素原子、アルキ
ル基又は置換もしくは無置換のフェニル基を表わし、A
r1は置換もしくは未置換のアリール基を表わし、R5は
置換アルキル基を含むアルキル基、あるいは置換もしく
は無置換のアリール基を表わし、Aは
ル基又は置換もしくは無置換のフェニル基を表わし、A
r1は置換もしくは未置換のアリール基を表わし、R5は
置換アルキル基を含むアルキル基、あるいは置換もしく
は無置換のアリール基を表わし、Aは
【化14】 9−アントリル基又は置換若しくは無置換のカルバゾリ
ル基を表わし、ここでR2は水素原子、アルキル基、ア
ルコキシ基、ハロゲン原子又は 基又は置換若しくは無置換のアリール基を示し、R3及
びR4は同じでも異なっていてもよく、R4は環を形成し
てもよい、)を表わし、mは0,1,2又は3の整数で
あって、mが2以上のときはR2は同一でも異なっても
よい。また、nが0のとき、AとR1は共同で環を形成
してもよい。〕
ル基を表わし、ここでR2は水素原子、アルキル基、ア
ルコキシ基、ハロゲン原子又は 基又は置換若しくは無置換のアリール基を示し、R3及
びR4は同じでも異なっていてもよく、R4は環を形成し
てもよい、)を表わし、mは0,1,2又は3の整数で
あって、mが2以上のときはR2は同一でも異なっても
よい。また、nが0のとき、AとR1は共同で環を形成
してもよい。〕
【0060】(11)(特開昭49−105537号公
報に記載)
報に記載)
【化15】 〔式中、R1、R2及びR3は水素原子、低級アルキル
基、低級アルコキシ基、ジアルキルアミノ基又はハロゲ
ン原子を表わし、nは0又は1を表わす。〕
基、低級アルコキシ基、ジアルキルアミノ基又はハロゲ
ン原子を表わし、nは0又は1を表わす。〕
【0061】(12)(特開昭52−139066号公
報に記載)
報に記載)
【化16】 〔式中、R1及びR2は置換アルキル基を含むアルキル
基、又は置換若しくは未置換のアリール基を表し、Aは
置換アミノ基、置換若しくは未置換のアリール基又はア
リル基を表わす。〕
基、又は置換若しくは未置換のアリール基を表し、Aは
置換アミノ基、置換若しくは未置換のアリール基又はア
リル基を表わす。〕
【0062】(13)(特開昭52−139065号公
報に記載)
報に記載)
【化17】 〔式中、Xは水素原子、低級アルキル基又はハロゲン原
子を表し、Rは置換アルキル基を含むアルキル基、又は
置換若しくは無置換のアリール基を表わし、Aは置換ア
ミノ基又は置換若しくは無置換のアリール基を表わ
す。〕
子を表し、Rは置換アルキル基を含むアルキル基、又は
置換若しくは無置換のアリール基を表わし、Aは置換ア
ミノ基又は置換若しくは無置換のアリール基を表わ
す。〕
【0063】(14)(特公昭58−32372号公報
に記載)
に記載)
【化18】 〔式中、R1は低級アルキル基、低級アルコキシ基又は
ハロゲン原子を表わし、nは0〜4の整数を表わし、R
2,R3は同じでも異なっていてもよく、水素原子、低級
アルキル基、低級アルコキシ基又はハロゲン原子を表わ
す。〕
ハロゲン原子を表わし、nは0〜4の整数を表わし、R
2,R3は同じでも異なっていてもよく、水素原子、低級
アルキル基、低級アルコキシ基又はハロゲン原子を表わ
す。〕
【0064】(15)(特開平2−178669号公報
に記載)
に記載)
【化19】 〔式中、R1,R3及びR4は水素原子、アミノ基、アル
コキシ基、チオアルコキシ基、アリールオキシ基、メチ
レンジオキシ基、置換若しくは無置換のアルキル基、ハ
ロゲン原子又は置換若しくは無置換のアリール基を、R
2は水素原子、アルコキシ基、置換若しくは無置換のア
ルキル基又はハロゲン原子を表わす。但し、R1,R2,
R3及びR4はすべて水素原子である場合は除く。また、
k,l,m及びnは1,2,3又は4の整数であり、各
々が2,3又は4の整数のときは、前記R1,R2,R3
及びR4は同じでも異なっていてもよい。〕
コキシ基、チオアルコキシ基、アリールオキシ基、メチ
レンジオキシ基、置換若しくは無置換のアルキル基、ハ
ロゲン原子又は置換若しくは無置換のアリール基を、R
2は水素原子、アルコキシ基、置換若しくは無置換のア
ルキル基又はハロゲン原子を表わす。但し、R1,R2,
R3及びR4はすべて水素原子である場合は除く。また、
k,l,m及びnは1,2,3又は4の整数であり、各
々が2,3又は4の整数のときは、前記R1,R2,R3
及びR4は同じでも異なっていてもよい。〕
【0065】(16)(特開平3−285960号公報
に記載)
に記載)
【化20】 〔式中、Arは炭素数18個以下の縮合多環式炭化水素
基を表わし、またR1及びR2は水素原子、ハロゲン原
