JPH0833343B2 - クロマトスキヤナ - Google Patents
クロマトスキヤナInfo
- Publication number
- JPH0833343B2 JPH0833343B2 JP22152786A JP22152786A JPH0833343B2 JP H0833343 B2 JPH0833343 B2 JP H0833343B2 JP 22152786 A JP22152786 A JP 22152786A JP 22152786 A JP22152786 A JP 22152786A JP H0833343 B2 JPH0833343 B2 JP H0833343B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plate
- sample
- light
- transparent plate
- arm
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- Expired - Lifetime
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は薄層クロマトプレートや電気泳動ゲルの吸光
度測定を行なうクロマトスキャナに関するものである。
度測定を行なうクロマトスキャナに関するものである。
(従来の技術) クロマトスキャナでは薄層クロマトプレートや電気泳
動ゲルのような試料プレート上に測定光を照射し、その
測定光を試料プレート上で走査することによって、試料
プレート上の吸光度の測定を行なう。
動ゲルのような試料プレート上に測定光を照射し、その
測定光を試料プレート上で走査することによって、試料
プレート上の吸光度の測定を行なう。
(発明が解決しようとする問題点) 試料プレートが薄層クロマトプレートである場合に
は、測定モードは反射吸収測定モードとなるので、照射
光束が可視光であれば直ちに照射点を目視確認でき、お
およその照射位置(X座標及びY座標)を読み取ること
ができる。しかし、試料プレートが電気泳動ゲル(特に
平板ゲル)の場合は、試料プレートが基本的には透明体
であるため、可視光であっても照射点を目視確認するこ
とができないという不便さがある。
は、測定モードは反射吸収測定モードとなるので、照射
光束が可視光であれば直ちに照射点を目視確認でき、お
およその照射位置(X座標及びY座標)を読み取ること
ができる。しかし、試料プレートが電気泳動ゲル(特に
平板ゲル)の場合は、試料プレートが基本的には透明体
であるため、可視光であっても照射点を目視確認するこ
とができないという不便さがある。
本発明は、試料プレートが電気泳動ゲルの平板ゲルの
ような透明体であっても、照射光束の存在位置を目視確
認できるようにすることを目的とするものである。
ような透明体であっても、照射光束の存在位置を目視確
認できるようにすることを目的とするものである。
(問題点を解決するための手段) 本発明のクロマトスキャナでは、載置される試料面に
接近して測定光の照射光束位置の試料面の上方又は下方
に、照射光束を乱反射させる目印を刻んだ透明板を着脱
可能に設けた。
接近して測定光の照射光束位置の試料面の上方又は下方
に、照射光束を乱反射させる目印を刻んだ透明板を着脱
可能に設けた。
(実施例) 第1図(A)は一実施例を示す側面断面図、同図
(B)は同実施例の要部正面図である。
(B)は同実施例の要部正面図である。
2はクロマトスキャナ本体内の光学系を格納している
ケースの壁面を表わし、ケース壁面2の一部に半透明鏡
4が窓板として貼りつけられている。測定光6はケース
の内側から半透明鏡4を透過して試料プレート8へと向
う。半透明鏡4では測定光6の一部が反射されてモニタ
ー用の光電子増倍管に入射するようになっている。
ケースの壁面を表わし、ケース壁面2の一部に半透明鏡
4が窓板として貼りつけられている。測定光6はケース
の内側から半透明鏡4を透過して試料プレート8へと向
う。半透明鏡4では測定光6の一部が反射されてモニタ
ー用の光電子増倍管に入射するようになっている。
半透明鏡4を透過した測定光6は、試料プレート8に
対して垂直方向に入射する。試料プレート8に接近し
て、その試料プレート8の上方(試料プレート8に対し
て測定光6の入射側)に、試料プレート8に平行な透明
板18が設けられている。
対して垂直方向に入射する。試料プレート8に接近し
て、その試料プレート8の上方(試料プレート8に対し
て測定光6の入射側)に、試料プレート8に平行な透明
板18が設けられている。
試料プレート8の下側には、試料プレート8を透過し
た測定光6を検出する透過光測定用の光電子増倍管10が
設けられている。試料プレート8で反射した測定光を検
出するために、ケースの内側に窓板14を介して反射光測
定用の光電子増倍管12が設けられている。16は光電子増
倍管12に外部光が入射するのを防止するための遮光部材
である。
た測定光6を検出する透過光測定用の光電子増倍管10が
設けられている。試料プレート8で反射した測定光を検
出するために、ケースの内側に窓板14を介して反射光測
定用の光電子増倍管12が設けられている。16は光電子増
倍管12に外部光が入射するのを防止するための遮光部材
