JPH0834007B2 - トラツキングエラ−信号生成装置 - Google Patents
トラツキングエラ−信号生成装置Info
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- JPH0834007B2 JPH0834007B2 JP61296227A JP29622786A JPH0834007B2 JP H0834007 B2 JPH0834007 B2 JP H0834007B2 JP 61296227 A JP61296227 A JP 61296227A JP 29622786 A JP29622786 A JP 29622786A JP H0834007 B2 JPH0834007 B2 JP H0834007B2
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Description
【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、トラッキングエラー信号生成装置に関し、
特に光学式記録媒体への情報の記録又は再生を行なう装
置において、いわゆる位相差方式により情報検出光のト
ラッキングエラーを検出するトラッキングエラー信号生
成装置に関する。
特に光学式記録媒体への情報の記録又は再生を行なう装
置において、いわゆる位相差方式により情報検出光のト
ラッキングエラーを検出するトラッキングエラー信号生
成装置に関する。
背景技術 光学式記録ディスクへの情報の記録又は再生を行なう
装置においては、ピックアップの情報検出用光スポット
と記録トラックとの当該記録トラック直交（ディスク半
径）方向の離間状態を示すいわゆるトラッキングエラー
信号を生成する装置が設けられており、その例を第４図
に示す。
装置においては、ピックアップの情報検出用光スポット
と記録トラックとの当該記録トラック直交（ディスク半
径）方向の離間状態を示すいわゆるトラッキングエラー
信号を生成する装置が設けられており、その例を第４図
に示す。
第４図において、１は４分割型受光素子であり、ピッ
クアップの情報検出用スポット光の記録面を経た光がこ
の４分割型受光素子１の受光面上に照射される。４分割
型受光素子１は、互いに直交する２本の直線α、βによ
って分割された４つの受光域を形成する如く互いに隣接
配置された４つのエレメント1a〜1dからなっている。直
線α、βの交点に関して対称に配置されているエレメン
ト1a及び1cの各出力は、それぞれバッファアンプ２及び
３を介して加算器４に供給されている。また、エレメン
ト1b及び1dの各出力は、それぞれバッファアンプ５及び
６を介して加算器７に供給されている。
クアップの情報検出用スポット光の記録面を経た光がこ
の４分割型受光素子１の受光面上に照射される。４分割
型受光素子１は、互いに直交する２本の直線α、βによ
って分割された４つの受光域を形成する如く互いに隣接
配置された４つのエレメント1a〜1dからなっている。直
線α、βの交点に関して対称に配置されているエレメン
ト1a及び1cの各出力は、それぞれバッファアンプ２及び
３を介して加算器４に供給されている。また、エレメン
ト1b及び1dの各出力は、それぞれバッファアンプ５及び
６を介して加算器７に供給されている。
加算器４及び７の加算出力は、コンパレータ等からな
る波形整形回路８及び９によって波形成形されたのち位
相差検出回路10に供給される。位相差検出回路10におい
て、波形整形回路８の出力ｐは、Ｄ形フリップフロップ
12のクロック入力端子及びＤ形フリップフロップ14のリ
セット入力端子に供給されている。また、それと同時に
波形整形回路８の出力ｐは、インバータ15に供給されて
いる。このインバータ15から出力ｐの反転信号p-が出力
されてＤ形フリップフロップ11のクロック入力端子及び
Ｄ形フリップフロップ13のリセット入力端子に供給され
ている。
る波形整形回路８及び９によって波形成形されたのち位
相差検出回路10に供給される。位相差検出回路10におい
て、波形整形回路８の出力ｐは、Ｄ形フリップフロップ
12のクロック入力端子及びＤ形フリップフロップ14のリ
セット入力端子に供給されている。また、それと同時に
波形整形回路８の出力ｐは、インバータ15に供給されて
いる。このインバータ15から出力ｐの反転信号p-が出力
されてＤ形フリップフロップ11のクロック入力端子及び
Ｄ形フリップフロップ13のリセット入力端子に供給され
ている。
波形整形回路９の出力ｒは、Ｄ形フリップフロップ11
のリセット入力端子及びＤ形フリップフロップ13のクロ
ック入力端子に供給されている。また、それと同時に波
形整形回路９の出力ｒは、インバータ16に供給されてい
る。このインバータ16から出力ｒの反転信号r-が出力さ
れてＤ形フリップフロップ12のリセット入力端子及びＤ
形フリップフロップ14のクロック入力端子に供給されて
いる。
のリセット入力端子及びＤ形フリップフロップ13のクロ
ック入力端子に供給されている。また、それと同時に波
形整形回路９の出力ｒは、インバータ16に供給されてい
る。このインバータ16から出力ｒの反転信号r-が出力さ
れてＤ形フリップフロップ12のリセット入力端子及びＤ
形フリップフロップ14のクロック入力端子に供給されて
いる。
Ｄ形フリップフロップ11〜14のＤ入力端子及びセット
入力端子には電源電圧が印加されている。Ｄ形フリップ
フロップ11及び12のＱ出力q1及びq2は、OR（論理和）ゲ
ート17を介して差動増幅器18の負側入力端子に供給され
ている。また、Ｄ形フリップフロップ13及び14のＱ出力
q3及びq4は、ORゲート19を介して差動増幅器18の正側入
力端子に供給されている。この差動増幅器18の出力がLP
F（ローパスフィルタ）20を介してトラッキングエラー
信号ｅとして出力される。
入力端子には電源電圧が印加されている。Ｄ形フリップ
フロップ11及び12のＱ出力q1及びq2は、OR（論理和）ゲ
ート17を介して差動増幅器18の負側入力端子に供給され
ている。また、Ｄ形フリップフロップ13及び14のＱ出力
q3及びq4は、ORゲート19を介して差動増幅器18の正側入
力端子に供給されている。この差動増幅器18の出力がLP
F（ローパスフィルタ）20を介してトラッキングエラー
信号ｅとして出力される。
以上の構成において、４分割型受光素子１は、記録面
からの光によって受光面に形成される光スポットの中心
が直線α及びβの交点に一致し、かつ直線αが情報検出
用光スポットの記録トラックに追従した移動に伴なって
記録面からの光の強度分布のパターンが移動する方向と
平行になるように配置されているものとする。このと
き、情報検出用光スポットが記録トラックに追従して移
動している場合は、受光素子１の受光面上に形成された
光スポット内の光の強度分布のパターンが例えばエレメ
ント1aから1bに向かう方向（図において下方）に移動す
るが、この光の強度分布のパターンは直線αに関して対
称となる。そうすると、波形整形出力ｐとｒ間の位相差
は“0"となり、Ｄ型フリップフロップ11〜14はリセット
状態のままとなってＱ出力q1〜q4が低レベルのままとな
る。この結果、差動増幅器18の逆相入力ｘと正相入力ｙ
間のレベル差は生じず、差動増幅器18の出力は接地レベ
ルとなってLPF20から出力されるトラッキングエラー信
号ｅのレベルが接地レベルに等しくなる。
からの光によって受光面に形成される光スポットの中心
が直線α及びβの交点に一致し、かつ直線αが情報検出
用光スポットの記録トラックに追従した移動に伴なって
記録面からの光の強度分布のパターンが移動する方向と
平行になるように配置されているものとする。このと
き、情報検出用光スポットが記録トラックに追従して移
動している場合は、受光素子１の受光面上に形成された
光スポット内の光の強度分布のパターンが例えばエレメ
ント1aから1bに向かう方向（図において下方）に移動す
るが、この光の強度分布のパターンは直線αに関して対
称となる。そうすると、波形整形出力ｐとｒ間の位相差
は“0"となり、Ｄ型フリップフロップ11〜14はリセット
状態のままとなってＱ出力q1〜q4が低レベルのままとな
る。この結果、差動増幅器18の逆相入力ｘと正相入力ｙ
間のレベル差は生じず、差動増幅器18の出力は接地レベ
ルとなってLPF20から出力されるトラッキングエラー信
号ｅのレベルが接地レベルに等しくなる。
次に、情報検出用光スポットが内周方向に変位して、
４分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポット
内の光の強度分布のパターンが例えばエレメント1dから
1aに向かう方向（図において左方）に変位した場合につ
いて第５図を参照して説明する。第５図（Ａ）は、波形
整形出力ｐの波形図、同図（Ｂ）は、反転出力p-の波形
図、同図（Ｃ）は、波形整形出力ｒの波形図、同図
（Ｄ）は、反転出力r-の波形図、同図（Ｅ）は、Ｑ出力
q1の波形図、同図（Ｆ）は、Ｑ出力q2の波形図、同図
（Ｇ）は、Ｑ出力q3の波形図、同図（Ｈ）は、Ｑ出力q4
の波形図、同図（Ｉ）は、差動増幅器18の逆相入力ｘの
波形図、同図（Ｊ）は、差動増幅器18の正相入力ｙの波
形図である。
４分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポット
内の光の強度分布のパターンが例えばエレメント1dから
1aに向かう方向（図において左方）に変位した場合につ
いて第５図を参照して説明する。第５図（Ａ）は、波形
整形出力ｐの波形図、同図（Ｂ）は、反転出力p-の波形
図、同図（Ｃ）は、波形整形出力ｒの波形図、同図
（Ｄ）は、反転出力r-の波形図、同図（Ｅ）は、Ｑ出力
q1の波形図、同図（Ｆ）は、Ｑ出力q2の波形図、同図
（Ｇ）は、Ｑ出力q3の波形図、同図（Ｈ）は、Ｑ出力q4
の波形図、同図（Ｉ）は、差動増幅器18の逆相入力ｘの
波形図、同図（Ｊ）は、差動増幅器18の正相入力ｙの波
形図である。
光の強度分布のパターンがエレメント1dから1aに向か
う方向に変位したときは、波形整形出力ｐ及び反転出力
p-の位相が波形整形出力ｒ及び反転出力r-の位相より情
報検出用光スポットの変位量に応じた角度だけ進む。そ
うすると、Ｄ型フリップフロップ11及び12が当該角度に
対応する時間だけセット状態となってＱ出力q1及びq2が
当該角度に対応する時間だけ高レベルとなる。また、Ｄ
型フリップフロップ13及び14は、リセット状態のままと
なり、Ｑ出力q3及びq4は低レベルのままとなる。この結
果、差動増幅器18の逆相入力ｘ及び正相入力ｙのうちの
逆相入力ｘだけ情報検出用光スポットの変位量に応じた
時間に亘って高レベルとなる。このため、差動増幅器18
から情報検出用光スポットの変位量に応じたパルス幅を
有する負極性のパルスが出力されてLPF20から出力され
るトラッキングエラー信号ｅのレベルが負になりかつそ
の絶対値が情報検出用光スポットの変位量に応じた値と
なる。
う方向に変位したときは、波形整形出力ｐ及び反転出力
p-の位相が波形整形出力ｒ及び反転出力r-の位相より情
報検出用光スポットの変位量に応じた角度だけ進む。そ
うすると、Ｄ型フリップフロップ11及び12が当該角度に
対応する時間だけセット状態となってＱ出力q1及びq2が
当該角度に対応する時間だけ高レベルとなる。また、Ｄ
型フリップフロップ13及び14は、リセット状態のままと
なり、Ｑ出力q3及びq4は低レベルのままとなる。この結
果、差動増幅器18の逆相入力ｘ及び正相入力ｙのうちの