子、置換若しくは無置換のアルキル基、アルコキシ基、
置換若しくは無置換のフェニル基を表わし、それぞれ同
じでも異なっていてもよい。〕
基を表わし、またR1及びR2は水素原子、ハロゲン原
子、置換若しくは無置換のアルキル基、アルコキシ基、
置換若しくは無置換のフェニル基を表わし、それぞれ同
じでも異なっていてもよい。〕
【0066】(17)(特願昭62−98394号に記
載)
載)
【化21】A−CH=CH−Ar−CH=CH−A 〔式中、Arは置換若しくは無置換の芳香族炭化水素基
を表わし、Aは、 水素基を表わし、R1及びR2は置換若しくは無置換のア
ルキル基、又は置換若しくは無置換のアリール基であ
る、)を表わす。〕
を表わし、Aは、 水素基を表わし、R1及びR2は置換若しくは無置換のア
ルキル基、又は置換若しくは無置換のアリール基であ
る、)を表わす。〕
【0067】(18)(特開平4−230764号公報
に記載)
に記載)
【化22】 〔式中、Arは芳香族炭化水素基を、Rは水素原子、置
換若しくは無置換のアルキル基又はアリール基を、それ
ぞれ表わす。nは0又は1、mは1又は2であって、n
=0、m=1の場合、ArとRは共同で環を形成しても
よい。〕
換若しくは無置換のアルキル基又はアリール基を、それ
ぞれ表わす。nは0又は1、mは1又は2であって、n
=0、m=1の場合、ArとRは共同で環を形成しても
よい。〕
【0068】一般式化3で表せられる化合物には、例え
ば、9−エチルカルバゾール−3−アルデヒド−1−メ
チル−1−フェニルヒドラゾン、9−エチルカルバゾー
ル−3−アルデヒド−1−ベンジル−1−フェニルヒド
ラゾン、9−エチルカルバゾール−3−アルデヒド−
1,1−ジフェニルヒドラゾンなどがある。また、一般
式化4で表せられる化合物には、例えば、4−ジエチル
アミノスチリル−β−アルデヒド−1−メチル−1−フ
ェニルヒドラゾン、4−メトキシナフタレン−1−アル
デヒド−1−べンジル−1−フェニルヒドラゾンなどが
ある。
ば、9−エチルカルバゾール−3−アルデヒド−1−メ
チル−1−フェニルヒドラゾン、9−エチルカルバゾー
ル−3−アルデヒド−1−ベンジル−1−フェニルヒド
ラゾン、9−エチルカルバゾール−3−アルデヒド−
1,1−ジフェニルヒドラゾンなどがある。また、一般
式化4で表せられる化合物には、例えば、4−ジエチル
アミノスチリル−β−アルデヒド−1−メチル−1−フ
ェニルヒドラゾン、4−メトキシナフタレン−1−アル
デヒド−1−べンジル−1−フェニルヒドラゾンなどが
ある。
【0069】一般式化5で表せられる化合物には、例え
ば、4−メトキシベンズアルデヒド−1−メチル−1−
フェニルヒドラゾン、2,4−ジメトキシベンズアルデ
ヒド−1−ベンジル−1−フェニルヒドラゾン、4−ジ
エチルアミノベンズアルデヒド−1,1−ジフェニルヒ
ドラゾン、4−メトキシベンズアルデヒド−1−ベンジ
ル−1−(4−メトキシ)フェニルヒドラゾン、4−ジ
フェニルアミノベンズアルデヒド−1−ベンジル−1−
フェニルヒドラゾン、4−ジベンジルアミノベンズアル
デヒド−1,1−ジフェニルヒドラゾンなどがある。ま
た、一般式化16で表せられる化合物には、例えば、
1,1−ビス(4−ジベンジルアミノフェニル)プロパ
ン、トリス(4−ジエチルアミノフェニル)メタン、
1,1−ビス(4−ジベンジルアミノフェニル)プロパ
ン、2,2’−ジメチル−4,4’−ビス(ジエチルア
ミノ)−トリフェニルメタンなどがある。
ば、4−メトキシベンズアルデヒド−1−メチル−1−
フェニルヒドラゾン、2,4−ジメトキシベンズアルデ
ヒド−1−ベンジル−1−フェニルヒドラゾン、4−ジ
エチルアミノベンズアルデヒド−1,1−ジフェニルヒ
ドラゾン、4−メトキシベンズアルデヒド−1−ベンジ
ル−1−(4−メトキシ)フェニルヒドラゾン、4−ジ
フェニルアミノベンズアルデヒド−1−ベンジル−1−
フェニルヒドラゾン、4−ジベンジルアミノベンズアル
デヒド−1,1−ジフェニルヒドラゾンなどがある。ま
た、一般式化16で表せられる化合物には、例えば、
1,1−ビス(4−ジベンジルアミノフェニル)プロパ
ン、トリス(4−ジエチルアミノフェニル)メタン、
1,1−ビス(4−ジベンジルアミノフェニル)プロパ
ン、2,2’−ジメチル−4,4’−ビス(ジエチルア
ミノ)−トリフェニルメタンなどがある。
【0070】一般式化7で表せられる化合物には、例え
ば、9−(4−ジエチルアミノスチリル)アントラセ
ン、9−ブロム−10−(4−ジエチルアミノスチリ
ル)アントラセンなどがある。また、一般式化8で表せ
られる化合物には、例えば、9−(4−ジメチルアミノ
ベンジリデン)フルオレン、3−(9−フルオレニリデ
ン)−9−エチルカルバゾールなどがある。また、一般
式化10で表せられる化合物には、例えば、1,2−ビ
ス(4−ジエチルアミノスチリル)べンゼン、1,2−
ビス(2,4−ジメトキシスチリル)ベンゼンなどがあ
る。
ば、9−(4−ジエチルアミノスチリル)アントラセ
ン、9−ブロム−10−(4−ジエチルアミノスチリ
ル)アントラセンなどがある。また、一般式化8で表せ
られる化合物には、例えば、9−(4−ジメチルアミノ
ベンジリデン)フルオレン、3−(9−フルオレニリデ
ン)−9−エチルカルバゾールなどがある。また、一般
式化10で表せられる化合物には、例えば、1,2−ビ
ス(4−ジエチルアミノスチリル)べンゼン、1,2−
ビス(2,4−ジメトキシスチリル)ベンゼンなどがあ
る。
【0071】一般式化11で表せられる化合物には、例
えば、3−スチリル−9−エチルカルバゾール、3−
(4−メトキシスチリル)−9−エチルカルバゾールな
どがある。また、一般式化12で表せられる化合物に
は、例えば、4−ジフェニルアミノスチルベン、4−ジ
ベンジルアミノスチルベン、4−ジトリルアミノスチル
ベン、1−(4−ジフェニルアミノスチリル)ナフタレ
ン、1−(4−ジエチルアミノスチリル)ナフタレンな
どがある。
えば、3−スチリル−9−エチルカルバゾール、3−
(4−メトキシスチリル)−9−エチルカルバゾールな
どがある。また、一般式化12で表せられる化合物に
は、例えば、4−ジフェニルアミノスチルベン、4−ジ
ベンジルアミノスチルベン、4−ジトリルアミノスチル
ベン、1−(4−ジフェニルアミノスチリル)ナフタレ
ン、1−(4−ジエチルアミノスチリル)ナフタレンな
どがある。
【0072】一般式化13で表せられる化合物には、例
えば、4’−ジフェニルアミノ−α−フェニルスチルベ
ン、4’−ビス(4−メチルフェニル)アミノ−α−フ
ェニルスチルベンなどがある。また、一般式化15で表
せられる化合物には、例えば、1−フェニル−3−(4
−ジエチルアミノスチリル)−5−(4−ジエチルアミ
ノフェニル)ピラゾリン、1−フェニル−3−(4−ジ
メチルアミノスチリル)−5−(4−ジメチルアミノフ
ェニル)ピラゾリンなどがある。
えば、4’−ジフェニルアミノ−α−フェニルスチルベ
ン、4’−ビス(4−メチルフェニル)アミノ−α−フ
ェニルスチルベンなどがある。また、一般式化15で表
せられる化合物には、例えば、1−フェニル−3−(4
−ジエチルアミノスチリル)−5−(4−ジエチルアミ
ノフェニル)ピラゾリン、1−フェニル−3−(4−ジ
メチルアミノスチリル)−5−(4−ジメチルアミノフ
ェニル)ピラゾリンなどがある。
【0073】一般式化16で表せられる化合物には、例
えば、2,5−ビス(4−ジエチルアミノフェニル)−
1,3,4−オキサジアゾール、2−N,N−ジフェニ
ルアミノ−5−(4−ジエチルアミノフェニル)−1,
3,4−オキサジアゾール、2−(4−ジメチルアミノ
フェニル)−5−(4−ジエチルアミノフェニル)1,
3,4−オキサジアゾールなどがある。また、一般式化
17で表せられる化合物には、例えば、2−N,N−ジ
フェニルアミノ−5−(N−エチルカルバゾール−3−
イル)−1,3,4−オキサジアゾール、2−(4−ジ
エチルアミノフェニル)−5−(N−エチルカルバゾー
ル−3−イル)−1,3,4−オキサジアゾールなどが
ある。
えば、2,5−ビス(4−ジエチルアミノフェニル)−
1,3,4−オキサジアゾール、2−N,N−ジフェニ
ルアミノ−5−(4−ジエチルアミノフェニル)−1,
3,4−オキサジアゾール、2−(4−ジメチルアミノ
フェニル)−5−(4−ジエチルアミノフェニル)1,
3,4−オキサジアゾールなどがある。また、一般式化
17で表せられる化合物には、例えば、2−N,N−ジ
フェニルアミノ−5−(N−エチルカルバゾール−3−
イル)−1,3,4−オキサジアゾール、2−(4−ジ
エチルアミノフェニル)−5−(N−エチルカルバゾー
ル−3−イル)−1,3,4−オキサジアゾールなどが
ある。
【0074】一般式化18で表せられるベンジジン化合
物には、例えば、N,N’−ジフェニル−N,N’−ビ
ス(3−メチルフェニル)−[1,1’−ビフェニル]
−4,4’−ジアミン、3,3’−ジメチル−N,N,
N’,N’−テトラキス(4−メチルフェニル)−
[1,1’−ビフェニル]−4,4’−ジアミンなどが
ある。また、一般式化19で表せられるビフェニルアミ
ン化合物には、例えば、4’−メトキシ−N,N−ジフ
ェニル−[1,1’−ビフェニル]−4−アミン、4’
−メチル−N,N−ビス(4−メチルフェニル)−
