JPH08301690A - 液相エピタキシャル成長方法 - Google Patents
液相エピタキシャル成長方法Info
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- JPH08301690A JPH08301690A JP11142895A JP11142895A JPH08301690A JP H08301690 A JPH08301690 A JP H08301690A JP 11142895 A JP11142895 A JP 11142895A JP 11142895 A JP11142895 A JP 11142895A JP H08301690 A JPH08301690 A JP H08301690A
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Landscapes
- Led Devices (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】昇温・降温工程を繰り返す連続多段成長法を採
用して昇温温度を抑えることによって、高温に起因する
装置上のトラブルを解消し、容易に厚膜を形成でき、し
かも厚膜成長とその上に形成するエピタキシャル層の成
長とを1回の成長工程で行うことを可能とする。 【構成】成長用原料溶液7に基板3を接触させて所定の
温度から冷却しながら基板3上に第1のエピタキシャル
層9を成長する。成長後、基板3から分離した成長用原
料溶液7に成長用原料溶液7を構成する溶質と同一の補
充原料8を補充し、再度昇温して溶質を補充した成長用
原料溶液7に基板3を接触させて再度冷却しながら第1
のエピタキシャル層9と略同一組成の第2のエピタキシ
ャル層10を連続して成長させる。
用して昇温温度を抑えることによって、高温に起因する
装置上のトラブルを解消し、容易に厚膜を形成でき、し
かも厚膜成長とその上に形成するエピタキシャル層の成
長とを1回の成長工程で行うことを可能とする。 【構成】成長用原料溶液7に基板3を接触させて所定の
温度から冷却しながら基板3上に第1のエピタキシャル
層9を成長する。成長後、基板3から分離した成長用原
料溶液7に成長用原料溶液7を構成する溶質と同一の補
充原料8を補充し、再度昇温して溶質を補充した成長用
原料溶液7に基板3を接触させて再度冷却しながら第1
のエピタキシャル層9と略同一組成の第2のエピタキシ
ャル層10を連続して成長させる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、徐冷法による液相エピ
タキシャル成長方法に係り、特に膜厚の厚いエピタキシ
ャル層を成長させるのに好適な方法に関する。
タキシャル成長方法に係り、特に膜厚の厚いエピタキシ
ャル層を成長させるのに好適な方法に関する。
【0002】
【従来の技術】GaAlAs系の基板除去タイプのダブ
ルヘテロ構造発光ダイオード(DH構造LED)を、徐
冷法による液相エピタキシャル成長方法で成長する場
合、GaAs基板に代わるべき、少なくとも120μm
以上の厚さのGaAlAsクラッド層が必要になる。こ
れは最終的にGaAs基板を除去してしまうために、機
械的強度を確保する厚さのエピタキシャル層が必要にな
るためである。
ルヘテロ構造発光ダイオード(DH構造LED)を、徐
冷法による液相エピタキシャル成長方法で成長する場
合、GaAs基板に代わるべき、少なくとも120μm
以上の厚さのGaAlAsクラッド層が必要になる。こ
れは最終的にGaAs基板を除去してしまうために、機
械的強度を確保する厚さのエピタキシャル層が必要にな
るためである。
【0003】従来、120μm以上の厚さのGaAlA
s層(通常Ga1-x Alx As:x>0.4)を成長す
るには、次のような方法が一般的に採用されている。
s層(通常Ga1-x Alx As:x>0.4)を成長す
るには、次のような方法が一般的に採用されている。
【0004】(1) 炉を1000℃以上の高温度に昇温す
ることによって徐冷期間を延ばし、1回の徐冷により厚
膜成長を行う。
ることによって徐冷期間を延ばし、1回の徐冷により厚
膜成長を行う。
【0005】(2) 通常のエピタキシャル成長方法とは異
なる、例えば徐冷法で温度差法を付加した方法で厚膜を
成長した後、炉から一旦取り出し、表面研磨を行った後
に、再度炉に入れて、その表面に発光層、クラッド層の
エピタキシャル成長を行う。
