JPH0837357A - バンプ電極付電子部品が実装されたプリント配線板およびその実装方法 - Google Patents
バンプ電極付電子部品が実装されたプリント配線板およびその実装方法Info
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- JPH0837357A JPH0837357A JP6173947A JP17394794A JPH0837357A JP H0837357 A JPH0837357 A JP H0837357A JP 6173947 A JP6173947 A JP 6173947A JP 17394794 A JP17394794 A JP 17394794A JP H0837357 A JPH0837357 A JP H0837357A
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- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3431—Leadless components
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- Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
- Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Multi-Conductor Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 バンプ電極付電子部品をプリント配線板上へ
実装する場合に、大きさにばらつきのあるバンプ電極の
接合状態を容易に効率良く検出できるバンプ電極付電子
部品が実装されたプリント配線板を得ること。 【構成】 大きさにばらつきのある複数のバンプ電極2
のうちで径の小さいバンプ電極2sより小さい径の検査
用バンプ電極2bを電子部品のベース基板1a上に数カ
所設け、電子部品1内で相互に接続配線する。プリント
配線板3側においても、径の小さい検査用バンプ電極2
bが接合されるべき導電性パッド5にプローブを接続す
るための導体配線を設ける。そして電子部品1とプリン
ト配線板3との実装が完了した状態において、導体配線
にプローブを接続して全ての導体配線の導通を検査す
る。
実装する場合に、大きさにばらつきのあるバンプ電極の
接合状態を容易に効率良く検出できるバンプ電極付電子
部品が実装されたプリント配線板を得ること。 【構成】 大きさにばらつきのある複数のバンプ電極2
のうちで径の小さいバンプ電極2sより小さい径の検査
用バンプ電極2bを電子部品のベース基板1a上に数カ
所設け、電子部品1内で相互に接続配線する。プリント
配線板3側においても、径の小さい検査用バンプ電極2
bが接合されるべき導電性パッド5にプローブを接続す
るための導体配線を設ける。そして電子部品1とプリン
ト配線板3との実装が完了した状態において、導体配線
にプローブを接続して全ての導体配線の導通を検査す
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明はバンプ電極を有する電
子部品が実装されたプリント配線板およびプリント配線
板へのバンプ電極を有する電子部品の実装方法に関する
ものである。
子部品が実装されたプリント配線板およびプリント配線
板へのバンプ電極を有する電子部品の実装方法に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】図15は従来例を示し、例えば日経エレ
クトロニクス1994年2月14日付no.601号の
61頁や69頁に紹介されたバンプ電極を有する電子部
品の実装状態を示す側面図である。図において、1は電
子部品、1aは電子部品のベース基板、2は電子部品の
ベース基板1aに形成された外部電極としての複数のバ
ンプ電極、2L はバンプ電極2の大きさのばらつきのう
ちで径の大きいもの、2sはバンプ電極2の大きさのば
らつきのうちで径の小さいもの、3はプリント配線板、
4は絶縁基板、5は絶縁基板4上に銅などの導体にて形
成されたバンプ電極2を搭載するための導体部である複
数の導電性パッドであり、絶縁基板4と導電性パッド5
とがプリント配線板3を構成している。6は導電性パッ
ド5上にバンプ電極2を接合するための共晶はんだを含
んだはんだなどの接合材料、6aは接合材料6が溶融し
てバンプ電極2と導電性パッド5とを接合する接合フィ
レットである。
クトロニクス1994年2月14日付no.601号の
61頁や69頁に紹介されたバンプ電極を有する電子部
品の実装状態を示す側面図である。図において、1は電
子部品、1aは電子部品のベース基板、2は電子部品の
ベース基板1aに形成された外部電極としての複数のバ
ンプ電極、2L はバンプ電極2の大きさのばらつきのう
ちで径の大きいもの、2sはバンプ電極2の大きさのば
らつきのうちで径の小さいもの、3はプリント配線板、
4は絶縁基板、5は絶縁基板4上に銅などの導体にて形
成されたバンプ電極2を搭載するための導体部である複
数の導電性パッドであり、絶縁基板4と導電性パッド5
とがプリント配線板3を構成している。6は導電性パッ
ド5上にバンプ電極2を接合するための共晶はんだを含
んだはんだなどの接合材料、6aは接合材料6が溶融し
てバンプ電極2と導電性パッド5とを接合する接合フィ
レットである。
【0003】次に、前述した従来の電子部品1をプリン
ト配線板3上に実装する場合について説明する。まずプ
リント配線板3の導電性パッド5に接合材料6の層を印
刷法またはメッキ法などにより形成する。そしてバンプ
電極2と導電性パッド5とを機械的または光学的に位置
決めして、バンプ電極2を導電性パッド5上の接合材料
6の上に搭載する。次に赤外線や熱風などによる加熱に
より接合材料6を溶融させ接合フィレット6aを形成
し、この接合フィレット6aを冷却固化させてバンプ電
極2を導電性パッド5に電気的および機械的に接合させ
る。このようにして電子部品1のプリント配線板3への
実装を完了する。
ト配線板3上に実装する場合について説明する。まずプ
リント配線板3の導電性パッド5に接合材料6の層を印
刷法またはメッキ法などにより形成する。そしてバンプ
電極2と導電性パッド5とを機械的または光学的に位置
決めして、バンプ電極2を導電性パッド5上の接合材料
6の上に搭載する。次に赤外線や熱風などによる加熱に
より接合材料6を溶融させ接合フィレット6aを形成
し、この接合フィレット6aを冷却固化させてバンプ電
極2を導電性パッド5に電気的および機械的に接合させ
る。このようにして電子部品1のプリント配線板3への
実装を完了する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来のバンプ電極付電
子部品が実装されたプリント配線板およびバンプ電極付
電子部品の実装方法では、バンプ電極の大きさにはばら
つきがあるため、径の小さなバンプ電極は導電性パッド
に接触できず、電気的および機械的に接合できないバン
プ電極が発生する恐れがあった。そしてバンプ電極と導
電性パッドとが接合しているかどうかの検出や電子部品
とプリント配線板との接合状態が傾いていたり位置ずれ
しているかどうかの検出には、X線を使用した検査機を
用いるなど高価で大がかりな検査が必要であった。
子部品が実装されたプリント配線板およびバンプ電極付
電子部品の実装方法では、バンプ電極の大きさにはばら
つきがあるため、径の小さなバンプ電極は導電性パッド
に接触できず、電気的および機械的に接合できないバン
プ電極が発生する恐れがあった。そしてバンプ電極と導
電性パッドとが接合しているかどうかの検出や電子部品
とプリント配線板との接合状態が傾いていたり位置ずれ
しているかどうかの検出には、X線を使用した検査機を
用いるなど高価で大がかりな検査が必要であった。
【0005】この発明はかかる問題点を解決するために
なされたものであり、バンプ電極と導電性パッドとが接
合しているかどうかの検出や電子部品とプリント配線板
との接合状態が傾いているかどうかの検出、または電子
部品とプリント配線板との接合状態が位置ずれしている
かどうかを容易に効率良く検出できるバンプ電極付電子
部品が実装されたプリント配線板を得ることを目的とし
ている。
なされたものであり、バンプ電極と導電性パッドとが接
合しているかどうかの検出や電子部品とプリント配線板
との接合状態が傾いているかどうかの検出、または電子
部品とプリント配線板との接合状態が位置ずれしている
かどうかを容易に効率良く検出できるバンプ電極付電子
部品が実装されたプリント配線板を得ることを目的とし
ている。
【0006】また、バンプ電極と導電性パッドとが接合
しているかどうかの検出や電子部品とプリント配線板と
の接合状態が傾いているかどうかを容易に効率良く検出
できるバンプ電極付電子部品が実装されたプリント配線
板を得ることを目的としている。
しているかどうかの検出や電子部品とプリント配線板と
の接合状態が傾いているかどうかを容易に効率良く検出
できるバンプ電極付電子部品が実装されたプリント配線
板を得ることを目的としている。
【0007】また、電子部品とプリント配線板との接合
状態が傾いているかどうかを容易に効率良く検出できる
バンプ電極付電子部品が実装されたプリント配線板を得
ることを目的としている。
状態が傾いているかどうかを容易に効率良く検出できる
バンプ電極付電子部品が実装されたプリント配線板を得
ることを目的としている。
【0008】また、電子部品とプリント配線板との接合
状態が位置ずれしているかどうかを容易に効率良く検出
できるバンプ電極付電子部品が実装されたプリント配線
板を得ることを目的としている。
状態が位置ずれしているかどうかを容易に効率良く検出
できるバンプ電極付電子部品が実装されたプリント配線
板を得ることを目的としている。
【0009】さらに、バンプ電極の大きさにばらつきが
あっても、全てのバンプ電極が導電性パッドに接触し
て、電子部品が確実にプリント配線板に電気的および機
械的に接合できる信頼性の高いバンプ電極付電子部品の
実装方法を得ることを目的としている。
あっても、全てのバンプ電極が導電性パッドに接触し
て、電子部品が確実にプリント配線板に電気的および機
械的に接合できる信頼性の高いバンプ電極付電子部品の
実装方法を得ることを目的としている。
【0010】そして、バンプ電極の大きさにばらつきが
あっても、径の大きなバンプ電極を過剰に変形させるこ
となく全てのバンプ電極が導電性パッドに接触して、電
子部品が確実にプリント配線板に電気的および機械的に
接合できる信頼性の高いバンプ電極付電子部品の実装方
法を得ることを目的としている。
あっても、径の大きなバンプ電極を過剰に変形させるこ
となく全てのバンプ電極が導電性パッドに接触して、電
子部品が確実にプリント配線板に電気的および機械的に
接合できる信頼性の高いバンプ電極付電子部品の実装方
法を得ることを目的としている。
【0011】
【課題を解決するための手段】この発明に係わるバンプ
電極付電子部品が実装されたプリント配線板において
は、電子部品の外部電極を形成する複数のバンプ電極
と、これらのバンプ電極の位置に対応してプリント配線
板に設けられた複数の導電性パッドと、前記複数のバン
プ電極と前記複数の導電性パッドとを接合させる接合材
料と、を備え、前記複数のバンプ電極のうち所定のバン
プ電極を検査用バンプ電極としたものである。
電極付電子部品が実装されたプリント配線板において
は、電子部品の外部電極を形成する複数のバンプ電極
と、これらのバンプ電極の位置に対応してプリント配線
板に設けられた複数の導電性パッドと、前記複数のバン
プ電極と前記複数の導電性パッドとを接合させる接合材
料と、を備え、前記複数のバンプ電極のうち所定のバン
プ電極を検査用バンプ電極としたものである。
【0012】また、検査用バンプ電極をバンプ電極のば
らつきの範囲より小さい径の検査用バンプ電極としたも
のである。
らつきの範囲より小さい径の検査用バンプ電極としたも
のである。
【0013】また、複数のバンプ電極の四隅に位置する
バンプ電極のうち少なくとも一つを一般検査用バンプ電
極とし、前記検査用バンプ電極に隣接する位置にバンプ
電極のばらつきの範囲より小さい径の検査用バンプ電極
を設け、前記一般検査用バンプ電極と前記小さい径の検
査用バンプ電極とを導体で接続したものである。
バンプ電極のうち少なくとも一つを一般検査用バンプ電
極とし、前記検査用バンプ電極に隣接する位置にバンプ
電極のばらつきの範囲より小さい径の検査用バンプ電極
を設け、前記一般検査用バンプ電極と前記小さい径の検
査用バンプ電極とを導体で接続したものである。
【0014】また、複数のバンプ電極の境界を形成する
バンプ電極のうち所定のバンプ電極を検査用バンプ電極
とし、この検査用バンプ電極と対応する位置のプリント
配線板に検査用導電性パッドを設けたものである。
バンプ電極のうち所定のバンプ電極を検査用バンプ電極
とし、この検査用バンプ電極と対応する位置のプリント
配線板に検査用導電性パッドを設けたものである。
【0015】さらに、バンプ電極付電子部品の実装方法
においては、複数のバンプ電極を外部電極とする電子部
品を有し、これらの複数のバンプ電極に対応して設けら
れた複数の導電性パッドを有するプリント配線板上に前
記電子部品を位置決めし、このプリント配線板と前記電
子部品との間に圧力を加えて、前記複数のバンプ電極と
前記複数の導電性パッドとを接合材料で接合させるもの
である。
においては、複数のバンプ電極を外部電極とする電子部
品を有し、これらの複数のバンプ電極に対応して設けら
れた複数の導電性パッドを有するプリント配線板上に前
記電子部品を位置決めし、このプリント配線板と前記電
子部品との間に圧力を加えて、前記複数のバンプ電極と
前記複数の導電性パッドとを接合材料で接合させるもの
である。
【0016】そして、電子部品とプリント配線板との間
に、電子部品とプリント配線板との間隔を規制する規制
手段を設けたものである。
に、電子部品とプリント配線板との間隔を規制する規制
手段を設けたものである。
【0017】
【作用】この発明に係わるバンプ電極付電子部品が実装
されたプリント配線板においては、複数のバンプ電極の
うち所定のバンプ電極を検査用バンプ電極としたこと
は、バンプ電極と導電性パッドとが接合しているかどう
かや電子部品とプリント配線板との接合状態が傾いてい
るかどうか、または電子部品とプリント配線板との接合
状態が位置ずれしているかどうかを検出できる。
されたプリント配線板においては、複数のバンプ電極の
うち所定のバンプ電極を検査用バンプ電極としたこと
は、バンプ電極と導電性パッドとが接合しているかどう
かや電子部品とプリント配線板との接合状態が傾いてい
るかどうか、または電子部品とプリント配線板との接合
状態が位置ずれしているかどうかを検出できる。
【0018】また、検査用バンプ電極をバンプ電極のば
らつきの範囲より小さい径の検査用バンプ電極としたこ
とは、バンプ電極と導電性パッドとが接合しているかど
うかや電子部品とプリント配線板との接合状態が傾いて
るかどうかを検出できる。
らつきの範囲より小さい径の検査用バンプ電極としたこ
とは、バンプ電極と導電性パッドとが接合しているかど
うかや電子部品とプリント配線板との接合状態が傾いて
るかどうかを検出できる。
【0019】また、複数のバンプ電極の四隅に位置する
バンプ電極のうち少なくとも一つを一般検査用バンプ電
極とし、前記検査用バンプ電極に隣接する位置にバンプ
電極のばらつきの範囲より小さい径の検査用バンプ電極
を設け、前記一般検査用バンプ電極と前記小さい径の検
査用バンプ電極とを導体で接続したことは、電子部品と
プリント配線板との接合状態が傾いているかどうかを検
出できる。
バンプ電極のうち少なくとも一つを一般検査用バンプ電
極とし、前記検査用バンプ電極に隣接する位置にバンプ
電極のばらつきの範囲より小さい径の検査用バンプ電極
を設け、前記一般検査用バンプ電極と前記小さい径の検
査用バンプ電極とを導体で接続したことは、電子部品と
プリント配線板との接合状態が傾いているかどうかを検
出できる。
【0020】また、複数のバンプ電極の境界を形成する
バンプ電極のうち所定のバンプ電極を検査用バンプ電極
とし、この検査用バンプ電極と対応する位置のプリント
配線板に検査用導電性パッドを設けたことは、電子部品
とプリント配線板との接合状態が位置ずれているかどう
かを検出できる。
バンプ電極のうち所定のバンプ電極を検査用バンプ電極
とし、この検査用バンプ電極と対応する位置のプリント
配線板に検査用導電性パッドを設けたことは、電子部品
とプリント配線板との接合状態が位置ずれているかどう
かを検出できる。
【0021】さらに、バンプ電極付電子部品の実装方法
においては、プリント配線板と電子部品との間に圧力を
加えて、複数のバンプ電極と導電性パッドとを接合材料
で接合させることは、全てのバンプ電極を導電性パッド
に接触させることができる。
においては、プリント配線板と電子部品との間に圧力を
加えて、複数のバンプ電極と導電性パッドとを接合材料
で接合させることは、全てのバンプ電極を導電性パッド
に接触させることができる。
【0022】そして、電子部品とプリント配線板との間
に、電子部品とプリント配線板との間隔を規制する規制
手段を設けることは、径の大きなバンプ電極を過剰に変
形させることなく全てのバンプ電極を導電性パッドに接
触させることができる。
に、電子部品とプリント配線板との間隔を規制する規制
手段を設けることは、径の大きなバンプ電極を過剰に変
形させることなく全てのバンプ電極を導電性パッドに接
触させることができる。
【0023】
実施例1.図1はこの発明の一実施例の電子部品を示す
側面図である。図において、同一符号は同一または相当
部分を示し、2bは大きさにばらつきのある複数のバン
プ電極2のうちでも径の小さいバンプ電極2sより小さ
い径の検査用バンプ電極である。ここで、一般的にはバ
ンプ電極の径の大きさは0.4〜0.55mm程度にば
らつく。したがって、径の小さい検査用バンプ電極2b
を電子部品1に設けるためには次に示す方法を用いるこ
とができる。すなわち、電子部品1へ複数のバンプ電極
2を生成する際に、径の小さい検査用バンプ電極2bを
設ける位置に0.4mmよりわずかに小さい径のはんだ
ボールを置いて、リフローなどの加熱によって電子部品
のベース基板1aへこのはんだボールを接合する。
側面図である。図において、同一符号は同一または相当
部分を示し、2bは大きさにばらつきのある複数のバン
プ電極2のうちでも径の小さいバンプ電極2sより小さ
い径の検査用バンプ電極である。ここで、一般的にはバ
ンプ電極の径の大きさは0.4〜0.55mm程度にば
らつく。したがって、径の小さい検査用バンプ電極2b
を電子部品1に設けるためには次に示す方法を用いるこ
とができる。すなわち、電子部品1へ複数のバンプ電極
2を生成する際に、径の小さい検査用バンプ電極2bを
設ける位置に0.4mmよりわずかに小さい径のはんだ
ボールを置いて、リフローなどの加熱によって電子部品
のベース基板1aへこのはんだボールを接合する。
【0024】今、径の小さい検査用バンプ電極2bを電
子部品のベース基板1a上に数カ所設け、電子部品1の
内部で径の小さい検査用バンプ電極2b間を相互に接続
する配線を施しておく。さらにプリント配線板3側にお
いても、径の小さい検査用バンプ電極2bが接合される
べき導電性パッド5にプローブを接続するための導体配
線を設ける。次に、接合材料6を施したプリント配線板
3上に複数のバンプ電極2と径の小さい検査用バンプ電
極2bとを設けた電子部品1を搭載して、赤外線や熱風
などの加熱により接合材料6を溶融、冷却固化させ、バ
ンプ電極2と径の小さい検査用バンプ電極2bとを導電
性パッド5に電気的および機械的に接合して電子部品1
のプリント配線板3への実装を完了させる。
子部品のベース基板1a上に数カ所設け、電子部品1の
内部で径の小さい検査用バンプ電極2b間を相互に接続
する配線を施しておく。さらにプリント配線板3側にお
いても、径の小さい検査用バンプ電極2bが接合される
べき導電性パッド5にプローブを接続するための導体配
線を設ける。次に、接合材料6を施したプリント配線板
3上に複数のバンプ電極2と径の小さい検査用バンプ電
極2bとを設けた電子部品1を搭載して、赤外線や熱風
などの加熱により接合材料6を溶融、冷却固化させ、バ
ンプ電極2と径の小さい検査用バンプ電極2bとを導電
性パッド5に電気的および機械的に接合して電子部品1
のプリント配線板3への実装を完了させる。
【0025】したがって、実装が完了した状態におい
て、径の小さい検査用バンプ電極2bが接合されるべき
導電性パッド5に接続されている導体配線にプローブを
接続して、全ての導体配線において導通のあることが確
認されれば全てのバンプ電極2と導電性パッド5とが接
合されていることが確認できる。このように電子部品1
のプリント配線板3への実装状態の確認を効率良く行な
うことができる。
て、径の小さい検査用バンプ電極2bが接合されるべき
導電性パッド5に接続されている導体配線にプローブを
接続して、全ての導体配線において導通のあることが確
認されれば全てのバンプ電極2と導電性パッド5とが接
合されていることが確認できる。このように電子部品1
のプリント配線板3への実装状態の確認を効率良く行な
うことができる。
【0026】実施例2.図2はこの発明の一実施例の電
子部品を示す底面図である。図において、同一符号は同
一または相当部分を示す。この実施例では径の小さい検
査用バンプ電極2bを対角に、対辺に、またはその両方
に設け、電子部品1の内部で径の小さい検査用バンプ電
極2b間を相互に接続する配線を施しておく。さらにプ
リント配線板3側においても、径の小さい検査用バンプ
電極2bが接合されるべき導電性パッド5にプローブを
接続するための導体配線を設ける。そして上述の実施例
1と同様にして電子部品1のプリント配線板3への実装
を完了させる。
子部品を示す底面図である。図において、同一符号は同
一または相当部分を示す。この実施例では径の小さい検
査用バンプ電極2bを対角に、対辺に、またはその両方
に設け、電子部品1の内部で径の小さい検査用バンプ電
極2b間を相互に接続する配線を施しておく。さらにプ
リント配線板3側においても、径の小さい検査用バンプ
電極2bが接合されるべき導電性パッド5にプローブを
接続するための導体配線を設ける。そして上述の実施例
1と同様にして電子部品1のプリント配線板3への実装
を完了させる。
【0027】したがって、実装が完了した状態におい
て、径の小さい検査用バンプ電極2bが接合されるべき
導電性パッド5に接続されている導体配線にプローブを
接続して、全ての導体配線において導通のあることが確
認されれば全てのバンプ電極2と導電性パッド5とが接
合されていることが確認できる。またこの導通の有無を
径の小さい検査用バンプ電極2bの位置に対応づけて確
認することもできる。このように電子部品1のプリント
配線板3への実装状態の確認を効率良く行なうことがで
きる。
て、径の小さい検査用バンプ電極2bが接合されるべき
導電性パッド5に接続されている導体配線にプローブを
接続して、全ての導体配線において導通のあることが確
認されれば全てのバンプ電極2と導電性パッド5とが接
合されていることが確認できる。またこの導通の有無を
径の小さい検査用バンプ電極2bの位置に対応づけて確
認することもできる。このように電子部品1のプリント
配線板3への実装状態の確認を効率良く行なうことがで
きる。
【0028】実施例3.図3、図4はこの発明の一実施
例の電子部品とプリント配線板を示すもので、図3は電
子部品の底面図、図4はプリント配線板への電子部品の
実装状態を示す側面図である。図において、同一符号は
同一または相当部分を示し、2aは径の小さい検査用バ
ンプ電極2bに隣接して設けられ複数のバンプ電極2と
同様な方法で作られたばらつきを有する一般検査用バン
プ電極で、この実施例では四隅のバンプ電極の全てを一
般検査用バンプ電極とした場合を示している。11は一
般検査用バンプ電極2aと径の小さい検査用バンプ電極
2bとを結合する導体ブリッジである。
例の電子部品とプリント配線板を示すもので、図3は電
子部品の底面図、図4はプリント配線板への電子部品の
実装状態を示す側面図である。図において、同一符号は
同一または相当部分を示し、2aは径の小さい検査用バ
ンプ電極2bに隣接して設けられ複数のバンプ電極2と
同様な方法で作られたばらつきを有する一般検査用バン
プ電極で、この実施例では四隅のバンプ電極の全てを一
般検査用バンプ電極とした場合を示している。11は一
般検査用バンプ電極2aと径の小さい検査用バンプ電極
2bとを結合する導体ブリッジである。
【0029】一般検査用バンプ電極2a、径の小さい検
査用バンプ電極2b、および導体ブリッジ11から構成
される検査用バンプ電極を電子部品1上の四隅に設け、
かつ一般検査用バンプ電極2a、径の小さい検査用バン
プ電極2bに対応する導電性パッドをプリント配線板3
に設ける。そして上述の実施例1と同様にして電子部品
1のプリント配線板3への実装を完了させる。
査用バンプ電極2b、および導体ブリッジ11から構成
される検査用バンプ電極を電子部品1上の四隅に設け、
かつ一般検査用バンプ電極2a、径の小さい検査用バン
プ電極2bに対応する導電性パッドをプリント配線板3
に設ける。そして上述の実施例1と同様にして電子部品
1のプリント配線板3への実装を完了させる。
【0030】したがって、実装が完了した状態におい
て、径の小さい検査用バンプ電極2bが接合されるべき
導電性パッド5に接続されている導体配線と一般検査用
バンプ電極2aが接合されるべき導電性パッド5に接続
されている導体配線との間に、導通があるかどうかをプ
ローブなどにより確認する。もし4箇所とも導通がなけ
れば電子部品1は傾くこと無しにプリント配線板3へ正
しく実装されていることが確認され、反対に1箇所でも
導通があればその部分が傾いて実装されていることが分
る。このように電子部品1にプローブなどを接続しなく
ても実装状態の傾きを検査することができるので、電子
部品1のプリント配線板3への実装状態の確認を効率良
く行なうことができる。
て、径の小さい検査用バンプ電極2bが接合されるべき
導電性パッド5に接続されている導体配線と一般検査用
バンプ電極2aが接合されるべき導電性パッド5に接続
されている導体配線との間に、導通があるかどうかをプ
ローブなどにより確認する。もし4箇所とも導通がなけ
れば電子部品1は傾くこと無しにプリント配線板3へ正
しく実装されていることが確認され、反対に1箇所でも
導通があればその部分が傾いて実装されていることが分
る。このように電子部品1にプローブなどを接続しなく
ても実装状態の傾きを検査することができるので、電子
部品1のプリント配線板3への実装状態の確認を効率良
く行なうことができる。
【0031】実施例4.図5、図6はこの発明の一実施
例の電子部品とプリント配線板を示すもので、図5はプ
リント配線板の導電性パッドを示す平面図、図6はプリ
ント配線板への電子部品の実装状態を示すもので図5の
I−I線矢印方向から見た側面図である。図において、
同一符号は同一または相当部分を示し、12aは電子部
品1がX方向に位置ずれした場合に電子部品1の四隅に
設けられた一般検査用バンプ電極2aの一部が接触する
ように設けられたX方向位置ずれ検査用導電性パッド、
12bは電子部品1がY方向に位置ずれした場合に電子
部品1の四隅に設けられた一般検査用バンプ電極2aの
一部が接触するように設けられたY方向位置ずれ検査用
導電性パッドである。
例の電子部品とプリント配線板を示すもので、図5はプ
リント配線板の導電性パッドを示す平面図、図6はプリ
ント配線板への電子部品の実装状態を示すもので図5の
I−I線矢印方向から見た側面図である。図において、
同一符号は同一または相当部分を示し、12aは電子部
品1がX方向に位置ずれした場合に電子部品1の四隅に
設けられた一般検査用バンプ電極2aの一部が接触する
ように設けられたX方向位置ずれ検査用導電性パッド、
12bは電子部品1がY方向に位置ずれした場合に電子
部品1の四隅に設けられた一般検査用バンプ電極2aの
一部が接触するように設けられたY方向位置ずれ検査用
導電性パッドである。
【0032】一般的には、導電性パッド5や検査用導電
性パッド12a、12bの大きさは直径が0.7mm程
度であり、最も近い一般検査用バンプ電極2aとの中心
間距離は0.8mm程度に設定されている。したがっ
て、図6に示すように電子部品1がX、Y方向に正しく
位置決めされてプリント配線板3に接合された場合は、
一般検査用バンプ電極2aはX方向位置ずれ検査用導電
性パッド12a、Y方向位置ずれ検査用導電性パッド1
2bのいずれにも接触しないこととなる。
性パッド12a、12bの大きさは直径が0.7mm程
度であり、最も近い一般検査用バンプ電極2aとの中心
間距離は0.8mm程度に設定されている。したがっ
て、図6に示すように電子部品1がX、Y方向に正しく
位置決めされてプリント配線板3に接合された場合は、
一般検査用バンプ電極2aはX方向位置ずれ検査用導電
性パッド12a、Y方向位置ずれ検査用導電性パッド1
2bのいずれにも接触しないこととなる。
【0033】したがって、上述の実施例1と同様にして
電子部品1のプリント配線板3への実装を完了させた
後、電子部品1の内部で相互に接続する配線を施された
一般検査用バンプ電極2aとX方向位置ずれ検査用導電
性パッド12aおよびY方向位置ずれ検査用導電性パッ
ド12bとの間の導通を確認する。もし、どちらかの位
置ずれ検査用導電性パッドに導通があれば、その方向に
位置ずれして接合されていることが分る。このように電
子部品1のプリント配線板3への実装状態の確認を効率
良く行なうことができる。
電子部品1のプリント配線板3への実装を完了させた
後、電子部品1の内部で相互に接続する配線を施された
一般検査用バンプ電極2aとX方向位置ずれ検査用導電
性パッド12aおよびY方向位置ずれ検査用導電性パッ
ド12bとの間の導通を確認する。もし、どちらかの位
置ずれ検査用導電性パッドに導通があれば、その方向に
位置ずれして接合されていることが分る。このように電
子部品1のプリント配線板3への実装状態の確認を効率
良く行なうことができる。
【0034】なお、この実施例ではX方向位置ずれ検査
用導電性パッド12aとして一辺に1個、そしてY方向
位置ずれ検査用導電性パッド12bとして一辺に1個、
合計4個設けたが、この他にもX方向位置ずれ検査用導
電性パッド12aとして一辺の上下端に各1個、そして
Y方向位置ずれ検査用導電性パッド12bとして一辺の
左右端に各1個、合計8個設けてもよい。
用導電性パッド12aとして一辺に1個、そしてY方向
位置ずれ検査用導電性パッド12bとして一辺に1個、
合計4個設けたが、この他にもX方向位置ずれ検査用導
電性パッド12aとして一辺の上下端に各1個、そして
Y方向位置ずれ検査用導電性パッド12bとして一辺の
左右端に各1個、合計8個設けてもよい。
【0035】実施例5.図7〜図11はこの発明の一実
施例の電子部品とプリント配線板の実装方法を示すもの
で、図7は電子部品をプリント配線板上に実装する前の
電子部品とプリント配線板の側面図、図8はおもりを載
せた電子部品をプリント配線板上にセットしたときの電
子部品とプリント配線板の側面図、図9は加熱して実装
させた後の電子部品とプリント配線板の側面図、図10
は電子部品への他の押圧方法を示す電子部品とプリント
配線板の側面図、図11は電子部品へのさらに他の押圧
方法を示す電子部品とプリント配線板の側面図ある。図
において、同一符号は同一または相当部分を示し、7は
おもり、8はバネ、9は送風口である。
施例の電子部品とプリント配線板の実装方法を示すもの
で、図7は電子部品をプリント配線板上に実装する前の
電子部品とプリント配線板の側面図、図8はおもりを載
せた電子部品をプリント配線板上にセットしたときの電
子部品とプリント配線板の側面図、図9は加熱して実装
させた後の電子部品とプリント配線板の側面図、図10
は電子部品への他の押圧方法を示す電子部品とプリント
配線板の側面図、図11は電子部品へのさらに他の押圧
方法を示す電子部品とプリント配線板の側面図ある。図
において、同一符号は同一または相当部分を示し、7は
おもり、8はバネ、9は送風口である。
【0036】次に、図7〜図9により電子部品1をプリ
ント配線板3上に実装する場合について説明する。まず
プリント配線板3の導電性パッド5に接合材料6の層を
印刷法またはメッキ法などにより形成し、バンプ電極2
と導電性パッド5とを機械的または光学的に位置決めし
て、バンプ電極2を導電性パッド5上の接合材料6の上
に搭載する。そして電子部品1の上に手置きまたは機械
によりおもり7を載せて上方から押圧をかける。この状
態を維持したまま赤外線や熱風などで加熱すると、バン
プ電極2は軟化して変形する。すなわち径の大きいバン
プ電極2L が大きく変形し径の小さいバンプ電極2sが
導電性パッド5に接触するまで押圧が加えられる。
ント配線板3上に実装する場合について説明する。まず
プリント配線板3の導電性パッド5に接合材料6の層を
印刷法またはメッキ法などにより形成し、バンプ電極2
と導電性パッド5とを機械的または光学的に位置決めし
て、バンプ電極2を導電性パッド5上の接合材料6の上
に搭載する。そして電子部品1の上に手置きまたは機械
によりおもり7を載せて上方から押圧をかける。この状
態を維持したまま赤外線や熱風などで加熱すると、バン
プ電極2は軟化して変形する。すなわち径の大きいバン
プ電極2L が大きく変形し径の小さいバンプ電極2sが
導電性パッド5に接触するまで押圧が加えられる。
【0037】次に、加熱により溶融した接合材料6は、
導電性パッド5と径の大きいバンプ電極2L および径の
小さいバンプ電極2sとの間に接合フィレット6aを形
成するので、全てのバンプ電極2と導電性パッド5との
間に良好な接続が与える。そして、この接合フィレット
6aおよびバンプ電極2を冷却固化させることによりバ
ンプ電極2を導電性パッド5に電気的および機械的に接
合させて、電子部品1のプリント配線板3への実装を完
了する。
導電性パッド5と径の大きいバンプ電極2L および径の
小さいバンプ電極2sとの間に接合フィレット6aを形
成するので、全てのバンプ電極2と導電性パッド5との
間に良好な接続が与える。そして、この接合フィレット
6aおよびバンプ電極2を冷却固化させることによりバ
ンプ電極2を導電性パッド5に電気的および機械的に接
合させて、電子部品1のプリント配線板3への実装を完
了する。
【0038】このように、電子部品1の上方から押圧を
かけることにより、径の大きいバンプ電極2L を大きく
変形させて径の小さいバンプ電極2sを導電性パッド5
に充分接触させることができるので、全てのバンプ電極
2と導電性パッド5との間に良好な接続が得られる。
かけることにより、径の大きいバンプ電極2L を大きく
変形させて径の小さいバンプ電極2sを導電性パッド5
に充分接触させることができるので、全てのバンプ電極
2と導電性パッド5との間に良好な接続が得られる。
【0039】また、図10に示すようにバネ8の伸縮力
を押圧の手段とすることもでき、この場合には押圧を微
妙に変化させることができる。
を押圧の手段とすることもでき、この場合には押圧を微
妙に変化させることができる。
【0040】さらに、図11に示すように送風口9から
吐出される風圧を押圧の手段とすることもでき、この場
合には電子部品1の上面形状にあまり影響を受けること
なく押圧をかけることができる。
吐出される風圧を押圧の手段とすることもでき、この場
合には電子部品1の上面形状にあまり影響を受けること
なく押圧をかけることができる。
【0041】そして、図示はしないが、電気または油圧
などを用いたサーボ機構により押圧を制御することも可
能である。
などを用いたサーボ機構により押圧を制御することも可
能である。
【0042】実施例6.図12〜図14はこの発明の一
実施例である電子部品とプリント配線板との間にその間
隔を規制する規制手段を設けた場合の電子部品とプリン
ト配線板の実装方法を示すもので、図12はストッパー
を電子部品側に設けた場合の電子部品をプリント配線板
上に実装する前の電子部品とプリント配線板の部分側面
図、図13は加熱して実装させた後の電子部品とプリン
ト配線板の部分側面図、図14はストッパーをプリント
配線板側に設けた場合の電子部品をプリント配線板上に
実装する前の電子部品とプリント配線板の部分側面図で
ある。図において、同一符号は同一または相当部分を示
し、10は電子部品とプリント配線板との間隔を規制す
る規制手段であるところのストッパーである。
実施例である電子部品とプリント配線板との間にその間
隔を規制する規制手段を設けた場合の電子部品とプリン
ト配線板の実装方法を示すもので、図12はストッパー
を電子部品側に設けた場合の電子部品をプリント配線板
上に実装する前の電子部品とプリント配線板の部分側面
図、図13は加熱して実装させた後の電子部品とプリン
ト配線板の部分側面図、図14はストッパーをプリント
配線板側に設けた場合の電子部品をプリント配線板上に
実装する前の電子部品とプリント配線板の部分側面図で
ある。図において、同一符号は同一または相当部分を示
し、10は電子部品とプリント配線板との間隔を規制す
る規制手段であるところのストッパーである。
【0043】次に、図12、図13により、ストッパー
10を用いた場合の実装方法について説明する。ストッ
パー10の高さ寸法は径の小さいバンプ電極2sの直径
よりわずかに小さく設定され、電子部品のベース基板1
aの下側にセットされている。したがって、実施例5と
同様の方法で電子部品1をプリント配線板3上に実装す
る場合、径の大きいバンプ電極2L が大きく変形させら
れて径の小さいバンプ電極2sが導電性パッド5に接触
際に、その高さ寸法が径の小さいバンプ電極2sの直径
よりわずかに小さく設定されているストッパー10は、
必要十分なだけ径の大きいバンプ電極2L を変形させ
て、全てのバンプ電極2と導電性パッド5との間に良好
な接続を与える。すなわち、径の大きいバンプ電極2L
の過度な変形を防ぐことができる。
10を用いた場合の実装方法について説明する。ストッ
パー10の高さ寸法は径の小さいバンプ電極2sの直径
よりわずかに小さく設定され、電子部品のベース基板1
aの下側にセットされている。したがって、実施例5と
同様の方法で電子部品1をプリント配線板3上に実装す
る場合、径の大きいバンプ電極2L が大きく変形させら
れて径の小さいバンプ電極2sが導電性パッド5に接触
際に、その高さ寸法が径の小さいバンプ電極2sの直径
よりわずかに小さく設定されているストッパー10は、
必要十分なだけ径の大きいバンプ電極2L を変形させ
て、全てのバンプ電極2と導電性パッド5との間に良好
な接続を与える。すなわち、径の大きいバンプ電極2L
の過度な変形を防ぐことができる。
【0044】また、図14に示すように、ストッパー1
0をプリント配線板3の上側にセットしても同様な効果
が得られる。
0をプリント配線板3の上側にセットしても同様な効果
が得られる。
【0045】さらに、この実施例では、ストッパー10
を電子部品のベース基板1aの下側またはプリント配線
板3の上側の一部に設けた例を示しているが、これ以外
にもストッパー10を電子部品のベース基板1aの下側
またはプリント配線板3の上側の周囲を囲むように設け
てもよい。
を電子部品のベース基板1aの下側またはプリント配線
板3の上側の一部に設けた例を示しているが、これ以外
にもストッパー10を電子部品のベース基板1aの下側
またはプリント配線板3の上側の周囲を囲むように設け
てもよい。
【0046】
【発明の効果】この発明は、以上説明したように構成さ
れているので、以下に記載されるような効果を奏する。
れているので、以下に記載されるような効果を奏する。
【0047】電子部品の外部電極を形成する複数のバン
プ電極とこれらのバンプ電極の位置に対応してプリント
配線板に設けられた複数の導電性パッドとを接合させる
接合材料と、を備え、前記複数のバンプ電極のうち所定
のバンプ電極を検査用バンプ電極としたために、バンプ
電極と導電性パッドとが接合しているかどうかや電子部
品とプリント配線板との接合状態が傾いているかどう
か、または電子部品とプリント配線板との接合状態が位
置ずれしているかどうかを検出でき、バンプ電極付電子
部品が実装されたプリント配線板の接合状態を容易に効
率良く検出する効果がある。
プ電極とこれらのバンプ電極の位置に対応してプリント
配線板に設けられた複数の導電性パッドとを接合させる
接合材料と、を備え、前記複数のバンプ電極のうち所定
のバンプ電極を検査用バンプ電極としたために、バンプ
電極と導電性パッドとが接合しているかどうかや電子部
品とプリント配線板との接合状態が傾いているかどう
か、または電子部品とプリント配線板との接合状態が位
置ずれしているかどうかを検出でき、バンプ電極付電子
部品が実装されたプリント配線板の接合状態を容易に効
率良く検出する効果がある。
【0048】また、検査用バンプ電極をバンプ電極のば
らつきの範囲より小さい径の検査用バンプ電極とすれ
ば、バンプ電極と導電性パッドとが接合しているかどう
かや電子部品とプリント配線板との接合状態が傾いてい
るかどうかを検出でき、バンプ電極付電子部品が実装さ
れたプリント配線板の接合状態を容易に効率良く検出す
る効果がある。
らつきの範囲より小さい径の検査用バンプ電極とすれ
ば、バンプ電極と導電性パッドとが接合しているかどう
かや電子部品とプリント配線板との接合状態が傾いてい
るかどうかを検出でき、バンプ電極付電子部品が実装さ
れたプリント配線板の接合状態を容易に効率良く検出す
る効果がある。
【0049】また、複数のバンプ電極の四隅に位置する
バンプ電極のうち少なくとも一つを一般検査用バンプ電
極とし、前記検査用バンプ電極に隣接する位置にバンプ
電極のばらつきの範囲より小さい径の検査用バンプ電極
を設け、前記一般検査用バンプ電極と前記小さい径の検
査用バンプ電極とを導体で接続すれば、電子部品とプリ
ント配線板との接合状態が傾いているかどうかを検出で
き、バンプ電極付電子部品が実装されたプリント配線板
の接合状態を容易に効率良く検出する効果がある。
バンプ電極のうち少なくとも一つを一般検査用バンプ電
極とし、前記検査用バンプ電極に隣接する位置にバンプ
電極のばらつきの範囲より小さい径の検査用バンプ電極
を設け、前記一般検査用バンプ電極と前記小さい径の検
査用バンプ電極とを導体で接続すれば、電子部品とプリ
ント配線板との接合状態が傾いているかどうかを検出で
き、バンプ電極付電子部品が実装されたプリント配線板
の接合状態を容易に効率良く検出する効果がある。
【0050】また、複数のバンプ電極の境界を形成する
バンプ電極のうち所定のバンプ電極を検査用バンプ電極
として、この検査用バンプ電極と対応する位置のプリン
ト配線板に検査用導電性パッドを設ければ、電子部品と
プリント配線板との接合状態が位置ずれしているかどう
かを検出でき、バンプ電極付電子部品が実装されたプリ
ント配線板の接合状態を容易に効率良く検出する効果が
ある。
バンプ電極のうち所定のバンプ電極を検査用バンプ電極
として、この検査用バンプ電極と対応する位置のプリン
ト配線板に検査用導電性パッドを設ければ、電子部品と
プリント配線板との接合状態が位置ずれしているかどう
かを検出でき、バンプ電極付電子部品が実装されたプリ
ント配線板の接合状態を容易に効率良く検出する効果が
ある。
【0051】さらに、複数のバンプ電極を外部電極とす
る電子部品を有し、これらの複数のバンプ電極に対応し
て設けられた複数の導電性パッドを有するプリント配線
板上に前記電子部品を位置決めし、このプリント配線板
と前記電子部品との間に圧力を加えて前記複数のバンプ
電極と前記複数の導電性パッドとを接合材料で接合させ
るので、全てのバンプ電極を導電性パッドに接触させる
ことができ、電子部品が確実にプリント配線板に電気的
および機械的に接合できる信頼性の高いバンプ電極付電
子部品の実装方法を得る効果がある。
る電子部品を有し、これらの複数のバンプ電極に対応し
て設けられた複数の導電性パッドを有するプリント配線
板上に前記電子部品を位置決めし、このプリント配線板
と前記電子部品との間に圧力を加えて前記複数のバンプ
電極と前記複数の導電性パッドとを接合材料で接合させ
るので、全てのバンプ電極を導電性パッドに接触させる
ことができ、電子部品が確実にプリント配線板に電気的
および機械的に接合できる信頼性の高いバンプ電極付電
子部品の実装方法を得る効果がある。
【0052】そして、電子部品とプリント配線板との間
に、電子部品とプリント配線板との間隔を規制する規制
手段を設ければ、径の大きなバンプ電極を過剰に変形さ
せることなく全てのバンプ電極を導電性パッドに接触さ
せることができ、電子部品が確実にプリント配線板に電
気的および機械的に接合できる信頼性の高いバンプ電極
付電子部品の実装方法を得る効果がある。
に、電子部品とプリント配線板との間隔を規制する規制
手段を設ければ、径の大きなバンプ電極を過剰に変形さ
せることなく全てのバンプ電極を導電性パッドに接触さ
せることができ、電子部品が確実にプリント配線板に電
気的および機械的に接合できる信頼性の高いバンプ電極
付電子部品の実装方法を得る効果がある。
【図1】 この発明の実施例1による電子部品を示す側
面図である。
面図である。
【図2】 この発明の実施例2による電子部品を示す底
面図である。
面図である。
【図3】 この発明の実施例3による電子部品を示す底
面図である。
面図である。
【図4】 この発明の実施例3によるプリント配線板へ
の電子部品の実装状態を示す側面図である。
の電子部品の実装状態を示す側面図である。
【図5】 この発明の実施例4によるプリント配線板の
導電性パッドを示す平面図である。
導電性パッドを示す平面図である。
【図6】 この発明の実施例4によるプリント配線板へ
電子部品の実装状態を示す平面図である。
電子部品の実装状態を示す平面図である。
【図7】 この発明の実施例5による電子部品をプリン
ト配線板上に実装する前の電子部品とプリント配線板を
示す側面図である。
ト配線板上に実装する前の電子部品とプリント配線板を
示す側面図である。
【図8】 この発明の実施例5によるおもりを載せた電
子部品をプリント配線板上にセットしたときの電子部品
とプリント配線板を示す側面図である。
子部品をプリント配線板上にセットしたときの電子部品
とプリント配線板を示す側面図である。
【図9】 この発明の実施例5による加熱して実装させ
た後の電子部品とプリント配線板を示す側面図である。
た後の電子部品とプリント配線板を示す側面図である。
【図10】 この発明の実施例5による電子部品への他
の押圧方法を用いた電子部品とプリント配線板を示す側
面図である。
の押圧方法を用いた電子部品とプリント配線板を示す側
面図である。
【図11】 この発明の実施例5による電子部品へのさ
らに他の押圧方法を用いた電子部品とプリント配線板を
示す側面図である。
らに他の押圧方法を用いた電子部品とプリント配線板を
示す側面図である。
【図12】 この発明の実施例6によるストッパーを電
子部品側に設けた場合の電子部品をプリント配線板上に
実装する前の電子部品とプリント配線板を示す部分側面
図である。
子部品側に設けた場合の電子部品をプリント配線板上に
実装する前の電子部品とプリント配線板を示す部分側面
図である。
【図13】 この発明の実施例6による加熱して実装さ
せた後の電子部品とプリント配線板を示す側面図であ
る。
せた後の電子部品とプリント配線板を示す側面図であ
る。
【図14】 この発明の実施例6によるストッパーをプ
リント配線板側に設けた場合の電子部品をプリント配線
板上に実装する前の電子部品とプリント配線板を示す側
面図である。
リント配線板側に設けた場合の電子部品をプリント配線
板上に実装する前の電子部品とプリント配線板を示す側
面図である。
【図15】 従来例のバンプ電極を有する電子部品の実
装状態を示す側面図である。
装状態を示す側面図である。
1 電子部品、2 バンプ電極、2a 一般検査用バン
プ電極、2b 径の小さい検査用バンプ電極、2L 径
の大きいバンプ電極、2s 径の小さいバンプ電極、3
プリント配線板、5 導電性パッド、6 接合材料、
6a 接合フィレット、7 おもり、8 バネ、9 送
風口、10 ストッパー、11 導体ブリッジ、12a
X方向位置ずれ検査用導電性パッド、12b Y方向
位置ずれ検査用導電性パッド。
プ電極、2b 径の小さい検査用バンプ電極、2L 径
の大きいバンプ電極、2s 径の小さいバンプ電極、3
プリント配線板、5 導電性パッド、6 接合材料、
6a 接合フィレット、7 おもり、8 バネ、9 送
風口、10 ストッパー、11 導体ブリッジ、12a
X方向位置ずれ検査用導電性パッド、12b Y方向
位置ずれ検査用導電性パッド。
Claims (6)
- 【請求項1】 電子部品の外部電極を形成する複数のバ
ンプ電極と、前記バンプ電極の位置に対応してプリント
配線板に設けられた複数の導電性パッドと、前記複数の
導電性パッドと前記複数のバンプ電極とを接合させる接
合材料と、を備え、前記複数のバンプ電極のうち所定の
バンプ電極を検査用バンプ電極としたことを特徴とする
バンプ電極付電子部品が実装されたプリント配線板。 - 【請求項2】 検査用バンプ電極をバンプ電極のばらつ
きの範囲より小さい径の検査用バンプ電極としたことを
特徴とする請求項第1記載のバンプ電極付電子部品が実
装されたプリント配線板。 - 【請求項3】 複数のバンプ電極の四隅に位置するバン
プ電極のうち少なくとも一つを一般検査用バンプ電極と
し、前記検査用バンプ電極に隣接する位置にバンプ電極
のばらつきの範囲より小さい径の検査用バンプ電極を設
け、前記一般検査用バンプ電極と前記小さい径の検査用
バンプ電極とを導体で接続したことを特徴とする請求項
第1記載のバンプ電極付電子部品が実装されたプリント
配線板。 - 【請求項4】 複数のバンプ電極の境界を形成するバン
プ電極のうち所定のバンプ電極を検査用バンプ電極と
し、前記検査用バンプ電極と対応する位置のプリント配
線板に検査用導電性パッドを設けたことを特徴とする請
求項第1記載のバンプ電極付電子部品が実装されたプリ
ント配線板。 - 【請求項5】 複数のバンプ電極を外部電極とする電子
部品を有し、前記複数のバンプ電極に対応して設けられ
た複数の導電性パッドを有するプリント配線板上に前記
電子部品を位置決めし、前記プリント配線板と前記電子
部品との間に圧力を加え、前記複数のバンプ電極と前記
複数の導電性パッドとを接合材料で接合させることを特
徴とするバンプ電極付電子部品の実装方法。 - 【請求項6】 電子部品とプリント配線板との間に電子
部品とプリント配線板との間隔を規制する規制手段を設
けた請求項第5記載のバンプ電極付電子部品の実装方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6173947A JPH0837357A (ja) | 1994-07-26 | 1994-07-26 | バンプ電極付電子部品が実装されたプリント配線板およびその実装方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6173947A JPH0837357A (ja) | 1994-07-26 | 1994-07-26 | バンプ電極付電子部品が実装されたプリント配線板およびその実装方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0837357A true JPH0837357A (ja) | 1996-02-06 |
Family
ID=15970024
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6173947A Pending JPH0837357A (ja) | 1994-07-26 | 1994-07-26 | バンプ電極付電子部品が実装されたプリント配線板およびその実装方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0837357A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6249114B1 (en) | 1997-08-25 | 2001-06-19 | Nec Corporation | Electronic component continuity inspection method and apparatus |
| US7696527B2 (en) | 2004-08-06 | 2010-04-13 | Panasonic Corporation | Light source, manufacturing method of light source, lighting apparatus, and display apparatus |
| WO2010064341A1 (ja) * | 2008-12-01 | 2010-06-10 | パナソニック株式会社 | チップを有する半導体装置 |
| JP2017026382A (ja) * | 2015-07-17 | 2017-02-02 | 株式会社東芝 | 電子デバイス |
-
1994
- 1994-07-26 JP JP6173947A patent/JPH0837357A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6249114B1 (en) | 1997-08-25 | 2001-06-19 | Nec Corporation | Electronic component continuity inspection method and apparatus |
| US7696527B2 (en) | 2004-08-06 | 2010-04-13 | Panasonic Corporation | Light source, manufacturing method of light source, lighting apparatus, and display apparatus |
| WO2010064341A1 (ja) * | 2008-12-01 | 2010-06-10 | パナソニック株式会社 | チップを有する半導体装置 |
| US8067950B2 (en) | 2008-12-01 | 2011-11-29 | Panasonic Corporation | Semiconductor device including chip |
| JP2017026382A (ja) * | 2015-07-17 | 2017-02-02 | 株式会社東芝 | 電子デバイス |
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