JPH0831112A - 磁気データ読取装置 - Google Patents

磁気データ読取装置

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JPH0831112A
JPH0831112A JP18274594A JP18274594A JPH0831112A JP H0831112 A JPH0831112 A JP H0831112A JP 18274594 A JP18274594 A JP 18274594A JP 18274594 A JP18274594 A JP 18274594A JP H0831112 A JPH0831112 A JP H0831112A
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JP
Japan
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data
pulse
logical value
abnormal
peak
Prior art date
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Pending
Application number
JP18274594A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Sugiyama
隆 杉山
Mitsuo Nishimura
光夫 西村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Signal Co Ltd
Original Assignee
Nippon Signal Co Ltd
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Publication date
Application filed by Nippon Signal Co Ltd filed Critical Nippon Signal Co Ltd
Priority to JP18274594A priority Critical patent/JPH0831112A/ja
Publication of JPH0831112A publication Critical patent/JPH0831112A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 F2F(FM)の磁気データをCPUでソフ
トウエア的にチェックし、ビットエラーを可能な限り救
済する。 【構成】 磁気ヘッドHを介して読取った信号のピーク
を検出するピーク検出手段aと、検出されたピークから
論理値“1”,“0”に対応したパルス信号を生成する
パルス信号生成手段bと、生成されたパルス信号の時間
と1論理値を形成する標準時間を比較して異常パルスを
検出する異常パルス検出手段cと、異常パルスが検出さ
れたときに、その異常パルスが正常パルスであるときに
予想される所定の候補論理値を生成する論理値生成手段
dと、生成された候補論理値を用いたデータをパリティ
チェック等のデータチェックにより正当性を判定する判
定手段eと、データチェックが正当と判定されたとき
に、そのデータを取込む取込手段fとからなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気カード等の磁気記
録媒体に記録されているデータを読取るための磁気デー
タ読取装置に係り、特に、周波数変調(FM)方式ある
いはF2F方式と呼ばれている読取装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図9は、従来のF2F方式の磁気データ
読取装置の概略構成を示すブロック図であって、磁気記
録媒体(以下、磁気カードという)Cが、図示しない搬
送機構を介してピンチローラPで所定圧力で押圧されな
がら磁気ヘッドHに接して移動すると、磁気ヘッドHか
らは、磁気カードCに記録されているデータに対応した
読取電圧の波形出力が得られるように構成されている。
【0003】磁気ヘッドHからの出力は、増幅機能、ピ
ーク検出機能及び波形成形機能を有するピーク検出増幅
回路1で処理された後、F2F復調ロジック回路2に入
力される。これらピーク検出増幅回路1及びF2F復調
ロジック回路2は、通常、半導体集積回路(LSI)で
構成されている。
【0004】F2F復調回路2では、図10に示される
ように、クロック信号に同期したF2F信号が生成され
るように構成されている。すなわち、このF2F信号
は、1ビット内にエッジの変化のないとき、つまり周波
数が1Fのときに論理値“0”(以下、論理値を省略す
るときもある。)と、また、1ビット内にエッジの変化
があるとき、つまり周波数が2Fのときを“1”として
いる。
【0005】F2F復調回路2でF2Fパターン信号に
変換された信号(データ)は、磁気カードCのデータ読
取り初めの部分の不安定なデータを除去するために、所
定のビット数が読み捨てられた後、シリアルインターフ
ェース(I/F)回路3を介してCPU4に取込まれる
ように構成されている。
【0006】CPU4は、例えば、この磁気データ読取
装置が自動改札機に組込まれるものであるときは、その
自動改札機を統括的に制御するものである。したがっ
て、シリアルI/F回路3を介して取込まれたデータ
は、改札処理の演算処理用に供される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の磁気データ読取装置は、磁気ヘッドで読取られた信
号をCPUに入力するまでの処理は、固定化された一定
のハード処理で行われるため、所定の基準から外れた読
取り信号は全て読取りエラーとなって、その磁気データ
読取装置を組込んだ全体のシステム、例えば自動改札機
の信頼性を低下さる欠点があった。
【0008】そこで、本発明は、上記欠点を解決するた
めになされたものであって、その目的は、磁気ヘッドの
読取信号をCPUでソフトウエア処理してデータを読取
り、例えば自動改札機のデータ読取り用に適用されたと
きは、仮に磁気ヘッドの読取った信号が復調限界を外れ
るものであっても補正を加えて救済し、可能な限り読取
りを行って、システム全体の信頼性の向上を計ることの
できるようにするようにした磁気データ読取装置を提供
することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明に係る磁気データ
読取装置は、上記目的を達成するために、図1に示され
るように、磁気記録媒体(C)に記録されているデータ
を磁気ヘッド(H)を介して読取った信号のピークを検
出するピーク検出手段(a)と、検出されたピークから
論理値“1”,“0”に対応したパルス信号を生成する
パルス信号生成手段(b)と、生成されたパルス信号の
時間と1論理値を形成する標準時間とを比較してその生
成されたパルス信号から異常パルスを検出する異常パル
ス検出手段(c)と、異常パルスが検出されたときに、
その異常パルスが正常パルスであるときに予想される所
定の候補論理値を生成する論理値生成手段(d)と、生
成された候補論理値を用いたデータをパリティチェック
等のデータチェックにより正当性を判定する判定手段
(e)と、データチェックが正当と判定されたときに、
そのデータを取込む取込手段(f)とからなることを特
徴としている。
【0010】
【作用】上記構成において、異常パルスが検出される
と、その異常パルスに対して所定の候補論理値が当ては
められて判定処理に付され、その判定で正当性が確かめ
られるとデータの取込みが行なわれる。
【0011】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。なお、上記従来と同一構成要素については、同一
符号を用いて説明する。
【0012】図2は、一実施例に係る磁気データ読取装
置の概略構成を示すブロック図であって、磁気カードC
が、図示しない搬送機構を介してピンチローラPで所定
圧力で押圧されながら磁気ヘッドHに接して移動する
と、磁気ヘッドHからは、磁気カードCに記録されてい
るデータに対応した図2のAに示されるような読取電圧
の波形出力が得られる。
【0013】磁気ヘッドHからの出力は、増幅機能、ピ
ーク検出機能を有する周知のピーク検出増幅回路1で処
理された後、CPU4の図示しないパルス幅測定用タイ
マーポートに取込まれるように構成されている。すなわ
ち、本実施例装置においては、読出し出力のピーク値
(図2のAの上,下のピーク値)を検出したタイミング
がCPU4に取込まれるように構成され、ここで、図2
のBに示されるような、周知のF2Fのパルス信号にソ
フトウエア的に形成されてデータが読取られるように構
成されている。
【0014】このCPU4は、例えば、この磁気データ
読取装置が自動改札機に組込まれるものであるときは、
その自動改札機を統括的に制御するものである。したが
って、磁気ヘッドHからのデータは、最終的には改札処
理の演算処理用に供される。
【0015】次に、本実施例装置の制御動作を説明する
前に、図3のF2Fの波形図を参照して、正常な波形と
異常な波形(図3ではビットエラーとしている。以下、
異常パルス信号をビットエラーというときもある。)に
ついて説明する。
【0016】図3において、太い実線の波形(パルス)
は、CPU4において実際に読取られて生成されたパル
ス波形であり、太い鎖線は右側に示す論理値を得るため
の正常時のパルス波形を示している。すなわち、この鎖
線で示されるパルス波形は、1論理値の“1”又は
“0”を形成するための、1ビットの標準時間の1/
2、いわゆるハーフポイント(HP)で立上り又は立下
り、あるいは1ビットの標準時間の両側で立上り又は立
下りのエッジを有している。
【0017】図3(a)は、1ビットの両側及びハーフ
ポイント以外でエッジを有するビットエラーを示してい
る。なお、このビットエラーの場合、本実施例において
は、左側に示す“1”又は“0”であると認定して正常
扱いを行い、後のパリティチェックあるいはCRC等の
チェック手段で正当性が判定されたときにデータを取込
むようにしている。
【0018】図3(b)〜(e)は、ビットエラーが2
ビット以上に及ぶ場合であり、この場合においても、本
実施例装置においては可能な限りデータ取込みを行うよ
うに工夫している。
【0019】次に、図4〜図8を用いてビットエラーを
生じた磁気カードCを可能な限り救済するときの制御動
作について説明する。
【0020】ピーク検出増幅回路1から取込まれる信号
のうち、当初の数ビット、例えば4〜5ビットは、周知
の磁気データ読取装置と同様に、CPU4の演算用に取
込まず廃棄される。すなわち、磁気ヘッドHは、カード
Cの端面からデータ読取りを開始するが、その端面側の
データは不安定で、一定していないので、数ビットの読
捨てが行なわれる(図4のステップ100否定、図5の
ステップ200否定、ステップ202、ステップ21
2。以下、ステップをSとする。なお、Sの100番台
は図4、またSの200番台は図5に係るフローチャー
トである。)。
【0021】上記S202における読捨てカウンタと
は、CPU4に設けられたカウンタが所定の値(例えば
4ビットをカウントする)になるまでカウントすること
を意味している。また、S212の積算値とは、CPU
4に設けられている図示しないレジスタが図2のBに示
されるパルス信号の立上り又は立下りのエッジを検出し
たときのカウンタの値、つまりキャプチャ値を意味して
いる。なお、キャプチャ値等については後に詳述する。
【0022】さて、所定のビット数が読捨てられると
(S200肯定)、磁気カードCのデータ読取り終了ま
で、次の工程に従って1ビット毎のパルス幅(本発明の
パルス信号の時間に該当している。)の測定が行なわれ
る。
【0023】まず、カウント値が測定される(S20
4)。すなわち、読捨てビットが終了して最初のエッジ
が検出された時点(図2のBの(イ)参照)から次のエ
ッジが検出された時点(図2のBの(ロ)参照)までの
カウンタの値が測定されて、1パルス幅が測定される
(図2のBの(ハ)参照)。なお、図2のBのt1 ,t
1…は、各ビットのカウント値、つまりパルス幅の計測
値を現している。
【0024】この際、カードCのデータのうち当初のス
タートデータ(このデータは“1”(2F))までのS
YNCデータは“0”であってるので、しばらくの間、
“0”ビットが続くことになるが、カ−ドの搬送機構の
モータ(図示せず)のエンコーダとの差が25%以内で
ない場合は(S206否定)、カード搬送が安定してい
ないものと判断し、SYNCデータ検出完了フラグはセ
ットされず、最後に検出されたエッジのキャプチャ値が
積算値に更新される(S212)。
【0025】搬送機構のモータのエンコーダとの差が2
5%以内に入ればSYNCデータ検出終了のフラブが立
てられ、計測結果の判断基準となる基準値が得られる
(S206肯定、S208、S210、S212)。
【0026】SYNCデータの検出が完了すると、S1
04の値は、基準値(基準幅)、つまり前回のパルス幅
の±25%以下となるので、図6のフローチャートに進
み(S106否定、S108肯定)、ハーフポイントカ
ウンタ(HPカウンタ)は0にセットされ、次のビット
のパルス幅の測定のために、基準値と積算値が更新され
る(S300〜S306)。
【0027】磁気カードCがデータ記録エリアに達する
と、以下、データ内容に応じた2F(“1”)又は1F
(“0”)のパルス幅が計測される。この場合、データ
が2F(“1”)のときは、S106の値は75%以下
となるので、つまり前回のパルス幅の1/2程度となる
ので(S106肯定)、このときはHPカウンタは+1
される(S1028)。
【0028】さて、上述のように計測していたビットの
パルス幅が異常である場合、つまりS104の値が17
5%を越え、かつ225%以下の場合は、すなわち図3
(b),(c)の場合は、図7のフローチャートに進
み、異常パルス発生が記録される(S400〜S41
0)。この場合、HPカウンタが奇数であれば(S40
0肯定)、図3(b)のエラーの状態であり(S40
4)、HPカウンタが偶数であれば(S400否定)、
図3(c)のエラーの状態であり、いずれにしても、
ビットエラーが発生したことがCPU4のメモリに記憶
される(S404、S410)。
【0029】また、上述のように計測していたビットの
パルス幅が異常である場合で、S104の値が275%
を越え、かつ325%以下の場合は、すなわち図3
(d),(e)の場合は、図8のフローチャートに進
み、異常パルス発生が記録される(S500〜S51
0)。この場合、HPカウンタが奇数であれば(S50
0肯定)、図3(d)のエラーの状態であり(S50
4)、HPカウンタが偶数であれば(S500否定)、
図3(e)のエラーの状態であり、いずれにしても、
ビットエラーが発生したことがCPU4のメモリに記憶
される(S504、S510)。
【0030】さらに、上述のようにして計測されたビッ
トのパルス幅が異常で、S104の値が325%を越え
る場合も考えられる。(S116否定)。すなわち、図
3(d),(e)を越えるビットにまたがるエラー発生
も考えられる。この場合は、本実施例装置では、救済不
能エラーとしてエラーの発生をCPUのメモリに記憶
する。
【0031】このエラーが発生したときは、後述の候
補論理値を用いての正当性判定は行なわれず、読取デー
タの廃棄が行なわれ、読取動作のリトライが行なわれ
る。
【0032】上述の図3(b)〜(e)のエラー〜
が発生した場合、CPU4は、図3の各波形の右側に示
される論理値を候補論理値にして読取データのパリテッ
クチェクあるいはCRCチェック等の周知のチェックが
行なわれる。
【0033】このチェックにおいて、図3(b)のエラ
ーの場合は、候補論理値が“1,1”の1つであるか
ら、そのチェックが正当(OK)であれば、異常ビット
のデータは候補論理値のデータであるとしてデータの取
込みが行なわれる。もちろん、このチェックの正当性が
否定(NG)された場合は、異常ビットのデータは不明
であるので、読取データはCPU4の演算用とせずに廃
棄される。
【0034】上記チェックにおいて、図3(c)のエラ
ーの場合は候補論理値が“1,0”と“0”,“1”
の2つであるから、そのチェック一つが正当であれば、
異常ビットのデータはその正当と判定された候補論理値
のデータであるとしてデータの取込みが行なわれる。
【0035】もちろん、このチェックで二つの候補論理
値が共に正当と判定された場合は、いずれの候補論理値
が異常ビットのデータか不明であるので、読取データは
廃棄される。
【0036】上記チェックにおいて、図3(d),
(e)のエラー及びの場合も、上述のエラーと同
様に候補論理値が複数あるので、一つの候補論理値が正
当と判定されたときのみ、その候補論理値のデータを基
にした読取データがCPU4に取込まれて演算処理に供
される。
【0037】また、図3(a)のビット形状が正常でな
い場合、及びビット形状が全く正常のときでも、正当性
チェックで正当が得られないときは、従来と同様に、そ
のデータ廃棄され、演算に用いられることはない。
【0038】以上のように、本実施例装置においては、
ビットエラーがあっても直ちにデータを廃棄しないで、
可能なかぎり救済するようにしたので、読取エラーの出
現を少なくすることができ、この読取装置を組込んだ例
えば自動改札機等のカード処理機の信頼性を向上させる
ことができる。
【0039】
【発明の効果】本発明装置は、磁気記録媒体(C)に記
録されているデータを磁気ヘッド(H)を介して読取っ
た信号のピークを検出するピーク検出手段(a)と、検
出されたピークから論理値“1”,“0”に対応したパ
ルス信号を生成するパルス信号生成手段(b)と、生成
されたパルス信号の時間と1論理値を形成する標準時間
を比較してその生成されたパルス信号から異常パルスを
検出する異常パルス検出手段(c)と、異常パルスが検
出されたときに、その異常パルスが正常パルスであると
きに予想される所定の候補論理値を生成する論理値生成
手段(d)と、生成された候補論理値を用いたデータを
パリティチェック等のデータチェックにより正当性を判
定する判定手段(e)と、データチェックが正当と判定
されたときに、そのデータを取込む取込手段(f)とか
らなるので、ビットエラーがあっても直ちにデータを廃
棄しないで、可能なかぎり救済でき、読取エラーの出現
を少なくすることができる。このため、この読取装置を
組込んだ例えば自動改札機等のカード処理機の信頼性を
向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の構成上の特徴を表した全体構成図であ
る。
【図2】本発明の一実施例装置の全体構成図である。
【図3】ビットエラーの説明図である。
【図4】一実施例装置のパルス幅を計測するときのフロ
ーチャートである。
【図5】一実施例装置のパルス幅を計測するときのフロ
ーチャートである。
【図6】一実施例装置のパルス幅を計測するときのフロ
ーチャートである。
【図7】一実施例装置のパルス幅を計測するときのフロ
ーチャートである。
【図8】一実施例装置のパルス幅を計測するときのフロ
ーチャートである。
【図9】従来装置の全体構成図である。
【図10】F2Fのパルス信号の説明図である。
【符号の説明】
1 ピーク検出手段をなすピーク検出増幅回路 4 パルス信号生成手段、異常パルス検出手段、論
理値生成手段、正当性判定手段及びデータ取込手段をな
すCPU C 磁気記録媒体(磁気カード) H 磁気ヘッド
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G11B 5/09 361 Z 7520−5D

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】磁気記録媒体(C)に記録されているデー
    タを磁気ヘッド(H)を介して読取った信号のピークを
    検出するピーク検出手段(a)と、 検出されたピークから論理値“1”,“0”に対応した
    パルス信号を生成するパルス信号生成手段(b)と、 生成されたパルス信号の時間と1論理値を形成する標準
    時間とを比較してその生成されたパルス信号から異常パ
    ルスを検出する異常パルス検出手段(c)と、 異常パルスが検出されたときに、その異常パルスが正常
    パルスであるときに予想される所定の候補論理値を生成
    する論理値生成手段(d)と、 生成された候補論理値を用いたデータをパリティチェッ
    ク等のデータチェックにより正当性を判定する判定手段
    (e)と、 データチェックが正当と判定されたときに、そのデータ
    を取込む取込手段(f)と、 からなることを特徴とする磁気データ読取装置。
JP18274594A 1994-07-12 1994-07-12 磁気データ読取装置 Pending JPH0831112A (ja)

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JP18274594A JPH0831112A (ja) 1994-07-12 1994-07-12 磁気データ読取装置

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JPH0831112A true JPH0831112A (ja) 1996-02-02

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JP (1) JPH0831112A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007311002A (ja) * 2006-05-22 2007-11-29 Nidec Sankyo Corp 磁気データの復調方法
CN109873503A (zh) * 2017-12-05 2019-06-11 三星电子株式会社 包括配置为使用升压电压而操作的电路的电子设备

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JP2007311002A (ja) * 2006-05-22 2007-11-29 Nidec Sankyo Corp 磁気データの復調方法
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