なる、例えば徐冷法で温度差法を付加した方法で厚膜を
成長した後、炉から一旦取り出し、表面研磨を行った後
に、再度炉に入れて、その表面に発光層、クラッド層の
エピタキシャル成長を行う。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述した従来
の方法には次のような問題があった。
の方法には次のような問題があった。
【0007】(1) 1000℃を超える高温に耐えるエピ
タキシャル成長装置を構成・維持することは難しく、そ
のため装置上のトラブルが発生しやすい。
タキシャル成長装置を構成・維持することは難しく、そ
のため装置上のトラブルが発生しやすい。
【0008】(2) 基板除去タイプのDH構造LEDを作
製するために、2回に分けてエピタキシャル成長させる
必要があるため、工程が増え手間がかかるためコスト高
になる。また、炉からウェハを一旦取り出すため、ウェ
ハ汚染の可能性が増え、LEDの特性劣化につながる。
製するために、2回に分けてエピタキシャル成長させる
必要があるため、工程が増え手間がかかるためコスト高
になる。また、炉からウェハを一旦取り出すため、ウェ
ハ汚染の可能性が増え、LEDの特性劣化につながる。
【0009】なお、従来、1層目を成長した後、同一成
長溶液にドーパントを追加して2層目をエピタキシャル
成長させる方法が知られているが(例えば特開平5−1
7282号や特開昭56−148821号公報)、この
方法はドーパントの追加により異なる組成のエピタキシ
ャル層を成長するものであり、この方法では同一組成の
エピタキシャル層を厚く成長させることはできない。
長溶液にドーパントを追加して2層目をエピタキシャル
成長させる方法が知られているが(例えば特開平5−1
7282号や特開昭56−148821号公報)、この
方法はドーパントの追加により異なる組成のエピタキシ
ャル層を成長するものであり、この方法では同一組成の
エピタキシャル層を厚く成長させることはできない。
【0010】本発明の目的は、昇温・降温工程を繰り返
す連続多段成長法を採用して昇温温度を抑えることによ
って、前記した従来技術の欠点を解消し、高温に起因す
る装置上のトラブルを解消し、容易に厚膜を形成でき、
しかも厚膜成長とその上に形成するエピタキシャル層の
成長とを1回の成長工程で行うことが可能な液相エピタ
キシャル成長方法を提供することにある。
す連続多段成長法を採用して昇温温度を抑えることによ
って、前記した従来技術の欠点を解消し、高温に起因す
る装置上のトラブルを解消し、容易に厚膜を形成でき、
しかも厚膜成長とその上に形成するエピタキシャル層の
成長とを1回の成長工程で行うことが可能な液相エピタ
キシャル成長方法を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は、徐冷法により
エピタキシャル層を成長する液相エピタキシャル成長方
法において、所定の温度から冷却しながら成長用原料溶
液に基板を接触させて基板上に第1のエピタキシャル層
を成長し、成長後、基板から分離した成長用原料溶液に
該成長用原料溶液を構成する溶質と同一の補充原料を補
充し、再度所定の温度に昇温して冷却しながら補充原料
を補充した成長用原料溶液に基板を接触させて第1のエ
ピタキシャル層と略同一組成の第2のエピタキシャル層
を連続して成長するようにしたものである。ここで、昇
温・降温の繰り返しは2回に限定されない。その都度溶
質を補充することにより3回以上繰り返して略同一組成
のエピタキシャル層を成長するようにしてもよい。
エピタキシャル層を成長する液相エピタキシャル成長方
法において、所定の温度から冷却しながら成長用原料溶
液に基板を接触させて基板上に第1のエピタキシャル層
を成長し、成長後、基板から分離した成長用原料溶液に
該成長用原料溶液を構成する溶質と同一の補充原料を補
充し、再度所定の温度に昇温して冷却しながら補充原料
を補充した成長用原料溶液に基板を接触させて第1のエ
ピタキシャル層と略同一組成の第2のエピタキシャル層
を連続して成長するようにしたものである。ここで、昇
温・降温の繰り返しは2回に限定されない。その都度溶
質を補充することにより3回以上繰り返して略同一組成
のエピタキシャル層を成長するようにしてもよい。
【0012】また、本発明は、昇温・降温を繰り返し
て、組成が略同一の第1および第2のエピタキシャル層
を成長して、合わせて120μm以上の厚膜を成長する
ようにしたものである。基板上に厚膜の液相エピタキシ
ャル層を成長するものであるから、基板やエピタキシャ
ル層の材料は限定されない。
て、組成が略同一の第1および第2のエピタキシャル層
を成長して、合わせて120μm以上の厚膜を成長する
ようにしたものである。基板上に厚膜の液相エピタキシ
ャル層を成長するものであるから、基板やエピタキシャ
ル層の材料は限定されない。
【0013】特に、基板除去タイプのGaAlAs系赤
色DH構造LEDに要求される膜厚の厚いGaAlAs
クラッド層を成長するには、基板としてGaAs、成長
用原料溶液の原料としてGa、GaAs、Al、補充原
料としてGaAs、Alをそれぞれ用いる。
色DH構造LEDに要求される膜厚の厚いGaAlAs
クラッド層を成長するには、基板としてGaAs、成長
用原料溶液の原料としてGa、GaAs、Al、補充原
料としてGaAs、Alをそれぞれ用いる。
【0014】
【作用】本発明の徐冷法の液相エピタキシャル成長方法
には、横型のスライドボート法が最も一般的であるが、
この他に縦型法を使用することができる。成長用原料溶
液にドーパントが添加されていれば、補充原料にも同一
のドーパントを添加して、1層目と2層目が略同じ組成
になるようにする。また、エピタキシャル層を連続して
成長させるとは、炉から取り出すことなく、同一炉内で
エピタキシャル層を基板上に続けて成長させることを意
味する。
には、横型のスライドボート法が最も一般的であるが、
この他に縦型法を使用することができる。成長用原料溶
液にドーパントが添加されていれば、補充原料にも同一
のドーパントを添加して、1層目と2層目が略同じ組成
になるようにする。また、エピタキシャル層を連続して
成長させるとは、炉から取り出すことなく、同一炉内で
エピタキシャル層を基板上に続けて成長させることを意
味する。
【0015】本発明のように、基板上に第1のエピタキ
シャル層を成長させると、溶質が消費されるため、成長
用原料溶液中の溶質が減少する。そこで、第2のエピタ
キシャル層を成長させるに際し、補充原料として不足分
の溶質を成長用原料溶液中に補充してやる。このとき溶
質のみを補充するので、2層目も1層目と略同一組成の
エピタキシャル層を成長することができる。
シャル層を成長させると、溶質が消費されるため、成長
用原料溶液中の溶質が減少する。そこで、第2のエピタ
キシャル層を成長させるに際し、補充原料として不足分
の溶質を成長用原料溶液中に補充してやる。このとき溶
質のみを補充するので、2層目も1層目と略同一組成の
エピタキシャル層を成長することができる。
【0016】厚いエピタキシャル層を1回の昇温・降温
工程で一気に成長させる場合は、徐冷期間を長く取らな
ければならないために昇温時の温度をかなり高温にもっ
ていく必要があるが、本発明のように、1層目と2層目
を2回に分けて成長させるときは、各工程で徐冷期間を
分担できるので、昇温時の温度を低く抑えることができ
る。
工程で一気に成長させる場合は、徐冷期間を長く取らな
ければならないために昇温時の温度をかなり高温にもっ
ていく必要があるが、本発明のように、1層目と2層目
を2回に分けて成長させるときは、各工程で徐冷期間を
分担できるので、昇温時の温度を低く抑えることができ
る。
【0017】また、本発明では、2回に分けて昇温・降
温工程を繰り返しているので、特別な方法を使うことな
く、通常の液相エピタキシャル成長方法で、120μm
以上の厚膜を容易に成長することができる。なお、溶質
を補充しつつ3回以上に分けて昇温・降温工程をくり返
すことで、さらに厚い膜厚を成長することも可能であ
る。
温工程を繰り返しているので、特別な方法を使うことな
く、通常の液相エピタキシャル成長方法で、120μm
以上の厚膜を容易に成長することができる。なお、溶質
を補充しつつ3回以上に分けて昇温・降温工程をくり返
すことで、さらに厚い膜厚を成長することも可能であ
る。
【0018】また、本発明のように、120μm以上の
膜厚のp型GaAlAsクラッド層を成長後、そのまま
連続して発光層およびクラッド層を成長させるようにす
ると、基板を途中で炉から取り出さなくてもよいので、
炉から取り出すことによる不純物汚染を防止することが
でき、また、エピタキシャル成長工程の簡略化を図るこ
とができる。
膜厚のp型GaAlAsクラッド層を成長後、そのまま
連続して発光層およびクラッド層を成長させるようにす
ると、基板を途中で炉から取り出さなくてもよいので、
炉から取り出すことによる不純物汚染を防止することが
でき、また、エピタキシャル成長工程の簡略化を図るこ
とができる。
【0019】
【実施例】以下に本発明の実施例を説明する。
【0020】(実施例1)横型のスライドボート法によ
りGaAs基板上にGa1-x Alx Asの厚膜をエピタ
キシャル成長する具体例を説明する。図1はスライドボ
ートを用いたエピタキシャル成長法の各工程を示す模式
図、図2はエピタキシャル成長の温度プログラムを示す
模式図である。
りGaAs基板上にGa1-x Alx Asの厚膜をエピタ
キシャル成長する具体例を説明する。図1はスライドボ
ートを用いたエピタキシャル成長法の各工程を示す模式
図、図2はエピタキシャル成長の温度プログラムを示す
模式図である。
【0021】スライドボートはグラファイト製で、溶液
溜1を設けた溶液ホルダ2の下に、基板3を保持する基
板ホルダ4をスライド自在に設け、溶液ホルダ2の上に
補充原料溜5を設けた補充原料ホルダ6をスライド自在
に設けて構成される。
溜1を設けた溶液ホルダ2の下に、基板3を保持する基
板ホルダ4をスライド自在に設け、溶液ホルダ2の上に
補充原料溜5を設けた補充原料ホルダ6をスライド自在
に設けて構成される。
【0022】基板ホルダ4にGaAs基板3をセット
し、溶液ホルダ2に設けた溶液溜1に成長用原料溶液7
となる原料をセットする。この原料は溶媒となるGa5
0g、溶質となるGaAs3.7gおよびAl290mg
で構成される。さらに補充原料ホルダ6に設けた補充原
料溜5に補充原料8として上記成長用原料溶液7を構成
する溶質と同一の補充原料であるGaAs1.3g、A
l120mgをセットする。
し、溶液ホルダ2に設けた溶液溜1に成長用原料溶液7
となる原料をセットする。この原料は溶媒となるGa5
0g、溶質となるGaAs3.7gおよびAl290mg
で構成される。さらに補充原料ホルダ6に設けた補充原
料溜5に補充原料8として上記成長用原料溶液7を構成
する溶質と同一の補充原料であるGaAs1.3g、A
l120mgをセットする。
【0023】基板3等をセットしたスライドボートを図
示しない炉内に入れて、炉内の雰囲気ガスをH2 ガスに
置換した後、基板ホルダ4を右側に引いて成長用原料溶
液7と基板3とを分離した状態で、炉内温度を950℃
まで昇温し(図1(a)、図2のa点)、そのまま30
分間保持してから基板ホルダ4を左側に押し出して基板
3を成長用原料溶液7と接触させる(図1(b)、図2
のb点)。そして徐冷することにより第1のエピタキシ
ャル層9を成長させ、750℃まで成長させた後、基板
ホルダ4を引き戻して基板3を成長用原料溶液7から一
旦分離する(図1(c)、図2のc点)。
示しない炉内に入れて、炉内の雰囲気ガスをH2 ガスに
置換した後、基板ホルダ4を右側に引いて成長用原料溶
液7と基板3とを分離した状態で、炉内温度を950℃
まで昇温し(図1(a)、図2のa点)、そのまま30
分間保持してから基板ホルダ4を左側に押し出して基板
3を成長用原料溶液7と接触させる(図1(b)、図2
のb点)。そして徐冷することにより第1のエピタキシ
ャル層9を成長させ、750℃まで成長させた後、基板
ホルダ4を引き戻して基板3を成長用原料溶液7から一
旦分離する(図1(c)、図2のc点)。
【0024】ここで、補充原料ホルダ6を左側に押し出
して溶液溜1内の成長用原料溶液7に補充原料8を補充
して、補充原料ホルダ6を引き戻す(図1(d)、
(e)、図2のd点、e点)。その後、再度950℃ま
で昇温して、そのまま30分間保持してから再度基板ホ
ルダ4を押し出して基板3を成長用原料溶液7と接触さ
せる(図1(f)、図2のf点)。そして再度750℃
まで徐冷することにより第2のエピタキシャル層10を
連続して成長させた後、基板ホルダ4を引き戻して基板
3を成長用原料溶液7から分離する(図1(g)、図2
のg点)。分離後、急冷して炉からスライドボートを取
り出す。
して溶液溜1内の成長用原料溶液7に補充原料8を補充
して、補充原料ホルダ6を引き戻す(図1(d)、
(e)、図2のd点、e点)。その後、再度950℃ま
で昇温して、そのまま30分間保持してから再度基板ホ
ルダ4を押し出して基板3を成長用原料溶液7と接触さ
せる(図1(f)、図2のf点)。そして再度750℃
まで徐冷することにより第2のエピタキシャル層10を
連続して成長させた後、基板ホルダ4を引き戻して基板
3を成長用原料溶液7から分離する(図1(g)、図2
のg点)。分離後、急冷して炉からスライドボートを取
り出す。
【0025】以上の成長工程により基板上に得られたG
a1-x Alx Asエピタキシャル層の膜厚とAl混晶比
を測定したところ、膜厚は第1層、第2層合わせて約1
50μmあることがわかった。また、Al混晶比xは、
各層とも、0.6から0.45の間にあり、略同一組成
になっていることがわかった。
a1-x Alx Asエピタキシャル層の膜厚とAl混晶比
を測定したところ、膜厚は第1層、第2層合わせて約1
50μmあることがわかった。また、Al混晶比xは、
各層とも、0.6から0.45の間にあり、略同一組成
になっていることがわかった。
【0026】(実施例2)基板除去タイプのAlGaA
s系赤色DH構造LED用エピタキシャルウェハを横型
のスライドボート法で作製した具体例を説明する。
s系赤色DH構造LED用エピタキシャルウェハを横型
のスライドボート法で作製した具体例を説明する。
【0027】スライドボートは、異なる3種類の成長用
原料溶液をそれぞれ溜める3つの溶液溜を溶液ホルダに
設けた点を除いて、実施例1のスライドボートと同じ構
成である。なお、補充原料を溜める補充原料溜は1つの
みであり、その補充原料は1つ目の溶液溜に入れられる
ようになっている。
原料溶液をそれぞれ溜める3つの溶液溜を溶液ホルダに
設けた点を除いて、実施例1のスライドボートと同じ構
成である。なお、補充原料を溜める補充原料溜は1つの
みであり、その補充原料は1つ目の溶液溜に入れられる
ようになっている。
【0028】このスライドボートを用いて、まず実施例
1と同じ成長条件で、p型GaAs基板上に第1のエピ
タキシャル層を1つ目の成長用原料溶液を用いて成長し
た後、1つ目の成長用原料溶液に補充原料を補充して第
2のエピタキシャル層を成長して、合わせて約150μ
mの膜厚のp型Ga1-x Alx Asクラッド層(x=
0.6〜0.45)を形成した。次に、2つ目の成長用
原料溶液を用いて厚さ1μmのp型Ga1-x Alx As
発光層(x=0.35)を連続して成長させ、さらに、
3つ目の成長用原料溶液を用いてn型Ga1-x Alx A
sクラッド層(x=0.6〜0.5)を連続して同一炉
内で成長させた。
1と同じ成長条件で、p型GaAs基板上に第1のエピ
タキシャル層を1つ目の成長用原料溶液を用いて成長し
た後、1つ目の成長用原料溶液に補充原料を補充して第
2のエピタキシャル層を成長して、合わせて約150μ
mの膜厚のp型Ga1-x Alx Asクラッド層(x=
0.6〜0.45)を形成した。次に、2つ目の成長用
原料溶液を用いて厚さ1μmのp型Ga1-x Alx As
発光層(x=0.35)を連続して成長させ、さらに、
3つ目の成長用原料溶液を用いてn型Ga1-x Alx A
sクラッド層(x=0.6〜0.5)を連続して同一炉
内で成長させた。
【0029】その後、エピタキシャルウェハを成長用原
料溶液から分離して、急冷した後、スライドボートを炉
から取り出した。得られたエピタキシャルウェハからp
型GaAs基板を除去し、全厚約200μmの基板除去
タイプの赤色DH構造LED用エピタキシャルウェハを
得た。これからLEDチップを作製し、LEDを作って
発光出力を測定したところ、通常のDH構造LEDの約
2倍の安定した出力値を示した。
料溶液から分離して、急冷した後、スライドボートを炉
から取り出した。得られたエピタキシャルウェハからp
型GaAs基板を除去し、全厚約200μmの基板除去
タイプの赤色DH構造LED用エピタキシャルウェハを
得た。これからLEDチップを作製し、LEDを作って
発光出力を測定したところ、通常のDH構造LEDの約
2倍の安定した出力値を示した。
【0030】
【発明の効果】本発明によれば、1回昇温して第1層を
成長した後、第1層を成長した成長用原料溶液に溶質を
補充して再昇温して第2層を成長するようにしたので、
昇温温度を低く抑えて同一組成のエピタキシャル層を成
長することができ、1回の昇温で一気に成長するものに
比して、高温による装置上のトラブルを解消することが
できる。
成長した後、第1層を成長した成長用原料溶液に溶質を
補充して再昇温して第2層を成長するようにしたので、
昇温温度を低く抑えて同一組成のエピタキシャル層を成
長することができ、1回の昇温で一気に成長するものに
比して、高温による装置上のトラブルを解消することが
できる。
【0031】また、本発明によれば、昇温と降温を繰り
返してエピタキシャル成長するようにしたので、所定厚
以上の厚膜を容易に形成することができる。
返してエピタキシャル成長するようにしたので、所定厚
以上の厚膜を容易に形成することができる。
【0032】また、本発明によれば、1回の成長工程で
厚膜クラッド層、発光層およびクラッド層を連続して成
長することができるので、途中で取り出して2回に分け
て成長するものに比して、不純物による汚染も少なく、
工程短縮により安価な基板除去タイプのDH構造LED
用エピタキシャルウェハを製造することができる。
厚膜クラッド層、発光層およびクラッド層を連続して成
長することができるので、途中で取り出して2回に分け
て成長するものに比して、不純物による汚染も少なく、
工程短縮により安価な基板除去タイプのDH構造LED
用エピタキシャルウェハを製造することができる。
【図1】本発明の実施例による液相エピタキシャル成長
方法の各工程を示す模式図である。
方法の各工程を示す模式図である。
【図2】本発明の実施例による液相エピタキシャル成長
方法の温度プログラムを示す模式図である。
方法の温度プログラムを示す模式図である。
3 基板 7 成長用原料溶液 8 補充原料 9 第1のエピタキシャル層 10 第2のエピタキシャル層
フロントページの続き (72)発明者 佐々木 幸男 茨城県日立市日高町5丁目1番1号 日立 電線株式会社日高工場内
Claims (3)
- 【請求項1】徐冷法によりエピタキシャル層を成長する
液相エピタキシャル成長方法において、所定の温度から
冷却しながら成長用原料溶液に基板を接触させて基板上
に第1のエピタキシャル層を成長し、成長後、基板から
分離した成長用原料溶液に該成長用原料溶液を構成する
溶質と同一の補充原料を補充し、再度所定の温度に昇温
して冷却しながら補充原料を補充した成長用原料溶液に
基板を接触させて第1のエピタキシャル層と略同一組成
の第2のエピタキシャル層を連続して成長するようにし
たことを特徴とする液相エピタキシャル成長方法。 - 【請求項2】請求項1に記載の液相エピタキシャル成長
方法において、上記第1および第2のエピタキシャル層
で120μm以上の厚膜を成長するようにした液相エピ
タキシャル成長方法。 - 【請求項3】請求項2に記載の液相エピタキシャル成長
方法において、上記120μm以上の厚膜をp型GaA
lAsクラッド層で構成すると共に、さらに、その上
に、上記成長用原料溶液と異なる成長用原料溶液をそれ
ぞれ接触させることによりp型GaAlAs発光層、n
型GaAlAsクラッド層を連続して成長するようにし
た液相エピタキシャル成長方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11142895A JPH08301690A (ja) | 1995-05-10 | 1995-05-10 | 液相エピタキシャル成長方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11142895A JPH08301690A (ja) | 1995-05-10 | 1995-05-10 | 液相エピタキシャル成長方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08301690A true JPH08301690A (ja) | 1996-11-19 |
Family
ID=14560944
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11142895A Pending JPH08301690A (ja) | 1995-05-10 | 1995-05-10 | 液相エピタキシャル成長方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08301690A (ja) |
-
1995
- 1995-05-10 JP JP11142895A patent/JPH08301690A/ja active Pending
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20041026 |
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| A02 | Decision of refusal |
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