JPS617406A - 物体形状の欠陥検出方法 - Google Patents
物体形状の欠陥検出方法Info
- Publication number
- JPS617406A JPS617406A JP59128040A JP12804084A JPS617406A JP S617406 A JPS617406 A JP S617406A JP 59128040 A JP59128040 A JP 59128040A JP 12804084 A JP12804084 A JP 12804084A JP S617406 A JPS617406 A JP S617406A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、所定の形状を有する物体の形状欠陥を画像処
理によって検出する物体形状の欠陥検出方法に関するも
のである。
理によって検出する物体形状の欠陥検出方法に関するも
のである。
第１図は、この種の欠陥検出方法を用いた欠陥検出装置
の従来構成を示すブロック図であり、１は被検査物体、
２はテレビカメラ、３はＡＤ変換器、４は画像メモリ、
５は基準物体の画像信号を記憶した画像メモリ、６は比
較回路、７はマイクｏ７’ロセッサ等で構成されるＣＰ
Ｕ、８は判定回路、９は出力端子である。
の従来構成を示すブロック図であり、１は被検査物体、
２はテレビカメラ、３はＡＤ変換器、４は画像メモリ、
５は基準物体の画像信号を記憶した画像メモリ、６は比
較回路、７はマイクｏ７’ロセッサ等で構成されるＣＰ
Ｕ、８は判定回路、９は出力端子である。
このような構成において、被検査物体ｌの画像はテレビ
カメラ２によって撮像される。そして、その画像信号は
ＡＤ変換器３によって例えば１６階調の画像データに変
換されて画像メモリ４に記憶される。
カメラ２によって撮像される。そして、その画像信号は
ＡＤ変換器３によって例えば１６階調の画像データに変
換されて画像メモリ４に記憶される。
これにより、画像メモリ４には第２図ａに示すように被
検査物体１の画像の濃度を表す画像データが濃淡に応じ
て“０”〜“Ｆ” （１６進表示）の符号で記憶される
。
検査物体１の画像の濃度を表す画像データが濃淡に応じ
て“０”〜“Ｆ” （１６進表示）の符号で記憶される
。
一方、画像データメモリ５には基準物体２ｏの画像の濃
度を表す画像データが前記画像メモリ４と同様に“０”
〜“Ｆ′の符号で記憶されている（第２図す参照）。画
像メモリ４に被検査物体１の画像データが記憶されると
、この画像データはＣＰＵ７の読出し制御によって読出
されて比較回路６に人力される。同時に、画像メモリ５
に予め記憶されている基準物体２０の画像データもＣＰ
Ｕ７の読出し制御によって読出されて比較口−路６に入
力され、被検査物体１の画像データと比較される。
度を表す画像データが前記画像メモリ４と同様に“０”
〜“Ｆ′の符号で記憶されている（第２図す参照）。画
像メモリ４に被検査物体１の画像データが記憶されると
、この画像データはＣＰＵ７の読出し制御によって読出
されて比較回路６に人力される。同時に、画像メモリ５
に予め記憶されている基準物体２０の画像データもＣＰ
Ｕ７の読出し制御によって読出されて比較口−路６に入
力され、被検査物体１の画像データと比較される。
この結果、２つの画像データが完全に一致すれば、欠陥
無しを表す信号が側車回路８から出力される。この場合
、画像データの比較は１画素単位で行なわれる。また、
画像信号をｌＩＩ調化する際の誤差による誤判定を防止
するため、欠陥有りを表す判定信号は被検査物体１の画
像データと基準物体２０の画像データとが濃度領域で所
定値以上具なった場合のみ出力されるようになっている
。
無しを表す信号が側車回路８から出力される。この場合
、画像データの比較は１画素単位で行なわれる。また、
画像信号をｌＩＩ調化する際の誤差による誤判定を防止
するため、欠陥有りを表す判定信号は被検査物体１の画
像データと基準物体２０の画像データとが濃度領域で所
定値以上具なった場合のみ出力されるようになっている
。
従って、この構成によれば、被検査物体１に第２図ａに
示す欠陥部分３】が存在した時のみ、この欠陥部分３１
に対応する画素の画像データ３３と基準物体２０の画像
データ２１とが不一致となり、欠陥有りの判定信号が判
定回路８から出力される。
示す欠陥部分３】が存在した時のみ、この欠陥部分３１
に対応する画素の画像データ３３と基準物体２０の画像
データ２１とが不一致となり、欠陥有りの判定信号が判
定回路８から出力される。
ところが、このような従来の欠陥検出方法によれば、■
画素単位で被検査物体１の画像データと基準物体２０の
画素データとが順次比較されるため、高精度で欠陥の有
無を検出することができるという反面、判定終了までに
長時間を要するという欠点がある。
画素単位で被検査物体１の画像データと基準物体２０の
画素データとが順次比較されるため、高精度で欠陥の有
無を検出することができるという反面、判定終了までに
長時間を要するという欠点がある。
本発明はこのような欠点を解決するためになされたもの
で、被検査物体と基準物体の画像信号を濃度領域で所定
゛数画素単位で平均化し、その平均値を比較することに
より、短時間のうちに欠陥の有無を検出できる物体形状
の欠陥検出方法を提供するものである。
で、被検査物体と基準物体の画像信号を濃度領域で所定
゛数画素単位で平均化し、その平均値を比較することに
より、短時間のうちに欠陥の有無を検出できる物体形状
の欠陥検出方法を提供するものである。
第３図は本発明を適用した欠陥検出装置の一実施例を示
すブロック図であり、従来構成と異なる点は画像メモリ
４の出力側に平均値計算回路１゜を設けると共に、第１
図の判定口９８を削除したことである。
すブロック図であり、従来構成と異なる点は画像メモリ
４の出力側に平均値計算回路１゜を設けると共に、第１
図の判定口９８を削除したことである。
このような構成において、被検査物体１の画像データは
従来と同様にして画像メモリ４に記憶される。一方、画
像メモリ５には第４図ａに示すように基準物体２０の画
像データを濃度領域で所定画素数単位（この実施例では
４画素単位）で平均化した平均化画像データが“０”〜
“Ｆ”の符号で予め記憶されている。
従来と同様にして画像メモリ４に記憶される。一方、画
像メモリ５には第４図ａに示すように基準物体２０の画
像データを濃度領域で所定画素数単位（この実施例では
４画素単位）で平均化した平均化画像データが“０”〜
“Ｆ”の符号で予め記憶されている。
そこで、画像メモリ４に被検査物体１の画像が記憶され
ると、この画像データはＣＰＵ７の読出し制御によって
読出されて平均値計算回路１０に入力される。そして、
この平均値計算回路１０において４画素単位での濃度の
平均値が算出される。
ると、この画像データはＣＰＵ７の読出し制御によって
読出されて平均値計算回路１０に入力される。そして、
この平均値計算回路１０において４画素単位での濃度の
平均値が算出される。
第４図すにこの場合の画像データを示している。
この動作と並行して画像メモリ５から基準物体２０の平
均化画像データが４画素単位で読出され、比較器６にお
いて上記計算回路１０で算出された平均値と比較される
。
均化画像データが４画素単位で読出され、比較器６にお
いて上記計算回路１０で算出された平均値と比較される
。
この比較の結果、２つの平均化画像データが一致すれば
、欠陥無しの判定信号が比較回路６から出力される。こ
の場合の比較動作は４画素単位で実行される。
、欠陥無しの判定信号が比較回路６から出力される。こ
の場合の比較動作は４画素単位で実行される。
従って、この実施例の判定結果は従来の×の所要時間で
出力されるものとなる。この場合、平均化する画素数を
多くすればさらに所要時間を短縮することができるが、
逆に精度が低下子るので平均化画素数は精度との関連で
適切な数に設定するのが望ましい。
出力されるものとなる。この場合、平均化する画素数を
多くすればさらに所要時間を短縮することができるが、
逆に精度が低下子るので平均化画素数は精度との関連で
適切な数に設定するのが望ましい。
欠陥の有無を検出するよう゛にしたため、極めて短時間
のうちに被検査物体の欠陥の有無を検出でき、製造ライ
ンにおける欠陥検出装置に適用すれば製造ラインの効率
化を図れるという効果がある。
のうちに被検査物体の欠陥の有無を検出でき、製造ライ
ンにおける欠陥検出装置に適用すれば製造ラインの効率
化を図れるという効果がある。
第１図は従来における欠陥検出袋”置の構成を示すブロ
ック図、第２図は従来装置の動作を説明するための画像
データ配列図、第３図は本発明を適用した欠陥検出装置
の一実施例を示すブロック図、第４図は平均化画像デー
タの配列図である。 １・・・被検査物体、２・・・テレビカメラ、３・・・
ＡＤ変換器、４，５・・・画像メモリ、６・・・比較回
路、７・・・ＣＰＵ、３１・・・欠陥部分。 代理人 大 岩 増 雄（外２名）第１図 名３図 第４図Ｇ） 第４はｂ）
ック図、第２図は従来装置の動作を説明するための画像
データ配列図、第３図は本発明を適用した欠陥検出装置
の一実施例を示すブロック図、第４図は平均化画像デー
タの配列図である。 １・・・被検査物体、２・・・テレビカメラ、３・・・
ＡＤ変換器、４，５・・・画像メモリ、６・・・比較回
路、７・・・ＣＰＵ、３１・・・欠陥部分。 代理人 大 岩 増 雄（外２名）第１図 名３図 第４図Ｇ） 第４はｂ）
Claims (1)
- 検査対象物体の画像を撮像装置によって抽出し、基準物
体の画像と比較することによって検査対象物体の形状の
欠陥を検出する物体形状の欠陥検出方法において、前記
撮像装置によって抽出した検査対象物体および基準物体
の画像信号を濃度領域で所定数画素単位で平均化し、そ
の平均化された値の比較によって検査対象物体の形状欠
陥を検出することを特徴とする物体形状の欠陥検出方法
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59128040A JPS617406A (ja) | 1984-06-21 | 1984-06-21 | 物体形状の欠陥検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59128040A JPS617406A (ja) | 1984-06-21 | 1984-06-21 | 物体形状の欠陥検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS617406A true JPS617406A (ja) | 1986-01-14 |
Family
ID=14975021
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59128040A Pending JPS617406A (ja) | 1984-06-21 | 1984-06-21 | 物体形状の欠陥検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS617406A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63112184A (ja) * | 1986-10-30 | 1988-05-17 | Fujitsu Ltd | 印字濃度検出方式 |
| JPH0498374A (ja) * | 1990-08-09 | 1992-03-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | パターン認識装置 |
| JPH0479250U (ja) * | 1990-11-22 | 1992-07-10 | ||
| JPH06258057A (ja) * | 1993-03-03 | 1994-09-16 | Toyo Glass Co Ltd | 製品の欠陥検査方法とその装置 |
| JPH0721376A (ja) * | 1993-06-18 | 1995-01-24 | Asia Electron Inc | 画像処理システム |
| US7951517B2 (en) | 2007-04-18 | 2011-05-31 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Electrophotographic photoreceptor, process cartridge, and image forming apparatus |
| JP2013167483A (ja) * | 2012-02-14 | 2013-08-29 | Mecc Co Ltd | 欠陥検査システム及び欠陥検査方法 |
-
1984
- 1984-06-21 JP JP59128040A patent/JPS617406A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63112184A (ja) * | 1986-10-30 | 1988-05-17 | Fujitsu Ltd | 印字濃度検出方式 |
| JPH0498374A (ja) * | 1990-08-09 | 1992-03-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | パターン認識装置 |
| JPH0479250U (ja) * | 1990-11-22 | 1992-07-10 | ||
| JPH06258057A (ja) * | 1993-03-03 | 1994-09-16 | Toyo Glass Co Ltd | 製品の欠陥検査方法とその装置 |
| JPH0721376A (ja) * | 1993-06-18 | 1995-01-24 | Asia Electron Inc | 画像処理システム |
| US7951517B2 (en) | 2007-04-18 | 2011-05-31 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Electrophotographic photoreceptor, process cartridge, and image forming apparatus |
| JP2013167483A (ja) * | 2012-02-14 | 2013-08-29 | Mecc Co Ltd | 欠陥検査システム及び欠陥検査方法 |
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