JPH0831132B2 - 印字位置測定方式 - Google Patents
印字位置測定方式Info
- Publication number
- JPH0831132B2 JPH0831132B2 JP62179499A JP17949987A JPH0831132B2 JP H0831132 B2 JPH0831132 B2 JP H0831132B2 JP 62179499 A JP62179499 A JP 62179499A JP 17949987 A JP17949987 A JP 17949987A JP H0831132 B2 JPH0831132 B2 JP H0831132B2
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- JP
- Japan
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- character
- medium
- projection
- bits
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- Image Analysis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔概要〕 媒体上の印字文字の位置測定方式であって、読取手段
によって読み取ったイメージデータの文字行及び文字列
毎に文字単位に投影処理を行う文字投影処理手段，投影
処理された文字の投影データの中心位置間のビット数を
計数する計数手段，計数されたビット数を寸法に換算す
ると共に、文字の投影データの各中心位置間の寸法の差
を演出する演算手段を備えることにより、印字文字の位
置を自動的に測定することができる。
によって読み取ったイメージデータの文字行及び文字列
毎に文字単位に投影処理を行う文字投影処理手段，投影
処理された文字の投影データの中心位置間のビット数を
計数する計数手段，計数されたビット数を寸法に換算す
ると共に、文字の投影データの各中心位置間の寸法の差
を演出する演算手段を備えることにより、印字文字の位
置を自動的に測定することができる。
本発明は媒体上の印字文字の位置測定方式に係り、特
に媒体から読み取られた印字のイメージデータを用いて
印字位置を自動的に測定することができる文字間隔判定
方式に関するものである。
に媒体から読み取られた印字のイメージデータを用いて
印字位置を自動的に測定することができる文字間隔判定
方式に関するものである。
プリンタによる印字文字の打出し位置，文字の傾き，
及び文字ズレ等を正確に，且つ容易に求めることができ
る方法が望まれている。
及び文字ズレ等を正確に，且つ容易に求めることができ
る方法が望まれている。
プリンタ等によって媒体に印字された文字の打出し位
置，文字の傾き，及び文字ズレ等を測定する方法として
は、媒体の縁から印字開始文字までの距離，印字ライン
の斜行等をスケールによって測定しており、時には拡大
鏡を併用して測定する方法が行われている。
置，文字の傾き，及び文字ズレ等を測定する方法として
は、媒体の縁から印字開始文字までの距離，印字ライン
の斜行等をスケールによって測定しており、時には拡大
鏡を併用して測定する方法が行われている。
以上の従来方法によると、測定が面倒で時間が掛かる
ばかりでなく、測定精度が得られないという問題点があ
り、これらの測定を自動化して作用能率，及び測定精度
を高める方法が要請されている。
ばかりでなく、測定精度が得られないという問題点があ
り、これらの測定を自動化して作用能率，及び測定精度
を高める方法が要請されている。
本発明は、媒体から読み取られた印字のイメージデー
タを用いて印字位置を測定することができる文字位置測
定方式を提供することを目的としている。
タを用いて印字位置を測定することができる文字位置測
定方式を提供することを目的としている。
第１図は本発明の原理ブロック図である。
図において、 ７は媒体から読み取ったイメージデータの文字行，及
び文字列毎に文字単位に投影処理を行う文字投影処理手
段、 ８は文字投影処理手段７によって投影処理された文字
の投影データの各中心位置間のビット数と媒体上の基準
位置，及び基準位置に最も近い文字の投影データの中心
位置間のビット数を計数する計数手段、 ９は計数手段８によって計数されたビット数を寸法に
換算すると共に、中心位置間の寸法の差を演算する演算
手段である。
び文字列毎に文字単位に投影処理を行う文字投影処理手
段、 ８は文字投影処理手段７によって投影処理された文字
の投影データの各中心位置間のビット数と媒体上の基準
位置，及び基準位置に最も近い文字の投影データの中心
位置間のビット数を計数する計数手段、 ９は計数手段８によって計数されたビット数を寸法に
換算すると共に、中心位置間の寸法の差を演算する演算
手段である。
文字投影処理手段７により媒体から読み取ったイメー
ジデータを文字行，及び文字列毎に文字単位に投影処理
を行い、各文字の中心位置を求める。
ジデータを文字行，及び文字列毎に文字単位に投影処理
を行い、各文字の中心位置を求める。
次に計数手段８は各中心位置間のビット数と、媒体上
の基準位置，及び基準位置に最も近い文字の投影データ
の中心位置間のビット数を計数する。
の基準位置，及び基準位置に最も近い文字の投影データ
の中心位置間のビット数を計数する。
そこで計数されたビット数を演算手段９により寸法に
換算すると共に、中心位置間の寸法の差を演算して出力
する。このようにして媒体上の印字文字の位置を精度良
く自動的に測定することができる。
換算すると共に、中心位置間の寸法の差を演算して出力
する。このようにして媒体上の印字文字の位置を精度良
く自動的に測定することができる。
以下本発明の一実施例を第２図〜第４図を参照して説
明する。全図を通じて同一符号は同一対象物を示す。第
２図で第１図に対応するものは１点鎖線で囲んで示して
いる。
明する。全図を通じて同一符号は同一対象物を示す。第
２図で第１図に対応するものは１点鎖線で囲んで示して
いる。
第２図において、読取部２は、媒体１がセットされて
搬送される位置決め搬送機構3,イメージセンサS,及びア
ナログ／ディジタル（以下A/Dという）変換部４を備
え、媒体１に印字された文字のイメージデータを読み取
ってA/D変換する。
搬送される位置決め搬送機構3,イメージセンサS,及びア
ナログ／ディジタル（以下A/Dという）変換部４を備
え、媒体１に印字された文字のイメージデータを読み取
ってA/D変換する。
２値化回路５は、読取部２から送られた多階調のイメ
ージデータを２値化し、媒体面と印字部を切り分け、図
示省略したメディアンフィルタによりノイズ除去を行
う。
ージデータを２値化し、媒体面と印字部を切り分け、図
示省略したメディアンフィルタによりノイズ除去を行
う。
イメージバッファ６は、２値化されたイメージデータ
が格納される。
が格納される。
文字投影処理部7aは、イメージデータの文字行及び文
字列毎に文字単位に投影処理を行い、各文字の投影デー
タの中心位置を求める。
字列毎に文字単位に投影処理を行い、各文字の投影デー
タの中心位置を求める。
画素計数部8aは、文字の投影データの中心位置間のビ
ット数と、媒体１の基準位置，例えば位置決め搬送機構
３に位置決めされた端面，及び端面に最も近い文字，即
ち、行の最初の打出し文字の投影データの中心位置間の
ビット数を計数する。
ット数と、媒体１の基準位置，例えば位置決め搬送機構
３に位置決めされた端面，及び端面に最も近い文字，即
ち、行の最初の打出し文字の投影データの中心位置間の
ビット数を計数する。
演算部9aは、換算データメモリ10に記憶された換算計
数に基いて画素計数部8aが計数したビット数をmmに換算
すると共に、文字の投影データの中心位置間の距離の差
を演算する。
数に基いて画素計数部8aが計数したビット数をmmに換算
すると共に、文字の投影データの中心位置間の距離の差
を演算する。
また11はディスプレイ（以下CRTという）,12はプリン
タ,13は制御部を示す。
タ,13は制御部を示す。
このような構成及び機能を有するので、第３図に示す
ように、媒体１には文字Ｈが行，及び列に印字されてお
り、この文字Ｈの上下左右端打出し位置a1〜d1，a2〜
d2，文字間隔e,行間隔f,文字上下のズレg,印字行の傾き
ｉを測定する場合の作用を第４図のフローチャートによ
り説明する。
ように、媒体１には文字Ｈが行，及び列に印字されてお
り、この文字Ｈの上下左右端打出し位置a1〜d1，a2〜
d2，文字間隔e,行間隔f,文字上下のズレg,印字行の傾き
ｉを測定する場合の作用を第４図のフローチャートによ
り説明する。
媒体１から読み取られて２値化されたイメージデー
タがイメージバッファ６に格納される。
タがイメージバッファ６に格納される。
文字投影処理部7aにより、第５図（ａ）に示す投影
範囲Xs,Ysの投影処理を行い、投影データより横／縦方
向の文字中心位置を夫々求める。第５図（ｂ）に投影範
囲Xsの投影データを例示している。
範囲Xs,Ysの投影処理を行い、投影データより横／縦方
向の文字中心位置を夫々求める。第５図（ｂ）に投影範
囲Xsの投影データを例示している。
そこで画素計数8aは投影範囲Xsの文字中心位置より
文字間隔ｅを求め、演算部9aで寸法に換算する。
文字間隔ｅを求め、演算部9aで寸法に換算する。
また上段の左右端打出し位置a1，b1を夫々投影範囲
Xsの左端文字中心位置と媒体１の左端面，及び右端文字
中心位置と媒体１の右端面より求め、寸法に換算する。
Xsの左端文字中心位置と媒体１の左端面，及び右端文字
中心位置と媒体１の右端面より求め、寸法に換算する。
また左端の上下端打出し位置c1，d1を夫々投影範囲
Ysの上端文字中心位置の媒体１の上端面，及び下端文字
中心位置と媒体１の下端面より求め、寸法に換算する。
Ysの上端文字中心位置の媒体１の上端面，及び下端文字
中心位置と媒体１の下端面より求め、寸法に換算する。
次に投影範囲Xsの最終文字中心位置より投影範囲Ye
の投影処理を行い、文字中心位置を求める。
の投影処理を行い、文字中心位置を求める。
更に投影範囲Ysの第２文字中心位置より投影範囲X2
の投影を行い、中心位置を求める。
の投影を行い、中心位置を求める。
続いて投影範囲Ysの最終文字中心位置より投影範囲
Xeの投影処理を行い、中心位置を求める。
Xeの投影処理を行い、中心位置を求める。
そこで画素係数部8aは下段の左右端打出し位置a2，
b2を夫々投影範囲Xeの左端文字中心位置と媒体１の左端
面，及び右端文字中心位置と媒体１の右端面より求め、
演算部9aで寸法に換算する。
b2を夫々投影範囲Xeの左端文字中心位置と媒体１の左端
面，及び右端文字中心位置と媒体１の右端面より求め、
演算部9aで寸法に換算する。
また右端の上下端打出し位置c2，d2を夫々投影範囲
Yeの上端文字中心位置と媒体１の上端面，及び下端文字
中心位置と媒体１の下端面より求め、寸法に換算する。
Yeの上端文字中心位置と媒体１の上端面，及び下端文字
中心位置と媒体１の下端面より求め、寸法に換算する。
投影範囲Ysの文字中心位置より行間隔ｆを求め、寸
法に換算する。
法に換算する。
演算部9aは文字列の傾きｉを投影範囲Ys,Yeの夫々
の文字中心位置の差より求める。
の文字中心位置の差より求める。
また文字桁のズレｇを投影範囲Xs,X2の夫々の文字
中心位置の差より求める。
中心位置の差より求める。
上下左右の打出し位置a1〜d1，a2〜d2，文字間隔e,
行間隔f,印字の傾きi,及び文字上下ズレｇは順次CRT11
及びプリンタ12に出力される。
行間隔f,印字の傾きi,及び文字上下ズレｇは順次CRT11
及びプリンタ12に出力される。
また第６図（ａ）及び（ｂ）に異なる実施例を示して
おり、上記実施例と異なるのは媒体１に基準線，例えば
印字範囲枠を印刷し、この枠を基準として文字位置を測
定する方法としたことである。
おり、上記実施例と異なるのは媒体１に基準線，例えば
印字範囲枠を印刷し、この枠を基準として文字位置を測
定する方法としたことである。
即ち、画素計数部8aは印字範囲枠から文字中心位置ま
での距離を計数するように制御される。
での距離を計数するように制御される。
従って媒体１の端面認識を必要とせずに文字位置等を
測定することができる。
測定することができる。
このようにして、媒体１の印字位置等を自動的に正確
に測定することができる。
に測定することができる。
以上説明したように本発明によれば、媒体上の印字の
文字位置を自動的，且つ正確に測定することができると
いう効果がある。
文字位置を自動的，且つ正確に測定することができると
いう効果がある。
第１図は本発明の原理ブロック図、 第２図は本発明による実施例を示すブロック図、 第３図は実施例の説明図、 第４図は実施例のフローチャート、 第５図は実施例の説明図、 第６図は異なる実施例の測定方法を示す説明図である。 図において、 １は媒体、２は読取部、７は文字投影処理手段、7aは文
字投影処理部、８は計数手段、8aは画素計数部、９は演
算手段、9aは演算部、10は換算データメモリを示す。
字投影処理部、８は計数手段、8aは画素計数部、９は演
算手段、9aは演算部、10は換算データメモリを示す。
Claims (1)
- 【請求項１】媒体に印字された文字を読取手段によって
読み取り、該読み取ったイメージデータの文字行及び文
字列毎に文字単位に投影処理を行う文字投影処理手段
（７）と、 該文字投影処理手段（７）によって投影処理された文字
の投影データの各中心位置間のビット数と該媒体上の基
準位置及び該基準位置に最も近い文字の投影データの中
心位置間のビット数を計数する計数手段（８）と、 該計数手段（８）によって計数されたビット数を寸法に
換算すると共に、該中心位置間の寸法の差を演算する演
算手段（９）とを備えることを特徴とする印字位置測定
方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62179499A JPH0831132B2 (ja) | 1987-07-17 | 1987-07-17 | 印字位置測定方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62179499A JPH0831132B2 (ja) | 1987-07-17 | 1987-07-17 | 印字位置測定方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6421675A JPS6421675A (en) | 1989-01-25 |
| JPH0831132B2 true JPH0831132B2 (ja) | 1996-03-27 |
Family
ID=16066887
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62179499A Expired - Lifetime JPH0831132B2 (ja) | 1987-07-17 | 1987-07-17 | 印字位置測定方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0831132B2 (ja) |
-
1987
- 1987-07-17 JP JP62179499A patent/JPH0831132B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6421675A (en) | 1989-01-25 |
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