逆相入力ｘだけ情報検出用光スポットの変位量に応じた
時間に亘って高レベルとなる。このため、差動増幅器18
から情報検出用光スポットの変位量に応じたパルス幅を
有する負極性のパルスが出力されてLPF20から出力され
るトラッキングエラー信号ｅのレベルが負になりかつそ
の絶対値が情報検出用光スポットの変位量に応じた値と
なる。
次に、情報検出用光スポットが外周方向に変位して、
４分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポット
内の光の強度分布のパターンが例えばエレメント1aから
1dに向かう方向（図において右方）に変位した場合につ
いて第６図を参照して説明する。第６図（Ａ）乃至同図
（Ｊ）は、それぞれ第５図（Ａ）乃至同図（Ｊ）に示さ
れている信号と同一の信号の波形を示している。
４分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポット
内の光の強度分布のパターンが例えばエレメント1aから
1dに向かう方向（図において右方）に変位した場合につ
いて第６図を参照して説明する。第６図（Ａ）乃至同図
（Ｊ）は、それぞれ第５図（Ａ）乃至同図（Ｊ）に示さ
れている信号と同一の信号の波形を示している。
光の強度分布のパターンがエレメント1aから1dに向か
う方向に変位したときは、波形整形出力ｐ及び反転出力
p-の位相が波形整形出力ｒ及び反転出力r-の位相より情
報検出用光スポットの変位量に応じた角度だけ遅れる。
そうすると、Ｄ型フリップフロップ13及び14が当該角度
に対応する時間だけセット状態となってＱ出力q3及びq4
が当該角度に対応する時間だけ高レベルとなる。また、
Ｄ型フリップフロップ11及び12は、リセット状態のまま
となり、Ｑ出力q1及びq2は低レベルのままとなる。この
結果、差動増幅器18の逆相入力ｘ及び正相入力ｙのうち
の正相入力ｙだけ情報検出用光スポットの変位量に応じ
た時間に亘って高レベルとなる。このため、差動増幅器
18から情報検出用光スポットの変位量に応じたパルス幅
を有する正極性のパルスが出力されてLPF20から出力さ
れるトラッキングエラー信号ｅのレベルが正になりかつ
その絶対値が情報検出用光スポットの変位量に応じた値
となる。
う方向に変位したときは、波形整形出力ｐ及び反転出力
p-の位相が波形整形出力ｒ及び反転出力r-の位相より情
報検出用光スポットの変位量に応じた角度だけ遅れる。
そうすると、Ｄ型フリップフロップ13及び14が当該角度
に対応する時間だけセット状態となってＱ出力q3及びq4
が当該角度に対応する時間だけ高レベルとなる。また、
Ｄ型フリップフロップ11及び12は、リセット状態のまま
となり、Ｑ出力q1及びq2は低レベルのままとなる。この
結果、差動増幅器18の逆相入力ｘ及び正相入力ｙのうち
の正相入力ｙだけ情報検出用光スポットの変位量に応じ
た時間に亘って高レベルとなる。このため、差動増幅器
18から情報検出用光スポットの変位量に応じたパルス幅
を有する正極性のパルスが出力されてLPF20から出力さ
れるトラッキングエラー信号ｅのレベルが正になりかつ
その絶対値が情報検出用光スポットの変位量に応じた値
となる。
以上の如き従来のトラッキングエラー信号生成装置に
おいては、トラッキング制御を行なうために４分割型受
光素子１が格納されているピックアップ装置における対
物レンズのみを変位させる場合は４分割型受光素子１の
受光面に形成される光スポットの位置が第７図に実線ｕ
で示す位置から破線ｖ又はｗで示すように移動する。そ
うすると、記録媒体の記録面上の情報検出用光スポット
の位置の記録トラックからのずれによって４分割型受光
素子１の受光面上に形成される光スポット内の光の強度
分布のパターンが直線αに関して非対称になる場合と同
様にエレメント1a乃至1dへの入射光量がアンバランスに
なる。このため、例えば４分割型受光素子１の受光面に
形成される光スポットの位置が第７図に破線ｖで示す位
置に存在するとき、エレメント1a乃至1dの各出力は、そ
れぞれ第８図（Ａ）乃至同図（Ｄ）の各々に示す如くな
ってエレメント1a乃至1dの各出力の振幅がアンバランス
になる。この結果、加算回路４及び７から出力される対
角和成分間の位相差が情報検出用光スポットと記録トラ
ックとの離間距離に正確に対応しなくなり、トラッキン
グエラー信号にオフセットが発生するという欠点があっ
た。
おいては、トラッキング制御を行なうために４分割型受
光素子１が格納されているピックアップ装置における対
物レンズのみを変位させる場合は４分割型受光素子１の
受光面に形成される光スポットの位置が第７図に実線ｕ
で示す位置から破線ｖ又はｗで示すように移動する。そ
うすると、記録媒体の記録面上の情報検出用光スポット
の位置の記録トラックからのずれによって４分割型受光
素子１の受光面上に形成される光スポット内の光の強度
分布のパターンが直線αに関して非対称になる場合と同
様にエレメント1a乃至1dへの入射光量がアンバランスに
なる。このため、例えば４分割型受光素子１の受光面に
形成される光スポットの位置が第７図に破線ｖで示す位
置に存在するとき、エレメント1a乃至1dの各出力は、そ
れぞれ第８図（Ａ）乃至同図（Ｄ）の各々に示す如くな
ってエレメント1a乃至1dの各出力の振幅がアンバランス
になる。この結果、加算回路４及び７から出力される対
角和成分間の位相差が情報検出用光スポットと記録トラ
ックとの離間距離に正確に対応しなくなり、トラッキン
グエラー信号にオフセットが発生するという欠点があっ
た。
詳述すれば、本願第７図に示されるように、４分割さ
れたディテクタ１上に結像された光スポットの各分割領
域1a,1b,1c,1dの光検出信号（以下、1ch,2ch,3ch,4chと
呼ぶ）は、各々にディスクのピット列と光ビームとのラ
ジアル方向のズレに対応した位相情報を含んでいる。そ
こで、対角和信号（1ch＋3ch）と（2ch＋4ch）とを生成
し、その対角和信号間の位相差の極性と大きさを差動検
出するのが、基本的な位相差法である。ディスクが完全
にフラット（スキューなし）やディスクのトラックの偏
心がゼロ等である場合等の理想的なディスクを対象とす
る場合、光スポットはディテクタの中心に分布するた
め、対角和信号（1ch＋3ch），（2ch＋4ch）の単純な加
算で正しいエラー信号が生成できる。ところが、実際
は、ディスクスキューやレンズオフセットが生じるため
光スポットは中心からズレた位置に結像する。この場
合、対角和信号の位相情報には、各チャネルの振幅情報
も加わってしまい、正しいトラッキングエラー信号を得
ることができなくなる。
れたディテクタ１上に結像された光スポットの各分割領
域1a,1b,1c,1dの光検出信号（以下、1ch,2ch,3ch,4chと
呼ぶ）は、各々にディスクのピット列と光ビームとのラ
ジアル方向のズレに対応した位相情報を含んでいる。そ
こで、対角和信号（1ch＋3ch）と（2ch＋4ch）とを生成
し、その対角和信号間の位相差の極性と大きさを差動検
出するのが、基本的な位相差法である。ディスクが完全
にフラット（スキューなし）やディスクのトラックの偏
心がゼロ等である場合等の理想的なディスクを対象とす
る場合、光スポットはディテクタの中心に分布するた
め、対角和信号（1ch＋3ch），（2ch＋4ch）の単純な加
算で正しいエラー信号が生成できる。ところが、実際
は、ディスクスキューやレンズオフセットが生じるため
光スポットは中心からズレた位置に結像する。この場
合、対角和信号の位相情報には、各チャネルの振幅情報
も加わってしまい、正しいトラッキングエラー信号を得
ることができなくなる。
例えば、単純なモデルとして、1chと3chをx1，x2と仮
定すると、 x1＝acos（ωｔ＋α） ……（１） x2＝bcos（ωｔ＋β） ……（２） と書くことができる。対角和信号ｘは、 Ｘ＝rcos（ωｔ＋γ） ……（３） となる。但し、 r2＝ａ＋ｂ＋2abcos（α−β） ……（４） γ＝tan-1｛（asinα＋bsinβ）／（acosα＋bcos
β）｝ ……（５） と置かれる。
定すると、 x1＝acos（ωｔ＋α） ……（１） x2＝bcos（ωｔ＋β） ……（２） と書くことができる。対角和信号ｘは、 Ｘ＝rcos（ωｔ＋γ） ……（３） となる。但し、 r2＝ａ＋ｂ＋2abcos（α−β） ……（４） γ＝tan-1｛（asinα＋bsinβ）／（acosα＋bcos
β）｝ ……（５） と置かれる。
ここで（５）式に注目すると、光スポットがディテク
タ中心に位置する場合、ａ＝ｂとなり、位相情報γは、
位相項α，βのみに依存する。しかし、光スポットがデ
ィテクタ中心からズレた場合、ａ≠ｂとなり位相情報γ
は、振幅情報a,bも含むことになり、振幅すなわちディ
スクスキューがレンズオフセットに対応した目標値ズレ
（オフセット）を含むことになる。2chと4chに対しても
同様である。
タ中心に位置する場合、ａ＝ｂとなり、位相情報γは、
位相項α，βのみに依存する。しかし、光スポットがデ
ィテクタ中心からズレた場合、ａ≠ｂとなり位相情報γ
は、振幅情報a,bも含むことになり、振幅すなわちディ
スクスキューがレンズオフセットに対応した目標値ズレ
（オフセット）を含むことになる。2chと4chに対しても
同様である。
このオフセットの発生によって、情報検出点のトラッ
ク飛越し移動動作が行なわれてエレメント1a乃至1dの出
力の総和が第９図（Ａ）に示す如く変化したとき４分割
型受光素子１の受光面に形成される光スポットの位置が
第７図に実線ｕで示す位置に存在するときは、第９図
（Ｂ）に実線ｕ′で示すごときトラッキングエラー信号
が出力されるのに対し、４分割型受光素子１の受光面に
形成される光スポットの位置が第７図に破線ｖ及びｗで
示す位置に移動したときには、第９図（Ｂ）に破線ｖ′
及びｗ′で示す如くトラッキングエラー信号のレベルが
変化するのである。
ク飛越し移動動作が行なわれてエレメント1a乃至1dの出
力の総和が第９図（Ａ）に示す如く変化したとき４分割
型受光素子１の受光面に形成される光スポットの位置が
第７図に実線ｕで示す位置に存在するときは、第９図
（Ｂ）に実線ｕ′で示すごときトラッキングエラー信号
が出力されるのに対し、４分割型受光素子１の受光面に
形成される光スポットの位置が第７図に破線ｖ及びｗで
示す位置に移動したときには、第９図（Ｂ）に破線ｖ′
及びｗ′で示す如くトラッキングエラー信号のレベルが
変化するのである。
発明の概要 本発明による目的は、オフセットのないトラッキング
エラー信号を生成することができるトラッキングエラー
信号生成装置を提供することである。
エラー信号を生成することができるトラッキングエラー
信号生成装置を提供することである。
本発明のトラッキングエラー信号生成装置は、記録媒
体の記録面上に光ビームを照射して情報読取用又は情報
書込用の光スポットを形成する光学系によって前記記録
媒体から得られる反射ビームの強度分布中心近傍におい
て互いに所定の交点で交わる２本の直線によって４つの
受光域に分割されている受光素子を含み、位相差方式に
よりトラッキングエラーを検出するトラッキングエラー
信号生成装置であって、前記４つの受光域による各光検
出信号の振幅をそれぞれ一定にする波形処理手段と、前
記４つの受光域のうちの前記交点に関して対称な位置に
配置されている一方の受光域対による各光検出信号に対
応する前記波形処理手段の出力を加算する第１の加算手
段と、前記４つの受光域のうちの前記交点に関して対称
な位置に配置されている他方の受光域対による各光検出
