JPH0711867B2 - トラツキングエラ−信号生成装置 - Google Patents
トラツキングエラ−信号生成装置Info
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- JPH0711867B2 JPH0711867B2 JP30050286A JP30050286A JPH0711867B2 JP H0711867 B2 JPH0711867 B2 JP H0711867B2 JP 30050286 A JP30050286 A JP 30050286A JP 30050286 A JP30050286 A JP 30050286A JP H0711867 B2 JPH0711867 B2 JP H0711867B2
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- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 34
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0901—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for track following only
- G11B7/0906—Differential phase difference systems
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Description
【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明はトラッキングエラー信号生成装置に関し、特に
光学式記録媒体への情報の記録又は再生を行なう装置に
おけるトラッキングエラー信号生成装置に関する。
光学式記録媒体への情報の記録又は再生を行なう装置に
おけるトラッキングエラー信号生成装置に関する。
背景技術 光学式記録ディスクへの情報の記録又は再生を行なう装
置においては、ピックアップの情報検出用光スポットと
記録トラックとの当該記録トラック直交（ディスク半
径）方向の離間状態を示すいわゆるトラッキングエラー
信号を生成する装置が設けられており、その例を第５図
に示す。
置においては、ピックアップの情報検出用光スポットと
記録トラックとの当該記録トラック直交（ディスク半
径）方向の離間状態を示すいわゆるトラッキングエラー
信号を生成する装置が設けられており、その例を第５図
に示す。
第５図において、１は４分割型受光素子であり、ピック
アップの情報検出用スポット光の記録面を経た光がこの
４分割型受光素子１の受光面上に照射される。４分割型
受光素子１は、互いに直交する２本の直線α、βによっ
て分割された４つの受光域を形成する如く互いに隣接配
置された４つのエレメント1a〜1dからなっている。直線
α、βの交点に関して対称に配置されているエレメント
1a及び1cの各出力は、それぞれバッファアンプ２及び３
を介して加算器４に供給されている。また、エレメント
1b及び1dの各出力は、それぞれバッファアンプ５及び６
を介して加算器７に供給されている。
アップの情報検出用スポット光の記録面を経た光がこの
４分割型受光素子１の受光面上に照射される。４分割型
受光素子１は、互いに直交する２本の直線α、βによっ
て分割された４つの受光域を形成する如く互いに隣接配
置された４つのエレメント1a〜1dからなっている。直線
α、βの交点に関して対称に配置されているエレメント
1a及び1cの各出力は、それぞれバッファアンプ２及び３
を介して加算器４に供給されている。また、エレメント
1b及び1dの各出力は、それぞれバッファアンプ５及び６
を介して加算器７に供給されている。
加算器４及び７の加算出力は、コンパレータ等からなる
波形整形回路８及び９によって波形整形されたのち位相
差検出回路10に供給される。位相差検出回路10におい
て、波形成形回路８の出力ｐは、Ｄ形フリップフロップ
12のクロック入力端子及びＤ形フリップフロップ14のリ
セット入力端子に供給されている。また、それと同時に
波形整形回路８の出力ｐは、インバータ15に供給されて
いる。このインバータ15から出力ｐの反転信号ｐ−が出
力されてＤ形フリップフロップ11のクロック入力端子及
びＤ形フリップフロップ13のリセット入力端子に供給さ
れている。
波形整形回路８及び９によって波形整形されたのち位相
差検出回路10に供給される。位相差検出回路10におい
て、波形成形回路８の出力ｐは、Ｄ形フリップフロップ
12のクロック入力端子及びＤ形フリップフロップ14のリ
セット入力端子に供給されている。また、それと同時に
波形整形回路８の出力ｐは、インバータ15に供給されて
いる。このインバータ15から出力ｐの反転信号ｐ−が出
力されてＤ形フリップフロップ11のクロック入力端子及
びＤ形フリップフロップ13のリセット入力端子に供給さ
れている。
波形整形回路９の出力ｒは、Ｄ形フリップフロップ11の
リセット入力端子及びＤ形フリップフロップ13のリセッ
ト入力端子に供給されている。また、それと同時に波形
整形回路９の出力ｒは、インバータ16に供給されてい
る。このインバータ16から出力ｒの反転信号ｒ−が出力
されてＤ形フリップフロップ12のリセット入力端子及び
Ｄ形フリップフロップ14のクロック入力端子に供給され
ている。
リセット入力端子及びＤ形フリップフロップ13のリセッ
ト入力端子に供給されている。また、それと同時に波形
整形回路９の出力ｒは、インバータ16に供給されてい
る。このインバータ16から出力ｒの反転信号ｒ−が出力
されてＤ形フリップフロップ12のリセット入力端子及び
Ｄ形フリップフロップ14のクロック入力端子に供給され
ている。
Ｄ形フリップフロップ11〜14のＤ入力端子及びセット入
力端子には電源電圧が印加されている。Ｄ形フリップフ
ロップ11及び12のＱ出力q1及びq2は、OR（論理和）ゲー
ト17を介して差動増幅器18の負側入力端子に供給されて
いる。また、Ｄ形フリップフロップ13及び14のＱ出力q3
及びq4は、ORゲート19を介して差動増幅器18の正側入力
端子に供給されている。この差動増幅器18の出力がLPF
（ローパスフィルタ）20を介してトラッキングエラー信
号ｅとして出力される。
力端子には電源電圧が印加されている。Ｄ形フリップフ
ロップ11及び12のＱ出力q1及びq2は、OR（論理和）ゲー
ト17を介して差動増幅器18の負側入力端子に供給されて
いる。また、Ｄ形フリップフロップ13及び14のＱ出力q3
及びq4は、ORゲート19を介して差動増幅器18の正側入力
端子に供給されている。この差動増幅器18の出力がLPF
（ローパスフィルタ）20を介してトラッキングエラー信
号ｅとして出力される。
以上の構成において、４分割型受光素子１は、記録面か
らの光によって受光面に形成される光スポットの中心が
直線α及びβの交点に一致し、かつ直線αが情報検出用
光スポットの記録トラックに追従した移動に伴なって記
録面からの光の強度分布のパターンが移動する方向と平
行になるように配置されているものとする。このとき、
情報検出用光スポットが記録トラックに追従して移動し
ている場合は、受光素子１の受光面上に形成される光ス
ポット内の光の強度分布のパターンが例えばエレメント
1bから1aに向かう方向（図において上方）に移動する
が、この光の強度分布のパターンは直線αに関して対称
となる。そうすると、波形整形出力ｐとｒ間の位相差は
“0"となり、Ｄ型フリップフロップ11〜14はリセット状
態のままとなってＱ出力q1〜q4が低レベルのままとな
る。この結果、差動増幅器18の逆相入力ｘと正相入力ｙ
間のレベル差は生じず、差動増幅器18の出力は接地レベ
ルとなってLPF20から出力されるトラッキングエラー信
号ｅのレベルが接地レベルに等しくなる。
らの光によって受光面に形成される光スポットの中心が
直線α及びβの交点に一致し、かつ直線αが情報検出用
光スポットの記録トラックに追従した移動に伴なって記
録面からの光の強度分布のパターンが移動する方向と平
行になるように配置されているものとする。このとき、
情報検出用光スポットが記録トラックに追従して移動し
ている場合は、受光素子１の受光面上に形成される光ス
ポット内の光の強度分布のパターンが例えばエレメント
1bから1aに向かう方向（図において上方）に移動する
が、この光の強度分布のパターンは直線αに関して対称
となる。そうすると、波形整形出力ｐとｒ間の位相差は
“0"となり、Ｄ型フリップフロップ11〜14はリセット状
態のままとなってＱ出力q1〜q4が低レベルのままとな
る。この結果、差動増幅器18の逆相入力ｘと正相入力ｙ
間のレベル差は生じず、差動増幅器18の出力は接地レベ
ルとなってLPF20から出力されるトラッキングエラー信
号ｅのレベルが接地レベルに等しくなる。
次に、情報検出用光スポットが内周方向に変位して、４
分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポット内
の光の強度分布のパターンが例えばエレメント1aから1d
に向かう方向（図において右方）に変位した場合につい
て第６図を参照して説明する。第６図（Ａ）は、波形整
形出力ｐの波形図、同図（Ｂ）は、反転出力ｐ−の波形
図、同図（Ｃ）は、波形整形出力ｒの波形図、同図
（Ｄ）は、反転出力ｒ−の波形図、同図（Ｅ）は、Ｑ出
力q1の波形図、同図（Ｆ）はＱ出力q2の波形図、同図
（Ｇ）は、Ｑ出力q3の波形図、同図（Ｈ）、Ｑ出力q4の
波形図、同図（Ｉ）は、差動増幅器18の逆相入力ｘの波
形図、同図（Ｊ）は、差動増幅器18の正相入力ｙの波形
図である。
分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポット内
の光の強度分布のパターンが例えばエレメント1aから1d
に向かう方向（図において右方）に変位した場合につい
て第６図を参照して説明する。第６図（Ａ）は、波形整
形出力ｐの波形図、同図（Ｂ）は、反転出力ｐ−の波形
図、同図（Ｃ）は、波形整形出力ｒの波形図、同図
（Ｄ）は、反転出力ｒ−の波形図、同図（Ｅ）は、Ｑ出
力q1の波形図、同図（Ｆ）はＱ出力q2の波形図、同図
（Ｇ）は、Ｑ出力q3の波形図、同図（Ｈ）、Ｑ出力q4の
波形図、同図（Ｉ）は、差動増幅器18の逆相入力ｘの波
形図、同図（Ｊ）は、差動増幅器18の正相入力ｙの波形
図である。
光の強度分布のパターンがエレメント1aから1dに向かう
方向に変位したときは、波形整形出力ｐ及び反転出力ｐ
−の位相が波形整形出力ｒ及び反転出力ｒ−の位相より
情報検出用光スポットの変位量に応じた角度だけ進む。
そうすると、Ｄ型フリップフロップ11及び12が当該角度
に対応する時間だけセット状態となってＱ出力q1及びq2
が当該角度に対応する時間だけ高レベルとなる。また、
Ｄ型フリップフロップ13及び14は、リセット状態のまま
となり、Ｑ出力q3及びq4は低レベルのままとなる。この
結果、差動増幅器18の逆相入力ｘ及び正相入力ｙのうち
の逆相入力ｘだけ情報検出用光スポットの変位量に応じ
た時間に亘って高レベルとなる。このため、差動増幅器
18から情報検出用光スポットの変位量に応じたパルス幅
を有する負極性のパルスが出力されてLPF20から出力さ
れるトラッキングエラー信号ｅのレベルが負になりかつ
その絶対値が情報検出用光スポットの変位量に応じた値
となる。
方向に変位したときは、波形整形出力ｐ及び反転出力ｐ
−の位相が波形整形出力ｒ及び反転出力ｒ−の位相より
情報検出用光スポットの変位量に応じた角度だけ進む。
そうすると、Ｄ型フリップフロップ11及び12が当該角度
に対応する時間だけセット状態となってＱ出力q1及びq2
が当該角度に対応する時間だけ高レベルとなる。また、
Ｄ型フリップフロップ13及び14は、リセット状態のまま
となり、Ｑ出力q3及びq4は低レベルのままとなる。この
結果、差動増幅器18の逆相入力ｘ及び正相入力ｙのうち
の逆相入力ｘだけ情報検出用光スポットの変位量に応じ
た時間に亘って高レベルとなる。このため、差動増幅器
18から情報検出用光スポットの変位量に応じたパルス幅
を有する負極性のパルスが出力されてLPF20から出力さ
れるトラッキングエラー信号ｅのレベルが負になりかつ
その絶対値が情報検出用光スポットの変位量に応じた値
となる。
次に、情報検出用光スポットが外周方向に変位して、４
分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポット内
の光の強度分布のパターンが例えばエレメント1dから1a
に向かう方向（図において左方）に変位した場合につい
て第７図を参照して説明する。第７図（Ａ）乃至同図
（Ｊ）は、それぞれ第６図（Ａ）乃至同図（Ｊ）に示さ
れている信号と同一の信号の波形を示している。
分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポット内
の光の強度分布のパターンが例えばエレメント1dから1a
に向かう方向（図において左方）に変位した場合につい
て第７図を参照して説明する。第７図（Ａ）乃至同図
（Ｊ）は、それぞれ第６図（Ａ）乃至同図（Ｊ）に示さ
れている信号と同一の信号の波形を示している。
光の強度分布のパターンがエレメント1dから1aに向かう
方向に変位したときは、波形整形出力ｐ及び反転出力ｐ
−の位相が波形整形出力ｒ及び反転出力ｒ−の位相より
情報検出用光スポットの変位量に応じた角度だけ遅れ
る。そうすると、Ｄ型フリップフロップ13及び14が当該
角度に対応する時間だけセット状態となってＱ出力q3及
びq4が当該角度に対応する時間だけ高レベルとなる。ま
た、Ｄ型フリップフロップ11及び12は、リセット状態の
ままとなり、Ｑ出力q1及びq2は低レベルのままとなる。
この結果、差動増幅器18の逆相入力ｘ及び正相入力ｙの
うちの逆相入力ｘだけ情報検出用光スポットの変位量に
応じた時間に亘って高レベルとなる。このため、差動増
幅器18から情報検出用光スポットの変位量に応じたパル
ス幅を有する正極性のパルスが出力されてLPF20から出
力されるトラッキングエラー信号ｅのレベルが正になり
かつその絶対値が情報検出用光スポットの変位量に応じ
た値となる。
方向に変位したときは、波形整形出力ｐ及び反転出力ｐ
−の位相が波形整形出力ｒ及び反転出力ｒ−の位相より
情報検出用光スポットの変位量に応じた角度だけ遅れ
る。そうすると、Ｄ型フリップフロップ13及び14が当該
角度に対応する時間だけセット状態となってＱ出力q3及
びq4が当該角度に対応する時間だけ高レベルとなる。ま
た、Ｄ型フリップフロップ11及び12は、リセット状態の
ままとなり、Ｑ出力q1及びq2は低レベルのままとなる。
この結果、差動増幅器18の逆相入力ｘ及び正相入力ｙの
うちの逆相入力ｘだけ情報検出用光スポットの変位量に
応じた時間に亘って高レベルとなる。このため、差動増
幅器18から情報検出用光スポットの変位量に応じたパル
ス幅を有する正極性のパルスが出力されてLPF20から出
力されるトラッキングエラー信号ｅのレベルが正になり
かつその絶対値が情報検出用光スポットの変位量に応じ
た値となる。
以上の如き従来のトラッキングエラー信号生成装置にお
いては、トラッキング制御を行なうために４分割型受光
素子１が格納されているピックアップ装置における対物
レンズのみを変位させる場合は４分割型受光素子１の受
光面に形成される光スポットの位置が第８図に実線ｕで
示す位置から破線ｖ又はｗで示すように移動する。そう
すると、記録媒体の記録面上の情報検出用光スポットの
位置の記録トラックからのずれによって４分割型受光素
子１の受光面に形成される光スポット内の光の強度分布
のパターンが直線αに関して非対称になる場合と同様に
エレメント1a乃至1dへの入射光量がアンバランスにな
る。このため、例えば４分割型受光素子１の受光面に形
成される光スポットの位置が第８図に破線ｖで示す位置
に存在するとき、エレメント1a乃至1dの各出力は、それ
ぞれ第９図（Ａ）乃至同図（Ｄ）の各々に示す如くなっ
てエレメント1a乃至1dの各出力の振幅がアンバランスに
なる。この結果、加算回路４及び７から出力される対角
和成分間の位相差が情報検出用光スポットと記録トラッ
クとの離間距離に正確に対応しなくなり、トラッキング
エラー信号にオフセットが発生するという欠点があっ
た。
いては、トラッキング制御を行なうために４分割型受光
素子１が格納されているピックアップ装置における対物
レンズのみを変位させる場合は４分割型受光素子１の受
光面に形成される光スポットの位置が第８図に実線ｕで
示す位置から破線ｖ又はｗで示すように移動する。そう
すると、記録媒体の記録面上の情報検出用光スポットの
位置の記録トラックからのずれによって４分割型受光素
子１の受光面に形成される光スポット内の光の強度分布
のパターンが直線αに関して非対称になる場合と同様に
エレメント1a乃至1dへの入射光量がアンバランスにな
る。このため、例えば４分割型受光素子１の受光面に形
成される光スポットの位置が第８図に破線ｖで示す位置
に存在するとき、エレメント1a乃至1dの各出力は、それ
ぞれ第９図（Ａ）乃至同図（Ｄ）の各々に示す如くなっ
てエレメント1a乃至1dの各出力の振幅がアンバランスに
なる。この結果、加算回路４及び７から出力される対角
和成分間の位相差が情報検出用光スポットと記録トラッ
クとの離間距離に正確に対応しなくなり、トラッキング
エラー信号にオフセットが発生するという欠点があっ
た。
このオフセットの発生によって、情報検出点のトラック
飛越し移動動作が行なわれてエレメント1a乃至1dの出力
の総和が第10図（Ａ）に示す如く変化したとき４分割型
受光素子１の受光面に形成される光スポットの位置が第
８図に実線ｕで示す位置に存在するときは、第10図
（Ｂ）に実線ｕ′で示すごときトラッキングエラー信号
が出力されるのに対し、４分割型受光素子１の受光面に
形成される光スポットの位置が第８図に破線ｖ及びｗで
示す位置に移動したときは、第10図（Ｂ）に破線ｖ′及
びｗ′で示す如くトラッキングエラー信号のレベルが変
化するのである。
飛越し移動動作が行なわれてエレメント1a乃至1dの出力
の総和が第10図（Ａ）に示す如く変化したとき４分割型
受光素子１の受光面に形成される光スポットの位置が第
８図に実線ｕで示す位置に存在するときは、第10図
（Ｂ）に実線ｕ′で示すごときトラッキングエラー信号
が出力されるのに対し、４分割型受光素子１の受光面に
形成される光スポットの位置が第８図に破線ｖ及びｗで
示す位置に移動したときは、第10図（Ｂ）に破線ｖ′及
びｗ′で示す如くトラッキングエラー信号のレベルが変
化するのである。
発明の概要 本発明の目的は、オフセットのないトラッキングエラー
信号を生成することができるトラッキングエラー信号生
成装置を提供することである。
信号を生成することができるトラッキングエラー信号生
成装置を提供することである。
本発明によるトラッキングエラー信号生成装置は、４分
割型受光素子を４つのエレメントに分割する２本の直線
の交点に関して対称な２対のエレメントの出力の排他的
論理和をとって得られる２つの信号間の位相差に応じた
信号をトラッキングエラー信号として生成する構成とな
っている。
割型受光素子を４つのエレメントに分割する２本の直線
の交点に関して対称な２対のエレメントの出力の排他的
論理和をとって得られる２つの信号間の位相差に応じた
信号をトラッキングエラー信号として生成する構成とな
っている。
実 施 例 以下、本発明の実施例につき第１図乃至第４図を参照し
て詳細に説明する。
て詳細に説明する。
第１図において、４分割型受光素子1,バッファアンプ2,
3,5,6は、第５図の装置と同様に接続されている。しか
しながら、本例においては，バッファアンプ2,3,5,6の
各出力は、波形整形回路21,22,23,24の各々によって波
形整形される。波形整形回路21乃至24は、例えばバッフ
ァアンプ2,3,5,6の各出力の瞬時レベルと基準レベルと
を比較して比較結果に応じた信号を発生するコンパレー
タからなっている。波形整形回路21及び22の出力ｇ及び
ｈは、排他的論理和回路25に供給されている。また、波
形整形回路23及び24の出力ｉ及びｊは、排他的論理和回
路26に供給されている。これら排他的論理和回路25及び
26の出力ｓ及びｔは、位相差検出回路27に供給されてい
る。位相差検出回路27において、排他的論理和回路25の
出力ｓは、Ｄ形フリップフロップ28のクロック入力端子
及びインバータ29に供給されている。インバータ29から
出力ｓの反応信号ｓ−が出力されてＤ形フリップフロッ
プ30のリセット入力端子に供給されている。また、排他
的論理和回路26の出力ｔはＤ形フリップフロップ30クロ
ック入力端子及びインバータ31に供給されている。イン
バータ31から出力ｔの反転信号ｔ−が出力されてＤ形フ
リップフロップ28のリセット入力端子に供給されてい
る。
3,5,6は、第５図の装置と同様に接続されている。しか
しながら、本例においては，バッファアンプ2,3,5,6の
各出力は、波形整形回路21,22,23,24の各々によって波
形整形される。波形整形回路21乃至24は、例えばバッフ
ァアンプ2,3,5,6の各出力の瞬時レベルと基準レベルと
を比較して比較結果に応じた信号を発生するコンパレー
タからなっている。波形整形回路21及び22の出力ｇ及び
ｈは、排他的論理和回路25に供給されている。また、波
形整形回路23及び24の出力ｉ及びｊは、排他的論理和回
路26に供給されている。これら排他的論理和回路25及び
26の出力ｓ及びｔは、位相差検出回路27に供給されてい
る。位相差検出回路27において、排他的論理和回路25の
出力ｓは、Ｄ形フリップフロップ28のクロック入力端子
及びインバータ29に供給されている。インバータ29から
出力ｓの反応信号ｓ−が出力されてＤ形フリップフロッ
プ30のリセット入力端子に供給されている。また、排他
的論理和回路26の出力ｔはＤ形フリップフロップ30クロ
ック入力端子及びインバータ31に供給されている。イン
バータ31から出力ｔの反転信号ｔ−が出力されてＤ形フ
リップフロップ28のリセット入力端子に供給されてい
る。
Ｄ形フリップフロップ28及び30のＤ入力端子及びセット
入力端子には電源電圧が印加されている。Ｄ形フリップ
フロップ28のＱ出力q5は、差動増幅器32の正側入力端子
に供給されている。
入力端子には電源電圧が印加されている。Ｄ形フリップ
フロップ28のＱ出力q5は、差動増幅器32の正側入力端子
に供給されている。
また、Ｄ形フリップフロップ30のＱ出力q6は、差動増幅
器32の負側入力端子に供給されている。この差動増幅器
32の出力がLPF33を介してトラッキングエラー信号ｅと
して出力される。
器32の負側入力端子に供給されている。この差動増幅器
32の出力がLPF33を介してトラッキングエラー信号ｅと
して出力される。
以上の構成において、４分割型受光素子１は、記録面か
らの光によって受光面に形成される光スポットの中心が
直接α及びβの交点に一致し、かつ直線αが情報検出用
光スポットの記録トラックに追従した移動に伴なって記
録面からの光の強度分布のパターンが移動する方向と平
行になるように配置されているものとする。このとき、
情報検出用光スポットが記録トラックに追従した移動し
ている場合は、受光素子１の受光面上に形成される光ス
ポット内の光の強度分布のパターンが例えばエレメント
1bから1aに向かう方向（図において上方）に移動する
が、この光の強度分布のパターンは直線αに関して対称
となる。この場合の各部の動作を第２図を参照して説明
する。第２図（Ａ）は、波形整形出力ｇの波形図、同図
（Ｂ）は、波形整形出力ｉの波形図、同図（Ｃ）は、波
形整形出力ｈの波形図、同図（Ｄ）は、波形整形出力ｊ
の波形図、同図（Ｅ）は、排他的論理和回路25の出力ｓ
の波形図、同図（Ｆ）は、反転出力ｓ−の波形図、同図
（Ｇ）は、排他的論理和回路26の出力ｔの波形図、同図
（Ｈ）は、反転出力ｔ−の波形図、同図（Ｉ）は、Ｑ出
力q5の波形図、同図（Ｊ）は、Ｑ出力q6の波形図、同図
（Ｋ）は、差動増幅器32の出力ｋの波形図、同図（Ｌ）
は、トラッキングエラー信号ｅの波形図である。
らの光によって受光面に形成される光スポットの中心が
直接α及びβの交点に一致し、かつ直線αが情報検出用
光スポットの記録トラックに追従した移動に伴なって記
録面からの光の強度分布のパターンが移動する方向と平
行になるように配置されているものとする。このとき、
情報検出用光スポットが記録トラックに追従した移動し
ている場合は、受光素子１の受光面上に形成される光ス
ポット内の光の強度分布のパターンが例えばエレメント
1bから1aに向かう方向（図において上方）に移動する
が、この光の強度分布のパターンは直線αに関して対称
となる。この場合の各部の動作を第２図を参照して説明
する。第２図（Ａ）は、波形整形出力ｇの波形図、同図
（Ｂ）は、波形整形出力ｉの波形図、同図（Ｃ）は、波
形整形出力ｈの波形図、同図（Ｄ）は、波形整形出力ｊ
の波形図、同図（Ｅ）は、排他的論理和回路25の出力ｓ
の波形図、同図（Ｆ）は、反転出力ｓ−の波形図、同図
（Ｇ）は、排他的論理和回路26の出力ｔの波形図、同図
（Ｈ）は、反転出力ｔ−の波形図、同図（Ｉ）は、Ｑ出
力q5の波形図、同図（Ｊ）は、Ｑ出力q6の波形図、同図
（Ｋ）は、差動増幅器32の出力ｋの波形図、同図（Ｌ）
は、トラッキングエラー信号ｅの波形図である。
第２図（Ａ）乃至同図（Ｄ）に示す如く、波形整形出力
g,j間及びh,i間の位相差は“0"となる。そうすると、排
他的論理和回路25,26の出力s,t間の位相差が“0"となっ
てＤ形フリップフロップ28及び30はリセット状態のまま
となる。この結果、Ｑ出力q5及びq6は低レベルのままと
なり、差動増幅器32の出力は接地レベルとなってLPF33
から出力されるトラッキングエラー信号ｅのレベルが接
地レベルに等しくなる。
g,j間及びh,i間の位相差は“0"となる。そうすると、排
他的論理和回路25,26の出力s,t間の位相差が“0"となっ
てＤ形フリップフロップ28及び30はリセット状態のまま
となる。この結果、Ｑ出力q5及びq6は低レベルのままと
なり、差動増幅器32の出力は接地レベルとなってLPF33
から出力されるトラッキングエラー信号ｅのレベルが接
地レベルに等しくなる。
次に、情報検出用光スポットが内周方向に変位して、４
分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポット内
の光の強度分布のパターンが例えばエレメント1dから1a
に向かう方向（図において左方）に変位した場合につい
て第３図を参照して説明する。第３図（Ａ）乃至同図
（Ｌ）は、第２図（Ａ）乃至同図（Ｌ）に示されている
信号と同一の信号の波形を示している。
分割型受光素子１の受光面上に形成される光スポット内
の光の強度分布のパターンが例えばエレメント1dから1a
に向かう方向（図において左方）に変位した場合につい
て第３図を参照して説明する。第３図（Ａ）乃至同図
（Ｌ）は、第２図（Ａ）乃至同図（Ｌ）に示されている
信号と同一の信号の波形を示している。
光の強度分布のパターンがエレメント1dから1aに向かう
方向に変位したときは、波形整形出力ｉ及びｊの各位相
が波形整形出力ｈ及びｇの各位相より情報検出用光スポ
ットの変位量に応じた角度だけ遅れる。そうすると、排
他的論理和回路25の出力ｓの位相が排他的論理和回路26
の出力ｔの位相より情報検出用光スポットの変位量に応
じた角度だけ進み、当該角度に対応する時間に亘ってＤ
形フリップフロップ28がセット状態になってＱ出力q5が
高レベルとなる。また、Ｄ形フリップフロップ30はリセ
ット状態のままとなってＱ出力q6が低レベルのままとな
る。この結果、差動増幅器32から情報検出用光スポット
の変位量に応じたパルス幅を有する正極性のパルスが出
力されてLPF33から出力されるトラッキングエラー信号
ｅのレベルが正になりかつその絶対値が情報検出用光ス
ポットの変位量に応じた値となる。
方向に変位したときは、波形整形出力ｉ及びｊの各位相
が波形整形出力ｈ及びｇの各位相より情報検出用光スポ
ットの変位量に応じた角度だけ遅れる。そうすると、排
他的論理和回路25の出力ｓの位相が排他的論理和回路26
の出力ｔの位相より情報検出用光スポットの変位量に応
じた角度だけ進み、当該角度に対応する時間に亘ってＤ
形フリップフロップ28がセット状態になってＱ出力q5が
高レベルとなる。また、Ｄ形フリップフロップ30はリセ
ット状態のままとなってＱ出力q6が低レベルのままとな
る。この結果、差動増幅器32から情報検出用光スポット
の変位量に応じたパルス幅を有する正極性のパルスが出
力されてLPF33から出力されるトラッキングエラー信号
ｅのレベルが正になりかつその絶対値が情報検出用光ス
ポットの変位量に応じた値となる。
次に、情報検出用光スポットが外周方向に変位して、４
分割型受光素子の受光面上に形成される光スポット内の
光の強度分布のパターンが例えばエレメント1aから1dに
向かう方向（図において右方）に変位した場合について
第４図を参照して説明する。第４図（Ａ）乃至同図
（Ｊ）は、それぞれ第３図（Ａ）乃至同図（Ｊ）に示さ
れている信号と同一の信号の波形を示している。
分割型受光素子の受光面上に形成される光スポット内の
光の強度分布のパターンが例えばエレメント1aから1dに
向かう方向（図において右方）に変位した場合について
第４図を参照して説明する。第４図（Ａ）乃至同図
（Ｊ）は、それぞれ第３図（Ａ）乃至同図（Ｊ）に示さ
れている信号と同一の信号の波形を示している。
光の強度分布のパターンがエレメント1aから1dに向かう
方向に変位したときは、波形整形出力ｉ及びｊの各位相
が波形整形出力ｈ及びｇの各位相より情報検出用光スポ
ットの変位量に応じた角度だけ進む。そうすると、排他
的論理和回路25の出力ｓの位相が排他的論理和回路26の
出力ｔの位相より情報検出用光スポットの変位量に応じ
た角度だけ遅れ、当該角度に対応する時間に亘ってＤ形
フリップフロップ30がセット状態になってＱ出力q6が高
レベルとなる。また、Ｄ形フリップフロップ28はリセッ
ト状態のままとなってＱ出力q5が低レベルのままとな
る。この結果、差動増幅器32から情報検出用光スポット
の変位量に応じたパルス幅を有する負極性のパルスが出
力されてLPF33から出力されるトラッキングエラー信号
ｅのレベルが負になりかつその絶対値が情報検出用光ス
ポットの変位量に応じた値となる。
方向に変位したときは、波形整形出力ｉ及びｊの各位相
が波形整形出力ｈ及びｇの各位相より情報検出用光スポ
ットの変位量に応じた角度だけ進む。そうすると、排他
的論理和回路25の出力ｓの位相が排他的論理和回路26の
出力ｔの位相より情報検出用光スポットの変位量に応じ
た角度だけ遅れ、当該角度に対応する時間に亘ってＤ形
フリップフロップ30がセット状態になってＱ出力q6が高
レベルとなる。また、Ｄ形フリップフロップ28はリセッ
ト状態のままとなってＱ出力q5が低レベルのままとな
る。この結果、差動増幅器32から情報検出用光スポット
の変位量に応じたパルス幅を有する負極性のパルスが出
力されてLPF33から出力されるトラッキングエラー信号
ｅのレベルが負になりかつその絶対値が情報検出用光ス
ポットの変位量に応じた値となる。
以上の構成において、４分割型受光素子の受光面上に形
成される光スポットの位置が変位してエレメント1a乃至
1dの各出力の振幅がアンバランスになっても、エレメン
ト1a乃至1dの各出力を入力しているバッファアンプ2,3,
5,6の各出力のピークレベルが波形整形回路21乃至24を
形成するコンパレータの基準電圧を越える程度にエレメ
ント1a乃至1dの出力の振幅が大になっていれば、波形整
形回路21乃至24から出力される波形整形出力ｇ乃至ｊの
振幅は変化せず一定になる。また、直線βに関して対称
な位置に配置されている２つのエレメント1a及び1b、1c
及び1dの出力に対応する２つの波形整形出力g,h間及び
i,j間の位相差は、受光面上に形成される光スポットの
位置によっては変化しないので、排他的論理和回路25及
び26の出力間に位相差は生じず、トラッキングエラー信
号ｅにオフセットが生じることが防止される。
成される光スポットの位置が変位してエレメント1a乃至
1dの各出力の振幅がアンバランスになっても、エレメン
ト1a乃至1dの各出力を入力しているバッファアンプ2,3,
5,6の各出力のピークレベルが波形整形回路21乃至24を
形成するコンパレータの基準電圧を越える程度にエレメ
ント1a乃至1dの出力の振幅が大になっていれば、波形整
形回路21乃至24から出力される波形整形出力ｇ乃至ｊの
振幅は変化せず一定になる。また、直線βに関して対称
な位置に配置されている２つのエレメント1a及び1b、1c
及び1dの出力に対応する２つの波形整形出力g,h間及び
i,j間の位相差は、受光面上に形成される光スポットの
位置によっては変化しないので、排他的論理和回路25及
び26の出力間に位相差は生じず、トラッキングエラー信
号ｅにオフセットが生じることが防止される。
また、直線α，βの交点に関して対称な位置に配置され
ているエレメント1a及び1c、1b及び1dの各出力に対応す
る波形整形出力ｇ及びｉ、ｈ及びｊが排他的論理和回路
25及び26に供給されているので、排他的論理和回路25及
び26の各出力にはエレメント1a及び1c、1b及び1dの出力
の状態遷移点すなわち立上りエッジ及び立下りエッジと
同一のタイミングで状態遷移点が現われる。このため、
排他的論理和回路25及び26の出力は第５図に示す従来の
装置における波形整形出力p,rのほぼ２倍の周波数の信
号となる。これら排他的論理和回路25及び26の出力が位
相差検出回路27に供給されるので、２つのＤ形フリップ
フロップ28,30によって第５図に示す従来の装置とほぼ
同一の周期で排他的論理和回路25及び26の出力間の位相
を示すパルスが得られ、従来の装置に比して構成が簡単
になっている。
ているエレメント1a及び1c、1b及び1dの各出力に対応す
る波形整形出力ｇ及びｉ、ｈ及びｊが排他的論理和回路
25及び26に供給されているので、排他的論理和回路25及
び26の各出力にはエレメント1a及び1c、1b及び1dの出力
の状態遷移点すなわち立上りエッジ及び立下りエッジと
同一のタイミングで状態遷移点が現われる。このため、
排他的論理和回路25及び26の出力は第５図に示す従来の
装置における波形整形出力p,rのほぼ２倍の周波数の信
号となる。これら排他的論理和回路25及び26の出力が位
相差検出回路27に供給されるので、２つのＤ形フリップ
フロップ28,30によって第５図に示す従来の装置とほぼ
同一の周期で排他的論理和回路25及び26の出力間の位相
を示すパルスが得られ、従来の装置に比して構成が簡単
になっている。
尚、上記実施例においては、エレメント1a乃至1dの各出
力は、波形整形回路21乃至24の各々を介して排他的論理
和回路25及び26に供給されるとしたが、排他的論理和回
路25及び26のスレショールドレベルか波形整形回路21乃
至24を形成するコンパレータの基準レベルに等しくなる
ようにすれば、波形整形回路21乃至24を除去してエレメ
ント1a乃至1dの各出力を直線排他的論理和回路25及び26
に供給するようにすることもできる。
力は、波形整形回路21乃至24の各々を介して排他的論理
和回路25及び26に供給されるとしたが、排他的論理和回
路25及び26のスレショールドレベルか波形整形回路21乃
至24を形成するコンパレータの基準レベルに等しくなる
ようにすれば、波形整形回路21乃至24を除去してエレメ
ント1a乃至1dの各出力を直線排他的論理和回路25及び26
に供給するようにすることもできる。
発明の効果 以上詳述した如く本発明によるトラッキングエラー信号
生成装置は、４分割型受光素子を４つのエレメントに分
割する２本の直線の交点に関して対称な２対のエレメン
トの出力の排他的論理和をとって得られる２つの信号間
の位相差に応じた信号をトラッキングエラー信号として
生成する構成となっているので、４分割型受光素子の受
光面に形成される光スポットの位置が変化して４分割型
受光素子の４つのエレメントの出力の振幅がアンバラン
スになっても４つのエレメントの位相情報すなわちエッ
ジ情報に変動が生じない限り排他的論理和をとって得ら
れる２つの信号間の位相差が変化せず、トラッキングエ
ラー信号のオフセットの発生を防止することができる。
また、レーザのパワー変動があってもエッジ情報により
トラッキングエラー信号を生成しているので、トラッキ
ングサーボループのゲインの変動を防止することもでき
る。
生成装置は、４分割型受光素子を４つのエレメントに分
割する２本の直線の交点に関して対称な２対のエレメン
トの出力の排他的論理和をとって得られる２つの信号間
の位相差に応じた信号をトラッキングエラー信号として
生成する構成となっているので、４分割型受光素子の受
光面に形成される光スポットの位置が変化して４分割型
受光素子の４つのエレメントの出力の振幅がアンバラン
スになっても４つのエレメントの位相情報すなわちエッ
ジ情報に変動が生じない限り排他的論理和をとって得ら
れる２つの信号間の位相差が変化せず、トラッキングエ
ラー信号のオフセットの発生を防止することができる。
また、レーザのパワー変動があってもエッジ情報により
トラッキングエラー信号を生成しているので、トラッキ
ングサーボループのゲインの変動を防止することもでき
る。
また、従来の装置に比してＤ形フリップフロップの個数
を少なくして回路構成を簡単にすることができると同時
に加算回路が不要なのでディジタル回路化が容易に行な
えるのである。
を少なくして回路構成を簡単にすることができると同時
に加算回路が不要なのでディジタル回路化が容易に行な
えるのである。
第１図は、本発明の一実施例を示す回路ブロック図、第
２図は、第１図の装置の各部の動作を示す波形図、第３
図は、情報検出用光スポットの位置が内周方向にずれた
ときの第１図の装置の各部の動作を示す波形図、第４図
は、情報検出用光スポットの位置が外周方向にずれたと
きの第１図の装置の各部の動作を示す波形図、第５図
は、従来のトラッキングエラー信号生成装置を示すブロ
ック図、第６図は、第５図の装置の各部の動作を示す波
形図、第７図は、第５図の装置の各部の動作を示す波形
図、第８図は、４分割型受光素子１の受光面上に形成さ
れる光スポットの位置を示す図、第９図は、４分割型受
光素子１の受光面上に形成される光スポットの位置が移
動したときのエレメント1a〜1dの出力を示す波形図、第
10図は、４分割型受光素子１の受光面上に形成される光
スポットの位置とトラッキングエラー信号の波形との関
係を示す図である。 主要部分の符号の説明 １……４分割型受光素子 21,22,23,24……波形整形回路 25,26……排他的論理和回路 27……位相差検出回路
２図は、第１図の装置の各部の動作を示す波形図、第３
図は、情報検出用光スポットの位置が内周方向にずれた
ときの第１図の装置の各部の動作を示す波形図、第４図
は、情報検出用光スポットの位置が外周方向にずれたと
きの第１図の装置の各部の動作を示す波形図、第５図
は、従来のトラッキングエラー信号生成装置を示すブロ
ック図、第６図は、第５図の装置の各部の動作を示す波
形図、第７図は、第５図の装置の各部の動作を示す波形
図、第８図は、４分割型受光素子１の受光面上に形成さ
れる光スポットの位置を示す図、第９図は、４分割型受
光素子１の受光面上に形成される光スポットの位置が移
動したときのエレメント1a〜1dの出力を示す波形図、第
10図は、４分割型受光素子１の受光面上に形成される光
スポットの位置とトラッキングエラー信号の波形との関
係を示す図である。 主要部分の符号の説明 １……４分割型受光素子 21,22,23,24……波形整形回路 25,26……排他的論理和回路 27……位相差検出回路
Claims (1)
- 【請求項１】記録媒体の記録面上に光ビームを照射して
情報読取用又は情報書込用の光スポットを形成する光学
系から得られる反射ビームの強度分布中心近傍において
互いに１点で交わる２本の直線によって分割される４つ
の受光域からなる受光素子と、前記４つの受光域のうち
の前記２本の直線の交点に関して対称な位置に配置され
ている２対の受光域の出力の排他的論理和をとる排他的
論理和手段とを含み、前記排他的論理和手段の出力間の
位相差に応じた信号をトラッキングエラー信号として生
成することを特徴とするトラッキングエラー信号生成装
置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30050286A JPH0711867B2 (ja) | 1986-12-17 | 1986-12-17 | トラツキングエラ−信号生成装置 |
| NL8703001A NL8703001A (nl) | 1986-12-11 | 1987-12-11 | Een volgfoutsignaalgenerator. |
| US07/132,090 US5258968A (en) | 1986-12-11 | 1987-12-11 | Tracking error signal generating device for preventing offset of the generated tracking error signal |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30050286A JPH0711867B2 (ja) | 1986-12-17 | 1986-12-17 | トラツキングエラ−信号生成装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63152031A JPS63152031A (ja) | 1988-06-24 |
| JPH0711867B2 true JPH0711867B2 (ja) | 1995-02-08 |
Family
ID=17885586
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30050286A Expired - Fee Related JPH0711867B2 (ja) | 1986-12-11 | 1986-12-17 | トラツキングエラ−信号生成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0711867B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100354770B1 (ko) | 2000-12-26 | 2002-10-05 | 삼성전자 주식회사 | 차동 위상 검출디바이스 및 이를 채용한 트랙킹 에러신호검출장치 |
-
1986
- 1986-12-17 JP JP30050286A patent/JPH0711867B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63152031A (ja) | 1988-06-24 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |