JPH08304263A - 粒子解析装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【構成】フローセル１００にサンプルを流し、レーザ光
束１０により粒子の通過を検出し、その検出に基づいて
パルスランプ１を発光させ、粒子の静止画像をＴＶカメ
ラ８で撮像し、画像処理を行う。特徴抽出回路２７で
は、粒子静止画像が画像表示部５０のどの領域に粒子が
存在しているのかを算出しているので、その情報を基に
測定サンプル流れの流速の変動を観測し、常に粒子静止
画像撮像領域に到達させ、粒子全体を静止画像とする。 【効果】測定サンプル流れの流速の変動を観測すること
により、測定サンプル流れが脈流を生じている場合、サ
ンプル液流れやシース液流れの流路に詰まりが生じた場
合などを検知することが出来る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、血液または尿などの粒
子成分を含む試料液を扁平なシースフローにして流し、
その粒子の画像を取り、粒子を分析する粒子解析装置に
関する。

【０００２】

【従来の技術】従来から血液中の細胞や尿中の細胞や粒
子を検査するには、スライドガラス上に塗抹染色された
細胞，粒子を顕微鏡を通じて観察する方法が行われてい
る。しかし、この方法では標本作成に時間がかかるこ
と、塗抹標本は面積が限られているので多くの細胞や粒
子を観察することが出来ないこと、更に顕微鏡ステージ
を移動しながら粒子を見つける作業が必要になるという
問題点がある。

【０００３】一方、連続的に流れている試料液中の粒子
を撮影し、粒子画像から粒子を分析する試みは、いくつ
か行われている。例えば、特表昭57−500995号，特開昭
63−94156 号，特願平4−30383号，特開平4−72544号公
報等が知られている。

【０００４】特表昭57−500995号公報では、測定サンプ
ルを流路に流し、撮像領域中に周期的にストロボを発光
させ、ＣＣＤカメラで撮影することにより測定サンプル
の粒子の静止画像を得る。ストロボの発光はＣＣＤカメ
ラの動作に同期して周期的に発光する。ストロボの発光
時間は短いので、粒子が連続的に流れていても静止画像
を得ることができる。また、ＣＣＤカメラは毎秒３０枚
の静止画像を撮影することが出来る。

【０００５】特開昭63−94156 号公報では、静止画像撮
影用の光学系とは別に静止画像撮像領域より上流に粒子
検出用の光学系を有し、常時点灯された粒子監視用光源
の光束を粒子が横切ると、丁度その粒子が撮像領域に達
する時間だけ遅延させてフラッシュランプを点灯させ
て、粒子の静止画像を得る。この方法だと、フラッシュ
ランプの発光を周期的に行わず粒子の通過を検出した時
だけ発光するので効率的に粒子画像が得られる。また、
濃度の薄いサンプル試料の場合に無意味な画像処理をす
る必要がない。

【０００６】この方法は、測定サンプルの粒子濃度が低
い場合に対し非常に効率よく処理できるため、測定サン
プル量の増大，測定時間の短縮，測定精度の向上を図る
ことが出来る。

【０００７】また、測定サンプルの粒子濃度が高い場合
には、画像入力に伴うデットタイムのため粒子の数え落
しが生じるが、画像処理した粒子数から測定サンプル全
体に含まれる粒子数および粒子濃度を求めるための粒子
補正方法が特願平4−300808号明細書で提案されてい
る。

【０００８】特願平4−30383号明細書では、さらに粒子
検出用光学系を粒子画像撮像系の中に組みこんだ方法が
示されている。この方法だと、粒子検出用の光学系を別
に用意する必要がないこと、粒子検出位置を出来るだけ
粒子画像取込み領域に近づけて配置できる特徴がある。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】一般に、連続的に流れ
ている粒子サンプルの静止画像を解析して、サンプル中
の複数種類の粒子の数や分類を効率よく行うためには、
上述した公知例で行われているように、フローセルの上
流に通過粒子を検出する粒子検出光学系と、粒子が通過
したときだけ粒子静止画像撮像領域にパルスランプを点
灯させ粒子の静止画像を撮影する手段が必要である。

【００１０】しかし、上述したように連続して流れてい
る粒子について個々の粒子の静止画像を解析して、画像
表示部に表示するには、以下に述べるような問題点が存
在する。