信号に対応する前記波形処理手段の出力を加算する第２
の加算手段と、前記第１及び第２の加算手段の各加算出
力間の位相差に応じた信号をトラッキングエラー信号と
して生成する位相差検出手段とを備えたことを特徴とし
ている。
体の記録面上に光ビームを照射して情報読取用又は情報
書込用の光スポットを形成する光学系によって前記記録
媒体から得られる反射ビームの強度分布中心近傍におい
て互いに所定の交点で交わる２本の直線によって４つの
受光域に分割されている受光素子を含み、位相差方式に
よりトラッキングエラーを検出するトラッキングエラー
信号生成装置であって、前記４つの受光域による各光検
出信号の振幅をそれぞれ一定にする波形処理手段と、前
記４つの受光域のうちの前記交点に関して対称な位置に
配置されている一方の受光域対による各光検出信号に対
応する前記波形処理手段の出力を加算する第１の加算手
段と、前記４つの受光域のうちの前記交点に関して対称
な位置に配置されている他方の受光域対による各光検出
信号に対応する前記波形処理手段の出力を加算する第２
の加算手段と、前記第１及び第２の加算手段の各加算出
力間の位相差に応じた信号をトラッキングエラー信号と
して生成する位相差検出手段とを備えたことを特徴とし
ている。
実施例 以下、本発明の実施例につき第１図乃至第３図を参照
して詳細に説明する。
して詳細に説明する。
第１図において、４分割型受光素子１及びバッファア
ンプ2,3,5,6は、第４図の装置と同様に接続されてい
る。しかしながら、本例においては、バッファアンプ2,
3,5,6の各出力は、それぞれ波形処理手段としてのリミ
ッタ21、22、23、24に供給されている。リミッタ21乃至
24は、入力信号の瞬時レベルがV1以上の部分及びV2以下
の部分をクリップして振幅を制限する構成となってい
る。リミッタ21及び22の各出力は、加算器４に供給され
ている。加算器４の出力は、LPF（ローパスフィルタ）2
5を介して波形整形回路８に供給されて波形整形された
のち位相差検出回路10に供給されている。また、リミッ
タ23及び24の各出力は、加算器７に供給されている。加
算器７の出力は、LPF26を介して波形整形回路９に供給
されて波形整形されたのち位相差検出回路10に供給され
ている。
ンプ2,3,5,6は、第４図の装置と同様に接続されてい
る。しかしながら、本例においては、バッファアンプ2,
3,5,6の各出力は、それぞれ波形処理手段としてのリミ
ッタ21、22、23、24に供給されている。リミッタ21乃至
24は、入力信号の瞬時レベルがV1以上の部分及びV2以下
の部分をクリップして振幅を制限する構成となってい
る。リミッタ21及び22の各出力は、加算器４に供給され
ている。加算器４の出力は、LPF（ローパスフィルタ）2
5を介して波形整形回路８に供給されて波形整形された
のち位相差検出回路10に供給されている。また、リミッ
タ23及び24の各出力は、加算器７に供給されている。加
算器７の出力は、LPF26を介して波形整形回路９に供給
されて波形整形されたのち位相差検出回路10に供給され
ている。
以上の構成において、バッファアンプ２及び３の出力
ｇ及びｈとして第２図（Ａ）及び同図（Ｂ）に示す如き
信号が出力されると、リミッタ21及び22によって瞬時レ
ベルがV1以上の部分及びV2以下の部分をクリップされて
同図（Ｃ）及び同図（Ｄ）の各々に示す如く矩形波に近
い信号がリミッタ21及び22の出力ｉ及びｊとして得られ
る。このリミッタ21及び22の出力ｉ及びｊが加算器４に
よって加算合成されると、第２図（Ｅ）に示す如き加算
出力ｋが得られる。この加算出力ｋは、出力ｉ及びｊが
矩形波に近い信号となるので、高次高調波を含む信号と
なる。この加算出力ｋの高次成分はLPF25によって除去
され、LPF25の出力ｍは同図（Ｆ）に示す如くゼロクロ
ス点が明確な波形を有する信号となって波形整形回路８
に供給される。波形整形回路８から同図（Ｃ）に示す如
く矩形波からなる波形整形出力ｐが出力されて位相差検
出回路10に供給される。また、それと同時に、この波形
整形出力ｐと同様にして矩形波からなる波形整形出力ｒ
が波形整形回路９から出力されて位相差検出回路10に供
給される。
ｇ及びｈとして第２図（Ａ）及び同図（Ｂ）に示す如き
信号が出力されると、リミッタ21及び22によって瞬時レ
ベルがV1以上の部分及びV2以下の部分をクリップされて
同図（Ｃ）及び同図（Ｄ）の各々に示す如く矩形波に近
い信号がリミッタ21及び22の出力ｉ及びｊとして得られ
る。このリミッタ21及び22の出力ｉ及びｊが加算器４に
よって加算合成されると、第２図（Ｅ）に示す如き加算
出力ｋが得られる。この加算出力ｋは、出力ｉ及びｊが
矩形波に近い信号となるので、高次高調波を含む信号と
なる。この加算出力ｋの高次成分はLPF25によって除去
され、LPF25の出力ｍは同図（Ｆ）に示す如くゼロクロ
ス点が明確な波形を有する信号となって波形整形回路８
に供給される。波形整形回路８から同図（Ｃ）に示す如
く矩形波からなる波形整形出力ｐが出力されて位相差検
出回路10に供給される。また、それと同時に、この波形
整形出力ｐと同様にして矩形波からなる波形整形出力ｒ
が波形整形回路９から出力されて位相差検出回路10に供
給される。
これら波形整形出力ｐ及びｒ間の位相差は、情報検出
用光スポットが記録トラックに追従して移動している場
合は第４図の装置と同様に“0"となる。そうすると、位
相差検出回路10におけるＤ形フリップフロップ11〜14は
リセット状態のままとなってＱ出力q1〜q4が低レベルの
ままとなる。この結果、差動増幅器18の逆相入力ｘと正
相入力ｙ間のレベル差は生じず、差動増幅器18の出力は
接地レベルとなってLPF20から出力されるトラッキング
エラー信号ｅのレベルが接地レベルに等しくなる。
用光スポットが記録トラックに追従して移動している場
合は第４図の装置と同様に“0"となる。そうすると、位
相差検出回路10におけるＤ形フリップフロップ11〜14は
リセット状態のままとなってＱ出力q1〜q4が低レベルの
ままとなる。この結果、差動増幅器18の逆相入力ｘと正
相入力ｙ間のレベル差は生じず、差動増幅器18の出力は
接地レベルとなってLPF20から出力されるトラッキング
エラー信号ｅのレベルが接地レベルに等しくなる。
次に、情報検出用光スポットが内周方向に変位して、
４分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポット
内の光の強度分布のパターンが例えばエレメント1dから
1aに向かう方向（図において左方）に変位した場合は、
第４図の装置と同様に波形整形出力ｐ及び反転出力p-の
位相が波形整形出力ｒ及び反転出力r-の位相より情報検
出用光スポットの変位量に応じた角度だけ進む。そうす
ると、位相差検出回路10におけるＤ型フリップフロップ
11及び12が当該角度に対応する時間だけセット状態とな
り、かつＤ型フリップフロップ13及び14はリセット状態
のままとなる。この結果、差動増幅器18の逆相入力ｘ及
び正相入力ｙのうちの逆相入力ｘだけ情報検出用光スポ
ットの変位量に応じた時間に亘って高レベルとなり、差
動増幅器18から情報検出用光スポットの変位量に応じた
パルス幅を有する負極性のパルスが出力されてトラッキ
ングエラー信号ｅのレベルが負になりかつその絶対値が
情報検出用光スポットの変位量に応じた値となる。
４分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポット
内の光の強度分布のパターンが例えばエレメント1dから
1aに向かう方向（図において左方）に変位した場合は、
第４図の装置と同様に波形整形出力ｐ及び反転出力p-の
位相が波形整形出力ｒ及び反転出力r-の位相より情報検
出用光スポットの変位量に応じた角度だけ進む。そうす
ると、位相差検出回路10におけるＤ型フリップフロップ
11及び12が当該角度に対応する時間だけセット状態とな
り、かつＤ型フリップフロップ13及び14はリセット状態
のままとなる。この結果、差動増幅器18の逆相入力ｘ及
び正相入力ｙのうちの逆相入力ｘだけ情報検出用光スポ
ットの変位量に応じた時間に亘って高レベルとなり、差
動増幅器18から情報検出用光スポットの変位量に応じた
パルス幅を有する負極性のパルスが出力されてトラッキ
ングエラー信号ｅのレベルが負になりかつその絶対値が
情報検出用光スポットの変位量に応じた値となる。
次に、情報検出用光スポットが外周方向に変位して、
４分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポット
内の光の強度分布のパターンが例えばエレメント1aから
1dに向かう方向（図において右方）に変位した場合は、
第４図の装置と同様に波形整形出力ｐ及び反転出力p-の
位相が波形整形出力ｒ及び反転出力r-の位相より情報検
出用光スポットの変位量に応じた角度だけ遅れる。そう
すると、位相差検出回路10におけるＤ型フリップフロッ
プ13及び14が当該角度に対応する時間だけセット状態と
なり、かつＤ型フリップフロップ11及び12はリセット状
態のままとなる。この結果、差動増幅器18の逆相入力ｘ
及び正相入力ｙのうちの正相入力ｙだけ情報検出用光ス
ポットの変位量に応じた時間に亘って高レベルとなり、
差動増幅器18から情報検出用光スポットの変位量に応じ
たパルス幅を有する正極性のパルスが出力されてトラッ
キングエラー信号ｅのレベルが正になりかつその絶対値
が情報検出用光スポットの変位量に応じた値となる。
４分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポット
内の光の強度分布のパターンが例えばエレメント1aから
1dに向かう方向（図において右方）に変位した場合は、
第４図の装置と同様に波形整形出力ｐ及び反転出力p-の
位相が波形整形出力ｒ及び反転出力r-の位相より情報検
出用光スポットの変位量に応じた角度だけ遅れる。そう
すると、位相差検出回路10におけるＤ型フリップフロッ
プ13及び14が当該角度に対応する時間だけセット状態と
なり、かつＤ型フリップフロップ11及び12はリセット状
態のままとなる。この結果、差動増幅器18の逆相入力ｘ
及び正相入力ｙのうちの正相入力ｙだけ情報検出用光ス
ポットの変位量に応じた時間に亘って高レベルとなり、
差動増幅器18から情報検出用光スポットの変位量に応じ
たパルス幅を有する正極性のパルスが出力されてトラッ
キングエラー信号ｅのレベルが正になりかつその絶対値
が情報検出用光スポットの変位量に応じた値となる。
以上の動作において、４分割型受光素子１の受光面に
形成される光スポットの位置が変位してエレメント1a乃
至1dの各出力の振幅がアンバランスになっても、エレメ
ント1a乃至1dの各出力の振幅がリミッタ21乃至24の振幅
制限作用が働く大きさになっていれば、リミッタ21乃至
24の出力の振幅は変化せず一定になる。また、直線βに
関して対称な位置に配置されている２つのエレメント1a
及び1b、1c及び1dの出力に対応する２つのリミッタ21及
び23、22及び24の出力間の位相差は、受光面上に形成さ
れる光スポットの位置によっては変化しないので、加算
回路４及び７の出力間に位相差は生じず、トラッキング
エラー信号ｅにオフセットが生じることが防止される。
形成される光スポットの位置が変位してエレメント1a乃
至1dの各出力の振幅がアンバランスになっても、エレメ
ント1a乃至1dの各出力の振幅がリミッタ21乃至24の振幅
制限作用が働く大きさになっていれば、リミッタ21乃至
24の出力の振幅は変化せず一定になる。また、直線βに
関して対称な位置に配置されている２つのエレメント1a
及び1b、1c及び1dの出力に対応する２つのリミッタ21及
び23、22及び24の出力間の位相差は、受光面上に形成さ
れる光スポットの位置によっては変化しないので、加算
回路４及び７の出力間に位相差は生じず、トラッキング
エラー信号ｅにオフセットが生じることが防止される。
第３図は、本発明の他の実施例を示すブロック図であ
り、４分割型受光素子１、バッファアンプ2,3,5,6、加
算回路４、7,LPF25,26,波形整形回路8,9及び位相差検出
回路10は、第１図の装置と同様に接続されている。しか
しながら、本例においては、バッファアンプ2,3,5,6の
各出力は、波形処理手段としてのコンパレータ27,28,2
9,30に供給されている。コンパレータ27〜30は、バッフ
ァアンプ2,3,5,6の各出力の瞬時レベルと基準電圧Vrと
を比較してバッファアンプ2,3,5,6の各出力の瞬時レベ
ルが基準電圧Vr以上になったとき高レベル信号を出力す
るように構成されている。これらコンパレータ27及び28
の各出力が加算回路４に供給されている。また、コンパ
レータ29及び30の各出力が加算回路７に供給されてい
る。
り、４分割型受光素子１、バッファアンプ2,3,5,6、加
算回路４、7,LPF25,26,波形整形回路8,9及び位相差検出
回路10は、第１図の装置と同様に接続されている。しか
しながら、本例においては、バッファアンプ2,3,5,6の
各出力は、波形処理手段としてのコンパレータ27,28,2
9,30に供給されている。コンパレータ27〜30は、バッフ
ァアンプ2,3,5,6の各出力の瞬時レベルと基準電圧Vrと
を比較してバッファアンプ2,3,5,6の各出力の瞬時レベ
ルが基準電圧Vr以上になったとき高レベル信号を出力す
るように構成されている。これらコンパレータ27及び28
の各出力が加算回路４に供給されている。また、コンパ
レータ29及び30の各出力が加算回路７に供給されてい
る。
以上の構成においても、４分割型受光素子１の受光面
に形成される光スポットの位置が変位してエレメント1a
乃至1dの各出力の振幅がアンバランスになっても、コン
パレータ27乃至30の入力の瞬時レベルが基準電圧Vrを越
える程度にエレメント1a乃至1dの各出力の振幅が大にな
っていれば、コンパレータ27乃至30の出力の振幅が一定
となってトラッキングエラー信号ｅにオフセットが生じ
ることが防止されるのである。
に形成される光スポットの位置が変位してエレメント1a
乃至1dの各出力の振幅がアンバランスになっても、コン
パレータ27乃至30の入力の瞬時レベルが基準電圧Vrを越
える程度にエレメント1a乃至1dの各出力の振幅が大にな
っていれば、コンパレータ27乃至30の出力の振幅が一定
となってトラッキングエラー信号ｅにオフセットが生じ
ることが防止されるのである。
発明の効果 以上詳述した如く本発明によるトラッキングエラー信
号生成装置は、４分割型受光素子の４つのエレメントの
出力信号の振幅を一定にする波形処理を行なったのち４
つのエレメントに分割する２本の直線の交点に関して対
称な２対のエレメントの出力の各々に対応する当該波形
処理出力をそれぞれ加算して得た２信号間の位相差に応
じた信号をトラッキングエラー信号として生成する構成
となっているので、４分割型受光素子の受光面に形成さ
れる光スポットの位置が変位しても４つのエレメントの
出力の振幅が一定となり、４つのエレメントに分割する
２本の直線の交点に関して対称な２対のエレメントの出
力の各々に対応する当該波形処理出力をそれぞれ加算し
て得た２信号間の位相差が変化せず、トラッキングエラ
ー信号にオフセットが生じるのを防止することができる
こととなる。
号生成装置は、４分割型受光素子の４つのエレメントの
出力信号の振幅を一定にする波形処理を行なったのち４
つのエレメントに分割する２本の直線の交点に関して対
称な２対のエレメントの出力の各々に対応する当該波形
処理出力をそれぞれ加算して得た２信号間の位相差に応
じた信号をトラッキングエラー信号として生成する構成
となっているので、４分割型受光素子の受光面に形成さ
れる光スポットの位置が変位しても４つのエレメントの
出力の振幅が一定となり、４つのエレメントに分割する
２本の直線の交点に関して対称な２対のエレメントの出
力の各々に対応する当該波形処理出力をそれぞれ加算し
て得た２信号間の位相差が変化せず、トラッキングエラ
ー信号にオフセットが生じるのを防止することができる
こととなる。
第１図は、本発明の一実施例を示すブロック図、第２図
は、第１図の各部の動作を示す波形図、第３図は、本発
明の他の実施例を示すブロック図、第４図は、従来のト
ラッキングエラー信号生成装置を示すブロック図、第５
図は、第４図の装置の各部の動作を示す波形図、第６図
は、第４図の各部の動作を示す波形図、第７図は、４分
割型受光素子１の受光面上に形成される光スポットの位
置を示す図、第８図は、４分割型受光素子１の受光面上
に形成される光スポットの位置が移動したときのエレメ
ント1a〜1dの出力を示す波形図、第９図は、４分割型受
光素子１の受光面上に形成される光スポットの位置とト
ラッキングエラー信号の波形との関係を示す図である。 主要部分の符号の説明 １……４分割型受光素子 4,7……加算回路 10……位相差検出回路 21,22,23,24……リミッタ 27,28,29,30……コンパレータ
は、第１図の各部の動作を示す波形図、第３図は、本発
明の他の実施例を示すブロック図、第４図は、従来のト
ラッキングエラー信号生成装置を示すブロック図、第５
図は、第４図の装置の各部の動作を示す波形図、第６図
は、第４図の各部の動作を示す波形図、第７図は、４分
