JPH0836010A - リレー試験用変換器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 配線の取外し等を行うことなく、被試験リレ
ー回路の無電圧状態での試験が行えるようにする。 【構成】 被試験リレー回路１の試験対象の２端子に接
離自在に接続される１対の入力リード１７ａ，１７ｂ
と、両入力リード１７ａ，１７ｂ間の電圧により発光ダ
イオード２５ａが点灯する入出力絶縁用のフォトカプラ
２２と、このフォトカプラ２２の受光用のフォトトラン
ジスタ２５ｂのオン，オフによりスイッチングする無電
圧変換用の出力トランジスタ２７と、この出力トランジ
スタ２７の１対の出力端子それぞれに接続された１対の
無電圧試験端子３０ａ，３０ｂとを備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、リレー回路の有電圧状
態のリレー接点の開閉を無電圧用リレーテスタ等の無電
圧入力の試験器（測定器）により試験する際に用いられ
るリレー試験用変換器に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、配電盤の保護リレー回路の試験に
おいては、動作時間（動作時限）等の試験に無電圧用リ
レーテスタが用いられる。

【０００３】そして、とくに保護リレー回路が引出し形
でなく、固定形の場合には、無電圧用リレーテスタによ
り各リレー接点の開閉を無電圧状態で試験するため、被
試験リレー回路の所要の各端子の配線を外し、試験対象
のリレー接点の両端に対応する２端子間を無電圧状態に
し、その後、この２端子にリレーテスタの１対の入力リ
ードが接続されて試験が行われる。

【０００４】つぎに、配電盤に設けられた図６の保護リ
レー回路１の無電圧用リレーテスタを用いた従来の試験
について説明する。保護リレー回路１は直流電源，交流
電源のいずれでも動作し、同図において、２は保護リレ
ー回路１のケース体、３はケース体２の第１の端子部で
あり、複数の端子４ａ，４ｂ，…が設けられている。

【０００５】４ｃは図７に示す保護リレー回路１の補助
電源部５に給電する第１の端子部３の正電源端子であ
り、直流電源の正極（Ｐ）又は交流電源の非接地端
（Ｘ）に配線を介して接続される。４ｄはこの補助電源
部５に給電する第１の端子部３の負電源端子であり、直
流電源の負極（Ｎ）又は交流電源の接地端（Ｙ）に配線
を介して接続される。

【０００６】４ｅ，４ｆは第１の端子部３の２接点端子
であり、保護リレー回路１の過電流リレー等のａ接点で
ある図７のリレー接点６ａ，６ｂそれぞれの一端に接続
されている。４ｇは第１の端子部３の共通端子であり、
リレー接点６ａ，６ｂの他端に接続され、配線を介して
正電源端子４ｃに接続されている。

【０００７】７はケース体２の第２の端子部であり、各
種変成器回路からの試験電流が与えられる複数のテスト
端子８ａ，８ｂ，…が設けられている。さらに、保護リ
レー回路１は遮断器の保護リレー回路として設けられた
場合、図７に示すように配線されて配電盤に収容され
る。

【０００８】この図７において、９ｐ，９ｎは直流電源
の正極（Ｐ），負極（Ｎ）の電源端子であり、保護リレ
ー回路１の正，負電源端子４ｃ，４ｄが接続されてい
る。１０は遮断器、１１は一端が「切」操作の接点１２
を介して電源端子９ｐに接続された遮断器１０のタイマ
リレー、１３はタイマリレー１１の他端と電源端子９ｎ
との間に設けられた遮断器接点である。

【０００９】１４は保護リレー回路１の接点端子４ｅ，
４ｆとタイマリレー１１の他端との間に設けられた閉そ
くリレーである。そして、リレー接点６ａ，６ｂ等の動
作時間の試験等をする場合、図６のままでは端子４ｃ，
４ｇ等が有電圧状態であるため、図８に示すように所要
の端子４ｄ，４ｅ，４ｆ，４ｇ，…の配線が外され、端
子４ｅ，４ｆ，４ｇ，…が無電圧状態にされる。

【００１０】つぎに、図９に示すように無電圧状態にな
った端子４ｇ，４ｅに無電圧用リレーテスタの１対の入
力リード１５ａ，１５ｂがそのプラグを介して接離自在
に接続される。そして、第２の端子部７の各端子８ａ，
８ｂ，…の選択的な試験電流の給電によりリレー接点６
ａが開閉し、無電圧状態で動作時間等が試験される。

【００１１】なお、図９の１６は端子４ｃに一端が接続
された電源確保用の渡り線である。また、リレー接点６
ａの試験が終了すると、入力リード１５ｂが端子４ｅか
ら取外されて端子４ｆに接続され、リレー接点６ａの無
電圧状態での試験が行われ、以降、同様にして各リレー
接点の試験が行われる。そして、試験が終了すると、各
端子４ｄ，４ｅ，４ｆ，４ｇ，…が再配線されて図６の
元の状態に戻される。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】前記従来のようにリレ
ー回路の試験時、所要の各端子の配線を取外して試験を
実施し、試験終了後に再配線して元に戻す場合、配線の
取外し，戻し接続の煩雑な作業が必要になり、効率よく
短時間に試験が行えない問題点がある。

【００１３】また、戻し接続により再配線する際に、配
線ミスが生じ易く、信頼性等の向上が図れない問題点も
ある。本発明は、配線の取外し等を行うことなく、リレ
ー回路の無電圧状態の試験が行えるようにすることを目
的とする。

【００１４】

【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めに、本発明のリレー試験用変換器においては、被試験
リレー回路の試験対象の２端子に接離自在に接続される
１対の入力リードと、両入力リード間の電圧により発光
ダイオードが点灯する入出力絶縁用のフォトカプラと、
フォトカプラの受光用のフォトトランジスタのオン，オ
フによりスイッチングする無電圧変換用の出力トランジ
スタと、出力トランジスタの無電圧の１対の出力端子そ
れぞれに接続された１対の無電圧試験端子とを備える。

【００１５】

【作用】前記のように構成された本発明のリレー試験用
変換器の場合、試験時に被試験リレー回路の配線を取外
したりすることなく、その試験対象の２端子に有電圧状
態で１対の入力リードが接続される。

【００１６】そして、リレー接点の開閉に応じて断続す
る前記２端子間の電圧が両入力リード間に発生し、この
電圧によりフォトカプラの発光ダイオードが点灯する。
さらに、発光ダイオードの点，消灯により受光用のフォ
トトランジスタがオン，オフし、このオン，オフに応じ
て出力トランジスタがスイッチングする。

【００１７】そして、出力トランジスタの１対の出力端
子に１対の無電圧試験端子が接続され、出力トランジス
タのスイッチングにより両無電圧試験端子間がオン，オ
フする。したがって、両無電圧試験端子に無電圧用リレ
ーテスタ等の無電圧入力の試験器の１対の入力リードを
接続すれば、被試験リレー回路の配線を外したりするこ
となく、無電圧状態の試験が行える。

【００１８】

【実施例】実施例について、図１ないし図５を参照して
説明する。 （１実施例）まず、１実施例について、図１ないし図４
を参照して説明する。回路結線を示した図１において、
１７ａ，１７ｂは先端部にクリップ１８ａ，１８ｂが取
付けられた１対の入力リード、１９ａ，１９ｂは入力リ
ード１７ａ，１７ｂの基部側の端部に接続された入力端
子、２０はダイオード２１ａ〜２１ｄをブリッジ接続し
て形成された整流部であり、１対の交流端子ａｃ，ａ
ｃ’が入力端子１９ａ，１９ｂに接続されている。

【００１９】２２は整流部２０の後段の入出力絶縁用の
フォトカプラであり、整流部２０の１対の直流端子ｄ
ｃ，ｄｃ’間に分圧用の抵抗２３，２４を介して発光ダ
イオード２５ａが設けられている。２６は抵抗２４，発
光ダイオード２５ａの直列回路に並列接続された過電圧
抑制用のツェナダイオードである。

【００２０】２７はベース回路にフォトカプラ２２のフ
ォトトランジスタ２５ｂが設けられた無電圧変換用の出
力トランジスタであり、ベース，エミッタにフォトトラ
ンジスタ２５ｂのコレクタ，エミッタが接続されてい
る。

【００２１】２８はトランジスタ２５ｂ，２７を駆動す
る直流電源であり、電池により形成され、その正極は限
流用の抵抗２９を介してトランジスタ２５ｂのコレク
タ，トランジスタ２７のベースに接続され、負極はトラ
ンジスタ２５ｂ，２７のエミッタに接続されている。

【００２２】３０ａ，３０ｂは１対の無電圧試験端子で
あり、一方の端子３０ａはダイオード３１を介して出力
トランジスタ２７の一方の出力端子としてのコレクタに
接続され、他方の端子３０ｂは出力トランジスタ２７の
他方の出力端子としてのエミッタに接続されている。

【００２３】３２ａ，３２ｂは基部側の端部が無電圧試
験端子３０ａ，３０ｂに接続された１対の出力リード、
３３は２点鎖線の構成のアダプタ回路部であり、この回
路部３３と入，出力リード１７ａ，１７ｂ，３２ａ，３
２ｂとによりリレー試験用変換器が形成されている。３
４は無電圧用リレーテスタであり、試験時に、例えば１
対の動作時間測定端子３５ａ，３５ｂに出力リード３２
ａ，３２ｂの先端部が接離自在に接続される。

【００２４】つぎに、図２は外観を示し、同図におい
て、３６は図１のアダプタ回路部３３を収容したケース
体、３７はアダプタ回路部３３の電池２８を除く部分が
設けられたケース体３６内のプリント基板である。

【００２５】そして、配電盤に取付けられた図６の保護
リレー回路１の動作時間の試験等を行う場合、図３に示
すように保護リレー回路１の各端子４ｄ，４ｅ，…の配
線を取外すことなく、その試験対象の２端子，例えば端
子４ｅ，４ｄにクリップ１８ａ，１８ｂを介して入力リ
ード１７ａ，１７ｂが接離自在に接続される。

【００２６】また、出力リード３２ａ，３２ｂは無電圧
用リレーテスタ３４の測定端子３５ａ，３５ｂに接続さ
れる。このとき、回路接続は図４に示すようになり、同
図において、３８はリレーテスタ３４に給電する別体の
テスタ用電源装置である。

【００２７】ところで、入力リード１７ａ，１７ｂを端
子４ｅ，４ｄに接続するのは、接点６ａの開閉を端子４
ｅの電圧の有無から検知するためである。すなわち、こ
の実施例の場合、接点６ａの開閉を検知してその動作時
間の試験をするときに、従来のように入力リード１７
ａ，１７ｂを端子４ｇ，４ｅに接続して試験する代わり
に、入力リード１７ａ，１７ｂを端子４ｅ，４ｄに接続
し、端子４ｅの電圧の有無から接点６ａの開閉を検知し
て試験する。

【００２８】そして、入力リード１７ａ，１７ｂを端子
４ｅ，４ｄに接続すると、リレー接点６ａが閉路したと
きにのみ端子４ｅ，４ｄ間に電圧が発生し、この電圧が
整流部２０を介してフォトカプラ２２の発光ダイオード
２５ａに印加され、この発光ダイオード２５ａが点灯す
る

【００２９】さらに、発光ダイオード２５ａが点灯する
と、フォトトランジスタ２５ｂがオンし、出力トランジ
スタ２７がオフからオンに反転する。この反転により、
無電圧用リレーテスタ３４の測定端子３５ａ，３５ｂ間
がダイオード３１，出力トランジスタ２７を介して開放
から閉成に反転する。

【００３０】このとき、フォトカプラ２２により入力端
子１９ａ，１９ｂ側と無電圧試験端子３０ａ，３０ｂ側
とが絶縁分離され、出力トランジスタ２７がスイッチン
グしてもそのコレクタ，エミッタ間に電圧が発生せず、
測定端子３５ａ，３５ｂ間がリレー接点６ａの開閉に応
じて無電圧状態で開閉する。

【００３１】したがって、保護リレー回路１の配線を取
外すことなく、従来の配線を取外して無電圧状態で行う
場合と同様の無電圧用リレーテスタ３４を用いた試験が
行える。

【００３２】そして、試験実施前の配線の取外し及び試
験終了後の再配線の作業，すなわち配線の脱，着作業が
不要になり、効率よく短時間に試験が行え、しかも、再
配線の配線ミス等がなく、信頼性等が著しく向上する。

【００３３】また、フォトカプラ２２の前段に整流部２
０が設けられ、この整流部２０により交流入力が全波整
流されて直流に変換されるため、保護リレー回路１等の
被試験リレー回路が交流電源で動作する場合にも何らの
支障なく試験が行える。

【００３４】（他の実施例）つぎに、他の実施例につい
て、図５を参照して説明する。同図において、図１と同
一符号は同一のものを示し、図１と異なる点はつぎの
（i） 及び（ii）の点である。

【００３５】（i） 図１の整流部２０の代わりに１個の
ダイオード３９からなる半波整流の整流部を備え、入力
端子１９ａ，１９ｂ間にダイオード３９，発光ダイオー
ド２５，限流用の抵抗４０を直列に設け、図１のダイオ
ード２１ａ〜２１ｄ，抵抗２３，２４及びツェナダイオ
ード２６を省いた点。

【００３６】（ii）出力トランジスタ２７のベースをフ
ォトトランジスタ２５ｂのエミッタに接続し、出力トラ
ンジスタ２７のエミッタを電池２８の負極及び無電圧試
験端子３０ｂに接続した点。

【００３７】そして、この実施例の場合もフォトカプラ
２２により入力端子１９ａ，１９ｂ側と無電圧試験端子
３０ａ，３０ｂ側とが電気的に絶縁分離され、出力トラ
ンジスタ２７のスイッチングにより１実施例と同様の無
電圧状態での試験が行え、１実施例の場合と同様の効率
が生じる。しかも、整流部がダイオード３９のみで形成
され、部品数が図１の場合より少なくなり、一層簡素、
安価に形成することができる利点もある。

【００３８】ところで、前記両実施例では交直両用にす
るため、整流部２０又はダイオード３９を備えたが、直
流専用の場合等は、整流部２０，ダイオード３９等を省
いて形成できるのは勿論であり、この場合は一層簡素，
安価になる。

【００３９】また、各部の構成は両実施例に限定される
ものではなく、例えば出力トランジスタ２７はＦＥＴ等
の種々のスイッチング半導体で形成できるのも勿論であ
る。さらに、アダプタ回路部３３は無電圧用リレーテス
タ３４等に組込んで内蔵するようにしてもよい。

【００４０】

【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているため、以下に記載する効果を奏する。試験時に被
試験リレー回路１の配線を取外したりすることなく、そ
の試験対象の２端子に有電圧状態で１対の入力リード１
７ａ，１７ｂが接続されると、リレー接点の開閉に応じ
て継続する前記２端子間の電圧が入力リード１７ａ，１
７ｂ間に発生し、この電圧によりフォトカプラ２２の発
光ダイオード２５ａが点灯する。

【００４１】さらに、発光ダイオード２５ａの点，消灯
により受光用のフォトトランジスタ２５ｂがオン，オフ
し、このオン，オフに応じて出力トランジスタ２７がス
イッチングし、このスイッチングにより両無電圧試験端
子３０ａ，３０ｂ間がオン，オフする。

【００４２】したがって、無電圧試験端子３０ａ，３０
ｂに無電圧用リレーテスタ等の無電圧入力の試験器を接
続すれば、被試験リレー回路１の配線を外したりするこ
となく、無電圧状態でその動作時間等の試験が行え、配
線の着，脱作業等を省いて効率よく短時間に試験が行
え、しかも、再配線による配線ミスの発生を防止して信
頼性等を向上することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の１実施例の回路図である。

【図２】本発明の１実施例の斜視図である。

【図３】本発明の１実施例の被試験リレー回路の結線図
である。

【図４】本発明の１実施例の試験時の結線図である。

【図５】本発明の他の実施例の回路図である。

【図６】被試験リレー回路の端子配線の説明図である。

【図７】図６の結線図である。

【図８】従来例の試験前の処理の説明図である。

【図９】従来例の試験時の被試験リレー回路の結線図で
ある。

【符号の説明】

１ 被試験リレー回路 ４ａ，４ｂ，… 被試験リレー回路の端子 １７ａ，１７ｂ 入力リード ２２ フォトカプラ ２５ａ 発光ダイオード ２５ｂ フォトトランジスタ ２７ 出力トランジスタ ３０ａ，３０ｂ 無電圧試験端子

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被試験リレー回路の試験対象の２端子に
   接離自在に接続される１対の入力リードと、 前記両入力リード間の電圧により発光ダイオードが点灯
   する入出力絶縁用のフォトカプラと、 前記フォトカプラの受光用のフォトトランジスタのオ
   ン，オフによりスイッチングする無電圧変換用の出力ト
   ランジスタと、 前記出力トランジスタの１対の出力端子それぞれに接続
   された１対の無電圧試験端子とを備えたことを特徴とす
   るリレー試験用変換器。