JPH0832264B2 - 自動露出を備えたパノラマ式ｘ線装置 - Google Patents
自動露出を備えたパノラマ式ｘ線装置Info
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- JPH0832264B2 JPH0832264B2 JP62027456A JP2745687A JPH0832264B2 JP H0832264 B2 JPH0832264 B2 JP H0832264B2 JP 62027456 A JP62027456 A JP 62027456A JP 2745687 A JP2745687 A JP 2745687A JP H0832264 B2 JPH0832264 B2 JP H0832264B2
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- detector
- ray cone
- cone
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- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/50—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment specially adapted for specific body parts; specially adapted for specific clinical applications
- A61B6/51—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment specially adapted for specific body parts; specially adapted for specific clinical applications for dentistry
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
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- H05G1/42—Exposure time using arrangements for switching when a predetermined dose of radiation has been applied, e.g. in which the switching instant is determined by measuring the electrical energy supplied to the tube
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Description
【発明の詳細な説明】 本発明は、Ｘ線発生装置、Ｘ線管およびフィルムより
成る自動露出を備えたパノラマ式Ｘ線装置に関する。
成る自動露出を備えたパノラマ式Ｘ線装置に関する。
Ｘ線装置の使用における一つの問題は、患者の歯のＸ
線イメージを首尾よく作成するためにＸ線管に適した装
置の電圧および電流の読みを選択することである。一般
に熟練した装置の操作者しかフィルム撮影に適した読み
を評価し選択することができない。
線イメージを首尾よく作成するためにＸ線管に適した装
置の電圧および電流の読みを選択することである。一般
に熟練した装置の操作者しかフィルム撮影に適した読み
を評価し選択することができない。
本発明の一般的目的は、患者の歯のＸ線イメージを首
尾よく作成するためにフィルム撮影に適した読み（kV,m
A）を操作者が選択できなくてもすむような撮影または
イメージング手段を備えたパノラマ式Ｘ線装置を提供す
ることにある。
尾よく作成するためにフィルム撮影に適した読み（kV,m
A）を操作者が選択できなくてもすむような撮影または
イメージング手段を備えたパノラマ式Ｘ線装置を提供す
ることにある。
DOS刊行物には、放射線線量の検出がフィルム撮影全
体を通して行われるようにするには、自動露出の放射線
検出装置をイメージ化すべき物体とフィルムの間にどの
ように配置するかが開示されている。イメージ中に検出
器が現われないようにするために、特別に設計された高
価な検出装置例えばイオン化チェンバー検出装置を用い
る必要がある。
体を通して行われるようにするには、自動露出の放射線
検出装置をイメージ化すべき物体とフィルムの間にどの
ように配置するかが開示されている。イメージ中に検出
器が現われないようにするために、特別に設計された高
価な検出装置例えばイオン化チェンバー検出装置を用い
る必要がある。
本発明の特定の目的は、低廉な放射線遮断検出装置、
例えばソリッドステート検出装置を自動露出制御のため
にイメージ化すべき物体とフィルムの間に配置できるよ
う、前記イメージング手段を更に発展させたパノラマ式
Ｘ線装置を提供することにある。
例えばソリッドステート検出装置を自動露出制御のため
にイメージ化すべき物体とフィルムの間に配置できるよ
う、前記イメージング手段を更に発展させたパノラマ式
Ｘ線装置を提供することにある。
本発明により、この目的は、実際のフィルム撮影を開
始する前に物体を透過したＸ線錐の検出を行い、そして
その検出後にフィルム撮影を検出器をバイパスするよう
配向されたＸ線錐を用いることにより行うことによって
達成される。
始する前に物体を透過したＸ線錐の検出を行い、そして
その検出後にフィルム撮影を検出器をバイパスするよう
配向されたＸ線錐を用いることにより行うことによって
達成される。
次に本発明を、本発明の実施に用いられる装置の数例
を例示する添付図面を参酌しつつより詳細に説明する。
を例示する添付図面を参酌しつつより詳細に説明する。
パノラマ式Ｘ線方法および装置はそれ自体一般的に知
られそして用いられているので、それらについては詳細
に記載しない。慣用される構成要素として、この装置は
Ｘ線発生装置4,5およびフィルム７上にイメージ化すべ
き物体８を通してＸ線錐を発出するためのＸ線管５を含
む。フィルム７は慣用の補強プレートおよび、そのフィ
ルムを矢印Ａの方向に駆動するための手段を備えたフィ
ルムホルダを伴う。フィルム７とそのホルダは、図示さ
れず、Ｘ線管５と一体でありそしてそのフィルムとＸ線
管をフィルム撮影される物体８を中心として矢印Ｂ方向
に回転させるように回転することのできるフレームアセ
ンブリに取着されている。
られそして用いられているので、それらについては詳細
に記載しない。慣用される構成要素として、この装置は
Ｘ線発生装置4,5およびフィルム７上にイメージ化すべ
き物体８を通してＸ線錐を発出するためのＸ線管５を含
む。フィルム７は慣用の補強プレートおよび、そのフィ
ルムを矢印Ａの方向に駆動するための手段を備えたフィ
ルムホルダを伴う。フィルム７とそのホルダは、図示さ
れず、Ｘ線管５と一体でありそしてそのフィルムとＸ線
管をフィルム撮影される物体８を中心として矢印Ｂ方向
に回転させるように回転することのできるフレームアセ
ンブリに取着されている。
フィルム撮影される物体を貫通したＸ線錐６の通路に
は、実際のフィルム撮影の前にだけ放射線測定検出装置
１が備えられる。第１図の場合、前記検出器１は機械的
検出装置キャリア手段２と対になっている。検出器１
は、キャリア手段２とＸ線発生装置４を制御するように
適合された基準および制御ユニット３に接続される。
は、実際のフィルム撮影の前にだけ放射線測定検出装置
１が備えられる。第１図の場合、前記検出器１は機械的
検出装置キャリア手段２と対になっている。検出器１
は、キャリア手段２とＸ線発生装置４を制御するように
適合された基準および制御ユニット３に接続される。
Ｘ線発生装置４によりＸ線管５に供給される電圧およ
び電流は独立的に制御し得る。フィルム撮影開始時に、
ある対の電圧および電流読み、例えばそれぞれ60kVおよ
び10mAを装置に設定する。フィルム撮影を開始するとＸ
線装置はＸ線で患者を走査するが、そのＸ線の透過度お
よび強度は、前記の予め設定された対のkVおよびmAの読
みに基づく。Ｘ線錐の通路にある検出器１はどれ程の放
射線が患者を透過したかについての情報を与える。この
測定された読みは、基準および制御ユニット３におい
て、フィルムを適正に黒化する読みと比較される。フィ
ルムを適正に黒化する読みは経験的に分かっている。こ
の読みをここでは基準読みと称する。基準読みは、用い
られたフィルム／補強プレート組合せによっても影響さ
れ、そのために基準読み（濃度）を予め調整しておく必
要がある。
び電流は独立的に制御し得る。フィルム撮影開始時に、
ある対の電圧および電流読み、例えばそれぞれ60kVおよ
び10mAを装置に設定する。フィルム撮影を開始するとＸ
線装置はＸ線で患者を走査するが、そのＸ線の透過度お
よび強度は、前記の予め設定された対のkVおよびmAの読
みに基づく。Ｘ線錐の通路にある検出器１はどれ程の放
射線が患者を透過したかについての情報を与える。この
測定された読みは、基準および制御ユニット３におい
て、フィルムを適正に黒化する読みと比較される。フィ
ルムを適正に黒化する読みは経験的に分かっている。こ
の読みをここでは基準読みと称する。基準読みは、用い
られたフィルム／補強プレート組合せによっても影響さ
れ、そのために基準読み（濃度）を予め調整しておく必
要がある。
検出器１により測定された読みが基準読みよりも低い
場合には、これらの読みの差により必要とされるだけＸ
線管５に印加される電圧５を増大させる。測定された読
みが基準読みよりも高い場合には、その測定された読み
と基準読みの差により必要とされるだけＸ線管を通る電
流（mA）を下げることにより放射線量を減少させる。
場合には、これらの読みの差により必要とされるだけＸ
線管５に印加される電圧５を増大させる。測定された読
みが基準読みよりも高い場合には、その測定された読み
と基準読みの差により必要とされるだけＸ線管を通る電
流（mA）を下げることにより放射線量を減少させる。
測定と調整が完了すると、前記キャリア手段２が検出
器１をＸ線錐６から引き離し、そのためにＸ線が通って
フィルムを露出し、実際のフィルム撮影が開始される。
この測定および調整段階は約200msを要する。フィルム
撮影に用いられる読みの対はＸ線発生装置4,5において
肉視できる状態に保たれる。
器１をＸ線錐６から引き離し、そのためにＸ線が通って
フィルムを露出し、実際のフィルム撮影が開始される。
この測定および調整段階は約200msを要する。フィルム
撮影に用いられる読みの対はＸ線発生装置4,5において
肉視できる状態に保たれる。
第２図の具体例は、放射線測定検出器１が固定されそ
してＸ線錐またはビーム制限シャッター10がＸ線錐に対
し垂直な方向にシフトされる点で第１図と異なってい
る。シャッター10のキャリア手段は符号11で示され、ま
たはそれは例えば電磁石を用いることにより実現するこ
とができる。フィルム撮影を開始する前に、前記キャリ
ア手段11は前記制限シャッター10を、それにより制限さ
れるＸ線錐が検出器１に当たる位置までシフトさせる。
自動露出操作に必要な時間、例えば150msが経過する
と、前記キャリア手段11はシャッター10を、Ｘ線錐がフ
ィルム７に当たるフィルム撮影位置までシフトさせる。
してＸ線錐またはビーム制限シャッター10がＸ線錐に対
し垂直な方向にシフトされる点で第１図と異なってい
る。シャッター10のキャリア手段は符号11で示され、ま
たはそれは例えば電磁石を用いることにより実現するこ
とができる。フィルム撮影を開始する前に、前記キャリ
ア手段11は前記制限シャッター10を、それにより制限さ
れるＸ線錐が検出器１に当たる位置までシフトさせる。
自動露出操作に必要な時間、例えば150msが経過する
と、前記キャリア手段11はシャッター10を、Ｘ線錐がフ
ィルム７に当たるフィルム撮影位置までシフトさせる。
第３図に示された具体例においても、放射線測定検出
器は固定されている。Ｘ線錐またはビーム制限シャッタ
ー12には２つのＸ線通過ギャップ13,14が設けられる。
Ｘ線通過ギャップ13を通過した第１のＸ線錐６はフィル
ムに当たり、またＸ線通過ギャップ14を通過した第２の
Ｘ線錐はイメージに影響しない。第２のＸ線錐９は、フ
ィルム撮影開始時に測定に必要な時間例えば約150msの
間患者を通過して検出器に至る。その後に、第２のＸ線
錐９は、鉛製のシールド15をそのＸ線錐９の正面に回転
させることによって除去される。その回転機構16は、例
えば電磁石によって操作される。
器は固定されている。Ｘ線錐またはビーム制限シャッタ
ー12には２つのＸ線通過ギャップ13,14が設けられる。
Ｘ線通過ギャップ13を通過した第１のＸ線錐６はフィル
ムに当たり、またＸ線通過ギャップ14を通過した第２の
Ｘ線錐はイメージに影響しない。第２のＸ線錐９は、フ
ィルム撮影開始時に測定に必要な時間例えば約150msの
間患者を通過して検出器に至る。その後に、第２のＸ線
錐９は、鉛製のシールド15をそのＸ線錐９の正面に回転
させることによって除去される。その回転機構16は、例
えば電磁石によって操作される。
第１図は、本発明方法の実施に用いられる装置の第一の
態様のブロックダイアグラムである。 第２図は、本発明方法の実施に用いられる装置の第二の
態様のブロックダイアグラムである。 第３図は、本発明方法の実施に用いられる装置の第三の
態様の詳細を示す。 １……検出器、２……検出器キャリア手段、３……基準
および制御ユニット、4,5……Ｘ線発生装置、７……フ
ィルム。
態様のブロックダイアグラムである。 第２図は、本発明方法の実施に用いられる装置の第二の
態様のブロックダイアグラムである。 第３図は、本発明方法の実施に用いられる装置の第三の
態様の詳細を示す。 １……検出器、２……検出器キャリア手段、３……基準
および制御ユニット、4,5……Ｘ線発生装置、７……フ
ィルム。
Claims (7)
- 【請求項１】Ｘ線発生装置（4,5）、Ｘ線管（５）より
成る自動露出を備えたパノラマ式Ｘ線装置であって、実
際のフィルム撮影を開始する前に物体を透過したＸ線錐
（９）の検出を行う検出器（１）と、そしてその検出後
に検出器（１）をバイパスするよう配向されたＸ線錐
（６）の通路に取着されたフィルム（７）とを備えたこ
とを特徴とする前記装置。 - 【請求項２】検出すべきＸ線錐（９）を第１のＸ線錐
（６）から移動自在制限シャッター（10）により離間
し、その第１の位置においてＸ線錐（９）を固定検出器
（１）に配向し、そして第２の位置において検出器
（１）をバイパスするＸ線錐（６）をフィルム（７）に
当たるように配向したことを特徴とする特許請求の範囲
第１項記載の装置。 - 【請求項３】２つのＸ線通過ギャップ（13,14）を設け
たＸ線錐制限シャッター（12）を用いて第１のＸ線錐
（６）と第２のＸ線錐（９）とを分離し、固定検出器
（１）を前記第２のＸ線錐（９）の通路に取着したこと
を特徴とする特許請求の範囲第１項記載の装置。 - 【請求項４】第２のＸ線錐（９）のためのＸ線通過ギャ
ップ（14）をフィルム撮影の間遮断したことを特徴とす
る特許請求の範囲第３項記載の装置。 - 【請求項５】フィルム（７）とフィルム撮影される物体
（８）の間に取着された検出器（１）を第１のＸ線錐
（６）の通路からシフトさせることを特徴とする特許請
求の範囲第１項記載の装置。 - 【請求項６】検出器（１）による基準値に基づく調整が
完了した後直ちに自動的に検出器（１）のキャリア手段
（２）によって基準値および制御ユニット（３）の制御
下に検出器（１）をＸ線錐（６）の通路の外に移動する
ことを特徴とする特許請求の範囲第５項記載の装置。 - 【請求項７】検出器（１）によって測定された読みが基
準読みよりも低い場合にはＸ線管に印加される電圧を高
め、そして測定された読みが基準読みよりも高い場合に
は、Ｘ線管を通過する電流を下げることを特徴とする特
許請求の範囲第１項記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI853571 | 1985-09-18 | ||
| FI863571 | 1986-02-11 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62247346A JPS62247346A (ja) | 1987-10-28 |
| JPH0832264B2 true JPH0832264B2 (ja) | 1996-03-29 |
Family
ID=8523103
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62027456A Expired - Lifetime JPH0832264B2 (ja) | 1986-02-11 | 1987-02-10 | 自動露出を備えたパノラマ式ｘ線装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4815115A (ja) |
| JP (1) | JPH0832264B2 (ja) |
| DE (1) | DE3702914A1 (ja) |
| FR (1) | FR2594288B1 (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FI92974C (fi) * | 1992-06-12 | 1995-02-10 | Orion Yhtymae Oy | Menetelmä kohteen kuvaamiseksi valotusautomatiikalla varustetulla panoraamalaitteella |
| FI952313A7 (fi) * | 1995-05-12 | 1996-11-13 | Instrumentarium Oy | Menetelmä valotusarvojen automaattiseksi säätämiseksi lineaaritomografiaperiaatteella toimivassa kuvauslaitteessa |
| FI100296B (fi) * | 1995-12-14 | 1997-11-14 | Instrumentarium Corp | Röntgenkuvauslaitteen valotusautomatiikka |
| JP3869083B2 (ja) * | 1996-12-10 | 2007-01-17 | 株式会社モリタ製作所 | Ｘ線撮影装置 |
| EP1219147B1 (en) | 1999-10-08 | 2006-11-08 | Gendex Corporation | Automatic exposure control for dental panoramic and cephalographic x-ray equipment |
| WO2001058148A1 (en) | 2000-02-02 | 2001-08-09 | Dentsply International Inc. | Automatic x-ray detection for intra-oral dental x-ray imaging apparatus |
| JP2004536643A (ja) * | 2001-07-25 | 2004-12-09 | デンツプライ インターナショナル インコーポレーテッド | 実時間デジタルｘ線撮像装置 |
| US7197109B2 (en) | 2002-07-25 | 2007-03-27 | Gendex Corporation | Real-time digital x-ray imaging apparatus |
| US7469032B2 (en) * | 2005-04-11 | 2008-12-23 | Gendex Corporation | Structural and patient positioning features of an x-ray system |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2351473A1 (de) * | 1973-10-13 | 1975-04-17 | Philips Patentverwaltung | Anordnung zur belichtungssteuerung fuer ein roentgenuntersuchungsgeraet |
| DE2650872A1 (de) * | 1976-11-06 | 1978-05-11 | Philips Patentverwaltung | Roentgengenerator fuer ein schichtaufnahmegeraet |
| JPS56119876A (en) * | 1980-02-27 | 1981-09-19 | Toshiba Corp | Semiconductor x-ray detector |
| DE3043632A1 (de) * | 1980-11-19 | 1982-07-08 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Roentgengenerator zur speisung einer roentgenroehre mit einem zwischen ihrer anode und ihrer kathode befindlichen mit masse verbundenen mittelteil |
| DE3121176A1 (de) * | 1981-05-27 | 1982-12-16 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Geraet zur bereichsweisen aufnahme von roentgenbildern |
| DE3143160A1 (de) * | 1981-10-30 | 1983-05-11 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | "zahnaerztliche roentgendiagnostikeinrichtung" |
| NL8200852A (nl) * | 1982-03-03 | 1983-10-03 | Philips Nv | Roentgenonderzoekinrichting. |
| JPS60760A (ja) * | 1983-06-16 | 1985-01-05 | Hitachi Ltd | レジンモ−ルド型半導体装置 |
| JPS6032300A (ja) * | 1983-08-02 | 1985-02-19 | Morita Mfg Co Ltd | パノラマｘ線撮影装置における自動露出装置 |
| JPS6098300A (ja) * | 1983-11-01 | 1985-06-01 | Jgc Corp | 液化天然ガス貯槽より発生するボイルオフガスの再液化処理方法 |
-
1987
- 1987-01-31 DE DE19873702914 patent/DE3702914A1/de not_active Withdrawn
- 1987-02-05 US US07/011,046 patent/US4815115A/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-02-10 JP JP62027456A patent/JPH0832264B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1987-02-11 FR FR8701693A patent/FR2594288B1/fr not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62247346A (ja) | 1987-10-28 |
| FR2594288A1 (fr) | 1987-08-14 |
| US4815115A (en) | 1989-03-21 |
| FR2594288B1 (fr) | 1992-11-20 |
| DE3702914A1 (de) | 1987-08-13 |
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