割型受光素子１の受光面上に形成される光スポットの位
置を示す図、第８図は、４分割型受光素子１の受光面上
に形成される光スポットの位置が移動したときのエレメ
ント1a〜1dの出力を示す波形図、第９図は、４分割型受
光素子１の受光面上に形成される光スポットの位置とト
ラッキングエラー信号の波形との関係を示す図である。 主要部分の符号の説明 １……４分割型受光素子 4,7……加算回路 10……位相差検出回路 21,22,23,24……リミッタ 27,28,29,30……コンパレータ
Claims (3)
- 【請求項１】記録媒体の記録面上に光ビームを照射して
情報読取用又は情報書込用の光スポットを形成する光学
系によって前記記録媒体から得られる反射ビームの強度
分布中心近傍において互いに所定の交点で交わる２本の
直線によって４つの受光域に分割されている受光素子を
含み、位相差方式によりトラッキングエラーを検出する
トラッキングエラー信号生成装置であって、 前記４つの受光域による各光検出信号の振幅をそれぞれ
一定にする波形処理手段と、前記４つの受光域のうちの
前記交点に関して対称な位置に配置されている一方の受
光域対による各光検出信号に対応する前記波形処理手段
の出力を加算する第１の加算手段と、前記４つの受光域
のうちの前記交点に関して対称な位置に配置されている
他方の受光域対による各光検出信号に対応する前記波形
処理手段の出力を加算する第２の加算手段と、前記第１
及び第２の加算手段の各加算出力間の位相差に応じた信
号をトラッキングエラー信号として生成する位相差検出
手段とを備えたことを特徴とするトラッキングエラー信
号生成装置。 - 【請求項２】前記波形処理手段は、前記受光域毎に前記
光検出信号の振幅を制限するリミッタからなることを特
徴とする特許請求の範囲第１項記載のトラッキングエラ
ー信号生成装置。 - 【請求項３】前記波形処理手段は、前記受光域毎に前記
光検出信号の瞬時レベルが基準レベルを越えたときに所
定レベルの信号を出力する比較回路からなることを特徴
とする特許請求の範囲第１項記載のトラッキングエラー
信号生成装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61296227A JPH0834007B2 (ja) | 1986-12-11 | 1986-12-11 | トラツキングエラ−信号生成装置 |
| US07/132,090 US5258968A (en) | 1986-12-11 | 1987-12-11 | Tracking error signal generating device for preventing offset of the generated tracking error signal |
| NL8703001A NL8703001A (nl) | 1986-12-11 | 1987-12-11 | Een volgfoutsignaalgenerator. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61296227A JPH0834007B2 (ja) | 1986-12-11 | 1986-12-11 | トラツキングエラ−信号生成装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63148433A JPS63148433A (ja) | 1988-06-21 |
| JPH0834007B2 true JPH0834007B2 (ja) | 1996-03-29 |
Family
ID=17830824
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61296227A Expired - Fee Related JPH0834007B2 (ja) | 1986-12-11 | 1986-12-11 | トラツキングエラ−信号生成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0834007B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4884533B2 (ja) * | 2007-08-22 | 2012-02-29 | パイオニア株式会社 | トラッキング信号生成装置及び方法、再生装置及び方法、並びにコンピュータプログラム |
| JP4577435B2 (ja) | 2008-09-30 | 2010-11-10 | ソニー株式会社 | トラッキングエラー信号検出装置および光ディスク装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57181433A (en) * | 1981-04-22 | 1982-11-08 | Olympus Optical Co Ltd | Tracking system for optical disc reproducer |
| JPS5938935A (ja) * | 1982-08-27 | 1984-03-03 | Hitachi Ltd | 光デイスク装置 |
| JPS59152541A (ja) * | 1983-02-21 | 1984-08-31 | Toshiba Corp | 光学式デイスクレコ−ド再生装置 |
-
1986
- 1986-12-11 JP JP61296227A patent/JPH0834007B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63148433A (ja) | 1988-06-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |