JPH08306044A

JPH08306044A - 光ディスク記録装置

Info

Publication number: JPH08306044A
Application number: JP8050319A
Authority: JP
Inventors: Koichiro Ishii; 浩一郎石井
Original assignee: Nikon Corp
Current assignee: Nikon Corp
Priority date: 1995-03-07
Filing date: 1996-03-07
Publication date: 1996-11-22

Abstract

(57)【要約】【課題】記録したデータの信頼性を落とすことなく記録
動作に必要な時間を短縮する。【解決手段】光ディスクの記録面上にレーザ光を照射す
ることによって前記記録面上にデータを記録する照射手
段と、前記レーザ光の前記光ディスクの記録面からの反
射光量を検出する検出手段と、前記反射光量が予め決め
られた範囲を超えているか否かを比較する比較手段と、
前記反射光量が予め決められた範囲を超えた場合にベリ
ファイ動作を行うベリファイ手段と備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクにデー
タを記録するための記録装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】例えば、光磁気ディスク記録装置におい
て、光磁気ディスクのある領域にデータを記録する場
合、その領域に既にデータが書き込まれている場合に
は、そのデータを一度消去した後に新たなデータを記録
している。光磁気ディスクの記録面上に異物等が付着し
ている場合には、光源から出射したレーザ光が異物等に
よって遮られてしまい、データの書き込みに必要な十分
な量のレーザ光が光磁気ディスクの記録面まで到達しな
いことがあった。この場合には、データが正しく書き込
まれていないこともあった。このような事態を回避する
ため、光磁気ディスクにデータを記録する場合には、記
録を行った後に必ずそのデータの再生を行い、確実にデ
ータが記録されているか否かの確認動作を行っていた。
そして、正しく記録がされていなかった場合には、同じ
光磁気ディスクの中で別の領域を探して、そこに再び記
録を行うようにしていた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】上記のような従来技術
においては、光ディスクにデータを記録する際には、古
いデータの消去し、新しいデータの記録をし、記録した
データを再生して正しく記録できたかどうかを確認する
という３回の動作が常に必要であった。記録したデータ
を再生して正しく記録できたかどうかを確認する動作を
ベリファイという。

【０００４】このため、光ディスクにデータの記録を行
うためには、データの記録を行う領域に対して、光ヘッ
ドを３回もトレースする必要があり、時間がかかるとい
う問題があった。本発明の目的は、記録したデータの信
頼性を落とすことなく、記録動作に必要な時間を短縮す
ることにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】上記課題の解決のため、
本発明は、光ディスクの記録面上にレーザ光を照射する
ことによって前記記録面上にデータを記録する照射手段
と、前記レーザ光の前記光ディスクの記録面からの反射
光量を検出する検出手段と、前記反射光量が予め決めら
れた範囲を超えているか否かを比較する比較手段と、前
記反射光量が予め決められた範囲を超えた場合に、ベリ
ファイ動作を行うベリファイ手段とを備えた構成とし
た。

【０００６】また、前記ベリファイ手段は、前記記録面
上の前記データを記録した領域から、前記レーザ光を照
射することによって前記データを再生し、前記データが
正しく記録されたか否かを判断することとしてもよい。
また、本発明は、光ディスクの記録面上に記録されたデ
ータをレーザ光を照射することによって消去する消去手
段と、前記消去手段によってデータが消去された前記光
ディスクの記録面上の領域にレーザ光を照射することに
よってデータを記録する記録手段と、消去するときに照
射されているときのレーザ光の前記光ディスクの記録面
からの反射光量を検出する検出手段と、前記反射光量が
予め決められた範囲を超えているか否かを比較する比較
手段と、前記反射光量が予め決められた範囲を超えた場
合に、前記記録手段でのデータの記録の後にベリファイ
動作を行うベリファイ手段とを備えた構成とした。

【０００７】また、前記ベリファイ手段は、前記記録面
上の前記データを記録した領域から、前記レーザ光を照
射することによって前記データを再生し、前記データが
正しく記録されたか否かを判断することとしてもよい。
また、本発明は、光ディスクの記録面上に記録されたデ
ータをレーザ光を照射することによって消去する消去手
段と、前記消去手段によってデータが消去された前記光
ディスクの記録面上の領域にレーザ光を照射することに
よってデータを記録する記録手段と、消去するときに照
射されているときのレーザ光の前記光ディスクの記録面
からの反射光量を検出する検出手段と、前記反射光量が
予め決められた範囲を超えているか否かを比較する比較
手段と、前記反射光量が予め決められた範囲を超えた場
合に、データを消去した領域とは異なる領域に対して記
録動作を行う構成とした。

【０００８】また、前記記録動作は、前記消去手段によ
るデータの消去を行った後で前記記録手段によりデータ
の記録を行うこととしてもよい。また、消去するときの
前記反射光量に応じて、記録するときのレーザ光の強度
を増減させる制御手段を備えたこと構成としてもよい。
また、本発明は、光ディスクの記録面上にレーザ光を照
射することによって前記記録面上にデータを記録する照
射手段と、前記レーザ光の前記光ディスクの記録面から
の反射光を受光する受光部を有し、その受光部からの出
力信号からフォーカス誤差信号を生成するフォーカス誤
差信号生成手段と、前記フォーカス誤差信号のレベルが
予め決められた範囲を超えているか否かを比較する比較
手段と、前記フォーカス誤差信号のレベルが予め決めら
れた範囲を超えた場合に、ベリファイ動作を行うベリフ
ァイ手段とを備えた構成とした。

【０００９】また、前記ベリファイ手段は、前記記録面
上の前記データを記録した領域から、前記レーザ光を照
射することによって前記データを再生し、前記データが
正しく記録されたか否かを判断することとしてもよい。
また、本発明は、光ディスクの記録面上にレーザ光を照
射することによって前記記録面上にデータを記録する照
射手段と、前記レーザ光の前記光ディスクの記録面から
の反射光を受光する受光部を有し、その受光部からの出
力信号からフォーカス誤差信号を生成するフォーカス誤
差信号生成手段と、前記受光部の出力信号のレベルが予
め決められた範囲を超えているか否かを比較する比較手
段と、前記出力信号のレベルが予め決められた範囲を超
えた場合に、ベリファイ動作を行うベリファイ手段とを
備えた構成とした。

