JPH0837527A - Ａｔｍ交換機における集中試験装置 - Google Patents
Ａｔｍ交換機における集中試験装置Info
- Publication number
- JPH0837527A JPH0837527A JP6172530A JP17253094A JPH0837527A JP H0837527 A JPH0837527 A JP H0837527A JP 6172530 A JP6172530 A JP 6172530A JP 17253094 A JP17253094 A JP 17253094A JP H0837527 A JPH0837527 A JP H0837527A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- cell
- predetermined
- destination
- line
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L12/00—Data switching networks
- H04L12/54—Store-and-forward switching systems
- H04L12/56—Packet switching systems
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04Q—SELECTING
- H04Q11/00—Selecting arrangements for multiplex systems
- H04Q11/04—Selecting arrangements for multiplex systems for time-division multiplexing
- H04Q11/0428—Integrated services digital network, i.e. systems for transmission of different types of digitised signals, e.g. speech, data, telecentral, television signals
- H04Q11/0478—Provisions for broadband connections
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L12/00—Data switching networks
- H04L12/54—Store-and-forward switching systems
- H04L12/56—Packet switching systems
- H04L12/5601—Transfer mode dependent, e.g. ATM
- H04L2012/5628—Testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＡＴＭ交換機に関し、特にＡＴＭ交換機にお
ける特定回線やパス等を流れるセルのモニタ試験やトラ
ヒック測定等が集中的に行えるＡＴＭ交換機の集中試験
装置を提供する。 【構成】 所定の局内装置に接続される所定の回線上若
しくは交換機内パス上を流れるセルの試験を指示する試
験指示手段；試験指示手段からの指示に従ってセルの宛
て先ヘッダ情報を試験装置の宛て先ヘッダ情報に変更し
て送出する宛て先変更手段；宛て先変更手段から出力さ
れたセルをそのヘッダ情報に従って所定の局内装置へ導
くスイッチング手段；そしてスイッチング手段から受信
した前記セルをモニタすることでセルの試験を集中して
行う試験手段から構成する。
ける特定回線やパス等を流れるセルのモニタ試験やトラ
ヒック測定等が集中的に行えるＡＴＭ交換機の集中試験
装置を提供する。 【構成】 所定の局内装置に接続される所定の回線上若
しくは交換機内パス上を流れるセルの試験を指示する試
験指示手段；試験指示手段からの指示に従ってセルの宛
て先ヘッダ情報を試験装置の宛て先ヘッダ情報に変更し
て送出する宛て先変更手段；宛て先変更手段から出力さ
れたセルをそのヘッダ情報に従って所定の局内装置へ導
くスイッチング手段；そしてスイッチング手段から受信
した前記セルをモニタすることでセルの試験を集中して
行う試験手段から構成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＡＴＭ(Asynchronous Tr
ansfer Mode)交換機に関し、特にＡＴＭ交換機における
所定の回線や局内装置間のパス等を流れるＡＴＭセルの
モニタ試験やトラヒック測定等が所定カ所で集中的に実
施可能なＡＴＭ交換機の集中試験装置に関するものであ
る。
ansfer Mode)交換機に関し、特にＡＴＭ交換機における
所定の回線や局内装置間のパス等を流れるＡＴＭセルの
モニタ試験やトラヒック測定等が所定カ所で集中的に実
施可能なＡＴＭ交換機の集中試験装置に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】従来からのＡＴＭ交換機の試験方法とし
て、折り返し試験方式が提案されている。この試験方式
は試験セル発生手段で発生させた試験セルを試験セル折
り返し手段にて折り返して、ＡＴＭ通話路内の試験対象
ルートに導き、試験セル受信手段で到着セルを検査する
ことにより対象ルートの導通を確認する方法である。そ
のような折り返し試験を開示した文献としては（１）
「ＡＴＭ交換機の折り返し試験方式」出願番号Ｈ０５−
１７７８２２、（２）「ＡＴＭ交換通話路の導通試験方
式」出願番号Ｈ０２−２４３８４１、そして（３）「折
り返し試験方式」出願番号Ｈ０２−３３６４００等が上
げられる。
て、折り返し試験方式が提案されている。この試験方式
は試験セル発生手段で発生させた試験セルを試験セル折
り返し手段にて折り返して、ＡＴＭ通話路内の試験対象
ルートに導き、試験セル受信手段で到着セルを検査する
ことにより対象ルートの導通を確認する方法である。そ
のような折り返し試験を開示した文献としては（１）
「ＡＴＭ交換機の折り返し試験方式」出願番号Ｈ０５−
１７７８２２、（２）「ＡＴＭ交換通話路の導通試験方
式」出願番号Ｈ０２−２４３８４１、そして（３）「折
り返し試験方式」出願番号Ｈ０２−３３６４００等が上
げられる。
【０００３】また、上記の導通以外にもＡＴＭレイヤの
ＯＡＭ機能としてコネクションの性能モニタ（管理）の
機能が必要とされる。具体的な方法についてはＩＴＵ−
Ｔ（旧ＣＣＩＴＴ）でも検討課題としている。一般に回
線のモニターを行うには、ＤＳＸ（Digital Signal Cro
ss-Connect）部に測定器を繋ぎ回線状態をモニタするの
が一般的である。
ＯＡＭ機能としてコネクションの性能モニタ（管理）の
機能が必要とされる。具体的な方法についてはＩＴＵ−
Ｔ（旧ＣＣＩＴＴ）でも検討課題としている。一般に回
線のモニターを行うには、ＤＳＸ（Digital Signal Cro
ss-Connect）部に測定器を繋ぎ回線状態をモニタするの
が一般的である。
【０００４】図１４は、従来の回線の測定方法の一例を
示した図である。図１４において、ディジタル信号クロ
スコネクト（ＤＳＸ: Digital Signal Cross-Connect）
部６２は、アナログ回線のＭＤＦに同等し、加入回線の
光ファイバ伝送路を物理的に終端する装置である。前記
加入回線はディジタル信号クロスコネクト部６２におけ
る結線接続によりＡＴＭ交換機の加入者線インタフェー
ス回路６２に接続される。ＡＴＭスイッチ（ＡＳＳＷ:
Asynchronous transfer mode Subscriber SWitch）６１
は、呼処理プロセッサ（ＣＰＲ: Call PRosessor)６５
から与えられる交換機制御ソフトウェアの指示に従って
前記加入者線インタフェース回路６２からのＡＴＭセル
を交換接続する。
示した図である。図１４において、ディジタル信号クロ
スコネクト（ＤＳＸ: Digital Signal Cross-Connect）
部６２は、アナログ回線のＭＤＦに同等し、加入回線の
光ファイバ伝送路を物理的に終端する装置である。前記
加入回線はディジタル信号クロスコネクト部６２におけ
る結線接続によりＡＴＭ交換機の加入者線インタフェー
ス回路６２に接続される。ＡＴＭスイッチ（ＡＳＳＷ:
Asynchronous transfer mode Subscriber SWitch）６１
は、呼処理プロセッサ（ＣＰＲ: Call PRosessor)６５
から与えられる交換機制御ソフトウェアの指示に従って
前記加入者線インタフェース回路６２からのＡＴＭセル
を交換接続する。
【０００５】コンソール６４は、オペレータが前記ＡＴ
Ｍ交換機の保守・運用等を目的に使用する端末であり、
それを使って交換機側へ様々な指示を与えることができ
る。従来において、特定回線（図１４では最下段の回
線）の測定を行おうとする場合には、前記コンソール６
４から交換機側における接続状態等の試験条件を与え、
そして前記特定回線のディジタル信号クロスコネクト部
６２の結線を一旦開放して、そこに測定器６６を挿入す
ることで測定を行っていた。
Ｍ交換機の保守・運用等を目的に使用する端末であり、
それを使って交換機側へ様々な指示を与えることができ
る。従来において、特定回線（図１４では最下段の回
線）の測定を行おうとする場合には、前記コンソール６
４から交換機側における接続状態等の試験条件を与え、
そして前記特定回線のディジタル信号クロスコネクト部
６２の結線を一旦開放して、そこに測定器６６を挿入す
ることで測定を行っていた。
【０００６】
【発明が解決しょうとする課題】しかしながら、上述し
た従来の測定方法の場合には、前記コンソール６４の所
在場所付近に前記ディジタル信号クロスコネクト部６２
が存在しないことが多く、そのため両者を行き来して測
定を行う必要がある等、回線測定時の利便性が非常に悪
いという問題があった。さらに従来においては、上述し
たディジタル信号クロスコネクト部６２で被測定回線を
一旦切断する作業やその後に測定器を接続する作業等の
人手による作業が多く発生し、測定の迅速性・効率性に
も重大な問題があった。
た従来の測定方法の場合には、前記コンソール６４の所
在場所付近に前記ディジタル信号クロスコネクト部６２
が存在しないことが多く、そのため両者を行き来して測
定を行う必要がある等、回線測定時の利便性が非常に悪
いという問題があった。さらに従来においては、上述し
たディジタル信号クロスコネクト部６２で被測定回線を
一旦切断する作業やその後に測定器を接続する作業等の
人手による作業が多く発生し、測定の迅速性・効率性に
も重大な問題があった。
【０００７】そこで本発明の目的は、上述した種々の問
題に鑑み、試験保守者がコンソール等の試験端末から被
試験対象である特定回線や特定チャンネルを交換機に対
して指定し、交換機がその回線又はチャンネルを交換機
内に固定的に接続された試験装置へ自動的に引き込むこ
とによって、前記特定回線又は特定チャンネルのモニタ
試験やシュミレート試験が行えることを可能にする特定
回線や特定チャネルの試験装置を提供することにある。
題に鑑み、試験保守者がコンソール等の試験端末から被
試験対象である特定回線や特定チャンネルを交換機に対
して指定し、交換機がその回線又はチャンネルを交換機
内に固定的に接続された試験装置へ自動的に引き込むこ
とによって、前記特定回線又は特定チャンネルのモニタ
試験やシュミレート試験が行えることを可能にする特定
回線や特定チャネルの試験装置を提供することにある。
【０００８】また本発明の目的は、ＡＴＭ交換機内のユ
ーザセルをＡＴＭレイヤコネクションの送信側、受信側
または特定の中継点（接続点）で複写し、その複写した
ユーザセルを試験装置で受信モニタ可能とすることで、
リアルタイムでトラヒック特性の観測が可能とし、さら
には別々の２点（例えばユーザセルの送信側と受信側の
２点）の各ユーザセルを同時にモニタすることで、その
比較・照合等が行える試験装置を提供することにある。
ーザセルをＡＴＭレイヤコネクションの送信側、受信側
または特定の中継点（接続点）で複写し、その複写した
ユーザセルを試験装置で受信モニタ可能とすることで、
リアルタイムでトラヒック特性の観測が可能とし、さら
には別々の２点（例えばユーザセルの送信側と受信側の
２点）の各ユーザセルを同時にモニタすることで、その
比較・照合等が行える試験装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、所定の
局内装置に接続される所定の回線上若しくは交換機内パ
ス上を流れるＡＴＭセルの試験を指示する試験指示手
段；前記試験指示手段からの指示に従って前記ＡＴＭセ
ルの宛て先ヘッダ情報を局内装置として固定的に設置さ
れた試験装置の宛て先ヘッダ情報に変更して送出する前
記所定の局内装置における宛て先変更手段；前記所定の
局内装置における宛て先変更手段から出力されたＡＴＭ
セルをそのヘッダ情報に従って所定の局内装置へ導くＡ
ＴＭスイッチング手段；そして前記ＡＴＭスイッチング
手段から受信した前記ＡＴＭセルをモニタすることによ
り前記所定の局内装置に接続される所定の回線上若しく
は交換機内パス上を流れるＡＴＭセルの試験を集中して
行う前記試験装置における試験手段から成るＡＴＭ交換
機における集中試験装置が提供される。
局内装置に接続される所定の回線上若しくは交換機内パ
ス上を流れるＡＴＭセルの試験を指示する試験指示手
段；前記試験指示手段からの指示に従って前記ＡＴＭセ
ルの宛て先ヘッダ情報を局内装置として固定的に設置さ
れた試験装置の宛て先ヘッダ情報に変更して送出する前
記所定の局内装置における宛て先変更手段；前記所定の
局内装置における宛て先変更手段から出力されたＡＴＭ
セルをそのヘッダ情報に従って所定の局内装置へ導くＡ
ＴＭスイッチング手段；そして前記ＡＴＭスイッチング
手段から受信した前記ＡＴＭセルをモニタすることによ
り前記所定の局内装置に接続される所定の回線上若しく
は交換機内パス上を流れるＡＴＭセルの試験を集中して
行う前記試験装置における試験手段から成るＡＴＭ交換
機における集中試験装置が提供される。
【００１０】前記試験手段は、さらに前記試験指示手段
からの指示により前記ＡＴＭスイッチング手段から受信
したＡＴＭセルの宛て先ヘッダ情報を所定の局内装置の
宛て先ヘッダ情報に変更して折り返し送出する折り返し
手段を有し、前記折り返し手段により折り返し先の前記
所定の局内装置の宛て先ヘッダ情報を前記所定の回線上
若しくは交換機内パス上を流れるＡＴＭセルの受信先の
局内装置の宛て先ヘッダ情報に設定することで、送受信
局内装置間を接続した状態で前記所定の回線若しくは交
換機内パスのリアルタイムモニタ試験を行う。
からの指示により前記ＡＴＭスイッチング手段から受信
したＡＴＭセルの宛て先ヘッダ情報を所定の局内装置の
宛て先ヘッダ情報に変更して折り返し送出する折り返し
手段を有し、前記折り返し手段により折り返し先の前記
所定の局内装置の宛て先ヘッダ情報を前記所定の回線上
若しくは交換機内パス上を流れるＡＴＭセルの受信先の
局内装置の宛て先ヘッダ情報に設定することで、送受信
局内装置間を接続した状態で前記所定の回線若しくは交
換機内パスのリアルタイムモニタ試験を行う。
【００１１】また、前記試験手段は、前記折り返し手段
により折り返し先の前記所定の局内装置の宛て先ヘッダ
情報を前記所定の回線上若しくは交換機内パスが接続さ
れる送信元の前記所定の局内装置の宛て先ヘッダ情報に
設定することで、自らは受信側の擬似局内装置として動
作しながら前記所定の回線若しくは交換機内パスのシュ
ミーレート試験を行う。
により折り返し先の前記所定の局内装置の宛て先ヘッダ
情報を前記所定の回線上若しくは交換機内パスが接続さ
れる送信元の前記所定の局内装置の宛て先ヘッダ情報に
設定することで、自らは受信側の擬似局内装置として動
作しながら前記所定の回線若しくは交換機内パスのシュ
ミーレート試験を行う。
【００１２】そして、具体的にはフレームリレー回線の
特定チャネルに対応したセルの抽出部、及びその抽出さ
れた特定チャネルのセルデータをフレーム信号に組立る
フレーミング部を有して前記フレーム信号をモニタする
ことによってフレームリレーモニタ試験を行い、又は特
定回線又はパスを流れるＡＴＭセルのＶＰＩ／ＶＣＩの
読み出しを行ってそのセルをカウントするＶＰＩ／ＶＣ
Ｉカウント部を有して前記カウント値を使って特定回線
又はパスのトラヒック特性試験を行う。さらには、前記
試験手段は、フレームリレー回線の特定チャネルに対応
したセルの挿入／抽出を行う挿入／抽出部、及び挿入／
抽出される特定チャネルのセルデータをフレーム信号に
分解／組立るフレーミング部を有してそれによってフレ
ームリレーシュミレート試験を行う。
特定チャネルに対応したセルの抽出部、及びその抽出さ
れた特定チャネルのセルデータをフレーム信号に組立る
フレーミング部を有して前記フレーム信号をモニタする
ことによってフレームリレーモニタ試験を行い、又は特
定回線又はパスを流れるＡＴＭセルのＶＰＩ／ＶＣＩの
読み出しを行ってそのセルをカウントするＶＰＩ／ＶＣ
Ｉカウント部を有して前記カウント値を使って特定回線
又はパスのトラヒック特性試験を行う。さらには、前記
試験手段は、フレームリレー回線の特定チャネルに対応
したセルの挿入／抽出を行う挿入／抽出部、及び挿入／
抽出される特定チャネルのセルデータをフレーム信号に
分解／組立るフレーミング部を有してそれによってフレ
ームリレーシュミレート試験を行う。
【００１３】また本発明によれば、前記宛て先変更手段
は、さらに前記試験指示手段からの指示を受けた際に試
験指示された前記所定の局内装置に接続される所定の回
線上若しくは交換機内パス上を流れるＡＴＭセルを複写
する複写手段を含み、前記複写手段によって複写された
複写セルに対してだけその宛て先ヘッダ情報を局内装置
として固定的に設置された試験装置の宛て先ヘッダ情報
に変更し、前記複写元のＡＴＭセルとともに送出するＡ
ＴＭ交換機における集中試験装置が与えられる。
は、さらに前記試験指示手段からの指示を受けた際に試
験指示された前記所定の局内装置に接続される所定の回
線上若しくは交換機内パス上を流れるＡＴＭセルを複写
する複写手段を含み、前記複写手段によって複写された
複写セルに対してだけその宛て先ヘッダ情報を局内装置
として固定的に設置された試験装置の宛て先ヘッダ情報
に変更し、前記複写元のＡＴＭセルとともに送出するＡ
ＴＭ交換機における集中試験装置が与えられる。
【００１４】前記複写手段は、複写対象ユーザセルの上
り又は下り方向のいずれかを選択するセレクタ、ＶＰＩ
／ＶＣＩ照合値と一致したセルの複写を行うＶＰＩ／Ｖ
ＣＩ照合／セル複写部、複写セルのヘッダ部を付け替え
るヘッダ変換部、そして前記試験指示手段からの指示に
より前記セレクタに選択指示を与え、前記ＶＰＩ／ＶＣ
Ｉ照合／セル複写部にその照合値及び／又は複写送出す
るための一致回数又は送出時間間隔等を与え、前記ヘッ
ダ部に替え用の送出ヘッダ値を与えるコントロール部か
ら構成され、前記試験指示された前記所定の局内装置に
接続される所定の回線上若しくは交換機内パス上を流れ
るＡＴＭセルを所定の時間間隔毎に１つ複写したり、又
は前記ＡＴＭセルを所定の数だけ検出した際に１つ複写
するように設定できる。
り又は下り方向のいずれかを選択するセレクタ、ＶＰＩ
／ＶＣＩ照合値と一致したセルの複写を行うＶＰＩ／Ｖ
ＣＩ照合／セル複写部、複写セルのヘッダ部を付け替え
るヘッダ変換部、そして前記試験指示手段からの指示に
より前記セレクタに選択指示を与え、前記ＶＰＩ／ＶＣ
Ｉ照合／セル複写部にその照合値及び／又は複写送出す
るための一致回数又は送出時間間隔等を与え、前記ヘッ
ダ部に替え用の送出ヘッダ値を与えるコントロール部か
ら構成され、前記試験指示された前記所定の局内装置に
接続される所定の回線上若しくは交換機内パス上を流れ
るＡＴＭセルを所定の時間間隔毎に１つ複写したり、又
は前記ＡＴＭセルを所定の数だけ検出した際に１つ複写
するように設定できる。
【００１５】
【作用】試験保守者がコンソール等の試験端末から被試
験対象である特定回線や特定チャネルを指定すると、交
換機制御ソフトウェア等の試験指示手段から宛て先変更
手段に対して、例えばヘッダ部の宛て先ヘッダ情報（Ｔ
ＡＧ）を試験機の宛て先ヘッダ情報（ＴＡＧ）へ変更す
るよう、指示が発せられる。ＡＴＭスイッチング手段
は、その変更されたヘッダでスイッチング動作を行って
前記特定回線や特定チャンネル上のＡＴＭセルを交換機
内に固定的に接続された試験装置へルーティングする。
従って、従来のようにケーブル接続の開放及びそこへの
試験機の挿入接続等の人手作業は一切発生せず、また試
験機は交換機内の一か所に固定したままで、全ての回線
やパスの状態を集中的に試験できる。
験対象である特定回線や特定チャネルを指定すると、交
換機制御ソフトウェア等の試験指示手段から宛て先変更
手段に対して、例えばヘッダ部の宛て先ヘッダ情報（Ｔ
ＡＧ）を試験機の宛て先ヘッダ情報（ＴＡＧ）へ変更す
るよう、指示が発せられる。ＡＴＭスイッチング手段
は、その変更されたヘッダでスイッチング動作を行って
前記特定回線や特定チャンネル上のＡＴＭセルを交換機
内に固定的に接続された試験装置へルーティングする。
従って、従来のようにケーブル接続の開放及びそこへの
試験機の挿入接続等の人手作業は一切発生せず、また試
験機は交換機内の一か所に固定したままで、全ての回線
やパスの状態を集中的に試験できる。
【００１６】また前記複写手段は、ＡＴＭ交換機内のユ
ーザセルをＡＴＭレイヤコネクションの送信側、受信側
または特定の中継点（接続点）で複写し、その複写した
ユーザセルを試験装置で受信モニタ可能とする。この場
合には、前記試験手段は、前記所定の回線上若しくは交
換機内パスが接続された送信側の局内装置からの前記複
写セル、受信側の局内装置からの前記複写セル、又はそ
の中継点における局内装置からの前記複写セルを受信モ
ニタすることができ、さらに２つの局内装置からの前記
複写セルを両方とも受信し、それによってその間の所定
の比較試験を行うことが可能になる。一例としては、２
点間におけるセル損失率、セル混入率、又はビット誤り
率等の試験若しくは測定が可能となる。また、その際に
はより正確な試験を行うためにユーザセルの代わりに疑
似ユーザセルを用いることもできる。
ーザセルをＡＴＭレイヤコネクションの送信側、受信側
または特定の中継点（接続点）で複写し、その複写した
ユーザセルを試験装置で受信モニタ可能とする。この場
合には、前記試験手段は、前記所定の回線上若しくは交
換機内パスが接続された送信側の局内装置からの前記複
写セル、受信側の局内装置からの前記複写セル、又はそ
の中継点における局内装置からの前記複写セルを受信モ
ニタすることができ、さらに２つの局内装置からの前記
複写セルを両方とも受信し、それによってその間の所定
の比較試験を行うことが可能になる。一例としては、２
点間におけるセル損失率、セル混入率、又はビット誤り
率等の試験若しくは測定が可能となる。また、その際に
はより正確な試験を行うためにユーザセルの代わりに疑
似ユーザセルを用いることもできる。
【００１７】
【実施例】図１は、ＡＴＭ交換機の基本的な構成とその
動作の一例の説明図である。図１において、回線からの
入力データ（セルＡ、セルＢ）は、ＡＴＭ加入者インタ
フェースカード等からなる個別回線部Ａ（ＩＮＦＡ）１
において、後段のＡＴＭスイッチ（ＡＳＳＷ : Asynchr
onous transfer mode Subscriber SWitch ）４で交換可
能な形式にセル化され、そして次段の共通部Ａ２に与え
られる。加入者収容装置等からなる共通部Ａ２は、ＡＴ
Ｍスイッチ４側への上り方向のセルに対してＶＣＣ(Vir
tual Channel Controller)機能を実行する。なお、個別
回線部と共通部とを合わせて加入者系インタフェース装
置（ＳＩＦＳＨ : SubscriberInterFace SHelf ）とい
う。
動作の一例の説明図である。図１において、回線からの
入力データ（セルＡ、セルＢ）は、ＡＴＭ加入者インタ
フェースカード等からなる個別回線部Ａ（ＩＮＦＡ）１
において、後段のＡＴＭスイッチ（ＡＳＳＷ : Asynchr
onous transfer mode Subscriber SWitch ）４で交換可
能な形式にセル化され、そして次段の共通部Ａ２に与え
られる。加入者収容装置等からなる共通部Ａ２は、ＡＴ
Ｍスイッチ４側への上り方向のセルに対してＶＣＣ(Vir
tual Channel Controller)機能を実行する。なお、個別
回線部と共通部とを合わせて加入者系インタフェース装
置（ＳＩＦＳＨ : SubscriberInterFace SHelf ）とい
う。
【００１８】前記ＶＣＣ機能とは、入力セルのＶＰＩ／
ＶＣＩに対応する交換機内のルーティング情報であるＴ
ＡＧ情報を共通部内のＶＣＣテーブルを使って検索し、
対応するＶＰＩ／ＶＣＩ及びＴＡＧ情報をその入力セル
のヘッダ部に付与する機能をいう。前記ＶＣＣ機能の実
行によって入力セルのヘッダ部がその検索された値に書
き換えられ若しくは付け替えられる。図１の例では、共
通部Ａ１のＶＣＣテーブル３から、チャネル番号（ＶＰ
Ｉ／ＶＣＩ）３０のセルＡに対してはＴＡＧ＝ＴＡＧ１
が、そしてチャネル番号３０のセルＢに対してはＴＡＧ
＝ＴＡＧ２がそれぞれ与えられる。なお、共通部のＶＣ
Ｃテーブルの情報は、初期設定時若しくは呼設定時に交
換機制御ソフトウェアによって設定される。
ＶＣＩに対応する交換機内のルーティング情報であるＴ
ＡＧ情報を共通部内のＶＣＣテーブルを使って検索し、
対応するＶＰＩ／ＶＣＩ及びＴＡＧ情報をその入力セル
のヘッダ部に付与する機能をいう。前記ＶＣＣ機能の実
行によって入力セルのヘッダ部がその検索された値に書
き換えられ若しくは付け替えられる。図１の例では、共
通部Ａ１のＶＣＣテーブル３から、チャネル番号（ＶＰ
Ｉ／ＶＣＩ）３０のセルＡに対してはＴＡＧ＝ＴＡＧ１
が、そしてチャネル番号３０のセルＢに対してはＴＡＧ
＝ＴＡＧ２がそれぞれ与えられる。なお、共通部のＶＣ
Ｃテーブルの情報は、初期設定時若しくは呼設定時に交
換機制御ソフトウェアによって設定される。
【００１９】ＡＴＭスイッチ（ＡＳＳＷ）４は、ＡＴＭ
セルを前記ＴＡＧ情報を使ってスイッチングし、その結
果としてセルＡはＴＡＧ１に対応する個別回線部Ｂ（Ｉ
ＮＦＢ）６へ、そしてセルＢはＴＡＧ２に対応する個別
回線部Ｃ（ＩＮＦＣ）７へそれぞれルーティングされ
る。前記個別回線部Ｂ６及個別回線部Ｃ７の各回線（チ
ャネル）からは、それぞれ復元されたデータ（セルＡ、
セルＢ）が出力される。
セルを前記ＴＡＧ情報を使ってスイッチングし、その結
果としてセルＡはＴＡＧ１に対応する個別回線部Ｂ（Ｉ
ＮＦＢ）６へ、そしてセルＢはＴＡＧ２に対応する個別
回線部Ｃ（ＩＮＦＣ）７へそれぞれルーティングされ
る。前記個別回線部Ｂ６及個別回線部Ｃ７の各回線（チ
ャネル）からは、それぞれ復元されたデータ（セルＡ、
セルＢ）が出力される。
【００２０】図２は、ＡＴＭ交換機内で用いられる前記
ＴＡＧ情報を付加したＡＴＭセルフォーマットの一例を
示したものである。図２に示すように、ＴＡＧ情報を付
加したことによってＡＴＭ交換機内で用いられるＡＴＭ
セルのヘッダ部は６バイトと一般のＡＴＭセルより１バ
イト多くなっている。ＴＡＧＡ，Ｂ等はＡＴＭスイッチ
やハイウェイ等の方路選択用に用いられ、そしてＴＡＧ
Ｃは加入者系インターフェース装置（ＳＩＦＳＨ）内の
回線選択用として用いられる。
ＴＡＧ情報を付加したＡＴＭセルフォーマットの一例を
示したものである。図２に示すように、ＴＡＧ情報を付
加したことによってＡＴＭ交換機内で用いられるＡＴＭ
セルのヘッダ部は６バイトと一般のＡＴＭセルより１バ
イト多くなっている。ＴＡＧＡ，Ｂ等はＡＴＭスイッチ
やハイウェイ等の方路選択用に用いられ、そしてＴＡＧ
Ｃは加入者系インターフェース装置（ＳＩＦＳＨ）内の
回線選択用として用いられる。
【００２１】図３は、共通部におけるＶＣＣテーブルの
一構成例を図式的に示したものである。図３に示すＶＣ
Ｃテーブルによって、入力セルのＶＰＩ／ＶＣＩに対応
するＶＰＩ／ＶＣＩ及びＴＡＧ情報が得られる。共通部
では前記ＶＣＣテーブルを参照して入力セルのＶＰＩ／
ＶＣＩを付け替えると共に、そのＴＡＧ情報を付加す
る。なお、ＶＣＣテーブルの右側のＥｎａｂｌｅ／Ｄｉ
ｓａｂｌｅ欄は、例えばＡＣＴ系とＳＢＹ系の二系統の
セルを使用するような場合に、一方のセルの有効／無効
を指示するために使われる。
一構成例を図式的に示したものである。図３に示すＶＣ
Ｃテーブルによって、入力セルのＶＰＩ／ＶＣＩに対応
するＶＰＩ／ＶＣＩ及びＴＡＧ情報が得られる。共通部
では前記ＶＣＣテーブルを参照して入力セルのＶＰＩ／
ＶＣＩを付け替えると共に、そのＴＡＧ情報を付加す
る。なお、ＶＣＣテーブルの右側のＥｎａｂｌｅ／Ｄｉ
ｓａｂｌｅ欄は、例えばＡＣＴ系とＳＢＹ系の二系統の
セルを使用するような場合に、一方のセルの有効／無効
を指示するために使われる。
【００２２】図４は、本発明によるモニタ装置を使った
指定回線の集中試験構成の一例を示したものである。図
４と図１との間のブロック構成上の相違は、図４におい
て共通部Ｃ８及びモニタ装置１０が新たに追加されてい
る点にある。なお、図４において図１と同じものについ
ては同一の符号を付しており、それらについてここでは
更めて説明しない。また、図４では図１で説明した個別
回線部（ＩＮＦＡ）１における入力セルＡ及びセルＢが
ＡＴＭスイッチ（ＡＳＳＷ）４を介して個別回線部Ｂ
（ＩＮＦＢ）６及び個別回線部Ｃ（ＩＮＦＣ）７へそれ
ぞれルーティングされる場合を対象としている。
指定回線の集中試験構成の一例を示したものである。図
４と図１との間のブロック構成上の相違は、図４におい
て共通部Ｃ８及びモニタ装置１０が新たに追加されてい
る点にある。なお、図４において図１と同じものについ
ては同一の符号を付しており、それらについてここでは
更めて説明しない。また、図４では図１で説明した個別
回線部（ＩＮＦＡ）１における入力セルＡ及びセルＢが
ＡＴＭスイッチ（ＡＳＳＷ）４を介して個別回線部Ｂ
（ＩＮＦＢ）６及び個別回線部Ｃ（ＩＮＦＣ）７へそれ
ぞれルーティングされる場合を対象としている。
【００２３】図４において、個別回線部Ａ１の回線上の
データ（セルＡ、セルＢ）をモニタしたい場合には、ま
ず交換機制御ソフトウェアによって共通部Ａ２における
ＶＣＣテーブル３のセルＡ及びセルＢのタグ情報（ＴＡ
Ｇ１，ＴＡＧ２）（図１参照）を、ともに共通部Ｃ８を
介して回線集中試験を行うためのモニタ装置１０のタグ
情報（ＴＡＧ３）に書き換える。次に、前記モニタ装置
１０を経由した迂回ルートを形成してセルＡ及びセルＢ
をもとの終端装置である個別回線部Ｂ６及び個別回線部
Ｃ７へそれぞれルーティングするために、交換機制御ソ
フトウェアによって共通部Ｃ８におけるＶＣＣテーブル
９のセルＡ及びセルＢのタグ情報を上記ＶＣＣテーブル
３と同じ値（ＴＡＧ１，ＴＡＧ２）にそれぞれ書き換え
る。
データ（セルＡ、セルＢ）をモニタしたい場合には、ま
ず交換機制御ソフトウェアによって共通部Ａ２における
ＶＣＣテーブル３のセルＡ及びセルＢのタグ情報（ＴＡ
Ｇ１，ＴＡＧ２）（図１参照）を、ともに共通部Ｃ８を
介して回線集中試験を行うためのモニタ装置１０のタグ
情報（ＴＡＧ３）に書き換える。次に、前記モニタ装置
１０を経由した迂回ルートを形成してセルＡ及びセルＢ
をもとの終端装置である個別回線部Ｂ６及び個別回線部
Ｃ７へそれぞれルーティングするために、交換機制御ソ
フトウェアによって共通部Ｃ８におけるＶＣＣテーブル
９のセルＡ及びセルＢのタグ情報を上記ＶＣＣテーブル
３と同じ値（ＴＡＧ１，ＴＡＧ２）にそれぞれ書き換え
る。
【００２４】これによって、個別回路部Ａ１からのセル
Ａ及びセルＢは、一旦モニタ装置１０に引き込まれる。
モニタ装置１０では、引き込まれたセルＡ及びセルＢを
折り返すとともに、それに接続される外部の測定器に適
合するようフォーマット変換を行って出力する。前記モ
ニタ装置１０を迂回したセルＡ及びセルＢは、終端の個
別回線部Ｂ６及び個別回線部Ｃ７からそれぞれ出力され
る。このように、本発明によれば交換機内の一か所に固
定的に設置されたモニタ装置１０を使って、任意の回線
をリアルタイムで簡単に監視することができる。しかも
この場合、セルのルーティングに関しては図１の場合と
全く同じ状態を達成できる。なお、ＶＣＣテーブルの書
き換えは自体は交換機制御ソフトウェアで行うが、その
起動はシステム制御コンソールから被試験回線の指定を
直接行う。
Ａ及びセルＢは、一旦モニタ装置１０に引き込まれる。
モニタ装置１０では、引き込まれたセルＡ及びセルＢを
折り返すとともに、それに接続される外部の測定器に適
合するようフォーマット変換を行って出力する。前記モ
ニタ装置１０を迂回したセルＡ及びセルＢは、終端の個
別回線部Ｂ６及び個別回線部Ｃ７からそれぞれ出力され
る。このように、本発明によれば交換機内の一か所に固
定的に設置されたモニタ装置１０を使って、任意の回線
をリアルタイムで簡単に監視することができる。しかも
この場合、セルのルーティングに関しては図１の場合と
全く同じ状態を達成できる。なお、ＶＣＣテーブルの書
き換えは自体は交換機制御ソフトウェアで行うが、その
起動はシステム制御コンソールから被試験回線の指定を
直接行う。
【００２５】図５は、図４においてトラッフィック特性
試験を行う場合の具体的な実施例を示している。図５に
おいて、回線インタフェース装置（ＩＮＦ）１２，１３
は、図４の個別回線部と共通部とを合わせた加入者系イ
ンタフェース装置（ＳＩＦＳＨ : Subscriber InterFac
e SHelf ）として描かれている。また、トラフィックカ
ウンタ装置１０は、図４の共通部Ｃ８とそのＶＣＣ機能
を含むものとして描かれている。オペレータは、ワーク
ステーションやパーソナルコンピュータ等から成る試験
端末１４を使って、前記トラフィックカウンタ装置１０
に入力されたセルのうちのトラヒック特性試験の対象と
なるセルのＶＰＩ／ＶＣＩを指定する。
試験を行う場合の具体的な実施例を示している。図５に
おいて、回線インタフェース装置（ＩＮＦ）１２，１３
は、図４の個別回線部と共通部とを合わせた加入者系イ
ンタフェース装置（ＳＩＦＳＨ : Subscriber InterFac
e SHelf ）として描かれている。また、トラフィックカ
ウンタ装置１０は、図４の共通部Ｃ８とそのＶＣＣ機能
を含むものとして描かれている。オペレータは、ワーク
ステーションやパーソナルコンピュータ等から成る試験
端末１４を使って、前記トラフィックカウンタ装置１０
に入力されたセルのうちのトラヒック特性試験の対象と
なるセルのＶＰＩ／ＶＣＩを指定する。
【００２６】トラフィックカウンタ装置１０は、前記指
定された特定チャネル（ＶＰＩ／ＶＣＩ単位）若しくは
特定パス（ＶＰＩ単位）ごとの受信セルを計数し、その
単位時間あたりの回線使用率、統計を行う為のデータ収
集等を行って外部装置に通知する。なお、本実施例で
は、前記トラフィックカウンタ装置１０が自ら受信セル
の折り返し及びそのヘッダ部に対する送出先のＴＡＧ情
報の書き換え若しくは付け替えを行う。
定された特定チャネル（ＶＰＩ／ＶＣＩ単位）若しくは
特定パス（ＶＰＩ単位）ごとの受信セルを計数し、その
単位時間あたりの回線使用率、統計を行う為のデータ収
集等を行って外部装置に通知する。なお、本実施例で
は、前記トラフィックカウンタ装置１０が自ら受信セル
の折り返し及びそのヘッダ部に対する送出先のＴＡＧ情
報の書き換え若しくは付け替えを行う。
【００２７】図６は、本発明によるシュミレート装置を
使った指定回線の集中試験構成の一例を示したものであ
る。図６と先に説明した図４との間の相違は、図４のモ
ニタ装置１０の代わりに図６ではシュミレート装置１１
を用いている点だけである。なお、図６においても図１
と同じものについては同一の符号を付しており、それら
についてここでは更めて説明しない。
使った指定回線の集中試験構成の一例を示したものであ
る。図６と先に説明した図４との間の相違は、図４のモ
ニタ装置１０の代わりに図６ではシュミレート装置１１
を用いている点だけである。なお、図６においても図１
と同じものについては同一の符号を付しており、それら
についてここでは更めて説明しない。
【００２８】図６において、指定回線をシュミレート試
験する場合には、図４で説明したのと同様にまず交換機
制御ソフトウェアによって共通部Ａ２におけるＶＣＣテ
ーブル３のセルＡ及びセルＢのタグ情報（ＴＡＧ１，Ｔ
ＡＧ２）（図１参照）を、ともに共通部Ｃ８を介して回
線集中試験を行うためのシュミレート装置１１のタグ情
報（ＴＡＧ３）に書き換える。次に、前記シュミレート
装置１１からセルＡ及びセルＢのシュミレート結果を送
信側の個別回線部Ａ１へ送り返すために、交換機制御ソ
フトウェアによって共通部Ｃ８におけるＶＣＣテーブル
９のセルＡ及びセルＢのタグ情報をともに上記個別回線
部Ａ１のＴＡＧ情報（ＴＡＧ４）にそれぞれ書き換え
る。
験する場合には、図４で説明したのと同様にまず交換機
制御ソフトウェアによって共通部Ａ２におけるＶＣＣテ
ーブル３のセルＡ及びセルＢのタグ情報（ＴＡＧ１，Ｔ
ＡＧ２）（図１参照）を、ともに共通部Ｃ８を介して回
線集中試験を行うためのシュミレート装置１１のタグ情
報（ＴＡＧ３）に書き換える。次に、前記シュミレート
装置１１からセルＡ及びセルＢのシュミレート結果を送
信側の個別回線部Ａ１へ送り返すために、交換機制御ソ
フトウェアによって共通部Ｃ８におけるＶＣＣテーブル
９のセルＡ及びセルＢのタグ情報をともに上記個別回線
部Ａ１のＴＡＧ情報（ＴＡＧ４）にそれぞれ書き換え
る。
【００２９】本実施例では、個別回路部Ａ１からのセル
Ａ及びセルＢは、シュミレート装置１１に取り込まれ、
シュミレート装置１１では引き込まれたセルＡ及びセル
Ｂのフォーマット変換等を行ってそのデータを外部のプ
ロトコルアナライザに出力する。前記プロトコルアナラ
イザは、例えば共通部Ｂ５や各個別回路部Ｂ，Ｃ６，７
等の正確な動作をシュミレートして前記セルＡ及びセル
Ｂの入力に対する応答結果を個別回路部Ａ１に送出す
る。このように、本発明によれば交換機内の一か所に固
定的に設置されたシュミレート装置１１を使い、そして
システム制御コンソール等から被試験回線を指定するこ
とによって、任意の回線の動作を独立且つ正確にシュミ
レートすることができ、回線障害箇所の診断や検出等を
効率よく実施することができる。
Ａ及びセルＢは、シュミレート装置１１に取り込まれ、
シュミレート装置１１では引き込まれたセルＡ及びセル
Ｂのフォーマット変換等を行ってそのデータを外部のプ
ロトコルアナライザに出力する。前記プロトコルアナラ
イザは、例えば共通部Ｂ５や各個別回路部Ｂ，Ｃ６，７
等の正確な動作をシュミレートして前記セルＡ及びセル
Ｂの入力に対する応答結果を個別回路部Ａ１に送出す
る。このように、本発明によれば交換機内の一か所に固
定的に設置されたシュミレート装置１１を使い、そして
システム制御コンソール等から被試験回線を指定するこ
とによって、任意の回線の動作を独立且つ正確にシュミ
レートすることができ、回線障害箇所の診断や検出等を
効率よく実施することができる。
【００３０】図７は、図６においてフレームリレー回線
試験を行う場合の具体的な実施例を示している。図７に
おいて、フレームリレー・インタフェースユニット（Ｆ
ＲＩＵ）Ａ，Ｂ１９，２０は、データ伝送速度１．５Ｍ
ｂ／ｓのＤＳ１回線若しくは４５Ｍｂ／ｓのＤＳ３回線
に接続されている。フレームリレー・インタフェースユ
ニットＡ，Ｂ１９，２０は、図６に示す個別回線部及び
共通部の各機能を合わせ持っている。また、ＦＲＩＵ試
験装置１１は、図６の共通部Ｃ８及びそのＶＣＣ機能を
含むものとして描かれている。オペレータは、試験端末
１４を使って、前記ＦＲＩＵ試験装置１１で試験対象と
なる特定チャネルを指定する。
試験を行う場合の具体的な実施例を示している。図７に
おいて、フレームリレー・インタフェースユニット（Ｆ
ＲＩＵ）Ａ，Ｂ１９，２０は、データ伝送速度１．５Ｍ
ｂ／ｓのＤＳ１回線若しくは４５Ｍｂ／ｓのＤＳ３回線
に接続されている。フレームリレー・インタフェースユ
ニットＡ，Ｂ１９，２０は、図６に示す個別回線部及び
共通部の各機能を合わせ持っている。また、ＦＲＩＵ試
験装置１１は、図６の共通部Ｃ８及びそのＶＣＣ機能を
含むものとして描かれている。オペレータは、試験端末
１４を使って、前記ＦＲＩＵ試験装置１１で試験対象と
なる特定チャネルを指定する。
【００３１】フレームリレー回線のフレームリレー・イ
ンタフェースユニットＡ１９とフレームリレー・インタ
フェースユニットＢ２０との間の特定チャンネルのシュ
ミレート試験を行う場合、ＦＲＩＵ試験装置１１は、ま
ずＦＲＩＵ試験装置１１へフレームリレー・インタフェ
ースユニットＡ１９からの回線引き込みを行う。次に図
７で示すＤＳ１回線に対しては１／２４チャネル選択部
１６を使って試験対象となる所望の１チャネルを選択し
（２４チャネルのうちの１チャネル）、それをフレーミ
ング部１７においてフレーム単位のチャネル情報に組み
立て、そして前記チャネル情報をＶ１１等の電気的イン
タフェースにより伝送速度６４Ｋｂ／ｓで接続されたプ
ロトコルアナライザ１８へ出力する。
ンタフェースユニットＡ１９とフレームリレー・インタ
フェースユニットＢ２０との間の特定チャンネルのシュ
ミレート試験を行う場合、ＦＲＩＵ試験装置１１は、ま
ずＦＲＩＵ試験装置１１へフレームリレー・インタフェ
ースユニットＡ１９からの回線引き込みを行う。次に図
７で示すＤＳ１回線に対しては１／２４チャネル選択部
１６を使って試験対象となる所望の１チャネルを選択し
（２４チャネルのうちの１チャネル）、それをフレーミ
ング部１７においてフレーム単位のチャネル情報に組み
立て、そして前記チャネル情報をＶ１１等の電気的イン
タフェースにより伝送速度６４Ｋｂ／ｓで接続されたプ
ロトコルアナライザ１８へ出力する。
【００３２】前記プロトコルアナライザ１８は、前記チ
ャネル情報を用いて前記フレームリレー・インタフェー
スユニットＡ１９のシュミレート試験を行い、その結果
を前記フレームリレー・インタフェースユニットＡ１９
に折り返す。その際、ＶＣＣ機能を使って折り返すセル
のヘッダ部に送出先のＴＡＧ情報の書き換え若しくは付
け替えを行う。
ャネル情報を用いて前記フレームリレー・インタフェー
スユニットＡ１９のシュミレート試験を行い、その結果
を前記フレームリレー・インタフェースユニットＡ１９
に折り返す。その際、ＶＣＣ機能を使って折り返すセル
のヘッダ部に送出先のＴＡＧ情報の書き換え若しくは付
け替えを行う。
【００３３】図８は、本発明によってユーザセルを複写
して試験装置へ送出するための共通部の一回路構成例を
示したものである。この共通部は図１では共通部Ａ２や
共通部Ｂ５と対応する。図５において、分離部（ＤＭＵ
Ｘ）２３は、ＡＴＭスイッチ（ＡＳＳＷ）からの下りハ
イウェイデータをセルヘッダー内のＴＡＧによって識別
し（ＴＡＧが一致したセルを引き込む。）、それによっ
て前記下りハイウェイデータを加入者系インタフェース
装置（ＳＩＦＳＨ）内の各個別回線部（ＩＮＦ）のデー
タと共通部用のデータとに分離する。ので、それぞれの
データはセルヘッダー内のＴＡＧによって識別される。
して試験装置へ送出するための共通部の一回路構成例を
示したものである。この共通部は図１では共通部Ａ２や
共通部Ｂ５と対応する。図５において、分離部（ＤＭＵ
Ｘ）２３は、ＡＴＭスイッチ（ＡＳＳＷ）からの下りハ
イウェイデータをセルヘッダー内のＴＡＧによって識別
し（ＴＡＧが一致したセルを引き込む。）、それによっ
て前記下りハイウェイデータを加入者系インタフェース
装置（ＳＩＦＳＨ）内の各個別回線部（ＩＮＦ）のデー
タと共通部用のデータとに分離する。ので、それぞれの
データはセルヘッダー内のＴＡＧによって識別される。
【００３４】次に、ＡＴＭスイッチへの上り方向のハイ
ウェイデータについて説明する。なお、ＶＣＣ部２２
は、図１でＶＣＣ機能としてすでに説明してあるのでこ
こでは更めて説明しない。多重部（ＭＵＸ）２４は、加
入者系インタフェース装置に搭載される８加入者カード
（スロット０〜７）からのデータと共通部からのシグナ
リングデータをセル多重化してＡＴＭスイッチへの上り
ハイウェイデータを作成する。
ウェイデータについて説明する。なお、ＶＣＣ部２２
は、図１でＶＣＣ機能としてすでに説明してあるのでこ
こでは更めて説明しない。多重部（ＭＵＸ）２４は、加
入者系インタフェース装置に搭載される８加入者カード
（スロット０〜７）からのデータと共通部からのシグナ
リングデータをセル多重化してＡＴＭスイッチへの上り
ハイウェイデータを作成する。
【００３５】本発明によるユーザセルの複写送出部３０
は、図８において点線で囲んで示してある。前記ユーザ
セルの複写送出部３０において、コントロール部２８は
装置外部からの試験指示により、セレクタ２５を制御し
て複写対象ユーザセルの上り又は下り方向のいずれかを
選択する。また、コントロール部２８は、ＶＰＩ／ＶＣ
Ｉ照合値と一致したセルの複写を行うＶＰＩ／ＶＣＩ照
合／セル複写部２６に対して前記照合値や複写送出する
ための一致回数又は送出する時間間隔等を指定できる。
さらに、コントロール部２８は、複写セルを試験用装置
へ送出するヘッダ変換部２７（ＶＣＣ機能と同じ。）に
対して、その付け替え用の送出ヘッダ値を与える。
は、図８において点線で囲んで示してある。前記ユーザ
セルの複写送出部３０において、コントロール部２８は
装置外部からの試験指示により、セレクタ２５を制御し
て複写対象ユーザセルの上り又は下り方向のいずれかを
選択する。また、コントロール部２８は、ＶＰＩ／ＶＣ
Ｉ照合値と一致したセルの複写を行うＶＰＩ／ＶＣＩ照
合／セル複写部２６に対して前記照合値や複写送出する
ための一致回数又は送出する時間間隔等を指定できる。
さらに、コントロール部２８は、複写セルを試験用装置
へ送出するヘッダ変換部２７（ＶＣＣ機能と同じ。）に
対して、その付け替え用の送出ヘッダ値を与える。
【００３６】このように、本発明によれば試験指示によ
って特定のユーザセルを複写し、それを試験装置へ即座
に送ることが可能となり、交換機内に固定的に配置され
た集中試験装置で特定の回線若しくは回線群をリアルタ
イムでモニタすることが可能となる。
って特定のユーザセルを複写し、それを試験装置へ即座
に送ることが可能となり、交換機内に固定的に配置され
た集中試験装置で特定の回線若しくは回線群をリアルタ
イムでモニタすることが可能となる。
【００３７】図９は、共通部に対する試験指示通知方法
の一例を示したものである。図９において、ＡＴＭスイ
ッチ（ＡＳＳＷ）３５，３６は、ＩＮ方向とＯＵＴ方向
の２種からなる。各加入者系インタフェース装置（ＳＩ
ＦＳＨ）５０，５１及び５２は、それぞれの共通部３
２，３４及び４０と個別回線部（ＩＮＦ）３１，３３及
び４１から成る。ただし、加入者系インタフェース装置
５２の個別回路部４１だけは、ＡＴＭセルにＡＴＭスイ
ッチに対するＩＮ／ＯＵＴ方向の折り返しをさせるため
のループ・カード（ＬＯＯＰ: LOOP card)が実装されて
いる。なお、各加入者系インタフェース装置５０，５１
及び５２のそれぞれの共通部は、図８で説明したように
セルの上り方向にＶＣＣ機能を有している。
の一例を示したものである。図９において、ＡＴＭスイ
ッチ（ＡＳＳＷ）３５，３６は、ＩＮ方向とＯＵＴ方向
の２種からなる。各加入者系インタフェース装置（ＳＩ
ＦＳＨ）５０，５１及び５２は、それぞれの共通部３
２，３４及び４０と個別回線部（ＩＮＦ）３１，３３及
び４１から成る。ただし、加入者系インタフェース装置
５２の個別回路部４１だけは、ＡＴＭセルにＡＴＭスイ
ッチに対するＩＮ／ＯＵＴ方向の折り返しをさせるため
のループ・カード（ＬＯＯＰ: LOOP card)が実装されて
いる。なお、各加入者系インタフェース装置５０，５１
及び５２のそれぞれの共通部は、図８で説明したように
セルの上り方向にＶＣＣ機能を有している。
【００３８】呼処理プロセッサ（ＣＰＲ: Call PRosess
or）３９のソフトウェアは、信号制御装置（ＢＳＧＣ:
Broadband SiGnalling Controller ）３７を制御する。
信号制御装置３７は、局内のシグナリング処理を行う装
置であり、このシグナリングによって共通部３２，３４
及び４０に対し試験指示を通知することができる。呼処
理プロセッサ３９は試験装置３８ともインタフェース
し、試験装置３８に対して試験の開始、終了そして試験
結果の通知を指示することができる。
or）３９のソフトウェアは、信号制御装置（ＢＳＧＣ:
Broadband SiGnalling Controller ）３７を制御する。
信号制御装置３７は、局内のシグナリング処理を行う装
置であり、このシグナリングによって共通部３２，３４
及び４０に対し試験指示を通知することができる。呼処
理プロセッサ３９は試験装置３８ともインタフェース
し、試験装置３８に対して試験の開始、終了そして試験
結果の通知を指示することができる。
【００３９】図９の例に示すように、加入者系インタフ
ェース装置（ＳＩＦＳＨ）５０の共通部３２へシグナリ
ングによって試験指示を通知した後に、図８で説明した
複写セルが前記共通部３２から試験装置３８へ送られて
くる。試験装置３８は、呼処理プロセッサ３９の指示に
従ってそのモニタリングの結果を例えばトラヒック特性
として通知する。
ェース装置（ＳＩＦＳＨ）５０の共通部３２へシグナリ
ングによって試験指示を通知した後に、図８で説明した
複写セルが前記共通部３２から試験装置３８へ送られて
くる。試験装置３８は、呼処理プロセッサ３９の指示に
従ってそのモニタリングの結果を例えばトラヒック特性
として通知する。
【００４０】図１０〜図１３は、本発明によるユーザセ
ルの種々のモニタ実施例を示したブロック構成図であ
る。なお、図１０〜図１３において図９と同じものにつ
いては同一の符号が付してあり、以降ではそれらについ
て更めて説明しない。図１０において、加入者系インタ
フェース装置５０の個別回路部３１から、加入者系イン
タフェース装置５２の折り返し機能を利用して加入者系
インタフェース装置５１の個別回路部３３へユーザセル
が送信されているとする。この時、交換機制御ソフトウ
ェアの指示により送信側（終端点とも呼ばれる）のユー
ザセルを個別回路部３１又は図８で示したように共通部
３２で複写する（図１０では共通部３２で複写したこと
を示している。）。
ルの種々のモニタ実施例を示したブロック構成図であ
る。なお、図１０〜図１３において図９と同じものにつ
いては同一の符号が付してあり、以降ではそれらについ
て更めて説明しない。図１０において、加入者系インタ
フェース装置５０の個別回路部３１から、加入者系イン
タフェース装置５２の折り返し機能を利用して加入者系
インタフェース装置５１の個別回路部３３へユーザセル
が送信されているとする。この時、交換機制御ソフトウ
ェアの指示により送信側（終端点とも呼ばれる）のユー
ザセルを個別回路部３１又は図８で示したように共通部
３２で複写する（図１０では共通部３２で複写したこと
を示している。）。
【００４１】前記複写セルにヘッダ部は、ＡＴＭスイッ
チ３５で試験装置３８へルーティングされるようにＴＡ
Ｇが付け替えられる。なお、前述のように複写の際にセ
ルのヘッダ部にＴＡＧを直接付け替える代わりに、前記
複写セルのＶＰＩ／ＶＣＩを試験用セルを示すＶＰＩ／
ＶＣＩに変更し（図２のＯビットを１に設定してもよ
い。）、共通部内のＶＣＣ機能が前記試験用セルを検出
した際に試験装置３８のＴＡＧに付け替えるようにして
もよい。前記複写ユーザセルを受信した試験装置３８
は、それをモニタしたりそのトラフィック測定等を行
う。
チ３５で試験装置３８へルーティングされるようにＴＡ
Ｇが付け替えられる。なお、前述のように複写の際にセ
ルのヘッダ部にＴＡＧを直接付け替える代わりに、前記
複写セルのＶＰＩ／ＶＣＩを試験用セルを示すＶＰＩ／
ＶＣＩに変更し（図２のＯビットを１に設定してもよ
い。）、共通部内のＶＣＣ機能が前記試験用セルを検出
した際に試験装置３８のＴＡＧに付け替えるようにして
もよい。前記複写ユーザセルを受信した試験装置３８
は、それをモニタしたりそのトラフィック測定等を行
う。
【００４２】図１１は、ユーザセルを複写して試験装置
へ送るポイントが中継点である場合を示している。図１
１の例は、加入者系インタフェース装置５２の共通部４
０でユーザセルの複写及びその転送が行われることを示
している。同様に、図１２は、ユーザセルを複写して試
験装置へ送るポイントが受信側の場合を示している。図
１２の例は、加入者系インタフェース装置５１の共通部
３４でユーザセルの複写及びその転送が行われることを
示している。ただし、受信側については、ユーザセルを
複写したセルを折り返す（再びＡＴＭスイッチの上りハ
イウエイへ送信すること）が必要となる。
へ送るポイントが中継点である場合を示している。図１
１の例は、加入者系インタフェース装置５２の共通部４
０でユーザセルの複写及びその転送が行われることを示
している。同様に、図１２は、ユーザセルを複写して試
験装置へ送るポイントが受信側の場合を示している。図
１２の例は、加入者系インタフェース装置５１の共通部
３４でユーザセルの複写及びその転送が行われることを
示している。ただし、受信側については、ユーザセルを
複写したセルを折り返す（再びＡＴＭスイッチの上りハ
イウエイへ送信すること）が必要となる。
【００４３】なお、ユーザセルのモニタは、前述したよ
うに単に一か所のみで行うだけではなく、複数カ所で同
時に実施することも可能である。図１３は、送信側、及
び受信側で同時にモニタする場合を示している（図１０
と図１２の重ね合わせに相当する。）。本実施例におい
ては、送信側及び受信側からの各複写セルを別々に試験
機３８に入力でき、試験装置３８は送信セル数と受信セ
ル数とを比較して、セル損失率、セル混入率、ビット誤
り率等をリアルタイムで正確に測定することが可能とな
る。ただし、この場合には複写したユーザセルを発生さ
せてから、試験装置に至るまでのコネクションでは、セ
ル損失、混入、ビット誤りはないことが前提となる。
うに単に一か所のみで行うだけではなく、複数カ所で同
時に実施することも可能である。図１３は、送信側、及
び受信側で同時にモニタする場合を示している（図１０
と図１２の重ね合わせに相当する。）。本実施例におい
ては、送信側及び受信側からの各複写セルを別々に試験
機３８に入力でき、試験装置３８は送信セル数と受信セ
ル数とを比較して、セル損失率、セル混入率、ビット誤
り率等をリアルタイムで正確に測定することが可能とな
る。ただし、この場合には複写したユーザセルを発生さ
せてから、試験装置に至るまでのコネクションでは、セ
ル損失、混入、ビット誤りはないことが前提となる。
【００４４】また、ユーザセルのモニタ構成としては、
図８のコントロール部２８のところで説明したように、
ある一定時間内に限ってモニタする以外に、ユーザセル
をその全てではなく、あらかじめ決められた個数を数え
たら１セル試験装置へ送る（例：１０００個通過したら
１個をモニタ用として送る。）等の種々な設定ができる
ようにしておけば、ユーザセルのトラヒック傾向等をよ
り大きく若しくはより詳細に自由に測定することが可能
となる。さらに、モニタするユーザセルとして、実際に
使用されるユーザセル以外に、例えば擬似呼発生装置な
どの試験装置が発生した試験用セルを利用することも可
能であり、そして試験装置から発生させた試験用セルを
試験用セル折り返し手段で折り返した際の擬似ユーザセ
ルもモニタの対象とすることができる。
図８のコントロール部２８のところで説明したように、
ある一定時間内に限ってモニタする以外に、ユーザセル
をその全てではなく、あらかじめ決められた個数を数え
たら１セル試験装置へ送る（例：１０００個通過したら
１個をモニタ用として送る。）等の種々な設定ができる
ようにしておけば、ユーザセルのトラヒック傾向等をよ
り大きく若しくはより詳細に自由に測定することが可能
となる。さらに、モニタするユーザセルとして、実際に
使用されるユーザセル以外に、例えば擬似呼発生装置な
どの試験装置が発生した試験用セルを利用することも可
能であり、そして試験装置から発生させた試験用セルを
試験用セル折り返し手段で折り返した際の擬似ユーザセ
ルもモニタの対象とすることができる。
【００４５】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば試験
保守者が特定回線（又はチャネル）を指定して、その回
線（又はチャネル）を自動的に引き込んでモニタ又はシ
ュミレート試験を行うことが可能となる。すなわち、交
換機内の一か所に固定的に設置されたモニタ装置を使っ
て、セルのルーティングに影響を与えずに任意の回線を
リアルタイムで簡単に監視することができる。さらに、
交換機内の一か所に固定的に設置されたシュミレート装
置を使って任意の回線の動作を独立且つ正確にシュミレ
ートすることが可能となり、回線障害箇所の診断や検出
等が効率よく実施できる。
保守者が特定回線（又はチャネル）を指定して、その回
線（又はチャネル）を自動的に引き込んでモニタ又はシ
ュミレート試験を行うことが可能となる。すなわち、交
換機内の一か所に固定的に設置されたモニタ装置を使っ
て、セルのルーティングに影響を与えずに任意の回線を
リアルタイムで簡単に監視することができる。さらに、
交換機内の一か所に固定的に設置されたシュミレート装
置を使って任意の回線の動作を独立且つ正確にシュミレ
ートすることが可能となり、回線障害箇所の診断や検出
等が効率よく実施できる。
【００４６】また本発明によれば、ユーザセルのＡＴＭ
レイヤコネクションの送信側、受信側又は特定の中継点
でのモニタが可能となる。前記各点におけるモニタによ
ってトラヒック特性の詳細で効果的な観測が可能とな
る。また、２点間でのユーザセルをモニタ比較すれば２
点間におけるセル損失率、セル混入率、ビット誤り率等
の様々な性能モニタを行うことが可能となる。
レイヤコネクションの送信側、受信側又は特定の中継点
でのモニタが可能となる。前記各点におけるモニタによ
ってトラヒック特性の詳細で効果的な観測が可能とな
る。また、２点間でのユーザセルをモニタ比較すれば２
点間におけるセル損失率、セル混入率、ビット誤り率等
の様々な性能モニタを行うことが可能となる。
【００４７】ユーザセルについては、契約の規定値を越
える過大なセルを送出していればＵＰＣ（使用量パラメ
ータ制御）でセル廃棄が行われるが、ユーザセルのピー
ク速度や平均速度といったトラヒック特性を測定する方
法自体はなかったのに対して本発明でそれが可能とな
る。
える過大なセルを送出していればＵＰＣ（使用量パラメ
ータ制御）でセル廃棄が行われるが、ユーザセルのピー
ク速度や平均速度といったトラヒック特性を測定する方
法自体はなかったのに対して本発明でそれが可能とな
る。
【図１】ＡＴＭ交換機の基本的な構成とその動作の一例
の説明図である。
の説明図である。
【図２】ＡＴＭ交換機内部で用いられるＡＴＭセルフォ
ーマットの一例を示した図である。
ーマットの一例を示した図である。
【図３】共通部におけるＶＣＣテーブルの一構成例を示
した図である。
した図である。
【図４】本発明によるモニタ装置を使った指定回線の集
中試験構成の一例を示したブロック図である。
中試験構成の一例を示したブロック図である。
【図５】図４でトラッフィック特性試験を行った場合の
具体的な実施例を示してた図である。
具体的な実施例を示してた図である。
【図６】本発明によるシュミレート装置を使った指定回
線の集中試験構成の一例を示したブロック図である。
線の集中試験構成の一例を示したブロック図である。
【図７】図６でフレームリレー回線試験を行った場合の
具体的な実施例を示してた図である。
具体的な実施例を示してた図である。
【図８】本発明によるユーザセルを複写し試験装置へ送
出するための共通部の一回路構成例を示したブロック図
である。
出するための共通部の一回路構成例を示したブロック図
である。
【図９】共通部に対する試験指示通知方法の一例を示し
た図である。
た図である。
【図１０】本発明によるユーザセルのモニタ実施例
（１）を示したブロック構成図である。
（１）を示したブロック構成図である。
【図１１】本発明によるユーザセルのモニタ実施例
（２）を示したブロック構成図である。
（２）を示したブロック構成図である。
【図１２】本発明によるユーザセルのモニタ実施例
（３）を示したブロック構成図である。
（３）を示したブロック構成図である。
【図１３】本発明によるユーザセルのモニタ実施例
（４）を示したブロック構成図である。
（４）を示したブロック構成図である。
【図１４】従来の回線の測定方法の一例を示した図であ
る。
る。
１，６，７，３１，３３…個別回路部（ＩＮＦ） ２，５，３２，３４，４０…共通部 ３…ＶＣＣテーブル ４…ＡＴＭスイッチ（ＡＳＳＷ） １０…モニタ装置 １１…シュミレート装置 １４…試験端末 ２３…分離部（ＤＭＵＸ） ２４…多重部（ＭＵＸ） ３７…信号制御装置（ＢＳＧＣ） ３８…試験装置 ３９…呼処理プロセッサ（ＣＰＲ） ４１…ループ回路（ＬＯＯＰ） ５０〜５２…加入者系インタフェース装置（ＳＩＦＳ
Ｈ）
Ｈ）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０４Ｑ 3/00
Claims (14)
- 【請求項１】 所定の局内装置に接続される所定の回線
上若しくは交換機内パス上を流れるセルの試験を指示す
る試験指示手段、 前記試験指示手段からの指示に従って前記セルの宛て先
ヘッダ情報を局内装置として固定的に設置された試験装
置の宛て先ヘッダ情報に変更して送出する前記所定の局
内装置における宛て先変更手段、 前記所定の局内装置における宛て先変更手段から出力さ
れたセルをそのヘッダ情報に従って所定の局内装置へ導
くスイッチング手段、そして前記スイッチング手段から
受信した前記セルをモニタすることにより前記所定の局
内装置に接続される所定の回線上若しくは交換機内パス
上を流れるセルの試験を集中して行う前記試験装置にお
ける試験手段から構成することを特徴とするＡＴＭ交換
機における集中試験装置。 - 【請求項２】 前記試験手段は、さらに前記試験指示手
段からの指示により前記スイッチング手段から受信した
セルの宛て先ヘッダ情報を所定の局内装置の宛て先ヘッ
ダ情報に変更して折り返し送出する折り返し手段を有
し、前記折り返し手段により折り返し先の前記所定の局
内装置の宛て先ヘッダ情報を前記所定の回線上若しくは
交換機内パス上を流れるセルの受信先の局内装置の宛て
先ヘッダ情報に設定することで、送受信局内装置間を接
続した状態で前記所定の回線若しくは交換機内パスのリ
アルタイムモニタ試験を行う請求項１記ＡＴＭ交換機に
おける集中試験装置。 - 【請求項３】 前記試験手段は、さらに前記試験指示手
段からの指示により前記スイッチング手段から受信した
セルの宛て先ヘッダ情報を所定の局内装置の宛て先ヘッ
ダ情報に変更して折り返し送出する折り返し手段を有
し、前記折り返し手段により折り返し先の前記所定の局
内装置の宛て先ヘッダ情報を前記所定の回線上若しくは
交換機内パスが接続される送信元の前記所定の局内装置
の宛て先ヘッダ情報に設定することで、自らは受信側の
擬似局内装置として動作しながら前記所定の回線若しく
は交換機内パスのシュミーレート試験を行う請求項１記
ＡＴＭ交換機における集中試験装置。 - 【請求項４】 前記試験手段は、フレームリレー回線の
特定チャネルに対応したセルの抽出部、及びその抽出さ
れた特定チャネルのセルデータをフレーム信号に組立る
フレーミング部を有し、前記フレーム信号をモニタする
ことによってフレームリレーモニタ試験を行う請求項１
又は２記載のＡＴＭ交換機における集中試験装置。 - 【請求項５】 前記試験手段は、特定回線又はパスを流
れるセルのＶＰＩ／ＶＣＩの読み出しを行ってそのセル
をカウントするＶＰＩ／ＶＣＩカウント部を有し、前記
カウント値を使って特定回線又はパスのトラヒック特性
試験を行う請求項１又は２記載のＡＴＭ交換機における
集中試験装置。 - 【請求項６】 前記試験手段は、フレームリレー回線の
特定チャネルに対応したセルの挿入／抽出を行う挿入／
抽出部、及び挿入／抽出される特定チャネルのセルデー
タをフレーム信号に分解／組立るフレーミング部を有
し、それによってフレームリレーシュミレート試験を行
う請求項３記載のＡＴＭ交換機における集中試験装置。 - 【請求項７】 前記宛て先変更手段は、さらに前記試験
指示手段からの指示を受けた際に試験指示された前記所
定の局内装置に接続される所定の回線上若しくは交換機
内パス上を流れるセルを複写する複写手段を含み、前記
複写手段によって複写された複写セルに対してだけその
宛て先ヘッダ情報を局内装置として固定的に設置された
試験装置の宛て先ヘッダ情報に変更し、前記複写元のセ
ルとともに送出する請求項１記載のＡＴＭ交換機におけ
る集中試験装置。 - 【請求項８】 前記複写手段は、前記試験指示された前
記所定の局内装置に接続される所定の回線上若しくは交
換機内パス上を流れるセルを所定の時間間隔毎に１つ複
写する請求項７記載のＡＴＭ交換機における集中試験装
置。 - 【請求項９】 前記複写手段は、前記試験指示された前
記所定の局内装置に接続される所定の回線上若しくは交
換機内パス上を流れるセルを所定の数だけ検出した際に
１つ複写する請求項７記載のＡＴＭ交換機における集中
試験装置。 - 【請求項１０】 前記試験手段は、前記所定の回線上若
しくは交換機内パスが接続された送信側の局内装置から
の前記複写セル、受信側の局内装置からの前記複写セ
ル、又はその中継点における局内装置からの前記複写セ
ルを受信モニタする請求項７記載のＡＴＭ交換機におけ
る集中試験装置。 - 【請求項１１】 前記試験手段は、２つの局内装置から
の前記複写セルを両方とも受信し、それによって所定の
比較試験を行う請求項７記載のＡＴＭ交換機における集
中試験装置。 - 【請求項１２】 前記比較試験は、２点間におけるセル
損失率、セル混入率、又はビット誤り率である請求項１
１記載のＡＴＭ交換機における集中試験装置。 - 【請求項１３】 前記前記所定の局内装置に接続される
所定の回線上若しくは交換機内パス上を流れるセルに、
疑似ユーザセルを用いる請求項１１又は１２記載のＡＴ
Ｍ交換機における集中試験装置。 - 【請求項１４】 前記複写手段は、複写対象ユーザセル
の上り又は下り方向のいずれかを選択するセレクタ、Ｖ
ＰＩ／ＶＣＩ照合値と一致したセルの複写を行うＶＰＩ
／ＶＣＩ照合／セル複写部、複写セルのヘッダ部を付け
替えるヘッダ変換部、そして前記試験指示手段からの指
示により前記セレクタに選択指示を与え、前記ＶＰＩ／
ＶＣＩ照合／セル複写部にその照合値及び／又は複写送
出するための一致回数又は送出時間間隔等を与え、そし
て前記ヘッダ部に替え用の送出ヘッダ値を与えるコント
ロール部から成る請求項７記載のＡＴＭ交換機における
集中試験装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6172530A JPH0837527A (ja) | 1994-07-25 | 1994-07-25 | Ａｔｍ交換機における集中試験装置 |
| US08/966,574 US5887000A (en) | 1994-07-25 | 1997-11-10 | Centralized test apparatus for ATM exchange system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6172530A JPH0837527A (ja) | 1994-07-25 | 1994-07-25 | Ａｔｍ交換機における集中試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0837527A true JPH0837527A (ja) | 1996-02-06 |
Family
ID=15943628
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6172530A Withdrawn JPH0837527A (ja) | 1994-07-25 | 1994-07-25 | Ａｔｍ交換機における集中試験装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5887000A (ja) |
| JP (1) | JPH0837527A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8611207B2 (en) | 2008-11-27 | 2013-12-17 | Fujitsu Limited | Data transmitter and data transmission method |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6183096B1 (en) * | 1994-11-14 | 2001-02-06 | Joseph R. Galicia | Rear view mirror for a vehicle |
| DE19641398A1 (de) * | 1996-09-27 | 1998-04-02 | Siemens Ag | Verfahren zum Ermitteln von auf einer ATM-Übertragungsstrecke in ATM-Nutzzellen aufgetretenen Bitfehlern mit Hilfe von Monitoring-OAM-Zellen |
| KR100204061B1 (ko) * | 1996-12-21 | 1999-06-15 | 이계철 | 에이티엠 교환시스템에서의 시험기능을 구비한 가입자제어모듈 |
| JP3603243B2 (ja) * | 1997-09-02 | 2004-12-22 | 富士通株式会社 | 交換機の試験制御方法 |
| US6112241A (en) * | 1997-10-21 | 2000-08-29 | International Business Machines Corporation | Integrated network interconnecting device and probe |
| US6262985B1 (en) * | 1998-03-30 | 2001-07-17 | Nortel Networks Limited | Method and apparatus for full range translation of large external identifier to small internal identifier |
| US6532237B1 (en) | 1999-02-16 | 2003-03-11 | 3Com Corporation | Apparatus for and method of testing a hierarchical PNNI based ATM network |
| EP1109366B1 (en) * | 1999-12-16 | 2005-11-02 | Alcatel | Arrangement and method for checking the transfer of data cells in an asynchronous switching arrangement |
| EP1265454A1 (en) * | 2001-06-08 | 2002-12-11 | TELEFONAKTIEBOLAGET L M ERICSSON (publ) | Monitoring device and method |
| FR2826215B1 (fr) * | 2001-06-18 | 2003-12-19 | Cit Alcatel | Procede de transmission d'un message actif dans un circuit virtuel |
| JP4987760B2 (ja) * | 2008-03-05 | 2012-07-25 | 株式会社オートネットワーク技術研究所 | 中継装置、通信システム及び通信方法 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5119367A (en) * | 1988-10-28 | 1992-06-02 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Method and a node circuit for routing bursty data |
| JP2677418B2 (ja) * | 1989-06-22 | 1997-11-17 | 富士通株式会社 | Ａｔｍスイッチの系切換方式 |
| EP0470283B1 (de) * | 1990-08-08 | 1997-02-19 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren und Schaltungsanordnung zum Ermitteln der Güte von über eine ATM-Vermittlungseinrichtung verlaufenden virtuellen Verbindungen |
| US5313453A (en) * | 1991-03-20 | 1994-05-17 | Fujitsu Limited | Apparatus for testing ATM channels |
| JP2892180B2 (ja) * | 1991-04-30 | 1999-05-17 | 富士通株式会社 | Ａｔｍクロスコネクト装置の監視方式 |
| FR2701618B1 (fr) * | 1993-02-16 | 1995-06-23 | Tremel Jean Yves | Procede de mesure de parametres de performance d'un reseau atm et dispositif de mise en oeuvre. |
| JP3124647B2 (ja) * | 1993-03-19 | 2001-01-15 | 富士通株式会社 | フレームリレーモジュール制御方式 |
| EP0619661A1 (de) * | 1993-04-08 | 1994-10-12 | Alcatel STR AG | Belastungsprüfung einer ATM-Vermittlungsstelle |
-
1994
- 1994-07-25 JP JP6172530A patent/JPH0837527A/ja not_active Withdrawn
-
1997
- 1997-11-10 US US08/966,574 patent/US5887000A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8611207B2 (en) | 2008-11-27 | 2013-12-17 | Fujitsu Limited | Data transmitter and data transmission method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5887000A (en) | 1999-03-23 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5805568A (en) | Add/drop multiplexer for supporting fixed length cell | |
| EP0700229B1 (en) | Connectionless communications system, test method, and intra-station control system | |
| US5715239A (en) | ATM multiplex transmission system having test equipment | |
| JP2999342B2 (ja) | Ａｔｍ伝送システムにおけるパスルート試験方式 | |
| EP0511671A2 (en) | System for monitoring ATM cross-connecting apparatus by inside-apparatus monitoring cell | |
| JPH05207017A (ja) | 通信路の性能測定装置及びそれに使用される方法 | |
| CN1159113A (zh) | 实现用于异步传输方式(atm)网络的环回测试的带外控制 | |
| JPH08186579A (ja) | 交換機アダプタ及び計算機及びデータ交換方法 | |
| US5887000A (en) | Centralized test apparatus for ATM exchange system | |
| JPH10150445A (ja) | セルロス検出方法 | |
| US6477141B1 (en) | Communication path quality monitoring method and quality monitoring apparatus | |
| US6147972A (en) | Method and system for achieving cell diagnosis of continuity in cell exchange | |
| GB1582583A (en) | Digital switching arrangements for stored programme control telecommunications systems | |
| JPH11122266A (ja) | Ａｔｍ交換機およびデータ編集システム | |
| JPH11266261A (ja) | 回線交換方法及び、これを用いた非同期モード交換機 | |
| JP3074570B2 (ja) | Ａｔｍスイッチのパス試験方式 | |
| US6002688A (en) | Circuit for calculating number of idle virtual path identifier and virtual channel identifier | |
| JPH11112513A (ja) | マルチプロセッサ交換機およびその通信方法 | |
| JPH1023011A (ja) | 通信システムおよび障害情報処理方法 | |
| DE60115167T2 (de) | Steuerungssystem und -verfahren für die Überwachung der Pfade in einem ATM-Vermittlungsnetzwerk | |
| JP3175571B2 (ja) | Ａｔｍ交換機のセル導通試験方式 | |
| JPH08163134A (ja) | 障害探索方式 | |
| KR0163144B1 (ko) | 디지탈 전전자 교환기의 No.7신호 모니터 장치 | |
| JP3612102B2 (ja) | 通信経路管理システムおよび伝送制御システム | |
| KR100255800B1 (ko) | Atm 교환기의 셀 경로 시험방법 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20011002 |