[1,1’−ビフェニル]−4−アミン、4’−メトキ
シ−N,N−ビス(4−メチルフェニル)−[1,1’
−ビフェニル]−4−アミンなどがある。
物には、例えば、N,N’−ジフェニル−N,N’−ビ
ス(3−メチルフェニル)−[1,1’−ビフェニル]
−4,4’−ジアミン、3,3’−ジメチル−N,N,
N’,N’−テトラキス(4−メチルフェニル)−
[1,1’−ビフェニル]−4,4’−ジアミンなどが
ある。また、一般式化19で表せられるビフェニルアミ
ン化合物には、例えば、4’−メトキシ−N,N−ジフ
ェニル−[1,1’−ビフェニル]−4−アミン、4’
−メチル−N,N−ビス(4−メチルフェニル)−
[1,1’−ビフェニル]−4−アミン、4’−メトキ
シ−N,N−ビス(4−メチルフェニル)−[1,1’
−ビフェニル]−4−アミンなどがある。
【0075】一般式化20で表せられるトリアリールア
ミン化合物には、例えば、1−ジフェニルアミノピレ
ン、1−ジ(p−トリルアミノ)ピレンなどがある。ま
た、一般式化21で表せられるジオレフィン芳香族化合
物には、例えば、1,4−ビス(4−ジフェニルアミノ
スチリル)ベンゼン、1,4−ビス[4−ジ(p−トリ
ル)アミノスチリル]ベンゼンなどがある。また、一般
式化22で表せられるスチリルピレン化合物には、例え
ば、1−(4−ジフェニルアミノスチリル)ピレン、1
−[4−ジ(p−トリル)アミノスチリル]ピレンなど
がある。
ミン化合物には、例えば、1−ジフェニルアミノピレ
ン、1−ジ(p−トリルアミノ)ピレンなどがある。ま
た、一般式化21で表せられるジオレフィン芳香族化合
物には、例えば、1,4−ビス(4−ジフェニルアミノ
スチリル)ベンゼン、1,4−ビス[4−ジ(p−トリ
ル)アミノスチリル]ベンゼンなどがある。また、一般
式化22で表せられるスチリルピレン化合物には、例え
ば、1−(4−ジフェニルアミノスチリル)ピレン、1
−[4−ジ(p−トリル)アミノスチリル]ピレンなど
がある。
【0076】なお、電子輸送物質としては、例えばクロ
ルアニル、ブロムアニル、テトラシノエチレン、テトラ
シアノキノジメタン、2,4,7−トリニトロ−9−フ
ルオレノン、2,4,5,7−テトラニトロ−9−フル
オレノン、2,4,5,7−テトラニトロキサントン、
2,4,8−トリニトロチオキサントン、2,6,8−
トリニトロ−インデノ4H−インデノ[1,2−b]チ
オフェン−4−オン、1,3,7−トリニトロジベンゾ
チオフェン−5,5−ジオキサイド、3,5−ジメチル
−3’,5’−ジ−tert−ブチル−4,4’−ジフ
ェノキノンなどがある。これらの電荷輸送物質は単独又
は2種以上混合して用いられる。
ルアニル、ブロムアニル、テトラシノエチレン、テトラ
シアノキノジメタン、2,4,7−トリニトロ−9−フ
ルオレノン、2,4,5,7−テトラニトロ−9−フル
オレノン、2,4,5,7−テトラニトロキサントン、
2,4,8−トリニトロチオキサントン、2,6,8−
トリニトロ−インデノ4H−インデノ[1,2−b]チ
オフェン−4−オン、1,3,7−トリニトロジベンゾ
チオフェン−5,5−ジオキサイド、3,5−ジメチル
−3’,5’−ジ−tert−ブチル−4,4’−ジフ
ェノキノンなどがある。これらの電荷輸送物質は単独又
は2種以上混合して用いられる。
【0077】
【実施例】以下、本発明を実施例により詳細に説明す
る。
る。
【0078】実施例1 下記トリスアゾ顔料(P1) 1g 下記ビスアゾ顔料(P2) 1g NaCl 40g を5mmφのPSZボール100gを入れた50ccの
ガラス容器に入れ5日間ボールミリングを行った。次に
イオン交換水100ccでNaClを溶解した顔料の分
散液をガラス容器から取り出し、フィルターで濾過した
後更に900ccのイオン交換水で顔料を洗浄した。洗
浄後の顔料は120℃温度下で3日間減圧乾燥した。こ
のソルトミリング処理したアゾ顔料をSP−1とする。
ガラス容器に入れ5日間ボールミリングを行った。次に
イオン交換水100ccでNaClを溶解した顔料の分
散液をガラス容器から取り出し、フィルターで濾過した
後更に900ccのイオン交換水で顔料を洗浄した。洗
浄後の顔料は120℃温度下で3日間減圧乾燥した。こ
のソルトミリング処理したアゾ顔料をSP−1とする。
【化23】
【化24】 SP−1 0.25g ポリビニルブチラール樹脂(UCC社製XYHL) のシクロヘキサノン2%溶液 5.0g シクロヘキサノン 7g を5mmφのPSZボール100gを入れた50ccの
ガラス容器に入れ5日間ボールミリングを行った後、シ
クロヘキサノンを10g追加し更に1日ボールミリング
をおこなってCGL塗工液を作成した。アルミ蒸着をし
た75μmのポリエステルフィルム上に上記のCGL塗
工液を塗工した後80℃で3分間加熱乾燥し、0.2μ
mの厚さのCGLを形成した。次に、下記組成のCTL
塗工液を作成し、前記CGL上にブレード塗工を行った
後80℃ ポリカーボネート樹脂(帝人化成社製C1400) 10g 下記化学構造式のα−フェニルスチルベン化合物(a) 8g ジクロロメタン 72g で加熱乾燥し、更に120℃で10分間加熱乾燥して約
20μmのCTL膜を形成し感光体を作成した。
ガラス容器に入れ5日間ボールミリングを行った後、シ
クロヘキサノンを10g追加し更に1日ボールミリング
をおこなってCGL塗工液を作成した。アルミ蒸着をし
た75μmのポリエステルフィルム上に上記のCGL塗
工液を塗工した後80℃で3分間加熱乾燥し、0.2μ
mの厚さのCGLを形成した。次に、下記組成のCTL
塗工液を作成し、前記CGL上にブレード塗工を行った
後80℃ ポリカーボネート樹脂(帝人化成社製C1400) 10g 下記化学構造式のα−フェニルスチルベン化合物(a) 8g ジクロロメタン 72g で加熱乾燥し、更に120℃で10分間加熱乾燥して約
20μmのCTL膜を形成し感光体を作成した。
【化25】
【0079】実施例2 実施例1のCTL塗工液中のα−フェニルスチルベン化
合物(a)をα−フェニルスチルベン化合物(b)に代
えた以外は実施例1と同様に感光体を作成した。
合物(a)をα−フェニルスチルベン化合物(b)に代
えた以外は実施例1と同様に感光体を作成した。
【化26】
【0080】比較例1 実施例1のCGL液に使用したSP−1の代わりにソル
トミリング処理しないアゾ顔料P1を用いた以外は実施
例1と同様に感光体を作成した。
トミリング処理しないアゾ顔料P1を用いた以外は実施
例1と同様に感光体を作成した。
【0081】比較例2 実施例2のCGL液に使用したソルトミリングした混合
顔料SP−1の代わりにソルトミリング処理しないアゾ
顔料P1を用いた以外は実施例1と同様に感光体を作成
した。
顔料SP−1の代わりにソルトミリング処理しないアゾ
顔料P1を用いた以外は実施例1と同様に感光体を作成
した。
【0082】実施例1、2、比較例1、2で作成した感
光体を、川口電機社製の静電特性測定装置EPA810
0で−5.5Kvで2秒間帯電した時の帯電電位V2と
感光体を−800voltsに帯電した後、2856Kのタ
ングステンランプの光4.5luxを照射して白色感度
を測定した。更に780nm(半値幅20nm)のバン
ドパスフィルターを通して照射して780nm光に対す
る光感度を測定した。結果を表17に示す。表中、E1/
10(lux.sec)及びE1/10(μJ/cm2)は各々表面電位が
−800〜−80voltsに減衰するに必要な光量感度を
表している。
光体を、川口電機社製の静電特性測定装置EPA810
0で−5.5Kvで2秒間帯電した時の帯電電位V2と
感光体を−800voltsに帯電した後、2856Kのタ
ングステンランプの光4.5luxを照射して白色感度
を測定した。更に780nm(半値幅20nm)のバン
ドパスフィルターを通して照射して780nm光に対す
る光感度を測定した。結果を表17に示す。表中、E1/
10(lux.sec)及びE1/10(μJ/cm2)は各々表面電位が
−800〜−80voltsに減衰するに必要な光量感度を
表している。
【0083】
【表17】 ソルトミリング処理したアゾ顔料を用いた感光体は未処
理の顔料を用いた場合に比べ可視光域から近赤外光領域
の光感度が2倍増感されている。
理の顔料を用いた場合に比べ可視光域から近赤外光領域
の光感度が2倍増感されている。
【0084】実施例3 実施例1のビスアゾ顔料P2の代わりにP3を用いた以
外は実施例1と同様にしてソルトミリング処理した混合
顔料SP−2を作成し、その顔料を用いた以外は実施例
1と同様に感光体を作成した。実施例1と同様に帯電電
位と感度を測定した。結果を表19に示す。
外は実施例1と同様にしてソルトミリング処理した混合
顔料SP−2を作成し、その顔料を用いた以外は実施例
1と同様に感光体を作成した。実施例1と同様に帯電電
位と感度を測定した。結果を表19に示す。
【化27】
【0085】実施例4 実施例1のトリスアゾ顔料P1の代わりにP4を用いた
以外は実施例1と同様にしてソルトミリング処理して、
混合顔料SP−3を作成し、その顔料を用いた以外は実
施例1と同様に感光体を作成した。実施例1と同様に帯
電電位と感度を測定した。結果を表19に示す。
以外は実施例1と同様にしてソルトミリング処理して、
混合顔料SP−3を作成し、その顔料を用いた以外は実
施例1と同様に感光体を作成した。実施例1と同様に帯
電電位と感度を測定した。結果を表19に示す。
【化28】
【0086】比較例3 比較例1の顔料P1の代わりに顔料P4を用いた以外は
比較例1と同様にして感光体を作成し、実施例3と同様
にして帯電電位と感度を測定した。結果を表18に示
す。
比較例1と同様にして感光体を作成し、実施例3と同様
にして帯電電位と感度を測定した。結果を表18に示
す。
【0087】
【表18】
【0088】実施例5 SP−1 2.5g シクロヘキサノン 30g をメノウボールの入ったガラスポット容器に入れ3日間
ボールミリングを行い顔料分散液A液を作成した。次
に、下記組成の感光層塗工液を作成した。 ポリカーボネート樹脂(帝人化成社製C−1400) 5g α−フェニルスチルベン化合物(a) 5g 2,5−ジターシャルブチルハイドロキノン 0.05g 上記顔料分散液A液 15g THF 30g 中間層としてアルコール可溶性ポリアミド樹脂(東レ社
製アミランCM8000)を0.3μm塗布したアルミ
蒸着ポリエステルフィルム上にこの感光層塗工液を塗工
した後80°で5分間加熱乾燥し、更に120で1時間
加熱乾燥して約20μmの感光層膜を形成し感光体を作
成した。実施例1と同様に評価したところ、V2=−8
50v、780nm光に対する感度E1/10=0.68
(μJ/cm2)であった。
ボールミリングを行い顔料分散液A液を作成した。次
に、下記組成の感光層塗工液を作成した。 ポリカーボネート樹脂(帝人化成社製C−1400) 5g α−フェニルスチルベン化合物(a) 5g 2,5−ジターシャルブチルハイドロキノン 0.05g 上記顔料分散液A液 15g THF 30g 中間層としてアルコール可溶性ポリアミド樹脂(東レ社
製アミランCM8000)を0.3μm塗布したアルミ
蒸着ポリエステルフィルム上にこの感光層塗工液を塗工
した後80°で5分間加熱乾燥し、更に120で1時間
加熱乾燥して約20μmの感光層膜を形成し感光体を作
成した。実施例1と同様に評価したところ、V2=−8
50v、780nm光に対する感度E1/10=0.68
(μJ/cm2)であった。
【0089】比較例5 P1 2.5g シクロヘキサノン 30g をメノウボールの入ったガラスポット容器に入れ3日間
ボールミリングを行い顔料分散液B液を作成した。次
に、下記組成の感光層塗工液を作成した。 ポリカーボネート樹脂(帝人化成社製C−1400) 5g α−フェニルスチルベン化合物(a) 5g 2,5−ジターシャルブチルハイドロキノン 0.05g 上記混合顔料液B液 15g THF 30g 中間層としてアルコール可溶性ポリアミド樹脂(東レ社
製アミランCM8000)を0.3μm塗布したアルミ
蒸着ポリエステルフィルム上にこの感光層塗工液をブレ
ード塗工した後80℃で5分間加熱乾燥し、更に120
で1時間加熱乾燥して約20μmの感光層膜を形成し感
光体を作成した。実施例1と同様に評価したところ、V
2=−820v、E1/10=1.10(μJ/cm2)であった。
ボールミリングを行い顔料分散液B液を作成した。次
に、下記組成の感光層塗工液を作成した。 ポリカーボネート樹脂(帝人化成社製C−1400) 5g α−フェニルスチルベン化合物(a) 5g 2,5−ジターシャルブチルハイドロキノン 0.05g 上記混合顔料液B液 15g THF 30g 中間層としてアルコール可溶性ポリアミド樹脂(東レ社
製アミランCM8000)を0.3μm塗布したアルミ
蒸着ポリエステルフィルム上にこの感光層塗工液をブレ
ード塗工した後80℃で5分間加熱乾燥し、更に120
で1時間加熱乾燥して約20μmの感光層膜を形成し感
光体を作成した。実施例1と同様に評価したところ、V
2=−820v、E1/10=1.10(μJ/cm2)であった。
【0090】実施例6 トリスアゾ顔料(P1) 1g ビスアゾ顔料(P2) 1g NaCl 20g シクロヘキサノン 20g を5mmφのPSZボール100gを入れた50ccの
ガラス容器に入れ5日間ボールミリングを行った。次に
メチルエチルケトン50ccでガラス容器からアゾ顔料
とNaClを取り出し濾過によって溶媒を除去する。次
にイオン交換水500ccでNaClを溶解し、アゾ顔
料を洗浄した。洗浄後の顔料は120℃温度下で5日間
減圧乾燥した。このソルベントソルトミリング処理した
アゾ顔料をSSP1とする。実施例1のアゾ顔料SP−
1をSSP−1に代えた以外は実施例1と同様に感光体
を作成し、帯電性と感度を測定した。 V2=−810(volts) E1/10=0.52(lux.sec) E1/10=0.45(uJ/cm2) 実施例1の結果と較べるとソルベントソルトミリングを
行なうと乾式ミリングより更に増感効果が促進される事
がわかる。
ガラス容器に入れ5日間ボールミリングを行った。次に
メチルエチルケトン50ccでガラス容器からアゾ顔料
とNaClを取り出し濾過によって溶媒を除去する。次
にイオン交換水500ccでNaClを溶解し、アゾ顔
料を洗浄した。洗浄後の顔料は120℃温度下で5日間
減圧乾燥した。このソルベントソルトミリング処理した
アゾ顔料をSSP1とする。実施例1のアゾ顔料SP−
1をSSP−1に代えた以外は実施例1と同様に感光体
を作成し、帯電性と感度を測定した。 V2=−810(volts) E1/10=0.52(lux.sec) E1/10=0.45(uJ/cm2) 実施例1の結果と較べるとソルベントソルトミリングを
行なうと乾式ミリングより更に増感効果が促進される事
がわかる。
【0091】実施例7 実施例1のソルトミリング用の塩をNaClの代わりに
KIを用いた他は実施例1と同様にソルトミリングを行
い、実施例1と同様に感光体を作成し評価した。
KIを用いた他は実施例1と同様にソルトミリングを行
い、実施例1と同様に感光体を作成し評価した。
【0092】実施例8 実施例1のソルトミリング用の塩をNaClの代わりに
KBrを用いた他は実施例1と同様にソルトミリングを
行い、実施例1と同様に感光体を作成し評価した。
KBrを用いた他は実施例1と同様にソルトミリングを
行い、実施例1と同様に感光体を作成し評価した。
【0093】実施例9 実施例1のソルトミリング用の塩をNaClの代わりに
NaNO3を用いた他は実施例1と同様にソルトミリン
グを行い、実施例1と同様に感光体を作成し評価した。
NaNO3を用いた他は実施例1と同様にソルトミリン
グを行い、実施例1と同様に感光体を作成し評価した。
【0094】実施例10 実施例1のソルトミリング用の塩をNaClの代わりに
CH3COONaを用いた他は実施例1と同様にソルト
ミリングを行い、実施例1と同様に感光体を作成し評価
した。
CH3COONaを用いた他は実施例1と同様にソルト
ミリングを行い、実施例1と同様に感光体を作成し評価
した。
【0095】実施例11 実施例1のソルトミリング用の塩をNaClの代わりに
K2SO4を用いた他は実施例1と同様にソルトミリング
を行い、実施例1と同様に感光体を作成し評価した。表
19に実施例7〜11の評価結果を示す。
K2SO4を用いた他は実施例1と同様にソルトミリング
を行い、実施例1と同様に感光体を作成し評価した。表
19に実施例7〜11の評価結果を示す。
【0096】
【表19】 以上の結果から明らかな様にソルトミリング処理を施し
たアゾ顔料を用いて作成した感光体は高い帯電電位特性
を示し、感度が著しく向上している。
たアゾ顔料を用いて作成した感光体は高い帯電電位特性
を示し、感度が著しく向上している。
【0097】
【発明の効果】本発明の光導電性混合顔料は、2種以上
の顔料を同一容器内で高い機械的力を加えて無機塩と同
時に粉砕混合する所謂ソルトミリングにより得られたも
のであるから、可視光域から近赤外光域まで高い感度を
有するものであることができる。従って、かかる混合顔
料を用いて設計した感光体は可視光およびっ近赤外光に
対して高い感度を有する。特に、顔料として前記一般式
(I)で表わされるトリスアゾ顔料と前記一般式(II)
で表わされるビスアゾ顔料を用い、これらを混合してソ
ルトミリングすることによって得られた混合顔料は可視
光に対する感度が低下せず、しかもこれらの顔料を単独
で用いて感光体を設計した場合より可視光および近赤外
光に対して高い感度を有する感光体を与える。
の顔料を同一容器内で高い機械的力を加えて無機塩と同
時に粉砕混合する所謂ソルトミリングにより得られたも
のであるから、可視光域から近赤外光域まで高い感度を
有するものであることができる。従って、かかる混合顔
料を用いて設計した感光体は可視光およびっ近赤外光に
対して高い感度を有する。特に、顔料として前記一般式
(I)で表わされるトリスアゾ顔料と前記一般式(II)
で表わされるビスアゾ顔料を用い、これらを混合してソ
ルトミリングすることによって得られた混合顔料は可視
光に対する感度が低下せず、しかもこれらの顔料を単独
で用いて感光体を設計した場合より可視光および近赤外
光に対して高い感度を有する感光体を与える。
Claims (10)
- 【請求項1】 2種類以上の混合顔料であって、ソルト
ミリング法により形成されたものであることを特徴とす
る光導電性混合顔料。 - 【請求項2】 ソルトミリングが乾式ソルトミリングで
あることを特徴とする請求項1記載の光導電性顔料。 - 【請求項3】 ソルトミリングが有機溶媒の存在下で行
なわれることを特徴とする請求項1記載の光導電性顔
料。 - 【請求項4】 混合顔料の1種が少なくとも下記一般式
(I)で表されるトリスアゾ顔料であることを特徴とす
る請求項1記載の光導電性混合顔料。 【化1】 (式中、R1、R2、R3は水素、ハロゲン原子、アルキ
ル基、アルコキシ基又はシアノ基を表し、Ar1、A
r2、Ar3は各々カプラー残基を表す。R1、R2、R3
及びAr1、Ar2、Ar3は同一でも異ってもよい。) - 【請求項5】 混合顔料の1種が少なくとも下記一般式
(II)で表されるジスアゾ顔料であることを特徴とする
請求項1記載の光導電性混合顔料。 【化2】 (式中、R4、R5は水素、ハロゲン原子、アルキル基、
アルコキシ基又はシアノ基を表し、Ar4、Ar5は各々
カプラー残基を表す。R4、R5及びAr4、Ar5は同一
でも異ってもよい。) - 【請求項6】 混合顔料が少なくとも上記一般式(I)
で表されるトリスアゾ顔料と上記一般式(II)で表され
るビスアゾ顔料を含有することを特徴とする請求項1記
載の光導電性混合顔料。 - 【請求項7】 ソルトミリングに用いられる塩がNa塩
又は/及びK塩であることを特徴とする請求項1記載の
光導電性混合顔料。 - 【請求項8】 導電性支持体上に光導電性層を形成して
なる電子写真感光体において、該光導電性層を形成する
少なくとも一層中に請求項1乃至7いずれか記載の光導
電性混合顔料が含有されていることを特徴とする電子写
真感光体。 - 【請求項9】 光導電性層が少なくとも電荷発生層と電
荷輸送層よりなっている積層感光層であることを特徴と
する請求項8記載の電子写真感光体。 - 【請求項10】 光導電層が少なくとも1種以上の電荷
輸送物質と該混合顔料と樹脂とからなる層で構成されて
いることを特徴とする請求項8記載の電子写真感光体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18551494A JPH0829992A (ja) | 1994-07-14 | 1994-07-14 | 光導電性混合顔料及びかかる顔料を用いた電子写真感光体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18551494A JPH0829992A (ja) | 1994-07-14 | 1994-07-14 | 光導電性混合顔料及びかかる顔料を用いた電子写真感光体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0829992A true JPH0829992A (ja) | 1996-02-02 |
Family
ID=16172123
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18551494A Pending JPH0829992A (ja) | 1994-07-14 | 1994-07-14 | 光導電性混合顔料及びかかる顔料を用いた電子写真感光体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0829992A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002123059A (ja) * | 2000-10-16 | 2002-04-26 | Japan Science & Technology Corp | 光電流増倍型感光体装置 |
| JP2008013656A (ja) * | 2006-07-05 | 2008-01-24 | Ako Kasei Co Ltd | ソルベントソルトミリングに適した塩 |
-
1994
- 1994-07-14 JP JP18551494A patent/JPH0829992A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002123059A (ja) * | 2000-10-16 | 2002-04-26 | Japan Science & Technology Corp | 光電流増倍型感光体装置 |
| JP2008013656A (ja) * | 2006-07-05 | 2008-01-24 | Ako Kasei Co Ltd | ソルベントソルトミリングに適した塩 |
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