JPH08330342A - Semiconductor resin sealing device - Google Patents
Semiconductor resin sealing deviceInfo
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- JPH08330342A JPH08330342A JP12997695A JP12997695A JPH08330342A JP H08330342 A JPH08330342 A JP H08330342A JP 12997695 A JP12997695 A JP 12997695A JP 12997695 A JP12997695 A JP 12997695A JP H08330342 A JPH08330342 A JP H08330342A
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C45/00—Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
- B29C45/02—Transfer moulding, i.e. transferring the required volume of moulding material by a plunger from a "shot" cavity into a mould cavity
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- Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 実装時に必要な外観寸法を狂わす事なく樹
脂量バラツキに対応することのできる装置を提供する。
【構成】 金型内に半導体素子を搭載したリードフレ
ーム或いはテープフレームを挿入し、成形後のキャビテ
ィとなる体積分のシート状樹脂を金型内或いはフレーム
付着或いは金型内とフレーム付着によって供給し、上下
キャビティの両底面が夫々プランジャ面となる装置にお
いて、どちらか一方のプランジャが二重プランジャであ
ることを特徴とする。その結果、確実な実装手段を設け
ることができる。又、シート状樹脂の取扱による欠け等
による大幅な樹脂量不足、或いは樹脂製造工程に於ける
計量ミスによる大幅な樹脂量増減が発生した場合は、初
期状態の中央側プランジャの位置と、成型終了直前の中
央側プランジャの位置の差により、所定位置での成形未
修了を判別装置が判別して装置を停止若しくは異常出力
をする。よって、極端な凹み深さを持つ半導体素子の露
出品,本来凹み深さを要するのに凸型になっているもの
を確実に判別できる。
(57) [Abstract] [Purpose] To provide a device that can cope with variations in the amount of resin without changing the external dimensions required for mounting. [Structure] A lead frame or a tape frame on which a semiconductor element is mounted is inserted into a mold, and a sheet-shaped resin corresponding to a volume to be a cavity after molding is supplied in the mold or by the frame attachment or the mold and frame attachment. In a device in which both bottom surfaces of the upper and lower cavities are plunger surfaces, one of the plungers is a double plunger. As a result, a reliable mounting means can be provided. Also, if there is a large amount of resin shortage due to chipping due to handling of sheet-shaped resin, or if there is a large increase or decrease in resin amount due to a measurement error in the resin manufacturing process, the position of the center side plunger in the initial state and completion of molding The discriminating device discriminates that the molding has not been completed at the predetermined position based on the difference in the position of the immediately preceding center side plunger, and the device is stopped or abnormally output. Therefore, it is possible to surely discriminate an exposed semiconductor device having an extremely deep recess, or a semiconductor device having a convex shape which originally requires a deep recess.
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は半導体素子を樹脂封止成
形する装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a device for molding a semiconductor element with resin.
【0002】[0002]
【従来の技術】シート状の樹脂1a,1bを直接キャビ
ティ2内で成形するにあたり、図13に示す様に、上型
3或いは下型4のどちらか一方にプランジャ2が配置さ
れ、単一プランジャで成形する方法がある。又、図14
に示す様に、上下型共にプランジャ5a、5bが配置さ
れ、半導体装置がユーザーによりプリント基板等へ実装
される際、下面となる側の面を成すプランジャを位置制
御し、反対側の面を成すプランジャを圧力制御によって
成形する方法がある。2. Description of the Related Art When directly molding a sheet-shaped resin 1a, 1b in a cavity 2, as shown in FIG. 13, a plunger 2 is arranged in either an upper mold 3 or a lower mold 4 to form a single plunger. There is a method of molding with. Also, FIG.
As shown in FIG. 2, the plungers 5a and 5b are arranged in both upper and lower molds, and when the semiconductor device is mounted on a printed circuit board or the like by the user, the plunger forming the lower surface is position-controlled to form the opposite surface. There is a method of forming the plunger by pressure control.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術によれ
ば、投入されたシート状樹脂の体積に見合った成型品が
成形されることになる。しかしながら、投入されるシー
ト状樹脂の体積が常に同一であれば問題ないが、シート
状樹脂にも樹脂量バラツキがある。この樹脂量バラツキ
は上記従来技術では成型品の外観寸法に直接影響を及ぼ
す。キャビティの厚さ寸法のバラツキは半導体装置がユ
ーザーの工程によって実装する際、実装不具合を来た
す。このため、シート状樹脂のバラツキをできるだけ少
なくする必要があり、材料費として高価になる。本発明
は上記事情に鑑みて成されたものであり、実装時に必要
な外観寸法を狂わす事なく樹脂量バラツキに対応するこ
とのできる装置を提供する。According to the above-mentioned prior art, a molded product corresponding to the volume of the sheet-shaped resin charged is molded. However, if the volume of the sheet-shaped resin to be charged is always the same, there is no problem, but the sheet-shaped resin also has a variation in the resin amount. This variation in the amount of resin directly affects the external dimensions of the molded product in the above conventional technique. The variation in the thickness of the cavity causes mounting failure when the semiconductor device is mounted by a user's process. Therefore, it is necessary to reduce the variation of the sheet-shaped resin as much as possible, which increases the material cost. The present invention has been made in view of the above circumstances, and provides an apparatus capable of coping with variations in the amount of resin without disturbing the external dimensions required for mounting.
【0004】[0004]
【課題を解決するための手段】本発明の半導体樹脂封止
装置は、金型内に半導体素子を搭載したリードフレーム
或いはテープフレームを挿入し、成形後のキャビティと
なる体積分のシート状樹脂を金型内或いはフレーム付着
或いは金型内とフレーム付着によって供給し、上下キャ
ビティの両底面が夫々プランジャ面となる装置におい
て、どちらか一方のプランジャが二重プランジャとなっ
ていることを特徴とし、二重プランジャの外周側プラン
ジャがアクチュエータによって駆動され、中央側プラン
ジャが弾性押動材によってプランジャ面側に付勢されて
いる特徴を有する。A semiconductor resin encapsulation device of the present invention inserts a lead frame or a tape frame on which a semiconductor element is mounted in a mold, and inserts a sheet-shaped resin of a volume to be a cavity after molding. In a device in which the plungers are provided on both bottom surfaces of the upper and lower cavities, which are supplied in the mold or attached to the frame or attached to the mold and the frame, one of the plungers is a double plunger. An outer peripheral side plunger of the heavy plunger is driven by an actuator, and a central side plunger is biased toward the plunger surface side by an elastic pushing member.
【0005】又は、二重プランジャの中央側プランジャ
がアクチュエータによって駆動され、外周側プランジャ
が弾性押動材によってプランジャ面側に付勢されている
特徴を有する。Alternatively, the center side plunger of the double plunger is driven by an actuator, and the outer peripheral side plunger is biased toward the plunger surface side by an elastic pushing member.
【0006】又は、二重プランジャの外周側プランジャ
と中央側プランジャのどちらもアクチュエータによって
独立して駆動される特徴を有する。さらに、二重プラン
ジャの中央側プランジャもしくは外周側プランジャの成
形中の位置を検出するプランジャ位置検出装置と成形終
了時のプランジャ位置が所定の位置であるか判別する判
別装置を設け、所定位置で成形終了したとき成型品を良
品とし、それ以外を不良品と判別する特徴を有する。Alternatively, both the outer peripheral side plunger and the central side plunger of the double plunger are characterized by being independently driven by an actuator. Furthermore, a plunger position detection device that detects the position of the center plunger or outer peripheral side plunger of the double plunger during molding and a determination device that determines whether the plunger position at the end of molding is at a predetermined position are provided. When finished, the molded product is judged to be good, and the other products are judged to be defective.
【0007】[0007]
【作用】キャビティ底面を形成させるプランジャの内、
どちらか一方のプランジャを外周側と中央側との二重の
プランジャとし、キャビティの一底面を形成させる単一
プランジャは、樹脂圧縮成形においては位置制御で樹脂
を所定位置まで圧縮させ、キャビティの他底面を形成さ
せる二重プランジャは、外周側プランジャ、中央側プラ
ンジャとに分割され、外周側或いは中央側プランジャの
いずれかを圧縮成形に際して位置制御で樹脂を所定位置
まで圧縮させ、他方のプランジャは圧縮成形に於ける樹
脂の圧力に抗して摺動し、所定の圧力を樹脂に付勢す
る。[Operation] Of the plungers that form the bottom of the cavity,
A single plunger that forms one bottom surface of the cavity by using one of the plungers as a double plunger on the outer circumference side and the center side, compresses the resin to a predetermined position by position control during resin compression molding, and The double plunger that forms the bottom surface is divided into an outer peripheral side plunger and a central side plunger, and when either the outer peripheral side or central side plunger is compression molded, the resin is compressed to a predetermined position by position control, and the other plunger is compressed. It slides against the pressure of the resin during molding, and applies a predetermined pressure to the resin.
【0008】これによって、樹脂量バラツキに関係なく
キャビティの両面に所定厚み寸法を持った面が形成され
る。よって樹脂量バラツキがあってもユーザーに於ける
実装時の必要寸法を確保できる。又、二重プランジャの
圧力制御側プランジャの成形後の位置を検出すること
で、異常な樹脂量の投入があっても確実に成型品の不良
品判別ができる。As a result, a surface having a predetermined thickness dimension is formed on both surfaces of the cavity regardless of variations in the amount of resin. Therefore, even if there is a variation in the amount of resin, it is possible to secure the required dimensions for mounting by the user. Further, by detecting the position of the pressure control side plunger of the double plunger after the molding, it is possible to surely determine the defective product of the molded product even if an abnormal amount of resin is injected.
【0009】[0009]
【実施例】以下、本発明の実施例を図1乃至図12を参
照して説明する。第1実施例として図1乃至図5を参照
する。図1に於いて、図は上型3及び下型4が型開きし
た状態で、下面に半導体素子Hがマウントされたリード
フレームFが上型3及び下型4内に搬送供給され、成形
後の半導体装置のキャビティ体積に見合った樹脂量を持
ったシート状樹脂1a,1bが夫々リードフレーム上面
と下型4のキャビティ成形部に、載置及び投入されてい
る様子を示している。Embodiments of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 to 12. 1 to 5 will be referred to as a first embodiment. In FIG. 1, the upper mold 3 and the lower mold 4 are opened, and the lead frame F on which the semiconductor element H is mounted on the lower surface is conveyed and supplied into the upper mold 3 and the lower mold 4, and after molding. The sheet-shaped resins 1a and 1b having a resin amount corresponding to the cavity volume of the semiconductor device are placed and put on the upper surface of the lead frame and the cavity molding portion of the lower mold 4, respectively.
【0010】上型3のキャビティ成形部には、キャビテ
ィの上底面がプランジャ先端面となるような単一プラン
ジャ5aが摺動可能に設けられており、図示しないアク
チュエータによって位置制御駆動される。下型4のキャ
ビティ成形部には、キャビティ下底面がプランジャ先端
面となるようなプランジャ5bが摺動可能に設けられて
いる。プランジャ5bはキャビティ下底面の外周側と中
央側とに分割され、外周側プランジャ51は図示しない
アクチュエータによって位置制御駆動されている。The cavity molding portion of the upper die 3 is slidably provided with a single plunger 5a such that the upper bottom surface of the cavity serves as a plunger tip surface, and is position-controlled by an actuator (not shown). The cavity molding portion of the lower mold 4 is slidably provided with a plunger 5b such that the bottom surface of the cavity serves as the plunger tip surface. The plunger 5b is divided into an outer peripheral side and a central side of the lower bottom surface of the cavity, and the outer peripheral side plunger 51 is position-controlled and driven by an actuator (not shown).
【0011】中央側プランジャ52は、外周側プランジ
ャ51内を摺動可能に埋設され、先端が外周側プランジ
ャ51の先端より突出している。中央側プランジャ52
は、成形時の圧力に見合った弾性押動材53によって、
樹脂当接側へ付勢されている。中央側プランジャ52の
末端には、プランジャの動き(動作位置)を検出するセ
ンサ54が埋設され、センサ54の出力信号は、位置検
出装置55を経て所定の位置に停止しているか判別する
判別装置56につながっている。The center side plunger 52 is slidably embedded in the outer peripheral side plunger 51, and its tip projects from the tip of the outer peripheral side plunger 51. Center side plunger 52
Is an elastic pushing member 53 that corresponds to the pressure during molding,
It is urged toward the resin contact side. A sensor 54 for detecting the movement (movement position) of the plunger is embedded at the end of the center-side plunger 52, and an output signal of the sensor 54 is a discriminating device for discriminating whether it has stopped at a predetermined position via a position detecting device 55. It is connected to 56.
【0012】次に、上記構成の作用について説明する。
まず、半導体素子HがマウントされたリードフレームF
が、上型3及び下型4内に搬送供給される。次に、シー
ト状樹脂1aがリードフレームF状に載置されると同じ
くして上型3が下降して上型3とリードフレームFが当
接する。それと同時或いは一定時間前に下型4のキャビ
ティ内に供給される。Next, the operation of the above configuration will be described.
First, the lead frame F on which the semiconductor element H is mounted
Are conveyed and supplied into the upper mold 3 and the lower mold 4. Next, when the sheet-shaped resin 1a is placed on the lead frame F, the upper mold 3 descends and the upper mold 3 and the lead frame F come into contact with each other. At the same time or before a certain time, it is supplied into the cavity of the lower mold 4.
【0013】シート状樹脂1a、1bは、上型3及び下
型4に夫々当接するとすぐに溶融し始める。シート状樹
脂1bを下型4内に投入すると上型3は、リードフレー
ムFと共に下降し続け、下型4との間でリードフレーム
Fを挟む。その後、片締めを行う。片締め完了と同時
に、上型3内の単一プランジャ5aが所定の位置まで下
降し停止する。次に、下型4内の外周側プランジャ51
が上昇し、樹脂を圧縮成型し始める。外周側プランジャ
51は、所定位置まで上昇すると停止する。この時、投
入された樹脂は加えられた圧力を中央側プランジャ52
に対し反力として付加する。中央側プランジャ52は、
この反力と樹脂側へ付勢している弾性押動材53の付勢
力と釣り合った位置で停止する。よって弾性押動材53
の設定力は、中央側プランジャ52の樹脂当接投影面積
と樹脂圧縮成型力とで計算される力としておく必要あが
ある。The sheet-shaped resins 1a and 1b start melting immediately after they come into contact with the upper mold 3 and the lower mold 4, respectively. When the sheet-shaped resin 1b is put into the lower die 4, the upper die 3 continues to descend together with the lead frame F, and the lead frame F is sandwiched between the upper die 3 and the lower die 4. After that, tighten one side. Simultaneously with the completion of the one-side tightening, the single plunger 5a in the upper mold 3 descends to a predetermined position and stops. Next, the outer peripheral side plunger 51 in the lower mold 4
Rises and begins to compression mold the resin. The outer peripheral side plunger 51 stops when it rises to a predetermined position. At this time, the injected resin changes the pressure applied to the center side plunger 52.
Is added as a reaction force to. The central plunger 52 is
It stops at a position balanced with this reaction force and the urging force of the elastic pushing member 53 urging to the resin side. Therefore, the elastic pusher 53
It is necessary to set the setting force of 1 as the force calculated by the resin contact projection area of the center side plunger 52 and the resin compression molding force.
【0014】本構成で、圧縮成型された半導体装置は、
外周側及び中央側プランジャの二重プランジャ側が、半
導体装置の上面となるとすると、図3に示す形状とな
る。図4は、図3に示す半導体装置の断面図で、キャビ
ティ厚さ寸法Tは、上型3内の単一プランジャ5aと下
型4内外周側プランジャ51を位置制御で成型している
ため、樹脂量に関係なく常に一定である。下型4内の中
央側プランジャ52によって成形された面は、樹脂量バ
ラツキによって上下し、キャビティ上面の凹み深さ寸法
Kをバラつかせた成型品となる。With this structure, the semiconductor device compression molded is
If the double plunger side of the outer peripheral side and the center side plunger is the upper surface of the semiconductor device, the shape shown in FIG. 3 is obtained. FIG. 4 is a cross-sectional view of the semiconductor device shown in FIG. 3, where the cavity thickness dimension T is obtained by molding the single plunger 5a in the upper mold 3 and the outer peripheral plunger 51 in the lower mold 4 by position control. It is always constant regardless of the amount of resin. The surface formed by the center side plunger 52 in the lower mold 4 moves up and down due to the variation in the amount of resin, and becomes a molded product in which the recess depth dimension K of the upper surface of the cavity is varied.
【0015】二重プランジャ51,52と単一プランジ
ャ5aの半導体装置に対する上下を逆にした場合の半導
体装置の断面図は図5となり、上記同様、キャビティ厚
み寸法Tが一定で、キャビティ下面の凹み深さ寸法Kを
バラつかせた成型品である。よって、キャビティ上面及
び下面に一定の厚みを持った面が存在する為、ユーザー
における半導体装置の実装において、確実な実装手段を
設けることができる。FIG. 5 is a sectional view of the semiconductor device in which the double plungers 51 and 52 and the single plunger 5a are turned upside down with respect to the semiconductor device. It is a molded product with different depth dimensions K. Therefore, since the upper surface and the lower surface of the cavity have surfaces having a certain thickness, a reliable mounting means can be provided in mounting the semiconductor device by the user.
【0016】シート状樹脂の取扱による欠け等による大
幅な樹脂量不足、或いは樹脂製造工程に於ける計量ミス
による大幅な樹脂量増減が発生した場合は、本発明の構
成によると、初期状態の中央側プランジャ52の位置S
1と、成型終了直前の中央側プランジャ52の位置S2
の差により、所定位置で成形終了していないことを判別
装置56が判別して、装置を停止もしくは異常出力をす
る。よって、極端な凹み深さを持ち半導体素子が露出し
ているものや、本来凹み深さがなくてはならないのに凸
型になっているものを確実に判別できる。According to the configuration of the present invention, when a large amount of resin is insufficient due to chipping due to handling of the sheet-shaped resin, or a large amount of resin is increased or decreased due to a measurement error in the resin manufacturing process, the center of the initial state is obtained. Position S of side plunger 52
1 and the position S2 of the center side plunger 52 immediately before the end of molding
The discriminating device 56 discriminates that the molding is not completed at the predetermined position, and stops the device or outputs an abnormal signal. Therefore, it is possible to surely discriminate a semiconductor element that has an extremely deep recess depth and is exposed, or a semiconductor element that is convex although the original recess depth is required.
【0017】第2実施例として図6乃至図10に示す。
構成は第1実施例の外周側プランジャと中央側プランジ
ャの駆動構成を逆にしたもので、作用においても夫々の
プランジャの動作が逆になり、中央側プランジャ52を
位置制御し、外周側プランジャ51が圧力に対して動作
するようになっている。A second embodiment is shown in FIGS. 6 to 10.
In the configuration, the driving configurations of the outer peripheral side plunger and the central side plunger of the first embodiment are reversed, and the actions of the respective plungers are also reversed in operation, the position of the central side plunger 52 is controlled, and the outer peripheral side plunger 51. Is designed to work with pressure.
【0018】本構成で、圧縮成型された半導体装置は、
外周側及び中央側プランジャの二重プランジャ側が、半
導体装置の上面となるとすると、図8に示す形状とな
る。図9は、図8に示す半導体装置の断面図で、キャビ
ティ厚さ寸法Tは、上型3内の単一プランジャ5aと下
型4内外周側プランジャ51を位置制御で成型している
ため、樹脂量に関係なく常に一定である。下型4内の中
央側プランジャ52によって成形された面は、樹脂量バ
ラツキによって上下し、キャビティ上面の凹み深さ寸法
Kをバラつかせた成型品となる。With this configuration, the compression molded semiconductor device is
If the double plunger side of the outer peripheral side and the center side plunger is the upper surface of the semiconductor device, the shape shown in FIG. 8 is obtained. FIG. 9 is a cross-sectional view of the semiconductor device shown in FIG. 8. The cavity thickness dimension T is obtained by molding the single plunger 5a in the upper mold 3 and the outer peripheral plunger 51 in the lower mold 4 by position control. It is always constant regardless of the amount of resin. The surface formed by the center side plunger 52 in the lower mold 4 moves up and down due to the variation in the amount of resin, and becomes a molded product in which the recess depth dimension K of the upper surface of the cavity is varied.
【0019】二重プランジャ51,52と単一プランジ
ャ5aの半導体装置に対する上下を逆にした場合の半導
体装置の断面図は図10となり、上記同様キャビティ厚
み寸法Tが一定で、キャビティ下面の凹み深さ寸法Kを
バラつかせた成型品である。よって、第1実施例と同一
の効果がある。A sectional view of the semiconductor device when the double plungers 51, 52 and the single plunger 5a are turned upside down with respect to the semiconductor device is shown in FIG. 10. As in the above, the cavity thickness dimension T is constant and the cavity bottom has a recess depth. It is a molded product with different dimensions K. Therefore, the same effect as the first embodiment is obtained.
【0020】第3実施例として、図11に示す構成は、
外周側プランジャ51と中央側プランジャ52が夫々独
立したアクチュエータによって駆動され、夫々のアクチ
ュエータには位置検出装置55及び判別装置56,荷重
検出装置57,制御装置58を備えており、外部の設定
によって位置制御プランジャを外周側或いは中央側で設
定変更できる。位置制御プランジャでないプランジャ
は、圧力制御プランジャとなり、作用は第1実施例或い
は第2実施例と同様にできる。よって成形された半導体
装置の形状は、図3乃至図5、図8乃至図10に示す形
状全てに対応できる。As a third embodiment, the configuration shown in FIG.
The outer peripheral side plunger 51 and the central side plunger 52 are driven by independent actuators, and each actuator is equipped with a position detecting device 55, a discriminating device 56, a load detecting device 57, and a control device 58. The setting of the control plunger can be changed on the outer peripheral side or the central side. The plunger that is not the position control plunger becomes a pressure control plunger, and the action can be the same as in the first or second embodiment. Therefore, the shape of the molded semiconductor device can correspond to all the shapes shown in FIGS. 3 to 5 and 8 to 10.
【0021】その他の実施例として、二重プランジャの
形状は図12に示すように、中央側プランジャ52の先
端形状が、矩形,円,楕円でも良く、又、中央側プラン
ジャ52の個数が複数個に分割されていても同様の効果
を奏することができる。As another embodiment, as shown in FIG. 12, the shape of the double plunger may be such that the tip of the center side plunger 52 is rectangular, circular or elliptical, and the number of center side plungers 52 is plural. The same effect can be obtained even when divided into.
【0022】[0022]
【発明の効果】以上の説明にて明らかなように、本発明
の装置は、キャビティ上面及び下面に一定の厚みを持っ
た面が存在するため、ユーザーにおける半導体装置の実
装において、確実な実装手段を設けることができる。As is apparent from the above description, since the device of the present invention has the surfaces having the constant thickness on the upper surface and the lower surface of the cavity, a reliable mounting means for mounting the semiconductor device by the user. Can be provided.
【0023】シート状樹脂の取扱による欠け等による大
幅な樹脂量不足、或いは樹脂製造工程に於ける計量ミス
による大幅な樹脂量増減が発生した場合は、本発明の構
成によると、初期状態の中央側プランジャの位置と、成
型終了直前の中央側プランジャの位置の差により、所定
位置で成形修了していないことを判別装置が判別して、
装置を停止もしくは異常出力をする。よって、極端な凹
み深さを持ち半導体素子が露出しているものや、本来凹
み深さがなくてはならないのに凸型になっているものを
確実に判別できる。According to the configuration of the present invention, when a large amount of resin is insufficient due to chipping due to handling of the sheet-shaped resin or a large amount of resin is increased or decreased due to a measurement error in the resin manufacturing process, the center of the initial state is obtained. By the difference between the position of the side plunger and the position of the center side plunger just before the end of molding, the determination device determines that the molding has not been completed at the predetermined position,
Stop the device or output an error. Therefore, it is possible to surely discriminate a semiconductor element that has an extremely deep recess depth and is exposed, or a semiconductor element that is convex although the original recess depth is required.
【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]
【図1】本発明の第1実施例を示す半導体樹脂封止装置
の断面図、FIG. 1 is a cross-sectional view of a semiconductor resin sealing device showing a first embodiment of the present invention,
【図2】本発明の第1実施例を示す半導体樹脂封止装置
の作用断面図、FIG. 2 is a sectional view showing the operation of the semiconductor resin sealing device showing the first embodiment of the present invention,
【図3】本発明の第1実施例の半導体樹脂封止装置によ
り成形の半導体装置図、FIG. 3 is a semiconductor device diagram molded by the semiconductor resin sealing device of the first embodiment of the present invention,
【図4】図3の断面図、FIG. 4 is a sectional view of FIG.
【図5】本発明の第1実施例で二重プランジャ位置を逆
状態の半導体装置断面図、FIG. 5 is a sectional view of the semiconductor device according to the first embodiment of the present invention with the double plunger position reversed.
【図6】本発明の第2実施例の下型断面図、FIG. 6 is a sectional view of a lower die of a second embodiment of the present invention,
【図7】本発明の第2実施例の作用断面図、FIG. 7 is a sectional view showing the operation of the second embodiment of the present invention;
【図8】本発明の第2実施例の半導体樹脂封止装置によ
り成形の半導体装置図、FIG. 8 is a semiconductor device diagram molded by the semiconductor resin sealing device according to the second embodiment of the present invention;
【図9】図8の断面図、9 is a sectional view of FIG.
【図10】本発明の第2実施例で二重プランジャ位置を
逆状態の半導体装置断面図、FIG. 10 is a cross-sectional view of the semiconductor device according to the second embodiment of the present invention with the double plunger position reversed.
【図11】本発明の第3実施例の半導体樹脂封止装置の
断面図、FIG. 11 is a sectional view of a semiconductor resin sealing device according to a third embodiment of the present invention,
【図12】本発明の二重プランジャの形状におけるその
他の実施例を示す図、FIG. 12 is a view showing another embodiment of the shape of the double plunger of the present invention,
【図13】半導体樹脂封止装置の従来技術説明図、FIG. 13 is an explanatory view of a conventional technology of a semiconductor resin sealing device,
【図14】半導体樹脂封止装置の従来技術説明図。FIG. 14 is a diagram illustrating a conventional technique of a semiconductor resin sealing device.
1a,1b…シート状樹脂、 2…キャビテ
ィ、3…上型、 4…下
型、5a…単一プランジャ、 51…外
周側プランジャ、52…中央側プランジャ、
53…弾性押動材、54…センサ、
55…位置検出装置、56…判別装置、
57…荷重検出装置、58…制御装
置、 S1…初期寸法、 S2…加圧後寸法、
T…キャビティ厚み寸法、 K…凹み深さ
寸法。1a, 1b ... Sheet-shaped resin, 2 ... Cavity, 3 ... Upper mold, 4 ... Lower mold, 5a ... Single plunger, 51 ... Outer peripheral side plunger, 52 ... Central side plunger,
53 ... Elastic pushing member, 54 ... Sensor,
55 ... Position detection device, 56 ... Discrimination device,
57 ... Load detection device, 58 ... Control device, S1 ... Initial dimension, S2 ... Pressurized dimension,
T ... Cavity thickness dimension, K ... Recess depth dimension.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 B29C 45/77 7365−4F B29C 45/77 // B29L 31:34 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Internal reference number FI technical display location B29C 45/77 7365-4F B29C 45/77 // B29L 31:34
Claims (5)
フレーム或いはテープフレームを挿入し、成形後のキャ
ビティとなる体積分のシート状樹脂を金型内或いはフレ
ーム付着或いは金型内とフレーム付着によって供給し、
上下キャビティの両底面が夫々プランジャ面となる半導
体樹脂封止装置において、どちらか一方のプランジャが
二重プランジャとなっていることを特徴とする半導体樹
脂封止装置。1. A lead frame or a tape frame on which a semiconductor element is mounted is inserted into a mold, and a sheet-shaped resin corresponding to a volume which becomes a cavity after molding is attached in the mold or in the frame or in the mold and the frame. Supply,
A semiconductor resin sealing device in which both bottom surfaces of the upper and lower cavities are plunger surfaces, and one of the plungers is a double plunger.
アクチュエータによって駆動され、中央側プランジャが
弾性押動材によってプランジャ面側に付勢されているこ
とを特徴とする請求項1記載の半導体樹脂封止装置。2. The semiconductor resin encapsulation according to claim 1, wherein the outer peripheral side plunger of the double plunger is driven by an actuator, and the central side plunger is biased toward the plunger surface side by an elastic pushing member. apparatus.
アクチュエータによって駆動され、外周側プランジャが
弾性押動材によってプランジャ面側に付勢されているこ
とを特徴とする請求項1記載の半導体樹脂封止装置。3. The semiconductor resin encapsulation according to claim 1, wherein the central plunger of the double plunger is driven by an actuator, and the outer peripheral plunger is urged toward the plunger surface side by an elastic pushing member. apparatus.
中央側プランジャのどちらもアクチュエータによって独
立して駆動され、一方を位置制御、他方を圧力制御で成
形することを特徴とする請求項1記載の半導体樹脂封止
装置。4. The semiconductor according to claim 1, wherein both the outer peripheral side plunger and the central side plunger of the double plunger are independently driven by an actuator, and one is formed by position control and the other by pressure control. Resin sealing device.
しくは外周側プランジャの成形中の位置を検出するプラ
ンジャ位置検出装置と、成形終了時のプランジャ位置が
所定の位置であるか判別する判別装置を設け、所定位置
で成形終了した時は成型品を良品とし、それ以外を不良
品と判別することを特徴とした請求項1記載の半導体樹
脂封止装置。5. A plunger position detecting device for detecting the position of the center plunger or the outer peripheral plunger of the double plunger during molding, and a discriminating device for discriminating whether or not the plunger position at the end of molding is a predetermined position, The semiconductor resin encapsulation device according to claim 1, wherein when the molding is completed at a predetermined position, the molded product is judged as a good product and the other products are judged as defective products.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12997695A JPH08330342A (en) | 1995-05-29 | 1995-05-29 | Semiconductor resin sealing device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12997695A JPH08330342A (en) | 1995-05-29 | 1995-05-29 | Semiconductor resin sealing device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08330342A true JPH08330342A (en) | 1996-12-13 |
Family
ID=15023097
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12997695A Pending JPH08330342A (en) | 1995-05-29 | 1995-05-29 | Semiconductor resin sealing device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08330342A (en) |
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-
1995
- 1995-05-29 JP JP12997695A patent/JPH08330342A/en active Pending
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