【００１１】問題点は、粒子静止画像撮像領域またはそ
の上流に通過する粒子を検出する粒子検出手段と、粒子
が通過したときだけパルス光源を点灯させ粒子の静止画
像を撮影する手段を有する粒子解析装置では、粒子検出
手段と粒子静止画像撮像領域の距離は機械的に決まって
しまうので、測定サンプルの流速が一定であれば必然的
に粒子検出手段が粒子を検出してから粒子が静止画像撮
像領域を通過する時間がわかるので、（今後、この時間
をディレイタイムと呼ぶ。）ディレイタイム経過後にパ
ルスランプを点灯させれば粒子静止画像はある所定の画
像表示部に表示される。しかし、機械的振動などで測定
サンプルに脈流が生じ、測定サンプルの流速が変動する
場合、または、測定サンプル、シース液中に埃などを含
んでしまいサンプル，シース液の流路に詰まりを生じた
場合に、サンプル流れやシース液は正常に流れなくな
る。その場合、ディレイタイム経過後、本来通過すべき
粒子静止画像撮像領域に達する前後の領域で、パルス光
源が点灯し、粒子検出手段で検出した粒子が撮像されず
無駄な画像処理を行うことになる。その結果、画像処理
効率の劣化などの問題が生じる。

【００１２】また、測定サンプルの中には、様々な形状
をした粒子が含まれている。粒子サイズが粒子静止画像
撮像領域よりも十分に小さい粒子を検出し、ある所定の
粒子静止画像撮像領域で粒子静止画像を得る場合には、
粒子サイズが粒子静止画像撮像領域よりも十分に小さい
ため、粒子全体を静止画像として得られる。しかし、粒
子サイズが粒子静止画像撮像領域と同等の大きさの粒子
を検出し、ある所定の粒子静止画像撮像領域で粒子静止
画像を得る場合には、ディレイタイム経過後、パルスラ
ンプを点灯させ粒子静止画像を得ても、測定サンプル流
れの上流側の粒子の先端は、ある所定の粒子静止画像撮
像領域に到達しているが、測定サンプル流れの下流側の
粒子の先端は粒子サイズが大きいためディレイタイム経
過しても粒子静止画像撮像領域から、はみ出してしま
う。そのため、画像解析部が必要とする粒子全体の画像
が得られず粒子識別精度の劣化などの問題が生じる。

【００１３】本発明の目的は、粒子検出系を別に有する
粒子解析装置において、機械的振動などで測定サンプル
流が乱れ、粒子検出手段が検出した粒子がディレイタイ
ム経過後でも粒子静止画像撮像領域に達しないという問
題を解決する粒子解析装置を提供することにある。

【００１４】

【課題を解決するための手段】粒子成分を含む試料液を
フローセル中に流し、フローセル中を流れる試料液の上
流の位置に連続的に点灯している粒子検出用光学系がフ
ローセル中を通過する粒子を検出すると、フローセル中
の撮像領域を照射する光学系が点灯し、撮像装置が検出
した粒子の静止画像を撮像し、撮像した粒子静止画像を
画像解析することにより粒子の分類を行う粒子解析装置
を考える。

【００１５】一般に画像解析部は、特徴抽出部，粒子識
別部から構成される。前記特徴抽出部は、粒子静止画像
撮像領域のどの座標に撮影した粒子静止画像が存在する
のかを算出する。粒子検出手段と粒子静止画像撮像領域
の距離は機械的に決まってしまうため、ディレイタイム
を検出粒子が粒子静止画像撮像領域のある所定の位置に
到達したときにパルスランプを点灯するように設定して
おけば測定サンプル流の流れが安定していれば粒子静止
画像は画像表示部の所定の位置に表示される。しかし、
測定サンプル流の流れが不安定の場合、画像表示部の所
定の位置から離れた別の場所で粒子静止画像を得ること
になる。その場合、前記特徴抽出部で算出した粒子静止
画像の座標から粒子静止画像の中央の座標を算出し、粒
子静止画像撮像領域のある所定の位置の座標からどのく
らい離れているのかを算出する。そのずれが、画像処理
をする上で問題がなければディレイタイムを補正する必
要はないが、画像処理をする上で問題が、あればそのず
れの座標分に相当する時間だけディレイタイムを補正す
れば、粒子検出手段で検出した粒子は粒子静止画像撮像
領域の所定の位置に到達したときにパルスランプが点灯
し、画像表示部の所定の位置に表示することが出来る。
また、補正量を設定しその範囲を超える場合には、オペ
レータに警告を出し、サンプル，シース液中に埃などを
含んでしまいサンプル，シース液の流路に詰まりを生じ
た場合などの装置異常を知らせることが出来る。

【００１６】測定サンプルの中には、様々な形状をした
粒子が含まれている。粒子サイズが粒子静止画像撮像領
域よりも十分に小さい粒子を検出し、ある所定の粒子静
止画像撮像領域で粒子静止画像を得る場合には、粒子サ
イズが粒子静止画像撮像領域よりも十分に小さいため、
粒子全体を静止画像として得られる。しかし、粒子サイ
ズが粒子静止画像撮像領域と同等の大きさの粒子を検出
し、ある所定の粒子静止画像撮像領域で粒子静止画像を
得る場合には、ディレイタイム経過後、パルスランプを
点灯させ粒子静止画像を得ても、測定サンプル流れの上
流側の粒子の先端は、ある所定の粒子静止画像撮像領域
に到達しているが、測定サンプル流れの下流側の粒子の
先端は粒子サイズが大きいためディレイタイム経過して
も粒子静止画像撮像領域から、はみ出してしまう。そこ
で、あらかじめ検出した粒子は、粒子静止画像撮像領域
の下流の位置でパルスランプを点灯するようにすれば、
粒子サイズの大きい場合でも、粒子全体を静止画像とし
て得られる。

【００１７】

【作用】上述したように、粒子成分を含む試料液をフロ
ーセル中に流し、フローセル中を流れる試料液の上流の
位置に連続的に点灯している粒子検出用光学系がフロー
セル中を通過する粒子を検出すると、フローセル中の撮
像領域を照射する光学系が点灯し、撮像装置が検出した
粒子の静止画像を撮像し、撮像した粒子静止画像を画像
解析することにより粒子の分類を行う粒子解析装置にお
いて、粒子検出手段で検出された粒子が粒子静止画像撮
像領域に到達するまでの時間（ディレイタイム）を補正
すると次のような作用が生じる。

【００１８】測定サンプル流が不安定の時、特徴抽出部
で算出した粒子静止画像の座標から、粒子静止画像撮像
領域のある所定の位置の座標からどのくらい離れている
のかを算出すれば、どのくらい測定サンプル流が不安定
なのか知ることが出来る。その結果、測定サンプルに脈
流が生じる場合、測定サンプルの流速が変動する場合、
または、測定サンプル，シース液中に埃などを含んでし
まいサンプル，シース液の流路に詰まりを生じた場合等
を検知することが出来る。これらは、装置の性能に大き
く係ってくるので、補正量が大きい場合にはアラーム等
で警告を出し、早期に装置の異常を発見できる。

【００１９】また、粒子サイズの大きい粒子を検出し、
粒子静止画像撮像領域をまたぐ領域で粒子の静止画像を
得た場合には、その撮影した粒子は完全な形状でないの
で、画像解析部で特徴抽出，粒子識別を行っても十分の
粒子情報が得られないので無意味な画像処理をすること
になる。しかし、あらかじめ検出した粒子は、粒子静止
画像撮像領域の下流の位置でパルスランプを点灯するよ
うにすれば、粒子全体を静止画像として得られる。その
結果、無駄な画像処理をする必要が無くなるので、画像
処理の効率化、無駄な画像データを記憶する必要がない
ので画像メモリの縮小化ができる。更に、十分な粒子情
報が得られるので測定精度の向上につながる。

【００２０】

【実施例】本発明による粒子解析装置の一実施例を図面
を用いて説明する。

【００２１】図１は粒子解析装置の全体構成を示すブロ
ック図である。

【００２２】粒子解析装置は、粒子を懸濁させたサンプ
ル液が供給されるフローセル１００，画像撮像手段１０
１，粒子分析手段１０２、及び粒子検出手段１０３を備
える。

【００２３】フローセル１００は、染色処理の施された
尿や血液試料などをシース液（粒子を含まない清浄な
液）を外層として極めて扁平に流す。フローセル１００
には、サンプル液入り口とシース液入り口の二つの入り
口がある。サンプル液入り口には、サンプル液供給手段
により一定流量のサンプル液が供給される。シース液入
り口には、シース液供給手段により一定流量のシース液
が供給される。サンプル液流れ１１０は、画像撮像手段
１０１の光軸（顕微鏡光軸）９に対して垂直方向に極め
て扁平でサンプル液をシース液が包み込んだ層流が形成
され、フローセル１００の中心を一定速度で通過する。
このサンプル液流れ１１０の流速は中央制御処理部２９
において設定された条件に従って制御される。

【００２４】画像撮像手段１０１は、顕微鏡としての機
能を持ち、パルス光源であるフラッシュランプ１，フラ
ッシュランプ１を発光させるフラッシュランプ１ａ，フ
ラッシュランプ１からのパルス光束を平行にするフィー
ルドレンズ２，フィールドレンズ２からの平行パルス光
束１０をフローセル１００内のサンプル液流れ１１０に
集束させる顕微鏡コンデンサレンズ３，フローセル１０
０内のサンプル液流れ１１０に照射されたパルス光束を
集光し結像位置６に結像させる顕微鏡対物レンズ５，投
影レンズ７を介して投影した結像位置６の像をインター
レース方式により取り込み電気信号である画像データ信
号に変換するＴＶカメラ８，パルス光束の幅を制限する
視野絞り１１及び開口絞り１２を有する。ＴＶカメラ８
は、残像の少ないＣＣＤカメラ等が一般に使われてい
る。

【００２５】粒子分析手段１０２は、ＴＶカメラ８から
転送された画像データ信号をデジタル信号に変換するＡ
Ｄ変換器２４，ＡＤ変換器２４からの信号に基づくデー
タを所定のアドレスに記憶する画像メモリ２５，画像メ
モリ２５におけるデータの書き込み及び読み出しの制御
を行う画像処理制御回路２６，画像メモリ２５からの信
号に基づき画像処理を行い粒子数や分類を行う特徴抽出
回路２７及び識別回路２８，サンプル液中の粒子数を決
定する粒子数分析部４０，ＴＶカメラ８の撮影条件やフ
ローセル１００のサンプル液流れの条件，画像処理制御
回路２６の制御、識別回路２８からの画像処理結果の記
憶，粒子数分析部４０とのデータの授受、及び表示部５
０への表示を行う中央制御部２９を有する。

【００２６】粒子検出手段１０３は、検出光としてのレ
ーザ光を発する検出光源である半導体レーザ１５，半導
体レーザ１５からのレーザ光を平行レーザ光束１４にす
るコリメータレンズ１６，コリメータレンズ１６からの
レーザ光束の一方向のみを集束させるシリンドカルレン
ズ１７，シリンドカルレンズ１７からの光束を反射させ
る反射鏡１８，顕微鏡コンデンサレンズ３とフローセル
１００の間に設けられ反射鏡１８からレーザ光束をサン
プル液流れ１１０上の画像取り込み領域の上流側の接近
した位置に導く微小反射鏡１９，粒子によるレーザ光束
の散乱光を集光する顕微鏡対物レンズ５，顕微鏡対物レ
ンズ５で集光された散乱光を反射させるビームスプリッ
タ２０，ビームスプリッタ２０からの散乱光を絞り２１
を介して受光しその強度に基づく電気信号を出力する光
検出回路２２，光検出回路２２からの電気信号に基づい
てフラッシュランプ駆動回路１ａを作動させるフラッシ
ュランプ点灯制御回路２３を有する。尚、顕微鏡対物レ
ンズ５は画像撮像手段101と共用される。

【００２７】図１により、粒子解析装置の基本的な動作
を説明する。

【００２８】半導体レーザ１５は常時連続的に発光して
おり、常にサンプル中の粒子が検出領域を通過するのを
観測している。半導体レーザ１５からのレーザ光束は、
コリメータレンズ１６で平行レーザ光束１４に集束さ
れ、シリンドカルレンズ１７で光束の一方向のみ集束さ
れる。このレーザ光束は反射鏡１８及び微小反射鏡１９
で反射されフローセル１００内のサンプル液流れ１１０
上に照射される。この照射位置はシリンドカルレンズ１
７によってレーザ光束が集束する粒子検出位置であり、
サンプル液流れ１１０上の粒子静止画像撮像領域の上流
側の近接した位置である。

【００２９】測定対象である粒子がレーザ光束を横切る
と、レーザ光束は散乱され、この散乱光は、ビームスプ
リッタ２０で反射され、光検出回路２２で受光され電気
信号に変換される。粒子検出信号は、粒子の光学的な屈
折率，吸収，サイズ，粒子の内部状態，散乱光検出条件
などにより影響を受ける。

【００３０】更に、光検出回路２２で検出電気信号が画
像処理対象粒子の検出電気信号と識別されるとフラッシ
ュランプ点灯制御回路２３および粒子数分析部４０に送
られる。フラッシュランプ点灯制御回路２３では粒子が
ＴＶカメラ８の粒子静止画像撮像領域の所定の位置に達
したときにフラッシュランプ１が発光し撮像が行われる
ように、粒子検出位置と画像取り込み領域との距離及び
サンプル液の流速で決まる所定の遅延時間の後にフラッ
シュランプ駆動回路１ａに送られる。フラッシュランプ
点灯制御回路２３からは、検出信号と同時に発光レディ
信号が送られ、インターレース方式のフィール信号のタ
イミングに基づいてフラッシュランプの発光タイミング
が制御される。

【００３１】粒子分析手段１０２は次のように動作す
る。ＴＶカメラ８から出力される画像データ信号はＡＤ
変換器２４でデジタル信号に変換され、これに基づくデ
ータが画像処理制御回路２６の制御の基に画像メモリ２
５の所定のアドレスに記憶される。画像メモリ２５に記
憶されたデータは、画像処理制御回路２６のもとに読み
だされ、特徴抽出回路２７及び識別回路２８に入力され
て画像処理が行われ、中央制御部２９にその結果が記憶
される。記憶されるのは粒子分類結果と粒子分類に使わ
れた粒子識別特徴パラメータデータである。粒子の分類
識別処理は、通常行われているパターン認識処理により
自動的に行われる。この画像処理結果と測定条件、及び
画像処理された画像情報が中央制御部２９，光検出回路
２２からの粒子検出信号、及び画像処理制御回路２６か
らの制御信号をもとに、最終的な粒子画像の分類識別結
果の纏めを行う。

【００３２】次に、粒子静止画像撮像領域と粒子検出位
置との関係を図２を用いて説明する。

【００３３】測定サンプル中の粒子が粒子検出位置を通
過し、粒子検出信号が所定のレベル以上であれば粒子を
検出したとし、検出パルス信号を出力する。検出粒子が
粒子静止画像撮像領域の所定の位置（ｘ，ｙ）まで達す
るまでの時間をディレイタイムＴとする。サンプル流れ
が一定流速であれば、検出粒子はディレイタイムＴ経過
後、粒子静止画像撮像領域の所定の位置（ｘ，ｙ）でパ
ルスランプが点灯し、粒子静止画像を得る。しかし、機
械的振動などによりサンプル流れは変動する場合があ
る。図２は、サンプル流れが機械的振動などによって遅
くなったときを示す。本来、ディレイタイムＴ経過すれ
ば検出粒子は粒子静止画像撮像領域の所定の位置（ｘ，
ｙ）に到達するが、サンプル流れが遅くなったためにデ
ィレイタイムＴ経過しても所定の位置（ｘ，ｙ）に到達
することが出来ず、パルスランプが点灯し粒子静止画像
を得る。ＣＣＤカメラが撮像出来るのは粒子静止画像撮
像領域内であるので粒子静止画像撮像領域をはみ出した
部分に関しては粒子静止画像を得ることが出来ない。そ
うすると、特徴抽出回路，識別回路で画像処理するのに
必要な粒子の情報が十分に得られずに画像処理を行って
しまい、無意味な画像処理をすることになる。そこで、
特徴抽出回路では、粒子静止画像撮像領域内のどの座標
に撮影した検出粒子が存在するのかを算出するので、検
出粒子の最大座標（ｘ１，ｙ１）と最小座標（ｘ２，ｙ
２）を算出する。この最大座標（ｘ１，ｙ１）と最小座
標（ｘ２，ｙ２）の情報を利用し、中央座標｛（ｘ１＋
ｘ２）／２，（ｙ１＋ｙ２）／２｝を求めれば、粒子静
止画像撮像領域の所定の位置（ｘ，ｙ）と中央座標
｛(ｘ１＋ｘ２)／２，(ｙ１＋ｙ２)／２｝で差を取って
あげればどのくらいずれているのか分かるので、その差
分の座標｛ｘ−（ｘ１＋ｘ２）／２，ｙ−（ｙ１＋ｙ
２）／２｝に相応する時間ＴａをディレイタイムＴに補
正すれば粒子静止画像撮像領域の所定の位置（ｘ，ｙ）
で検出粒子の静止画像が得られる。また、ある補正量を
設定しＴａが補正範囲内であればディレイタイムＴを補
正する必要はない。しかし、Ｔａが補正範囲を超える場
合には、ディレイタイムＴを補正する。さらに、別な補
正量を設定しＴａが補正範囲を超える場合には、オペレ
ータにアラームなどの警告を出し注意を促す。

【００３４】

【発明の効果】本発明では、測定サンプル流が不安定の
時でも画像解析部が測定サンプル流がどのくらい不安定
であるかを算出出来るので次のような利点が生じる。

【００３５】粒子サイズが大きい場合、粒子静止画像撮
像領域をまたぐ領域で粒子の静止画像を得ることにな
り、その撮影した粒子は完全な形状でないので、画像解
析部で特徴抽出，粒子識別を行っても十分の粒子情報が
得られないので無意味な画像処理をすることになる。し
かし、画像解析部で測定サンプル流がどのくらい不安定
であるかを算出して、ディレイタイムを補正すれば、常
時粒子静止画像撮像領域の中央で粒子静止画像を得られ
る。そのことにより無駄な画像処理する必要が無くなる
ので、画像処理の効率化，無駄な画像データを記憶する
必要がないので画像メモリの縮小化ができる。更に、十
分な粒子情報が得られるので測定精度の向上につなが
る。また、測定サンプル流れが不安定の場合、特徴抽出
部で算出したディレイタイムの補正量から、測定サンプ
ルの流速の変動、測定サンプル流れやシース液流れの流
路の詰まりを検知することが出来る。

【図面の簡単な説明】

【図１】粒子解析装置のブロック図。

【図２】粒子静止画像撮像領域と粒子検出位置との関係
の説明図。

【符号の説明】

１…フラッシュランプ、８…ＴＶカメラ、２７…特徴抽
出回路、５０…表示部、１００…フローセル。

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】粒子成分を含むサンプル液をフローセル中
   に流し、前記フローセル中を流れる前記サンプル液の上
   流の位置に連続的に点灯している粒子検出用光学系が前
   記フローセル中を通過する粒子を検出すると、ある一定
   時間遅延させて前記フローセル中の撮像領域を照射する
   光学系が点灯し、前記粒子検出用光学系が検出した粒子
   の静止画像を撮像し、撮像した前記粒子静止画像を画像
   解析部により粒子の分類を行う粒子解析装置において、
   あらかじめ設定した画像取り込み位置と前記画像解析部
   により画像処理した粒子の取り込み位置の差を前記画像
   解析部において測定し、その差分を用いて粒子が粒子検
   出領域から画像取り込み位置に達するまでの時間を求め
   る機能を持つことを特徴とする粒子解析装置。
2. 【請求項２】請求項１において、粒子検出から撮像まで
   の遅延時間を変えられる機能を持ち、あらかじめ設定し
   た画像取り込み位置と前記画像解析部により画像処理し
   た粒子の取り込み位置の差を前記画像解析部において測
   定し、その差分を用いて粒子が粒子検出領域から画像取
   り込み位置に達するまでの時間をもちいて遅延時間を変
   える粒子解析装置。
3. 【請求項３】請求項１または２において、あらかじめ設
   定した画像取り込み位置と前記画像解析部により画像処
   理した粒子の位置の差をあらかじめ設定し、範囲内であ
   れば粒子が粒子検出領域から画像取り込み位置に達する
   までの遅延時間に補正をしない機能を持つ粒子解析装
   置。
4. 【請求項４】請求項１または２において、あらかじめ設
   定した画像取り込み位置と前記画像解析部により画像処
   理した粒子の位置の差をあらかじめ設定し、範囲を超え
   る場合には、オペレータに警告を出す機能を持つ粒子解
   析装置。
5. 【請求項５】請求項１において、前記画像取り込み位置
   を前記撮像領域のできるだけ下流の位置に設定する機能
   を持つ粒子解析装置。
6. 【請求項６】請求項１，２，３，４または５において、
   粒子画像を表示する機能を持ち、粒子取り込み位置を確
   認できる機能を持った粒子解析装置。