である。
透明板18は可動支持板20に取り付けられ、可動支持板
20に開けられた穴を通して測定光6が透明板18を通って
試料プレート8に入射する。可動支持板20は断面がL字
型に折れ曲っており、透明板18が取り付けられている面
は試料プレート8に平行な水平面である。ケース壁面2
の内、測定光6と平行になる壁面には、水平方向に並ん
だ2個の止めネジ22を取り付け、一方、可動支持板20の
垂直方向の面には水平方向に延びる長孔24を開け、この
長孔24を止めネジ22に通すとともに、板金で作られた固
定バネ板25によって支持板20をケース壁面2と止めネジ
22の間に支持する。このときケース壁面2と可動支持板
20の間、及び可動支持板20と固定バネ板25の間にはポリ
テトラフルオロエチレン製のスペーサ(座金に似た形状
のもの)を挟んでおく。26は可動支持板20に設けられた
摘みである。この摘み26を手で左右に動かすことによっ
て、可動支持板20が固定バネ板25に対して水平方向に移
動することができる。
20に開けられた穴を通して測定光6が透明板18を通って
試料プレート8に入射する。可動支持板20は断面がL字
型に折れ曲っており、透明板18が取り付けられている面
は試料プレート8に平行な水平面である。ケース壁面2
の内、測定光6と平行になる壁面には、水平方向に並ん
だ2個の止めネジ22を取り付け、一方、可動支持板20の
垂直方向の面には水平方向に延びる長孔24を開け、この
長孔24を止めネジ22に通すとともに、板金で作られた固
定バネ板25によって支持板20をケース壁面2と止めネジ
22の間に支持する。このときケース壁面2と可動支持板
20の間、及び可動支持板20と固定バネ板25の間にはポリ
テトラフルオロエチレン製のスペーサ(座金に似た形状
のもの)を挟んでおく。26は可動支持板20に設けられた
摘みである。この摘み26を手で左右に動かすことによっ
て、可動支持板20が固定バネ板25に対して水平方向に移
動することができる。
第2図(A)は透明板18を示す斜視図、同図(B)は
そのA−A′線位置での断面図である。透明板18には下
面から目印となる円錐状の穴28を刻みつけておく。測定
光6がこの透明板18の穴28を通過するとき、その穴28の
境界面で乱反射が起こり、測定光6が当っているのを確
認することができる。
そのA−A′線位置での断面図である。透明板18には下
面から目印となる円錐状の穴28を刻みつけておく。測定
光6がこの透明板18の穴28を通過するとき、その穴28の
境界面で乱反射が起こり、測定光6が当っているのを確
認することができる。
本実施例において測定光6の照射位置を確めるために
は、可動支持板20の摘み26を左右に動かして、測定光6
が透明板18の穴28に当って乱反射する位置を捜す。
は、可動支持板20の摘み26を左右に動かして、測定光6
が透明板18の穴28に当って乱反射する位置を捜す。
次に試料プレートの吸光度を実測する場合は、再び摘
み26を手で動かして、透明板18及び可動支持板20を測定
光6の光路から外れる位置まで移動させる。
み26を手で動かして、透明板18及び可動支持板20を測定
光6の光路から外れる位置まで移動させる。
上記の実施例では透明板18を試料プレート8の上方に
配置しているが、透明板18を試料プレート8の下方に配
置してもよい。
配置しているが、透明板18を試料プレート8の下方に配
置してもよい。
第3図は目印を持った透明板18を試料室の蓋の開閉操
作と連動させ、機械的に動作させることにより、蓋が開
けば自動的に透明板18が照射光の光路中へ挿入されるよ
うにしたものである。
作と連動させ、機械的に動作させることにより、蓋が開
けば自動的に透明板18が照射光の光路中へ挿入されるよ
うにしたものである。
透明板18を取り付ける可動支持板30の両端に固定棒3
2,34を取り付け、固定棒32の一端をL字型のアーム36の
一端に回動可能に取り付け、固定棒34の一端をアーム38
の一端に回動可能に取り付ける。アーム36の折曲り部と
アーム38の他端を試料室の左右の壁面に回動可能に取り
付ける。アーム36の他端は、アーム案内板40の案内溝に
沿って移動することのできるアーム42の一端に回動可能
に取り付けられ、アーム42の他端、すなわちアーム案内
板40に案内される部分にはアーム44の一端が回動可能に
取り付けられ、アーム44の他端はアーム取り付け板46を
介して試料室の蓋50に回動可能に取り付けられている。
2,34を取り付け、固定棒32の一端をL字型のアーム36の
一端に回動可能に取り付け、固定棒34の一端をアーム38
の一端に回動可能に取り付ける。アーム36の折曲り部と
アーム38の他端を試料室の左右の壁面に回動可能に取り
付ける。アーム36の他端は、アーム案内板40の案内溝に
沿って移動することのできるアーム42の一端に回動可能
に取り付けられ、アーム42の他端、すなわちアーム案内
板40に案内される部分にはアーム44の一端が回動可能に
取り付けられ、アーム44の他端はアーム取り付け板46を
介して試料室の蓋50に回動可能に取り付けられている。
この実施例によれば、試料室の蓋50を開けることによ
って、アームの連動により透明板18が測定光6の光路位
置に移動する。また、測定時、試料室の蓋50を閉めるこ
とによって、透明板18と可動支持板30が測定光6の光路
から退避する。
って、アームの連動により透明板18が測定光6の光路位
置に移動する。また、測定時、試料室の蓋50を閉めるこ
とによって、透明板18と可動支持板30が測定光6の光路
から退避する。
透明板18に刻みつける目印は実施例に示されるような
円錐状の凹み28に限定されない。例えばこの凹み28を四
角推状として、その四面の方向に十字放射状の延長辺を
出し、照射点のXY座標の読み取りの助けになるようにし
てもよい。
円錐状の凹み28に限定されない。例えばこの凹み28を四
角推状として、その四面の方向に十字放射状の延長辺を
出し、照射点のXY座標の読み取りの助けになるようにし
てもよい。
また、透明板18に適量の蛍光物質を混入させるか、ま
たは表面に塗布することによって、照射光が紫外線であ
る場合でも目視確認することができるようになる。
たは表面に塗布することによって、照射光が紫外線であ
る場合でも目視確認することができるようになる。
第3図に示されるように透明板18の移動を試料室の蓋
50の開閉と連動させた場合は、透明板18を測定光の光路
から退避させるのを忘れて測定を開始してしまうという
ミスをなくすことができる。
50の開閉と連動させた場合は、透明板18を測定光の光路
から退避させるのを忘れて測定を開始してしまうという
ミスをなくすことができる。
(発明の効果) 本発明のクロマトスキャナでは載置される試料面に接
近して照射光束位置の試料面の上方又は下方に、照射光
束を乱反射させる目印を刻んだ透明板を着脱可能に設け
たので、電気泳動ゲルを測定する場合であっても、試料
スポットの有無に拘わらず照射点の位置を目視確認する
ことが可能になる。
近して照射光束位置の試料面の上方又は下方に、照射光
束を乱反射させる目印を刻んだ透明板を着脱可能に設け
たので、電気泳動ゲルを測定する場合であっても、試料
スポットの有無に拘わらず照射点の位置を目視確認する
ことが可能になる。
第1図(A)は一実施例を示す断面図、同図(B)は同
実施例の要部正面図、第2図(A)は透明板の部分を示
す斜視図、同図(B)は同図(A)のA−A′線位置で
の断面図、第3図は他の実施例を示す要部斜視図であ
る。 6……測定光、 8……試料プレート、 18……透明板、 28……目印。
実施例の要部正面図、第2図(A)は透明板の部分を示
す斜視図、同図(B)は同図(A)のA−A′線位置で
の断面図、第3図は他の実施例を示す要部斜視図であ
る。 6……測定光、 8……試料プレート、 18……透明板、 28……目印。
Claims (1)
- 【請求項1】載置される試料面に接近して測定光の照射
光束位置の試料面の上方又は下方に、照射光束を乱反射
させる目印を刻んだ透明板を着脱可能に設けたクロマト
スキャナ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22152786A JPH0833343B2 (ja) | 1986-09-18 | 1986-09-18 | クロマトスキヤナ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22152786A JPH0833343B2 (ja) | 1986-09-18 | 1986-09-18 | クロマトスキヤナ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6375535A JPS6375535A (ja) | 1988-04-05 |
| JPH0833343B2 true JPH0833343B2 (ja) | 1996-03-29 |
Family
ID=16768110
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22152786A Expired - Lifetime JPH0833343B2 (ja) | 1986-09-18 | 1986-09-18 | クロマトスキヤナ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0833343B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03214040A (ja) * | 1990-01-18 | 1991-09-19 | Japan Spectroscopic Co | 光分析装置 |
| JP5596402B2 (ja) * | 2010-04-19 | 2014-09-24 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 分析装置、イオン化装置及び分析方法 |
-
1986
- 1986-09-18 JP JP22152786A patent/JPH0833343B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6375535A (ja) | 1988-04-05 |
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