JPH0843369A - 非破壊検査装置 - Google Patents
非破壊検査装置Info
- Publication number
- JPH0843369A JPH0843369A JP6194600A JP19460094A JPH0843369A JP H0843369 A JPH0843369 A JP H0843369A JP 6194600 A JP6194600 A JP 6194600A JP 19460094 A JP19460094 A JP 19460094A JP H0843369 A JPH0843369 A JP H0843369A
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- Japan
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- inspected
- inspection
- inspection device
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 簡素な構成により、探傷用センサの探傷感度
を安定に保ち、かつ被検査材にすり疵や引っ掻き疵を発
生させない非破壊検査装置を提供すること。 【構成】 探傷用センサ１３を支持した探傷台１２を被
検査材１に対して相対移動し、被検査材１の欠陥を検出
する非破壊検査装置１０において、探傷台１２は、被検
査材１に転接して探傷用センサ１３が被検査材１に対し
てなす距離を一定に保つ回転球１５を備えてなるもの。
を安定に保ち、かつ被検査材にすり疵や引っ掻き疵を発
生させない非破壊検査装置を提供すること。 【構成】 探傷用センサ１３を支持した探傷台１２を被
検査材１に対して相対移動し、被検査材１の欠陥を検出
する非破壊検査装置１０において、探傷台１２は、被検
査材１に転接して探傷用センサ１３が被検査材１に対し
てなす距離を一定に保つ回転球１５を備えてなるもの。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、漏洩磁束探傷装置、超
音波探傷装置等の被破壊検査装置に関する。
音波探傷装置等の被破壊検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】非破壊検査装置は、探傷用センサを支持
した探傷台を被検査材に対して相対移動し、被検査材の
欠陥を検出することとしている。このとき、非破壊検査
装置では、探傷用センサの探傷感度を安定させるため、
該センサが被検査材に対してなす距離（リフトオフ量）
を一定に保つ必要がある。
した探傷台を被検査材に対して相対移動し、被検査材の
欠陥を検出することとしている。このとき、非破壊検査
装置では、探傷用センサの探傷感度を安定させるため、
該センサが被検査材に対してなす距離（リフトオフ量）
を一定に保つ必要がある。
【０００３】そこで、従来技術では、特開昭59-75150号
公報に記載の如く、探傷台に設けたシューを被検査材に
摺接させ、これにより上述のリフトオフ量を一定に保つ
ようにしている。
公報に記載の如く、探傷台に設けたシューを被検査材に
摺接させ、これにより上述のリフトオフ量を一定に保つ
ようにしている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】然しながら、従来技術
では下記、の問題点がある。 探傷台に設けたシューは、被検査材に摺接して摩耗し
易く、この摩耗によってリフトオフ量を変化せしめる結
果、探傷感度が不安定となる。即ち、シューの摩耗に伴
ってリフトオフ量が減少する結果、探傷感度が上がり、
欠陥でないものまで欠陥とみる誤検出を招く。
では下記、の問題点がある。 探傷台に設けたシューは、被検査材に摺接して摩耗し
易く、この摩耗によってリフトオフ量を変化せしめる結
果、探傷感度が不安定となる。即ち、シューの摩耗に伴
ってリフトオフ量が減少する結果、探傷感度が上がり、
欠陥でないものまで欠陥とみる誤検出を招く。
【０００５】シューが被検査材に摺接する結果、被検
査材の表面にすり疵を発生する。尚、実開昭64-17462号
公報には、探傷台に回転ローラを設けたものが記載され
ているが、この場合にも、下記、の問題点がある。
査材の表面にすり疵を発生する。尚、実開昭64-17462号
公報には、探傷台に回転ローラを設けたものが記載され
ているが、この場合にも、下記、の問題点がある。
【０００６】探傷台が被検査材に対して回転する回転
型非破壊検査装置においては、被検査材の欠陥に対する
探傷用センサの走査速度を常に一定に保つため、被検査
材の外径が変更した（例えば径大）場合には、被検査材
に対する探傷台の相対的な回転速度を変化する（例えば
減速）必要がある。このような場合には、被検査材に対
し探傷センサの走査ピッチがなす角度θP が変化するも
のとなるから、回転ローラの傾斜角度θR を上記θP に
合致させるためのローラ角度調整作業が必要となる。即
ち、非破壊検査装置は、ローラ角度調整機能を具備する
必要があり、然も被検査材の外径変更の度に煩雑な調整
作業が必要となる。尚、図６において、１は被検査材、
２は探傷台、３はセンサ、４は回転ローラである。 回転ローラの端面エッジが被検査材の表面に引っ掻き
疵を発生させる虞れもある。
型非破壊検査装置においては、被検査材の欠陥に対する
探傷用センサの走査速度を常に一定に保つため、被検査
材の外径が変更した（例えば径大）場合には、被検査材
に対する探傷台の相対的な回転速度を変化する（例えば
減速）必要がある。このような場合には、被検査材に対
し探傷センサの走査ピッチがなす角度θP が変化するも
のとなるから、回転ローラの傾斜角度θR を上記θP に
合致させるためのローラ角度調整作業が必要となる。即
ち、非破壊検査装置は、ローラ角度調整機能を具備する
必要があり、然も被検査材の外径変更の度に煩雑な調整
作業が必要となる。尚、図６において、１は被検査材、
２は探傷台、３はセンサ、４は回転ローラである。 回転ローラの端面エッジが被検査材の表面に引っ掻き
疵を発生させる虞れもある。
【０００７】本発明は、簡素な構成により、探傷用セン
サの探傷感度を安定に保ち、かつ被検査材にすり疵や引
っ掻き疵を発生させない非破壊検査装置を提供すること
を目的とする。
サの探傷感度を安定に保ち、かつ被検査材にすり疵や引
っ掻き疵を発生させない非破壊検査装置を提供すること
を目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、探傷用センサ
を支持した探傷台を被検査材に対して相対移動し、被検
査材の欠陥を検出する非破壊検査装置において、探傷台
は、被検査材に転接して探傷用センサが被検査材に対し
てなす距離を一定に保つ回転球を備えてなるようにした
ものである。
を支持した探傷台を被検査材に対して相対移動し、被検
査材の欠陥を検出する非破壊検査装置において、探傷台
は、被検査材に転接して探傷用センサが被検査材に対し
てなす距離を一定に保つ回転球を備えてなるようにした
ものである。
【０００９】
【作用】 探傷台に設けた回転球は、被検査材とあらゆる方向で
滑らかに転接して摩耗しにくい。このため、探傷用セン
サが被検査材に対してなす距離（リフトオフ量）を長期
的に一定に保ち、探傷感度を安定に保つ。
滑らかに転接して摩耗しにくい。このため、探傷用セン
サが被検査材に対してなす距離（リフトオフ量）を長期
的に一定に保ち、探傷感度を安定に保つ。
【００１０】探傷台の回転球は被検査材の表面に点接
触する。従って、探傷台が被検査材に対して回転する回
転型非破壊検査装置において、被検査材の欠陥に対する
探傷用センサの走査速度を常に一定に保つため、被検査
材の外径が変更した（例えば径大）場合に、被検査材に
対する探傷台の相対的な回転速度を変化する（例えば減
速）に際し、被検査材に対し探傷用センサの走査ピッチ
がなす角度θP が変化するものとなっても、回転球の取
付状態を調整する如くの必要がない。よって、非破壊検
査装置の装置構成を簡素とし、作業手順も簡易である。 回転球は被検査材の表面にすり疵や引っ掻き疵を発生
させない。
触する。従って、探傷台が被検査材に対して回転する回
転型非破壊検査装置において、被検査材の欠陥に対する
探傷用センサの走査速度を常に一定に保つため、被検査
材の外径が変更した（例えば径大）場合に、被検査材に
対する探傷台の相対的な回転速度を変化する（例えば減
速）に際し、被検査材に対し探傷用センサの走査ピッチ
がなす角度θP が変化するものとなっても、回転球の取
付状態を調整する如くの必要がない。よって、非破壊検
査装置の装置構成を簡素とし、作業手順も簡易である。 回転球は被検査材の表面にすり疵や引っ掻き疵を発生
させない。
【００１１】
【実施例】図１は本発明の一実施例を示す模式図、図２
は非破壊検査装置の全体構成を示す模式図、図３は被検
査材に対し探傷用センサの走査ピッチがなす角度θP を
示す模式図、図４は第１実施例の結果を示す模式図、図
５は第２実施例の結果を示す模式図、図６は従来例を示
す模式図である。
は非破壊検査装置の全体構成を示す模式図、図３は被検
査材に対し探傷用センサの走査ピッチがなす角度θP を
示す模式図、図４は第１実施例の結果を示す模式図、図
５は第２実施例の結果を示す模式図、図６は従来例を示
す模式図である。
【００１２】回転型非破壊検査装置１０では、図２に示
す如く、Ｖローラ１１によって搬送される被検査材（鋼
管）１の貫通路まわりに回転探傷台１２を設置してい
る。探傷台１２は、図１に示す如く、探傷用センサ１３
を支持するとともに、回転装置１４によって被検査材１
のまわりを回転移動し、被検査材１に対するらせん状走
査経路に沿って被検査材１の欠陥を検出する。図３のθ
P は被検査材１に対しセンサ１３の走査ピッチがなす角
度である。
す如く、Ｖローラ１１によって搬送される被検査材（鋼
管）１の貫通路まわりに回転探傷台１２を設置してい
る。探傷台１２は、図１に示す如く、探傷用センサ１３
を支持するとともに、回転装置１４によって被検査材１
のまわりを回転移動し、被検査材１に対するらせん状走
査経路に沿って被検査材１の欠陥を検出する。図３のθ
P は被検査材１に対しセンサ１３の走査ピッチがなす角
度である。
【００１３】このとき、探傷台１２は、被検査材１に転
接して探傷用センサ１３が被検査材１に対してなす距離
（リフトオフ量）を一定に保つ回転球１５を備えてい
る。
接して探傷用センサ１３が被検査材１に対してなす距離
（リフトオフ量）を一定に保つ回転球１５を備えてい
る。
【００１４】非破壊検査装置１０は、探傷用センサ１３
と回転球１５を探傷台１２の周方向２位置（180 度間
隔）に設けた。但し、探傷用センサ１３と回転球１５
は、探傷台１２の周方向３位置以上に設けるものであっ
ても良い。
と回転球１５を探傷台１２の周方向２位置（180 度間
隔）に設けた。但し、探傷用センサ１３と回転球１５
は、探傷台１２の周方向３位置以上に設けるものであっ
ても良い。
【００１５】以下、本実施例の作用について説明する。 探傷台１２に設けた回転球１５は、被検査材１とあら
ゆる方向で滑らかに転接して摩耗しにくい。このため、
探傷用センサ１３が被検査材１に対してなす距離（リフ
トオフ量）を長期的に一定に保ち、探傷感度を安定に保
つ。
ゆる方向で滑らかに転接して摩耗しにくい。このため、
探傷用センサ１３が被検査材１に対してなす距離（リフ
トオフ量）を長期的に一定に保ち、探傷感度を安定に保
つ。
【００１６】探傷台１２の回転球１５は被検査材１の
表面に点接触する。従って、探傷台１２が被検査材１に
対して回転する回転型非破壊検査装置１０において、被
検査材１の欠陥に対する探傷用センサ１３の走査速度を
常に一定に保つため、被検査材１の外径が変更した（例
えば径大）場合に、被検査材１に対する探傷台１２の相
対的な回転速度を変化する（例えば減速）に際し、被検
査材１に対し探傷用センサ１３の走査ピッチがなす角度
θP が変化するものとなっても、回転球１５の取付状態
を調整する如くの必要がない。よって、非破壊検査装置
１０の装置構成を簡素とし、作業手順も簡易である。 回転球１５は被検査材１の表面にすり疵や引っ掻き疵
を発生させない。
表面に点接触する。従って、探傷台１２が被検査材１に
対して回転する回転型非破壊検査装置１０において、被
検査材１の欠陥に対する探傷用センサ１３の走査速度を
常に一定に保つため、被検査材１の外径が変更した（例
えば径大）場合に、被検査材１に対する探傷台１２の相
対的な回転速度を変化する（例えば減速）に際し、被検
査材１に対し探傷用センサ１３の走査ピッチがなす角度
θP が変化するものとなっても、回転球１５の取付状態
を調整する如くの必要がない。よって、非破壊検査装置
１０の装置構成を簡素とし、作業手順も簡易である。 回転球１５は被検査材１の表面にすり疵や引っ掻き疵
を発生させない。
【００１７】（第１実施例）（図４） 回転型漏洩磁束探傷装置に本発明を適用した。本発明例
は超硬鋼材製回転球を用いたもの、従来例はセラミック
ス型シューを用いたものである。
は超硬鋼材製回転球を用いたもの、従来例はセラミック
ス型シューを用いたものである。
【００１８】本発明例においては、回転球摩耗量が図４
（Ａ）に示す如くに極小であり、探傷感度は図４（Ｂ）
に示す如くに半永久的に一定化した。また、被検査材へ
の疵発生は皆無であった。
（Ａ）に示す如くに極小であり、探傷感度は図４（Ｂ）
に示す如くに半永久的に一定化した。また、被検査材へ
の疵発生は皆無であった。
【００１９】（第２実施例）（図５） 回転型超音波探傷装置に本発明を適用した。本発明例は
超硬鋼材製回転球を用いたもの、従来例はＣｒ系溶射金
属からなる金属シューを用いたものである。
超硬鋼材製回転球を用いたもの、従来例はＣｒ系溶射金
属からなる金属シューを用いたものである。
【００２０】本発明例においては、回転球摩耗量が図５
（Ａ）に示す如くに極小であり、探傷感度は図５（Ｂ）
に示す如くに半永久的に一定化した。また、被検査材へ
の疵発生は皆無であった。
（Ａ）に示す如くに極小であり、探傷感度は図５（Ｂ）
に示す如くに半永久的に一定化した。また、被検査材へ
の疵発生は皆無であった。
【００２１】以上、本発明の実施例を図面により詳述し
たが、本発明の具体的な構成はこの実施例に限られるも
のではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変
更等があっても本発明に含まれる。例えば、本発明の非
破壊検査装置は、直進型非破壊検査装置においても適用
できる。
たが、本発明の具体的な構成はこの実施例に限られるも
のではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変
更等があっても本発明に含まれる。例えば、本発明の非
破壊検査装置は、直進型非破壊検査装置においても適用
できる。
【００２２】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、簡素な構
成により、探傷用センサの探傷感度を安定に保ち、かつ
被検査材にすり疵や引っ掻き疵を発生させない非破壊検
査装置を得ることができる。
成により、探傷用センサの探傷感度を安定に保ち、かつ
被検査材にすり疵や引っ掻き疵を発生させない非破壊検
査装置を得ることができる。
【図１】図１は本発明の一実施例を示す模式図である。
【図２】図２は非破壊検査装置の全体構成を示す模式図
である。
である。
【図３】図３は被検査材に対し探傷用センサの走査ピッ
チがなす角度θP を示す模式図である。
チがなす角度θP を示す模式図である。
【図４】図４は第１実施例の結果を示す模式図である。
【図５】図５は第２実施例の結果を示す模式図である。
【図６】図６は従来例を示す模式図である。
２ 被検査材 １０ 非破壊検査装置 １２ 探傷台 １３ 探傷用センサ １５ 回転球
Claims (1)
- 【請求項１】 探傷用センサを支持した探傷台を被検査
材に対して相対移動し、被検査材の欠陥を検出する非破
壊検査装置において、 探傷台は、被検査材に転接して探傷用センサが被検査材
に対してなす距離を一定に保つ回転球を備えてなること
を特徴とする非破壊検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6194600A JPH0843369A (ja) | 1994-07-28 | 1994-07-28 | 非破壊検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6194600A JPH0843369A (ja) | 1994-07-28 | 1994-07-28 | 非破壊検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0843369A true JPH0843369A (ja) | 1996-02-16 |
Family
ID=16327249
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6194600A Withdrawn JPH0843369A (ja) | 1994-07-28 | 1994-07-28 | 非破壊検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0843369A (ja) |
-
1994
- 1994-07-28 JP JP6194600A patent/JPH0843369A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20011002 |