【００１０】また、前記ベリファイ手段は、前記記録面
上の前記データを記録した領域から、前記レーザ光を照
射することによって前記データを再生し、前記データが
正しく記録されたか否かを判断することとしてもよい。
また、本発明は、光ディスクの記録面上にレーザ光を照
射することによって前記記録面上にデータを記録する照
射手段と、前記レーザ光の前記光ディスクの記録面から
の反射光を受光する受光部を有し、その受光部からの出
力信号からトラッキング誤差信号を生成するトラッキン
グ誤差信号生成手段と、前記トラッキング誤差信号のレ
ベルが予め決められた範囲を超えているか否かを比較す
る比較手段と、前記トラッキング誤差信号のレベルが予
め決められた範囲を超えた場合に、ベリファイ動作を行
うベリファイ手段とを備えた構成としてもよい。

【００１１】また、前記ベリファイ手段は、前記記録面
上の前記データを記録した領域から、前記レーザ光を照
射することによって前記データを再生し、前記データが
正しく記録されたか否かを判断することとしてもよい。
また、本発明は、光ディスクの記録面上にレーザ光を照
射することによって前記記録面上にデータを記録する照
射手段と、前記レーザ光の前記光ディスクの記録面から
の反射光を受光する受光部を有し、その受光部からの出
力信号からトラッキング誤差信号を生成するトラッキン
グ誤差信号生成手段と、前記受光部の出力信号のレベル
が予め決められた範囲を超えているか否かを比較する比
較手段と、前記出力信号のレベルが予め決められた範囲
を超えた場合に、ベリファイ動作を行うベリファイ手段
とを備えた構成とした。

【００１２】また、前記ベリファイ手段は、前記記録面
上の前記データを記録した領域から、前記レーザ光を照
射することによって前記データを再生し、前記データが
正しく記録されたか否かを判断することとしてもよい。
また、本発明は、光ディスクの記録面上にレーザ光を照
射することによって前記記録面上にデータを記録する照
射手段と、前記レーザ光の前記光ディスクの記録面から
の反射光を受光する受光部を有し、その受光部からの出
力信号からサーボ制御用の信号を生成するサーボ信号生
成手段と、前記サーボ制御用の信号のレベルが予め決め
られた範囲を超えているか否かを比較する比較手段と、
前記サーボ制御用の信号のレベルが予め決められた範囲
を超えた場合に、ベリファイ動作を行うベリファイ手段
とを備えた構成としてもよい。

【００１３】また、消去するときの前記反射光量に応じ
て、記録するときの前記レーザ光の強度を制御する制御
手段を備えた構成としてもよい。また、前記記録手段
は、記録するときの前記反射光量に応じて、記録すると
きの前記レーザ光の強度を制御する制御手段を備えた構
成としてもよい。また、前記検出手段は、前記光ディス
クからの反射光のうちの散乱光の光量を検出する散乱光
検出手段を有し、前記比較手段は、前記散乱光の光量が
予め決められた範囲を超えているか否かを比較する構成
としてもよい。

【００１４】

【発明の実施の形態】

（実施形態１）図１は、実施形態１に係る光ディスク記
録装置の斜視図である。半導体レーザ１は、レーザ光を
出射する。そのレーザ光は光ディスク７の記録面に照射
され、光ディスク７に対しての記録、再生、及び消去等
が行われる。コリメータレンズ２は、半導体レーザ１が
出射した発散光を平行光に変換するための光学素子であ
る。第１のビームスプリッタ３と第２のビームスプリッ
タ４は、レーザ光を透過させたり、反射させることによ
って光路を分割する光学素子である。対物レンズ６は、
光ディスク７の記録面上にレーザ光をほぼ無収差で結像
させ、かつ光ディスク７の記録面上のトラックやマーク
によって散乱あるいは回折された光を集める。異物検出
受光素子１７は、光ディスク７からの散乱光を受光す
る。その受光量によって、光ディスク７の記録面上に異
物等があるか否かが判断される。はね上げミラー５は、
ビームスプリッタ４を透過したレーザ光を対物レンズ６
に導いたり、光ディスク７の記録面上で反射して対物レ
ンズ６を透過したレーザ光を再びビームスプリッタ４に
入射させる。

【００１５】サーボ検出用ディテクタ１０は、レーザ光
が光ディスク７の記録面上で焦点を結んでいるか否かを
検出するのに用いられる。すなわち、サーボ検出用ディ
テクタ１０の出力により、フォーカス誤差信号が生成さ
れ、このフォーカス誤差信号は、レーザ光が光ディスク
７の記録面上で常に焦点を結ぶように制御を行うのに用
いられる。あるいは、サーボ検出用ディテクタ１０は、
レーザ光の照射により、光ディスク７の記録面上に形成
される光スポットが、記録面に形成されているトラック
の中心にあるか否かを検出するのに用いられる。すなわ
ち、サーボ検出用ディテクタ１０の出力により、トラッ
キング誤差信号が生成され、このトラッキング誤差信号
は、光スポットが常にトラックの中心にあるように制御
を行うのに用いられる。一般に、光ディスクの記録面上
には、同心円状あるいは螺旋状の記録トラックが複数形
成されている。これらのトラックは、記録面上に同心円
状あるいは螺旋状の溝を設けることにより形成されてい
る場合が多い。データは、このトラックに沿って記録さ
れる。

【００１６】シリンドリカルレンズ９はサーボ用レンズ
８から入射したレーザ光のビーム整形を行う。受光素子
１５は、第１のビームスプリッタ３によって反射したレ
ーザ光の一部を入射する。その入射光量によって半導体
レーザ１の出射光量が調整される。再生用レンズ１３
は、光ディスク７の記録面で反射されたレーザ光を、再
生信号ディテクタ１４の受光面に集光させる。

【００１７】半導体レーザ１から出射されたレーザ光は
コリメータレンズ２によって平行光になり、第１のビー
ムスプリッタ３に入射する。そして、ビームスプリッタ
内で反射したレーザ光は、第２のビームスプリッタ４の
半透鏡を透過し、はね上げミラー５によって光路を曲げ
られて、対物レンズ６に入射する。そして、光ディスク
７の記録面上に集光する。光ディスク７の記録面上のト
ラックやマークによって散乱や回折されたレーザ光は再
び対物レンズ６に入射する。そして、第２のビームスプ
リッタ４まで戻る。また、対物レンズ６を通ったレーザ
光の一部は、光ディスク７の記録面上にある異物等によ
って反射され、散乱光として異物検出受光素子１７に受
光される。第２のビームスプリッタ４の半透鏡面で反射
されたレーザ光は１／２波長板１１、及び偏光ビームス
プリッタ１２を透過して再生用レンズ１３に入射し、そ
こでレーザ光は集光され、再生信号ディテクタ１４の受
光面に入射する。第２のビームスプリッタ４の半透鏡を
透過したレーザ光は、第１のビームスプリッタ３の半透
鏡面に向かい、その面で２つの方向に反射する。第１の
方向に反射されたレーザ光は受光素子１５に入射し、そ
の入射光量によって半導体レーザ１の出射光量を調整さ
れる。第２の方向に反射されたレーザ光はサーボ用レン
ズ８を透過した後、シリンドリカルレンズ９によってビ
ーム整形が行われ、サーボ検出用ディテクタ１０に受光
される。

【００１８】図２は、実施形態１に係る、光ディスク記
録装置の記録動作の処理手順を示したものである。光デ
ィスク７にデータを記録する場合、新たなデータを記録
しようとする領域に、既に古いデータが書き込まれてい
る場合には、その古いデータを一旦消去する（図２Ｓ２
０１）。消去動作中における異物検出受光素子１７から
の出力信号のレベルＶと、予め設定してある基準信号の
レベルＶrefと得る（図２Ｓ２０２）。そして、ＶとＶr
efとをを比較する（図２Ｓ２０３）。消去動作中、常に
ＶがＶrefを下回っていた場合には、消去動作を完了し
て（図２Ｓ２０４）、記録動作に移る（図２Ｓ２０
５）。記録動作完了後ベリファイ動作を行わずに終了す
る（図２Ｓ２０６）。

【００１９】一方、消去動作中において、異物検出受光
素子１７からの出力信号レベルＶが、予め設定してある
基準信号のレベルＶrefを一度でも越えた場合には、消
去動作を完了してから（図２Ｓ２０７）、記録動作を行
い（図２Ｓ２０８）、その後にベリファイ動作を行う
（図２Ｓ２０９）。図３は、消去中におけるＶとＶref
の変化の例を示す図である。途中で、ＶがＶrefを越え
ている。この場合、消去、記録が終わった後ベリファイ
動作を行うことになる。

【００２０】ベリファイ動作のために再生を行った際
に、読み取りエラーが発生して、正常に再生できない場
合は、エラー訂正を行うわけであるが、エラー訂正が可
能な場合（エラー訂正の結果、データが再生できた場
合）には記録を終了する（図２Ｓ２１０、Ｓ２１２）。
エラー訂正ができない場合（エラー訂正を試みてもデー
タが正常に再生できない場合）には記録領域を変更し
て、再度消去動作から開始する（図２Ｓ２１０、Ｓ２１
１）。（実施形態２）図４は、実施形態２に係る、光ディスク
記録装置の記録動作の処理手順を示したものである。

【００２１】実施形態２の装置は、実施形態１の装置と
比較して、光ディスク記録装置の記録動作の処理手順が
異なる。以下に、実施形態２における光ディスク記録装
置の記録動作の処理手順について説明する。光ディスク
７にデータを記録する場合、新たなデータを記録しよう
とする領域に、既に古いデータが書き込まれている場合
には、その古いデータを一旦消去する（図４Ｓ４０
１）。消去動作中における異物検出受光素子１７からの
出力信号のレベルＶと、予め設定してある基準信号のレ
ベルＶrefと得る（図４Ｓ４０２）。そして、ＶとＶref
とをを比較する（図４Ｓ４０３）。消去動作中、常にＶ
がＶrefを下回っていた場合には、消去動作を完了して
（図４Ｓ４０４）、記録動作に移る（図４Ｓ４０５）。
記録動作完了後ベリファイ動作を行わずに終了する（図
４Ｓ４０６）。

【００２２】一方、消去動作中において、異物検出受光
素子１７からの出力信号レベルＶが、予め設定してある
基準信号のレベルＶrefを一度でも越えた場合には、消
去動作を完了した後（図４Ｓ４０７）、その消去動作を
行った領域に異物があって正常に記録ができないと判断
し、その領域に対して記録動作を行わない。そして、記
録すべき領域を変更し（図４Ｓ４０８）、再度消去動作
を開始する（図４Ｓ４０１）。（実施形態３）図５は、実施形態３に係る、光ディスク
記録装置のブロック図である。

【００２３】実施形態３は実施形態１と比較して、光デ
ィスク記録装置の記録動作の処理手順が異なる。以下
に、本実施形態における光ディスク記録装置の記録動作
の処理手順について説明する。光ディスク７にデータを
記録する場合は、記録する領域を一旦消去した後、デー
タの記録動作を行うが、消去動作時の異物検出受光素子
１７の出力信号に応じて記録動作時の半導体レーザ１か
らのレーザ光の出射パワーを補正している。

【００２４】光ディスク７に異物等が付着している場
合、レーザ光が異物等によって遮られるためディスク７
の記録面上に照射されるレーザ光量が不足し、データの
記録が不正確になってしまう。そこで、異物等による散
乱光量の変化を消去動作時に異物検出受光素子１７によ
り検出する。この検出された光量変化を、データの記録
時において、光ディスク７の記録面で反射して受光素子
１５に入射した光量に加え、その光量に基づいてレーザ
光の出射パワーを調整する。これによって、光ディスク
７の記録面上に異物等があっても、出射光量を増やすこ
とによってデータの記録を確実に行うことができる。

【００２５】図５において、異物検出受光素子１７から
の出力電流のレベルは、光ディスク７に異物等が付着し
ているときに大きくなる。異物検出受光素子１７からの
出力電流はＩ／Ｖ変換器５０４に入力され、電圧信号に
変換され、タイミング回路５０３に入力される。受光素
子１５からの出力電流は、Ｉ／Ｖ変換器５０２に入力さ
れ電圧信号に変換される。Ｉ／Ｖ変換器５０２からの出
力電圧はＡＰＣ回路（オート・パワー・コントロール回
路）５０１に入力される。タイミング回路５０３は、記
録動作が開始されるとＩ／Ｖ変換器５０４から入力され
た電圧信号を出力する。このとき、ＡＰＣ回路５０１に
は、Ｉ／Ｖ変換器５０２からの出力電圧とタイミング回
路５０３からの出力電圧とが加算された電圧が入力され
る。ＡＰＣ回路５０１は、入力された電圧値に基づい
て、半導体レーザ１の駆動電流を制御する。（実施形態４）図６は、実施形態４に係る、光ディスク
記録装置の記録動作の処理手順を示したものである。

【００２６】実施形態４では、記録動作の前に消去動作
を伴わずに記録が可能な光ディスク（オーバライト可能
な光ディスク）を使用するので、実施形態１と比較し
て、光ディスク記録装置の記録動作の処理手順が異な
る。以下に、本実施形態における光ディスク記録装置の
記録動作の処理手順について説明する。実施形態４にお
いては記録動作の前に消去動作が不要であるため、記録
動作時に異物検出受光素子１７の出力をとって基準信号
と比較する。

【００２７】記録動作を開始すると（図６Ｓ６０１）、
記録動作中における異物検出受光素子１７からの出力信
号のレベルＶと、予め設定してある基準信号のレベルＶ
refと得る（図６Ｓ６０２）。そして、ＶとＶrefとをを
比較する（図６Ｓ６０３）。記録動作中、常にＶがＶre
fを下回っていた場合には、記録動作を完了した後（図
６Ｓ６０４）、ベリファイ動作を行わずに終了する（図
６Ｓ６０５）。

【００２８】一方、記録動作中において、異物検出受光
素子１７からの出力信号レベルＶが、予め設定してある
基準信号のレベルＶrefを一度でも越えた場合には、記
録動作を完了した後（図６Ｓ６０６）、ベリファイ動作
を行う（図６Ｓ６０７）。そして、データが高品質で記
録できていないと判断した場合には、記録領域を変更し
（図６Ｓ６１０）、代替領域にデータを記録する動作を
再度行う（図６Ｓ６０１）。（実施形態５）図７は、実施形態５に係る、光ディスク
記録装置のブロック図である。

【００２９】実施形態５では、記録動作の前に消去動作
を伴わずに記録が可能な光ディスク（オーバライト可能
な光ディスク）を使用する。以下に、本実施形態におけ
る光ディスク記録装置の記録動作の処理手順について説
明する。本実施形態においては記録動作の前に消去動作
が不要であるため、記録動作時に、異物検出受光素子１
７の出力を受光素子１５の出力に加えることにより、記
録動作時におけるレーザ光の出射パワーを補正する。例
えば、光ディスクに異物等が付着していた場合、出射ビ
ームが遮られるため、ディスク上に照射される光量が不
十分となり、記録データの信頼性が低下する。そこで、
異物等による散乱光の変化を記録動作時に異物検出受光
素子１７により検出し、その信号により記録パワーの補
正をリアルタイムに行っている。これによって、異物等
が付着している場合にはレーザ光の光量を大きくするこ
とができるので、信頼性を低下させずにデータの記録が
できる。

【００３０】図７において、異物検出受光素子１７から
の出力電流のレベルは、光ディスク７に異物等が付着し
ているときに大きくなる。異物検出受光素子１７からの
出力電流はＩ／Ｖ変換器７０４に入力され、電圧信号に
変換され、ローパスフィルタ回路７０３に入力される。
受光素子１５からの出力電流は、Ｉ／Ｖ変換器７０２に
入力され電圧信号に変換される。Ｉ／Ｖ変換器７０２か
らの出力電圧はＡＰＣ回路（オート・パワー・コントロ
ール回路）７０１に入力される。ローパスフィルタ回路
７０３は、Ｉ／Ｖ変換器７０４から入力された電圧信号
を平滑化して出力する。このとき、ＡＰＣ回路７０１に
は、Ｉ／Ｖ変換器７０２からの出力電圧とローパスフィ
ルタ回路７０３からの出力電圧とが加算された電圧が入
力される。ＡＰＣ回路７０１は、入力された電圧値に基
づいて、半導体レーザ１の駆動電流を制御する。（実施形態６）図８は、実施形態６に係る、光ディスク
記録装置の構成図である。本実施形態では、光ディスク
７に付着している異物等を検出する方法が、実施形態１
〜５とは異なる。

【００３１】図８の装置は、図１の装置と比べると、異
物検出受光素子１７がなく、加算回路８０１、８０２、
８０４、差動回路８０３、比較器８０５、基準信号出力
回路８０６が付加されている。本実施形態では、サーボ
検出用ディテクタ１０の和信号を用いて、光ディスク７
上の異物等の情報を得ている。ここでは、サーボ検出用
ディテクタ１０は、４分割ディテクタであり、フォーカ
ス誤差の検出に用いている。フォーカス誤差検出には、
非点収差法を用いている。４分割ディテクタ１０の一方
の対角線上の２つディテクタからの出力は加算器８０１
に入力され、他方の対角線上の２つのディテクタからの
出力は加算器８０２に入力される。加算器８０１、８０
２からは、それぞれ入力された信号の和信号が出力され
る。加算器８０１、８０２からの出力信号は、差動回路
８０３に入力される。差動回路８０３からは、加算器８
０１、８０２からの２つの和信号の差信号が出力され、
この出力信号は、フォーカス誤差信号として用いられ
る。すなわち、このフォーカス誤差信号に応じて対物レ
ンズ６を駆動し、フォーカスサーボ制御が行われる。

【００３２】加算器８０１、８０２からの出力信号は、
加算回路８０４にも入力される。加算回路８０４から
は、入力された２つの信号の和信号が出力される。加算
器８０４から出力される和信号のレベルは、通常フォー
カス誤差によらず一定である。光ディスク上に異物等が
ある場合は、この信号のレベルに変化が生じる。すなわ
ち、光ディスクに異物等がある場合には、加算器８０４
からの出力レベルは低くなる。加算器８０４から出力さ
れる和信号は、比較器８０５に入力される。比較器８０
５は、基準信号出力回路８０６から出力される基準信号
のレベルと加算器８０４から出力される和信号のレベル
とを比較する。図２、４、６での動作説明では、基準信
号のレベルの方が高いときにベリファイ動作を行わない
こととしているが、本実施形態の場合、基準信号のレベ
ルの方が低いときにベリファイ動作を行わないこととす
れば、図２、４、６の場合と同様の効果がもたらされ
る。

【００３３】以上のようにして、異物等による影響を知
ることができ、データの信頼性が確保できる。（実施形態７）図９は、実施形態７に係る、光ディスク
記録装置の構成図である。本実施形態では、光ディスク
７に付着している異物等を検出する方法が、実施形態１
〜６とは異なる。

【００３４】図９の装置は、図１の装置と比べると、異
物検出受光素子１７がなく、加算回路８０１、８０２、
差動回路８０３、比較器８０５、基準信号出力回路８０
６が付加されている。本実施形態では、サーボ検出用デ
ィテクタ１０の片信号を用いて、光ディスク７上の異物
等の情報を得ている。ここでは、サーボ検出用ディテク
タ１０は、４分割ディテクタであり、フォーカス誤差の
検出に用いている。フォーカス誤差検出には、非点収差
法を用いている。４分割ディテクタ１０の一方の対角線
上の２つディテクタからの出力は加算器８０１に入力さ
れ、他方の対角線上の２つのディテクタからの出力は加
算器８０２に入力される。加算器８０１、８０２から
は、それぞれ入力された信号の和信号が出力される。加
算器８０１、８０２からの出力信号は、差動回路８０３
に入力される。差動回路８０３からは、加算器８０１、
８０２からの２つの和信号の差信号が出力され、この出
力信号は、フォーカス誤差信号として用いられる。すな
わち、このフォーカス誤差信号に応じて対物レンズ６を
駆動し、フォーカスサーボ制御が行われる。

【００３５】加算器８０２からの出力信号は、比較器８
０５に入力される。光ディスク上に異物等がある場合
は、加算器８０２からの出力信号のレベルに変化が生じ
る。すなわち、光ディスクに異物等がある場合には、加
算器８０２からの出力レベルは低くなる。比較器８０５
は、基準信号出力回路８０６から出力される基準信号の
レベルと加算器８０２から出力される信号のレベルとを
比較する。図２、４、６での動作説明では、基準信号の
レベルの方が高いときにベリファイ動作を行わないこと
としているが、本実施形態の場合、基準信号のレベルの
方が低いときにベリファイ動作を行わないこととすれ
ば、図２、４、６の場合と同様の効果がもたらされる。

【００３６】以上のようにして、異物等による影響を知
ることができ、データの信頼性が確保できる。（実施形態８）図１０は、実施形態８に係る、光ディス
ク記録装置の構成図である。本実施形態では、光ディス
ク７に付着している異物等を見つける方法が、実施形態
１〜７とは異なる。

【００３７】図１０の装置は、図１の装置と比べると、
異物検出受光素子１７がなく、差動回路８０７、加算回
路８０８、比較器８０５、基準信号出力回路８０６が付
加されている。本実施形態では、サーボ検出用ディテク
タ１０の和信号を用いて、光ディスク７上の異物等の情
報を得ている。ここでは、サーボ検出用ディテクタ１０
は、２分割ディテクタであり、トラッキング誤差の検出
に用いている。トラッキング誤差検出には、プッシュプ
ル法を用いている。２分割ディテクタ１０の２つディテ
クタからの出力は差動回路８０７に入力される。差動回
路８０７からは、入力された２つの信号の差信号が出力
され、この出力信号は、トラッキング誤差信号として用
いられる。すなわち、このトラッキング誤差信号に応じ
て対物レンズ６あるいはミラー５等を駆動し、トラッキ
ングサーボ制御が行われる。

【００３８】２分割ディテクタ１０の２つディテクタか
らの出力は、加算回路８０８にも入力される。加算回路
８０８からは、入力された２つの信号の和信号が出力さ
れる。加算回路８０８から出力される和信号のレベル
は、光ビームが光ディスク上の記録トラックを追従中
は、通常トラッキング誤差によらず一定である。光ディ
スク上に異物等がある場合は、この信号のレベルに変化
が生じる。すなわち、光ディスクに異物等がある場合に
は、加算器８０８からの出力レベルは低くなる。加算器
８０８から出力される和信号は、比較器８０５に入力さ
れる。比較器８０５は、基準信号出力回路８０６から出
力される基準信号のレベルと加算器８０８から出力され
る和信号のレベルとを比較する。図２、４、６での動作
説明では、基準信号のレベルの方が高いときにベリファ
イ動作を行わないこととしているが、本実施形態の場
合、基準信号のレベルの方が低いときにベリファイ動作
を行わないこととすれば、図２、４、６の場合と同様の
効果がもたらされる。

【００３９】以上のようにして、異物等による影響を知
ることができ、データの信頼性が確保できる。（実施形態９）図１１は、実施形態９に係る、光ディス
ク記録装置の構成図である。本実施形態では、光ディス
ク７に付着している異物等を見つける方法が、実施形態
１〜８とは異なる。

【００４０】図１１の装置は、図１の装置と比べると、
異物検出受光素子１７がなく、差動回路８０７、比較器
８０５、基準信号出力回路８０６が付加されている。本
実施形態では、サーボ検出用ディテクタ１０の片信号を
用いて、光ディスク７上の異物等の情報を得ている。こ
こでは、サーボ検出用ディテクタ１０は、２分割ディテ
クタであり、トラッキング誤差の検出に用いている。ト
ラッキング誤差検出には、プッシュプル法を用いてい
る。２分割ディテクタ１０の２つディテクタからの出力
は差動回路８０７に入力される。差動回路８０７から
は、入力された２つの信号の差信号が出力され、この出
力信号は、トラッキング誤差信号として用いられる。す
なわち、このトラッキング誤差信号に応じて対物レンズ
６あるいはミラー５等を駆動し、トラッキングサーボ制
御が行われる。

【００４１】２分割ディテクタ１０の一方のディテクタ
からの出力は比較器８０５にも入力される。光ディスク
上に異物等がある場合は、２分割ディテクタ１０のディ
テクタからの出力信号のレベルに変化が生じる。すなわ
ち、光ディスクに異物等がある場合には、ディテクタか
らの出力信号のレベルは低くなる。比較器８０５は、基
準信号出力回路８０６から出力される基準信号のレベル
と一方のディテクタから出力される信号のレベルとを比
較する。図２、４、６での動作説明では、基準信号のレ
ベルの方が高いときにベリファイ動作を行わないことと
しているが、本実施形態の場合、基準信号のレベルの方
が低いときにベリファイ動作を行わないこととすれば、
図２、４、６の場合と同様の効果がもたらされる。

【００４２】以上のようにして、異物等による影響を知
ることができ、データの信頼性が確保できる。（実施形態１０）図１２は、実施形態１０に係る、光デ
ィスク記録装置の構成図である。本実施形態では、光デ
ィスク７に付着している異物等を見つける方法が、実施
形態１〜９とは異なる。

【００４３】図１２の装置は、図１の装置と比べると、
異物検出受光素子１７がなく、差動回路１２１、加算回
路１２２、比較器８０５、基準信号出力回路８０６が付
加されている。本実施形態では、光ディスク７には、光
磁気ディスクを用いている。本実施形態では、光磁気デ
ィスク７からの再生信号を用いて、光磁気ディスク７上
の異物の情報を得る。

【００４４】光磁気ディスク７からの再生信号、すなわ
ち光磁気信号は、次のようにして生成される。偏光ビー
ムスプリッタ１２により２光路に分離されたレーザ光
は、それぞれ２つ再生信号ディテクタ１４により受光さ
れ、それぞれの再生信号ディテクタからの出力は、差動
回路１２１に入力される。差動回路１２１は、入力され
た２つの信号の差信号を出力する。この差信号が再生信
号（光磁気信号）となる。

【００４５】２つの再生信号ディテクタ１４からの出力
は、加算回路１２２にも入力される。加算回路１２２
は、入力された２つの信号の和信号を出力する。この和
信号は比較器８０５に入力される。再生信号ディテクタ
の和信号は、再生信号の変化の影響は受けずほぼ一定の
ため、光ディスク上に異物がある場合、加算回路１２２
の出力信号に変化が生じる。すなわち、光ディスクに異
物等がある場合には、加算回路１２２からの出力信号の
レベルは低くなる。比較器８０５は、基準信号出力回路
８０６から出力される基準信号のレベルと加算回路２１
２から出力される和信号のレベルとを比較する。図２、
４、６での動作説明では、基準信号のレベルの方が高い
ときにベリファイ動作を行わないこととしているが、本
実施形態の場合、基準信号のレベルの方が低いときにベ
リファイ動作を行わないこととすれば、図２、４、６の
場合と同様の効果がもたらされる。

【００４６】以上のようにして、異物等による影響を知
ることができ、データの信頼性が確保できる。（実施形態１１）図１３は、実施形態１１に係る、光デ
ィスク記録装置の構成図である。本実施形態では、光デ
ィスク７に付着している異物等を見つける方法が、実施
形態１〜１０とは異なる。

【００４７】図１３の装置は、図１の装置と比べると、
異物検出受光素子１７がなく、差動回路１２１、比較器
８０５、基準信号出力回路８０６が付加されている。本
実施形態では、光ディスク７には、光磁気ディスクを用
いている。本実施形態では、光磁気ディスク７からの再
生信号を用いて、光磁気ディスク７上の異物の情報を得
る。

【００４８】光磁気ディスク７からの再生信号、すなわ
ち光磁気信号は、実施形態１０と同様に生成され、差動
回路１２１から出力される。２つの再生信号ディテクタ
１４のうちの一方からの出力は、比較器８０５にも入力
される。２つの再生信号ディテクタからの各信号は、光
ディスク上に異物がある場合、変化が生じる。すなわ
ち、光ディスクに異物等がある場合には、２つの再生信
号ディテクタからの各信号のレベルは低くなる。比較器
８０５は、基準信号出力回路８０６から出力される基準
信号のレベルと再生信号ディテクタの一方から出力され
る信号のレベルとを比較する。図２、４、６での動作説
明では、基準信号のレベルの方が高いときにベリファイ
動作を行わないこととしているが、本実施形態の場合、
基準信号のレベルの方が低いときにベリファイ動作を行
わないこととすれば、図２、４、６の場合と同様の効果
がもたらされる。

【００４９】以上のようにして、異物等による影響を知
ることができ、データの信頼性が確保できる。（実施形態１２）図１４は、実施形態１２に係る、光デ
ィスク記録装置の構成図である。本実施形態では、光源
１と光ディスク７の間に回折格子１６を設けることによ
り、光ディスク７上に複数のスポットを照射し、そのス
ポットの反射光の一部を用いて、光ディスク７上に異物
等があるか否かを調べる。

【００５０】本実施形態では、回折格子１６を用いて光
ディスク７に２個のスポットを照射する。第１のスポッ
トは透過光であり、第２のスポットは回折光である。ま
た、第２のスポットの光強度は、光ディスクにデータを
書き込める程には強くない。再生信号並びにサーボ信号
は、第１のスポットの反射光により生成される。これ
は、前述の実施形態と同様にして生成される。

【００５１】第２のスポットの反射光は、サーボ検出用
ディテクタと異なる位置にあるディテクタ１４１に集光
される。そして、ディテクタ１４１の出力信号は、比較
器８０５に入力される。この第２のスポットによる反射
光の強度は、再生信号、並びにサーボ信号の変化の影響
は受けずほぼ一定のため、光ディスク７上に異物がある
と変化が生じる。すなわち、光ディスクに異物等がある
場合には、ディテクタ１４１の出力信号のレベルは低く
なる。比較器８０５は、基準信号出力回路８０６から出
力される基準信号のレベルとディテクタ１４１から出力
される信号のレベルとを比較する。図２、４、６での動
作説明では、基準信号のレベルの方が高いときにベリフ
ァイ動作を行わないこととしているが、本実施形態の場
合、基準信号のレベルの方が低いときにベリファイ動作
を行わないこととすれば、図２、４、６の場合と同様の
効果がもたらされる。

【００５２】以上のようにして、異物等による影響を知
ることができ、データの信頼性が確保できる。また、回
折格子１６の代わりに、ロションプリズム等により２個
のスポットを生成することもできる。以上のような実施
形態１〜１２によれば、以下のような効果がある。実施
形態の装置は、データの記録動作時または消去動作時
に、光ディスクからの反射光量を検出し、反射光量と基
準値とを比較し、反射光量が適正な範囲を越えた場合に
のみ、データの記録動作完了後に、ベリファイ動作をお
こなうこととすることとしている。その結果、データの
信頼性を損なう事無く、平均的なデータの記録速度を向
上させることができる。

【００５３】また、実施形態の装置は、データの消去動
作時に、光ディスクからの反射光量を検出し、反射光量
と基準値とを比較し、反射光量が適正な範囲を越えた場
合には、光ディスク上の記録しようとした領域以外の領
域にデータを記録する。その結果、データの信頼性を損
なう事無く、平均的なデータの記録速度を向上させるこ
とができる。

【００５４】また、実施形態の装置は、データの記録動
作時または消去動作時に、光ディスクからの反射量を検
出し、反射光量と基準値とを比較し、反射光量が適正な
範囲を越えた場合には、光源からの出射光量を補正す
る。その結果、データの信頼性を損なう事無く、データ
の記録速度を向上させることができる。

【００５５】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、データの
信頼性を損なう事無く、データの記録速度を向上させる
ことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施形態１に係る光ディスク記録装
置の構成図。

【図２】本発明の実施形態１に係る光ディスク記録装
置の記録動作の処理手順を示す図。

【図３】本発明の実施形態１に係る異物検出受光素子
からの出力信号を示す図。

【図４】本発明の実施形態２に係る光ディスク記録装
置の記録動作の処理手順を示す図。

【図５】本発明の実施形態３に係る光ディスク記録装
置の構成図。

【図６】本発明の実施形態４に係る光ディスク記録装
置の記録動作の処理手順を示す図。

【図７】本発明の実施形態５に係る光ディスク記録装
置の構成図。

【図８】本発明の実施形態６に係る光ディスク記録装
置の構成図。

【図９】本発明の実施形態７に係る光ディスク記録装
置の構成図。

【図１０】本発明の実施形態８に係る光ディスク記録
装置の構成図。

【図１１】本発明の実施形態９に係る光ディスク記録
装置の構成図。

【図１２】本発明の実施形態１０に係る光ディスク記
録装置の構成図。

【図１３】本発明の実施形態１１に係る光ディスク記
録装置の構成図。

【図１４】本発明の実施形態１２に係る光ディスク記
録装置の構成図。

【符号の説明】

１・・半導体レーザ、２・・コリメータレンズ、３・・
第１のビームスプリッタ、４・・第２のビームスプリッ
タ、５・・はね上げミラー、６・・対物レンズ、７・・
光ディスク、８・・サーボ用レンズ、９・・シリンドリ
カルレンズ、１０・・サーボ検出用ディテクタ、１１・
・１／２波長板、１２・・偏光ビームスプリッタ、１３
・・再生用レンズ、１４・・再生信号ディテクタ、１５
・・受光素子、１６・・回折格子、１７・・異物検出受
光素子、１２１、８０１、８０２、８０４、８０８・・
加算回路、１２２、８０３、８０７・・差動回路、１４
１・・ディテクタ、８０５・・比較器、８０６・・基準
信号出力回路、５０１、７０１・・オート・パワー・コ
ントロール回路、５０２、５０４、７０２、７０４・・
電流／電圧変換回路、５０３・・タイミング回路、７０
３・・ローパスフィルタ。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号庁内整理番号ＦＩ技術表示箇所Ｇ１１Ｂ 20/18 ５５２ 9558−5ＤＧ１１Ｂ 20/18 ５５２Ｚ５７２ 9558−5Ｄ５７２Ｆ 9558−5Ｄ５７２Ｃ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光ディスクの記録面上にレーザ光を照射す
ることによって前記記録面上にデータを記録する照射手
段と、前記レーザ光の前記光ディスクの記録面からの反射光量
を検出する検出手段と、前記反射光量が予め決められた範囲を超えているか否か
を比較する比較手段と、前記反射光量が予め決められた範囲を超えた場合に、ベ
リファイ動作を行うベリファイ手段とを備えたことを特
徴とする光ディスク記録装置。
【請求項２】前記ベリファイ手段は、前記記録面上の前
記データを記録した領域から、前記レーザ光を照射する
ことによって前記データを再生し、前記データが正しく
記録されたか否かを判断することを特徴とする請求項１
記載の光ディスク記録装置。
【請求項３】光ディスクの記録面上に記録されたデータ
をレーザ光を照射することによって消去する消去手段
と、前記消去手段によってデータが消去された前記光ディス
クの記録面上の領域にレーザ光を照射することによって
データを記録する記録手段と、消去するときに照射されているときのレーザ光の前記光
ディスクの記録面からの反射光量を検出する検出手段
と、前記反射光量が予め決められた範囲を超えているか否か
を比較する比較手段と、前記反射光量が予め決められた範囲を超えた場合に、前
記記録手段でのデータの記録の後にベリファイ動作を行
うベリファイ手段とを備えたことを特徴とする光ディス
ク記録装置。
【請求項４】前記ベリファイ手段は、前記記録面上の前
記データを記録した領域から、前記レーザ光を照射する
ことによって前記データを再生し、前記データが正しく
記録されたか否かを判断することを特徴とする請求項３
記載の光ディスク記録装置。
【請求項５】光ディスクの記録面上に記録されたデータ
をレーザ光を照射することによって消去する消去手段
と、前記消去手段によってデータが消去された前記光ディス
クの記録面上の領域にレーザ光を照射することによって
データを記録する記録手段と、消去するときに照射されているときのレーザ光の前記光
ディスクの記録面からの反射光量を検出する検出手段
と、前記反射光量が予め決められた範囲を超えているか否か
を比較する比較手段と、前記反射光量が予め決められた範囲を超えた場合に、デ
ータを消去した領域とは異なる領域に対して記録動作を
行うことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項６】前記記録動作は、前記消去手段によるデー
タの消去を行った後で前記記録手段によりデータの記録
を行うことを特徴とする請求項５記載の光ディスク記録
装置。
【請求項７】消去するときの前記反射光量に応じて、記
録するときのレーザ光の強度を増減させる制御手段を備
えたことを特徴とする請求項３記載の光ディスク記録装
置。
【請求項８】光ディスクの記録面上にレーザ光を照射す
ることによって前記記録面上にデータを記録する照射手
段と、前記レーザ光の前記光ディスクの記録面からの反射光を
受光する受光部を有し、その受光部からの出力信号から
フォーカス誤差信号を生成するフォーカス誤差信号生成
手段と、前記フォーカス誤差信号のレベルが予め決められた範囲
を超えているか否かを比較する比較手段と、前記フォーカス誤差信号のレベルが予め決められた範囲
を超えた場合に、ベリファイ動作を行うベリファイ手段
とを備えたことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項９】前記ベリファイ手段は、前記記録面上の前
記データを記録した領域から、前記レーザ光を照射する
ことによって前記データを再生し、前記データが正しく
記録されたか否かを判断することを特徴とする請求項８
記載の光ディスク記録装置。
【請求項１０】光ディスクの記録面上にレーザ光を照射
することによって前記記録面上にデータを記録する照射
手段と、前記レーザ光の前記光ディスクの記録面からの反射光を
受光する受光部を有し、その受光部からの出力信号から
フォーカス誤差信号を生成するフォーカス誤差信号生成
手段と、前記受光部の出力信号のレベルが予め決められた範囲を
超えているか否かを比較する比較手段と、前記出力信号のレベルが予め決められた範囲を超えた場
合に、ベリファイ動作を行うベリファイ手段とを備えた
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１１】前記ベリファイ手段は、前記記録面上の
前記データを記録した領域から、前記レーザ光を照射す
ることによって前記データを再生し、前記データが正し
く記録されたか否かを判断することを特徴とする請求項
１０記載の光ディスク記録装置。
【請求項１２】光ディスクの記録面上にレーザ光を照射
することによって前記記録面上にデータを記録する照射
手段と、前記レーザ光の前記光ディスクの記録面からの反射光を
受光する受光部を有し、その受光部からの出力信号から
トラッキング誤差信号を生成するトラッキング誤差信号
生成手段と、前記トラッキング誤差信号のレベルが予め決められた範
囲を超えているか否かを比較する比較手段と、前記トラッキング誤差信号のレベルが予め決められた範
囲を超えた場合に、ベリファイ動作を行うベリファイ手
段とを備えたことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１３】前記ベリファイ手段は、前記記録面上の
前記データを記録した領域から、前記レーザ光を照射す
ることによって前記データを再生し、前記データが正し
く記録されたか否かを判断することを特徴とする請求項
１２記載の光ディスク記録装置。
【請求項１４】光ディスクの記録面上にレーザ光を照射
することによって前記記録面上にデータを記録する照射
手段と、前記レーザ光の前記光ディスクの記録面からの反射光を
受光する受光部を有し、その受光部からの出力信号から
トラッキング誤差信号を生成するトラッキング誤差信号
生成手段と、前記受光部の出力信号のレベルが予め決められた範囲を
超えているか否かを比較する比較手段と、前記出力信号のレベルが予め決められた範囲を超えた場
合に、ベリファイ動作を行うベリファイ手段とを備えた
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１５】前記ベリファイ手段は、前記記録面上の
前記データを記録した領域から、前記レーザ光を照射す
ることによって前記データを再生し、前記データが正し
く記録されたか否かを判断することを特徴とする請求項
１４記載の光ディスク記録装置。
【請求項１６】光ディスクの記録面上にレーザ光を照射
することによって前記記録面上にデータを記録する照射
手段と、前記レーザ光の前記光ディスクの記録面からの反射光を
受光する受光部を有し、その受光部からの出力信号から
サーボ制御用の信号を生成するサーボ信号生成手段と、前記サーボ制御用の信号のレベルが予め決められた範囲
を超えているか否かを比較する比較手段と、前記サーボ制御用の信号のレベルが予め決められた範囲
を超えた場合に、ベリファイ動作を行うベリファイ手段
とを備えたことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１７】消去するときの前記反射光量に応じて、
記録するときの前記レーザ光の強度を制御する制御手段
を備えたことを特徴とする請求項３記載の光ディスク記
録装置。
【請求項１８】前記記録手段は、記録するときの前記反
射光量に応じて、記録するときの前記レーザ光の強度を
制御する制御手段を備えたことを特徴とする請求項３記
載の光ディスク記録装置。
【請求項１９】前記検出手段は、前記光ディスクからの
反射光のうちの散乱光の光量を検出する散乱光検出手段
を有し、前記比較手段は、前記散乱光の光量が予め決められた範
囲を超えているか否かを比較することを特徴とする請求
項１記載の光ディスク記録装置。